KR100804527B1 - Method of manufacturing thin film transistor substrate, and method of manufacturing Organic light emitting display apparatus by use of the same - Google Patents

Method of manufacturing thin film transistor substrate, and method of manufacturing Organic light emitting display apparatus by use of the same Download PDF

Info

Publication number
KR100804527B1
KR100804527B1 KR1020060062997A KR20060062997A KR100804527B1 KR 100804527 B1 KR100804527 B1 KR 100804527B1 KR 1020060062997 A KR1020060062997 A KR 1020060062997A KR 20060062997 A KR20060062997 A KR 20060062997A KR 100804527 B1 KR100804527 B1 KR 100804527B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
thin film
film transistor
forming
electrode
layer
Prior art date
Application number
KR1020060062997A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20080004232A (en
Inventor
김민규
모연곤
곽진호
Original Assignee
삼성에스디아이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성에스디아이 주식회사 filed Critical 삼성에스디아이 주식회사
Priority to KR1020060062997A priority Critical patent/KR100804527B1/en
Publication of KR20080004232A publication Critical patent/KR20080004232A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR100804527B1 publication Critical patent/KR100804527B1/en

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K77/00Constructional details of devices covered by this subclass and not covered by groups H10K10/80, H10K30/80, H10K50/80 or H10K59/80
    • H10K77/10Substrates, e.g. flexible substrates
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K77/00Constructional details of devices covered by this subclass and not covered by groups H10K10/80, H10K30/80, H10K50/80 or H10K59/80
    • H10K77/10Substrates, e.g. flexible substrates
    • H10K77/111Flexible substrates
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/549Organic PV cells
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)
  • Thin Film Transistor (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

본 발명은 박막 트랜지스터 등을 구비한 디스플레이부가 박형의 플렉서블 기판 상에 구비되도록 함으로써 박형의 플렉서블 디스플레이 장치를 구현할 수 있도록 하기 위하여, (i) 지지 기판 상에 폴리머층을 형성하는 단계와, (ii) 상기 폴리머층 상에 금속층을 형성하는 단계와, (iii) 상기 금속층 상에 제 1 절연층을 형성하는 단계와, (iv) 상기 제 1 절연층 상에, 게이트 전극과, 소스 전극 및 드레인 전극과, 상기 소스 전극 및 드레인 전극에 각각 접하는 반도체층을 구비하는 박막 트랜지스터를 형성하는 단계와, (v) 상기 박막 트랜지스터의 소스 전극 및 드레인 전극 중 어느 하나에 전기적으로 연결된 제 1 전극을 형성하는 단계와, (vi) 레이저빔을 조사하여 상기 폴리머층을 연질화시킴으로써 상기 지지 기판을 분리시키는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터 기판의 제조방법 및 이를 이용한 유기 발광 디스플레이 장치의 제조방법을 제공한다.(I) forming a polymer layer on a support substrate so that a display unit having a thin film transistor or the like is provided on the thin flexible substrate so as to realize a thin flexible display device, and (ii) Forming a metal layer on the polymer layer, (iii) forming a first insulating layer on the metal layer, (iv) on the first insulating layer, a gate electrode, a source electrode and a drain electrode; Forming a thin film transistor having a semiconductor layer in contact with the source electrode and the drain electrode, and (v) forming a first electrode electrically connected to any one of a source electrode and a drain electrode of the thin film transistor; and (vi) separating the support substrate by irradiating a laser beam to soften the polymer layer. A method of manufacturing a thin film transistor substrate and an organic light emitting display device using the same are provided.

Description

박막 트랜지스턱 기판의 제조방법 및 이를 이용한 유기 발광 디스플레이 장치의 제조방법{Method of manufacturing thin film transistor substrate, and method of manufacturing Organic light emitting display apparatus by use of the same}Method of manufacturing thin film transistor substrate, and method of manufacturing organic light emitting display apparatus by use of the same

도 1 내지 도 3은 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 박막 트랜지스터 기판의 제조공정을 개략적으로 도시하는 단면도들이다.1 to 3 are cross-sectional views schematically illustrating a manufacturing process of a thin film transistor substrate according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 4는 도 3의 박막 트랜지스터 기판을 이용하여 제조된 유기 발광 디스플레이 장치를 개략적으로 도시하는 단면도이다.4 is a cross-sectional view schematically illustrating an organic light emitting display device manufactured using the thin film transistor substrate of FIG. 3.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>

101: 지지 기판 103: 폴리머층101: support substrate 103: polymer layer

105: 금속층 107: 제 1 절연층105: metal layer 107: first insulating layer

109: 평탄화막 120: 박막 트랜지스터109: planarization film 120: thin film transistor

121: 게이트 전극 123: 소스 전극 및 드레인 전극121: gate electrode 123: source electrode and drain electrode

125: 게이트 절연막 127; 반도체층125: gate insulating film 127; Semiconductor layer

129: 제 2 절연층 131: 제 1 전극129: second insulating layer 131: first electrode

본 발명은 박막 트랜지스터 기판의 제조방법 및 이를 이용한 유기 발광 디스플레이 장치의 제조방법에 관한 것으로서, 더 상세하게는 박막 트랜지스터 등을 구비한 디스플레이부가 박형의 플렉서블 기판 상에 구비되도록 함으로써 박형의 플렉서블 디스플레이 장치를 구현할 수 있도록 하는 박막 트랜지스터 기판의 제조방법 및 이를 이용한 유기 발광 디스플레이 장치의 제조방법에 관한 것이다.The present invention relates to a method of manufacturing a thin film transistor substrate and a method of manufacturing an organic light emitting display device using the same. More particularly, a display device having a thin film transistor or the like is provided on a thin flexible substrate to provide a thin flexible display device. The present invention relates to a method of manufacturing a thin film transistor substrate and an organic light emitting display device using the same.

최근 플렉서블 평판 디스플레이 장치에 관한 관심이 높아짐에 따라 이에 관한 연구가 활발히 진행되고 있는데, 이러한 플렉서블 평판 디스플레이 장치를 구현하기 위하여 플라스틱 등과 같은 재질의 플렉서블 기판, 또는 얇은 글라스재 기판 등을 이용하였다.Recently, as interest in the flexible flat panel display device has increased, research on this has been actively conducted. In order to implement the flexible flat panel display device, a flexible substrate made of a material such as plastic, or a thin glass substrate is used.

