KR100780713B1 - 액정 표시패널의 테스트장치 - Google Patents

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    • H01L22/14—Measuring as part of the manufacturing process for electrical parameters, e.g. resistance, deep-levels, CV, diffusions by electrical means

Abstract

본 발명은 액정 표시패널의 테스트 장치에 관한 것으로, 액정패널의 모델들에 따라 사전에 테스트 장치의 각 부품들을 일체형으로 개별 제작한 다음 테스트가 진행될 액정패널에 해당하는 일체형 부품을 프레임에 조립하여 테스트를 진행함으로써, 조작이 간단하여 기술자의 조작 실수를 최소화할 수 있게 되므로, 테스트 장치의 고장 발생요인을 줄일 수 있으며, 액정패널의 모델이 변경되는 경우에도 손쉽게 대처할 수 있게 되어 액정패널의 변경에 따른 테스트 장치의 교체에 소요되는 시간을 대폭 줄일 수 있으므로, 생산성을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.

Description

액정 표시패널의 테스트장치{TESTER OF LIQUID CRYSTAL DISPLAY PANEL}
도1은 하판과 상판이 대향하여 접착된 단위 액정패널의 개략적인 평면도.
도2는 도1의 단위 액정패널이 테스트 장치에 결합된 상태를 보인 예시도.
도3은 도2의 니들을 상세히 보인 예시도.
도4는 본 발명에 따른 액정 표시패널의 테스트 장치에 대한 제1실시예의 예시도.
도5는 도4의 니들을 상세히 보인 예시도.
도6은 본 발명에 따른 액정 표시패널의 테스트 장치에 대한 제2실시예의 예시도.
*** 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 ***
100:액정패널 101:게이트 패드부
102:데이터 패드부 110:제1프레임
120:제2프레임 121:인터페이스용 인쇄회로기판
122:게이트 구동용 인쇄회로기판 123:데이터 구동용 인쇄회로기판
124,125:TCP 블럭 126,127:니들
128A,128B,128C:케이블 128,130:FPC 블럭
129:게이트 드라이버 집적회로부 131:데이터 드라이버 집적회로부
140:정렬 키 150:테스트 패턴 발생부
본 발명은 액정 표시패널의 테스트 장치에 관한 것으로, 특히 액정 표시패널의 사이즈에 따라 테스트를 위한 부품의 교체 시간을 최소화하기에 적당하도록 한 액정 표시패널의 테스트 장치에 관한 것이다.
일반적으로, 액정 표시장치는 매트릭스 형태로 배열된 액정 셀들에 데이터신호를 개별적으로 공급하여, 그 액정 셀들의 광투과율을 조절함으로써, 데이터신호에 해당하는 화상이 표시되는 표시장치이다.
따라서, 액정 표시장치는 화소 단위를 이루는 액정 셀들이 액티브 매트릭스 형태로 배열되는 액정 패널과; 상기 액정 셀들을 구동하기 위한 드라이버 집적회로(integrated circuit : IC)가 구비된다.
이때, 액정 패널은 상부 및 하부기판이 마주보는 각 내측의 한쪽 면에는 공통전극이 형성되고, 다른쪽 면에는 화소전극이 형성되어 서로 대향하도록 배열되며, 그 공통전극과 화소전극을 통해 상부 및 하부기판의 이격 간격에 주입 형성된 액정층에 전계를 인가한다. 이와같은 화소전극은 하부기판 상에 액정 셀 별로 형성되는 반면에 공통전극은 상부기판의 전면에 일체화되어 형성된다.
또한, 상기 액정 패널의 하부기판 상에는 데이터 드라이버 집적회로로부터 공급되는 데이터 신호를 액정 셀들에 전송하기 위한 다수의 데이터 라인들과, 게이트 드라이버 집적회로로부터 공급되는 주사신호를 액정 셀들에 전송하기 위한 다수 의 게이트 라인들이 서로 직교하는 방향으로 형성되고, 상기 데이터 라인들과 게이트 라인들의 일단부에는 상기 데이터 드라이버 집적회로 및 게이트 드라이버 집적회로로부터 공급되는 데이터 신호 및 주사신호가 각각 인가되는 입력패드가 구비되며, 그 데이터 라인들과 게이트 라인들의 교차부마다 액정 셀들이 정의된다.
이때, 상기 게이트 드라이버 집적회로는 다수의 게이트라인에 순차적으로 주사신호를 공급함으로써, 매트릭스 형태로 배열된 액정 셀들이 1개 라인씩 순차적으로 선택되도록 하고, 그 선택된 1개 라인의 액정 셀들에는 데이터 드라이버 집적회로로부터 데이터 신호가 공급된다.
또한, 각각의 액정 셀에는 스위칭 소자로 사용되는 박막 트랜지스터가 형성되며, 상기의 게이트 라인을 통하여 박막 트랜지스터의 게이트 전극에 주사신호가 공급된 액정 셀들에서는 그 박막 트랜지스터의 소스/드레인 전극 사이에 도전채널이 형성되는데, 이때 상기 데이터 라인을 통해 박막 트랜지스터의 소스 전극에 공급된 데이터신호가 박막 트랜지스터의 드레인 전극을 경유하여 화소전극에 공급됨에 따라 해당 액정 셀의 광투과율이 조절된다.
