KR100818548B1 - 자동 블로커 - Google Patents

자동 블로커 Download PDF

Info

Publication number
KR100818548B1
KR100818548B1 KR1020060127282A KR20060127282A KR100818548B1 KR 100818548 B1 KR100818548 B1 KR 100818548B1 KR 1020060127282 A KR1020060127282 A KR 1020060127282A KR 20060127282 A KR20060127282 A KR 20060127282A KR 100818548 B1 KR100818548 B1 KR 100818548B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
lens
optical system
plate
test lens
measurement light
Prior art date
Application number
KR1020060127282A
Other languages
English (en)
Inventor
김혜경
이한철
심순용
Original Assignee
주식회사 휴비츠
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 휴비츠 filed Critical 주식회사 휴비츠
Priority to KR1020060127282A priority Critical patent/KR100818548B1/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100818548B1 publication Critical patent/KR100818548B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02—Testing optical properties
    • G01M11/04—Optical benches therefor
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02—Testing optical properties
    • G—PHYSICS
    • G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/20—Exposure; Apparatus therefor
    • G—PHYSICS
    • G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70483—Information management; Active and passive control; Testing; Wafer monitoring, e.g. pattern monitoring
    • G03F7/70591—Testing optical components
    • G03F7/706—Aberration measurement
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Eyeglasses (AREA)

Abstract

본 발명은 자동 블로커(Auto Blocker)에 관한 것으로써, 보다 상세하게는 자동 블로커에 속하는 광학계의 구조 및 특징에 관한 것이다. 상기 자동 블로커는 안경테의 테두리 형상을 읽어 내는 트레이서(tracer); 테스트 렌즈를 검사하기 위한 측정광을 출사하는 광원; 상기 측정광의 경로에 테스트 렌즈를 고정시키기 위한 고정 플레이트; 상기 측정광에 의하여 형성된 테스트 렌즈의 그림자 영상 이미지를 결상시키기 위한 결상 플레이트; 상기 결상 플레이트가 상기 테스트 렌즈를 통과한 측정광의 경로에 위치할 때, 상기 결상 플레이트에 형성된 테스트 렌즈의 그림자 영상 이미지를 검출하는 영상 광학계; 및 상기 테스트 렌즈를 통과한 측정광의 경로에 위치하여, 상기 테스트 렌즈를 통과한 측정광으로부터 렌즈의 광학 특성을 검출하는 검출 광학계를 포함하며, 상기 검출 광학계와 상기 결상 플레이트는, 상기 테스트 렌즈를 통과한 측정광이 진행하는 경로 상에 교대로 위치하도록, 이동 가능하게 설치하기 위한 광학적 특성을 측정할 수 있는 자동 블로커의 각각의 광학계가 가지는 구조 및 특징에 관한 것이다.
자동 블로커, 렌즈 미터, 결상 플레이트

