KR100837875B1 - Apparatus for imprint lithography process - Google Patents
Apparatus for imprint lithography process Download PDFInfo
- Publication number
- KR100837875B1 KR100837875B1 KR1020070005979A KR20070005979A KR100837875B1 KR 100837875 B1 KR100837875 B1 KR 100837875B1 KR 1020070005979 A KR1020070005979 A KR 1020070005979A KR 20070005979 A KR20070005979 A KR 20070005979A KR 100837875 B1 KR100837875 B1 KR 100837875B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- substrate
- chamber
- light source
- mold
- case
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A47—FURNITURE; DOMESTIC ARTICLES OR APPLIANCES; COFFEE MILLS; SPICE MILLS; SUCTION CLEANERS IN GENERAL
- A47L—DOMESTIC WASHING OR CLEANING; SUCTION CLEANERS IN GENERAL
- A47L15/00—Washing or rinsing machines for crockery or tableware
- A47L15/14—Washing or rinsing machines for crockery or tableware with stationary crockery baskets and spraying devices within the cleaning chamber
- A47L15/18—Washing or rinsing machines for crockery or tableware with stationary crockery baskets and spraying devices within the cleaning chamber with movably-mounted spraying devices
- A47L15/22—Rotary spraying devices
Abstract
Description
도 1은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 임프린트 리소그래피 공정용 장치를 도시하는 사시도이다.1 is a perspective view showing an apparatus for an imprint lithography process according to a preferred embodiment of the present invention.
도 2는 도 1에 도시된 임프린트 리소그래피 공정용 장치의 측면도이다.FIG. 2 is a side view of the apparatus for an imprint lithography process shown in FIG. 1.
도 3은 도 1에 도시된 이송수단의 확대 사시도이다.3 is an enlarged perspective view of the transfer means shown in FIG.
도 4는 도 1에 도시된 광원의 다른 실시예를 보여주는 사시도이다.4 is a perspective view illustrating another embodiment of the light source illustrated in FIG. 1.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>
1: 제1 챔버부(First chamber) 3: 이송수단1: First chamber 3: Transfer means
5: 제2 챔버부(Second chamber) 7: 제1 케이스(First case)5: Second chamber 7: First case
9: 스테이지(Stage) 17,19: 핸드지그(Hand jig)9:
본 발명은 임프린트 리소그래피(imprint lithoGraphy)공정용 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 노광공정이 진행되는 챔버를 별도로 구비하고, 광원을 내부에 배치함으로써 대면적화된 기판을 용이하게 경화시킬 수 있는 임프린트 리소그래 피 공정용 장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE
일반적으로, 임프린트 리소그래피 공정은 패턴이 구비된 스템프를 기판 위에 적층된 레지스트의 표면에 눌러 미세패턴을 기판상에 임프린트하는 기술이다. In general, an imprint lithography process is a technique of imprinting a fine pattern onto a substrate by pressing a patterned stamp onto the surface of a resist stacked on the substrate.
이러한 임프린트 리소그래피 공정은 챔버의 내부에 미세 크기의 회로패턴이 구비된 스탬프를 구비하고, 이러한 스탬프를 기판의 표면에 코팅되어 있는 레지스트의 표면에 접촉한 후, 노광램프 등의 광원에 의하여 기판상에 회로패턴을 임프린트하는 방법이다.The imprint lithography process includes a stamp having a circuit pattern of a fine size inside the chamber, and the stamp is brought into contact with the surface of a resist coated on the surface of the substrate, and then placed on a substrate by a light source such as an exposure lamp. A method of imprinting a circuit pattern.
이와 같은 방법에 의하면 기판의 레지스트에는 스탬프에 각인된 회로패턴이 정반대 형태로 임프린트되고, 이방성 식각 작업을 통하여 레지스트 표면에 눌려진 부분에 남아 있는 잔여 레지스트를 완전히 제거하여 완성하게 된다. According to this method, the circuit pattern imprinted on the stamp is imprinted in the resist of the substrate, and the anisotropic etching process completely removes the remaining resist remaining on the pressed part of the resist surface.