여기서, 액정 패널을 구성하는 상부 및 하부 기판은 대형의 유리 모 기판에 다수개의 단위 패널이 형성되며, 통상 4개 또는 6개를 동시에 형성한 다음 각각의 단위 패널로 절단하여 수율 향상을 도모하고 있다. 이와같은 액정 표시장치의 제조 과정을 개략적으로 설명하면 다음과 같다.
먼저, 하판의 유리기판 상에 박막 트랜지스터, 화소전극 및 커패시터가 구비된 단위 화소를 매트릭스 형태로 형성한다.
그리고, 상판의 유리기판 상에 공통전극, 컬러필터 및 블랙 매트릭스를 패터닝한다.
그리고, 상기 하판과 상판에 각각 배향막을 형성한 다음 러빙(rubbing)을 실시한다. 이때, 러빙은 천을 이용하여 균일한 압력과 속도로 배향막 표면과 마찰시킴으로써, 배향막 표면의 고분자 사슬이 일정한 방향으로 정렬되도록 하여 액정의 초기 배향방향을 결정하는 공정을 말한다.
그리고, 상기 상판 상에 실 패턴(seal pattern)을 인쇄한다. 이때, 실 패턴은 액정을 주입하기 위한 갭을 마련하고, 주입된 액정의 누설을 방지하는 2가지 기능을 한다.
그리고, 상기 하판 상에 스페이서(spacer)를 산포한다.
그리고, 상기 상판과 하판을 합착한다. 이때, 상판과 하판의 합착을 위한 정렬은 상판과 하판의 설계과정에서 주어진 마진(margin)에 의해 결정되는데 통상 수 ㎛ 정도의 정밀도가 요구되며, 이 마진을 벗어날 경우에는 빛이 새어 나오게 되어 액정 표시장치의 원하는 화질 특성을 기대할 수 없게 된다.
그리고, 상기 합착된 상판과 하판을 단위 패널로 절단한다. 이때, 단위 패널의 절단은 유리기판에 비해 경도가 높은 다이아몬드 재질의 펜으로 기판 표면에 절단 예정선을 형성하는 스크라이브(scribe) 공정과, 기계적 힘을 가해 절단하는 브레이크(break) 공정으로 이루어진다.
그리고, 상기 절단된 단위 패널에 액정을 주입하고, 그 주입구를 밀봉한다.
일반적으로, 초기 액정 표시장치의 제조과정에서는 다수개의 액정 패널에 액 정을 주입한 다음 단위 패널로 절단하였으나, 단위 패널의 크기가 증가함에 따라 단위 패널로 절단한 다음 액정을 주입하는 방식이 사용되고 있다.
상기 단위 패널은 수백 ㎠ 면적에 수 ㎛의 갭을 갖기 때문에 효과적으로 액정을 주입하기 위해서, 단위 패널 내외의 압력차를 이용한 진공 주입법이 가장 일반적으로 사용된다.
상기한 바와같은 제조과정을 통해 액정 표시장치의 단위 패널 제작이 완료되면, 그 단위 패널을 백라이트 어셈블리와 게이트 드라이버 집적회로 및 데이터 드라이버 집적회로가 조립된 완제품과 동일한 환경의 테스트 설비로 이동시켜 테스트를 진행한다.
상기 테스트 설비로 이동된 단위 패널에는 실제 완제품을 구동시킬 때와 동일한 구동신호가 인가되어 화상이 디스플레이되므로, 단위 패널의 불량이 발생되는 영역을 손쉽게 확인할 수 있다.
이하, 액정 표시장치의 단위 패널 및 그 테스트장치에 대해 도 1을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
먼저, 도1에 하판(11)과 상판(12)이 대향하여 접착된 단위 액정패널(10)의 개략적인 평면도가 도시되어 있다.
도1을 참조하면, 상기 액정패널(10)은 액정 셀들이 매트릭스 형태로 배열되는 화상표시부(13)와, 그 화상표시부(13)의 게이트 라인들과 접속되는 게이트 패드부(14) 및 데이터 라인들과 접속되는 데이터 패드부(15)를 포함한다. 이때, 게이트 패드부(14)와 데이터 패드부(15)는 상판(12)과 중첩되지 않는 하판(11)의 가장자리 영역에 형성되며, 게이트 패드부(14)는 게이트 드라이버 집적회로로부터 공급되는 주사신호를 화상표시부(13)의 게이트 라인들에 공급하고, 데이터 패드부(15)는 데이터 드라이버 집적회로로부터 공급되는 화상정보를 화상표시부(13)의 데이터 라인에 공급한다.
여기서, 도면상에 상세히 도시하지는 않았지만, 화상표시부(13)의 하판(11)에는 화상정보가 인가되는 데이터 라인들과 주사신호가 인가되는 게이트 라인들이 서로 교차하여 배치되고, 그 교차부에 액정 셀들을 스위칭하기 위한 박막트랜지스터와, 그 박막 트랜지스터에 접속되어 액정 셀을 구동하는 화소전극과, 이와같은 전극과 박막 트랜지스터를 보호하기 위해 전면에 형성된 보호막이 구비된다.
또한, 상기 화상표시부(13)의 상판(12)에는 블랙 매트릭스에 의해 셀 영역별로 분리되어 도포된 칼러필터들과, 상기 하판(11)에 형성된 화소전극의 상대전극인 공통 투명전극이 구비된다.
