KR20050091192A - Method and the device that measure specisl quality of speaker - Google Patents

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KR20050091192A
KR20050091192A KR1020040016423A KR20040016423A KR20050091192A KR 20050091192 A KR20050091192 A KR 20050091192A KR 1020040016423 A KR1020040016423 A KR 1020040016423A KR 20040016423 A KR20040016423 A KR 20040016423A KR 20050091192 A KR20050091192 A KR 20050091192A
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옥영주
홍철호
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Abstract

본 발명은 스피커의 특성을 계측하는 방법 및 그 장치의 구조에 관한 것으로서, 인가 된 전기 신호를 받아 가청주파수대의 소리를 출력하는 스피커의 임피던스, 출력음압레벨(Sound Pressure Level - SPL), 음질불량 등의 스피커 특성을 측정하는 스피커 특성 계측기에 있어서,The present invention relates to a method for measuring the characteristics of a speaker and the structure of the device, the impedance of the speaker to output the sound of the audible frequency band in response to the applied electrical signal, Sound Pressure Level (SPL), poor sound quality, etc. In the speaker characteristic measuring instrument which measures the speaker characteristic of

테스트할 스피커에 테스트용 전기적 신호를 인가하는 테스트 신호 발생수단(10)과, 상기 테스트 신호 발생수단(10)에서 발생된 전기적 신호가 스피커를 통해 소리를 발생하면, 스피커에서 발생된 소리를 마이크를 통해 음을 감지하여 마이크에서 감지된 신호를 검출, 측정하는 신호음 검출/측정수단(20)과, 상기 테스트 신호 발생수단(20)과, 신호음 검출/측정부의 데이타를 연산하거나 저장하는 연산수단(30)과, 상기 연산수단(30)에서 연산되거나 저장된 수치나 그 값을 표시하는 디스플레이수단(40)으로 구성하여, 20HZ~20KHZ까지의 주파수를 소인 발진기(sweep oscillator)를 이용하여 스피커를 구동하고, 상기 스피커에서 발생되는 소리를 마이크를 통하여 그 소리를 감지하며, 상기 감지된 소리의 각 주파수 대역별로 불량음이나 이음(異音)등을 FFT(Fast Fourier Transform)분석부를 이용하여 검출하고, 데이타화 하고 불량계수(음질) 또한 데이타화하여 종래에는 여러 계측장치를 사용하여 계측하던것을 본 발명 단일 계측기로 모든 스피커 특성을 계측 할 수 있어, 신뢰성있는 품질관리 및 품질보증할 수 있고, 생산성과 재현성에 많은 도움이 되는 효과를 가지는 스피커 특성 계측기를 제공한다.When the test signal generating means 10 for applying a test electrical signal to the speaker to be tested and the electrical signal generated by the test signal generating means 10 generates sound through the speaker, the sound generated from the speaker Sound detection / measurement means 20 for detecting and measuring a signal detected by a microphone by detecting sound, and arithmetic means 30 for calculating or storing data of the test signal generation means 20 and signal sound detection / measurement portion 30. And a display means 40 for displaying the value calculated or stored in the calculation means 30, and driving the speaker using a sweep oscillator with a frequency ranging from 20HZ to 20KHZ, The sound generated from the speaker is sensed through a microphone, and a FFT (Fast Fourier Transfor) is used to detect a bad sound or a bad sound for each frequency band of the detected sound. m) Detecting, data-forming, and defective coefficient (sound quality) by using an analysis unit, and also data-based, conventionally measured by using a variety of measuring devices can measure all the speaker characteristics with a single measuring instrument of the present invention, reliable quality control And it provides a speaker characteristic measuring instrument that can guarantee quality, and has an effect that helps a lot in productivity and reproducibility.

Description

스피커의 특성을 계측하는 방법 및 그 장치{Method and the device that measure specisl quality of speaker} Method and the device that measure specisl quality of speaker

본 발명은 스피커의 특성을 계측하는 스피커의 특성 계측하는 방법 및 그 계측기에 관한 것으로 20HZ~20KHZ이내의 주파수를 소인 발진기(sweep oscillator)를 이용하여 스피커를 구동하고, 상기 스피커에서 발생되는 소리를 마이크를 통하여 그 소리를 감지하며, 상기 감지된 소리의 각 주파수 대역별로 불량음이나 이음(異音)등을 FFT(Fast Fourier Transform)분석부를 이용하여 검출하고, 데이타화하여 종래에는 여러 계측장치를 사용하여 계측하던것을 단일 계측기로 모든 스피커의 특성을 계측 할 수 있어 효과를 가지고 있으며, 또한 스피커의 음질에 대한 객관적인 불량계수를 계측, 대입할 수 있도록 하여, 신뢰성 있는 품질관리 및 품질보증할 수 있고, 생산성과 재현성에 많은 도움이 되는 효과를 가지고 있는 스피커 특성 계측기에 관한 것이다.The present invention relates to a method for measuring the characteristics of a speaker for measuring the characteristics of the speaker, and a measuring device for driving the speaker using a sweep oscillator with a frequency within 20HZ ~ 20KHZ, the sound generated from the speaker microphone It detects the sound through the FFT (Fast Fourier Transform) analysis unit for each of the frequency bands of the detected sound through the FFT (Fast Fourier Transform) analysis, and the data is conventionally used a number of measuring devices It is effective to measure the characteristics of all speakers with a single measuring instrument, and also to measure and substitute objective failure coefficients for the sound quality of speakers, so that quality control and quality assurance can be relied on. It's about a speaker characterization instrument that has a lot of benefits for productivity and reproducibility.