Description

자동 블로커{Auto Blocker}
도 1은 통상적인 자동 블로커의 광학계 구조를 설명하기 위한 도면.
도 2는 다른 통상적인 자동 블로커의 광학계 구조를 설명하기 위한 도면.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 자동 블로커의 광학계 구조를 설명하기 위한 도면.
도 4는 본 발명에 따른 자동 블로커에 사용될 수 있는 결상 플레이트의 구조를 설명하기 위한 도면.
도 5는 본 발명에 따른 자동 블로커에 사용될 수 있는 검출 광학계의 구조를 설명하기 위한 도면.
본 발명은 자동 블로커에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 안경 렌즈에 블록 패드를 부착하기 위하여, 안경 렌즈의 광학적 특성을 검출하고, 렌즈 영상을 촬영하는 자동 블로커의 광학계 구조에 관한 것이다.
안경은 시력이 저하된 사람의 시력을 교정하기 위한 광학 장치로서, 안경테와 안경 렌즈로 이루어진다. 통상 안경 렌즈는 둥근 형태로 제조되며(이를 '렌즈블랭크 (Lens blank)'라 한다.), 안경을 사용하고자 하는 사람의 시력에 맞게 제작된 렌즈 블랭크를 안경테의 형상을 따라 가공한 다음, 안경테에 끼워 사용한다. 자동 블로커(Auto blocker)는, 상기 렌즈 블랭크를 안경테 형상으로 가공하기 위해서는, 안경테를 읽어내어 이 읽어낸 형태를 올려놓아진 렌즈 블랭크에 디스플레이로 그려 넣는다. 이 때 올려진 렌즈 블랭크의 광학적인 특성인 SPH., CYL., AXIS값 등과 렌즈가 놓여진 상태, 위치, 렌즈의 실린더 축값, 크기 등을 알아낸 후에 사람 동공을 중심으로 렌즈를 가공할 형상을 결정한 후에 렌즈 블랭크의 가공 중심에 블록 패드(block pad)를 부착하는 장비이다. 따라서, 안경테의 테두리 형상을 읽어 내는 트레이서(tracer) 부분과 평행빔을 형성하는 조명계, 렌즈 블랭크의 광학적 특성을 검출하는 렌즈 미터 기능을 가지는 광학계, 렌즈의 외형 정보를 얻기 위해 렌즈 영상을 촬영하는 카메라 광학계를 포함한다.
도 1은 통상적인 자동 블로커의 광학계 구조를 설명하기 위한 도면이다. 도 1에 도시한 바와 같이, 통상적인 자동 블로커는 램프로 이루어진 광원(10), 렌즈를 고정시키기 위한 고정 플레이트(14), 렌즈의 그림자 영상 이미지를 얻는 영상 광학계(20), 렌즈의 광학적 특성을 검출하는 검출 광학계(30) 및 안경테의 테두리 형상을 읽어 내는 트레이서(40)를 포함한다. 상기 자동 블로커에 있어서, 광원(10)에서 출사된 빔(beam)은 오목 미러(12)에서 반사되어 평행한 빔을 형성한 후, 테스트 렌즈(5)를 통과한다. 상기 테스트 렌즈(5)를 통과한 빔은, 다수의 점 패턴이 형성된 마스크 플레이트(15, mask plate)를 통과하고, 결상 플레이트(16)에 결상된 다음, 반사 미러(18)에서 반사되어, 검출 광학계(30)로 입사된다. 상기 마스크 플레이트(15)를 통과한, 즉, 상기 마스크 플레이트(15)에 의하여 형성된, 다수의 점 패턴의 빔 이미지는 상기 테스트 렌즈(5)의 광학적 특성에 따라 결상 플레이트(16)의 점 패턴 이미지가 변화하므로, 상기 다수의 점 패턴의 빔 이미지로부터 상기 테스트 렌즈(5)의 광학적 특성을 검출할 수 있다. 상기 검출 광학계(30)는 빔 이미지를 집속하기 위한 집속렌즈(32) 및 상기 빔 이미지를 검출하는 디텍터(34)를 포함한다. 또한, 광원(10)에서 출사된 빔에 의하여 형성된 테스트 렌즈(5)의 그림자 이미지는 결상 플레이트(16)에 영상이 생겨 이 영상을 반사 미러(18)와 빔 스플리터(Beam splitter, 19)에서 반사되어, 영상 광학계(20)로 입사된다. 상기 영상 광학계(20)는 렌즈의 그림자 영상 이미지를 집속하기 위한 집속렌즈(22) 및 상기 이미지를 검출하는 CCD(charge coupled device) 디텍터 등의 디텍터(24)를 포함한다. 이와 같은 자동 블로커에 있어서, 상기 결상 플레이트(16)에 형성된 점 패턴들에 대한 이미지의 이동으로 렌즈(5)의 광학적 특성을 얻는 것으로 특수한 렌즈인 착색 렌즈나 비구면 렌즈 등이 사용될 경우, 마스크 플레이트(15)를 통과한 빔이 결상 플레이트(16)에 결상된 점 패턴들을 인식하기 위한 제한 구속이 있다. 따라서, 도 1에 도시된 광학계는 측정 오차 범위가 크며, 측정 가능한 렌즈도 제한되며, 점 패턴 이미지를 인식하기 위하여 고해상도의 디텍터(34)를 사용해야 하는 단점이 있 다.
