KR100860916B1 - Speaker tester for testing a plurality of speakers for the use of a car continuously - Google Patents

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Abstract

본 발명은 복수의 차량용 스피커를 연속적으로 검사하는 스피커 검사기에 관한 것으로서, 본 발명에 따른 스피커 검사기는 커넥터, 마이컴, 복수의 테스트 회로, 임피던스 선택 회로, 및 디스플레이 장치를 포함한다. 마이컴은 출력 단자와 복수의 입력 단자를 포함하고, 외부 제어 신호에 응답하여, 출력 단자를 통하여 입력 테스트 신호를 출력하고, 복수의 입력 단자를 통하여 각각 수신되는 복수의 출력 테스트 신호의 전압이 설정된 범위 내에 각각 포함되는지의 여부에 따라, 복수의 스피커와 복수의 외부 배선 간의 연결 상태가 불량인지의 여부를 판단하고, 그 판단 결과에 따라 불량 여부를 나타내는 복수의 판단 신호를 출력한다. 복수의 테스트 회로는 선택적으로 조절 가능한 임피던스를 가지며, 입력 테스트 신호에 각각 응답하여, 복수의 입력 단자에 복수의 출력 테스트 신호를 각각 발생한다. 임피던스 선택 회로는 복수의 테스트 회로의 임피던스를 선택적으로 조절한다. 본 발명에 따른 스피커 검사기는 차량의 생산 과정 중에 단순한 키 조작만으로 복수의 차량용 스피커를 연속적으로 검사하여, 그 검사 시간과 검사 비용을 줄일 수 있다.The present invention relates to a speaker tester for continuously inspecting a plurality of vehicle speakers, wherein the speaker tester includes a connector, a microcomputer, a plurality of test circuits, an impedance selection circuit, and a display device. The microcomputer includes an output terminal and a plurality of input terminals, in response to an external control signal, outputs an input test signal through an output terminal, and sets a voltage of a plurality of output test signals respectively received through the plurality of input terminals. It is judged whether or not the connection state between the plurality of speakers and the plurality of external wirings is defective in accordance with whether or not it is included in each, and outputs a plurality of determination signals indicating whether or not the defect is in accordance with the determination result. The plurality of test circuits have an selectively adjustable impedance, and in response to the input test signals, respectively, generate a plurality of output test signals to the plurality of input terminals, respectively. The impedance selection circuit selectively adjusts the impedance of the plurality of test circuits. The speaker tester according to the present invention can continuously test a plurality of vehicle speakers with a simple key operation during the production process of the vehicle, thereby reducing the test time and the test cost.

테스트 회로, 메인 스피커, 트위트 스피커, 외부 배선 Test circuit, main speaker, tweet speaker, external wiring

Description

복수의 차량용 스피커를 연속적으로 검사하는 스피커 검사기{Speaker tester for testing a plurality of speakers for the use of a car continuously}Speaker tester for testing a multiple of speakers for the use of a car continuously}

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 스피커 검사기와 스피커를 나타내는 도면이다.1 is a view showing a speaker tester and a speaker according to an embodiment of the present invention.

도 2는 도 1에 도시된 스피커 검사기의 외관을 나타내는 사시도이다.FIG. 2 is a perspective view illustrating an appearance of the speaker inspector illustrated in FIG. 1.

〈도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명〉<Explanation of symbols for main parts of drawing>

100 : 스피커 검사기 110 : 마이컴100: speaker checker 110: microcomputer

120 : 디스플레이 장치 130 : 커넥터120: display device 130: connector

140 : 임피던스 선택 회로 150 : 전원 키 입력부140: impedance selection circuit 150: power key input unit

160 : 제어 키 입력부 TCR1∼TCRK : 테스트 회로160: control key input unit TCR1 to TCRK: test circuit

FXL1∼FXLK : 외부 배선 MSP1∼MSPK : 메인 스피커FXL1 to FXLK: External wiring MSP1 to MSPK: Main speaker

TSP1∼TSPK : 트위트 스피커TSP1 to TSPK: Tweet speaker

본 발명은 차량용 검사기에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는, 차량용 스피커 검사기에 관한 것이다.The present invention relates to a vehicle tester, and more particularly, to a vehicle speaker tester.

일반적으로, 차량 내부에는 디지털 미디어 재생 장치에 의해, DVD(Digital Versatile Disk), 오디오 CD, 및 MP3(MPEG layer 3) CD 등과 같은 디지털 미디어로부터 재생되는 오디오 신호를 출력하는 복수의 차량용 스피커들이 설치된다. 차량용 스피커들은 탑승자에게 입체적인 음향을 제공하기 위해, 차량 내부의 복수의 장소, 예를 들어, 차량 전방(front)의 좌/우측과 후방(rear)의 좌/우측에 각각 설치된다. 이처럼 복수의 장소에 설치되는 차량용 스피커들은 배선을 통하여 디지털 미디어 재생 장치에 각각 연결된다. 따라서 차량용 스피커들이 정상적으로 오디오 신호를 출력하기 위해서는 배선의 연결이 적절하게, 또한, 확실하게 이루어지는 것이 중요하다. 통상적으로, 차량용 스피커들에 대한 배선의 연결 상태에 대한 검사는 차량의 생산 과정 중에 이루어지거나, 또는 차량이 완성된 후에 이루어질 수 있다. 차량의 생산 과정 중에 실행되는 종래의 검사 방법은, 저항, 전류, 및 전압의 측정을 위해 주로 사용되고 있는 일반 테스트기를 이용하여 검사하는 것이다. 일반 테스트기를 이용한 검사 방식은, 검사자가 직접 테스트기의 프로브(probe)를 각 스피커에 접촉하여 배선의 연결 상태를 확인함으로써 실행된다. 하지만 이러한 방법은 검사자가 테스트기의 프로브를 스피커 하나하나에 각각 접촉시켜야만 배선의 연결 상태를 확인할 수 있는 것이므로, 그 검사 과정이 번거로울 뿐만 아니라 검사 시간도 증가하게 되어 비효율적이다. 한편, 차량이 완성된 후에 실행되는 검사 방식은 자가진단 시스템을 내장한 디지털 미디어 재생 장치를 자가진단 모드로 진입시켜 스피커의 배선 연결 상태를 진단하도록 한 것이다. 하지만 이 검사 과정을 실행하기 위해서는, 고가의 자가진단 시스템을 디지털 미디어 재생 장치에 내장해야만 한다. 또한, 자가진단 결과, 스피커의 배선 연결 상태가 불량인 것으로 판정된 경우, 스피커의 배선 연결 상태를 수정하기 위해, 이미 완성된 차량을 다시 분해해야 하므로, 수정 작업에 더 많은 시간이 소요된다. 상술한 것과 같이, 종래의 차량용 스피커의 검사 방식은 많은 노력, 시간, 및 비용이 소요되는 것이며, 비효율적으로 이루어지는 것이다.Generally, a plurality of in-vehicle speakers are installed in a vehicle to output audio signals reproduced from digital media such as a digital versatile disk (DVD), an audio CD, and an MP3 (MPEG layer 3) CD by a digital media reproducing apparatus. . In order to provide a three-dimensional sound to the occupants, the vehicle speakers are installed at a plurality of places inside the vehicle, for example, at the left and right of the front and the rear of the vehicle. As described above, the vehicle speakers installed in the plurality of places are connected to the digital media playback apparatus through wires, respectively. Therefore, in order for the vehicle speakers to normally output the audio signal, it is important that the wiring is properly and reliably made. Typically, a check on the connection state of the wiring to the vehicle speakers may be made during the production process of the vehicle or after the vehicle is completed. A conventional inspection method executed during the production process of a vehicle is inspection using a general tester which is mainly used for measuring resistance, current, and voltage. The inspection method using a general tester is performed by directly inspecting a tester's connection by directly contacting the probe of each tester with each speaker. However, this method is not only cumbersome but also increases the test time because the tester has to touch the probe of the tester to each speaker to check the connection status. On the other hand, the inspection method executed after the completion of the vehicle is to enter the digital media playback device with a self-diagnosis system to enter the self-diagnosis mode to diagnose the wiring state of the speaker. However, in order to perform this inspection process, an expensive self-diagnosis system must be built into the digital media player. In addition, when the self-diagnosis results indicate that the speaker wiring is in a bad state, in order to correct the speaker wiring connection state, it is necessary to disassemble the already completed vehicle, so that the modification work takes more time. As described above, the inspection method of the conventional vehicle speaker takes a lot of effort, time and cost, and is inefficient.

따라서, 본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 각 스피커의 임피던스에 따라 선택적으로 조절될 수 있는 임피던스를 갖는 복수의 테스트 회로를 포함함으로써, 차량의 생산 과정 중에 단순한 키 조작만으로 복수의 차량용 스피커를 연속적으로 검사하여, 그 검사 시간과 검사 비용을 줄일 수 있는 스피커 검사기를 제공하는 데 있다.Accordingly, the technical problem to be achieved by the present invention includes a plurality of test circuits having an impedance that can be selectively adjusted according to the impedance of each speaker, thereby continuously inspecting a plurality of vehicle speakers with a simple key operation during the production process of the vehicle. Therefore, to provide a speaker tester that can reduce the inspection time and inspection cost.