상기한 바와같이 구성된 하판(11)과 상판(12)은 스페이서에 의해 이격되어 내부에 셀-갭이 마련되고, 그 셀-갭은 액정으로 채워지게 된다. 그리고, 하판(11)과 상판(12)은 화상표시부(13)의 외곽부에 실링재가 도포되어 형성된 실링부(16)에 의해 접착된다.
한편, 도2에는 상기 도1의 단위 액정패널(10)이 테스트 장치에 결합된 상태를 보인 예시도가 도시되어 있다.
도2를 참조하면, 액정패널(10)의 테두리를 따라 소정의 간격이 이격되는 사각 띠 형태의 프레임(frame, 20)이 구비된다.
그리고, 상기 액정패널(10)의 게이트 패드부(14)에 대향하는 프레임(20)의 일측에는 게이트 구동용 인쇄회로기판(printed circuit board : PCB, 21)이 구비되며, 상기 액정패널(10)의 데이터 패드부(15)에 대향하는 프레임(20)의 타측에는 데이터 구동용 인쇄회로기판(22)이 구비된다.
또한, 상기 프레임(20)에는 게이트 구동용 인쇄회로기판(21)과 데이터 구동용 인쇄회로기판(22)의 교차 영역에 인터페이스용 인쇄회로기판(23)이 구비되며, 그 인터페이스용 인쇄회로기판(23)은 케이블(24A,24B)을 통해 게이트 구동용 인쇄회로기판(21) 및 데이터 구동용 인쇄회로기판(22)과 각각 연결되며, 아울러 또 다른 케이블(24C)을 통해 프레임(20) 외부의 테스트 패턴 발생부(test pattern generator, 40)에 연결된다.
한편, 상기 게이트 패드부(14)와 대향하는 게이트 구동용 인쇄회로기판(21)의 일단부는 다수개의 TCP(tape carrier package) 블럭(25)들과 니들(needle, 26)들을 통해 액정패널(10)의 게이트 패드부(14)에 연결되며, 마찬가지로 상기 데이터 패드부(15)와 대향하는 데이터 구동용 인쇄회로기판(22)의 일단부도 다수개의 TCP 블럭(27)들과 니들(28)들을 통해 액정패널(10)의 데이터 패드부(15)에 연결된다.
그리고, 상기 게이트 구동용 인쇄회로기판(21)과 다수개의 니들(26)들을 각각 연결시키는 개개의 TCP 블럭(25)에는 상기 게이트 구동용 인쇄회로기판(21)과 니들(26)들을 접속시키기 위한 FPC(flexible printed circuit) 블럭(29)과; 상기 게이트 구동용 인쇄회로기판(21)으로부터 인가되는 주사신호를 상기 니들(26)들을 통해 게이트 패드부(14)에 공급하기 위한 게이트 드라이버 집적회로부(30)가 구비 된다.
또한, 상기 데이터 구동용 인쇄회로기판(22)과 다수개의 니들(28)들을 각각 연결시키는 개개의 TCP 블럭(27)에는 상기 데이터 구동용 인쇄회로기판(22)과 니들(28)들을 접속시키기 위한 FPC 블럭(31)과; 상기 데이터 구동용 인쇄회로기판(22)으로부터 인가되는 화상정보를 상기 니들(28)들을 통해 데이터 패드부(15)에 공급하기 위한 데이터 드라이버 집적회로부(32)가 구비된다.
한편, 도면상의 미설명 부호 "50"은 상기 프레임(20)과 게이트 구동용 인쇄회로기판(21) 및 데이터 구동용 인쇄회로기판(22)을 정렬 조립할 수 있도록 하는 정렬 키(align key)이다.
상기한 바와같은 테스트 장치의 동작과정을 상세히 설명하면 다음과 같다.
먼저, 사각 띠 형태의 프레임(20)에 테스트가 진행될 액정패널(10)의 모델에 따른 게이트 구동용 인쇄회로기판(21)과 데이터 구동용 인쇄회로기판(22)이 조립되며, 그 게이트 구동용 인쇄회로기판(21)에는 테스트가 진행될 액정패널(10)의 모델에 따라 적절한 갯수의 TCP 블럭(25)들과 니들(26)들이 조립되고, 마찬가지로 데이터 구동용 인쇄회로기판(22)에도 테스트가 진행될 액정패널(10)의 모델에 따라 적절한 갯수의 TCP 블럭(27)들과 니들(28)들이 조립된다.
그리고, 상기 사각 띠 형태의 프레임(20) 내부에 액정패널(10)을 로딩시킴으로써, 상기 조립된 니들(26,28)들과 액정패널(10)의 게이트 패드부(14) 및 데이터 패드부(15)를 연결시킨다.
이때, 상기 니들(26,28)들은 도3의 예시도에 도시한 바와같이 니들본체(40) 의 일측방향으로 돌출되어 아래방향으로 절곡되는 다수개의 세선(細線, 41)들로 구성되며, 액정패널(10)이 로딩되면, 그 세선(41)들과 액정패널(10)의 게이트 패드부(14) 및 데이터 패드부(15)가 접촉되는데, 이때 세선(41)들이 약 3㎛ 정도 들어 올려진다.
상기한 바와같이 액정패널(10)이 로딩되어 프레임(20)과 연결되면, 외부의 테스트 패턴 발생기(50)로부터 액정패널(10)의 게이트 라인을 구동하기 위한 주사신호와 데이터 라인에 공급될 화상정보가 케이블(24C)을 통해 인터페이스용 인쇄회로기판(23)에 인가된다.