일반적으로 스피커의 원리는 북을 북채로 두드리면 가죽으로 된 북의 표면이 진동을 하기 시작한다. 이 진동으로 인하여 북 주변의 공기도 함께 진동하기 시작하고, 공기의 진동은 주변으로 전파되어 사람의 귀를 통해 들을 수 있다. In general, the principle of the speaker is to tap the drum with a drumstick and the surface of the leather drum begins to vibrate. Due to this vibration, the air around the drum also begins to vibrate, and the vibration of the air propagates to the surroundings and can be heard through the human ear.

상기 북 표면의 진동을 사람의 귀에까지 전달하는 매체는 공기이며, 소리를 전달하는 매체는 공기와 같은 기체뿐만 아니라 물과 같은 액체, 나무와 같은 고체를 통해서도 전달할 수 있다. The medium for transmitting the vibration of the drum surface to the human ear is air, and the medium for transmitting sound can be transmitted not only through a gas such as air but also through a liquid such as water and a solid such as wood.

결국 물체의 진동이 소리를 만드는 것이라고 말할 수 있는데, 나무를 두드리면 그 소리는 짧게 끊어지지만, 북을 두드리면 오랫동안 소리가 계속됨을 알 수 있으며, 진동이 오래 유지될수록 소리는 여운을 갖고 지속된다.Eventually, we can say that the vibration of an object makes a sound. The sound of the object is shortened by tapping on the tree, but the sound continues for a long time by tapping on the drum.

상기 소리를 발생시키려면 물질을 진동 시키면 되는데, 천천히 진동시키면 저음이 발생하고, 반대로 빨리 진동시키면 고음이 발생하며, 같은 진동수를 갖더라도 진동의 폭이 커지면 소리의 크기도 커지게 되는데, 스피커는 이러한 원리를 이용해서 소리를 발생시킨다.In order to generate the sound, the material may be vibrated, but if it is slowly vibrated, low sound is generated. On the contrary, if it is vibrated quickly, high sound is generated. Use the principle to generate sound.

이러한 스피커의 일반적인 구성은 다음과 같다.The general configuration of such a speaker is as follows.

스피커에 입력되는 신호는 소리의 정보를 갖고 있는 전기신호인데, 이 전기신호에는 소리의 크기, 진동수 등의 소리에 관련된 모든 정보가 포함되어 있으며, 전자석에 입력된다. The signal input to the speaker is an electric signal having sound information. The electric signal includes all information related to the sound, such as the loudness and the frequency, and is input to the electromagnet.

이때 전자석은 이 신호에 따라 N극·S극의 방향과 자석의 세기가 다르게 나타내며, 전자석의 뒤쪽에는 자석의 세기가 일정한 영구자석이 자리잡고 있는데, 전자석에서 N극의 방향에 따라 두 자석은 서로 밀기도 하고 당기기도 하는데, 전자석의 자석 세기에 따라 밀고 당기는 힘은 커지기도 하고 작아지기도 한다. In this case, the direction of the N pole and S pole and the strength of the magnet are different according to this signal.At the rear of the electromagnet, a permanent magnet with a constant strength of the magnet is located. In addition to pushing and pulling, depending on the magnet strength of the electromagnet, the pushing and pulling force may increase or decrease.

그리고, 전자석의 한쪽 끝은 스피커의 중앙에 있는 둥그런 모양의 콘이라는 것에 붙어 있으며, 전자석의 움직임에 따라 이 콘도 함께 움직이게 되고, 결국 콘에 붙어있는 고깔도 움직이게 된다.One end of the electromagnet is attached to a round cone in the center of the speaker, and the cone moves along with the movement of the electromagnet, eventually moving the cone attached to the cone.

이러한 스피커는 그 사용 용도에 따라 제조되는 과정도 틀릴뿐만 아니라 크기와 모양이 다르고, 그 특성 또한 상이하다.Such a speaker is not only manufactured in accordance with its intended use but also differs in size and shape, and its characteristics are also different.

상기 스피커의 특성은 공진 주파수 대역, 임피던스 값, 출력음압 레벨(SPL), 음질 등과 같이 있는데, 이는 스피커의 품질과 직접적인 연관성이 있는 것이여서, 스피커의 품질을 알수 있는 측도이기도 하다.The characteristics of the speaker include a resonance frequency band, an impedance value, an output sound pressure level (SPL), a sound quality, etc., which is directly related to the quality of the speaker, and is also a measure of the quality of the speaker.

스피커를 제조하는 과정에서 발생할 수 있는 불량품을 가려내기 위한 방법으로 종래에는 각각의 계측기로 공진 주파수 측정, 임피던스 측정, 극성 측정, 출력음압레벨(Sound Pressure Level - SPL) 측정 등을 계측하였고, 많은 단계의 시험을 하여 왔었는데, 이는 각각의 계측기로 각각의 특성을 계측하여 왔기 때문에 계측시간이 많이 소비되었고, 생산성도 낮을 뿐만 아니라 비합리적 검사로 인하여 관리가 어려운 문제점이 있었다.As a method of screening out defective products that may occur during the manufacture of a loudspeaker, conventionally, a resonant frequency measurement, an impedance measurement, a polarity measurement, a sound pressure level (SPL) measurement, etc. have been measured with each measuring instrument. It has been tested, which has been measuring each characteristic with each measuring instrument was consumed a lot of measurement time, not only low productivity, but also had a problem that is difficult to manage due to irrational inspection.

또한 종래에는 스피커의 특성 중 하나인 음질을 측정함에 있어서는 사람의 청력으로만 가능하였고, 이로인한 스피커의 객관적인 기준이 없어 음질에 대한 스피커 불량계수(음질)를 대입할 수 없어 품질관리에 어려운 문제점이 발생 하였다.In addition, in the related art, in measuring sound quality, which is one of the characteristics of a speaker, it is possible only by human hearing. As a result, there is no objective criterion of the speaker, which makes it difficult to control the speaker defect factor (sound quality) for sound quality. Occurred.