상기한 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 스피커 검사기는 커넥터, 마이컴, 복수의 테스트 회로, 임피던스 선택 회로, 및 디스플레이 장치를 포함한다. 커넥터는 복수의 스피커에 각각 연결된 복수의 외부 배선과, 복수의 내부 배선을 상호 접속한다. 마이컴은 출력 단자와 복수의 입력 단자를 포함하고, 외부 제어 신호에 응답하여, 출력 단자를 통하여 입력 테스트 신호를 출력하고, 복수의 입력 단자를 통하여 각각 수신되는 복수의 출력 테스트 신호의 전압이 설정된 범위 내에 각각 포함되는지의 여부에 따라, 복수의 스피커와 복수의 외부 배선 간의 연결 상태가 불량인지의 여부를 판단하고, 그 판단 결과에 따라 불량 여부를 나타내는 복수의 판단 신호를 출력한다. 복수의 테스트 회로는 마이컴의 출력 단자, 마이컴의 복수의 입력 단자, 및 복수의 내부 배선에 각각 연결되고, 선택적으로 조절 가능한 임피던스를 가지며, 입력 테스트 신호에 각각 응답하여, 마이컴의 복수의 입력 단자에 복수의 출력 테스트 신호를 각각 발생한다. 임피던스 선택 회로는 복수의 테스트 회로의 임피던스를 선택적으로 조절한다. 디스플레이 장치는 마이컴으로부터 복수의 판단 신호를 수신하고, 복수의 판단 신호에 기초하여, 복수의 스피커의 외부 배선 연결 상태에 대한 불량 여부를 각각 나타내는 화면을 표시한다. 복수의 출력 테스트 신호 각각의 전압은 입력 테스트 신호의 전압, 복수의 테스트 회로 각각의 임피던스, 및 복수의 스피커 각각의 임피던스에 의해 결정된다. 복수의 내부 배선은 복수의 제1 내부 배선과 복수의 제2 내부 배선을 포함한다. 복수의 테스트 회로 각각은, 제1 저항 회로, 제2 저항 회로, 및 정류 회로를 포함한다. 제1 저항 회로는 임피던스 선택 회로의 동작에 의해 선택적으로 변경되는 제1 저항값을 가지며, 임피던스 선택 회로를 통하여 마이컴의 출력 단자로부터의 입력 테스트 신호를 수신한다. 제2 저항 회로는 제1 저항 회로와 함께 복수의 출력 노드 중 하나에 연결되고, 마이컴의 복수의 입력 단자 중 하나와, 복수의 제1 내부 배선 중 하나 사이에 더 연결되고, 고정된 제2 저항값을 가진다. 정류 회로는 마이컴의 복수의 입력 단자 중 하나와, 그라운드 전압 사이에 연결되고, 마이컴의 복수의 입력 단자 중 하나를 통하여 마이컴에 입력되는 복수의 입력 테스트 신호 중 하나를 정류한다. 복수의 제2 내부 배선은 정류 회로와 함께 그라운드 전압에 연결된다.The speaker tester according to the present invention for achieving the above technical problem includes a connector, a microcomputer, a plurality of test circuits, an impedance selection circuit, and a display device. The connector interconnects a plurality of external wires connected to the plurality of speakers and a plurality of internal wires, respectively. The microcomputer includes an output terminal and a plurality of input terminals, in response to an external control signal, outputs an input test signal through an output terminal, and sets a voltage of a plurality of output test signals respectively received through the plurality of input terminals. It is judged whether or not the connection state between the plurality of speakers and the plurality of external wirings is defective in accordance with whether or not it is included in each, and outputs a plurality of determination signals indicating whether or not the defect is in accordance with the determination result. The plurality of test circuits are connected to the output terminals of the microcomputer, the plurality of input terminals of the microcomputer, and the plurality of internal wires, respectively, and have a selectively adjustable impedance, respectively, to the plurality of input terminals of the microcomputer in response to the input test signal. Generate a plurality of output test signals, respectively. The impedance selection circuit selectively adjusts the impedance of the plurality of test circuits. The display apparatus receives a plurality of determination signals from the microcomputer and displays screens respectively indicating whether the external wiring connection state of the plurality of speakers is defective based on the plurality of determination signals. The voltage of each of the plurality of output test signals is determined by the voltage of the input test signal, the impedance of each of the plurality of test circuits, and the impedance of each of the plurality of speakers. The plurality of internal wires include a plurality of first internal wires and a plurality of second internal wires. Each of the plurality of test circuits includes a first resistor circuit, a second resistor circuit, and a rectifier circuit. The first resistance circuit has a first resistance value that is selectively changed by the operation of the impedance selection circuit, and receives an input test signal from the output terminal of the microcomputer through the impedance selection circuit. The second resistor circuit is connected to one of the plurality of output nodes together with the first resistor circuit, and is further connected between one of the plurality of input terminals of the microcomputer and one of the plurality of first internal wires, and the fixed second resistor Has a value. The rectifier circuit is connected between one of the plurality of input terminals of the microcomputer and the ground voltage, and rectifies one of the plurality of input test signals input to the microcomputer through one of the plurality of input terminals of the microcomputer. The plurality of second internal wires are connected to the ground voltage together with the rectifier circuit.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명하기로 한다. 그러나, 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 단지 본 실시예는 본 발명의 개시가 완전하도록 하며 통상의 지식을 가진자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described a preferred embodiment of the present invention. However, the present invention is not limited to the embodiments disclosed below, but can be implemented in various forms, and only the present embodiments are intended to complete the disclosure of the present invention and to those skilled in the art. It is provided for complete information.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 스피커 검사기와 스피커를 나타내는 도면이다. 도 1을 참고하면, 스피커 검사기(100)는 마이컴(110), 디스플레이 장치(120), 커넥터(130), 임피던스 선택 회로(140), 전원 키 입력부(150), 제어 키 입력부(160), 및 복수의 테스트 회로(TCR1∼TCRK)(K는 정수)를 포함한다. 마이컴(110)은 제어 단자(S2)를 통하여 수신되는 외부 제어 신호(CTL)에 응답하여, 출력 단자(OUT)를 통하여 입력 테스트 신호(TS1 또는 TS2)를 출력한다. 바람직하게, 입력 테스트 신호(TS1)는 설정된 전압 값을 갖는 직류 신호로 설정될 수 있고, 입력 테스트 신호(TS2)는 설정된 주파수의 교류 신호(예를 들어, 구형 파(square wave) 신호)로 설정될 수 있다. 마이컴(110)은 복수의 입력 단자(IN1∼INK)를 통하여 각각 수신되는 복수의 출력 테스트 신호(FT1∼FTK 또는 ST1∼STK)(K는 정수)에 기초하여, 복수의 스피커, 즉, 메인(main) 스피커(MSP1∼MSPK)(K는 정수) 및 트위트(tweet) 스피커(TSP1∼TSPK)(K는 정수)와, 복수의 외부 배선(FXL1∼FXLK, SXL1∼SXLK)(K는 정수) 간의 연결 상태를 판단하고, 그 판단 결과에 따라 불량 여부를 나타내는 복수의 판단 신호(MTEST1∼MTESTK, TTEST1∼TTESTK)(K는 정수)를 출력한다.1 is a view showing a speaker tester and a speaker according to an embodiment of the present invention. Referring to FIG. 1, the speaker tester 100 includes a microcomputer 110, a display device 120, a connector 130, an impedance selection circuit 140, a power key input unit 150, a control key input unit 160, and It includes a plurality of test circuits TCR1 to TCRK (K is an integer). The microcomputer 110 outputs the input test signal TS1 or TS2 through the output terminal OUT in response to the external control signal CTL received through the control terminal S2. Preferably, the input test signal TS1 may be set to a DC signal having a set voltage value, and the input test signal TS2 is set to an AC signal of a set frequency (for example, a square wave signal). Can be. The microcomputer 110 based on a plurality of output test signals FT1 to FTK or ST1 to STK (K is an integer) respectively received through the plurality of input terminals IN1 to INK, and the plurality of speakers, that is, the main ( main speaker MSP1 to MSPK (K is an integer) and tweet speaker TSP1 to TSPK (K is an integer) and a plurality of external wirings (FXL1 to FXLK, SXL1 to SXLK) (K is an integer). The connection state is determined, and a plurality of determination signals MTEST1 to MTESTK and TTEST1 to TTESTK (K is an integer) are output to indicate whether or not there is a defect according to the determination result.

