KR100878346B1 - 프로브 핀의 제조방법, 이에 의하여 제조되는 프로브 핀 및이를 포함하는 테스트 소켓 - Google Patents

Abstract

본 발명은 프로브 핀의 제조방법, 이에 의하여 제조되는 프로브 핀 및 이를 포함하는 테스트 소켓에 관한 것으로, 특히 금속판재를 타발하여 상부끝단이 핀부를 갖도록 하고 하부는 상부보다 폭이 좁게 길이방향으로 연장되는 상부플런저 삽입부를 가지고, 상기 삽입부의 상부에는 상기 핀부에서 상부플런저 삽입부로 폭이 좁아지는 수평면인 스프링 걸림부를 형성하는 상부플런저 타발단계; 상기 삽입부 끝단을 상면 쪽으로 돌출하게 절곡하여 걸개를 형성하는 상부플런저 절곡단계; 금속판재를 타발하여 통형으로 절곡시 상기 삽입부가 삽입되는 중공부가 형성되는 폭을 가지고, 상기 걸개가 삽입되어 걸리는 걸림 구멍 또는 홈이 형성되는 사각평면부 및 이의 하단 길이방향으로 연장되는 하부 핀부를 형성하는 하부플런저 타발단계; 상기 사각평면부를 통형상으로 절곡하고 상기 하부 핀부의 끝단을 절곡된 통형상의 중심축과 일치하게 절곡하는 하부 플런저 절곡 단계; 및, 상기 상부플런저와 하부플런저 사이에 스프링을 끼워 서로 결합하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브 핀의 제조방법, 이에 의하여 제조되는 프로브 핀 및 이를 포함하는 테스트 소켓에 관한 것이다.

프로브 핀, 판재, 타발, 절곡

Description

프로브 핀의 제조방법, 이에 의하여 제조되는 프로브 핀 및 이를 포함하는 테스트 소켓 {METHOD OF PREPARING PROBE PIN, PROBE PIN PREPARED THEREBY AND TEST SOCKET INCLUDING THE SAME}

도 1은 종래의 프로브 핀에 대한 일 실시예와 이의 상부플런저 및 하부플런저를 분해하여 도시한 사시도이다.

도 2는 본 발명의 프로브 핀 제조방법에 의하여 제조되는 프로브 핀의 일 실시예와 이의 상부플런저 및 하부플런저를 분해하여 도시한 사시도이다.

도 3은 도 2에 도시한 일 실시예의 결합부위를 확대도시한 도면으로서 좌측은 정면도이고, 우측은 측면 단면도이다.

도 4는 본 발명의 프로브 핀 제조방법에 있어서 하부플런저 타발단계만을 진행한 하부플런저의 실시예를 도시한 도면이다.

도 5는 본 발명의 프로브 핀의 다른 실시예에 적용되는 상부플런저이다.

도 6은 본 발명의 프로브 핀의 또 다른 실시예의 결합부위를 확대도시한 측면 단면도이다.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *

10: 상부플런저 11: (상부)핀부

13: 삽입부 15: 스프링걸림부

17: 걸개 19: 돌출부

20: 하부플런저 21: 통형 또는 통형상

22: 사각평면부 23: 걸림 구멍 또는 홈

25: 하부 핀부 30: 스프링

본 발명은 프로브 핀의 제조방법, 이에 의하여 제조되는 프로브 핀 및 이를 포함하는 테스트 소켓에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 상부플런저와 하부플런저가 일체형으로 결합하여 프로브 핀을 소켓에 결합하기 용이하고 생산성을 높일 수 있을 뿐만 아니라, 구조가 단순하여 타발 및 절곡 공정만으로도 제작이 가능하여 기존 프로브 핀에 비하여 저렴한 장비로 제작이 간편하여, 제조원가를 줄일 수 있는 프로브 핀의 제조방법, 이에 의하여 제조되는 프로브 핀 및 이를 포함하는 테스트 소켓에 관한 것이다.

