KR100850269B1 - 광선로 계측기에서의 광케이블 분리 판단 방법 및 광선로계측기 - Google Patents

광선로 계측기에서의 광케이블 분리 판단 방법 및 광선로계측기 Download PDF

Info

Publication number
KR100850269B1
KR100850269B1 KR1020060097806A KR20060097806A KR100850269B1 KR 100850269 B1 KR100850269 B1 KR 100850269B1 KR 1020060097806 A KR1020060097806 A KR 1020060097806A KR 20060097806 A KR20060097806 A KR 20060097806A KR 100850269 B1 KR100850269 B1 KR 100850269B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
optical
optical cable
pulse
signal
time
Prior art date
Application number
KR1020060097806A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20080032291A (ko
Inventor
성진호
김용민
홍성율
양성욱
Original Assignee
(주)나노알앤씨
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by (주)나노알앤씨 filed Critical (주)나노알앤씨
Priority to KR1020060097806A priority Critical patent/KR100850269B1/ko
Publication of KR20080032291A publication Critical patent/KR20080032291A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100850269B1 publication Critical patent/KR100850269B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/10—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type
    • G02B6/12—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type of the integrated circuit kind
    • G02B6/12007—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type of the integrated circuit kind forming wavelength selective elements, e.g. multiplexer, demultiplexer
    • G02B6/12009—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type of the integrated circuit kind forming wavelength selective elements, e.g. multiplexer, demultiplexer comprising arrayed waveguide grating [AWG] devices, i.e. with a phased array of waveguides
    • G02B6/12016—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type of the integrated circuit kind forming wavelength selective elements, e.g. multiplexer, demultiplexer comprising arrayed waveguide grating [AWG] devices, i.e. with a phased array of waveguides characterised by the input or output waveguides, e.g. tapered waveguide ends, coupled together pairs of output waveguides
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/10—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void
    • G01J1/20—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void intensity of the measured or reference value being varied to equalise their effects at the detectors, e.g. by varying incidence angle
    • G01J1/28—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void intensity of the measured or reference value being varied to equalise their effects at the detectors, e.g. by varying incidence angle using variation of intensity or distance of source
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
    • G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/24—Coupling light guides
    • G02B6/42—Coupling light guides with opto-electronic elements
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B3/00—Line transmission systems
    • H04B3/02—Details
    • H04B3/46—Monitoring; Testing

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

광케이블에 광 펄스를 입력하고 당해 광케이블로부터 돌아오는 광 파형에 근거하여 광케이블을 검사하는 광선로 계측기에서, 펄스 구동 신호를 입력하여 이에 대응하는 광 펄스를 발생시키는 광 펄스 발생 단계와, 상기 광 펄스 발생 단계에서 출사되는 광 펄스를 검사 대상의 광케이블에 입사시키고, 또한 이 광케이블로부터 돌아오는 광을 꺼내는 광 분기 단계와, 상기 광 분기 단계에서 꺼낸 광을 전기 신호로 변환하고, 이 전기 신호를 디지털 신호로 변환하여 출력하는 A/D 변환 단계와, 상기 A/D 변환 단계에서 출력한 디지털 신호를 수집하여 처리하는 신호 처리 단계와, 상기 신호 처리 단계에서 수집된 파형의 크기가 최초로 기준1값이 되는 시각이 기준시간 이내인 경우에, 광케이블이 분리되었다고 판단하고, 상기 광 펄스의 발생을 중지하는 광케이블 분리 판단 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광케이블 분리 판단 방법 및 그 광선로 계측기를 제공한다. 특수한 장치를 추가하지 않고도 간단한 방법에 의해 광케이블의 분리를 판단함으로써 광원인 레이저 다이오드에 의한 사용자의 시력 손상을 방지할 수 있게 된다.

