KR100880677B1 - 센서 검사용 스트립 및 이를 이용한 센서 검사 장치 - Google Patents

센서 검사용 스트립 및 이를 이용한 센서 검사 장치 Download PDF

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Abstract

본 발명은 다수개의 수광센서(인코더)의 성능을 동시에 검사하는 것이 가능하고, 고온 테스트와 상온 테스트를 연속으로 신속하게 수행할 수 있게 하는 센서 검사용 스트립, 이를 이용한 센서 검사 장치 및 검사방법에 관한 것으로서, 본 발명의 센서 검사용 스트립은, 투명 또는 불투명 재질로 제작되고, 얇은 띠 형상의 몸체; 및 상기 몸체에 직선상으로 나란히 일정한 간격으로 형성되고, 발광소자의 빛을 부분적으로 차단하거나 투과시키도록 하여 수광센서(인코더)의 테스트가 가능하게 하는 눈금부;를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하기 때문에 다수개의 수광센서를 동시에 검사할 수 있게 하여 검사 시간을 크게 단축시킬 수 있으며, 일련의 고온 및 상온 검사 과정이 모두 자동으로 이루어져서 검사 작업이 매우 간편하고, 신속하게 이루어질 수 있으며, 검사의 정확도와 정밀도를 크게 향상시킬 수 있고, 검사 장치의 운영을 용이하게 할 수 있는 효과를 갖는다.

Description

센서 검사용 스트립 및 이를 이용한 센서 검사 장치{Test strip and test apparatus for sensor}
도 1은 종래의 센서 검사용 회전 디스크를 나타내는 검사 상태 사시도이다.
도 2는 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 센서 검사용 스트립을 나타내는 검사 상태 사시도이다.
도 3은 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 센서 검사용 스트립을 이용한 센서 검사 장치를 나타내는 검사 상태 개념도이다.
(도면의 주요한 부호에 대한 설명)
1: 발광소자 2: 수광센서
3: 회전 디스크 4, 11: 눈금부
10: 몸체 20: 소자 공급부
30: 가열부 40: 고온 테스트부
50: 냉각부 60: 상온 테스트부
70: 분류부 80: 그립퍼
100: 로봇
본 발명은 센서 검사용 스트립 및 이를 이용한 센서 검사 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 다수개의 수광센서(인코더)의 성능을 동시에 검사하는 것이 가능하고, 고온 테스트와 상온 테스트를 연속으로 신속하게 수행할 수 있게 하는 센서 검사용 스트립 및 이를 이용한 센서 검사 장치에 관한 것이다.
일반적으로, 수광센서를 비롯한 각종 인코더들은 발광소자를 비롯한 각종 디코더로부터 신호를 수신하는 것으로서, 이러한 수광센서(인코더)의 성능은, 수신된 신호가 얼마나 정확하냐를 판가름하는 신호의 정확도와 얼마나 신속하게 수신할 수 있느냐를 판가름하는 수신 속도 및 어떤 환경에서 수신할 수 있느냐를 판가름하는 수신 환경 등을 기준으로 판단하게 된다.
종래의 수광센서 등 각종 인코더들의 일반적인 센서 검사방법은, 도 1에 도시된 바와 같이, 얇은 원판 형상의 센서 검사용 회전 디스크(3)를 이용하였는데, 상기 회전 디스크(3)는 투명 또는 불투명 재질로 제작되고, 원주상으로 방사선상에 일정한 간격으로 형성되는 눈금부(4)를 구비하여 상기 발광소자(1)의 빛을 부분적으로 차단하거나 투과하도록 하여 수광센서(2)(인코더)의 테스트가 가능하도록 하였다.
즉, 상기 발광소자(1)의 빛이 상기 회전 디스크(3) 또는 눈금부(4)를 통해 투과되어 상기 수광센서(2)(인코더)의 테스트가 가능하도록 상기 회전 디스크(3)가 투명재질로 제작되는 경우 눈금부(4)가 불투명하게 형성되고, 회전 디스크(3)가 불투명재질로 제작되는 경우 상기 눈금부(4)가 투명하게 형성되는 것이다.