상기 액정패널(10)의 게이트 라인을 구동하기 위한 주사신호와 데이터 라인에 공급될 화상정보는 상기 인터페이스용 인쇄회로기판(23)에서 분기되어 게이트 구동용 인쇄회로기판(21)과 데이터 구동용 인쇄회로기판(22)에 케이블(24A,24B)을 통해 각각 인가된다.
따라서, 상기 게이트 구동용 인쇄회로기판(21)에 공급된 주사신호는 다수개의 TCP 블럭(25)들과 니들(26)들을 통해 액정패널(10)의 게이트 패드부(14)에 인가되며, 상기 데이터 구동용 인쇄회로기판(22)에 공급된 화상정보는 다수개의 TCP 블럭(27)들과 니들(28)들을 통해 액정패널(10)의 데이터 패드부(15)에 인가된다.
이때, 상기 게이트 구동용 인쇄회로기판(21)과 연결되는 TCP 블럭(25)들에는 게이트 드라이버 집적회로부(30)가 구비되어, 액정패널(10)의 게이트 패드부(14)에 요구되는 주사신호를 공급할 수 있도록 하며, 마찬가지로 상기 데이터 구동용 인쇄회로기판(22)과 연결되는 TCP 블럭(27)에는 데이터 드라이버 집적회로부(32)가 구 비되어, 액정패널(10)의 데이터 패드부(15)에 요구되는 화상정보를 공급할 수 있도록 한다.
상기한 바와같은 종래 액정 표시패널의 테스트 장치는 테스트가 진행될 대상 액정패널(10)의 모델에 따라 상기 인터페이스용 인쇄회로기판(23), 게이트 구동용 인쇄회로기판(21), 데이터 구동용 인쇄회로기판(22), TCP 블럭(25,27)들 및 니들(26,28)들이 개별적으로 조립되어 대상 액정패널(10)의 테스트를 수행한다.
즉, 액정패널(10)은 모델에 따라 그 사이즈가 달라지므로, 테스트가 진행될 대상 액정패널(10)에 따라 상기 인터페이스용 인쇄회로기판(23), 게이트 구동용 인쇄회로기판(21), 데이터 구동용 인쇄회로기판(22), TCP 블럭(25,27)들 및 니들(26,28)들이 개별적으로 조립되며, 다음 테스트에서 액정패널(10)의 모델이 변경되는 경우에는 개별적으로 조립된 상기 인터페이스용 인쇄회로기판(23), 게이트 구동용 인쇄회로기판(21), 데이터 구동용 인쇄회로기판(22), TCP 블럭(25,27)들 및 니들(26,28)들을 분해하고, 다시 테스트가 진행될 액정패널(10)의 모델에 맞추어 상기 인터페이스용 인쇄회로기판(23), 게이트 구동용 인쇄회로기판(21), 데이터 구동용 인쇄회로기판(22), TCP 블럭(25,27)들 및 니들(26,28)들을 개별적으로 조립해야 한다.
이러한 종래의 테스트 장치는 숙련된 기술자가 상기 액정패널(10)의 모델에 따라 테스트 장치의 각 부품들을 교체하더라도 대략 6시간 정도가 소요되어 생산성이 저하되며, 기술자의 조작 실수로 인한 테스트 장치의 각 부품들의 고장 발생요인을 배제할 수 없는 등의 문제점이 있었다.
따라서, 본 발명은 상기한 바와같은 종래의 문제점을 해결하기 위하여 창안한 것으로, 본 발명의 목적은 액정 표시패널의 모델에 따라 테스트를 위한 부품의 교체 시간을 최소화함과 아울러 기술자의 조작 실수를 최소화할 수 있는 액정 표시패널의 테스트 장치를 제공하는데 있다.
상기한 바와 같은 본 발명의 목적을 달성하기 위한 액정 표시패널의 테스트 장치에 대한 제1실시예는, 테스트가 진행될 액정패널의 테두리를 따라 소정의 간격이 이격되며, 정렬 키(align key)가 구비된 사각 띠 형태의 제1프레임과; 상기 제1프레임과 정렬 키에 의해 조립되며, 액정패널의 모델에 따라 인터페이스용 인쇄회로기판, 게이트 구동용 인쇄회로기판, 데이터 구동용 인쇄회로기판, TCP 블럭들 및 니들들이 일체형으로 제작된 제2프레임과; 상기 제2프레임의 인터페이스용 인쇄회로기판과 케이블을 통해 연결되는 외부의 테스트 패턴 발생부를 구비하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
그리고, 상기한 바와같은 본 발명의 목적을 달성하기 위한 액정 표시패널의 테스트 장치에 대한 제2실시예는 테스트가 진행될 액정패널의 테두리를 따라 소정의 간격이 이격되며, 정렬 키가 구비된 사각 띠 형태의 제1프레임과; 상기 제1프레임의 일측에 구비되며, 케이블을 통해 외부의 테스트 패턴 발생부와 연결되는 인터페이스용 인쇄회로기판과; 상기 제1프레임과 정렬 키에 의해 조립되며, 상기 인터페이스용 인쇄회로기판과 소켓(socket) 방식으로 연결됨과 아울러 액정패널의 모델 에 따라 TCP 블럭들 및 니들들이 일체형으로 제작된 게이트 구동용 인쇄회로기판 및 데이터 구동용 인쇄회로기판을 구비하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
상기한 바와 같은 본 발명에 따른 액정 표시패널의 테스트 장치에 대한 실시예들에 대해 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
도4는 본 발명에 의한 액정 표시패널의 테스트 장치에 대한 제1실시예의 예시도가 도시되어 있다.