본 발명은 상기와 같은 종래의 스피커의 특성을 계측시 발생하는 제반된 문제점을 감안하여 안출한 것으로, 20HZ~20KHZ이내의 주파수를 소인 발진기(sweep oscillator)를 이용하여 스피커를 구동하고, 상기 스피커에서 발생되는 소리를 마이크를 통하여 그 소리를 감지하며, 상기 감지된 소리의 각 주파수 대역별로 불량음이나 이음(異音)등을 FFT(Fast Fourier Transform)분석부를 이용하여 검출하고, 데이타화하여 종래에는 여러 계측장치를 사용하여 계측하던것을 단일 계측기로 모든 스피커의 특성을 계측 할 수 있어 있으며, 또한 스피커의 음질에 대한 객관적인 불량계수를 계측, 대입할 수 있도록 하여, 신뢰성 있는 품질관리 및 품질보증할 수 있고, 생산성과 재현성에 많은 도움이 되는 스피커 특성 계측기를 제공하는데 그 목적이 있다. The present invention has been made in view of the above-mentioned problems occurring when measuring the characteristics of the conventional speaker as described above, driving the speaker using a sweep oscillator (sweep oscillator) of the frequency within 20HZ ~ 20KHZ, The generated sound is detected through a microphone, and a bad sound or a strange sound is detected for each frequency band of the detected sound using an FFT (Fast Fourier Transform) analysis unit, and data is conventionally used. It is possible to measure the characteristics of all speakers by using a single measuring instrument, and to measure and substitute objective failure coefficients for the sound quality of the speaker by using multiple measuring devices. It is an object of the present invention to provide a speaker characteristic measuring instrument that helps a lot in productivity and reproducibility.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 스피커의 특성을 계측하는 방법 및 그 장치에 대하여 설명하면 다음과 같다.The method and apparatus for measuring the characteristics of the speaker of the present invention for achieving the above object are as follows.

인가 된 전기 신호를 받아 가청주파수대의 소리를 출력하는 스피커의 임피던스, 출력음압레벨(Sound Pressure Level - SPL) 등의 스피커 특성을 측정하는 스피커 특성 계측기에 있어서,In the speaker characteristic measuring instrument for measuring the characteristics of the speaker, such as impedance, output pressure level (SPL) of the speaker that receives the applied electrical signal and outputs sound in the audible frequency band,

테스트할 스피커에 테스트용 전기적 신호를 인가하는 테스트 신호 발생수단(10)과;Test signal generating means (10) for applying a test electrical signal to a speaker to be tested;

상기 테스트 신호 발생수단(10)에서 발생된 전기적 신호가 스피커를 통해 소리를 발생하면, 스피커에서 발생된 소리를 마이크를 통해 음을 감지하여 스피커에서 발생된 소리를 검출, 측정하는 신호음 검출/측정수단(20)과;When the electrical signal generated by the test signal generating means 10 generates a sound through the speaker, the signal sound detection / measurement means for detecting and measuring the sound generated by the speaker by detecting the sound generated by the speaker through the microphone. 20;

상기 테스트 신호 발생수단(20)과, 신호음 검출/측정부의 데이타를 연산하거나 저장하는 연산수단(30)과;Calculation means (30) for calculating or storing data of the test signal generation means (20) and the signal detection / measurement unit;

상기 연산수단(30)에서 연산되거나 저장된 수치나 그 값을 표시하는 디스플레이수단(40)으로 구성하되, 상기 테스트 신호 발생수단(10)은,The display means 40 for displaying the value or the value calculated or stored in the calculation means 30, the test signal generating means 10,

스피커(170)에 아날로그형식의 테스트용 음원신호를 인가하는 소인 정현파 발진부(Sweep Sine wave Generator)(110)와;A sweep sine wave generator 110 for applying an analog test sound source signal to the speaker 170;

스피커에 인가되는 전압을 조절하는 전압 조절부(120)와;A voltage adjusting unit 120 controlling a voltage applied to the speaker;

상기 소인 정현파 발진부(110)의 전기적 신호와 전압 조절부에서 인가된 전원과 합성하여 저전압 노이즈를 감쇄시키는 볼륨부(130)와;A volume unit 130 configured to attenuate low voltage noise by combining with the electrical signal of the sine wave oscillator 110 and the power applied from the voltage adjusting unit;

상기 볼륨부(130)에서 출력된 전기적 신호를 증폭하는 음원 증폭부(Audio Power Amplifier)(140)와;An audio power amplifier 140 for amplifying the electrical signal output from the volume unit 130;

상기 음원 증폭부(140)에 내부에 포함된 분류기(shunt)로 전류를 검출하여 출력 전압과 연산하여 임피던스를 검출하는 임피던스 검출부(150)와;An impedance detector (150) for detecting current by detecting a current with a shunt included in the sound source amplifier 140 and calculating the output voltage;

상기 음원 증폭부(140)에서 인가된 소인 주파수(Sweep Frequency)별 실시간 임피던스를 조합하여 공진 주파수 검출하는 최저 공진 주파수(Fo) 검출부(160)와;A lowest resonant frequency (Fo) detection unit 160 for detecting a resonant frequency by combining real-time impedance for each sweep frequency applied by the sound source amplifier 140;