Description

광선로 계측기에서의 광케이블 분리 판단 방법 및 광선로 계측기{DETERMINATION OF OPTICAL CABLE DETACHMENT FROM OPTICAL TIME DOMAIN REFLECTOMETER AND OPTICAL TIME DOMAIN REFLECTOMETER}
도 1은 OTDR의 기본적인 구성을 도시하는 블록도이다.
도 2는 광케이블이 OTDR에 부착되어 있을 때의 시간에 따른 측정전압의 파형도이다.
도 3은 광케이블이 OTDR로부터 분리되었을 때의 시간에 따른 측정전압의 파형도이다.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 광케이블 분리 판단 방법을 나타내는 플로우차트이다.
본 발명은 광케이블에 광 펄스를 입력하고 광케이블로부터 돌아오는 광 파형에 근거하여 광케이블을 검사하는 광선로 계측기에 있어서 광케이블 분리 판단 방법 및 광선로 계측기에 관한 것으로서, 특히 종래의 구조를 변경하지 않고도 간단한 방법에 의해 광케이블의 분리를 판단함으로써 광원인 레이저 다이오드에 의한 사용자의 시력 손상을 방지하기 위한 광케이블 분리 판단 방법 및 광선로 계측기에 관한 것이다.
광케이블은 일지점에서 타지점으로 광신호를 보내 정보를 전달하는 매체이다. 광케이블은 대부분 지하에서 장거리에 걸쳐 설치되어 있기 때문에, 특정 지점에서 단선 등에 의한 케이블 불량이 발생한 경우 불량 지점을 정확하게 측정하여 조치하는 것이 필요하다. 본 발명의 광선로 계측기는 광케이블의 불량 지점을 비파괴 검사로서 정확하게 측정하기 위한 장치로서, 이하 OTDR(Optical Time Domain Reflectometer)이라고 한다.
도 1은 OTDR의 기본적인 구성을 도시하는 블록도이다. 도 1의 블록도를 참조하여 OTDR의 개략적인 동작을 설명하면 다음과 같다.
먼저, 측정을 위한 대상이 되는 검사용 광케이블(110)의 일단을 OTDR(100)의 커넥터(109)에 연결한다. 그리고, OTDR(100)의 조작 패널(미도시)을 조작하여 측정의 개시가 지시되면, 신호처리부(101)에서 펄스 구동 신호가 발생되어 펄스 생성기(102)에 입력된다. 펄스 생성기(102)에서는 입력된 펄스 구동 신호에 대응하는 펄스를 발생시켜 레이저 다이오드(103)에 입력하고, 레이저 다이오드(103)에 의해 발생된 광 펄스가 방향성 결합기(104)와 커넥터(109)를 통해 검사용 광케이블(110)에 입력되게 된다.
그런데, 광케이블에서는 광이 완전히 통과하는 것이 아니라 광케이블의 모든 부분에 걸쳐 일정 부분 반사되어 돌아오게 되고, 특히 광케이블의 특정 부분에서 단선 등의 불량이 발생된 경우 입력된 광 펄스에 비하여 작지 않은 크기의 신호가 불량 지점에서 반사되어 광 펄스의 입력단으로 돌아오게 된다. OTDR(100)은 이와 같이, 발생시킨 광 펄스가 반사되어 돌아오는 신호의 파형을 계측함으로써 광케이블의 불량 지점을 정확하게 측정할 수 있는 것이다.
구체적으로는, 발생시킨 광 펄스가 반사되어 돌아오는 광 신호는 커넥터(109)를 통해 포토 다이오드 등의 광 검출기(105)에 입력되고, 광 검출기(105)에 의해 전기 신호로 변환된다. 이 전기 신호는 크기가 미약하기 때문에 일반적으로 증폭부(106)에 의해 증폭된 후, A/D 컨버터(107)에 의해 디지털 신호로 변환된다. 변환된 디지털 신호는 신호처리부(101)에서 수집되고, 신호처리부(101)는 수집된 파형을 디스플레이(108)에 표시하는 동시에 광 펄스의 발생 시간과 반사되어 돌아온 광 신호의 측정 시간을 비교하여 광케이블의 불량 지점과의 거리를 연산하고 디스플레이(108)에 표시하게 된다. 이로써, OTDR(100)을 이용하여 광케이블의 불량 지점을 파악할 수 있다.
현재 사용되는 통신용 광케이블의 품질이 우수하여 빛의 투과율이 좋기 때문에 입력된 빛 중에서 산란하여 반사되는 비율이 매우 작다. 따라서 반사되는 빛의 양을 크게 하여 측정의 정밀도를 향상시키기 위해서 레이저 다이오드를 일반 통신에서 사용하는 것보다 출력이 강한 것을 사용하게 된다.