도4를 참조하면, 액정패널(100)의 테두리를 따라 소정의 간격이 이격되며, 정렬 키(140)가 구비된 사각 띠 형태의 제1프레임(110)과; 상기 제1프레임(110)과 정렬 키(140)에 의해 조립되며, 상기 액정패널(100)의 모델에 따라 인터페이스용 인쇄회로기판(121), 게이트 구동용 인쇄회로기판(122), 데이터 구동용 인쇄회로기판(123), TCP 블럭(124,125)들 및 니들(126,127)들이 일체형으로 제작된 제2프레임(120)과; 상기 제2프레임(120)의 인터페이스용 인쇄회로기판(121)과 케이블(128C)을 통해 연결되는 외부의 테스트 패턴 발생부(150)가 구비된다.
이때, 도면상의 미설명 부호 "128A,128B"는 인터페이스용 인쇄회로기판(121)과 게이트 구동용 인쇄회로기판(122) 및 데이터 구동용 인쇄회로기판(123)을 각각 접속시키는 케이블이다.
상기 제2프레임(120)에 일체형으로 제작된 게이트 구동용 인쇄회로기판(122)은 TCP 블럭(124)들 및 니들(126)들에 의해 액정패널(100)의 게이트 패드부(101)와 연결되며, 마찬가지로 데이터 구동용 인쇄회로기판(123)도 TCP 블럭(125)들 및 니들(127)들에 의해 액정패널(100)의 데이터 패드부(102)와 연결된다.
또한, 상기 게이트 구동용 인쇄회로기판(122)과 다수개의 니들(126)들을 각각 연결시키는 개개의 TCP 블럭(124)에는 상기 게이트 구동용 인쇄회로기판(122)과 니들(126)들을 접속시키기 위한 FPC 블럭(128)과; 상기 게이트 구동용 인쇄회로기판(122)으로부터 인가되는 주사신호를 니들(126)들을 통해 액정패널(100)의 게이트 패드부(101)에 공급하기 위한 게이트 드라이버 집적회로부(129)가 구비된다.
그리고, 상기 데이터 구동용 인쇄회로기판(123)과 다수개의 니들(127)들을 각각 연결시키는 개개의 TCP 블럭(125)에는 상기 데이터 구동용 인쇄회로기판(123)과 니들(127)들을 접속시키기 위한 FPC 블럭(130)과; 상기 데이터 구동용 인쇄회로기판(123)으로부터 인가되는 화상정보를 니들(127)들을 통해 액정패널(100)의 데이터 패드부(102)에 공급하기 위한 데이터 드라이버 집적회로부(131)가 구비된다.
상기한 바와같은 본 발명의 제1실시예에 따른 액정 표시패널의 테스트 장치는 사전에 테스트 장치의 각 부품들을 일체형으로 제2프레임(120) 상에 제작한다.
이때, 테스트 장치의 각 부품들이 일체형으로 제작된 제2프레임(120)은 액정패널(100)의 모델들에 따라 개별적으로 준비된다.
따라서, 액정패널(100)의 테스트가 수행되면, 먼저 액정패널(100)의 모델에 해당하는 제2프레임(120)이 선택되어, 정렬 키(140)에 의해 제1프레임(110)과 조립된다.
상기 제1프레임(110)과 제2프레임(120)이 조립된 이후에, 사각 띠 형태의 제1프레임(110) 내부에 액정패널(100)이 로딩됨으로써, 제2프레임(120)에 일체형으로 제작된 니들(126,127)들과 액정패널(100)의 게이트 패드부(101) 및 데이터 패드 부(102)가 연결된다.
이때, 니들(126,127)들은 도5의 예시도에 도시한 바와같이 니들본체(160)의 일측방향으로 돌출되어 아래방향으로 절곡되는 다수개의 세선(161)들과; 상기 니들본체(160)의 상부 내측에 마련되어 상기 다수개의 세선(161)들의 상부로 호를 그리면서 슬라이딩되어 덮어씌우는 세선덮개(162)가 구비된다.
한편, 액정패널(100)이 로딩되면, 상기 세선(161)들과 액정패널(100)의 게이트 패드부(101) 및 데이터 패드부(102)가 접촉되는데, 이때 세선(161)들이 약 3㎛ 정도 들어 올려지므로, 상기 세선덮개(162)가 세선(161)들을 덮어씌웠을때, 세선(161)들의 상부에서 약 1mm 정도 이격되도록 하는 것이 바람직하다.
상기 세선덮개(162)는 테스트 장치의 각 부품들이 제2프레임(120) 상에 일체형으로 제작될 경우, 상대적으로 취약한 니들(126,127)들의 세선(161)들을 보호함으로써, 전체적으로 테스트 장치의 수명 연장에 기여하게 된다.
상기한 바와같은 본 발명에 의한 액정 표시패널의 테스트 장치에 대한 제1실시예는 액정패널(100)의 모델들에 따라 사전에 테스트 장치의 각 부품들을 일체형으로 제2프레임(120) 상에 개별 제작한다.