그러나, 이러한 임프린트 리소그래피 공정들은 다음과 같은 문제점이 있다.However, these imprint lithography processes have the following problems.
첫째, 노광램프와 같은 광원이 챔버의 외부에 배치되므로 기판이 대면적화되는 경우에는 광원의 크기도 증가하게 되므로 임프린트 리소그래피 공정용 장치의 크기가 증가하게 되고, 이로 인한 제조비용이 증가하는 문제점이 있다.First, since a light source such as an exposure lamp is disposed outside the chamber, when the substrate is large in size, the size of the light source also increases, thereby increasing the size of the apparatus for an imprint lithography process, thereby increasing manufacturing cost. .
둘째, 기판이 대면적화 되는 경우, 광원과 기판간의 거리가 멀어짐으로써 고출력의 광원을 구비하여야 하고, 그렇지 않은 경우 회로패턴이 균일하게 경화되지 않는 문제점이 있다.Second, when the substrate becomes large in area, the distance between the light source and the substrate is increased so that a high power light source is provided. Otherwise, the circuit pattern is not uniformly cured.
셋째, 종래 노광공정의 경우 전면경화방식을 적용함으로써 기판 전면에 빛을 조사하기 위하여 많은 양의 광원이 필요하고, 이에 따라 많은 전력이 소요되는 문제점이 있다.Third, in the conventional exposure process, a large amount of light source is required to irradiate light on the entire surface of the substrate by applying the front curing method, and thus there is a problem in that a lot of power is consumed.
넷째, 전면경화방식이므로 기판의 전면에 대하여 균일한 조사를 위해서는 수개의 광원외에 별도로 반사판, 확산판 등의 장비를 구비하여야 하므로 임프린트 리소그래피 공정용 장치의 크기가 증가하는 문제점이 있다.Fourth, because of the front curing method, in order to uniformly irradiate the entire surface of the substrate, in addition to several light sources, equipment such as a reflector and a diffusion plate must be separately provided, thereby increasing the size of the apparatus for an imprint lithography process.
본 발명은 상기한 바와 같은 문제점을 해결하기 위하여 창안된 것으로, 본 발명의 목적은 기판이 대면적화되는 경우에도 기판을 용이하게 경화시킬 수 있고, 그 크기를 소형화할 수 있는 임프린트 리소그래피 공정용 장치를 제공하는데 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide an apparatus for an imprint lithography process, which is capable of easily curing a substrate and miniaturizing its size even when the substrate is large in area. To provide.
본 발명의 다른 목적은 저출력의 광원으로도 기판에 대한 경화가 충분히 이루어질 수 있는 임프린트 리소그래피 공정용 장치를 제공하는데 있다.It is another object of the present invention to provide an apparatus for an imprint lithography process that can be sufficiently cured to a substrate even with a low power light source.
본 발명의 또 다른 목적은 노광공정시 적은 량의 광원으로도 충분한 균일도를 유지할 수 있는 임프린트 리소그래피 공정용 장치를 제공하는데 있다.It is still another object of the present invention to provide an apparatus for an imprint lithography process that can maintain sufficient uniformity even with a small amount of light source during the exposure process.
상기의 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 바람직한 실시예는 기판에 대하여 임프린트 공정을 진행하는 제1 챔버부; 상기 제1 챔버부에 의하여 임프린트된 상기 기판을 노광시키는 제2 챔버부; 그리고 상기 제1 챔버부의 기판을 제2 챔버부로 이송하는 이송수단을 포함하는 임프린트 리소그래피 공정용 장치를 제공한다.In order to achieve the above object, a preferred embodiment of the present invention comprises a first chamber portion for performing an imprint process for the substrate; A second chamber portion exposing the substrate imprinted by the first chamber portion; And it provides an apparatus for an imprint lithography process comprising a transfer means for transferring the substrate of the first chamber portion to the second chamber portion.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 임프린트 리소그래피 공정용 장치의 구조를 상세히 설명한다.Hereinafter, a structure of an apparatus for an imprint lithography process according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 1은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 임프린트 리소그래피 공정용 장치를 도시하는 사시도이고, 도 2는 도 1에 도시된 임프린트 리소그래피 공정용 장치 의 측면도이며, 도 3은 도 1에 도시된 이송수단의 확대 사시도이다.1 is a perspective view showing an apparatus for an imprint lithography process according to a preferred embodiment of the present invention, FIG. 2 is a side view of the apparatus for an imprint lithography process shown in FIG. 1, and FIG. 3 is a view of the conveying means shown in FIG. An enlarged perspective view.