그런데, 이러한 직진성이 강한 레이저 다이오드 광원이 사용자의 눈에 직접 입사되면 시력에 일시적 또는 영구적인 장애를 초래할 수 있다. 특히 레이저 다이오드의 광 파장이 1310nm, 1550nm 등과 같이 육안으로 확인하기 어려운 영역이기 때문에 광원의 동작 여부와 광 경로를 인지하여 회피하는 것이 불가능하다. 또한 수집된 광 파형을 지속적으로 표시하는 실시간 측정에서는 사용자들이 광케이블의 부착과 분리를 반복하게 되는데 이 때 사용자의 부주의로 레이저 다이오드를 동작시킨 상태에서 작업을 하는 경우에 시력에 장애를 일으킬 가능성은 더욱 심각해진다.
이러한 문제를 해결하기 위해서 광케이블이 연결되는 커넥터에 접속 상태를 진단할 수 있는 장치를 추가하는 것을 생각해볼 수 있으나, 특수한 광케이블 커넥터가 필요하고 관련 회로가 복잡해진다는 문제점이 있다.
본 발명은, 상기의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 특수한 장치를 추가하지 않고도 간단한 방법에 의해 광케이블의 분리를 판단함으로써 광원인 레이저 다이오드에 의한 사용자의 시력 손상을 방지하기 위한 광케이블 분리 판단 방법 및 광선로 계측기를 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명은 상기 목적을 달성하기 위해서, 광케이블에 광 펄스를 입력하고 당해 광케이블로부터 돌아오는 광 파형에 근거하여 광케이블을 검사하는 광선로 계측기에서, 펄스 구동 신호를 입력하여 이에 대응하는 광 펄스를 발생시키는 광 펄스 발생 단계와, 상기 광 펄스 발생 단계에서 출사되는 광 펄스를 검사 대상의 광케이블에 입사시키고, 또한 이 광케이블로부터 돌아오는 광을 꺼내는 광 분기 단계와, 상기 광 분기 단계에서 꺼낸 광을 전기 신호로 변환하고, 이 전기 신호를 디지털 신호로 변환하여 출력하는 A/D 변환 단계와, 상기 A/D 변환 단계에서 출력한 디지 털 신호를 수집하여 처리하는 신호 처리 단계와, 상기 신호 처리 단계에서 수집된 파형의 크기가 최초로 기준1값이 되는 시각이 기준시간 이내인 경우에, 광케이블이 분리되었다고 판단하고, 상기 광 펄스의 발생을 중지하는 광케이블 분리 판단 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광케이블 분리 판단 방법을 제공한다. 이로써, 특수한 장치를 추가하지 않고도 간단한 방법에 의해 광케이블의 분리를 판단함으로써 광원인 레이저 다이오드에 의한 사용자의 시력 손상을 방지할 수 있게 된다.
이 때, 상기 광케이블 분리 판단 단계에 있어서, 수집된 파형의 최대 크기가 기준2값 이상인 조건을 더 만족하는 경우에, 광케이블이 분리되었다고 판단하는 것이 바람직하다. 또한, 상기 광케이블 분리 판단 단계는, 소정수의 파형을 수집할 때마다 주기적으로 이루어지는 것이 바람직하다.
그리고, 본 발명은 상기 목적을 달성하기 위해서, 광케이블에 광 펄스를 입력하고 당해 광케이블로부터 돌아오는 광 파형에 근거하여 광케이블을 검사하는 광선로 계측기에 있어서, 펄스 구동 신호가 입력되어 이에 대응하는 광 펄스를 발생시키는 광 펄스 발생부와, 상기 광 펄스 발생부로부터 출사되는 광 펄스를 검사 대상의 광케이블에 입사시키고, 또한 이 광케이블로부터 돌아오는 광을 꺼내는 광 분기부와, 상기 광 분기부가 꺼낸 광을 전기 신호로 변환하는 수광부와, 상기 수광부가 변환한 전기 신호를 디지털 신호로 변환하여 출력하는 A/D 컨버터와, 상기 A/D 컨버터가 출력한 디지털 신호를 수집하여 처리하는 신호 처리부를 구비하고, 상기 신호 처리부는, 수집된 파형의 크기가 최초로 기준1값이 되는 시각이 기준시간 이내인 경우에, 광케이블이 분리되었다고 판단하고, 상기 광 펄스 발생부의 동작을 중지시키는 것을 특징으로 하는 광선로 계측기를 제공한다. 또한, 상기 신호 처리부는, 수집된 파형의 최대 크기가 기준2값 이상인 조건을 더 만족하는 경우에, 광케이블이 분리되었다고 판단하는 것이 바람직하고, 상기 신호처리부에서 광케이블의 분리를 판단하는 것은, 소정수의 파형을 수집할 때마다 주기적으로 이루어지는 것이 바람직하다.