따라서, 테스트가 진행될 액정패널(100)의 모델에 해당하는 제2프레임(120)을 선택하여 정렬 키(140)에 의해 제1프레임(110)과 조립하는 단순한 방식으로 액정패널(100)의 테스트를 실시할 수 있으며, 다음 테스트에서 액정패널(100)의 모델이 변경되는 경우에는 상기 제1프레임(110)으로부터 제2프레임(120)을 분해한 다음 변경된 액정패널(100)의 모델에 해당하는 제2프레임(120)을 선택하여 다시 정렬 키(140)에 의해 제1프레임(110)과 조립하는 단순한 방식으로 변경된 액정패널(100)의 테스트를 실시할 수 있게 된다.
한편, 본 발명의 다른 실시예에 따른 액정표시패널의 테스트 장치에 대해 도 6을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
도6은 본 발명에 의한 액정 표시패널의 테스트 장치에 대한 제2실시예의 예시도가 도시되어 있다.
도6을 참조하면, 본 발명의 다른 실시예에 따른 액정표시패널의 테스트 장치는 액정패널(200)의 테두리를 따라 소정의 간격이 이격되며, 정렬 키(240)가 구비된 사각 띠 형태의 제1프레임(210)과; 상기 제1프레임(210)의 일측에 구비되며, 케이블(228C)을 통해 외부의 테스트 패턴 발생부(250)와 연결되는 인터페이스용 인쇄회로기판(221)과; 상기 제1프레임(210)과 정렬 키(240)에 의해 조립되며, 상기 인터페이스용 인쇄회로기판(221)과 소켓(301,302) 방식으로 연결됨과 아울러 상기 액정패널(200)의 모델에 따라 TCP 블럭(224,225)들 및 니들(226,227)들이 일체형으로 제작된 게이트 구동용 인쇄회로기판(222) 및 데이터 구동용 인쇄회로기판(223)이 구비된다.
상기 게이트 구동용 인쇄회로기판(222)은 일체형으로 제작된 TCP 블럭(224)들 및 니들(226)들에 의해 액정패널(200)의 게이트 패드부(201)와 연결되며, 마찬가지로 데이터 구동용 인쇄회로기판(223)도 일체형으로 제작된 TCP 블럭(225)들 및 니들(227)들에 의해 액정패널(200)의 데이터 패드부(202)와 연결된다.
또한, 상기 게이트 구동용 인쇄회로기판(222)과 다수개의 니들(226)들을 각각 연결시키는 개개의 TCP 블럭(224)에는 상기 게이트 구동용 인쇄회로기판(222)과 니들(226)들을 접속시키기 위한 FPC 블럭(228)과; 상기 게이트 구동용 인쇄회로기판(222)으로부터 인가되는 주사신호를 니들(226)들을 통해 액정패널(200)의 게이트 패드부(201)에 공급하기 위한 게이트 드라이버 집적회로부(229)가 구비된다.
그리고, 상기 데이터 구동용 인쇄회로기판(223)과 다수개의 니들(227)들을 각각 연결시키는 개개의 TCP 블럭(225)에는 상기 데이터 구동용 인쇄회로기판(223)과 니들(227)들을 접속시키기 위한 FPC 블럭(231)과; 상기 데이터 구동용 인쇄회로기판(223)으로부터 인가되는 화상정보를 니들(227)들을 통해 액정패널(200)의 데이터 패드부(202)에 공급하기 위한 데이터 드라이버 집적회로부(230)가 구비된다.
상기한 바와같은 본 발명의 제2실시예에 따른 액정 표시패널의 테스트 장치는 사각 띠 형태의 제1프레임(210)의 일측에 케이블(228C)을 통해 외부의 테스트 패턴 발생부(250)와 연결되는 인터페이스용 인쇄회로기판(221)이 구비된다.
그리고, 테스트 장치의 게이트 구동용 인쇄회로기판(222)과 데이터 구동용 인쇄회로기판(223) 상에 액정패널(200)의 모델에 따라 각각 TCP 블럭(224,225)들 및 니들(226,227)들이 일체형으로 제작된다.
이때, TCP 블럭(224,225)들 및 니들(226,227)들이 각각 일체형으로 제작된 게이트 구동용 인쇄회로기판(222)과 데이터 구동용 인쇄회로기판(223)은 상기 액정패널(200)의 모델들에 따라 사전에 개별적으로 준비된다.
따라서, 액정패널(200)의 테스트가 수행되면, 먼저 액정패널(200)의 모델에 해당하는 게이트 구동용 인쇄회로기판(222)과 데이터 구동용 인쇄회로기판(223)이 선택되어, 정렬 키(240)에 의해 제1프레임(210)과 조립되며, 아울러 상기 인터페이스용 인쇄회로기판(221)과 소켓(301,302) 방식으로 각각 접속된다.
상기 제1프레임(210)과 게이트 구동용 인쇄회로기판(222) 및 데이터 구동용 인쇄회로기판(223)이 조립되고, 아울러 그 게이트 구동용 인쇄회로기판(222) 및 데이터 구동용 인쇄회로기판(223)과 인터페이스용 인쇄회로기판(221)이 접속된 이후에, 사각 띠 형태의 제1프레임(210) 내부에 액정패널(200)이 로딩됨으로써, 상기 게이트 구동용 인쇄회로기판(222)과 데이터 구동용 인쇄회로기판(223)에 일체형으로 제작된 니들(226,227)들과 액정패널(200)의 게이트 패드부(201) 및 데이터 패드부(202)가 연결된다.