여기에서, 마이컴(110)은 복수의 출력 테스트 신호(FT1∼FTK 또는 ST1∼STK) 각각의 전압을 설정된 전압(VP)에 비교하여, 복수의 스피커 각각과 외부 배선 간의 연결 상태가 정상 또는 불량인지의 여부를 판단한다. 예를 들어, 마이컴(110)은 출력 테스트 신호(FT1∼FTK 중 하나, 또는 ST1∼STK 중 하나)의 전압이 설정된 전압(VP)의 범위 내에 있을 때, 해당 스피커(MSP1∼MSPK 중 하나, 또는 TSP1∼TSPK 중 하나)와 해당 외부 배선(FXL1∼FXLK 중 하나, 또는 SXL1∼SXLK 중 하나) 간의 연결 상태가 정상인 것으로 판단하고, 설정된 전압(VP)의 범위를 벗어날 때, 해당 스피커와 해당 외부 배선 간의 연결 상태가 불량인 것으로 판단한다. 상기 설정된 전압(VP)은 아래의 수학식으로 나타낼 수 있다.Herein, the microcomputer 110 compares the voltage of each of the plurality of output test signals FT1 to FTK or ST1 to STK with a set voltage VP to determine whether the connection state between each of the plurality of speakers and the external wiring is normal or bad. Determine whether or not. For example, when the voltage of the output test signal (one of FT1 to FTK or one of ST1 to STK) is within a range of the set voltage VP, the microcomputer 110 may have one of the corresponding speakers MSP1 to MSPK, or When the connection status between one of TSP1 to TSPK) and the corresponding external wiring (one of FXL1 to FXLK, or one of SXL1 to SXLK) is judged to be normal and is out of the set voltage range, the corresponding speaker and the corresponding external wiring It is determined that the connection state between the two is bad. The set voltage VP may be represented by the following equation.

VP = V ± αVP = V ± α

[수학식 1]에서, ±α는 오차의 범위를 나타내며, V는 출력 테스트 신호(FT1∼FTK 중 하나, 또는 ST1∼STK 중 하나)의 전압을 나타낸다.In Equation 1, ± α represents a range of error, and V represents a voltage of an output test signal (one of FT1 to FTK, or one of ST1 to STK).

디스플레이 장치(120)는 마이컴(110)으로부터 복수의 판단 신호(MTEST1∼MTESTK, TTEST1∼TTESTK)에 기초하여, 복수의 스피커(MSP1∼MSPK, TSP1∼TSPK)의 배선 연결 상태에 대한 불량 여부를 나타내는 화면을 표시한다. 커넥터(130)는 복수의 외부 배선(FXL1∼FXLK, SXL1∼SXLK)과, 복수의 내부 배선(FNL1∼FNLK, SNL1∼SNLK)을 상호 접속한다. 여기에서, 메인 스피커(MSP1∼MSPK) 및 트위트 스피커(TSP1∼TSPK)와, 복수의 외부 배선(FXL1∼FXLK, SXL1∼SXLK)의 연결 상태를 좀 더 상세히 설명하면 다음과 같다. 예를 들어, 메인 스피커(MSP1)는 외부 배선(FXL1, SXL1)에 연결되고, 트위트 스피커(TSP1)는 메인 스피커(MSP1)에 병렬로, 필터 회로(HPF1)를 통하여, 외부 배선(FXL1, SXL1)에 연결된다. 바람직하게, 필터 회로(HPF1)는 고 대역 통과 필터로서, 저 대역(예를 들어, 1㎑ 이하)의 주파수를 갖는 신호들이 트위트 스피커(TSP1)에 입력되는 것을 차단한다. 필터 회로(HPF1)는 외부 배선(FXL1, SXL1)과 트위트 스피커(TSP1) 사이에 각각 연결되는 커패시터들(CP1, CP2)을 포함한다. 또, 메인 스피커(MSPK)는 외부 배선(FXLK, SXLK)에 연결되고, 트위트 스피커(TSPK)는 메인 스피커(MSPK)에 병렬로, 필터 회로(HPFK)를 통하여 외부 배선(FXLK, SXLK)에 연결된다. 메인 스피커(MSP2∼MSP(K-1)) 및 트위트 스피커(TSP2∼TSP(K-1))와, 외부 배선(FXL2∼FXL(K-1), SXL2∼SXL(K-1))의 연결 상태는 상술한 것과 유사하므로, 이에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.The display apparatus 120 indicates whether the wiring connection state of the plurality of speakers MSP1 to MSPK and TSP1 to TSPK is defective based on the plurality of determination signals MTEST1 to MTESTK and TTEST1 to TTESTK from the microcomputer 110. Display the screen. The connector 130 interconnects a plurality of external wirings FXL1 to FXLK and SXL1 to SXLK and a plurality of internal wirings FNL1 to FNLK and SNL1 to SNLK. Herein, the connection states of the main speakers MSP1 to MSPK and tweet speakers TSP1 to TSPK and the plurality of external wires FXL1 to FXLK and SXL1 to SXLK will be described in more detail as follows. For example, the main speaker MSP1 is connected to the external wirings FXL1 and SXL1, and the tweet speaker TSP1 is connected to the main speaker MSP1 in parallel, through the filter circuit HPF1, and the external wirings FXL1 and SXL1. ) Preferably, the filter circuit HPF1 is a high band pass filter, which blocks signals having a frequency in the low band (for example, 1 kHz or less) from being input to the tweeted speaker TSP1. The filter circuit HPF1 includes capacitors CP1 and CP2 respectively connected between the external wirings FXL1 and SXL1 and the tweeted speaker TSP1. In addition, the main speaker MSPK is connected to the external wires FXLK and SXLK, and the tweeted speaker TSPK is connected to the main speaker MSPK in parallel and to the external wires FXLK and SXLK through the filter circuit HPFK. do. Connection of main speakers (MSP2 to MSP (K-1)) and tweeted speakers (TSP2 to TSP (K-1)) and external wiring (FXL2 to FXL (K-1), SXL2 to SXL (K-1)) Since the state is similar to that described above, a detailed description thereof will be omitted.

임피던스 선택 회로(140)는 복수의 테스트 회로(TCR1∼TCRK)의 임피던스를 선택적으로 조절한다. 바람직하게, 임피던스 선택 회로(140)는 마이컴(110)의 출력 단자(OUT)와 입력 노드(D1∼DN)(N은 정수) 사이에 각각 연결되고, 외부의 회전형 조작부(141, 도 2 참고)가 회전함에 따라 출력 단자(OUT)를 입력 노드(D1∼DN) 중 하나에 연결하는 스위치로서 구현될 수 있다. 전원 키 입력부(150)는 전원 키(151, 도 2 참고)를 포함하고, 전원 키(151)의 입력에 따라, 차량용 스피커 검사기(100) 의 동작 전원을 온 또는 오프시키기 위한 전원 제어 신호(PWL)를 마이컴(110)의 제어 단자(S1)에 출력한다. 바람직하게, 전원 키 입력부(150)는 마이컴(110)의 제어 단자(S1)와 그라운드 전압(VSS) 사이에 연결되고, 전원 키(151)의 입력에 따라 온 또는 오프되는 스위치로서 구현될 수 있다. 제어 키 입력부(160)는 제어 키(161, 도 2 참고)를 포함하고, 제어 키(161)의 입력에 따라, 외부 제어 신호(CTL)를 마이컴(110)의 제어 단자(S2)에 출력한다. 바람직하게, 제어 키 입력부(160)는 제어 단자(S2)와 그라운드 전압(VSS) 사이에 연결되고, 제어 키(161)의 입력에 따라 온 또는 오프되는 스위치로서 구현될 수 있다. 여기에서, 제어 키(161)의 입력 시간에 따른 마이컴(110)의 동작을 설명하면 다음과 같다. 제어 키(161)의 입력 시간에 따라 마이컴(110)이 수동 검사 모드 또는 자동 검사 모드로 동작할 수 있다. 예를 들어, 검사자가 설정된 시간(예를 들어, 1초) 이상 제어 키(161)를 누를 경우, 마이컴(110)은 수동 검사 모드 또는 자동 검사 모드로 전환한다. 즉, 수동 검사 모드 상태에서, 검사자가 설정된 시간 이상 제어 키(161)를 누를 경우, 마이컴(110)은 자동 검사 모드로 전환하며, 자동 검사 모드 상태에서, 검사자가 설정된 시간 이상 제어 키(161)를 누를 경우, 마이컴(110)은 수동 검사 모드로 전환한다.The impedance selection circuit 140 selectively adjusts the impedances of the plurality of test circuits TCR1 to TCRK. Preferably, the impedance selection circuit 140 is connected between the output terminal OUT of the microcomputer 110 and the input nodes D1 to DN (N is an integer), respectively, and the external rotary operation unit 141 (see FIG. 2). ) May be implemented as a switch that connects the output terminal OUT to one of the input nodes D1 to DN as it rotates. The power key input unit 150 includes a power key 151 (see FIG. 2), and according to the input of the power key 151, a power control signal PWL for turning on or off the operating power of the vehicle speaker tester 100. ) Is output to the control terminal S1 of the microcomputer 110. Preferably, the power key input unit 150 may be implemented as a switch connected between the control terminal S1 of the microcomputer 110 and the ground voltage VSS and turned on or off according to the input of the power key 151. . The control key input unit 160 includes a control key 161 (see FIG. 2), and outputs an external control signal CTL to the control terminal S2 of the microcomputer 110 according to the input of the control key 161. . Preferably, the control key input unit 160 may be implemented as a switch connected between the control terminal S2 and the ground voltage VSS and turned on or off according to the input of the control key 161. Herein, the operation of the microcomputer 110 according to the input time of the control key 161 will be described. The microcomputer 110 may operate in the manual test mode or the automatic test mode according to the input time of the control key 161. For example, when the tester presses the control key 161 for a predetermined time (for example, 1 second), the microcomputer 110 switches to the manual test mode or the automatic test mode. That is, in the manual test mode, when the examiner presses the control key 161 for a predetermined time or more, the microcomputer 110 switches to the automatic test mode, and in the automatic test mode, the control key 161 for the set time or more. When pressing, the microcomputer 110 switches to the manual test mode.