이하, 본 발명의 이해를 돕기 위하여 본 발명의 바람직한 실시예를 도면을 참조하여 상세하게 설명한다. 이하의 실시예는 본 발명을 보다 쉽게 이해하기 위하여 제공하는 것이고, 본 실시예에 의해 본 발명이 한정되는 것은 아니다.
본 발명의 광선로 계측기(OTDR)는 기본적인 구성에 있어서는 도 1에 도시된 OTDR(100)의 구조를 채택할 수 있으며, 신호처리부(101)에 의해서 광 케이블(110)이 커넥터(109)로부터 분리된 것이 판단되는 점이 종래의 기술과 차이가 나는 본원 발명의 특징을 이룬다.
도 2는 광케이블이 OTDR에 부착되어 있을 때의 시간에 따른 측정전압의 파형도이다. 가로축은 시간을 나타내고 세로축은 반사되는 광 파형을 전기신호로 변환한 측정전압의 크기(dB값)를 나타낸다. 측정전압에 있어서 노이즈 성분을 0dB로 하면 최대 측정전압은 20dB 정도가 된다.
레이저 다이오드(103)에서 광 펄스가 발생되면, 이 광 펄스는 방향성 결합기(104)를 거쳐 커넥터(109)를 통해 검사용 광케이블(110)에 입력되는데, 커넥터(109)에서 소정량 반사된다. 그리고, 이 반사파는 방향성 결합기(104)와 광검출 기(105)를 거쳐 A/D 컨버터(107)에 의해 디지털 신호로 변환된 후, 신호처리부(101)에서 수집된다. 이것이 도 2의 제1반사파(21)로서 나타난다. 40km의 광케이블을 예로 들 경우 제1반사파(21)는 40㎲에서 측정된다.
그리고, 커넥터(109)에서 반사되지 않고 검사용 광케이블을 통해 전송된 광 펄스는 검사용 광케이블의 끝단 또는 불량지점에서 반사되어 도 2의 제2반사파(22)로서 나타난다. 또 제2반사파(22)가 측정된 이후에도 이 광 신호가 다시 끝단까지 반사되어 커넥터(109)로 돌아와 측정되는 제3반사파(23)가 측정된다. 그 이후의 반사파는 노이즈에 혼입되는 것으로 도시하였다.
일반적으로 광선로 계측기에서는 광신호를 정확하게 검출해내기 위해서 반복 샘플링 방법을 이용한다. 즉, 주기적으로 계속적으로 광 펄스를 발생시켜, 이와 같이 주기적으로 발생된 광 펄스에 의해 측정된 반사파를 수집하여 이를 평균연산함으로써 깨끗한 형상의 반사 파형을 측정할 수 있게 된다. 이를 도시한 것이 도 2라고 생각하면 된다.
이와 같이 커넥터(109)에 광케이블(110)이 정상적으로 부착되어 있는 경우에는 도 2에 도시한 바와 같이, 제1반사파(21), 제2반사파(22), 제3반사파(23) 등이 주기적으로 측정되고, 이 시간 구간에 걸쳐서 측정되는 파형의 크기가 직선으로 감소하게 된다.
도 3은 광케이블이 OTDR로부터 분리되었을 때의 시간에 따른 측정전압의 파형도이다. 여기서 알 수 있는 바와 같이, 정상적으로 광케이블이 연결되어 있는 경우에는 도 2와 같이 주기적인 반사파가 측정되는 것에 비하여, 광케이블이 OTDR 의 커넥터에서 분리되어 있는 경우에는 발생된 광 펄스가 커넥터 부분에서만 크게 반사하여 파형이 측정되고 그 이후에는 노이즈 성분만이 존재하게 된다.
또한 수집된 파형의 최대 크기는 도 2의 20dB에 비해서 5dB이 큰 25dB 정도가 된다. 이는 광케이블이 커넥터에 정상적으로 연결되어 있는 경우에는 굴절률이 동일한 매질이 매칭되어 있는 반면에, 광케이블이 분리된 경우에는 공기와 직접적으로 인접하여 매질의 차이가 생겨, 반사되는 파형이 일시적으로 크게 나타나는 것으로 생각된다.