이때, 니들(226,227)들은 상기 도5의 예시도와 동일하게 준비된다.
상기한 바와같은 본 발명에 의한 액정 표시패널의 테스트 장치에 대한 제2실시예는 사각 띠 형태의 제1프레임(210)의 일측에 케이블(228C)을 통해 외부의 테스트 패턴 발생부(250)와 연결되는 인터페이스용 인쇄회로기판(221)이 구비되며, 액정패널(200)의 모델들에 따라 사전에 TCP 블럭(224,225)들 및 니들(226,227)들을 일체형으로 게이트 구동용 인쇄회로기판(222)과 데이터 구동용 인쇄회로기판(223) 상에 개별 제작한다.
따라서, 테스트가 진행될 액정패널(200)의 모델에 해당하는 게이트 구동용 인쇄회로기판(222)과 데이터 구동용 인쇄회로기판(223)을 선택하여 정렬 키(240)에 의해 제1프레임(210)과 조립하고, 그 게이트 구동용 인쇄회로기판(222) 및 데이터 구동용 인쇄회로기판(223)을 인터페이스용 인쇄회로기판(221)과 소켓(301,302) 방식으로 접속하여 액정패널(200)의 테스트를 실시할 수 있으며, 다음 테스트에서 액정패널(200)의 모델이 변경되는 경우에는 상기 제1프레임(210)으로부터 게이트 구동용 인쇄회로기판(222)과 데이터 구동용 인쇄회로기판(223)을 분해하고, 그 게이 트 구동용 인쇄회로기판(222) 및 데이터 구동용 인쇄회로기판(223)을 인터페이스용 인쇄회로기판(221)과 소켓(301,302) 방식으로 분리시킨 다음 변경된 액정패널(200)의 모델에 해당하는 게이트 구동용 인쇄회로기판(222)과 데이터 구동용 인쇄회로기판(223)을 선택하여 정렬 키(240)에 의해 제1프레임(210)과 조립하고, 그 게이트 구동용 인쇄회로기판(222) 및 데이터 구동용 인쇄회로기판(223)을 인터페이스용 인쇄회로기판(221)과 소켓(301,302) 방식으로 접속하여 변경된 액정패널(200)의 테스트를 실시할 수 있게 된다.
이때, 상기 인터페이스용 인쇄회로기판(221) 및 그 인터페이스용 인쇄회로기판(221)과 게이트 구동용 인쇄회로기판(222) 및 데이터 구동용 인쇄회로기판(223)을 접속시키는 소켓(301,302)은 액정패널(200)의 모델에 따른 주사신호 및 화상정보를 적절히 처리할 수 있도록 설계되어야 한다.
상기한 바와같이 본 발명에 의한 액정 표시패널의 테스트 장치는 다음과 같은 효과를 갖는다.
먼저, 본 발명의 제1실시예에 따른 액정 표시패널의 테스트 장치는 액정패널의 모델들에 따라 사전에 테스트 장치의 각 부품들을 일체형으로 제2프레임에 개별 제작한 다음 테스트가 진행될 액정패널의 모델에 해당하는 제2프레임을 선택하고, 정렬 키에 의해 제1프레임과 조립하여 외부의 테스트 패턴 발생부와 연결하여 테스트를 진행함으로써, 조작이 간단하여 기술자의 조작 실수를 최소화할 수 있게 되므로, 테스트 장치의 고장 발생요인을 줄일 수 있으며, 액정패널의 모델이 변경되는 경우에는 이전 제2프레임을 분해한 다음 변경된 액정패널에 적합한 제2프레임을 다시 조립하는 간단한 교체작업을 통해 변경된 액정패널의 테스트를 진행할 수 있게 되어 액정패널의 변경에 따른 테스트 장치의 교체에 소요되는 시간을 대폭 줄일 수 있으므로, 생산성을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.
그리고, 본 발명의 제2실시예에 따른 액정 표시패널의 테스트 장치는 사각 띠 형태의 제1프레임 일측에 케이블을 통해 외부의 테스트 패턴 발생부와 연결되는 인터페이스용 인쇄회로기판이 구비되며, 액정패널의 모델들에 따라 사전에 TCP 블럭들과 니들들을 일체형으로 게이트 구동용 인쇄회로기판과 데이터 구동용 인쇄회로기판에 개별 제작한 다음 테스트가 진행될 액정패널의 모델에 해당하는 게이트 구동용 인쇄회로기판과 데이터 구동용 인쇄회로기판을 선택하고, 정렬 키에 의해 제1프레임과 조립하고, 그 게이트 구동용 인쇄회로기판과 데이터 구동용 인쇄회로기판을 인터페이스용 인쇄회로기판과 소켓 방식으로 접속하여 테스트를 진행함으로써, 조작이 간단하여 기술자의 조작 실수를 최소화할 수 있게 되므로, 테스트 장치의 고장 발생요인을 줄일 수 있으며, 액정패널의 모델이 변경되는 경우에는 이전 게이트 구동용 인쇄회로기판과 데이터 구동용 인쇄회로기판을 분해한 다음 변경된 액정패널에 적합한 게이트 구동용 인쇄회로기판과 데이터 구동용 인쇄회로기판을 다시 조립하는 간단한 교체작업을 통해 변경된 액정패널의 테스트를 진행할 수 있게 되어 액정패널의 변경에 따른 테스트 장치의 교체에 소요되는 시간을 대폭 줄일 수 있으므로, 생산성을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.