한편 이러한 평판 디스플레이 장치에는 박막 트랜지스터 등을 비롯한 다양한 소자들이 구비되는데, 박막 트랜지스터 중 온커런트가 크고 점멸비가 높은 폴리 실리콘 박막 트랜지스터가 주로 이용되고 있다. 그러나 이러한 폴리 실리콘 박막 트랜지스터를 제조하는 공정 중에는 아모포스 실리콘을 폴리 실리콘으로 변화시키는 공정이 있는데, 이 공정의 경우 기판의 온도가 최고 400∼500℃까지 상승하게 되므로 플라스틱재 기판을 이용할 수 없다는 문제점이 있었다. 즉, 플라스틱재 기판, 예컨대 폴리 카보네이트(PC) 또는 폴리 에틸술폰(PES) 등의 내열 온도는 대략 200℃ 내지 300℃로서 유리 기판보다 내열 온도가 훨씬 낮다. 또한, 내열 온도 이하에서 이와 같은 플라스틱재 기판을 사용하여 다결정 실리콘 박막 트랜지스터를 형성하더라도, 플라스틱재 기판의 열 팽창계수(선 팽창계수)가 50ppm/℃ 이상이기에, 예컨대 온도를 100℃ 상승시키면 0.5%나 팽창하여 후에 패턴닝 오차나 배선의 단선 등을 유발할 수 있다는 문제점이 있었다.On the other hand, such a flat panel display device is provided with various devices including a thin film transistor, etc. Among the thin film transistors, a polysilicon thin film transistor having a large on-current and a high flashing ratio is mainly used. However, one of the processes for manufacturing the polysilicon thin film transistor is a process of changing the amorphous silicon to polysilicon. In this process, since the temperature of the substrate rises up to 400-500 ° C, there is a problem that a plastic substrate cannot be used. there was. That is, the heat resistance temperature of the plastic substrate such as polycarbonate (PC) or polyethylsulfone (PES) is approximately 200 ° C to 300 ° C, which is much lower than the glass substrate. In addition, even when the polycrystalline silicon thin film transistor is formed using such a plastic substrate at or below the heat resistance temperature, the coefficient of thermal expansion (linear expansion coefficient) of the plastic substrate is 50 ppm / 占 폚 or more. However, there is a problem that the expansion may cause a patterning error or wire breakage.

이러한 문제점을 해결하기 위하여 종래의 두꺼운 글라스재 기판을 사용하여 박막 트랜지스터 기판 또는 평판 디스플레이 장치 등을 제작한 후 이 글라스재 기판을 기계적 또는 화학적 방법으로 얇게 만드는 방법이 도입되었다. 그러나 이러한 공정은 복잡할 뿐만 아니라 잘 깨질 수 있어 실사용이 어렵다는 문제점이 있었다.In order to solve this problem, a method of fabricating a thin film transistor substrate or a flat panel display device using a conventional thick glass substrate and then thinning the glass substrate by a mechanical or chemical method has been introduced. However, such a process is not only complicated but also can be easily broken, which makes it difficult to use practically.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 포함하여 여러 문제점들을 해결하기 위한 것으로서, 박막 트랜지스터 등을 구비한 디스플레이부가 박형의 플렉서블 기판 상에 구비되도록 함으로써 박형의 플렉서블 디스플레이 장치를 구현할 수 있도록 하는 박막 트랜지스터 기판의 제조방법 및 이를 이용한 유기 발광 디스플레이 장치의 제조방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve various problems, including the above problems, the manufacturing of a thin film transistor substrate to implement a thin flexible display device by having a display unit having a thin film transistor or the like is provided on a thin flexible substrate. It is an object of the present invention to provide a method and a method of manufacturing an organic light emitting display device using the same.

본 발명은 (i) 지지 기판 상에 폴리머층을 형성하는 단계와, (ii) 상기 폴리머층 상에 금속층을 형성하는 단계와, (iii) 상기 금속층 상에 제 1 절연층을 형성하는 단계와, (iv) 상기 제 1 절연층 상에, 게이트 전극과, 소스 전극 및 드레인 전극과, 상기 소스 전극 및 드레인 전극에 각각 접하는 반도체층을 구비하는 박막 트랜지스터를 형성하는 단계와, (v) 상기 박막 트랜지스터의 소스 전극 및 드레인 전극 중 어느 하나에 전기적으로 연결된 제 1 전극을 형성하는 단계와, (vi) 레이저빔을 조사하여 상기 폴리머층을 연질화시킴으로써 상기 지지 기판을 분리시키는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터 기판의 제조방법을 제공한다.The present invention comprises the steps of (i) forming a polymer layer on a support substrate, (ii) forming a metal layer on the polymer layer, (iii) forming a first insulating layer on the metal layer, (iv) forming a thin film transistor on the first insulating layer, the thin film transistor including a gate electrode, a source electrode and a drain electrode, and a semiconductor layer in contact with the source electrode and the drain electrode, respectively; (v) the thin film transistor; Forming a first electrode electrically connected to any one of a source electrode and a drain electrode of the electrode; and (vi) separating the support substrate by irradiating a laser beam to soften the polymer layer. A method of manufacturing a thin film transistor substrate is provided.

이러한 본 발명의 다른 특징에 의하면, 상기 폴리머층은 폴리이미드로 형성되는 것으로 할 수 있다.According to such another feature of the present invention, the polymer layer may be formed of polyimide.

본 발명의 또 다른 특징에 의하면, 상기 지지 기판은 글라스재 기판인 것으로 할 수 있다.According to still another feature of the present invention, the support substrate may be a glass substrate.

본 발명의 또 다른 특징에 의하면, 상기 레이저빔은 상기 지지 기판을 통해 조사되는 것으로 할 수 있다.According to another feature of the invention, the laser beam may be irradiated through the support substrate.

본 발명의 또 다른 특징에 의하면, 상기 박막 트랜지스터를 형성하는 단계를 거친 후 상기 제 1 전극을 형성하는 단계를 행하기에 앞서, 상기 박막 트랜지스터를 덮는 평탄화막을 형성하는 단계를 더 구비하는 것으로 할 수 있다.According to still another aspect of the present invention, the method may further include forming a planarization film covering the thin film transistor before the forming of the first electrode after the forming of the thin film transistor. have.

본 발명의 또 다른 특징에 의하면, 상기 제 1 전극의 일부분을 노출시키도록 화소 정의막을 형성하는 단계를 더 구비하는 것으로 할 수 있다.According to still another feature of the present disclosure, the method may further include forming a pixel defining layer to expose a portion of the first electrode.

본 발명의 또 다른 특징에 의하면, 상기 박막 트랜지스터는 폴리 실리콘 박막 트랜지스터인 것으로 할 수 있다.According to still another feature of the present invention, the thin film transistor may be a polysilicon thin film transistor.

본 발명은 또한 상기와 같은 방법으로 박막 트랜지스터 기판을 제조하는 단계와, 상기 제 1 전극 상에 발광층을 포함하는 중간층을 형성하는 단계와, 상기 중간층 상에 제 2 전극을 형성하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 유기 발광 디스플레이 장치의 제조방법을 제공한다.The present invention also provides a method of fabricating a thin film transistor substrate in the same manner as described above, forming an intermediate layer including a light emitting layer on the first electrode, and forming a second electrode on the intermediate layer. A method of manufacturing an organic light emitting display device is provided.

본 발명은 또한, (i) 지지 기판 상에 폴리머층을 형성하는 단계와, (ii) 상 기 폴리머층 상에 금속층을 형성하는 단계와, (iii) 상기 금속층 상에 제 1 절연층을 형성하는 단계와, (iv) 상기 제 1 절연층 상에, 게이트 전극과, 소스 전극 및 드레인 전극과, 상기 소스 전극 및 드레인 전극에 각각 접하는 반도체층을 구비하는 박막 트랜지스터를 형성하는 단계와, (v) 상기 박막 트랜지스터의 소스 전극 및 드레인 전극 중 어느 하나에 전기적으로 연결된 제 1 전극을 형성하는 단계와, (vi) 상기 제 1 전극 상에 발광층을 포함하는 중간층을 형성하는 단계와, (vii) 상기 중간층 상에 제 2 전극을 형성하는 단계와, (viii) 레이저빔을 조사하여 상기 폴리머층을 연질화시킴으로써 상기 지지 기판을 분리시키는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터 기판의 제조방법을 제공한다.The present invention also provides a method of forming a polymer layer on (i) forming a polymer layer on a support substrate, (ii) forming a metal layer on the polymer layer, and (iii) forming a first insulating layer on the metal layer. (Iv) forming a thin film transistor having a gate electrode, a source electrode and a drain electrode, and a semiconductor layer in contact with the source electrode and the drain electrode, respectively, on the first insulating layer; Forming a first electrode electrically connected to any one of a source electrode and a drain electrode of the thin film transistor, (vi) forming an intermediate layer including a light emitting layer on the first electrode, and (vii) the intermediate layer Forming a second electrode on the substrate; and (viii) separating the supporting substrate by irradiating a laser beam to soften the polymer layer. To provide a crude method.

이러한 본 발명의 다른 특징에 의하면, 상기 폴리머층은 폴리이미드로 형성되는 것으로 할 수 있다.According to such another feature of the present invention, the polymer layer may be formed of polyimide.

본 발명의 또 다른 특징에 의하면, 상기 지지 기판은 글라스재 기판인 것으로 할 수 있다.According to still another feature of the present invention, the support substrate may be a glass substrate.

본 발명의 또 다른 특징에 의하면, 상기 레이저빔은 상기 지지 기판을 통해 조사되는 것으로 할 수 있다.According to another feature of the invention, the laser beam may be irradiated through the support substrate.

본 발명의 또 다른 특징에 의하면, 상기 박막 트랜지스터를 형성하는 단계를 거친 후 상기 제 1 전극을 형성하는 단계를 행하기에 앞서, 상기 박막 트랜지스터를 덮는 평탄화막을 형성하는 단계를 더 구비하는 것으로 할 수 있다.According to still another aspect of the present invention, the method may further include forming a planarization film covering the thin film transistor before the forming of the first electrode after the forming of the thin film transistor. have.

본 발명의 또 다른 특징에 의하면, 상기 제 1 전극의 일부분을 노출시키도록 화소 정의막을 형성하는 단계를 더 구비하는 것으로 할 수 있다.According to still another feature of the present disclosure, the method may further include forming a pixel defining layer to expose a portion of the first electrode.

본 발명의 또 다른 특징에 의하면, 상기 박막 트랜지스터는 폴리 실리콘 박막 트랜지스터인 것으로 할 수 있다.According to still another feature of the present invention, the thin film transistor may be a polysilicon thin film transistor.

이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1 내지 도 3은 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 박막 트랜지스터 기판의 제조공정을 개략적으로 도시하는 단면도들이다.1 to 3 are cross-sectional views schematically illustrating a manufacturing process of a thin film transistor substrate according to an exemplary embodiment of the present invention.

먼저 도 1에 도시되어 있는 것과 같이 지지 기판(101) 상에 폴리머층(103)을 형성하고, 이 폴리머층(103) 상에 금속층(105)을 형성하며, 금속층(105) 상에 제 1 절연층(107)을 형성하고, 이 제 1 절연층(107) 상에 박막 트랜지스터(120)와 박막 트랜지스터(120)에 전기적으로 연결된 제 1 전극(131)을 형성한다.First, as shown in FIG. 1, a polymer layer 103 is formed on a support substrate 101, a metal layer 105 is formed on the polymer layer 103, and a first insulating layer is formed on the metal layer 105. The layer 107 is formed, and the thin film transistor 120 and the first electrode 131 electrically connected to the thin film transistor 120 are formed on the first insulating layer 107.

지지 기판(101)으로는 글라스재 기판 등과 같이 고열에도 잘 견딜 수 있는 재질로 형성된 것을 이용한다. 또한, 그 기계적 강도가 충분하여 그 상부에 다양한 소자 또는 층들이 형성될 경우에도 그 변형이 없는 재질로 형성된 것을 이용하는 것이 바람직하다.The support substrate 101 is formed of a material that can withstand high heat, such as a glass substrate. In addition, even when the mechanical strength is sufficient and various elements or layers are formed thereon, it is preferable to use one formed of a material having no deformation.

폴리머층(103)은 다양한 재료로 형성될 수 있는데, 후술하는 바와 같이 레이저빔이 조사되었을 시 용이하게 연질화되는 재료로 형성된 것을 이용하는 것이 바람직하다. 이러한 폴리머층(103)으로서 적합한 재료로서 폴리이미드, 폴리스티렌 또는 PMMA(poly(methyl methacrylate)) 등을 들 수 있다. 이에 대해서는 후술한다.The polymer layer 103 may be formed of various materials. As described below, it is preferable to use one formed of a material that is softened easily when the laser beam is irradiated. Examples of suitable materials for the polymer layer 103 include polyimide, polystyrene, and PMMA (poly (methyl methacrylate)). This will be described later.

폴리머층(103) 상의 금속층(105)은 플렉서블 특성을 갖는 바, 후에 박막 트랜지스터 기판이 완성된 후에 박막 트랜지스터 기판의 실질적인 플렉서블 기판으로 서 작용한다. 이 금속층(105)은 또한 배리어 특성이 우수하여 외부의 불순물이 금속층(105) 상부에 형성될 소자로 침투하는 것을 방지하는 역할도 한다.The metal layer 105 on the polymer layer 103 has a flexible property, and later serves as a substantially flexible substrate of the thin film transistor substrate after the thin film transistor substrate is completed. The metal layer 105 also has excellent barrier properties to prevent external impurities from penetrating into the element to be formed on the metal layer 105.

금속층(105) 상의 제 1 절연층(107)은 실리콘 옥사이드 또는 실리콘 나이트라이드 등과 같은 무기물로 형성될 수도 있고, 파릴렌 또는 에폭시 등의 유기물로 형성될 수도 있다. 물론 유무기 복합막으로 형성될 수도 있는 등 다양한 변형이 가능함은 물론이다. 이러한 제 1 절연층(107)은은 금속층(105)의 상면을 평탄화하는 역할과, 금속층(105)으로부터 그 상부의 소자들을 절연시키는 역할과, 금속층(105)으로부터의 금속 이온 등의 불순물이 그 상부에 형성될 박막 트랜지스터(120) 등으로 침투하는 것을 방지하는 배리어 역할 등을 한다.The first insulating layer 107 on the metal layer 105 may be formed of an inorganic material such as silicon oxide or silicon nitride, or may be formed of an organic material such as parylene or epoxy. Of course, various modifications are possible, such as may be formed into an organic-inorganic composite film. The first insulating layer 107 serves to planarize the top surface of the metal layer 105, to insulate the elements thereon from the metal layer 105, and to prevent impurities such as metal ions from the metal layer 105 from above. It serves as a barrier to prevent penetration into the thin film transistor 120 to be formed in.

도 1에서는 제 1 절연층(107) 상의 박막 트랜지스터(120)로서 코플래나형(coplanar) 박막 트랜지스터가 구비된 경우를 도시하고 있다. 그러나 이와 달리 다른 구조의 박막 트랜지스터가 구비될 수도 있음은 물론이다. 이하에서는 편의상 도 1에 도시된 형태의 박막 트랜지스터(120)가 구비된 경우에 대해 설명한다.In FIG. 1, a coplanar thin film transistor is provided as the thin film transistor 120 on the first insulating layer 107. However, of course, a thin film transistor having a different structure may be provided. Hereinafter, a case in which the thin film transistor 120 of the type shown in FIG. 1 is provided for convenience.

도 1에 도시된 것과 같이 코플래나형 박막 트랜지스터가 구비될 경우, 제 1 절연층(107) 상에 반도체층(127)이 형성되고, 이 반도체층 상에 게이트 절연막(125)과 게이트 전극(121)이 형성되며, 게이트 절연막(125)에 형성된 컨택홀을 통해 반도체층(127)에 각각 접하는 소스 전극과 드레인 전극(123)을 형성한다. 이때 도 1에서는 게이트 전극(121)의 상부에 예시적으로 전술한 바와 같이 제 1 절연층(107) 형성용 물질로 형성된 제 2 절연층(129)이 구비되고 이 제 2 절연층(129) 상에 소스 전극과 드레인 전극(123)이 구비된 것으로 도시되어 있으나, 제 2 절연 층(129)이 구비되지 않고 소스 전극과 드레인 전극(123)이 게이트 전극(121)과 동일 층 상에 게이트 전극(121)으로부터 이격되어 형성될 수도 있는 등 다양한 변형이 가능하다.When the coplanar thin film transistor is provided as shown in FIG. 1, the semiconductor layer 127 is formed on the first insulating layer 107, and the gate insulating layer 125 and the gate electrode 121 are formed on the semiconductor layer. ) And a source electrode and a drain electrode 123 respectively contacting the semiconductor layer 127 through contact holes formed in the gate insulating layer 125. In this case, in FIG. 1, a second insulating layer 129 formed of a material for forming the first insulating layer 107 is provided on the gate electrode 121 and is formed on the second insulating layer 129. Although the source electrode and the drain electrode 123 are shown in the drawing, the second insulating layer 129 is not provided, and the source electrode and the drain electrode 123 are disposed on the same layer as the gate electrode 121. Various modifications are possible, such as may be formed spaced apart from 121).

게이트 전극(121)과, 소스 전극 및 드레인 전극(123)은 다양한 도전성 물질로 형성할 수 있다. 예컨대 Mg, Al, Ni, Cr, Mo, W, MoW 또는 Au 등의 물질로 형성할 수 있으며, 이 경우에도 단일층 뿐만 아니라 복수층의 형상으로 형성할 수도 있는 등 다양한 변형이 가능하다. 게이트 절연막(125)은 전술한 제 1 절연막(129)용 물질로 형성될 수 있다.The gate electrode 121, the source electrode, and the drain electrode 123 may be formed of various conductive materials. For example, it may be formed of a material such as Mg, Al, Ni, Cr, Mo, W, MoW or Au, and in this case, various modifications are possible, such as not only a single layer but also a plurality of layers. The gate insulating layer 125 may be formed of the material for the first insulating layer 129 described above.

한편, 도 1에 도시된 바와 같이 소스 전극과 드레인 전극(123) 중 어느 한 전극에 제 1 전극(131)이 전기적으로 연결되도록 형성된다. 이때 도 1에서는 박막 트랜지스터(120)를 덮도록 평탄화막(109)이 형성되고 이 평탄화막(109) 상에 제 1 전극(131)이 형성된 것으로 도시되어 있으나, 본 발명이 이에 한정되는 것은 아니다. 즉, 평탄화막(109)을 형성하지 않고 박막 트랜지스터(120)의 소스 전극 및 드레인 전극(123)과 동일 평면 상에 제 1 전극(131)이 구비되도록 할 수도 있으며, 이 경우 박막 트랜지스터(120)의 소스 전극 및 드레인 전극(123) 중 제 1 전극(131)과 전기적으로 연결된 전극과 제 1 전극(131)은 일체로 형성될 수도 있다.Meanwhile, as shown in FIG. 1, the first electrode 131 is formed to be electrically connected to any one of the source electrode and the drain electrode 123. In this case, although the planarization layer 109 is formed to cover the thin film transistor 120 and the first electrode 131 is formed on the planarization layer 109, the present invention is not limited thereto. That is, the first electrode 131 may be provided on the same plane as the source electrode and the drain electrode 123 of the thin film transistor 120 without forming the planarization layer 109. In this case, the thin film transistor 120 The electrode and the first electrode 131 electrically connected to the first electrode 131 of the source electrode and the drain electrode 123 may be integrally formed.

제 1 전극(131)은 후에 디스플레이 소자에 구비되는 전극들 중 일 전극으로서 기능하는 것으로, 다양한 도전성 물질로 형성될 수 있다. 이 제 1 전극(131)은 후에 형성될 디스플레이 소자에 따라 투명 전극으로서 형성될 수도 있고 반사형 전극으로서 형성될 수도 있다. 투명 전극으로 사용될 때에는 ITO, IZO, ZnO 또는 In2O3로 구비될 수 있고, 반사형 전극으로 사용될 때에는 Ag, Mg, Al, Pt, Pd, Au, Ni, Nd, Ir, Cr 및 이들의 화합물 등으로 반사막을 형성한 후, 그 위에 ITO, IZO, ZnO 또는 In2O3를 형성할 수 있다.The first electrode 131 may function as one electrode among electrodes provided in the display element, and may be formed of various conductive materials. The first electrode 131 may be formed as a transparent electrode or may be formed as a reflective electrode according to a display element to be formed later. When used as a transparent electrode may be provided with ITO, IZO, ZnO or In 2 O 3 , when used as a reflective electrode Ag, Mg, Al, Pt, Pd, Au, Ni, Nd, Ir, Cr and compounds thereof After the reflection film is formed, or the like, ITO, IZO, ZnO, or In 2 O 3 can be formed thereon.

이와 같이 형성한 후, 도 2에 도시된 바와 같이 레이저빔을 조사하여 폴리머층(103)을 연질화시켜 지지 기판(101)을 분리시킴으로써, 도 3에 도시된 바와 같이 박막 트랜지스터(120)가 구비된 박막 트랜지스터 기판을 얻게 된다. After forming as described above, the thin film transistor 120 is provided as shown in FIG. 3 by irradiating a laser beam to soften the polymer layer 103 to separate the support substrate 101. A thin film transistor substrate is obtained.

따라서 플렉서블 특성이 우수한 금속층(105)을 기초로 하는 플렉서블 박막 트랜지스터 기판을 구현할 수 있게 된다. Therefore, it is possible to implement a flexible thin film transistor substrate based on the metal layer 105 having excellent flexible characteristics.

한편, 지지 기판(101)을 분리시키기 위하여 레이저빔을 조사하는 바, 이 레이저빔은 폴리머층(103)을 연질화시키는 역할을 한다. 즉, 레이저빔을 조사함으로써 폴리머층(103)의 온도가 유리전이온도(glass transition temperature), 즉 폴리머층(103)이 경질의 유리상태로부터 연질상태로 변화되는 온도에 이르게 함으로써 지지 기판(101)을 분리시킨다. 예컨대 폴리머층(103)을 폴리이미드로 형성할 경우, 이 폴리이미드의 유리전이온도는 대략 300℃이므로, 대략 248nm의 파장 및 대략 0.07J/cm2 내지 5.0J/cm2의 강도를 갖는 레이저빔을 조사함으로써 폴리머층(103)을 연질화시켜 지지 기판(101)을 분리시킬 수 있다. 폴리머층(103)을 PMMA로 형성할 경우에는 대략 308nm의 파장 및 대략 0.5J/cm2 내지 3.0J/cm2의 강도를 갖는 레이저빔을 조사함으로써 폴리머층(103)을 연질화시켜 지지 기판(101)을 분리시킬 수 있 다. On the other hand, the laser beam is irradiated to separate the support substrate 101, and this laser beam serves to soften the polymer layer 103. That is, by irradiating a laser beam, the temperature of the polymer layer 103 reaches the glass transition temperature, that is, the temperature at which the polymer layer 103 changes from the hard glass state to the soft state, thereby supporting the substrate 101. To separate. For example, when the polymer layer 103 is formed of polyimide, since the glass transition temperature of the polyimide is about 300 ° C., the laser beam has a wavelength of about 248 nm and an intensity of about 0.07 J / cm 2 to 5.0 J / cm 2 . Irradiation of the polymer layer 103 can be softened to separate the support substrate 101. For forming a polymer layer 103 of PMMA is approximately 308nm wavelength and about 0.5J / cm 2 to 3.0J / supported by softening the polymer layer (103) substrate by irradiating a laser beam having an intensity of 2 cm ( 101) can be separated.

한편, 반도체층(127)을 폴리 실리콘으로 형성하는 공정 등과 같이 박막 트랜지스터 기판의 제조공정 중에는 폴리머층(103)이 연질화되지 않아야 한다. 따라서 폴리머층(103)의 유리전이온도는 충분히 높은 것이 바람직한데, 예컨대 반도체층(127)을 폴리 실리콘으로 형성할 경우 아모포스 실리콘을 폴리 실리콘으로 변화시키기 위한 온도는 대략 300℃이므로, 이와 같은 공정 중 폴리머층(103)이 연질화되지 않도록 폴리머층(103)의 유리 전이온도가 대략 300℃ 이상인 것이 바람직하다.Meanwhile, the polymer layer 103 should not be softened during the manufacturing process of the thin film transistor substrate such as the process of forming the semiconductor layer 127 from polysilicon. Therefore, it is preferable that the glass transition temperature of the polymer layer 103 is sufficiently high. For example, when the semiconductor layer 127 is formed of polysilicon, the temperature for changing amorphous silicon to polysilicon is about 300 ° C. The glass transition temperature of the polymer layer 103 is preferably about 300 ° C. or more so that the polymer layer 103 is not softened.

이와 같이 레이저빔을 조사하여 폴리머층(103)을 연질화시킴으로써 지지 기판(101)을 분리시키는 바, 레이저빔이 용이하게 폴리머층(103)에 도달할 수 있도록 지지 기판(101)으로 글라스재 기판을 이용하고 레이저빔은 이 글라스재 지지 기판(101)을 통해 조사되도록 할 수 있다. 물론 지지 기판(101)으로서 글라스재 이외에도 투명한 물질로 형성된 것을 이용할 수도 있다.As described above, the support substrate 101 is separated by softening the polymer layer 103 by irradiating a laser beam, so that the glass substrate is supported by the support substrate 101 so that the laser beam can easily reach the polymer layer 103. And the laser beam can be irradiated through the glass support substrate 101. Of course, the support substrate 101 may be formed of a transparent material in addition to the glass material.

이때, 레이저빔이 지지 기판(101)을 통해 폴리머층(103)에 도달하는 것에 그치지 않고 폴리머층(103)을 통과할 수도 있으나, 이 통과된 레이저빔은 폴리머층(103) 상의 금속층(105)에 의해 반사되어 다시 폴리머층(103)에 조사되게 되어, 폴리머층(103)의 연질화를 더욱 활성시켜 지지 기판(10)의 분리를 더욱 용이하게 하는 역할도 할 수 있다.In this case, the laser beam may pass through the polymer layer 103 instead of reaching the polymer layer 103 through the support substrate 101, but the laser beam passes through the metal layer 105 on the polymer layer 103. It is reflected by the light to be irradiated to the polymer layer 103 again, it is also possible to further facilitate the soft nitriding of the polymer layer 103 to facilitate the separation of the support substrate 10 more.

도 4는 도 3의 박막 트랜지스터 기판을 이용하여 제조된 유기 발광 디스플레이 장치를 개략적으로 도시하는 단면도이다.4 is a cross-sectional view schematically illustrating an organic light emitting display device manufactured using the thin film transistor substrate of FIG. 3.

전술한 바와 같이 박막 트랜지스터 기판을 제조하고, 도 4에 도시된 바와 같이 절연성 물질로 패터닝된 제 1 전극(131)의 적어도 일부가 노출되도록 화소 정의막을 형성하며, 이어 제 1 전극(131)의 노출된 부분에 발광층을 포함하는 중간층(133)을 형성하고, 이 중간층(133)을 중심으로 제 1 전극(131)에 대향하도록 제 2 전극(135)을 형성함으로써 유기 발광 디스플레이 장치를 제조할 수 있다.A thin film transistor substrate is manufactured as described above, and a pixel defining layer is formed to expose at least a portion of the first electrode 131 patterned with an insulating material as shown in FIG. 4, and then the first electrode 131 is exposed. The organic light emitting display device may be manufactured by forming an intermediate layer 133 including a light emitting layer on the portion and forming a second electrode 135 facing the first electrode 131 around the intermediate layer 133. .

도 4에는 중간층(133)이 각 부화소, 즉 패터닝된 각 제 1 전극(131)에만 대응되도록 패터닝된 것으로 도시되어 있으나 이는 부화소의 구성을 설명하기 위해 편의상 그와 같이 도시한 것이며, 중간층(133)은 인접한 부화소의 중간층과 일체로 형성될 수도 있음은 물론이다. 또한 중간층(133) 중 일부의 층은 각 부화소별로 형성되고, 다른 층은 인접한 부화소의 중간층과 일체로 형성될 수도 있는 등 그 다양한 변형이 가능하다.In FIG. 4, the intermediate layer 133 is patterned so as to correspond only to each subpixel, that is, each patterned first electrode 131, but this is illustrated as such for convenience of description of the configuration of the subpixel, 133 may be formed integrally with an intermediate layer of an adjacent subpixel. In addition, some layers of the intermediate layer 133 may be formed for each subpixel, and other layers may be integrally formed with an intermediate layer of an adjacent subpixel.

중간층(133)은 저분자 또는 고분자 유기물로 구비될 수 있다. 저분자 유기물을 사용할 경우 정공 주입층(HIL: hole injection layer), 정공 수송층(HTL: hole transport layer), 유기 발광층(EML: emissive layer), 전자 수송층(ETL: electron transport layer), 전자 주입층(EIL: electron injection layer) 등이 단일 혹은 복합의 구조로 적층되어 형성될 수 있으며, 사용 가능한 유기 재료도 구리 프탈로시아닌(CuPc: copper phthalocyanine), N,N-디(나프탈렌-1-일)-N,N'-디페닐-벤지딘 (N,N'-Di(naphthalene-1-yl)-N,N'-diphenyl-benzidine: NPB) , 트리스-8-하이드록시퀴놀린 알루미늄(tris-8-hydroxyquinoline aluminum)(Alq3) 등을 비롯해 다양하게 적용 가능하다. 이들 저분자 유기물은 마스크들을 이용한 진공증착 등의 방법으 로 형성될 수 있다.The intermediate layer 133 may be provided with low molecular weight or high molecular organic material. When using low molecular weight organic material, hole injection layer (HIL), hole transport layer (HTL), emissive layer (EML), electron transport layer (ETL), electron injection layer (EIL) The electron injection layer may be formed by stacking a single or complex structure, and the usable organic materials may be copper phthalocyanine (CuPc), N, N-di (naphthalen-1-yl) -N, N '-Diphenyl-benzidine (N, N'-Di (naphthalene-1-yl) -N, N'-diphenyl-benzidine: NPB), tris-8-hydroxyquinoline aluminum ( Alq3) can be used in various ways. These low molecular weight organic materials may be formed by a method such as vacuum deposition using masks.

고분자 유기물의 경우에는 대개 정공 수송층(HTL) 및 발광층(EML)으로 구비된 구조를 가질 수 있으며, 이 때, 상기 정공 수송층으로 PEDOT를 사용하고, 발광층으로 PPV(Poly-Phenylenevinylene)계 및 폴리플루오렌(Polyfluorene)계 등 고분자 유기물질을 사용한다.In the case of the polymer organic material, the structure may include a hole transport layer (HTL) and a light emitting layer (EML). In this case, PEDOT is used as the hole transport layer, and poly-phenylenevinylene (PPV) and polyfluorene are used as the light emitting layer. Polymer organic materials such as (Polyfluorene) are used.

제 2 전극(135)도 제 1 전극(131)과 마찬가지로 투명 전극 또는 반사형 전극으로 구비될 수 있는데, 투명 전극으로 사용될 때는 Li, Ca, LiF/Ca, LiF/Al, Al, Mg 및 이들의 화합물로 이루어진 층과, 이 층 상에 ITO, IZO, ZnO 또는 In2O3 등의 투명 전극 형성용 물질로 형성된 보조 전극이나 버스 전극 라인을 구비할 수 있다. 그리고, 반사형 전극으로 사용될 때에는 Li, Ca, LiF/Ca, LiF/Al, Al, Mg 및 이들의 화합물을 전면 증착하여 형성한다.Like the first electrode 131, the second electrode 135 may be provided as a transparent electrode or a reflective electrode, and when used as a transparent electrode, Li, Ca, LiF / Ca, LiF / Al, Al, Mg, and their A layer made of a compound and an auxiliary electrode or bus electrode line formed of a material for forming a transparent electrode such as ITO, IZO, ZnO, or In 2 O 3 may be provided on the layer. When used as a reflective electrode, Li, Ca, LiF / Ca, LiF / Al, Al, Mg, and compounds thereof are formed by full deposition.

물론 본 실시예에 따른 유기 발광 디스플레이 장치에서는 박막 트랜지스터(120)를 형성하고 레이저빔을 조사하여 지지 기판(101)을 제거한 후 유기 발광 소자(130)를 형성하여 유기 발광 디스플레이 장치를 제조하는 것으로 설명하였으나, 그 변형도 가능함은 물론이다.Of course, in the organic light emitting display device according to the present embodiment, the organic light emitting display device is manufactured by forming the thin film transistor 120, removing the support substrate 101 by irradiating a laser beam, and forming the organic light emitting element 130. However, the modification is also possible, of course.

예컨대 도 1에 도시된 것과 같이 지지 기판(101) 상에 폴리머층(103)과 금속층(105)과 제 1 절연층(107)을 형성하고, 제 1 절연층(107) 상에 박막 트랜지스터(120)와 이에 전기적으로 연결된 제 1 전극(131)을 형성하며, 이어 제 1 전극(131) 상에 중간층(133)과 제 2 전극(135)을 형성하여 유기 발광 소자(130)가 완 성되도록 한 후, 레이저빔을 조사하여 폴리머층(103)을 연질화시킴으로써 지지 기판(101)을 제거할 수도 있다.For example, as shown in FIG. 1, the polymer layer 103, the metal layer 105, and the first insulating layer 107 are formed on the support substrate 101, and the thin film transistor 120 is disposed on the first insulating layer 107. And the first electrode 131 electrically connected thereto, and then the intermediate layer 133 and the second electrode 135 are formed on the first electrode 131 to complete the organic light emitting device 130. Thereafter, the support substrate 101 may be removed by irradiating a laser beam to soften the polymer layer 103.

이와 같이 박막 트랜지스터 기판의 제조 또는 유기 발광 디스플레이 장치의 제조에 있어서 지지 기판(101)과 폴리머층(103)을 도입하여 고온 공정을 거친 후 레이저빔을 조사하여 폴리머층(103)을 연질화시켜 지지 기판(101)을 제거하는 방법을 이용함으로써, 플렉서블 기판 상에 박막 트랜지스터가 구비된 플렉서블 박막 트랜지스터 기판 또는 플렉서블 유기 발광 디스플레이 장치를 용이하게 제조할 수 있다.As described above, in the manufacture of the thin film transistor substrate or the manufacture of the organic light emitting display device, the support substrate 101 and the polymer layer 103 are introduced and subjected to a high temperature process, followed by irradiation with a laser beam to soften the polymer layer 103. By using the method of removing the substrate 101, the flexible thin film transistor substrate or the flexible organic light emitting display device having the thin film transistor on the flexible substrate can be easily manufactured.

상기한 바와 같이 이루어진 본 발명의 박막 트랜지스터 기판의 제조방법 및 이를 이용한 유기 발광 디스플레이 장치의 제조방법에 따르면, 박막 트랜지스터의 형성 과정에서의 고온 공정을 견딜 수 있는 플렉서블 기판을 이용하지 않고도 플렉서블 기판 상에 박막 트랜지스터가 구비된 박막 트랜지스터 기판을 제조할 수 있으며, 이를 이용하여 플렉서블 특성이 우수한 유기 발광 디스플레이 장치를 제조할 수 있다.According to the manufacturing method of the thin film transistor substrate of the present invention and the manufacturing method of the organic light emitting display device using the same as described above, on the flexible substrate without using a flexible substrate that can withstand the high temperature process in the process of forming the thin film transistor A thin film transistor substrate having a thin film transistor may be manufactured, and an organic light emitting display device having excellent flexible characteristics may be manufactured using the thin film transistor substrate.

본 발명은 도면에 도시된 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 다른 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의하여 정해져야 할 것이다.Although the present invention has been described with reference to the embodiments shown in the drawings, these are merely exemplary, and those skilled in the art will understand that various modifications and equivalent other embodiments are possible. Therefore, the true technical protection scope of the present invention will be defined by the technical spirit of the appended claims.

Claims (15)

지지 기판 상에 폴리머층을 형성하는 단계;Forming a polymer layer on a support substrate; 상기 폴리머층 상에, 레이저빔을 반사시킬 수 있는 금속층을 형성하는 단계;Forming a metal layer on the polymer layer capable of reflecting a laser beam; 상기 금속층 상에 제 1 절연층을 형성하는 단계;Forming a first insulating layer on the metal layer; 상기 제 1 절연층 상에, 게이트 전극과, 소스 전극 및 드레인 전극과, 상기 소스 전극 및 드레인 전극에 각각 접하는 반도체층을 구비하는 박막 트랜지스터를 형성하는 단계; 및Forming a thin film transistor having a gate electrode, a source electrode and a drain electrode, and a semiconductor layer in contact with the source electrode and the drain electrode, respectively, on the first insulating layer; And 레이저빔을 조사하여 상기 폴리머층을 연질화시킴으로써 상기 지지 기판을 분리시키는 단계;를 구비하는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터 기판의 제조방법.And separating the support substrate by irradiating a laser beam to soften the polymer layer. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 폴리머층은 폴리이미드로 형성되는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터 기판의 제조방법.The polymer layer is a method of manufacturing a thin film transistor substrate, characterized in that formed of polyimide. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 지지 기판은 글라스재 기판인 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터 기 판의 제조방법.The support substrate is a method of manufacturing a thin film transistor substrate, characterized in that the glass substrate. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 레이저빔은 상기 지지 기판을 통해 조사되는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터 기판의 제조방법.And the laser beam is irradiated through the support substrate. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 박막 트랜지스터를 형성하는 단계를 거친 후, 상기 박막 트랜지스터를 덮는 평탄화막을 형성하는 단계를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터 기판의 제조방법.And after forming the thin film transistor, forming a planarization film covering the thin film transistor. 삭제delete 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 박막 트랜지스터는 폴리 실리콘 박막 트랜지스터인 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터 기판의 제조방법.And the thin film transistor is a polysilicon thin film transistor. 제 1항 내지 제 5항 및 제7항 중 어느 한 항의 방법으로 박막 트랜지스터 기판을 제조하는 단계;Manufacturing a thin film transistor substrate by the method of any one of claims 1 to 5 and 7; 상기 박막 트랜지스터의 소스 전극 및 드레인 전극 중 어느 하나에 전기적으로 연결된 제 1 전극을 형성하는 단계;Forming a first electrode electrically connected to any one of a source electrode and a drain electrode of the thin film transistor; 상기 제 1 전극 상에 발광층을 포함하는 중간층을 형성하는 단계; 및Forming an intermediate layer including a light emitting layer on the first electrode; And 상기 중간층 상에 제 2 전극을 형성하는 단계;를 구비하는 것을 특징으로 하는 유기 발광 디스플레이 장치의 제조방법.Forming a second electrode on the intermediate layer; and manufacturing the organic light emitting display device. 지지 기판 상에 폴리머층을 형성하는 단계;Forming a polymer layer on a support substrate; 상기 폴리머층 상에, 레이저빔을 반사시킬 수 있는 금속층을 형성하는 단계;Forming a metal layer on the polymer layer capable of reflecting a laser beam; 상기 금속층 상에 제 1 절연층을 형성하는 단계;Forming a first insulating layer on the metal layer; 상기 제 1 절연층 상에, 게이트 전극과, 소스 전극 및 드레인 전극과, 상기 소스 전극 및 드레인 전극에 각각 접하는 반도체층을 구비하는 박막 트랜지스터를 형성하는 단계;Forming a thin film transistor having a gate electrode, a source electrode and a drain electrode, and a semiconductor layer in contact with the source electrode and the drain electrode, respectively, on the first insulating layer; 상기 박막 트랜지스터의 소스 전극 및 드레인 전극 중 어느 하나에 전기적으로 연결된 제 1 전극을 형성하는 단계;Forming a first electrode electrically connected to any one of a source electrode and a drain electrode of the thin film transistor; 상기 제 1 전극 상에 발광층을 포함하는 중간층을 형성하는 단계;Forming an intermediate layer including a light emitting layer on the first electrode; 상기 중간층 상에 제 2 전극을 형성하는 단계; 및Forming a second electrode on the intermediate layer; And 레이저빔을 조사하여 상기 폴리머층을 연질화시킴으로써 상기 지지 기판을 분리시키는 단계;를 구비하는 것을 특징으로 하는 유기 발광 디스플레이 장치의 제조방법.And separating the support substrate by irradiating a laser beam to soften the polymer layer. 제 9항에 있어서,The method of claim 9, 상기 폴리머층은 폴리이미드로 형성되는 것을 특징으로 하는 유기 발광 디스플레이 장치의 제조방법.The polymer layer is a method of manufacturing an organic light emitting display device, characterized in that formed of polyimide. 제 9항에 있어서,The method of claim 9, 상기 지지 기판은 글라스재 기판인 것을 특징으로 하는 유기 발광 디스플레이 장치의 제조방법.The support substrate is a method of manufacturing an organic light emitting display device, characterized in that the glass substrate. 제 9항에 있어서,The method of claim 9, 상기 레이저빔은 상기 지지 기판을 통해 조사되는 것을 특징으로 하는 유기 발광 디스플레이 장치의 제조방법.The laser beam is a method of manufacturing an organic light emitting display device, characterized in that irradiated through the support substrate. 제 9항에 있어서,The method of claim 9, 상기 박막 트랜지스터를 형성하는 단계를 거친 후 상기 제 1 전극을 형성하는 단계를 행하기에 앞서, 상기 박막 트랜지스터를 덮는 평탄화막을 형성하는 단계를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 유기 발광 디스플레이 장치의 제조방법.And after forming the thin film transistor, and before forming the first electrode, forming a planarization film covering the thin film transistor. 제 9항에 있어서,The method of claim 9, 상기 제 1 전극의 일부분을 노출시키도록 화소정의막을 형성하는 단계를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 유기 발광 디스플레이 장치의 제조방법.And forming a pixel definition layer to expose a portion of the first electrode. 제 9항 내지 제 14항 중 어느 한 항에 있어서,The method according to any one of claims 9 to 14, 상기 박막 트랜지스터는 폴리 실리콘 박막 트랜지스터인 것을 특징으로 하는 유기 발광 디스플레이 장치의 제조방법.The thin film transistor is a method of manufacturing an organic light emitting display device, characterized in that the polysilicon thin film transistor.
KR1020060062997A 2006-07-05 2006-07-05 Method of manufacturing thin film transistor substrate, and method of manufacturing Organic light emitting display apparatus by use of the same KR100804527B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060062997A KR100804527B1 (en) 2006-07-05 2006-07-05 Method of manufacturing thin film transistor substrate, and method of manufacturing Organic light emitting display apparatus by use of the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060062997A KR100804527B1 (en) 2006-07-05 2006-07-05 Method of manufacturing thin film transistor substrate, and method of manufacturing Organic light emitting display apparatus by use of the same

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20080004232A KR20080004232A (en) 2008-01-09
KR100804527B1 true KR100804527B1 (en) 2008-02-20

Family

ID=39215109

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020060062997A KR100804527B1 (en) 2006-07-05 2006-07-05 Method of manufacturing thin film transistor substrate, and method of manufacturing Organic light emitting display apparatus by use of the same

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100804527B1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104064691A (en) * 2013-03-22 2014-09-24 株式会社东芝 Method for manufacturing display device and display device

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101582943B1 (en) * 2009-10-15 2016-01-08 삼성디스플레이 주식회사 Manufacturing method of flat panel display
KR101633116B1 (en) * 2009-12-14 2016-06-24 엘지디스플레이 주식회사 Display Device And Manufacturing Method Of The Same
KR101097323B1 (en) 2009-12-21 2011-12-23 삼성모바일디스플레이주식회사 Crystallization method, method of manufacturing a thin film transistor and method of manufacturing a display device
KR101936625B1 (en) * 2012-03-27 2019-01-10 엘지디스플레이 주식회사 Flexible organic light emitting diode display device and fabricating method of the same
KR101872963B1 (en) * 2012-04-17 2018-06-29 엘지디스플레이 주식회사 Method of fabricating organic light emitting device
US9178178B2 (en) 2013-05-16 2015-11-03 Samsung Display Co., Ltd. Organic light-emitting diode display having improved adhesion and damage resistance characteristics, an electronic device including the same, and method of manufacturing the organic light-emitting diode display
KR102104608B1 (en) 2013-05-16 2020-04-27 삼성디스플레이 주식회사 TFT substrate including barrier layer including silicon oxide layer and silicon silicon nitride layer, Organic light-emitting device comprising the TFT substrate, and the manufacturing method of the TFT substrate
KR102074431B1 (en) * 2013-07-19 2020-03-03 삼성디스플레이 주식회사 Thin film transistor substrate and the method therefor, organic light emitting display comprising the same
KR102100763B1 (en) 2013-08-08 2020-04-16 삼성디스플레이 주식회사 Flexible display device
KR102303243B1 (en) 2015-01-14 2021-09-17 삼성디스플레이 주식회사 Apparatus and method for manufacturing display apparatus
KR20190081475A (en) 2017-12-29 2019-07-09 엘지디스플레이 주식회사 Display apparatus
US20190229173A1 (en) * 2018-01-23 2019-07-25 Int Tech Co., Ltd. Light emitting device and manufacturing method thereof

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001053290A (en) 1995-02-16 2001-02-23 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Manufacture of thin-film integrated circuit
JP2005085705A (en) 2003-09-10 2005-03-31 Seiko Epson Corp Electric device, its manufacturing method, electronic apparatus
KR20050059259A (en) * 2002-10-30 2005-06-17 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 Semiconductor device and method for manufacturing semiconductor device
KR20050104812A (en) * 2004-04-29 2005-11-03 삼성에스디아이 주식회사 Method of manufacturing flat panel display device

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001053290A (en) 1995-02-16 2001-02-23 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Manufacture of thin-film integrated circuit
KR20050059259A (en) * 2002-10-30 2005-06-17 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 Semiconductor device and method for manufacturing semiconductor device
JP2005085705A (en) 2003-09-10 2005-03-31 Seiko Epson Corp Electric device, its manufacturing method, electronic apparatus
KR20050104812A (en) * 2004-04-29 2005-11-03 삼성에스디아이 주식회사 Method of manufacturing flat panel display device

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104064691A (en) * 2013-03-22 2014-09-24 株式会社东芝 Method for manufacturing display device and display device

Also Published As

Publication number Publication date
KR20080004232A (en) 2008-01-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100804527B1 (en) Method of manufacturing thin film transistor substrate, and method of manufacturing Organic light emitting display apparatus by use of the same
KR101065318B1 (en) Method of manufacturing flexible display apparatus
KR101097344B1 (en) Method of manufacturing flexible display apparatus
JP4652951B2 (en) ORGANIC LIGHT EMITTING ELEMENT AND METHOD FOR PRODUCING THE ORGANIC LIGHT EMITTING ELEMENT
KR101860859B1 (en) Manufacturing method of thin film transistor, the thin film transistor manufactured by the same, manufacturing method of organic light emitting apparatus and the organic light emitting apparatus manufactured by the same
US8692254B2 (en) Organic light-emitting display device and method of manufacturing the same
KR100647683B1 (en) Organic thin film transistor and flat display apparatus comprising the same
TWI553847B (en) Organic light-emitting display device and method of manufacturing the same
KR100659103B1 (en) Organic thin film transistor, flat panel display apparatus comprising the same, and method of manufacturing the organic thin film transistor
CN102386207A (en) Organic light emitting display device and method of manufacturing the same
TW201218375A (en) Organic light-emitting display device and method of manufacturing the same
KR20110057985A (en) Flexible display apparatus and method thereof
JP4391451B2 (en) MANUFACTURING METHOD FOR SUBSTRATE HAVING THIN FILM TRANSISTOR, SUBSTRATE HAVING THIN FILM TRANSISTOR PRODUCED BY THE METHOD, MANUFACTURING METHOD FOR PANEL DISPLAY DEVICE, AND FLAT DISPLAY DEVICE MANUFACTURING THE SAME
US20060051888A1 (en) Method of fabricating organic light emitting display and display fabricated by the method
US7696520B2 (en) Organic thin film transistor, method of manufacturing the same, and organic light emitting display device having the same
KR100804526B1 (en) Method of manufacturing organic light emitting display apparatus
KR100626051B1 (en) Organic thin film transistor, method of manufacturing the same, and flat display apparatus
KR100708695B1 (en) Flat panel display and method for fabricating the same
KR100669328B1 (en) Organic thin film transistor, method of manufacturing the same and flat panel display device with the organic thin film transistor
KR100719567B1 (en) Flat display device and manufacturing method thereof
KR100647629B1 (en) Method of manufacturing thin film transistor, thin film transistor manufactured by the method, method of manufacturing flat panel display device, and flat panel display device manufactured by the method
KR20060039664A (en) Method of manufacturing thin film transistor, thin film transistor manufactured by the method, method of manufacturing flat panel display device, and flat panel display device manufactured by the method
KR20090124328A (en) Thin film transistor for flat panel display device, organic light emitting display device comprising the same, and manufacturing thereof

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130205

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20140129

Year of fee payment: 7

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150130

Year of fee payment: 8

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180201

Year of fee payment: 11

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190129

Year of fee payment: 12

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20200203

Year of fee payment: 13