상기 음원 증폭부(140)에서 증폭된 전기적 신호를 인가 받아 소리를 출력하는 스피커(170)로 구성하고, 신호음 검출/측정수단(20)은 상기 스피커(170)에서 발생된 음을 감지하는 마이크(210)와;The speaker 170 is configured to output the sound by receiving the electric signal amplified by the sound source amplification unit 140, and the signal sound detecting / measuring means 20 includes a microphone for detecting the sound generated by the speaker 170 ( 210;

상기 마이크(210)에서 감지된 전기적 신호를 증폭하는 감지신호 증폭부(Mix Amplifier)(220)와;A sensing signal amplifier 220 for amplifying the electrical signal sensed by the microphone 210;

상기 감지신호 증폭부(220)에서 증폭된 전기적 신호를 음압을 측정, 표시하는 출력음압레벨(Sound Pressure Level - SPL) 검출부(230)와;An output sound pressure level (SPL) detector 230 for measuring and displaying a sound pressure of the electrical signal amplified by the detection signal amplifier 220;

상기 감지신호 증폭부(220)에서 증폭되어 인가된 전기적 신호에서 음질을 분석하는 FFT(Fast Fourier Transform)분석부(240)와;A fast fourier transform (FFT) analyzer 240 for analyzing sound quality from the electric signal amplified by the sense signal amplifier 220;

상기 입력신호 증폭부에서 증폭된 전기적 신호를 소리신호로 증폭하는 소리신호 증폭부(250)와;A sound signal amplifier 250 for amplifying the electrical signal amplified by the input signal amplifier into a sound signal;

상기 소리신호 증폭부(250)에서 증폭된 소리신호를 청각으로 들을수 있도록 헤드폰(260)을 구성하여, 16비트의 20HZ~10KHZ 소인 정현파 신호를 연결적인 아날로그 소인 발진기(Analog Sweep Oscillator)를 통해 테스트할 스피커에 신호를 인가하면, 상기 테스트할 스피커에서 테스트음이 발생하는데, 상기 스피커에서 발생하되는 테스트음을 마이크를 통해 감지하며, 10KHZ 이상의 주파수 성분을 검출하여 그 값을 데이타화 함으로써 이득(gain)값의 조절 및 설정으로 스피커 음질을 계측하거나, 또는 16비트의 20HZ~20KHZ 소인 정현파 신호를 연결적인 아날로그 소인 발진기(Analog Sweep Oscillator)를 통해 테스트할 스피커에 인가하면, 상기 테스트할 스피커에서 테스트음이 발생하는데, 상기 스피커에서 발생하되는 테스트음을 마이커를 통해 감지하며, 실시간으로 소인(sweep)되는 주파수 성분 이외의 주파수 성분을 검출하여 이값을 데이타화 함으로써 이득(gain)값의 조절 및 설정으로 스피커 음질을 계측할 수 있을 뿐만아니라 공진 주파수 측정, 임피던스 측정, 극성 측정, 출력음압레벨(Sound Pressure Level - SPL) 측정을 통합적으로 계측가능하다The headphone 260 is configured so that the sound signal amplified by the sound signal amplification unit 250 can be audibly listened to, and a 16-bit 20HZ ~ 10KHZ sweep sinusoidal signal is tested through a connected analog sweep oscillator. When a signal is applied to a speaker, a test sound is generated from the speaker to be tested. The test sound generated from the speaker is detected through a microphone, and a gain value is detected by detecting a frequency component of 10 KHZ or more and dataizing the value. When measuring the speaker sound quality with the control and setting of, or applying 16-bit 20HZ ~ 20KHZ sweeping sinusoidal signal to the speaker to be tested through the connected analog sweep oscillator, a test sound is generated from the speaker to be tested. The test sound generated by the speaker is detected through a microphone and sweeped in real time. By detecting frequency components other than frequency components and making these values data, speaker quality can be measured by adjusting and setting gain values, as well as measuring resonance frequency, impedance measurement, polarity measurement, and output pressure level. Integrated measurement of SPL measurements

이하 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면에 따라서 상세히 설명한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1a은 본 발명에 따른 스피커 특성 계측기의 전체적인 구성을 나타낸 구성도이고, 도 1b는 본 발명에 따른 스피커 특성 계측기의 세부 구성을 나타낸 구성도이며, 도 2는 본 발명에 따른 스피커 특성 계측기에 의해 스피커의 특성을 계측하는 구상을 나타낸 구성도이고, 도 3은 본 발명에 따른 스피커 특성 계측기의 기준설정 프로그램의 예시를 보인 예시표이며, 도 4는 본 발명에 따른 스피커 특성 계측기에 의해 계측된 결과를 표시한 스피커 측정 결과표이다.Figure 1a is a block diagram showing the overall configuration of the speaker characteristic measuring instrument according to the invention, Figure 1b is a block diagram showing a detailed configuration of the speaker characteristic measuring instrument according to the present invention, Figure 2 is a speaker characteristic measuring instrument according to the present invention FIG. 3 is a diagram showing an example of measuring the characteristics of a speaker, and FIG. 3 is an exemplary table showing an example of a reference setting program of a speaker characteristic measuring instrument according to the present invention, and FIG. 4 shows the result measured by the speaker characteristic measuring apparatus according to the present invention. The speaker measurement result table is displayed.