프로브 핀은 포고 핀으로도 불리는 것으로 단독 또는 다른 종류의 핀과 함께 웨이퍼 형성된 소자 또는 반도체 칩 패키지 등을 테스트하기 위한 테스트 소켓 등에 널리 사용되는 탐침으로 이와 같은 프로브 핀이 테스트 소켓에 사용되는 예는 특허출원 제1999-68258호, 실용신안등록출원 제2001-31810호 및, 실용신안등록출원 제2005-3537호 등에 잘 나타나있다.

도 1은 이러한 프로브 핀의 실시예들을 도시한 것이다. 이러한 프로브 핀은 일정한 진폭내에서 각각 독립적으로 이동이 가능하게 결합하는 상부 및 하부와 이들의 상대 운동을 탄성적으로 이루어지게 하는 탄성부재, 바람직하게는 스프링을 포함하여 구성된다.

그러나 종래의 프로브 핀의 경우는 도 1에 도시한 바와 같이 상부 및 하부 플런저 사이에 결합구가 존재하지 않아 소켓 내에 삽입된 경우에만 서로 분리되지 않고 결합하고 있고, 소켓에서 분리되는 경우에는 도 1에 도시한 바와 같이 각각의 부품이 쉽게 분리되어서, 소켓에 결합시 일일이 상부플런저, 하부플런저, 스프링을 따로따로 결합하여하므로 작업이 번거로운 문제점이 있고, 이를 개선하기 위하여 상부플런저(plunger)와 스프링이 하부배럴(barrel)안에 삽입되어 결합되고, 삽입되어진 플런저 및 스프링의 이탈을 방지하기 위하여 배럴의 상부에 원주방향을 따라 요홈인 카시메(casimae)를 형성하여 구성하는 개선안이 제시되었으나, 이와 같이 매 프로브 핀마다 카시메를 형성하며 프로브 핀을 제작하는 경우에는 이러한 카시메의 형성을 위한 고압 프레스 장비 및 몰드의 제작 등이 필요하므로 제작비용이 상승하는 문제점이 있다.

따라서 이와 같은 문제점을 해결하여 상부 및 하부 플런저의 결합이 용이하여 기존의 프로브 핀에 비하여 제조비용이 저렴하고, 탄성부재(스프링) 및 이의 상하 부재가 일체형이어서 테스트 소켓으로의 조립이 용이하여 테스트 생산성이 높은 프로브 핀을 개발하는 것이 절실한 실정이다.

상기와 같은 종래기술의 문제점을 해결하고자, 본 발명은 상부플런저와 하부 플런저가 일체형으로 결합하여 프로브 핀을 소켓에 결합하기 용이하고 생산성을 높일 수 있을 뿐만 아니라, 구조가 단순하여 타발 및 절곡 공정만으로도 제작이 가능하여 기존 프로브 핀에 비하여 저렴한 장비로 제작이 간편하여, 제조원가를 줄일 수 있는 프로브 핀의 제조방법, 이에 의하여 제조되는 프로브 핀 및 이를 포함하는 테스트 소켓을 제공하는 것을 목적으로 한다.

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은

금속판재를 타발하여 상부끝단이 핀부를 갖도록 하고 하부는 상부보다 폭이 좁게 길이방향으로 연장되는 상부플런저 삽입부를 가지고, 상기 삽입부의 상부에는 상기 핀부에서 상부플런저 삽입부로 폭이 좁아지는 수평면인 스프링걸림부를 형성하는 상부플런저 타발단계;

상기 삽입부 끝단을 상면 쪽으로 돌출하게 절곡하여 걸개를 형성하는 상부플런저 절곡단계;

금속판재를 타발하여 통형으로 절곡시 상기 삽입부가 삽입되는 중공부가 형성되는 폭을 가지고, 상기 걸개가 삽입되어 걸리는 걸림 구멍 또는 홈이 형성되는 사각평면부 및 이의 하단 길이방향으로 연장되는 하부 핀부를 형성하는 하부플런저 타발단계;

상기 사각평면부를 통형상으로 절곡하고 상기 하부 핀부의 끝단을 절곡된 통형상의 중심축과 일치하게 절곡하는 하부 플런저 절곡 단계; 및,

상기 상부플런저와 하부플런저 사이에 스프링을 끼워 서로 결합하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브 핀의 제조방법을 제공한다.