도시된 바와 같이, 본 발명이 제안하는 임프린트 리소그래피 공정용 장치는 기판(G)에 대한 임프린트 공정을 진행하는 제1 챔버부(1)와, 제1 챔버부(1)에 의하여 회로패턴이 임프린트된 기판(G)에 대하여 노광공정을 진행하는 제2 챔버부(5)와, 기판(G)을 상기 제1 챔버부(1)에서 제2 챔버부(5)로 이송하는 이송수단(3)을 포함한다.As shown, the apparatus for an imprint lithography process proposed by the present invention includes a
이러한 구조를 갖는 임프린트 리소그래피 공정용 장치에 있어서, 상기 제1 챔버부(1)는 내부에 일정 공간이 형성되어 기판(G)에 대한 임프린트 공정이 진행되는 제1 케이스(7)를 포함한다. 이때, 상기 제1 케이스(7)의 내부는 진공상태 혹은 대기상태를 유지하여 임프린트 공정을 진행할 수 있다.In the apparatus for an imprint lithography process having such a structure, the
그리고, 상기 제1 케이스(7)의 하부에는 기판(G)을 승하강시키는 스테이지(9)가 구비된다. 이때, 상기 기판(G)의 상면에는 레지스트막(ER)이 형성된 상태이다.The lower part of the
그리고, 상기 스테이지(9)의 상부에는 몰드(21)가 구비되며, 이 몰드(21)의 저면에는 미세한 회로패턴이 형성된 상태이다. 또한, 상기 몰드(21)는 지지 플레이트(15)에 의하여 지지된 상태이며, 한 쌍의 핸드지그(17,19)에 의하여 고정된다.In addition, a
이 상태에서, 상기 스테이지(9)가 상승함으로써 기판(G)이 몰드(21)의 인접위치에 도달한다.In this state, the stage G rises to reach the substrate G in the vicinity of the
그리고, 상기 스테이지(9)상의 기판(G)이 몰드(21)와 합착하게 됨으로써 기판(G)의 상면이 몰드(21)의 저면에 접촉하여 기판(G)상에 회로패턴이 임프린트된 다.Since the substrate G on the
이와 같이 기판(G)상에 회로패턴이 임프린트된 후, 한 쌍의 핸드지그(17,19)가 기판(G)과 몰드(21)를 픽업하여 제1 케이스(7)의 내측에 구비된 제1 컨베이어(25)상에 로딩한다.After the circuit pattern is imprinted on the substrate G as described above, the pair of
그리고, 제1 컨베이어(25)가 구동함으로써 기판(G)과 몰드(21)가 제1 출입구(23)를 통하여 제1 케이스(7)의 외부로 배출된다.As the
이때, 상기 제1 출입구(23)의 일측에는 셔터(도시안됨)가 구비됨으로써 제1 출입구(23)를 개폐할 수 있다. 따라서, 이러한 셔터(도시안됨)에 의하여 제1 케이스(7)의 내부를 밀폐시킬 수 있다.In this case, one side of the
한편, 상기 이송수단(3)은 이와 같이 제1 챔버부(1)로부터 배출된 기판(G)과 몰드(21)를 픽업하여 제2 챔버부(5)로 이송한다.Meanwhile, the transfer means 3 picks up the substrate G and the
보다 상세하게 설명하면, 상기 이송수단(3)은 상기 제1 및 제2 챔버부(1,5)의 사이에 배치된 레일(r)과, 상기 레일(r)상에 이동가능하게 구비되어 기판(G)과 몰드(21)를 픽업하는 제1 및 제2 이송핸드(29,31)를 포함한다.In more detail, the transfer means 3 is provided with a rail r disposed between the first and
상기 레일(r)은 제1 및 제2 챔버부(1,5)의 사이에 배치될 수도 있으며, 혹은 제1 및 제2 챔버부(1,5)의 상부에 배치될 수도 있다.The rail r may be disposed between the first and
그리고, 상기 제1 및 제2 이송핸드(29,31)는 레일(r)에 LM 방식에 의하여 이동가능하게 장착되는 이송바(27)에 의하여 서로 연결된다.The first and