한편, 상기 본 발명의 제1실시예 또는 제2실시예에서 제2프레임 또는 게이트 구동용 인쇄회로기판과 데이터 구동용 인쇄회로기판에 일체형으로 제작되어 액정패널의 게이트 패드부 및 데이터 패드부와 접속되는 니들들은 니들본체의 일측방향으로 돌출되어 아래방향으로 절곡되는 다수개의 세선들을 보호하기 위하여 세선덮개를 구비함으로써, 테스트 장치의 각 부품들이 일체형으로 제작될 경우, 상대적으로 취약한 니들들의 세선들을 보호하여 전체적으로 테스트 장치의 수명 연장에 기여하는 효과가 있다.

Claims (7)

  1. 테스트가 진행될 액정패널의 테두리를 따라 이격되며, 정렬 키(align key)가 구비된 제1프레임;
    상기 제1프레임과 정렬 키에 의해 조립되며, 액정패널의 모델에 따라 인터페이스용 인쇄회로기판, 게이트 구동용 인쇄회로기판, 데이터 구동용 인쇄회로기판, TCP 블럭들 및 니들들이 일체형으로 형성된 제2프레임; 및
    상기 제2프레임의 인터페이스용 인쇄회로기판과 연결된 외부의 테스트 패턴 발생부를 구비하여 구성되는 것을 특징으로 하는 액정 표시패널의 테스트 장치.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 제2프레임에 일체형으로 형성된 일측의 TCP 블럭들 및 니들들은 게이트 구동용 인쇄회로기판과 액정패널의 게이트 패드부를 연결시키며, 상기 제2프레임에 일체형으로 제작된 타측의 TCP 블럭들 및 니들들은 데이터 구동용 인쇄회로기판과 액정패널의 데이터 패드부를 연결시키는 것을 특징으로 하는 액정 표시패널의 테스트 장치.
  3. 제 2 항에 있어서, 상기 게이트 구동용 인쇄회로기판과 액정패널의 게이트 패드부를 연결시키는 일측의 TCP 블럭들은 게이트 구동용 인쇄회로기판과 일측 니들들을 접속시키기 위한 FPC 블럭과; 상기 게이트 구동용 인쇄회로기판으로부터 인가되는 주사신호를 일측 니들들을 통해 액정패널의 게이트 패드부에 공급하기 위한 게이트 드라이버 집적회로부가 구비된 것을 특징으로 하는 액정 표시패널의 테스트 장치.
  4. 제 2 항에 있어서, 상기 데이터 구동용 인쇄회로기판과 액정패널의 데이터 패드부를 연결시키는 타측의 TCP 블럭들은 데이터 구동용 인쇄회로기판과 타측 니들들을 접속시키기 위한 FPC 블럭과; 상기 게이트 구동용 인쇄회로기판으로부터 인가되는 화상정보를 타측 니들들을 통해 액정패널의 데이터 패드부에 공급하기 위한 데이터 드라이버 집적회로부가 구비된 것을 특징으로 하는 액정 표시패널의 테스트 장치.
  5. 제 1 항에 있어서, 상기 제2프레임에 일체형으로 제작된 니들들은 니들본체의 일측방향으로 돌출되어 아래방향으로 절곡되는 다수개의 세선(細線)들과; 상기 니들본체의 상부 내측에 마련되어 상기 다수개의 세선들의 상부로 호를 그리면서 슬라이딩되어 덮어씌우는 세선덮개가 구비된 것을 특징으로 하는 액정 표시패널의 테스트 장치.
  6. 제 5 항에 있어서, 상기 세선덮개는 세선들을 덮어 씌웠을때, 세선의 상면에서 세선들의 절곡된 방향과 반대방향으로 1mm 정도 이격된 것을 특징으로 하는 액정 표시패널의 테스트 장치.
  7. 테스트가 진행될 액정패널의 테두리를 따라 이격되며, 정렬 키가 구비된 제1프레임;
    상기 제1프레임의 일측에 구비되며, 외부의 테스트 패턴 발생부와 연결된 인터페이스용 인쇄회로기판; 및
    상기 정렬키에 의해 상기 제1프레임과 연결되며, 상기 인터페이스용 인쇄회로기판과 연결됨과 아울러 액정패널의 모델에 따라 TCP 블럭들 및 니들들이 일체형으로 형성된 게이트 구동용 인쇄회로기판 및 데이터 구동용 인쇄회로기판을 구비하여 구성되는 것을 특징으로 하는 액정 표시패널의 테스트 장치.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08227061A (ja) * 1995-02-21 1996-09-03 Nhk Spring Co Ltd 液晶パネル用検査ユニット
JP2001242644A (ja) * 2000-02-29 2001-09-07 Mitsubishi Chemicals Corp 電子写真感光体の製造方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08227061A (ja) * 1995-02-21 1996-09-03 Nhk Spring Co Ltd 液晶パネル用検査ユニット
JP2001242644A (ja) * 2000-02-29 2001-09-07 Mitsubishi Chemicals Corp 電子写真感光体の製造方法

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