또한 본 발명은

절곡된 금속판재로서, 상부끝단이 핀부를 갖고, 하부는 상부보다 폭이 좁게 길이방향으로 연장되는 상부플런저 삽입부를 가지고, 상기 삽입부의 상부에는 상기 핀부에서 상부플런저 삽입부로 폭이 좁아지는 수평면인 스프링걸림부를 갖고, 상기 삽입부 끝단은 판재의 상면 쪽으로 돌출하게 절곡된 걸개를 갖는 상부플런저;

상기 스프링걸림부에 상면이 결합되는 스프링; 및,

절곡된 금속판재로서, 상기 삽입부가 삽입되는 중공부를 가지는 절곡된 통형상을 가지고, 상기 통형상 상면에 상기 스프링 하면이 결합되고, 상기 통형상 표면에 상기 걸개가 삽입되어 걸리는 걸림 구멍 또는 홈을 가지고 여기에 상기 걸개가 결합하고, 상기 통형상의 하단 길이방향으로 연장되어 그 끝단이 상기 통형상의 중심축과 일치하게 절곡된 하부 핀부를 가지는 하부플런저를 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브 핀을 제공한다.

마지막으로 본 발명은 이와 같은 프로브 핀을 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓을 제공한다.

이하 본 발명에 대하여 도면을 참고하여 상세하게 설명한다.

본 발명은 프로브 핀(PROBE PIN)의 제조방법에 관한 것으로 금속판재를 타발하여 상부끝단이 핀부(11)를 갖도록 하고 하부는 상부보다 폭이 좁게 길이방향으로 연장되는 상부플런저 삽입부(13)를 가지고, 상기 삽입부(13)의 상부에는 상기 핀부(11)에서 상부플런저 삽입부(13)로 폭이 좁아지는 수평면인 스프링걸림부(15)를 형성하는 상부플런저(10) 타발단계, 상기 삽입부(13) 끝단을 상면 쪽으로 돌출하게 절곡하여 걸개(17)를 형성하는 상부플런저(10) 절곡단계, 금속판재를 타발하여 통형(21)으로 절곡시 상기 삽입부(13)가 삽입되는 중공부가 형성되는 폭을 가지고, 상기 걸개(17)가 삽입되어 걸리는 걸림 구멍 또는 홈(23)이 형성되는 사각평면부(22) 및 이의 하단 길이방향으로 연장되는 하부 핀부(25)를 형성하는 하부플런저(20) 타발단계, 상기 사각평면부(22)를 통형상(21)으로 절곡하고 상기 하부 핀부(25)의 끝단을 절곡된 통형상(21)의 중심축과 일치하게 절곡하는 하부 플런저(20) 절곡 단계 및, 상기 상부플런저(10)와 하부플런저(20) 사이에 스프링(30)을 끼워 서로 결합하는 단계를 포함하여 구성된다.

즉, 도 2에 도시한 바와 같은 프로브 핀 결합체를 제작하기 위하여 종래에는 그 형상이 도 1에 도시한 것과 같이 복잡한 형상을 가지나 본 발명의 경우에는 금속판재를 타발(punching) 및 절곡(press)하는 것만으로 이를 제작하고, 일체형으로 구성하는 것이다.

이를 위하여 먼저 도 2에 도시한 바와 같이 상부플런저(10)와 하부플런저(20)를 각각 제작하게 되는데, 상부플런저는 금속판재를 타발하는 공정을 통하여 상부끝단이 핀부(11)를 갖도록 하고, 하부는 상부보다 폭이 좁게 길이방향으로 연장되는 상부플런저 삽입부(13)를 가지고, 상기 삽입부(13)의 상부에는 상기 핀부(11)에서 상부플런저 삽입부(13)로 폭이 좁아지는 수평면인 스프링걸림부(15)를 형성하는 형태의 외곽 형상을 가지는 상부플런저 전개도에 해당하는 타발된 판재를 제작한다. 여기서 상기 상부플런저의 형상은 반드시 도 2에 도시한 바와 같은 형상뿐만 아니라 하부에 스프링이 끼워져 상부로 나가지 않도록 제한되도록 하는 스프링 걸림부를 가지고, 상부에는 프로브로서의 역할을 할 수 있도록 핀 형상을 가지고, 하부는 하부 플런저에 삽입이 가능하도록 하는 삽입부 형상만 가지면 그 형상에 제한이 없다. 따라서 도 5에 도시한 바와 같은 형상을 가질 수도 있음은 물론이다. 바람직하게는 도 2에 도시한 바와 같이 스프링이 끼워지는 부분은 가능한 스프링이 요동하는 것을 막기 위하여 스프링의 내경에 거의 가까운 폭을 가지는 것이 좋다.

