KR100750825B1 - 각막 곡률반경 측정기능을 구비한 세극등 현미경 - Google Patents

각막 곡률반경 측정기능을 구비한 세극등 현미경 Download PDF

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Abstract

각막 곡률반경 측정기능을 구비한 세극등 현미경(slit lamp microscope)이 개시된다. 상기 세극등 현미경은 피검안에 슬릿형태의 측정광 및 링형태의 측정광을 조사하는 조명광학부 및 상기 조명광학부에 의하여 조사된 측정광에 의하여 피검안에 형성된 이미지를 확인하는 측정광학부을 포함하며, 상기 조명광학부는 하나 이상의 슬릿이 형성되어 있는 슬릿부, 상기 피검안에 링형태의 이미지를 형성하기 위한 필터부, 및 상기 슬릿부와 필터부을 향하여 측정광을 조사하는 광원를 포함한다.
검안기, 각막 곡률반경, 세극등 현미경, 눈금 망선, 케라토미터

Description

각막 곡률반경 측정기능을 구비한 세극등 현미경 {Slit lamp microscope measuring the corneal curvature radius}
도 1은 통상적인 각막 곡률반경 측정용 검안기(keratometer)의 구조를 설명하기 위한 도면.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 각막 곡률반경 측정기능을 구비한 세극등 현미경의 구조를 설명하기 위한 도면.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 세극등 현미경에 사용되는 필터부의 정면도.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 세극등 현미경에 사용되는 눈금망선의 정면도.
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 각막 곡률반경 측정기능을 구비한 세극등 현미경의 구조를 설명하기 위한 도면.
본 발명은 세극등 현미경(Slit lamp microscope)에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 각막 곡률반경 측정기능을 구비한 세극등 현미경에 관한 것이다.
세극등 현미경은 거의 투명한 눈 조직에 대하여 세로로 길고 가는 빛을 조사하여 형성된 광학적 절단면을 확대하여 눈의 상태를 관찰하는 장치로서, 조사되는 빛의 폭, 길이 및 각도를 조절하면서, 눈꺼풀, 결막, 각막, 전방(前房), 수정체, 유리체(초자체) 및 부속장치를 사용해서 안저(眼底)까지 검사할 수 있다. 또한 안압계의 장착은 물론이고, 전안부(前眼部)의 사진촬영 또는 전방 심도(深度), 각막 및 수정체의 두께측정에도 응용된다. 이 장치를 사용한 검사는 눈의 상태를 검사하는데 중요한 것으로, 안과 및 안경점에 있어서 세극등 현미경은 중요한 장치이다. 이와 같은 세극등 현미경은 크게 길고 가는 빛을 조사하는 조명광학부와 눈에 형성된 광학적 절단면을 관찰하는 관찰광학부로 형성되어 있다.
각막 곡률반경 측정용 검안기(keratometer)는 각막의 곡률반경을 측정하는 장치로서, 각막 외피에 하나 이상의 동일중심을 가지는 링 형태의 빛을 조사하여, 각막 표면의 요철(凹凸) 상태 및 각막의 곡률반경을 측정하는 장치이다. 즉, 건강한 각막에서는 규칙 바른 동심원이 보이지만, 각막 표면에 만곡(彎曲)이 있을 경우에는 동심원이 일그러져 보인다. 따라서 콘택트렌즈 처방(fitting), 백내장, 녹내장 등의 전안부 검사에 있어서 안구의 관찰, 측정, 진단 및 기록 시 유용하게 사용되는 안과 및 안경점 전용 계측 장치이다.
도 1은 통상적인 각막 곡률반경 측정용 검안기의 구조를 설명하기 위한 도면으로, 도 1에 도시한 바와 같이, 각막 곡률반경 측정용 검안기는 각막(2)에 하나 이상의 링 형태의 측정광을 조사하는 조명광학부(10), 각막 곡률반경 측정용 검안기에 대한 피검안자의 눈(1)의 위치를 고정하도록 조준광을 조사하는 조준광원(51) 및 피검안자의 눈(1)의 각막(2)으로부터 반사된 조준광과 측정광의 이미지(image)를 검출하는 광검출기(15)를 포함한다. 상기 조명광학부(10)는 링 형태의 LED로 이루어진 단일의 측정광원(12) 또는 다수의 측정광원으로 이루어질 수 있다. 상기 광검출기(15)는 각막(2)으로부터 반사된 조준광과 측정광의 광학적 이미지를 전기적 신호로 바꾸어 준다. 즉, 상기 광검출기(15)에서 전기적 신호로 전환된 조준광과 측정광의 이미지는 각막 곡률반경 측정용 검안기 내부에 설치된 연산장치(미도시)에 의하여 각막 곡률반경 값으로 환산되며, 상기 피검안(1)의 각막(2) 형상과 환산된 곡률반경 값은 검사자가 볼 수 있도록 모니터(미도시)에 표시된다. 또한 상기 각막 곡률반경 측정용 검안기는 빛의 진행경로 확보를 위하여 하나 이상의 미러(mirror)와 렌즈(lens)를 포함하며, 피검안자의 시선을 고정하도록 이미지를 조사하는 차트 이미지 생성부(미도시)를 더욱 포함할 수 있다.