수동 검사 모드에서, 검사자가 제어 키(161)를 상기 설정된 시간(예를 들어, 1초) 이하로 한 번씩 누를 때마다, 마이컴(110)은 디스플레이 장치(120)가 메인 스피커(MSP1∼MSPK) 및 트위트(TSP1∼TSPK)의 검사 결과를 하나씩 표시하도록, 판단 신호(MTEST1∼MTESTK)를 하나씩 출력한다. 이때, 디스플레이 장치(120)는 메인 스피커(MSTP1), 트위트 스피커(TSP1), 메인 스피커(MSP2),....와 같은 순서로 메인 스피커와 트위트 스피커의 검사 결과를 하나씩 교대로 표시할 수 있다. 또, 디스플레이 장치(120)는 메인 스피커(MSTP1),..., 메인 스피커(MSPK), 트위트 스피커(TSP1),..., 트위트 스피커(TSPK)와 같은 순서로, 메인 스피커의 검사 결과를 모두 나타낸 후, 트위트 스피커의 검사 결과를 나타낼 수도 있다. 한편, 자동 검사 모드에서, 검사자가 제어 키(161)를 상기 설정된 시간(예를 들어, 1초) 이하로 한 번 누르면, 마이컴(110)은, 디스플레이 장치(120)가 메인 스피커(MSP1∼MSPK) 및 트위트(TSP1∼TSPK)의 검사 결과를, 상술한 순서에 따라 설정된 시간 간격으로 하나씩 연속적으로 표시하도록, 판단 신호(MTEST1∼MTESTK, TTEST1∼TTESTK)를 출력한다.In the manual test mode, each time the tester presses the control key 161 once for less than the set time (for example, 1 second), the microcomputer 110 causes the display device 120 to display the main speakers MSP1 to MSPK. And the determination signals MTEST1 to MTESTK are output one by one so as to display the test results of the tweets TSP1 to TSPK one by one. In this case, the display apparatus 120 may alternately display the test results of the main speaker and the tweet speaker one by one in the order of the main speaker MSTP1, the tweet speaker TSP1, the main speaker MSP2, and so on. . In addition, the display apparatus 120 checks the test results of the main speaker in the same order as the main speaker MSTP1, ..., the main speaker MSPK, the tweeted speaker TSP1, ..., the tweeted speaker TSPK. After all are shown, the test result of the tweeted speaker may be displayed. On the other hand, in the automatic test mode, when the tester presses the control key 161 once for less than the set time (for example, 1 second), the microcomputer 110 causes the display device 120 to turn off the main speakers MSP1 to MSPK. ), And the determination signals MTEST1 to MTESTK and TTEST1 to TTESTK are outputted so that the test results of the tweets TSP1 to TSPK are successively displayed one by one at the time intervals set in the above-described order.

복수의 테스트 회로(TCR1∼TCRK)는 마이컴(110)의 출력 단자(OUT), 복수의 입력 단자(IN1∼INK), 및 복수의 내부 배선(FNL1∼FNLK, SNL1∼SNLK)에 각각 연결되고, 선택적으로 조절 가능한 임피던스를 가지며, 입력 테스트 신호(TS1 또는 TS2)에 각각 응답하여, 마이컴(110)의 입력 단자(IN1∼INK)에 복수의 출력 테스트 신호(FT1∼FTK 또는 ST1∼STK)를 각각 발생한다. 좀 더 상세하게는, 복수의 테스트 회로(TCR1∼TCRK)는 저항 회로(SR1∼SRK, FR1∼FRK)와 정류 회로(C1∼CK)를 각각 포함한다. 예를 들어, 테스트 회로(TCR1)는 저항 회로(SR1, FR1)와 정류 회로(C1)를 포함하고, 테스트 회로(TCRK)는 저항 회로(SRK, FRK)와 정류 회로(CK)를 포함한다. 복수의 테스트 회로(TCR1∼TCRK)의 구성 및 구체적인 동작은 서로 유사하므로, 설명의 간략화를 위해, 테스트 회로(TCR1)의 구성 및 동작을 중심으로 설명하기로 한다. 테스트 회로(TCR1)의 저항 회로(SR1)는 복수의 선택 저항(Ra1∼RaN)(N은 정수)을 포함한다. 복수의 선택 저항(Ra1∼RaN)은 입력 노드(D1∼DN)와 출력 노드(E1) 사이에 각각 연결된다. 여기에서, 복수의 테스트 회로(TCR1∼TCRK)에 각각 포함되는 K개의 선택 저항(Ra1)의 한쪽 단자가 입력 노드(D1)에 병렬로 연결되고, K개의 선택 저항(Ra1)의 다른 쪽 단자는 출력 노드(E1∼EK)에 각각 연결된다. 복수의 테스트 회로(TCR1∼TCRK)에 각각 포함되는 선택 저항(Ra2∼RaN) 역시 선택 저항(Ra1)과 유사하게 입력 노드(D2∼DN)와 출력 노드(E1∼EK)에 각각 연결된다.The plurality of test circuits TCR1 to TCRK are connected to the output terminal OUT of the microcomputer 110, the plurality of input terminals IN1 to INK, and the plurality of internal wires FNL1 to FNLK and SNL1 to SNLK, respectively. A plurality of output test signals FT1 to FTK or ST1 to STK are respectively provided to the input terminals IN1 to INK of the microcomputer 110 in response to the input test signals TS1 or TS2, respectively, having an selectively adjustable impedance. Occurs. More specifically, the plurality of test circuits TCR1 to TCRK include resistance circuits SR1 to SRK and FR1 to FRK and rectifier circuits C1 to CK, respectively. For example, the test circuit TCR1 includes the resistor circuits SR1 and FR1 and the rectifier circuit C1, and the test circuit TCRK includes the resistor circuits SRK and FRK and the rectifier circuit CK. Since the configuration and specific operations of the plurality of test circuits TCR1 to TCRK are similar to each other, the configuration and operation of the test circuit TCR1 will be described for simplicity. The resistance circuit SR1 of the test circuit TCR1 includes a plurality of selection resistors Ra1 to RaN (where N is an integer). The plurality of selection resistors Ra1 to RaN are connected between the input nodes D1 to DN and the output node E1, respectively. Here, one terminal of the K selection resistors Ra1 included in the plurality of test circuits TCR1 to TCRK, respectively, is connected in parallel to the input node D1, and the other terminals of the K selection resistors Ra1 are connected to each other in parallel. It is connected to the output nodes E1 to EK, respectively. Select resistors Ra2 to RaN included in the plurality of test circuits TCR1 to TCRK, respectively, are also connected to input nodes D2 to DN and output nodes E1 to EK, similarly to selection resistor Ra1.