도 1a와 도 1b에 도시된 바와 같이 본 발명에 따른 스피커 특성 계측기의 테스트 신호 발생 수단을 살펴보면, 상기 아날로그 소인 발진기(Analog sweep oscilator)는 컴퓨터의 소프웨어로 제어되며, 상기 컴퓨터의 사운드 카드를 통하여 출력된다. 이때 아날로그 소인 신호(Analog sweep signal)를 저전압에서 출력할 시에는 상기 컴퓨터의 잡음성분이 많이 포함된 아날로그 소인 신호를 발생하는데, 상기 잡음을 제거하기 위하여 컴퓨터내에 설치된 사운드 카드의 출력을 최대로 하고, 인아웃(I/O) 카드의 전압조절부를 제어하여 0~10V의 직류전압을 제어 출력 하도록 하고, 신호의 진폭을 변조하는 진폭변조(AM modulation)회로와 상기 직류전압을 제어하여 이득(gain)을 조절하는 볼륨부를 구성하여 잡음성분을 제거하여, 음원 증폭부(Audio Power Amplifier)를 통해 나온 신호를 증폭하여 테스트할 스피커에 신호를 인가한다.Referring to the test signal generating means of the speaker characteristic measuring instrument according to the present invention as shown in Figure 1a and 1b, the analog sweep oscilator is controlled by the software of the computer, and output through the sound card of the computer do. At this time, when outputting an analog sweep signal at a low voltage, an analog sweep signal including a lot of noise components of the computer is generated. The output of the sound card installed in the computer is maximized to remove the noise. By controlling the voltage control unit of the I / O card to control and output the DC voltage of 0 ~ 10V, the amplitude modulation circuit (AM modulation) for modulating the amplitude of the signal and the DC voltage is controlled to gain The controller adjusts the volume to remove the noise component, amplifies the signal from the audio power amplifier, and applies the signal to the speaker to be tested.

이때 상기 음원 증폭부(Audio Power Amplifier) 증폭된 20HZ~20KHZ 이내의 정현파(sine)가 상기 테스트 할 스피커에 인가될 때 분류기(Resistor Shunt)를 이용하여 흐르는 전류를 검출하고 스피커에 공급된 전압을 검출 상기 전류와 대입 연산수단인 컴퓨터에서 연산하여 스피커의 임피던스를 측정할 수 있다.At this time, when a sine within 20HZ ~ 20KHZ amplified by the audio power amplifier is applied to the speaker to be tested, a current flowing through a resistor shunt is detected and a voltage supplied to the speaker is detected. The impedance of the speaker may be measured by computing the current and the computer, which is a substitution means.

이며 And

이므로 Because of

유도식에 의해 스피커의 임피던스를 구할 수 있다. The impedance of the speaker can be obtained by induction.

V: 음원 출력부의 출력 전압 Vsp: 스피커에 인가되는 전압V: Output voltage of the sound source output unit Vsp: Voltage applied to the speaker

Vr: 분류기에 인가되는 전압 R: 분류기의 저항Vr: Voltage applied to the classifier R: Resistance of the classifier

Rsp: 스피커 임피던스 Rsp: Speaker Impedance

따라서, 20HZ~20KHZ 이내에서 임의의 한 주파수를 선택하면 임피던스검출부에서 설정한 주파수의 임피던스와 디스플레이 수단을 통해 화면에 표시하되, 미리 설정한 범위내에 있는지 비교하여 합격/불합격 판정을 한다.Therefore, if any one frequency is selected within 20HZ ~ 20KHZ, the impedance of the frequency set by the impedance detection unit is displayed on the screen through the display means, and the pass / fail determination is made by comparing whether it is within the preset range.

그리고, 상기 스피커 임피던스를 20HZ~20KHZ 이내에서 실시간으로 지속적으로 측정하여 디스플레이 수단을 통해 화면에 표시하면, 테스트 할 스피커의 각 주파수 별 임피던스 변화를 볼 수 있으며, 상기 최저 공진 주파수(Fo) 검출부에서는 임피던스의 변화로 최초공진점을 찾아 공진점을 표시하며, 이미 설정해놓은 영역과 비교하여 합격/불합격 판정을 한다. 이때 출력음압레벨(Sound Pressure Level - SPL)의 합격/불합격의 범위를 0.1dB 단위로 설정할 수 있다.If the speaker impedance is continuously measured in real time within 20HZ ~ 20KHZ and displayed on the screen through a display means, the impedance change for each frequency of the speaker to be tested can be seen, and the impedance at the lowest resonant frequency Fo is detected. The resonance point is found by changing the initial resonance point, and the pass / fail decision is made by comparing with the area already set. At this time, the pass / fail range of the output sound pressure level (SPL) may be set in units of 0.1 dB.

또한, 신호음 검출 및 측정수단을 살펴보면, 상기 스피커의 출력음에서 발생된 20HZ~20KHZ 이내의 각각의 주파수대역에서 발생한 연결음을 마이크를 통해 감지하여, 감지된 신호를 감지신호 증폭부로 인가 한다. 상기 감지 신호 증폭부에 인가된 신호를 출력음압레벨(Sound Pressure Level - SPL)을 디스플레이 수단을 통해 화면에 표시하고, 상기 연산수단 인 컴퓨터에 미리 설정하여, 상기 컴퓨터의 데이터베이스에 저장된 데이터 값과 비교연산하여, 상기 테스터 할 스피커 출력음압레벨(Sound Pressure Level - SPL)의 합격/불합격 판정을 하여 화면에 표시한다.In addition, looking at the signal sound detection and measurement means, by detecting the connection sound generated in each frequency band within 20HZ ~ 20KHZ generated from the output sound of the speaker through the microphone, and applies the detected signal to the detection signal amplifier. The sound pressure level (SPL) displayed on the screen is displayed on the screen through a display means, and the signal applied to the detection signal amplification unit is preset in the computer, which is the computing means, and compared with the data value stored in the database of the computer. By calculating, the pass / fail determination of the speaker output sound pressure level (SPL) to be tested is made and displayed on the screen.