도 2는 다른 통상적인 자동 블로커의 광학계 구조를 설명하기 위한 도면이다. 도 2에 도시된 자동 블로커는, 안경테의 테두리 형상을 읽어내는 트레이서(40), 렌즈의 그림자 영상 이미지를 얻는 영상 광학계(50), 및 렌즈의 광학적 특성을 검출하는 검출 광학계(60)를 포함한다. 상기 영상 광학계(50)는 조명 광원(51), 상기 조명 광원(51)의 빔을 평행광으로 변환하는 집속 렌즈(52), 테스트 렌즈(5)에 의하여 형성된 빔의 이미지를 결상하는 결상 플레이트(53), 및 상기 결상 플레이트(53)에 결상된 영상 이미지를 검출하는 영상용 카메라(54)를 포함한다. 상기 검출 광학계(60)는 조명 광원(61), 상기 조명 광원(61)의 빔을 평행광으로 변환하는 집속 렌즈(62), 상기 테스트 렌즈(5)의 광학적 특성을 검출하기 위한 원형 안에 십자선 패턴의 마스크 플레이트(63), 및 상기 마스크 플레이트(63) 및 테스트 렌즈(5)를 통과한 빔을 검출하는 마스크용 카메라(64)를 포함한다. 여기서, 상기 테스트 렌즈(5)는, 렌즈 이미지 및 렌즈 특성 측정을 위하여, 지지대(45)에 고정되어, 상기 영상 광학계(50) 및 검출 광학계(60) 사이를 이동한다. 도 2에 도시된 블로커에 있어서는, 상기 영상 광학계(50) 및 검출 광학계(60)가 완전히 두 부분으로 분리되어, 조명 광원을 별개로 설치하여야 하며, 지지대(45)에 렌즈(5)가 매우 견고하게 고정되어야 하고, 렌즈(5)의 이동거리가 상대적으로 커질 뿐 만 아니라, 블로커의 부피가 커지고, 제조 원가가 증가하는 단점이 있다.
따라서, 본 발명의 목적은, 다양한 종류의 렌즈에 대하여, 렌즈의 광학적 특성 및 그림자 영상 이미지를 정밀하게 측정할 수 있는 광학계를 가지는 자동 블로커를 제공하는 것이다. 본 발명의 다른 목적 광축 정렬이 용이하며, 부피가 작고, 제조 비용이 저렴할 뿐 만 아니라, 간단하고 효율적인 구조를 가지는 자동 블로커를 제공하는 것이다.
상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은, 안경테의 테두리 형상을 읽어 내는 트레이서; 테스트 렌즈를 검사하기 위한 측정광을 출사하는 광원; 상기 측정광의 경로에 테스트 렌즈를 고정시키기 위한 고정 플레이트; 상기 측정광에 의하여 형성된 테스트 렌즈의 그림자 영상 이미지를 결상시키기 위한 결상 플레이트; 상기 결상 플레이트가 상기 테스트 렌즈를 통과한 측정광의 경로에 위치할 때, 상기 결상 플레이트에 형성된 테스트 렌즈의 그림자 영상 이미지를 검출하는 영상 광학계; 및 상기 테스트 렌즈를 통과한 측정광의 경로에 위치하여, 상기 테스트 렌즈를 통과한 측정광으로부터 렌즈의 광학 특성을 검출하는 검출 광학계를 포함하며, 상기 검출 광학계와 상기 결상 플레이트는, 상기 테스트 렌즈를 통과한 측정광이 진행하는 경로 상에 교대로 위치하도록, 이동 가능하게 설치되는 것을 특징으로 하는 자동 블로커를 제공한다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 자동 블로커를 더욱 상세하게 설명한다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 자동 블로커의 광학계 구조를 설명하기 위한 도면이다. 도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 자동 블로커는 트레이서(40), 광원(71), 고정 플레이트(65), 결상 플레이트(70), 영상 광학계(80) 및 검출 광학계(90)를 포함한다. 