이와 같이 타발된 판상의 상부플런저용 판재는 도 2에 도시한 바와 같은 걸개를 형성하기 위하여 절곡단계를 거치게 된다. 상기 타발공정과 절곡공정은 설명을 위하여 분리한 것일 뿐이고, 공정설계에 따라 가능하면 한번의 공정으로 지향할 수도 있음은 물론이다.

상기 걸개는 도 3에 도시한 바와 같이 하부플런저와의 결합을 위하여 구성한 것으로 삽입구(13) 끝단을 상부플런저용 판재의 상면으로 돌출하게 절곡한다.

이와 같은 고정을 통하여 상부플런저가 준비되고, 다음으로 하부플런저(20)의 경우는 상기 상부플런저(10)의 삽입구(13)가 삽입되어지는 중공부를 형성하여야 하므로 이를 위하여 먼저 금속판재를 타발하는 공정으로, 통형(21)으로 절곡시 상기 삽입부(13)가 삽입되는 중공부가 형성되는 폭을 가지고, 상기 걸개(17)가 삽입되어 걸리는 걸림 구멍 또는 홈(23)이 형성되는 사각평면부(22) 및 이의 하단 길이방향으로 연장되는 하부 핀부(25)를 형성하는 하부플런저(20)용 판재를 제작하게 된다. 이에 대한 구체적인 예는 도 4에 도시한 바와 같다. 즉, 일단 도 4에 도시 한 실시예와 같이 절곡하여 원통형 또는 사각통형으로 만들기 위한 사각평면부(22)를 타발을 통하여 형성한다. 이때 상기 사각평면부에는 상기 상부플런저의 걸개가 도 3에 도시한 바와 같이 끼워져 결합하는 걸림 구멍 또는 홈을 형성한다. 상기 사각평면부를 절곡(도 4에 점선으로 표시한 선을 따라)하여 통형상을 만드는 경우에 그 끝단은 도 2에 도시한 바와 같이 서로 만나지 않게 할 수도 있고, 이와 달리 서로 만나게 절곡할 수도 있다. 이때, 상기 걸림 구멍 또는 홈은 도 4에 도시한 바와 같이 사각평면부 내부에 형성하는 경우에는 구멍으로 이를 형성하고, 사각평면부를 절곡하여 통형상을 만드는 경우의 서로 마주보는 면에 이를 형성하는 경우에는 그 끝단에 각각 홈을 도시한 바와 같이 형성하여 최종적으로 절곡이 이루어진 후에는 구멍 형상 또는 이와 유사한 형상(도 2에 도시한 바와 같은)이 이루어지도록 할 수 있다.

또한 하부플런저(20)도 하부로 전기신호를 전달하여야 하므로 이를 위하여 상기 사각평면부 아래로 연장되는 하부 핀부(25)를 가진다. 상기 핀부의 끝단은 상부 및 하부를 막론하고 도 4에 도시한 바와 같이 하나의 뾰족한 끝단일 수도 있고, 도 2와 도 5에 도시한 바와 같이 다수의 뾰족한 돌기가 구비되도록 할 수도 있다.

이와 같이 준비된 하부플런저용 판재는 최종적인 형상을 얻기 위하여 절곡공정을 거치게 된다. 즉, 상기 사각평면부(22)를 통형상(21), 예를 들면 상하가 개방되어 중공부를 가지는 원통, 사각통, 삼각통, 오각통 등의 다양한 모양으로 절곡하고, 상기 하부 핀부(25)의 끝단을 절곡된 통형상(21)의 중심축과 일치하게 절곡 하는 절곡공정을 거치게 된다.