따라서, 상기 발광소자(1)를 상기 눈금부(4)와 대응하도록 상기 회전 디스크(3)의 상방에 설치하고, 상기 수광센서(2)를 상기 발광소자(1)와 대응하도록 상기 회전 디스크(3)의 하방에 설치한 다음, 회전축을 이용하여 상기 회전 디스크(3)를 회전시키면서 상기 수광센서(2)로 수신되는 신호를 분석하여 양품과 불량품을 분별하였다.
그러나, 이러한 종래의 회전 디스크(3)를 이용한 센서 검사 방법은, 첫째, 회전 디스크(3)가 한 번에 검사할 수 있는 상기 수광센서(2)의 개수가 1개에 불과하기 때문에 한번에 다수개를 동시에 검사할 수 없어서, 상기 수광센서(2)의 자리에 다른 수광센서(2)를 차례로 교체한 다음, 상기 회전 디스크(3)가 다수 번을 회전하는 것으로서, 검사를 위한 수광센서(2)의 대기 시간이 길고, 상기 수광센서(2)를 정렬시키고, 교체하는 시간과 상기 회전 디스크(3)를 회전시키는 시간으로 인하여 검사 시간이 오래 걸리던 문제점이 있었다.
둘째, 종래의 센서 검사방법은, 고온 및 상온에서의 센서 성능을 검사하기 위하여 상기 수광센서(2)를 1개씩 공급받아 가열한 다음, 고온에서 테스트하고, 다시 냉각한 다음, 상온에서 테스트하여 분류하는 일련의 과정이 모두 수작업으로 이루어지는 것으로서, 작업자가 상기 수광센서(2)를 일일이 상기 회전 디스크(3)를 포함한 각각의 장치들에 장착하고 교체한 후, 다시 이동시키는 과정이 매우 번거롭고 교체 시간. 이동 시간 및 검사 시간이 크게 늘어나서 전체 검사 과정이 매우 길어지며, 그 작업 과정에서 미숙련자의 실수 등으로 인하여 검사의 정확도와 정밀도가 떨어지는 등의 문제점이 있었다.
셋째, 종래의 센서 검사방법은, 회전 디스크(3)를 사용하여 눈금부(4)의 회전을 감지하는 것으로서, 한정된 눈금부(4)의 눈금 개수를 판별하는 것이 아니기 때문에 상기 수광센서(2)의 성능을 판가름하기 위한 프로그램의 로직이 매우 복잡하고, 상기 회전 디스크(3)의 회전 속도 등을 제어하기가 매우 어려워서 운영이 불 편했었던 문제점이 있었다.
상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 목적은, 직선 왕복을 하는 센서 검사용 스트립을 이용하여 다수개의 수광센서를 동시에 검사할 수 있게 함으로써 검사 시간을 크게 단축시킬 수 있는 센서 검사용 스트립 및 이를 이용한 센서 검사 장치를 제공함에 있다.
또한, 본 발명의 다른 목적은, 소자 공급부로부터 다수개씩 수광센서를 공급받아 고온에서 테스트하고, 다시 냉각한 다음, 상온에서 테스트하여 분류하는 일련의 과정이 모두 자동으로 이루어져서 검사 작업이 매우 간편하고, 신속하게 이루어질 수 있으며, 검사의 정확도와 정밀도를 크게 향상시킬 수 있게 하는 센서 검사용 스트립 및 이를 이용한 센서 검사 장치를 제공함에 있다.
또한, 본 발명의 또 다른 목적은, 직선 운동을 하는 한정된 눈금의 개수를 판별하여 수광센서의 성능을 판가름할 수 있기 때문에 프로그램의 로직이 매우 간단하고, 센서 검사용 스트립의 이동 등을 제어하기가 매우 간편하여 검사 장치의 운영을 용이하게 할 수 있게 하는 센서 검사용 스트립 및 이를 이용한 센서 검사 장치를 제공함에 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 센서 검사용 스트립은, 투명 또는 불투명 재질로 제작되고, 얇은 띠 형상의 몸체; 및 상기 몸체에 직선상으로 나란히 일정한 간격으로 형성되고, 발광소자의 빛을 부분적으로 차단하거나 투과시키도록 하여 수광센서(인코더)의 테스트가 가능하게 하는 눈금부;를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.