상기 광원(71)은, 테스트 렌즈(5)를 검사하기 위한 측정광을 출사하는 것으로서, 통상의 램프로 이루어질 수 있고, 바람직하게는 백색 발광다이오드(Light Emitting Diode: LED)로 이루어질 수 있다. 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 광원(71)은 오목 미러(68)의 초점 위치에 위치하고, 상기 광원(71)에서 출사된 측정광은 상기 오목 미러(68)에서 반사되어 평행광으로 변환된 후, 테스트 렌즈(5)로 입사될 수 있다. 상기 고정 플레이트(65)는 상기 측정광의 경로에 테스트 렌즈(5)를 고정시키기 위한 것이다. 상기 고정 플레이트(65)는 측정광을 투과시키는 다양한 재질로 이루어질 수 있고, 바람직하게는 투명 아크릴로 이루어지며, 상기 고정 플레이트(65)의 상부에는 테스트 렌즈(5)를 지지하기 위한 렌즈 지지대(67)가 삼발이 형태로 형성되어 있는 것이 바람직하다.
상기 결상 플레이트(70)는, 상기 측정광에 의하여 형성된 테스트 렌즈(5)의 그림자 영상 이미지를 결상시키기 위한 것이다. 본 발명에 사용될 수 있는 결상 플레이트(70)는, 측정광에 비추어진 테스트 렌즈(5)의 그림자 영상 이미지를 나타낼 수 있어야 하기 때문에, 후면에서 물체의 그림자가 구별될 수 있을 정도의 광투과 력을 가진 투사지(72)로 제조되는 것이 바람직하다. 도 4는 본 발명에 따른 자동 블로커에 사용될 수 있는 결상 플레이트의 일 예를 설명하기 위한 도면으로서, 도 4에 도시된 바와 같이, 상기 결상 플레이트(70)는 투명 아크릴판(74) 사이에 상기 투사지(72, 透寫紙)가 결합하여 제조되는 것이 바람직하다. 이와 같이, 상기 투사지(72)를 투명 플레이트(74) 사이에 위치시키면, 결상 플레이트(70)의 평면도를 양호하게 유지시킬 수 있을 뿐만 아니라, 외부의 환경 조건의 변화에 따른 영향이 적은 장점이 있다.
다시 도 3을 참조하면, 상기 영상 광학계(80)는, 상기 결상 플레이트(70)이 상기 테스트 렌즈(5)를 통과한 측정광의 경로에 위치할 때, 즉, 상기 결상 플레이트(70)이 상기 고정 플레이트(65)에 고정된 렌즈(5)의 하부에 위치할 때, 상기 결상 플레이트(70)에 형성된 테스트 렌즈(5)의 그림자 영상 이미지를 검출하는 기능을 한다. 즉, 상기 영상 광학계(80)는 렌즈(5)의 외관상 특징을 실시간 촬영한다. 상기 영상 광학계(80)는 렌즈의 그림자 영상 이미지를 집속하기 위한 집속렌즈(82) 및 상기 이미지를 검출하는 CMOS(complementary metal-oxide semiconductor) 디텍터, CCD(charge coupled device) 디텍터 등의 디텍터(84)를 포함한다.
상기 검출 광학계(90)는, 상기 검출 광학계(90)가 상기 테스트 렌즈(5)를 통과한 측정광의 경로에 위치할 때, 상기 테스트 렌즈(5)를 통과한 측정광으로부터 렌즈(5)의 광학 특성을 검출하는 것으로서, 통상의 렌즈 미터의 측정 또는 검출 기 능을 수행한다. 상기 검출 광학계(90)로부터 얻을 수 있는 렌즈의 광학적 특성으로는 SPH., CYL., AXIS 등을 측정할 수 있다. 도 5는 본 발명에 따른 자동 블로커에 사용될 수 있는 검출 광학계의 구조를 설명하기 위한 도면이다. 도 1 및 2에 도시된 자동 블로커와는 달리, 본 발명의 자동 블로커는 렌즈 미터의 기능을 하는 일체형 검출 광학계(90)를 사용한다. 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 검출 광학계(90)는 적어도 4개의 구멍이 형성되어 있는 홀 플레이트(92, hole plate), 상기 홀 플레이트(92)와 소정 거리 이격되어 설치되며, 상기 홀 플레이트(92)에 형성된 구멍에 대응하는 미소 렌즈가 형성된 미소 렌즈 어레이(94), 및 상기 미소 렌즈 어레이(94)를 통과한 측정광을 검출하는 디텍터(96)를 포함한다. 이와 같은 검출 광학계(90)로 테스트 렌즈(5)를 통과한 측정광이 입사되면, 상기 홀 플레이트(92)를 통과하면서 분할된 측정광의 경로가, 각각의 4개의 상기 미소 렌즈 어레이(94)의 렌즈를 통과하여 상기 테스트 렌즈(5)의 곡률과 굴절률 등에 따라 디텍터(96)에 맺혀지는 영상의 이미지와 위치가 달라진다. 