즉, 상기 제1 및 제2 이송핸드(29,31)는 그 상부는 이송바(27)의 저면에 배치된 가이드 레일(28)에 이동가능하게 결합된다. 이때, 상기 이송바(27)의 가이드 레일(28)은 LM 방식이므로 제1 및 제2 이송핸드(29,31)가 이송바(27)를 따라 이동할 수 있다.That is, the first and
따라서, 제1 및 제2 이송핸드(29,31)가 내측 및 외측방향으로 각각 이동할 수 있음으로 다양한 크기의 기판(G) 및 몰드(21)를 픽업할 수 있다.Accordingly, the first and
그리고, 제1 및 제2 이송핸드(29,31)의 하부에는 안착대(33,35)가 각각 구비된다. 이 안착대(33,35)는 각각 내측방향으로 절곡됨으로써 기판(G)의 저면에 접촉할 수 있다.In addition,
따라서, 상기 제1 및 제2 이송핸드(29,31)는 상기 제1 출입구(23)를 통하여 배출되는 기판(G)을 픽업하여 제2 챔버부(5)방향으로 이송시킬 수 있다.Accordingly, the first and
그리고, 상기 제2 챔버부(5)는 그 내부에 일정 공간이 형성되어 기판(G)에 대한 노광공정이 진행되는 제2 케이스(37)와, 상기 제2 케이스(37)의 상부에 구비되어 빛을 조사하는 광원(43)과, 상기 광원(43)의 일정 거리 하부에 배치되어 기판 및 몰드(11)를 이송시키는 다수개의 이송롤러(47)로 이루어진다.In addition, the
이러한 구조를 갖는 제2 챔버부에 있어서, 상기 제2 케이스(37)의 일측에는 제2 출입구(45)가 형성됨으로써 상기 이송수단(3)에 의하여 이송된 기판 및 몰드(11)가 유입될 수 있다. In the second chamber part having such a structure, a
이때, 상기 제2 출입구(45)의 일측에는 셔터(도시안됨)가 구비됨으로써 제2 출입구(45)를 개폐할 수 있다. 따라서, 이러한 셔터(도시안됨)에 의하여 제2 케이스(37)의 내부를 밀폐시킬 수 있다.In this case, one side of the
그리고, 제2 케이스(37)의 내부로 유입된 기판 및 몰드(11)는 상기 다수개의 이송롤러(47)에 안착된 상태로 이송롤러(47)의 회전시 상기 광원(43)의 하부를 순차적으로 통과하게 된다. Subsequently, the
이때, 상기 광원(43)은 바람직하게는 UV 램프(Ultra Violet Ramp)를 포함하며, 제2 케이스(37)의 상부에 고정된 상태이다.At this time, the
따라서, 상기 기판 및 몰드(11)가 이 광원(43)의 하부를 순차적으로 통과하는 스캔방식(Scan Type)에 의하여 노광공정이 진행될 수 있다.Therefore, the exposure process may be performed by a scan type in which the substrate and the
이와 같이, 기판 및 몰드(11)가 광원(43)의 하부를 순차적으로 통과하는 스캔방식에 의하여 노광을 진행하므로, 기판 및 몰드(11)의 전면에 동시에 빛이 조사되는 전면 경화방식에 비하여 기판 및 몰드(11)상의 국부면적에만 빛을 조사하여 노광을 진행하므로 노광효율 및 빛의 균일도가 향상될 수 있다.As described above, since the substrate and the
또한, 광원(43)을 제2 케이스(37)의 내부에 배치하고 스캔방식에 의하여 노광공정을 진행하므로 기판(G)의 크기가 대면적화되는 경우에도 크기를 줄일 수 있다.In addition, since the
그리고, 상기 광원(43)이 제2 케이스(37)의 내부에 장착되어 기판(G)에 근접하게 되므로 저출력의 광원으로도 충분한 경화가 가능하며 빛의 균일도도 향상될 수 있다.In addition, since the
한편, 본 발명의 다른 실시예로써 이동수단(44,46)을 구비하여 광원(43)을 이동식으로 구성함으로써 노광공정을 진행할 수도 있다. On the other hand, as another embodiment of the present invention by providing a moving means 44,46 to configure the
즉, 상기 이동수단(44,46)은 제2 케이스(37)의 상부에 배치되는 가이드(46)와, 이 가이드(46)의 저면에 구비되어 상기 광원(43)을 고정시키는 연결바(44)로 이루어진다. 그리고, 상기 연결바(44)는 LM 방식에 의하여 가이드(46)를 따라 화살표 방향으로 이동가능한 구조이다. That is, the moving