이와 같은 절곡공정을 거치게 되면, 도 2에 도시한 바와 같은 하부플런저(20)가 완성되고, 이는 상기 상부플런저와 그사이에 스프링을 끼워서, 상기 걸개(17)가 상기 걸림 구멍 또는 홈(23)에 끼워지도록 하여 결합하면 프로브 핀으로 완성되어진다. 상기 결합관계는 도 3에 그 일 예를 도시한 바와 같다.

또한 바람직하게는 상기 상부플런저와 하부플런저의 결합이 더욱 견고하게 이루어지도록 하기 위하여 상기 상부플런저 절곡단계에서 상기 삽입부(13) 중간을 하면 쪽으로 볼록하게 절곡하여 돌출부(19)를 형성하는 것을 더 포함하도록 구성할 수 있다. 이에 대한 구체적인 예는 도 6에 도시한 바와 같다. 더욱 바람직하게는 상기 걸개(17) 전면 끝단으로부터 상기 돌출부의 후면 끝단까지의 폭이 상기 하부플런저 통형상의 내경보다 크게 구성하는 것이 일체형을 보다 유지하게 좋게 하므로 좋다.

또한 본 발명은 상기와 같은 방법으로 제작되는 프로브 핀을 제공하는 바, 이에 의하여 제조된 프로브 핀은 절곡된 금속판재로서, 상부끝단이 핀부(11)를 갖고, 하부는 상부보다 폭이 좁게 길이방향으로 연장되는 상부플런저 삽입부(13)를 가지고, 상기 삽입부(13)의 상부에는 상기 핀부(11)에서 상부플런저 삽입부(13)로 폭이 좁아지는 수평면인 스프링걸림부(15)를 갖고, 상기 삽입부(13) 끝단은 판재의 상면 쪽으로 돌출하게 절곡된 걸개(17)를 갖는 상부플런저(10), 상기 스프링걸림부(15)에 상면이 결합되는 스프링(30) 및, 절곡된 금속판재로서, 상기 삽입부(13)가 삽입되는 중공부를 가지는 절곡된 통형상(21)을 가지고, 상기 통형상(21) 상면에 상기 스프링(30) 하면이 결합되고, 상기 통형상(21) 표면에 상기 걸개(17)가 삽입되어 걸리는 걸림 구멍 또는 홈(23)을 가지고 여기에 상기 걸개(17)가 결합하고, 상기 통형상(21)의 하단 길이방향으로 연장되어 그 끝단이 상기 통형상(21)의 중심축과 일치하게 절곡된 하부 핀부(25)를 가지는 하부플런저(20)를 포함하여 구성된다.

이에 대한 상세한 설명은 상기 기술한 바와 같으며, 이와 같이 제작되는 프로브 핀의 구체적인 실시예는 도 2에 도시한 바와 같으며, 이의 결합관계에 대한 구체적인 실시예는 도 3에 도시한 바와 같다.

상기 프로브 핀의 경우에도 바람직하게는 상기 상부플런저와 하부플런저의 결합이 더욱 견고하게 이루어지도록 하기 위하여 상기 상부플런저의 삽입부(13)는 그 중간부가 하면 쪽으로 볼록하게 절곡된 돌출부(19)를 더 갖도록 구성할 수 있으며, 이에 대한 구체적인 예는 도 6에 도시한 바와 같다.

또한 본 발명은 이와 같은 상기 기술한 프로브 핀을 포함하는 테스트 소켓을 제공하는 바, 이는 상기 기술한 본 발명의 프로브 핀을 포함하는 공지의 다양한 테스트 소켓을 말하는 것으로 이에 대한 구체적인 예로는 웨이퍼 테스트 또는 반도체 칩 패키지 테스트에 사용되는 테스트 소켓을 들 수 있다.

본 발명의 프로브 핀의 제조방법, 이에 의하여 제조되는 프로브 핀 및 이를 포함하는 테스트 소켓에 따르면, 상부플런저와 하부플런저가 일체형으로 결합하여 프로브 핀을 소켓에 결합하기 용이하고 생산성을 높일 수 있을 뿐만 아니라, 구조 가 단순하여 타발 및 절곡 공정만으로도 제작이 가능하여 기존 프로브 핀에 비하여 저렴한 장비로 제작이 간편하여, 제조원가를 줄일 수 있는 장점이 있다.