따라서, 상기 디텍터(96)에 결상되는 4개의 광 이미지의 위치 및 크기 등으로부터 테스트 렌즈(5)의 광학적 특성을 검출할 수 있다. 이와 같이 검출하기 위해서는 도 5에 도시된 바와 같이, 상기의 미소 렌즈 어레이(94)는 위에는 4개의 렌즈 어레이와 아래 부분에 한 개의 렌즈 곡률을 가지는 형상을 특징으로 한다. 상기 검출 광학계(90)는, 테스트 렌즈(5)의 중앙 부분만 측정하여도 렌즈(5)의 광학적 특성을 검출할 수 있기 때문에, 상기 검출 광학계(90)와 결상 플레이트(70)가 렌즈(5) 최대 크기의 1/2 만 이동하여도, 렌즈(5)의 광학 특성 및 영상 이미지를 모두 검출할 수 있다.
다시 도 3을 참조하면, 본 발명에 있어서, 상기 검출 광학계(90)와 상기 결상 플레이트(70)는, 상기 테스트 렌즈(5)를 통과한 측정광이 진행하는 경로상에 서로 인접하여 위치하며, 상기 테스트 렌즈(5)를 통과한 측정광의 경로 상에 교대로 위치하도록, 이동 가능하게 설치된다. 상기 검출 광학계(90)와 결상 플레이트(70)는, 상기 테스트 렌즈(5)를 통과한 측정광의 경로에 대하여 수직인 평면상에 위치하는 것이 바람직하고, 상기 고정 플레이트(65)와 인접하여, 상기 고정 플레이트(65)에 대하여 평행하게 위치하면 더욱 바람직하다. 따라서, 테스트 렌즈(5)의 광학적인 특성을 검출하고자 하는 경우에는, 상기 결상 플레이트(70) 및 검출 광학계(90)를 도 3의 화살표 방향으로 우측으로 이동시켜, 상기 검출 광학계(90)를 측정광의 경로 상에 위치시킨 다음, 상기 검출 광학계(90)를 작동시킨다. 또한 상기 테스트 렌즈(5)의 영상 이미지를 검출하고자 하는 경우에는, 상기 결상 플레이트(70) 및 검출 광학계(90)를 도 3의 화살표 방향으로 좌측으로 이동시켜, 상기 결상 플레이트(70)를 측정광의 경로상에 위치시킨 다음, 상기 영상 광학계(80)를 작동시켜, 상기 결상 플레이트(70)에 형성된 렌즈(5)의 그림자 영상을 검출한다.
이와 같이, 본 발명에 따른 자동 블로커에 있어서, 안경테를 트레이서로 읽어 올려놓아진 렌즈 블랭크에 디스플레이로 그려 넣으며, 이 때 올려진 렌즈 블랭크의 광학적인 특성인 SPH., CYL., AXIS값 등과 렌즈가 놓여진 상태, 위치, 렌즈의 실린더 축값, 크기 등을 측정한 후 사람 동공을 중심으로 렌즈를 가공할 형상을 결 정한 후에 렌즈 블랭크의 가공 중심에 블록 패드(block pad)를 부착한다. 이와 같은 블록 패드의 부착은 통상의 자동 블로커의 기계적 메카니즘으로 수행될 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 자동 블로커에 있어서, 상기 검출 광학계(90)와 상기 결상 플레이트(70)의 고정 및 이동은 기어, 벨트, 체인 등의 공지의 기구적 메카니즘으로 당업자에게 용이하게 구현될 수 있다.
이상 상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 자동 블로커는, 별도의 마스크 플레이트를 사용하지 않고, 부피가 작은 검출 광학계(90)를 사용하여 렌즈의 광학 특성을 검출하므로, 부품의 이동거리가 측정되는 렌즈(5) 크기의 1/2 정도로 짧으며, 검출 광학계의 각각의 4핀 홀 판에 각각의 렌즈가 구성된 미소 어레이 렌즈(94)의 구조를 가지고 있으므로 측정 오차가 적다. 본 발명의 자동 블로커는 하나의 광원(71)을 이용하여 렌즈의 영상 이미지 및 광학 특성을 모두 검출할 수 있고, 광축 정렬이 용이할 뿐 만 아니라, 측정할 수 있는 렌즈 범위의 제한 폭이 작다. 또한, 본 발명의 자동 블로커는 저가의 CMOS 센서로도 렌즈의 이미지 및 광학 특성을 용이하게 검출할 수 있고, 시스템 구성이 간단하여 제작이 쉽고 저렴하게 이루어질 수 있다. 이상에서 설명한 것은, 본 발명에 따른 자동 블로커를 구현하기 위한 일 예에 불과한 것으로서, 본 발명은 이에 한정되지 않고, 이하의 특허청구범위에 기재된 기술적 사상의 범주 내에서 다양한 변형이 가능하다.