한편, 상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 센서 검사용 스트립을 이용한 센서 검사 장치는, 투명 또는 불투명 재질로 제작되고, 얇은 띠 형상의 몸체; 및 상기 몸체에 직선상으로 나란히 일정한 간격으로 형성되고, 발광소자의 빛을 부분적으로 차단하거나 투과시키도록 하여 수광센서(인코더)의 테스트가 가능하게 하는 눈금부;를 포함하여 이루어지는 센서 검사용 스트립을 이용한 센서 검사장치에 있어서, 상기 수광센서를 다수개씩 공급하는 소자 공급부; 상기 소자 공급부에 의해 공급된 상기 수광센서들을 히터를 이용하여 가열하는 가열부; 고온으로 가열된 수광센서들이 미리 직선상으로 일렬 배치된 발광소자들과 대응되는 위치에 위치하도록 상기 수광센서들을 직선상으로 일렬 배치하고, 로봇에 의해 상기 센서 검사용 스트립을 직선 왕복 이동시켜서 상기 수광센서들로 입력된 신호를 검사하는 고온 테스트부; 상기 고온 테스트부를 거친 수광센서들을 에어 쿨러를 이용하여 상온으로 냉각시키는 냉각부; 상온으로 냉각된 수광센서들이 미리 직선상으로 일렬 배치된 발광소자들과 대응되는 위치에 위치하도록 상기 수광센서들을 직선상으로 일렬 배치하고, 로봇에 의해 상기 센서 검사용 스트립을 직선 왕복 이동시켜서 상기 수광센서들로 입력된 신호를 검사하는 상온 테스트부; 및 상기 고온 테스트부와 상온 테스트부에서 검사된 상기 수광센서들을 양품과 불량품으로 분류하는 분류부;를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명 센서 검사용 스트립을 이용한 센서 검사 장치는, 직선상으로 일렬 배치된 상기 수광센서들을 상기 가열부와, 고온 테스트부와, 냉각부와 상온 테스트부 및 분류부로 컨베이어방식으로 이송하는 그립퍼;를 더 포함하여 이루어지는 것이 바람직하다.
또한, 본 발명의 센서 검사방법은 다수개의 센서를 켄베이어 방식으로 이송하는 그립퍼에 장착하는 단계;
상기 장착된 다수개의 센서를 테스트 온도까지 가열하는 단계;
상기 가열된 다수개의 센서를 대응되는 다수개의 발광소자로 이동시킨 후, 얇은 띠 형상의 몸체에 직선상으로 나란히 일정한 간격으로 눈금이 형성된 검사용 스트립을 왕복시켜 다수개의 센서를 동시에 테스트하는 단계;
상기 장착된 다수개의 센서를 테스트 온도까지 냉각하는 단계;및
상기 냉각된 다수개의 센서를 대응되는 다수개의 발광소자로 이동시킨 후, 얇은 띠 형상의 몸체에 직선상으로 나란히 일정한 간격으로 눈금이 형성된 검사용 스트립을 왕복시켜 다수개의 센서를 동시에 테스트하는 단계;
를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 구체적 특징 및 이점은 첨부된 도면을 참조한 이하의 설명으로 더욱 명확해 질 것이다.
즉, 이하 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 센서 검사용 스트립 및 이를 이용한 센서 검사 장치를 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
먼저, 도 2에 도시된 바와 같이, 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 센서 검사용 스트립은, 크게 몸체(10)와 눈금부(11)를 포함하여 이루어지는 것으로서, 상기 몸체(10)는, 투명 또는 불투명 재질로 제작되고, 얇은 띠 형상의 몸체로 이루어지고, 상기 눈금부(11)는 발광소자(1)의 빛을 부분적으로 차단하거나 투과시키도록 하여 수광센서(인코더)의 테스트가 가능하게 한다.
이러한 상기 몸체(10)는 일정한 두께에 일정한 길이와 폭을 갖도록 규격화되는 것이 바람직하고, 테스트 환경 중 하나인 고온의 환경에서도 견딜 수 있도록 내열성을 갖는 것이 바람직하다.
또한, 상기 눈금부(11)는, 상기 발광소자(1)의 빛을 부분적으로 차단하여 수광센서(2)(인코더)의 테스트가 가능하도록 상기 몸체(10)에 직선상으로 나란히 일정한 간격(규격)으로 형성되는 것으로서, 이 역시 테스트를 위해 일정한 규격(예를 들어, XXX dpi) 등으로 형성될 수 있고, 눈금의 전체 개수 역시 미리 정해지는 것이 바람직하다.
따라서, 로봇(100)이 상기 몸체(10)에서 눈금부(11)가 형성되어 있지 않은 부분을 파지하여 직선으로 왕복운동시키면, 상기 몸체(10)의 상방에 설치된 발광소자(1)에서 조사된 빛이 상기 수광센서(2)로 도달되는 동안 상기 눈금부(11)에 의해 통과(ON신호) 및 차단(OFF신호)을 반복하면서 상기 수광센서(2)가 이를 읽어 원하는 일정한 신호가 입력되는 경우, 이를 정상으로 판단하여 양품으로 분류하고, 일정한 신호가 입력되지 않은 경우, 이를 비정상으로 판단하여 불량품으로 분류할 수 있게 되는 것이다.
이 때, 상기 로봇(100)에 의해 상기 센서 검사용 스트립의 몸체(10)가 한번에 직선 이동되는 동안, 상기 수광센서(2)는, 도 2에 도시된 5개가 동시에 검사될 수 있는 것으로서, 종래와는 달리 다수개의 동시 검사가 가능하여 검사 속도를 크게 증대시킬 수 있고, 상기 수광센서(2)에서 수신된 눈금의 개수나 속도 등을 검사하는 로직이 간단하여 장치의 운영을 용이하게 할 수 있게 되는 것이다.
여기서, 도 2에서는 한 번에 5개의 수광센서(2)를 동시 검사하는 것을 예시하였으나, 이외에도 상기 발광소자(1)를 10개, 20개, 30개 등 다수개 설치하여 상기 발광소자10개, 20개, 30개를 가 동시에 검사할 수 있게 하는 것도 가능하다.
한편, 도 3에 도시된 바와 같이, 상술된 센서 검사용 스트립을 이용한 본 발명의 센서 검사 장치는, 크게 소자 공급부(20)와, 가열부(30)와, 고온 테스트부(40)와, 냉각부(50)와, 상온 테스트부(60)와, 분류부(70) 및 그립퍼(80)를 포함하여 이루어지는 구성이다.
여기서, 상기 소자 공급부(20)는, 상기 수광센서(2) 다수개를 소정 개수씩 공급하는 것으로서, 도면에서는 상기 수광센서(E1, E2, E3, E4,...,EN) 등 N개씩 공급하는 소자 공급부(20)를 예시한다.
또한, 상기 가열부(30)는, 상기 소자 공급부(20)에 의해 공급된 상기 수광센서(2)들을 히터(도시하지 않음)를 이용하여 소정의 고온으로 가열하는 것으로서, 상기 수광센서(2)들이 설치될 수 있는 고온의 환경을 조성해주는 역할을 하는 것이다.
또한, 상기 고온 테스트부(40)는, 고온으로 가열된 수광센서(2)들이 미리 직선상으로 일렬 배치된 N개의 발광소자(1)(D1, D2, D3, D4,...,DN)들과 대응되는 위치에 위치하도록 상기 수광센서(2)들을 직선상으로 일렬 배치하고, 로봇에 의해 상 기 센서 검사용 스트립을 직선 왕복 이동시켜서 상기 수광센서(2)(E1, E2, E3, E4,...,EN)들로 입력된 신호를 검사하는 것이다.