그리고, 상기 감지 신호 증폭부에서 감지하여 증폭된 신호를 FFT 분석부(Fast Fourier Transform)로 인가 되면, 10KHZ 이상의 주파수 성분을 검출하여 그 값을 데이타화 함으로써 이득(gain)값의 조절 및 설정으로 스피커 음질을 측정하거나, 실시간으로 소인(sweep)되는 주파수 성분 이외의 주파수 성분을 검출하여 이값을 데이타화 함으로써 이득(gain)값의 조절 및 설정으로 스피커 음질을 측정하여, 합격/불합격 판정을 상기, 연산수단을 통해 비교 연산되어, 디스플레이 수단 통해 화면에 표시된다.When the signal amplified by the detection signal amplification unit is applied to an FFT analyzer (Fast Fourier Transform), a frequency component of 10 KHZ or more is detected and the value is converted into data to adjust and set a gain. By measuring the sound quality or detecting frequency components other than the frequency components that are sweeped in real time and making data into these values, the speaker sound quality is measured by adjusting and setting the gain, and calculating the pass / fail determination. The comparison is performed through the means, and displayed on the screen through the display means.

또한 본 발명의 객관적, 주관적 계측 신뢰성을 향상 시키기 위해, 상기 감지 신호 증폭부에서 발생한 신호를 소리신호 증폭부로가 인가 받아 증폭하여 헤드폰으로 테스트 할 스피커에서 발생한 연결음을 그대로 재현함으로써, 본 발명은 연산수단을 이용한 자동 계측검사 및 검사원의 청력으로 합격/불합격 판정할 수 있도록 하여 계측 신뢰도를 향상 시켰다.In addition, in order to improve the objective and subjective measurement reliability of the present invention, the signal generated by the detection signal amplification unit is applied to the sound signal amplification unit and amplified by reproducing the connection sound generated in the speaker to be tested with headphones, the present invention is a calculation means The measurement reliability was improved by allowing automatic pass / fail inspection and the pass / fail judgment by the inspector's hearing.

본 발명의 실시예로 도 2에 도시된 바와 같이 테스트 할 스피커를 내부에 반사음을 제거하는 흡음재가 설치된 지그의 하측에는 상기 마이크를 설치하고, 상측에는 테스트 할 스피커를 가설한다.As an exemplary embodiment of the present invention, as shown in FIG. 2, the microphone is installed on the lower side of the jig in which the sound absorbing material for removing the reflection sound is installed inside the speaker to be tested, and the speaker to be tested is hypothesized on the upper side.

그리고, 도 3에 도시된 바와 같이 테스트 할 스피커의 기준항목 설정 및 계측 항목을 프로그램에 의해 제어 가능한데, 그 구성은 제품정보(a), SPL의 합부판정을 위한 상하한 설정(b), 기준데이타(c), 미리보기(d), SPL검사 주파수 범위(e), 스윕 설정(f), Fo/Ze 설정(g), 검사(h), 전압설정(i) 등의 항목으로 이루어 진다.And, as shown in FIG. 3, the reference item setting and the measurement item of the speaker to be tested can be controlled by a program. The configuration includes the product information (a), the upper and lower setting (b), and the reference data for the agreement of the SPL. (c), preview (d), SPL inspection frequency range (e), sweep setting (f), Fo / Ze setting (g), inspection (h), voltage setting (i) and so on.

상기 제품정보(a)는 테스트 할 스피커의 정보, 즉 모델명, 로트번호, 시리얼번호 등을 입력하거나, 순차적으로 부여 하는 기능을 수행하며, 상기 상하한 설정(b)은 테스트 할 스피커의 음의 범위 설정은 dB단위로 설정하는 기능을 수행한다.The product information (a) is to input the information of the speaker to be tested, that is, the model name, lot number, serial number, etc., or sequentially assigned, the upper and lower setting (b) is the sound range of the speaker to be tested Setting performs the function of setting in dB unit.

그리고, 상기 기준 데이타(c)는 이미 입력된 스피커 특성의 데이타를 불러오거나 테스트 된 스피커의 데이타를 저장하는 기능을 가지고, 상기 SPL검사 주파수 범위(e)에서 출력음압레벨을 설정하면, 상기 미리보기(d)에서 상기 설정된 출력음압레벨을 그래프로 표시한다.And, the reference data (c) has a function of loading data of the speaker characteristics already input or storing data of the tested speakers, and when setting the output sound pressure level in the SPL test frequency range (e), the preview In (d), the set output sound pressure level is displayed in a graph.

상기 스윕 설정(f)은 스윕 방법 및 스윕시간, 시작 주파수, 종료 주파수, 스윕횟수 등을 설정하는 기능을 수행하고, 상기 Fo/Ze 설정(f)은 공진 주파수 대역 설정 및 Ze 주파수 대역을 설정하는 기능을 수행하며, 상기 검사(h)는 테스트 할 스피커의 특성항목을 설정하는 기능을 수행하고, 상기 전압 설정(i)은 테스트 할 스피커에 인가 전압을 설정하는 기능을 수행한다.The sweep setting (f) performs a sweep method, a sweep time, a start frequency, an end frequency, a sweep frequency, and the like, and the Fo / Ze setting (f) sets a resonance frequency band and a Ze frequency band. The function (h) performs a function of setting a characteristic item of the speaker to be tested, and the voltage setting (i) performs a function of setting an applied voltage to the speaker to be tested.

상술한 바와 같이 테스트 할 스피커의 테스트항목 설정 및 범위를 설정하고, 상기 스피커를 테스트 하면, 도 4a와 도 4b에 도시된 바와 같이 스피커의 특성들이 그래프화 되어 표시되고, 그 특성들의 합격 및 불합격이 판정되어 화면에 표시된다.Setting the test item setting and range of the speaker to be tested as described above, and testing the speaker, the characteristics of the speaker are displayed graphically as shown in Figs. 4a and 4b, the pass and fail of the characteristics It is determined and displayed on the screen.