Claims (5)

  1. 테스트 렌즈를 검사하기 위한 측정광을 출사하는 광원;
    상기 측정광의 경로에 테스트 렌즈를 고정시키기 위한 고정 플레이트;
    상기 측정광에 의하여 형성된 테스트 렌즈의 그림자 영상 이미지를 결상시키기 위한 결상 플레이트;
    상기 결상 플레이트가 상기 테스트 렌즈를 통과한 측정광의 경로에 위치할 때, 상기 결상 플레이트에 형성된 테스트 렌즈의 그림자 영상 이미지를 검출하는 영상 광학계; 및
    상기 테스트 렌즈를 통과한 측정광의 경로에 위치하여, 상기 테스트 렌즈를 통과한 측정광으로부터 렌즈의 광학 특성을 검출하는 검출 광학계를 포함하며,
    상기 검출 광학계와 상기 결상 플레이트는, 상기 테스트 렌즈를 통과한 측정광이 진행하는 경로 상에 교대로 위치하도록, 이동 가능하게 설치되는 것을 특징으로 하는 자동 블로커.
  2. 제1항에 있어서, 상기 결상 플레이트는 2장의 투명 플레이트 사이에 낀 투사지로 제조되는 것인 자동 블로커.
  3. 제1항에 있어서, 상기 검출 광학계는 적어도 4개의 구멍이 형성되어 있는 홀 플레이트; 상기 홀 플레이트와 소정 거리 이격되어 설치되며, 상기 홀 플레이트에 형성된 구멍에 대응하는 미소 렌즈가 형성된 미소 렌즈 어레이; 및 상기 미소 렌즈 어레이를 통과한 측정광을 검출하는 디텍터를 포함하는 것인 자동 블로커.
  4. 제3항에 있어서, 상기 미소 렌즈 어레이는 홀 플레이트 구멍에 대응되는 위 부분의 4개의 렌즈 곡률에 아래 부분의 한 개의 렌즈 곡률을 가지는 형상인 것인 자동 블로커.
  5. 제1항에 있어서, 상기 검출 광학계와 상기 결상 플레이트의 이동 거리는 상기 테스트 렌즈의 최대 크기의 1/2인 것인 자동 블로커.
KR1020060127282A 2006-12-13 2006-12-13 자동 블로커 KR100818548B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060127282A KR100818548B1 (ko) 2006-12-13 2006-12-13 자동 블로커