바람직하게, 복수의 선택 저항(Ra1∼RaN)의 저항값은 각각 서로 다르게 설정될 수 있다. 저항 회로(SR1)의 임피던스는 검사될 해당 스피커의 임피던스에 따라 선택적으로 변경될 수 있고, 저항 회로(SR1)의 임피던스의 변경은 임피던스 선택 회로(140)에 의해 실행될 수 있다. 이를 좀 더 상세히 설명하면, 검사자가 검사될 스피커의 임피던스에 적합하게 스피커 검사기(100)의 회전형 조작부(141)를 회전시키면, 임피던스 선택 회로(140)가 마이컴(110)의 출력 단자(OUT)를 입력 노드(D1∼DN) 중 하나에 연결한다. 그 결과, 마이컴(110)의 출력 단자(OUT)와 출력 노드(E1) 사이에 복수의 선택 저항(Ra1∼RaN) 중 어느 하나만이 연결되고, 나머지 선택 저항이 플로우팅(floating) 된다. 따라서, 저항 회로(SR1)의 임피던스는 출력 단자(OUT)와 출력 노드(E1) 사이에 연결된 선택 저항(Ra1∼RaN 중 하나)의 저항값에 의해 결정된다.Preferably, the resistance values of the plurality of selection resistors Ra1 to RaN may be set differently from each other. The impedance of the resistance circuit SR1 may be selectively changed according to the impedance of the corresponding speaker to be inspected, and the change of the impedance of the resistance circuit SR1 may be performed by the impedance selection circuit 140. In more detail, when the inspector rotates the rotatable operation unit 141 of the speaker inspector 100 to suit the impedance of the speaker to be inspected, the impedance selection circuit 140 outputs the output terminal OUT of the microcomputer 110. Is connected to one of the input nodes D1 to DN. As a result, only one of the plurality of selection resistors Ra1 to RaN is connected between the output terminal OUT of the microcomputer 110 and the output node E1, and the remaining selection resistors are floated. Therefore, the impedance of the resistance circuit SR1 is determined by the resistance value of the selection resistors Ra1 to RaN connected between the output terminal OUT and the output node E1.

저항 회로(FR1)는 고정 저항들(Rb1, Rb2)을 포함한다. 고정 저항(Rb1)은 마이컴(110)의 입력 단자(IN1)와 출력 노드(E1) 사이에 연결된다. 고정 저항(Rb2)은 출력 노드(E1)와 내부 배선(FNL1) 사이에 연결된다. 바람직하게, 고정 저항(Rb1)의 저항값은 고정 저항(Rb2)의 저항값보다 더 크게 설정될 수 있다. 정류 회로(C1)는 마이컴(110)의 입력 단자(IN1)와 그라운드 전압(VSS) 사이에 연결되고, 입력 단자(IN1)를 통하여 마이컴(110)에 입력되는 입력 테스트 신호(FT1 또는 ST1)를 정류한다. 바람직하게, 정류 회로(C1)는 커패시터로서 구현될 수 있다. 한편, 내부 배선(SNL1)은 정류 회로(C1)와 함께 그라운드 전압(VSS)에 연결되고, 또한, 커넥터(130)에 의해 외부 배선(SXL1)에 접속된다.The resistor circuit FR1 includes fixed resistors Rb1 and Rb2. The fixed resistor Rb1 is connected between the input terminal IN1 of the microcomputer 110 and the output node E1. The fixed resistor Rb2 is connected between the output node E1 and the internal wiring FNL1. Preferably, the resistance value of the fixed resistor Rb1 may be set larger than the resistance value of the fixed resistor Rb2. The rectifier circuit C1 is connected between the input terminal IN1 of the microcomputer 110 and the ground voltage VSS and receives the input test signal FT1 or ST1 input to the microcomputer 110 through the input terminal IN1. Rectify. Preferably, rectifier circuit C1 may be implemented as a capacitor. On the other hand, the internal wiring SNL1 is connected to the ground voltage VSS together with the rectifier circuit C1 and is connected to the external wiring SXL1 by the connector 130.

한편, 상기 [수학식 1]의 상기 전압(V)은 아래의 수학식으로 나타낼 수 있다.On the other hand, the voltage (V) of [Equation 1] can be represented by the following equation.

Figure 112007007146111-pat00001
Figure 112007007146111-pat00001

[수학식 2]에서, Vi는 입력 테스트 신호(TS1 또는 TS2)의 전압이다. R1은 커넥터(130)에 의해 검사될 해당 스피커(MSP1∼MSPK 중 하나, 또는 TSP1∼TSPK 중 하나)가 연결된 해당 테스트 회로(TCR1∼TCRK 중 하나)의 저항 회로(SR1∼SRK)의 임피던스를 나타낸다. R2는 커넥터(130)에 의해 검사될 해당 스피커(MSP1∼MSPK 중 하나, 또는 TSP1∼TSPK 중 하나)가 연결된 해당 테스트 회로(TCR1∼TCRK 중 하나)의 저항 회로(FR1∼FRK)의 임피던스를 나타낸다. 또, Rs는 검사될 해당 스피커의 임피던스를 나타낸다. 여기에서, Rs는 검사될 스피커가 메인 스피커인지 트위트 스피커인지에 따라 약간 달라질 수 있다. 예를 들어, 검사될 스피커가 메인 스피커(MSP1∼MSPK 중 하나)인 경우, 이 메인 스피커(MSP1∼MSPK 중 하나)에 병렬로 외 부 배선(FXL1∼FXLK 중 하나, SXL1∼SXLK 중 하나)에 연결된 트위트 스피커(TSP1∼TSPK 중 하나)의 임피던스는 출력 테스트 신호의 전압(V)에 아무런 영향을 미치지 않는다. 따라서, 이 경우, Rs는 검사될 해당 메인 스피커(MSP1∼MSPK 중 하나)의 임피던스를 나타낸다. 한편, 검사될 스피커가 트위트 스피커(TSP1∼TSPK 중 하나)인 경우, 이 트위트 스피커(TSP1∼TSPK 중 하나)에 병렬로 외부 배선(FXL1∼FXLK 중 하나, SXL1∼SXLK 중 하나)에 연결된 메인 스피커(MSP1∼MSPK 중 하나)의 임피던스는 출력 테스트 신호의 전압(V)에 영향을 미친다. 따라서, 이 경우, Rs는 검사될 해당 트위트 스피커(TSP1∼TSPK 중 하나)와, 이 트위트 스피커(TSP1∼TSPK 중 하나)에 병렬 연결된 해당 메인 스피커(MSP1∼MSPK 중 하나)의 합성 임피던스를 나타낸다.In Equation 2, Vi is the voltage of the input test signal TS1 or TS2. R1 represents the impedance of the resistance circuits SR1 to SRK of the corresponding test circuit (one of TCR1 to TRK) to which the corresponding speaker (one of MSP1 to MSPK or one of TSP1 to TSPK) to be examined by the connector 130 is connected. . R2 represents the impedance of the resistance circuits FR1 to FRK of the corresponding test circuit (one of TCR1 to TCRK) to which the corresponding speaker (one of MSP1 to MSPK, or one of TSP1 to TSPK) to be examined by the connector 130 is connected. . In addition, Rs represents the impedance of the speaker to be tested. Here, Rs may vary slightly depending on whether the speaker to be examined is a main speaker or a tweeter. For example, if the speaker to be inspected is a main speaker (one of MSP1 to MSPK), the external wiring (one of FXL1 to FXLK and one of SXL1 to SXLK) is connected in parallel to this main speaker (one of MSP1 to MSPK). The impedance of the connected tweeter (one of TSP1 to TSPK) has no effect on the voltage (V) of the output test signal. In this case, therefore, Rs represents the impedance of the corresponding main speaker (one of MSP1 to MSPK) to be examined. On the other hand, if the speaker to be tested is a tweeted speaker (one of TSP1 to TSPK), the main speaker connected to an external wiring (one of FXL1 to FXLK and one of SXL1 to SXLK) in parallel to the tweeted speaker (one of TSP1 to TSPK). The impedance of (one of MSP1 to MSPK) affects the voltage V of the output test signal. In this case, therefore, Rs represents the combined impedance of the corresponding tweeter (one of TSP1 to TSPK) to be examined and the corresponding main speaker (one of MSP1 to MSPK) connected in parallel to this tweeting speaker (one of TSP1 to TSPK).

도 2는 도 1에 도시된 스피커 검사기의 외관을 나타내는 사시도이다. 도 2를 참고하면, 스피커 검사기(100)의 각 구성 요소들이 외부 케이스(101) 내에 수용된다. 외부 케이스(101)의 일면에는 디스플레이 장치(120), 전원 키(151), 제어 키(161), 및 회전형 조작부(141)가 형성되어 있다. 또한, 외부 케이스(101)의 일측부에는 외부 배선(FXL1∼FXLK, SXL1∼SXLK)의 접속을 위한 커넥터(130)의 소켓(131)이 형성되어 있다. 바람직하게, 외부 배선(FXL1∼FXLK, SXL1∼SXLK)은 소켓(131)에 삽입되기에 적합하게 플러그(미도시) 내에 수용될 수 있다.FIG. 2 is a perspective view illustrating an appearance of the speaker inspector illustrated in FIG. 1. Referring to FIG. 2, each component of the speaker inspector 100 is accommodated in the outer case 101. The display device 120, the power key 151, the control key 161, and the rotatable operation unit 141 are formed on one surface of the outer case 101. In addition, a socket 131 of the connector 130 for connecting the external wirings FXL1 to FXLK and SXL1 to SXLK is formed at one side of the outer case 101. Preferably, the external wirings FXL1 to FXLK and SXL1 to SXLK can be accommodated in a plug (not shown) so as to be inserted into the socket 131.