여기서, 상기 고온 테스트부(40)의 고온 환경은, 상기 가열부(30)에서 조성된 환경이 그대로 유지되고, 도시하진 않았지만, 상기 고온 테스트부(40)에서 검사된 상기 수광센서(2)들에 대한 신호를 인가받아 양품과 불량품을 판별하고, 판별된 결과를 상기 분류부(70)로 인가하는 제어부(도시하지 않음)가 설치되는 것이 바람직하다.
한편, 상기 냉각부(50)는, 상기 고온 테스트부(40)를 거친 수광센서(2)들을 에어 쿨러(도시하지 않음)를 이용하여 상온 또는 저온으로 냉각시키는 것으로서, 상기 수광센서(2)들이 설치될 수 있는 상온 또는 저온의 환경을 조성해주는 역할을 하는 것이다.
또한, 상기 상온 테스트부(60)는, 상온으로 냉각된 수광센서(2)들이 미리 직선상으로 일렬 배치된 발광소자(1)(D1, D2, D3, D4,...,DN)들과 대응되는 위치에 위치하도록 상기 수광센서(2)들을 직선상으로 일렬 배치하고, 로봇(100)에 의해 상기 센서 검사용 스트립의 몸체(10)를 직선 왕복 이동시켜서 상기 수광센서(2)(E1, E2, E3, E4,...,EN)들로 입력된 신호를 검사하는 것이다.
여기서, 상기 상온 테스트부(60)의 상온(저온) 환경은, 상기 냉각부(50)에서 조성된 환경이 그대로 유지되고, 도시하진 않았지만, 상기 상온 테스트부(60)에서 검사된 상기 수광센서(2)들에 대한 신호를 인가받아 양품과 불량품을 판별하고, 판별된 결과를 상기 분류부(70)로 인가하는 제어부(도시하지 않음)가 설치되는 것이 바람직하다.
한편, 상기 분류부(70)는, 상기 고온 테스트부(40)와 상온 테스트부(60)에서 검사된 상기 수광센서(2)들을 양품과 불량품으로 분류하는 것으로서, 이러한 분류는 상술된 상기 고온 테스트부(40)와 상온 테스트부(60)에서 인가받은 상기 제어부의 양품 및 불량품 신호를 기준으로 분류하게 된다.
또한, 상기 그립퍼(80)는, 직선상으로 일렬 배치된 상기 수광센서(2)들을 상기 가열부와, 고온 테스트부(40)와, 냉각부(50)와 상온 테스트부(60) 및 분류부(70)로 컨베이어방식으로 이송하는 것으로서, 이러한 컨베이어방식의 그립퍼(80)와 직선 이동방식의 센서 검사용 스트립을 이용하여 소자 공급부(20)로부터 다수개(N개)씩 수광센서(2)를 공급받아 고온에서 테스트하고, 다시 냉각한 다음, 상온에서 테스트하여 분류하는 일련의 과정을 자동화하여 간편하고, 신속하며, 정확하고, 정밀한 검사를 실시할 수 있게 되는 것이다.
본 발명은 상술한 실시예에 한정되지 않으며, 본 발명의 사상을 해치지 않는 범위 내에서 당업자에 의한 변형이 가능함은 물론이다.
즉, 도면에서 상기 발광소자(1) 및 수광센서(2)는 상기 발광소자(1)에서 조사된 빛이 센서 검사용 스트립을 투과하여 상기 수광센서(2)로 도달되는 투과형 센서를 예시하였으나, 이외에도 발광소자에서 조사된 빛이 센서 검사용 스트립에 반사되어 수광센서로 도달되는 반사형 센서에 적용되는 것도 가능하다.
따라서, 본 발명에서 권리를 청구하는 범위는 상세한 설명의 범위 내로 정해지는 것이 아니라 후술되는 청구범위와 이의 기술적 사상에 의해 한정될 것이다.