본 발명은 도 3의 파형에 착안하여 이루어진 것으로서, 광케이블이 분리되어 있는 경우에는 초기에 순간적으로 큰 크기의 파형이 측정되고 짧은 시간 이후에 측정 파형의 크기가 급격히 감소되는 것을 판단하는 것이다. 즉, 도 3에 있어서 수집된 파형의 크기가 최초로 기준1값이 되는 시각 t1이 기준시간 이내인 경우에, 광케이블이 분리되어 있다고 판단한다. 여기서 기준1값은 노이즈 신호의 최대치에 소정값을 더한 값이고, 기준시간은 OTDR의 기기의 사양에 따라 실험적으로 결정한 값이다. 예를 들어 발생된 광 펄스의 펄스폭 시간의 5배 정도의 값으로 할 수 있다.
기준1값과 기준시간 만으로도 광케이블의 분리를 판단할 수 있지만, 광케이블이 분리된 경우에는 수집된 파형의 최대 크기가 증가되는 것에 착안하여, 측정전압의 최대 크기가 기준2값 이상인 것을 추가적인 판단조건으로 할 수 있다. 이 때 기준2값은 광케이블이 정상적으로 연결되었을 경우의 초기 반사파형의 크기보다 약간 큰 값이면 되고, 도 2 및 도 3의 경우에는 22dB를 기준2값으로 할 수 있다. 이 러한 판단은 기존의 OTDR에 마련된 신호처리부, 또는 이와 동등하게 취급할 수 있는 로직 회로, CPU 등으로 프로그래밍적으로 구현가능하기 때문에 본 발명을 실시하기 위해서 추가적인 장치는 필요하지 않게 된다.
도 4에 도시된 본 발명의 일실시예에 따른 광케이블 분리 판단 방법을 나타내는 플로우차트를 참조하여, 본 발명의 광케이블 분리 판단 방법을 설명하면 다음과 같다.
단계 S1에서 측정이 시작되고, 단계 S2에서 n회 수집이 이루어졌다고 판단된 경우에 단계 S3으로 진행되게 된다. 도 4의 플로우 차트의 S3 이하는 소위 인터럽트 방식에 의해 구현이 가능하다. 즉 단계 S2의 조건이 만족하는 경우에만 단계 S3 이하의 루틴이 실행되도록 설정가능하다. 여기 n의 값은 1 이상의 자연수이고, n=1 인 경우에는 광펄스의 발생시마다 광케이블의 분리를 판단하게 된다. 그러나 이 경우에는 OTDR에 불필요하게 과도한 부담을 주게 되고, 실제로 n=1에 해당하는 시간은 매우 짧기 때문에 OTDR 기기에 따라 적정한 n값을 설정해 주면 된다. 이와 같이 주기적으로 광케이블의 분리를 판단함에 따라 실시간으로 즉각적인 대처를 할 수 있게 된다.
단계 S2에서 n회의 수집이 완료되었다고 판단된 경우에, n회의 수집된 데이터가 평균연산되어 파형이 완성되고, 단계 S3에서 최초로 기준1값이 된 시각이 기준시간 이내라고 판단되는 경우에는 단계 S4로 진행된다. 물론, 상술한 바와 같이 단계 S4를 건너뛰고 바로 단계 S5로 진행할 수도 있다. 단계 S4에서는 최대값이 기준2값 이상인 경우인지를 판단하고, 판단결과 최대값이 광케이블의 정상적인 연 결시보다 크게 나타나는 경우에는, 단계 S5로 진행한다.
단계 S5에서는 케이블 분리상태를 처리하게 된다. 즉, OTDR의 커넥터로부터 광케이블이 분리되어 있다고 판단하고, 도 1의 펄스 생성기(102)의 동작을 중지시키게 된다. 따라서, 레이저 다이오드로부터 발생되는 광펄스가 존재하지 않게 되고, 광케이블의 분리시 즉각적으로 사용자의 시력을 보호할 수 있는 상태가 되는 것이다.
또한, OTDR에 일반적으로 설치되어 있는 디스플레이에 광케이블이 분리되었음을 나타내는 경고문구를 표시할 수 있다. 또한 사용자가 광케이블을 다시 부착하고, 광케이블의 부착을 입력하는 조작에 의해 OTDR은 광 펄스를 다시 발생시키고 광 파형의 측정을 재개할 수 있게 된다.
한편, 본 발명은 전술한 실시예에만 한정되는 것이 아니라 본 발명의 요지를 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지로 개량, 변경, 대체 또는 부가하여 실시할 수 있는 것임은 당해 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 용이하게 이해할 수 있을 것이다. 이러한 개량, 변경, 대체 또는 부가에 의한 실시가 이하의 첨부된 특허청구범위의 범주에 속하는 것이라면 그 기술사상 역시 본 발명에 속하는 것으로 보아야 한다.
본 발명에 의하면, 특수한 장치를 추가하지 않고도 간단한 방법에 의해 광케이블의 분리를 판단함으로써 광원인 레이저 다이오드에 의한 사용자의 시력 손상을 방지할 수 있게 된다.