이상에서와 같이 본 발명의 스피커 특성 검사 방법 및 그 계측기에 따르면, 20HZ~20KHZ이내의 주파수를 소인 발진기(sweep oscillator)를 이용하여 스피커를 구동하고, 상기 스피커에서 발생되는 소리를 마이크를 통하여 그 소리를 감지하며, 상기 감지된 소리의 각 주파수 대역별로 불량음이나 이음(異音)등을 FFT분석부를 이용하여 검출하고, 데이타화하여 종래에는 여러 계측장치를 사용하여 계측하던것을 단일 계측기로 모든 스피커의 특성을 계측 할 수 있어 효과를 가지고 있으며, 또한 스피커의 음질에 대한 객관적인 불량계수를 계측, 대입할 수 있도록 하여, 신뢰성 있는 품질관리 및 품질보증할 수 있고, 생산성과 재현성에 많은 도움이 되는 효과를 가지고 있다.As described above, according to the speaker characteristic test method and the measuring apparatus of the present invention, a speaker is driven using a sweep oscillator with a frequency within 20HZ ~ 20KHZ, and the sound generated from the speaker is transmitted through the microphone. Detect bad sound or audible sound for each frequency band of the detected sound using an FFT analysis unit, and convert the data into a single measuring instrument that is conventionally measured using several measuring devices. It has the effect of being able to measure the characteristics of the product, and it is also possible to measure and substitute objective defect coefficients for the sound quality of the speaker, so that it can reliably control quality and guarantee quality, and it is very helpful for productivity and reproducibility. Have

도 1a은 본 발명에 따른 스피커 특성 계측기의 전체적인 구성을 나타낸 구성도.Figure 1a is a block diagram showing the overall configuration of a speaker characteristic measuring instrument according to the present invention.

도 1b는 본 발명에 따른 스피커 특성 계측기의 세부 구성을 나타낸 구성도.Figure 1b is a block diagram showing a detailed configuration of a speaker characteristic measuring instrument according to the present invention.

도 2는 본 발명에 따른 스피커 특성 계측기에 의해 스피커의 특성을 계측하는 구상을 나타낸 구성도.Figure 2 is a block diagram showing the concept of measuring the characteristics of the speaker by the speaker characteristic measuring instrument according to the present invention.

도 3은 본 발명에 따른 스피커 특성 계측기의 기준설정 프로그램의 예시를 보인 예시표.Figure 3 is an exemplary table showing an example of a reference setting program of the speaker characteristic measuring instrument according to the present invention.

도 4는 본 발명에 따른 스피커 특성 계측기에 의해 계측된 결과를 표시한 스피커 측정 결과표.4 is a speaker measurement result table showing the results measured by the speaker characteristic measuring instrument according to the present invention.

※도면의 주요부분에 대한 부호의 설명※※ Explanation of symbols about main part of drawing ※

10: 신호발생 수단 20: 신호음 검출/측정 수단            10: signaling means 20: beep detection / measurement means

30: 연산 수단 40: 디스플레이 수단            30: arithmetic means 40: display means

110: 소인 정현파 발진부 120: 전압 조절부            110: sine sine wave oscillator 120: voltage regulator

130: 볼륨부 140: 음원 증폭부            130: volume unit 140: sound source amplification unit

150: 임피던스 검출부 160: 공진 주파수 검출부            150: impedance detector 160: resonant frequency detector

170: 스피커 210: 마이커            170: speaker 210: microphone

220: 감지신호 증폭부 230: 출력음압레벨 검출부            220: detection signal amplifier 230: output sound pressure level detector

240: FFT 분석부 250: 소리신호 증폭부            240: FFT analyzer 250: sound signal amplifier

260: 헤드폰           260: headphones

Claims (4)