다음으로, 스피커 검사기(100)에 의한 차량용 스피커의 검사 동작 과정을 상세히 설명한다. 설명의 편의상, 검사될 차량용 스피커로서, 차량의 전방의 좌/우측 및 후방의 좌/우측에 각각 설치되는 메인 스피커(MSP1∼MSP4)와, 이들 메인 스피커(MSP1∼MSP4)에 각각 대응하게 연결된 4개의 트위트 스피커(TSP1∼TSP4)가 존재하는 것으로 가정하자. 이 경우, 메인 스피커(MSP1∼MSP4) 및 트위트 스피커(TSP1∼TSP4)의 배선 연결 상태를 검사하기 위해, 스피커 검사기(100)내의 4개의 테스트 회로(TCR1∼TCR4)만이 사용된다. 먼저, 검사자가 차량의 스피커 배선(즉, 외부 배선(FXL1∼FXL4, SXL1∼SXL4)이 수용된 플러그를 스피커 검사기(100)의 소켓(131)에 꽂은 상태에서, 전원 키(151)를 입력하면, 스피커 검사기(100)의 전원이 온 된다. 이 후, 검사자는 회전형 조작부(141)를 회전시켜, 메인 스피커(MSP1∼MSP4) 및 트위트 스피커(TSP1∼TSP4) 각각의 임피던스에 적합하게, 테스트 회로(TCR1∼TCR4)의 저항 회로(SR1∼SR4)의 임피던스를 선택한다. 임피던스 선택 회로(140)가 마이컴(110)의 출력 단자(OUT)를 입력 노드(D1)에 연결하도록, 검사자가 회전형 조작부(141)를 회전시킨 것으로 가정하자. 이 경우, 임피던스 선택 회로(140)에 의해, 마이컴(110)의 출력 단자(OUT)에는 4개의 선택 저항(Ra1)이 병렬로 연결된다. 결과적으로, 테스트 회로(TCR1∼TCR4)는 서로 동일한 임피던스로 설정된다.Next, the inspection operation process of the vehicle speaker by the speaker tester 100 will be described in detail. For convenience of explanation, as a vehicle speaker to be inspected, the main speakers MSP1 to MSP4 provided respectively at the front left and right and the rear left and right sides of the vehicle, and 4 respectively connected to these main speakers MSP1 to MSP4, respectively. Assume that there are two tweeted speakers TSP1 to TSP4. In this case, only four test circuits TCR1 to TCR4 in the speaker tester 100 are used to check the wiring connection state of the main speakers MSP1 to MSP4 and the tweet speakers TSP1 to TSP4. First, when the inspector inputs the power key 151 in a state in which the speaker wiring of the vehicle (that is, the plug containing the external wirings FXL1 to FXL4 and SXL1 to SXL4) is plugged into the socket 131 of the speaker inspector 100, The power of the speaker tester 100 is turned on. Then, the tester rotates the rotatable operation unit 141 to suit the impedance of the main speakers MSP1 to MSP4 and the tweeter TSP1 to TSP4, respectively. The impedance of the resistance circuits SR1 to SR4 of the TCR1 to TCR4 is selected.The inspector is rotated so that the impedance selecting circuit 140 connects the output terminal OUT of the microcomputer 110 to the input node D1. Assume that the operation unit 141 is rotated, in this case, four selection resistors Ra1 are connected in parallel to the output terminal OUT of the microcomputer 110 by the impedance selection circuit 140. As a result, The test circuits TCR1 to TCR4 are set to the same impedance to each other.

여기에서, 하나의 차량 내에 각각 설치되는 메인 스피커(MSP1∼MSP4) 각각과 트위트 스피커(TSP1∼TSP4) 각각은 서로 동일한 임피던스를 가진다. 예를 들어, 메인 스피커(MSP1)의 임피던스가 4Ω인 경우, 메인 스피커(MSP2∼MSP4) 각각의 임피던스와 트위트 스피커(TSP1∼TSP4) 각각의 임피던스 역시 4Ω이다. 따라서, 검사자는 회전형 조작부(141)를 이용하여 테스트 회로(TCR1∼TCR4)의 임피던스를 한 번 선택하면, 하나의 차량 내에 설치된 스피커의 배선 연결 상태를 모두 검사할 때까지 테스트 회로(TCR1∼TCR4)의 임피던스를 변경할 필요가 없다.Here, each of the main speakers MSP1 to MSP4 and the tweet speakers TSP1 to TSP4 respectively installed in one vehicle have the same impedance. For example, when the impedance of the main speaker MSP1 is 4Ω, the impedance of each of the main speakers MSP2 to MSP4 and the impedance of the tweeted speakers TSP1 to TSP4 are also 4Ω. Therefore, when the inspector selects the impedance of the test circuits TCR1 to TCR4 once by using the rotary operation unit 141, the test circuits TCR1 to TCR4 until all the wiring connections of the speakers installed in one vehicle are examined. There is no need to change the impedance.

한편, 스피커 검사기(100)의 동작은 제어 키(161)의 입력 시간에 따라, 두 가지 방식으로 실행될 수 있다.On the other hand, the operation of the speaker checker 100 can be executed in two ways, depending on the input time of the control key 161.

먼저, 검사자가 설정된 시간 이상 제어 키(161)를 눌러 마이컴(110)이 수동 검사 모드로 전환한 경우, 스피커 검사기(100)의 동작 과정을 상세히 설명한다. 이 경우, 수동 검사 모드에서, 검사자가 제어 키(161)를 상기 설정된 시간보다 짧은 시간 동안 한 번씩 누를 때마다, 메인 스피커(MSP1∼MSP4) 및 트위트 스피커(TSP1∼TSP4)의 배선 연결 상태가 하나씩 검사된다. 검사자가 제어 키(161)를 첫 번째로 누르면, 마이컴(110)은 출력 단자(OUT)에 설정된 전압 값을 가지는 입력 테스트 신호(TS1)를 출력하고, 입력 단자(IN1)를 통하여 출력 테스트 신호(FT1)를 수신한다. 마이컴(110)은 출력 테스트 신호(FT1)에 기초하여, 메인 스피커(MSP1)와 외부 배선(FXL1, SXL1) 간의 연결 상태를 판단하고, 그 판단 결과에 따라 판단 신호(MTEST1)를 디스플레이 장치(120)에 출력한다. 그 결과, 디스플레이 장치(120)가 판단 신호(MTEST1)에 기초하여, 메인 스피커(MSP1)와 외부 배선(FXL1, SXL1) 간의 연결 상태를 나타내는 화면을 표시한다. 이 후, 검사자가 제어 키(161)를 두 번째로 누르면, 마이컴(110)은 출력 단자(OUT)에 설정된 주파수의 입력 테스트 신호(TS2)를 출력하고, 입력 단자(IN1)를 통하여 출력 테스트 신호(ST1)를 수신한다. 마이컴(110)은 출력 테스트 신호(ST1)에 기초하여, 트위트 스피커(TSP1)와 외부 배선(FXL1, SXL1) 간의 연결 상태를 판단하고, 그 판단 결과에 따라 판단 신호(TTEST1)를 디스플레이 장치(120)에 출력한다. 그 결과, 디스플레이 장치(120)가 판단 신호(TTEST1)에 기초하여, 트위트 스피커(TSP1)와 외부 배선(FXL1, SXL1) 간의 연결 상태를 나타내는 화면을 표시한다. 이 후, 검사자가 제어 키(161)를 한 번씩 누를 때마다, 마이컴(110)은 상술한 것과 유사한 동작을 반복한다.First, when the microcomputer 110 switches to the manual test mode by pressing the control key 161 for a predetermined time or more, an operation process of the speaker tester 100 will be described in detail. In this case, in the manual test mode, each time the inspector presses the control key 161 once for a shorter time than the set time, the wiring connection states of the main speakers MSP1 to MSP4 and the tweeted speakers TSP1 to TSP4 are one by one. Is checked. When the inspector first presses the control key 161, the microcomputer 110 outputs an input test signal TS1 having a voltage value set at the output terminal OUT, and outputs an output test signal (I) through the input terminal IN1. FT1). The microcomputer 110 determines the connection state between the main speaker MSP1 and the external wirings FXL1 and SXL1 based on the output test signal FT1, and displays the determination signal MTEST1 according to the determination result. ) As a result, the display apparatus 120 displays a screen indicating a connection state between the main speaker MSP1 and the external wirings FXL1 and SXL1 based on the determination signal MTEST1. Thereafter, when the inspector presses the control key 161 a second time, the microcomputer 110 outputs an input test signal TS2 having a frequency set at the output terminal OUT, and outputs an output test signal through the input terminal IN1. Receive (ST1). The microcomputer 110 determines a connection state between the tweeter TSP1 and the external wires FXL1 and SXL1 based on the output test signal ST1, and displays the determination signal TTEST1 according to the determination result. ) As a result, the display apparatus 120 displays a screen indicating a connection state between the tweeted speaker TSP1 and the external wirings FXL1 and SXL1 based on the determination signal TTEST1. Thereafter, each time the inspector presses the control key 161 once, the microcomputer 110 repeats an operation similar to that described above.