Claims (6)

  1. 삭제
  2. 광케이블에 광 펄스를 입력하고 당해 광케이블로부터 돌아오는 광 파형에 근거하여 광케이블을 검사하는 광선로 계측기에서의 광케이블 분리 판단 방법에 있어서,
    펄스 구동 신호를 입력하여 이에 대응하는 광 펄스를 발생시키는 광 펄스 발생 단계와,
    상기 광 펄스 발생 단계에서 출사되는 광 펄스를 검사 대상의 광케이블에 입사시키고, 또한 이 광케이블로부터 돌아오는 광을 꺼내는 광 분기 단계와,
    상기 광 분기 단계에서 꺼낸 광을 전기 신호로 변환하고, 이 전기 신호를 디지털 신호로 변환하여 출력하는 A/D 변환 단계와,
    상기 A/D 변환 단계에서 출력한 디지털 신호를 수집하여 처리하는 신호 처리 단계와,
    상기 신호 처리 단계에서 수집된 파형의 크기가 최초로 기준1값이 되는 시각이 기준시간 이내이고, 수집된 파형의 최대 크기가 기준2값 이상인 조건을 만족하는 경우에, 광케이블이 분리되었다고 판단하고, 상기 광 펄스의 발생을 중지하는 광케이블 분리 판단 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광케이블 분리 판단 방법.
  3. 청구항 2에 있어서,
    상기 광케이블 분리 판단 단계는, 소정수의 파형을 수집할 때마다 주기적으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 광케이블 분리 판단 방법.
  4. 삭제
  5. 광케이블에 광 펄스를 입력하고 당해 광케이블로부터 돌아오는 광 파형에 근거하여 광케이블을 검사하는 광선로 계측기에 있어서,
    펄스 구동 신호가 입력되어 이에 대응하는 광 펄스를 발생시키는 광 펄스 발생부와,
    상기 광 펄스 발생부로부터 출사되는 광 펄스를 검사 대상의 광케이블에 입사시키고, 또한 이 광케이블로부터 돌아오는 광을 꺼내는 광 분기부와,
    상기 광 분기부가 꺼낸 광을 전기 신호로 변환하는 수광부와,
    상기 수광부가 변환한 전기 신호를 디지털 신호로 변환하여 출력하는 A/D 컨버터와,
    상기 A/D 컨버터가 출력한 디지털 신호를 수집하여 처리하는 신호 처리부를 구비하고,
    상기 신호 처리부는, 수집된 파형의 크기가 최초로 기준1값이 되는 시각이 기준시간 이내이고, 수집된 파형의 최대 크기가 기준2값 이상인 조건을 만족하는 경우에, 광케이블이 분리되었다고 판단하고, 상기 광 펄스 발생부의 동작을 중지시키는 것을 특징으로 하는 광선로 계측기.
  6. 청구항 5에 있어서,
    상기 신호처리부에서 광케이블의 분리를 판단하는 것은, 소정수의 파형을 수집할 때마다 주기적으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 광선로 계측기.
KR1020060097806A 2006-10-09 2006-10-09 광선로 계측기에서의 광케이블 분리 판단 방법 및 광선로계측기 KR100850269B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060097806A KR100850269B1 (ko) 2006-10-09 2006-10-09 광선로 계측기에서의 광케이블 분리 판단 방법 및 광선로계측기

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060097806A KR100850269B1 (ko) 2006-10-09 2006-10-09 광선로 계측기에서의 광케이블 분리 판단 방법 및 광선로계측기

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20080032291A KR20080032291A (ko) 2008-04-15
KR100850269B1 true KR100850269B1 (ko) 2008-08-04

Family

ID=39533067

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020060097806A KR100850269B1 (ko) 2006-10-09 2006-10-09 광선로 계측기에서의 광케이블 분리 판단 방법 및 광선로계측기

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100850269B1 (ko)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56143963A (en) * 1980-04-11 1981-11-10 Nippon Kokan Kk <Nkk> Method for detecting abnormality occuring point in long-distance transmission line
JPS626135A (ja) 1985-07-03 1987-01-13 Fuji Electric Co Ltd 光伝送ラインの断線検出方法
JPH01206306A (ja) * 1988-02-13 1989-08-18 Fujitsu Ltd 光送信器の発光制御方法
JPH0674862A (ja) * 1992-08-25 1994-03-18 Furukawa Electric Co Ltd:The 光伝送路の断線検知方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56143963A (en) * 1980-04-11 1981-11-10 Nippon Kokan Kk <Nkk> Method for detecting abnormality occuring point in long-distance transmission line
JPS626135A (ja) 1985-07-03 1987-01-13 Fuji Electric Co Ltd 光伝送ラインの断線検出方法
JPH01206306A (ja) * 1988-02-13 1989-08-18 Fujitsu Ltd 光送信器の発光制御方法
JPH0674862A (ja) * 1992-08-25 1994-03-18 Furukawa Electric Co Ltd:The 光伝送路の断線検知方法

Also Published As

Publication number Publication date
KR20080032291A (ko) 2008-04-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP2577890B1 (en) Multiple-acquisition otdr method and device
US7016024B2 (en) Accuracy automated optical time domain reflectometry optical return loss measurements using a “Smart” Test Fiber Module
US6946646B2 (en) Method of evaluating fiber PMD using polarization optical time domain reflectometry
US20210255056A1 (en) Optical testing devices and related methods
CN108957209B (zh) 一种通信光纤光缆生产用的断线自动检测装置
US7684695B1 (en) Optical diagnostic indicator
US20240022323A1 (en) Optical time-domain reflectometer (otdr) event detection and light power level measurement-based fiber optic link certification
US20040070750A1 (en) Optical time domain reflectometry system and method
JPH03150442A (ja) 光学故障点探索装置
KR100796313B1 (ko) 광선로 계측기 및 광선로 계측 방법
JP2016099166A (ja) 光ファイバ特性解析装置および光ファイバ特性解析方法
KR100850269B1 (ko) 광선로 계측기에서의 광케이블 분리 판단 방법 및 광선로계측기
US7317518B2 (en) Determination of an optical property of a DUT by OTDR measurement
Stopiński et al. Optical time domain reflectometer based on application specific photonic integrated circuit
CN103763023A (zh) 一种用于无源光网络测试的onu状态测试仪
CN108337044B (zh) 一种基于白光干涉的高灵敏度光缆普查装置及方法
CN113432630B (zh) 分布式光纤传感监测系统
JP2008032592A (ja) 光ファイバ路線監視システム
CN205912058U (zh) 一种光纤在线监测系统
JP2006038647A (ja) Ｏｔｄｒ測定方法
Gagnon The Fundamentals of an OTDR
CN114486179B (zh) 一种反卷积滤波的高精度光纤质量检测方法及系统
JP3465733B2 (ja) 光パルス試験方法
US20230152152A1 (en) Automatic fiber end point detection using coherent optical time domain reflectometry
RU44389U1 (ru) Оптический интегрирующий рефлектометр

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20120727

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130729

Year of fee payment: 6

LAPS Lapse due to unpaid annual fee