따라서, 상기 광원(43)이 화살표 방향으로 이동하면서 빛을 기판 및 몰드(11)상에 조사함으로써 노광공정을 진행한다. Therefore, the exposure process is performed by irradiating light onto the substrate and the
상기에서는 제1 챔버부(1)와 제2 챔버부(5)의 사이에 이송수단이 배치되어 기판을 이송시키는 것으로 설명하였지만, 본 발명은 이에 한정되는 것은 아니다. In the above description, the transfer means is disposed between the
즉, 제1 및 제2 챔버부(1,5)를 서로 연결함으로써 그 내부가 서로 연통되도록 설치하고, 컨베이어와 같은 이송수단을 배치하여 기판을 이송시킬 수도 있다.That is, by connecting the first and
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 임프린트 리소그래피 공정용 장치의 작동과정을 더욱 상세하게 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described in more detail the operation of the apparatus for an imprint lithography process according to a preferred embodiment of the present invention.
도 1 내지 도 3에 도시된 바와 같이, 기판(G)에 대한 임프린트 공정을 진행하는 경우, 먼저 한 쌍의 핸드지그(17,19)에 의하여 몰드(21)와 지지 플레이트(15)를 로딩하고, 제1 챔버부(1)의 내부에 고정시킨다.1 to 3, when the imprint process is performed on the substrate G, the
그리고, 스테이지(9)의 상부에 기판(G)을 안착시키고, 스테이지(9)를 상승시킴으로써 기판(G)이 몰드(21)의 인접위치에 도달하도록 한다. 이 상태에서 기판(G)의 상면을 몰드(21)의 저면에 접촉시킴으로써 몰드(21)의 회로패턴을 기판(G)상에 임프린트한다.Subsequently, the substrate G is placed on the
이와 같이 기판(G)상에 회로패턴을 임프린트한 후, 한 쌍의 핸드지그(17,19)가 기판(G)과 몰드(21)를 픽업하여 제1 케이스(7)의 내측에 구비된 제1 컨베이어(25)상에 로딩한다.After imprinting the circuit pattern on the substrate G as described above, a pair of hand jigs 17 and 19 pick up the substrate G and the
그리고, 제1 컨베이어(25)가 구동함으로써 기판(G)과 몰드(21)가 제1 출입구(23)를 통하여 제1 케이스(7)의 외부로 배출된다.As the
외부로 배출된 기판(G) 및 몰드(21)는 제1 및 제2 이송핸드(29,31)에 의하여 픽업된다. 즉, 제1 및 제2 이송핸드(29,31)가 기판(G)의 크기에 따라 측방향으로 적절하게 이동함으로써 기판(G)의 측부에 접촉한다. The substrate G and the
이때, 상기 제1 및 제2 이송핸드(29,31)의 안착대(33,35)가 기판(G)의 저면에 접촉한다.At this time, the
이 상태에서, 이송바(27)가 레일(r)상을 LM 방식에 의하여 이동함으로써 기판(G) 및 몰드(21)를 제2 챔버부(5)로 이송시킨다.In this state, the
상기 제2 챔버부(5)에 도달한 기판 및 몰드(11)는 제2 출입구(45)를 통하여 제2 챔버부(5)의 내부로 진입하여 제2 컨베이어(47)상에 안착된다.The substrate and the
그리고, 제2 컨베이어(47)가 구동함으로써 상기 기판 및 몰드(11)는 광원(43)의 하부를 순차적으로 통과한다.The substrate and the
따라서, 기판 및 몰드(11)가 광원(43)의 하부를 순차적으로 통과하는 스캔방식의 노광공정이 진행되며, 이 과정에서 기판과 몰드(11)의 국소부위에 빛이 조사됨으로써 빛의 균일도를 유지할 수 있다.Therefore, the exposure process of the scanning method in which the substrate and the