다음으로, 검사자가 설정된 시간 이상 제어 키(161)를 눌러 마이컴(110)이 자동 검사 모드로 전환한 경우, 스피커 검사기(100)의 동작 과정을 상세히 설명한다. 이 경우, 자동 검사 모드에서, 검사자가 제어 키(161)를 상기 설정된 시간보다 짧은 시간 동안 한 번만 누르면, 마이컴(110)은 메인 스피커(MSP1∼MSP4) 및 트위트 스피커(TSP1∼TSP4)의 배선 연결 상태를 하나씩 검사하고, 디스플레이 장치(120)가 각 스피커의 검사 결과를 하나씩 설정된 시간 간격으로 화면 전환하면서 표시하도록, 판단 신호(MTEST1∼MTEST4, TTEST1∼TTEST4)를 상기 설정된 시간 간격으로 출력한다.Next, when the tester presses the control key 161 for a predetermined time or more and the microcomputer 110 switches to the automatic test mode, an operation process of the speaker tester 100 will be described in detail. In this case, in the automatic test mode, when the examiner presses the control key 161 only once for a shorter time than the set time, the microcomputer 110 connects the wiring of the main speakers MSP1 to MSP4 and the tweeted speakers TSP1 to TSP4. The states are inspected one by one, and the display devices 120 output the determination signals MTEST1 to MTEST4 and TTEST1 to TTEST4 at the set time intervals so that the display devices 120 switch screens of the test results of each speaker one by one.

상기한 실시 예들은 본 발명을 설명하기 위한 것으로서 본 발명이 이들 실시 예에 국한되는 것은 아니며, 본 발명의 범위 내에서 다양한 실시예가 가능하다. 또한 설명되지는 않았으나, 균등한 수단도 또한 본 발명에 그대로 결합되는 것이라 할 것이다. 따라서 본 발명의 진정한 보호범위는 아래의 특허청구범위에 의하여 정해져야 할 것이다.The above embodiments are for explaining the present invention, and the present invention is not limited to these embodiments, and various embodiments are possible within the scope of the present invention. In addition, although not described, equivalent means will also be referred to as incorporated in the present invention. Therefore, the true scope of the present invention will be defined by the claims below.

상술한 것과 같이, 본 발명에 따른 스피커 검사기는 각 스피커의 임피던스에 따라 선택적으로 조절될 수 있는 임피던스를 갖는 복수의 테스트 회로를 포함함으로써, 차량의 생산 과정 중에 단순한 키 조작만으로 복수의 차량용 스피커를 연속적으로 검사하여, 그 검사 시간과 검사 비용을 줄일 수 있다.As described above, the speaker tester according to the present invention includes a plurality of test circuits having an impedance that can be selectively adjusted according to the impedance of each speaker, so that a plurality of vehicle speakers can be continuously connected with a simple key operation during the production process of the vehicle. Inspection, the inspection time and inspection cost can be reduced.

Claims (10)

복수의 스피커에 각각 연결된 복수의 외부 배선과, 복수의 내부 배선을 상호 접속하는 커넥터;A connector for interconnecting a plurality of external wires respectively connected to the plurality of speakers and a plurality of internal wires; 출력 단자와 복수의 입력 단자를 포함하고, 외부 제어 신호에 응답하여, 상기 출력 단자를 통하여 입력 테스트 신호를 출력하고, 상기 복수의 입력 단자를 통하여 각각 수신되는 복수의 출력 테스트 신호의 전압이 설정된 범위 내에 각각 포함되는지의 여부에 따라, 상기 복수의 스피커와 상기 복수의 외부 배선 간의 연결 상태가 불량인지의 여부를 판단하고, 그 판단 결과에 따라 불량 여부를 나타내는 복수의 판단 신호를 출력하는 마이컴;A range including an output terminal and a plurality of input terminals, outputting an input test signal through the output terminal in response to an external control signal, and setting voltages of the plurality of output test signals respectively received through the plurality of input terminals A microcomputer that determines whether the connection state between the plurality of speakers and the plurality of external wires is defective or not, and outputs a plurality of determination signals indicating whether the connection state is defective according to whether each of the plurality of speakers and the plurality of external wirings is defective; 상기 마이컴의 상기 출력 단자, 상기 마이컴의 상기 복수의 입력 단자, 및 상기 복수의 내부 배선에 각각 연결되고, 선택적으로 조절 가능한 임피던스를 가지며, 상기 입력 테스트 신호에 각각 응답하여, 상기 마이컴의 상기 복수의 입력 단자에 상기 복수의 출력 테스트 신호를 각각 발생하는 복수의 테스트 회로;A plurality of impedances respectively connected to the output terminals of the micom, the plurality of input terminals of the micom, and the plurality of internal wires, each of which has an selectively adjustable impedance and responsive to the input test signal, respectively; A plurality of test circuits respectively generating the plurality of output test signals at an input terminal; 상기 복수의 테스트 회로의 임피던스를 선택적으로 조절하는 임피던스 선택 회로; 및An impedance selection circuit for selectively adjusting the impedances of the plurality of test circuits; And 상기 마이컴으로부터 상기 복수의 판단 신호를 수신하고, 상기 복수의 판단 신호에 기초하여, 상기 복수의 스피커의 상기 외부 배선 연결 상태에 대한 불량 여부를 각각 나타내는 화면을 표시하는 디스플레이 장치를 포함하고,A display device for receiving the plurality of determination signals from the microcomputer and displaying a screen indicating whether the plurality of speakers are defective in the external wiring connection state, based on the plurality of determination signals, 상기 복수의 출력 테스트 신호 각각의 전압은 상기 입력 테스트 신호의 전압, 상기 복수의 테스트 회로 각각의 임피던스, 및 상기 복수의 스피커 각각의 임피던스에 의해 결정되고, 상기 복수의 내부 배선은 복수의 제1 내부 배선과 복수의 제2 내부 배선을 포함하고,The voltage of each of the plurality of output test signals is determined by the voltage of the input test signal, the impedance of each of the plurality of test circuits, and the impedance of each of the plurality of speakers, wherein the plurality of internal wires are formed of a plurality of first internal parts. A wiring and a plurality of second internal wirings, 상기 복수의 테스트 회로 각각은,Each of the plurality of test circuits, 상기 임피던스 선택 회로의 동작에 의해 선택적으로 변경되는 제1 저항값을 가지며, 상기 임피던스 선택 회로를 통하여 상기 마이컴의 상기 출력 단자로부터의 상기 입력 테스트 신호를 수신하는 제1 저항 회로;A first resistance circuit having a first resistance value that is selectively changed by an operation of the impedance selection circuit, and receiving the input test signal from the output terminal of the microcomputer through the impedance selection circuit; 상기 제1 저항 회로와 함께 복수의 출력 노드 중 하나에 연결되고, 상기 마이컴의 상기 복수의 입력 단자 중 하나와, 상기 복수의 제1 내부 배선 중 하나 사이에 더 연결되고, 고정된 제2 저항값을 가지는 제2 저항 회로; 및A second resistance value coupled to one of a plurality of output nodes together with the first resistor circuit, further connected between one of the plurality of input terminals of the microcomputer and one of the plurality of first internal wires A second resistance circuit having; And 상기 마이컴의 상기 복수의 입력 단자 중 하나와, 그라운드 전압 사이에 연결되고, 상기 마이컴의 상기 복수의 입력 단자 중 하나를 통하여 상기 마이컴에 입력되는 상기 복수의 입력 테스트 신호 중 하나를 정류하는 정류 회로를 포함하고,A rectifier circuit connected between one of the plurality of input terminals of the micom and a ground voltage and rectifying one of the plurality of input test signals input to the micom through one of the plurality of input terminals of the micom; Including, 상기 복수의 제2 내부 배선은 상기 정류 회로와 함께 상기 그라운드 전압에 연결되는 것을 특징으로 하는 차량용 스피커 검사기.And the plurality of second internal wires are connected to the ground voltage together with the rectifier circuit. 삭제delete 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 임피던스 선택 회로는 외부의 회전형 조작부가 회전함에 따라 상기 마이컴의 상기 출력 단자를 제1 내지 제N(N은 정수) 입력 노드 중 하나에 연결하는 스위치를 포함하고,The impedance selection circuit includes a switch for connecting the output terminal of the microcomputer to one of first to Nth (N is an integer) input nodes as an external rotatable operation unit rotates, 상기 제1 저항 회로는, 상기 복수의 출력 노드 중 하나와, 상기 제1 내지 제N 입력 노드 사이에 연결되고,The first resistor circuit is connected between one of the plurality of output nodes and the first to Nth input nodes, 상기 제2 저항 회로는, 상기 마이컴의 상기 복수의 입력 단자 중 하나, 상기 복수의 제1 내부 배선 중 하나, 및 상기 복수의 출력 노드 중 하나에 연결되고,The second resistor circuit is connected to one of the plurality of input terminals of the micom, one of the plurality of first internal wires, and one of the plurality of output nodes, 상기 제1 저항 회로의 상기 제1 저항값은 검사될 상기 복수의 스피커의 임피던스에 따라 선택적으로 변경되는 것을 특징으로 하는 차량용 스피커 검사기.And the first resistance value of the first resistance circuit is selectively changed according to impedances of the plurality of speakers to be inspected. 제3항에 있어서,The method of claim 3, 상기 제1 저항 회로는, 상기 복수의 출력 노드 중 하나와, 상기 제1 내지 제N 입력 노드에 각각 연결되고, 서로 다른 저항값을 가지는 제1 제N 선택 저항들을 포함하고,The first resistor circuit includes one of the plurality of output nodes and first N select resistors respectively connected to the first to Nth input nodes and having different resistance values, 상기 제2 저항 회로는,The second resistor circuit, 상기 복수의 입력 단자 중 하나와, 상기 복수의 출력 노드 중 하나 사이에 연결되는 제1 고정 저항; 및A first fixed resistor coupled between one of the plurality of input terminals and one of the plurality of output nodes; And 상기 복수의 출력 노드 중 하나와, 상기 복수의 제1 내부 배선 중 하나 사이에 연결되는 제2 고정 저항을 포함하고,A second fixed resistor connected between one of the plurality of output nodes and one of the plurality of first internal wires, 상기 제1 고정 저항의 저항값은 상기 제2 고정 저항의 저항값보다 더 큰 것을 특징으로 하는 차량용 스피커 검사기.The resistance value of the first fixed resistor is greater than the resistance value of the second fixed resistor. 제3항에 있어서,The method of claim 3, 상기 복수의 외부 배선은 복수의 제1 외부 배선과 복수의 제2 외부 배선을 포함하고, 상기 복수의 스피커는 복수의 메인 스피커와, 복수의 트위트(tweet) 스피커를 포함하고,The plurality of external wires includes a plurality of first external wires and a plurality of second external wires, the plurality of speakers including a plurality of main speakers and a plurality of tweet speakers, 상기 커넥터는 상기 복수의 제1 내부 배선을 상기 복수의 제1 외부 배선에 각각 접속하고, 상기 복수의 제2 내부 배선을 상기 복수의 제2 외부 배선에 각각 접속하고,The connector connects the plurality of first internal wires to the plurality of first external wires, respectively, and the plurality of second internal wires to the plurality of second external wires, respectively. 상기 복수의 메인 스피커 각각은 상기 복수의 제1 외부 배선 중 하나와 상기 복수의 제2 외부 배선 중 하나에 연결되고,Each of the plurality of main speakers is connected to one of the plurality of first external wires and one of the plurality of second external wires, 상기 복수의 트위트 스피커 각각은 상기 복수의 메인 스피커 각각에 병렬로, 복수의 필터 회로 각각을 통하여, 상기 복수의 제1 외부 배선 중 하나와 상기 복수의 제2 외부 배선 중 하나에 연결되는 것을 특징으로 하는 차량용 스피커 검사기.Each of the plurality of tweet speakers is connected to one of the plurality of first external wires and one of the plurality of second external wires in parallel to each of the plurality of main speakers, through each of the plurality of filter circuits. Car speaker checker. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 전원 키를 포함하고, 상기 전원 키의 입력에 따라, 상기 차량용 스피커 검사기의 동작 전원을 온 또는 오프시키기 위한 전원 제어 신호를 상기 마이컴의 제1 제어 단자에 출력하는 전원 키 입력부; 및A power key input unit including a power key and outputting a power control signal for turning on or off the operating power of the vehicle speaker tester to the first control terminal of the microcomputer according to the input of the power key; And 제어 키를 포함하고, 상기 제어 키의 입력에 따라, 상기 외부 제어 신호를 상기 마이컴의 제2 제어 단자에 출력하는 제어 키 입력부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 차량용 스피커 검사기.And a control key input unit for outputting the external control signal to the second control terminal of the microcomputer according to the input of the control key. 제6항에 있어서,The method of claim 6, 상기 마이컴은 상기 제어 키의 입력 시간을 설정된 시간에 비교하고, 그 비교 결과에 따라 수동 검사 모드 또는 자동 검사 모드로 진입하고,The microcomputer compares the input time of the control key with a set time, and enters the manual test mode or the automatic test mode according to the comparison result. 상기 수동 검사 모드에서, 상기 마이컴은 상기 제어 키가 입력될 때마다, 상기 디스플레이 장치가 상기 복수의 스피커의 검사 결과를 하나씩 표시하도록, 상기 복수의 판단 신호를 하나씩 출력하고, 상기 자동 검사 모드에서, 상기 마이컴은 상기 제어 키가 한 번 입력되면, 상기 디스플레이 장치가 상기 복수의 스피커의 검사 결과를 설정된 시간 간격으로 하나씩 자동으로 화면 전환하면서 표시하도록, 상기 복수의 판단 신호를 상기 설정된 시간 간격으로 하나씩 출력하는 것을 특징으로 하는 차량용 스피커 검사기.In the manual test mode, the microcomputer outputs the plurality of determination signals one by one so that the display device displays the test results of the plurality of speakers one by one each time the control key is input, and in the automatic test mode, The microcomputer outputs the plurality of determination signals one by one at the set time intervals such that when the control key is input once, the display apparatus automatically switches the screens of the plurality of speakers by one at a set time interval. In-vehicle speaker tester, characterized in that. 제7항에 있어서,The method of claim 7, wherein 상기 복수의 스피커는 복수의 메인 스피커와, 복수의 트위트 스피커를 포함하고,The plurality of speakers includes a plurality of main speakers and a plurality of tweet speakers, 상기 수동 검사 모드에서, 상기 마이컴은 상기 제어 키가 입력되는 횟수에 따라, 상기 복수의 메인 스피커 중 하나가 검사되는지, 또는 상기 복수의 트위트 스피커 중 하나가 검사되는지를 판단하고,In the manual test mode, the microcomputer determines whether one of the plurality of main speakers or one of the plurality of tweeted speakers is examined according to the number of times the control key is input, 상기 마이컴은 상기 복수의 메인 스피커 중 하나가 검사될 때, 설정된 전압 값을 가지는 직류 신호를 상기 입력 테스트 신호로서 상기 출력 노드에 출력하고, 상기 복수의 트위트 스피커 중 하나가 검사될 때, 설정된 주파수의 교류 신호를 상기 입력 테스트 신호로서 상기 출력 노드에 출력하는 것을 특징으로 하는 차량용 스피커 검사기.The microcomputer outputs a DC signal having a set voltage value as the input test signal to the output node when one of the plurality of main speakers is inspected, and when the one of the plurality of tweeted speakers is inspected, And outputting an AC signal to the output node as the input test signal. 제7항에 있어서,The method of claim 7, wherein 상기 복수의 스피커는 복수의 메인 스피커와, 복수의 트위트 스피커를 포함하고,The plurality of speakers includes a plurality of main speakers and a plurality of tweet speakers, 상기 자동 검사 모드에서, 상기 마이컴은 상기 설정된 시간 간격으로 상기 복수의 메인 스피커와 상기 복수의 트위트 스피커가 하나씩 교대로 검사되도록, 설정된 직류 전압 값을 가지는 상기 입력 테스트 신호와 설정된 주파수의 상기 입력 테스트 신호를 교대로 상기 출력 노드에 출력하는 것을 특징으로 하는 차량용 스피커 검사기.In the automatic test mode, the microcomputer inputs the input test signal having a set DC voltage value and the input test signal having a set frequency so that the plurality of main speakers and the plurality of tweet speakers are alternately checked one by one at the set time interval. The vehicle speaker tester, characterized in that alternately output to the output node. 제7항에 있어서,The method of claim 7, wherein 상기 복수의 스피커는 복수의 메인 스피커와, 복수의 트위트 스피커를 포함하고,The plurality of speakers includes a plurality of main speakers and a plurality of tweet speakers, 상기 자동 검사 모드에서, 상기 마이컴은 상기 설정된 시간 간격으로 상기 복수의 메인 스피커가 하나씩 연속적으로 검사된 후, 상기 복수의 트위트 스피커가 하나씩 연속적으로 검사되도록, 설정된 직류 전압 값을 가지는 상기 입력 테스트 신호를 연속적으로 상기 출력 노드에 출력한 후, 설정된 주파수의 상기 입력 테스트 신호를 상기 출력 노드에 연속적으로 출력하는 것을 특징으로 하는 차량용 스피커 검사기.In the automatic test mode, the microcomputer receives the input test signal having the set DC voltage value such that the plurality of tweeted speakers are continuously tested one by one after the plurality of main speakers are continuously tested one by one at the set time interval. And continuously outputting the input test signal having a set frequency to the output node after outputting the output node to the output node.
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