이상에서와 같이 본 발명의 센서 검사용 스트립 및 이를 이용한 센서 검사 장치에 의하면, 다수개의 수광센서를 동시에 검사할 수 있게 하여 검사 시간을 크게 단축시킬 수 있으며, 일련의 고온 및 상온 검사 과정이 모두 자동으로 이루어져서 검사 작업이 매우 간편하고, 신속하게 이루어질 수 있으며, 검사의 정확도와 정밀도를 크게 향상시킬 수 있고, 검사 장치의 운영을 용이하게 할 수 있는 효과를 갖는 것이다.

Claims (5)

  1. 삭제
  2. 투명 또는 불투명 재질로 제작되고, 얇은 띠 형상의 몸체; 및
    상기 몸체에 직선상으로 나란히 일정한 간격으로 형성되고, 발광소자의 빛을 부분적으로 차단하거나 투과시키도록 상기 몸체가 투명 재질인 경우 불투명하게 형성되고, 상기 몸체가 불투명 재질인 경우 투명하게 형성되는 눈금부;를 포함하여 이루어지는 센서 검사용 스트립을 이용한 센서 검사장치에 있어서,
    수광센서를 다수개씩 공급하는 소자 공급부;
    상기 소자 공급부에 의해 공급된 상기 수광센서들을 히터를 이용하여 가열하는 가열부;
    고온으로 가열된 수광센서들이 미리 직선상으로 일렬 배치된 발광소자들과 대응되는 위치에 위치하도록 상기 수광센서들을 직선상으로 일렬 배치하고, 로봇에 의해 상기 센서 검사용 스트립을 직선 왕복 이동시켜서 상기 수광센서들로 입력된 신호를 검사하는 고온 테스트부;
    상기 고온 테스트부를 거친 수광센서들을 에어 쿨러를 이용하여 상온으로 냉각시키는 냉각부;
    상온으로 냉각된 수광센서들이 미리 직선상으로 일렬 배치된 발광소자들과 대응되는 위치에 위치하도록 상기 수광센서들을 직선상으로 일렬 배치하고, 로봇에 의해 상기 센서 검사용 스트립을 직선 왕복 이동시켜서 상기 수광센서들로 입력된 신호를 검사하는 상온 테스트부; 및
    상기 고온 테스트부와 상온 테스트부에서 검사된 상기 수광센서들을 양품과 불량품으로 분류하는 분류부;
    를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 센서 검사용 스트립을 이용한 센서 검사 장치.
  3. 제 2항에 있어서,
    직선상으로 일렬 배치된 상기 수광센서들을 상기 가열부와, 고온 테스트부와, 냉각부와 상온 테스트부 및 분류부로 컨베이어방식으로 이송하는 그립퍼;를 더 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 센서 검사용 스트립을 이용한 센서 검사 장치.
  4. 제 2항 또는 제 3항에 있어서,
    상기 수광센서는 반사형 또는 투과형 센서인 것을 특징으로 하는 센서 검사 장치.
  5. 다수개의 센서를 켄베이어 방식으로 이송하는 그립퍼에 장착하는 단계;
    상기 장착된 다수개의 센서를 테스트 온도까지 가열하는 단계;
    상기 가열된 다수개의 센서를 대응되는 다수개의 발광소자로 이동시킨 후, 얇은 띠 형상의 몸체에 직선상으로 나란히 일정한 간격으로 눈금이 형성된 검사용 스트립을 왕복시켜 다수개의 센서를 동시에 테스트하는 단계;
    상기 장착된 다수개의 센서를 테스트 온도까지 냉각하는 단계;및
    상기 냉각된 다수개의 센서를 대응되는 다수개의 발광소자로 이동시킨 후, 얇은 띠 형상의 몸체에 직선상으로 나란히 일정한 간격으로 눈금이 형성된 검사용 스트립을 왕복시켜 다수개의 센서를 동시에 테스트하는 단계;
    를 포함하는 것을 특징하는 엔코더용 센서 검사 방법.
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