이와 같이, 제2 챔버부(5)의 내부에서 노광된 기판 및 몰드(11)는 상기한 이송과정의 역순에 의하여 다시 제1 챔버부(1)로 이송된 후 분리된다.As such, the substrate and the
즉, 노광 후, 제2 컨베이어(47)를 역방향으로 구동시킴으로써 기판 및 몰드(11)가 제2 챔버부(5)의 외부로 배출된다.That is, after exposure, the substrate and the
그리고, 상기 이송수단(3)에 의하여 다시 픽업된 후 제1 챔버부(1)로 이송된다.Then, it is picked up again by the transfer means 3 and then transferred to the
제1 챔버부(1)로 이송된 기판(G) 및 몰드(21)는 제1 컨베이어(25)에 의하여 이송되며, 이때, 상기 스테이지(9)가 기판(G)과 몰드(21)를 로딩하게 된다.The substrate G and the
이 상태에서, 상기 스테이지(9)가 상승함으로써 한 쌍의 핸드지그(17,19) 인접위치에 도달한다.In this state, the
그리고, 한 쌍의 핸드지그(17,19)의 작동에 의하여 기판(G)과 몰드(21)를 서로 분리하게 된다.The substrate G and the
이와 같은 과정을 통하여 기판(G)에 대한 임프린트 공정 및 노광공정을 순차적으로 진행될 수 있다.Through this process, an imprint process and an exposure process on the substrate G may be sequentially performed.
이상 설명한 바와 같이 본 발명에 따른 임프린트 리소그래피 공정용 장치는 노광공정이 진행되는 챔버를 별도로 구비하고, 이 챔버의 내부에 광원을 배치함으로써 기판이 대면적화 되는 경우에도 챔버의 크기를 소형화할 수 있고, 제작비용을 절감할 수 있는 장점이 있다.As described above, the apparatus for imprint lithography process according to the present invention includes a chamber in which the exposure process is performed separately, and by placing a light source inside the chamber, the size of the chamber can be reduced even when the substrate is large in area. There is an advantage that can reduce the production cost.
그리고, 광원을 노광챔버의 내부에 구비하여, 광원과 기판간의 거리를 줄임으로써 저출력의 광원으로도 경화가 충분한 장점이 있다.In addition, since the light source is provided inside the exposure chamber, the distance between the light source and the substrate is reduced, so that curing is sufficient even with a low power light source.
또한, 스캔방식을 적용함으로써 광원이 기판상에 매우 근접한 상태에서 기판상에 국부적으로 조사를 하므로 최소한의 광원으로도 균일하게 조사가 가능하며, 이때, 균일한 조사를 위한 반사판과 같은 부가적인 장비가 불필요하므로 제작비가 절감될 수 있는 장점이 있다.In addition, by applying the scanning method, the light source is locally irradiated onto the substrate in a state in which the light source is very close to the substrate, so that even the minimum light source can be irradiated uniformly. In this case, additional equipment such as a reflector for uniform irradiation Since it is unnecessary, there is an advantage that the manufacturing cost can be reduced.