이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 의하여 한정되는 것은 아니고, 하기의 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 해당 기술분야의 당업자가 다양하게 수정 및 변경시킨 것 또한 본 발명의 범위 내에 포함됨은 물론이다.

Claims (5)

1. 금속판재를 타발하여 상부끝단이 핀부를 갖도록 하고 하부는 상부보다 폭이 좁게 길이방향으로 연장되는 상부플런저 삽입부를 가지고, 상기 삽입부의 상부에는 상기 핀부에서 상부플런저 삽입부로 폭이 좁아지는 수평면인 스프링걸림부를 형성하는 상부플런저 타발단계;

   상기 삽입부 끝단을 상면 쪽으로 돌출하게 절곡하여 걸개를 형성하는 상부플런저 절곡단계;

   금속판재를 타발하여 통형으로 절곡시 상기 삽입부가 삽입되는 중공부가 형성되는 폭을 가지고, 상기 걸개가 삽입되어 걸리는 걸림 구멍 또는 홈이 형성되는 사각평면부 및 이의 하단 길이방향으로 연장되는 하부 핀부를 형성하는 하부플런저 타발단계;

   상기 사각평면부를 통형상으로 절곡하고 상기 하부 핀부의 끝단을 절곡된 통형상의 중심축과 일치하게 절곡하는 하부 플런저 절곡 단계; 및,

   상기 상부플런저와 하부플런저 사이에 스프링을 끼워 서로 결합하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브 핀의 제조방법.
2. 제1항에 있어서,

   상기 상부플런저 절곡단계에서 상기 삽입부 중간을 하면 쪽으로 볼록하게 절곡하여 돌출부를 형성하는 것을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브 핀의 제조 방법.
3. 절곡된 금속판재로서, 상부끝단이 핀부를 갖고, 하부는 상부보다 폭이 좁게 길이방향으로 연장되는 상부플런저 삽입부를 가지고, 상기 삽입부의 상부에는 상기 핀부에서 상부플런저 삽입부로 폭이 좁아지는 수평면인 스프링걸림부를 갖고, 상기 삽입부 끝단은 판재의 상면 쪽으로 돌출하게 절곡된 걸개를 갖는 상부플런저;

   상기 스프링걸림부에 상면이 결합되는 스프링; 및,

   절곡된 금속판재로서, 상기 삽입부가 삽입되는 중공부를 가지는 절곡된 통형상을 가지고, 상기 통형상 상면에 상기 스프링 하면이 결합되고, 상기 통형상 표면에 상기 걸개가 삽입되어 걸리는 걸림 구멍 또는 홈을 가지고 여기에 상기 걸개가 결합하고, 상기 통형상의 하단 길이방향으로 연장되어 그 끝단이 상기 통형상의 중심축과 일치하게 절곡된 하부 핀부를 가지는 하부플런저를 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브 핀.
4. 삭제
5. 프로브 핀을 구비하는 테스트 소켓에 있어서,

   상기 프로브 핀은

   절곡된 금속판재로서, 상부끝단이 핀부를 갖고, 하부는 상부보다 폭이 좁게 길이방향으로 연장되는 상부플런저 삽입부를 가지고, 상기 삽입부의 상부에는 상기 핀부에서 상부플런저 삽입부로 폭이 좁아지는 수평면인 스프링걸림부를 갖고, 상기 삽입부 끝단은 판재의 상면 쪽으로 돌출하게 절곡된 걸개를 갖는 상부플런저;

   상기 스프링걸림부에 상면이 결합되는 스프링; 및,

   절곡된 금속판재로서, 상기 삽입부가 삽입되는 중공부를 가지는 절곡된 통형상을 가지고, 상기 통형상 상면에 상기 스프링 하면이 결합되고, 상기 통형상 표면에 상기 걸개가 삽입되어 걸리는 걸림 구멍 또는 홈을 가지고 여기에 상기 걸개가 결합하고, 상기 통형상의 하단 길이방향으로 연장되어 그 끝단이 상기 통형상의 중심축과 일치하게 절곡된 하부 핀부를 가지는 하부플런저;

   를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓.

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