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060127282A KR100818548B1 (ko) 2006-12-13 2006-12-13 자동 블로커

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR100818548B1 true KR100818548B1 (ko) 2008-04-01

Family

ID=39533472

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020060127282A KR100818548B1 (ko) 2006-12-13 2006-12-13 자동 블로커

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100818548B1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102589850A (zh) * 2012-01-13 2012-07-18 中国科学院国家天文台 一种波片相位延迟的精密测量系统及其实现方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR0161439B1 (ko) * 1995-09-19 1999-01-15 이해규 노광장치의 렌즈 왜곡 측정장치
KR200372906Y1 (ko) 2004-10-21 2005-01-21 부원광학주식회사 렌즈 초점거리 및 편심 측정장치
KR20060051376A (ko) * 2004-09-17 2006-05-19 가부시키가이샤 토프콘 야마가타 렌즈미터

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR0161439B1 (ko) * 1995-09-19 1999-01-15 이해규 노광장치의 렌즈 왜곡 측정장치
KR20060051376A (ko) * 2004-09-17 2006-05-19 가부시키가이샤 토프콘 야마가타 렌즈미터
KR200372906Y1 (ko) 2004-10-21 2005-01-21 부원광학주식회사 렌즈 초점거리 및 편심 측정장치

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102589850A (zh) * 2012-01-13 2012-07-18 中国科学院国家天文台 一种波片相位延迟的精密测量系统及其实现方法
CN102589850B (zh) * 2012-01-13 2014-02-19 中国科学院国家天文台 一种波片相位延迟的精密测量系统及其实现方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101150755B1 (ko) 영상촬영장치
US20110317156A1 (en) Inspection device for defect inspection
EP2239552B1 (en) Image picking-up device for lens
JP2009524263A (ja) 画像検出システムおよびそれを製造する方法
JP7044272B2 (ja) レンズ屈折率測定装置およびその測定方法
US11693162B2 (en) Optical test apparatus and optical test method
CN110389021A (zh) 透镜图像产生系统及屈光能力和厚度确定与缺陷检测方法
CN102116745A (zh) 一种ic元件检测系统
CN107429994A (zh) 测定头以及具备该测定头的偏心测定装置
JPH06249749A (ja) レンズメータ
JP2005316436A (ja) 眼鏡レンズへの自動装着装置
JP4884615B2 (ja) 並列処理光学距離計
KR100818548B1 (ko) 자동 블로커
CN102096337B (zh) 一种用于投影光刻中球面或曲面的偏心及焦面位置的检测装置
US11175129B2 (en) Sample shape measuring method and sample shape measuring apparatus
JP2008026049A (ja) フランジ焦点距離測定装置
KR20060050817A (ko) 렌즈미터
KR100899088B1 (ko) 렌즈미터
TW201321713A (zh) 三維量測系統
CN217059274U (zh) 光学检测仪
RU69634U1 (ru) Прибор для обнаружения и классификации дефектов оптических объектов (варианты)
JP4487042B2 (ja) 光学装置、検査装置及び検査方法
JPS63113518A (ja) 光センサ装置および外観検査装置
KR20110133183A (ko) 평판패널 검사장치
JP2005037493A (ja) 光学機器の表示装置

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130205

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20140304

Year of fee payment: 7

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150305

Year of fee payment: 8

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160303

Year of fee payment: 9

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170302

Year of fee payment: 10

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180305

Year of fee payment: 11

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190304

Year of fee payment: 12