Claims (7)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070005979A KR100837875B1 (en) | 2007-01-19 | 2007-01-19 | Apparatus for imprint lithography process |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070005979A KR100837875B1 (en) | 2007-01-19 | 2007-01-19 | Apparatus for imprint lithography process |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR100837875B1 true KR100837875B1 (en) | 2008-06-13 |
Family
ID=39771189
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020070005979A KR100837875B1 (en) | 2007-01-19 | 2007-01-19 | Apparatus for imprint lithography process |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100837875B1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101509401B1 (en) * | 2014-07-24 | 2015-04-07 | 주식회사 인터벡스테크놀로지 | Double Side UV hardening |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20050258365A1 (en) | 2004-03-31 | 2005-11-24 | Harald Bloess | Method and apparatus for measuring a surface profile of a sample |
KR20060114153A (en) * | 2005-04-29 | 2006-11-06 | 주식회사 에이디피엔지니어링 | Apparatus for imprinting the patern |
KR20070002917A (en) * | 2005-06-30 | 2007-01-05 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | Equipment for fabricating detail pattern method for fabricating detail pattern by using the same |
KR20070010319A (en) * | 2005-07-18 | 2007-01-24 | 주식회사 에이디피엔지니어링 | Apparatus for imprinting patern on the substrate and method for imprinting patern on the substrate |
-
2007
- 2007-01-19 KR KR1020070005979A patent/KR100837875B1/en not_active IP Right Cessation
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20050258365A1 (en) | 2004-03-31 | 2005-11-24 | Harald Bloess | Method and apparatus for measuring a surface profile of a sample |
KR20060114153A (en) * | 2005-04-29 | 2006-11-06 | 주식회사 에이디피엔지니어링 | Apparatus for imprinting the patern |
KR20070002917A (en) * | 2005-06-30 | 2007-01-05 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | Equipment for fabricating detail pattern method for fabricating detail pattern by using the same |
KR20070010319A (en) * | 2005-07-18 | 2007-01-24 | 주식회사 에이디피엔지니어링 | Apparatus for imprinting patern on the substrate and method for imprinting patern on the substrate |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101509401B1 (en) * | 2014-07-24 | 2015-04-07 | 주식회사 인터벡스테크놀로지 | Double Side UV hardening |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100997829B1 (en) | Substrate processing apparatus and substrate positioning apparatus | |
KR101922260B1 (en) | Exposure device, substrate processing apparatus, method for exposing substrate and substrate processing method | |
JP2006031025A (en) | System and method for manufacturing flat panel display | |
KR20120030057A (en) | Imprint system, imprinting method, and computer storage medium | |
JP2011017692A (en) | Substrate storing container, and substrate inspection apparatus including the same | |
JP2008174361A (en) | Substrate conveying device | |
JP4859660B2 (en) | Substrate treatment device | |
KR101996678B1 (en) | Ultraviolet irradiation apparatus and substrate treating apparatus | |
KR100837875B1 (en) | Apparatus for imprint lithography process | |
JP5186224B2 (en) | Substrate treatment device | |
KR101465765B1 (en) | Cluster for treatmenting substrate | |
KR100965570B1 (en) | Apparatus and method for exposing edge of substrate | |
KR102469678B1 (en) | Film formation system, film formation method, and computer storage medium | |
JP5149244B2 (en) | IMPRINT SYSTEM, IMPRINT METHOD, PROGRAM, AND COMPUTER STORAGE MEDIUM | |
JP2001343753A (en) | Substrate transfer mechanism and aligner | |
KR101338308B1 (en) | Pattern forming apparatus | |
KR100913222B1 (en) | Apparatus and method for imprinting a fine pattern | |
KR101421282B1 (en) | Multi-exposure system | |
KR100866508B1 (en) | A Vertical Transfer Apparatus for Substrate | |
KR101165721B1 (en) | Flexible printed circuit board exposuring apparatus and method using outer peripheral surface of drum and printed curcuit board manufactuing method using the method | |
JP7308087B2 (en) | SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS AND SUBSTRATE PROCESSING METHOD | |
KR102385847B1 (en) | Substrate processing apparatus and substrate processing method | |
KR101383916B1 (en) | Multi mask aligner system | |
JP2606680B2 (en) | UV irradiation device | |
KR100890379B1 (en) | Imprint processing system and pattern forming method |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20120404 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130410 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150529 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160421 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170426 Year of fee payment: 10 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |