KR100783297B1 - 마스크 증착 공정에 사용되는 실리콘 마스크 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (10)
- a) 실리콘 웨이퍼 상에 포토리소그래피 공정을 이용하여 감광성 수지 패턴을 형성하는 단계;b) a) 단계 후 실리콘 웨이퍼를 식각하여 실리콘 웨이퍼를 관통하는 개구부를 형성하는 단계; 및c) b) 단계 후 실리콘 웨이퍼 상의 감광성 수지를 제거하는 단계;를 포함하여 제조되며,상기 실리콘 웨이퍼는 표면이 <100> 결정면인 단결정의 실리콘 웨이퍼이고, 상기 개구부의 수직 단면은 상부는 넓고 하부는 좁아지는 역사다리꼴 형태로써 상기 개구부의 경사면이 <111> 결정면이고, 개구부의 경사면과 실리콘 웨이퍼 하부면이 이루는 각도가 54.7도이며, 상기 실리콘 웨이퍼를 관통하는 개구부의 하부 패턴 폭(x)은 상부 패턴 폭(a) 및 실리콘 웨이퍼의 두께(d)로부터 하기 수학식에 의하여 결정되는 것을 특징으로 하는 마스크 증착용 실리콘 마스크의 제조방법.[수학식]x = a - 2×(d/tan(54.7°))
- 삭제
- 제 1항에 있어서,상기 개구부는 강염기성 식각액으로 식각되어 형성되는 것을 특징으로 하는 마스크 증착용 실리콘 마스크의 제조방법.
- 제 3항에 있어서,상기 강염기성 식각액은 수산화칼륨, 수산화나트륨 또는 이의 혼합물을 함유 하는 것을 특징으로 하는 마스크 증착용 실리콘 마스크의 제조방법.
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 제 1항에 있어서,상기 실리콘 웨이퍼는 두께가 0.3 내지 1.0mm인 것을 특징으로 하는 마스크 증착용 실리콘 마스크의 제조방법.
- 제1항, 제 3항, 제 4항 또는 제 8항에서 선택되는 어느 한 항의 제조방법에 의해 제조되는 마스크 증착용 실리콘 마스크.
- 제 9항의 실리콘 마스크를 사용하는 마스크 증착법에 의해 기판 상에 금속 배선을 형성하는 방법.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060045499A KR100783297B1 (ko) | 2006-05-22 | 2006-05-22 | 마스크 증착 공정에 사용되는 실리콘 마스크 |
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KR1020060045499A KR100783297B1 (ko) | 2006-05-22 | 2006-05-22 | 마스크 증착 공정에 사용되는 실리콘 마스크 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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KR20070112514A KR20070112514A (ko) | 2007-11-27 |
KR100783297B1 true KR100783297B1 (ko) | 2007-12-10 |
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KR1020060045499A KR100783297B1 (ko) | 2006-05-22 | 2006-05-22 | 마스크 증착 공정에 사용되는 실리콘 마스크 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100783297B1 (ko) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101292846B1 (ko) * | 2011-07-01 | 2013-08-02 | 지에스나노텍 주식회사 | 박막 전지 제조용 패턴 마스크 및 이의 제조 방법, 이를 사용한 박막 전지용 고체 전해질 제조 방법 |
CN105575892B (zh) * | 2015-12-17 | 2018-04-03 | 武汉高芯科技有限公司 | 一种红外探测器铟柱的工艺方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001196881A (ja) * | 2000-01-05 | 2001-07-19 | Tokki Corp | 水晶振動子の電極形成マスク |
KR20040070526A (ko) * | 2003-02-04 | 2004-08-11 | 주식회사 엘리아테크 | 웨이퍼를 이용한 새도우 마스크, 그 제조방법 및 그를이용한 풀칼라 유기el 소자의 제조방법 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2001196881A (ja) * | 2000-01-05 | 2001-07-19 | Tokki Corp | 水晶振動子の電極形成マスク |
KR20040070526A (ko) * | 2003-02-04 | 2004-08-11 | 주식회사 엘리아테크 | 웨이퍼를 이용한 새도우 마스크, 그 제조방법 및 그를이용한 풀칼라 유기el 소자의 제조방법 |
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Publication number | Publication date |
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KR20070112514A (ko) | 2007-11-27 |
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