스피커의 특성을 검사하는 방법에 있어서, 16비트의 20HZ~10KHZ이내의 소인 정현파 신호를 연결적인 아날로그 소인 발진기(Analog Sweep Oscillator)를 통해 테스트할 스피커에 신호를 인가하면, 상기 테스트할 스피커에서 테스트음이 발생하는데, 상기 스피커에서 발생하되는 테스트음을 마이커를 통해 감지하며, 10KHZ 이상의 주파수 성분을 검출하여 그 값을 데이타화 함으로써 이득(gain)값의 조절 및 설정으로 스피커 음질을 계측함을 특징으로 하는 스피커 특성 계측기.In the method of checking the characteristics of a speaker, when a signal is applied to a speaker to be tested by a sweeping sine wave signal of 16 bits of 20HZ ~ 10KHZ through a connected analog sweep oscillator, a test sound is output from the speaker to be tested. In this case, the test sound generated from the speaker is detected through a microphone, and the speaker sound quality is measured by adjusting and setting a gain value by detecting a frequency component of 10 KHZ or more and dataizing the value. Speaker characteristic instrument. 스피커의 특성을 검사하는 방법에 있어서, 16비트의 20HZ~20KHZ이내의 소인 정현파 신호를 연결적인 아날로그 소인 발진기(Analog Sweep Oscillator)를 통해 테스트할 스피커에 인가하면, 상기 테스트할 스피커에서 테스트음이 발생하는데, 상기 스피커에서 발생하되는 테스트음을 마이커를 통해 감지하며, 실시간으로 소인(sweep)되는 주파수 성분 이외의 주파수 성분을 검출하여 이값을 데이타화 함으로써 이득(gain)값의 조절 및 설정으로 스피커 음질을 계측함을 특징으로 하는 스피커 특성 계측기.In the method for checking the characteristics of a speaker, a test sound is generated from a speaker to be tested when a 16-bit 20SZ to 20KHZ sweeping sinusoidal signal is applied to a speaker to be tested through a connected analog sweep oscillator. It detects the test sound generated from the speaker through a microphone, and detects a frequency component other than the frequency component that is sweeped in real time and makes a data of this value to adjust and set the gain value. Speaker characteristic instrument, characterized in that for measuring. 인가 된 전기 신호를 받아 가청주파수대의 소리를 출력하는 스피커의 임피던스, 출력음압레벨(Sound Pressure Level - SPL) 등의 스피커 특성을 측정하는 스피커 특성 계측기에 있어서,In the speaker characteristic measuring instrument for measuring the characteristics of the speaker, such as impedance, output pressure level (SPL) of the speaker that receives the applied electrical signal and outputs sound in the audible frequency band, 테스트할 스피커에 테스트용 전기적 신호를 인가하는 테스트 신호 발생수단(10)과;Test signal generating means (10) for applying a test electrical signal to a speaker to be tested; 상기 테스트 신호 발생수단(10)에서 발생된 전기적 신호가 스피커를 통해 소리를 발생하면, 스피커에서 발생된 소리를 마이크를 통해 음을 감지하여 스피커에서 발생된 소리를 검출, 측정하는 신호음 검출/측정수단(20)과;When the electrical signal generated by the test signal generating means 10 generates a sound through the speaker, the signal sound detection / measurement means for detecting and measuring the sound generated by the speaker by detecting the sound generated by the speaker through the microphone. 20; 상기 테스트 신호 발생수단(20)과, 신호음 검출/측정부의 데이타를 연산하거나 저장하는 연산수단(30)과;Calculation means (30) for calculating or storing data of the test signal generation means (20) and the signal detection / measurement unit; 상기 연산수단(30)에서 연산되거나 저장된 수치나 그 값을 표시하는 디스플레이수단(40)으로 구성한 것을 특징으로 하는 스피커 특성 계측기.And a display means (40) for displaying the numerical value calculated or stored in the calculation means (30). 제 3항에 있어서, 상기 테스트 신호 발생수단(10)은,The method of claim 3, wherein the test signal generating means 10, 스피커(170)에 아날로그형식의 테스트용 음원신호를 인가하는 소인 정현파 발진부(Sweep Sine wave Generator)(110)와;A sweep sine wave generator 110 for applying an analog test sound source signal to the speaker 170; 스피커에 인가되는 전압을 조절하는 전압 조절부(120)와;A voltage adjusting unit 120 controlling a voltage applied to the speaker; 상기 소인 정현파 발진부(110)의 전기적 신호와 전압 조절부에서 인가된 전원과 합성하여 저전압 노이즈를 감쇄시키는 볼륨부(130)와;A volume unit 130 configured to attenuate low voltage noise by combining with the electrical signal of the sine wave oscillator 110 and the power applied from the voltage adjusting unit; 상기 볼륨부(130)에서 출력된 전기적 신호를 증폭하는 음원 증폭부(Audio Power Amplifier)(140)와;An audio power amplifier 140 for amplifying the electrical signal output from the volume unit 130; 상기 음원 증폭부(140)에 내부에 포함된 분류기(shunt)로 전류를 검출하여 출력 전압과 연산하여 임피던스를 검출하는 임피던스 검출부(150)와;An impedance detector (150) for detecting current by detecting a current with a shunt included in the sound source amplifier 140 and calculating the output voltage; 상기 음원 증폭부(140)에서 인가된 소인 주파수(Sweep Frequency)별 실시간 임피던스를 조합하여 공진 주파수 검출하는 최저 공진 주파수(Fo) 검출부(160)와;A lowest resonant frequency (Fo) detection unit 160 for detecting a resonant frequency by combining real-time impedance for each sweep frequency applied by the sound source amplifier 140; 상기 음원 증폭부(140)에서 증폭된 전기적 신호를 인가 받아 소리를 출력하는 스피커(170)로 구성하고, 신호음 검출/측정수단(20)은 상기 스피커(170)에서 발생된 음을 감지하는 마이크(210)와;The speaker 170 is configured to output the sound by receiving the electric signal amplified by the sound source amplification unit 140, and the signal sound detecting / measuring means 20 includes a microphone for detecting the sound generated by the speaker 170 ( 210; 상기 마이크(210)에서 감지된 전기적 신호를 증폭하는 감지신호 증폭부(Mic Amplifier)(220)와;A detection signal amplifier 220 for amplifying the electrical signal detected by the microphone 210; 상기 감지신호 증폭부(220)에서 증폭된 전기적 신호를 음압을 측정, 표시하는 출력음압레벨(Sound Pressure Level - SPL) 검출부(230)와;An output sound pressure level (SPL) detector 230 for measuring and displaying a sound pressure of the electrical signal amplified by the detection signal amplifier 220; 상기 감지신호 증폭부(220)에서 증폭되어 인가된 전기적 신호에서 음질을 분석하는 FFT(Fast Fourier Transform)분석부(240)와;A fast fourier transform (FFT) analyzer 240 for analyzing sound quality from the electric signal amplified by the sense signal amplifier 220; 상기 입력신호 증폭부에서 증폭된 전기적 신호를 소리신호로 증폭하는 소리신호 증폭부(250)와;A sound signal amplifier 250 for amplifying the electrical signal amplified by the input signal amplifier into a sound signal; 상기 소리신호 증폭부(250)에서 증폭된 소리신호를 청각으로 들을수 있도록 헤드폰(260)을 구성한 것을 특징으로 하는 스피커 특성 계측기.Speaker characteristics measuring instrument, characterized in that the headphone 260 is configured to listen to the sound signal amplified by the sound signal amplification unit 250 in an audible manner.
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