상기 각막 곡률반경 측정용 검안기의 동작을 살펴보면, 먼저 조준광원(51)에서 조준광이 조사되며, 조준광은 대물렌즈(52), 제3 반사미러(53), 제2 릴레이렌즈(relay lens)(54), 제2 반사미러(17), 제1 릴레이 렌즈(18) 및 제1 반사미러(19)를 통하여 각막(2)에 조준광의 이미지를 형성하고, 상기 각막(2)에 형성된 조준광 이 미지는 각막(2)에서 반사되며, 제1 반사미러(19), 제1 릴레이 렌즈(18), 제2 반사미러(17) 및 제3 릴레이 렌즈(16)를 통하여 광검출기(15)에 상기 각막(2)에 형성된 조준광 이미지를 형성한다. 검사자는 상기 광검출기(15)에 형성된 조준광의 이미지가 선명하게 나타나도록 각막 곡률반경 측정용 검안기의 위치를 이동함으로서 각막 곡률반경 측정용 검안기에 대한 피검안자의 눈(1)의 위치를 고정한다. 상기 피검안(1)의 위치가 고정되면, 측정광원(12)으로부터 피검안자의 각막(2)에 동일중심을 가지는 하나 이상의 링형태의 측정광이 조사되어, 상기 각막(2)에 링형태의 측정광 이미지가 형성되고, 상기 측정광 이미지는 상기 각막(2)에서 반사되어 제1 반사미러(19), 제1 릴레이 렌즈(18), 제2 반사미러(17), 제3 릴레이 렌즈(16)를 통하여 광검출기(15)에 형성된다. 상기 광검출기(15)에 형성된 링형태의 측정광 이미지는 전기적 신호로 전환되며, 연산장치(미도시)에 의하여 각막(2)의 곡률반경 값이 산정되며, 모니터(미도시)에 상기 피검안(1)의 각막 형상 및 곡률반경 값이 표시된다.
따라서 각막 곡률반경 값을 정확하게 측정하기 위해서는 상기 조준광원(51)과 같은 부가적인 구성 및 피검안(1)의 각막(2) 중심에 각막 곡률반경 측정용 검안기의 광축 위치를 정렬하는 작업이 우선적으로 필요하다.
또한 눈의 상태 및 각막의 곡률반경을 측정하기 위해서는 상기 세극등 현미경(silt lamp microscope)과 각막 곡률반경 측정용 검안기(keratometer)가 각각 필요하고, 따라서 피검자의 이동 및 장치 조정 등의 작업을 별도로 해야 하며, 안과 나 안경점에 있어서 별도로 구비해야 되므로 경제적으로 큰 부담이 된다.
따라서 본 발명의 목적은 각막 곡률반경 측정 가능한 세극등 현미경을 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 각막 곡률반경 측정이 용이하며, 그 측정 오차가 작고, 광축 정렬이 용이한 각막 곡률반경 측정기능을 구비한 세극등 현미경을 제공하는 것이다.
본 발명의 또 다른 목적은 제조 장비가 감소되고, 제작이 용이한 각막 곡률반경 측정기능을 구비한 세극등 현미경을 제공하는 것이다.
상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은 피검안에 슬릿형태의 측정광 및 링형태의 측정광을 조사하는 조명광학부 및 상기 조명광학부에 의하여 조사된 측정광에 의하여 피검안에 형성된 이미지를 확인하는 측정광학부을 포함하며, 상기 조명광학부는 하나 이상의 슬릿이 형성되어 있는 슬릿부, 상기 피검안에 링형태의 이미지를 형성하기 위한 필터부 및 상기 슬릿부와 필터부을 향하여 측정광을 조사하는 광원를 포함하는 것인 각막 곡률반경 측정기능을 구비한 세극등 현미경(silt lamp microscope)을 제공한다. 여기서 상기 측정광학부는 상기 피검안에 형성된 이미지의 크기를 측정할 수 있는 눈금이 새겨져 있는 눈금망선 및 상기 피검안에 형성된 이미지를 검출하는 광검출부를 포함하는 것이 바람직하다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 각막 곡률반경 측정기능을 구비한 세극등 현미경에 대하여 상세히 설명한다. 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 각막 곡률반경 측정기능을 구비한 세극등 현미경의 구조를 설명하기 위한 도면이며, 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 세극등 현미경에 사용되는 필터부의 정면도이며, 도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 세극등 현미경에 사용되는 눈금망선의 정면도이다.
도 2에 도시한 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 각막 곡률반경 측정기능을 구비한 세극등 현미경은 피검안에 다양한 형태의 측정광을 조사하는 조명광학부(20) 및 상기 조명광학부(20)에 의하여 조사된 측정광에 의하여 피검안(1)에 형성된 측정광 이미지를 확인하는 측정광학부(50)를 포함한다.
상기 조명광학부(20)는 하나 이상의 슬릿이 형성되어 있는 슬릿부(23), 상기 피검안(1)에 링형태의 이미지를 형성하기 위한 필터부(22) 및 상기 슬릿부(23)와 필터부(22)를 향하여 측정광을 조사하는 광원(21)를 포함하며, 상기 필터부(22)을 향하여 상기 광원(21)의 후방에 위치하며, 상기 광원(21)에서 조사된 측정광을 평행 측정광으로 형성하기 위한 곡률미러(26) 및 상기 조명광학부(20)의 전면부 및 상기 광원(21)과 필터부(22) 사이에 위치한 대물렌즈(25, 24)를 더욱 포함할 수 있다. 그리고 상기 조명광학부(20)는 곡률미러(26), 광원(21), 대물렌즈(24), 필터 부(22), 슬릿부(23) 및 대물렌즈(25) 순으로 배열될 수 있고, 상기 필터부(22)와 슬릿부(23)의 위치는 서로 바뀔 수 있다. 상기 광원(21)으로는 통상적인 세극등 현미경에서 사용되는 광원을 사용할 수 있으며, 예를 들면, 할로겐 램프(halogen lamp) 등을 사용할 수 있다.
상기 필터부(22)는 상기 광원(21)에서 조사된 측정광이 상기 필터부(22)를 통과하여 링형태의 이미지를 형성할 수 있는 것으로, 예를 들면, 도 3에 도시한 바와 같이 상기 필터부(22)는 원판 모양이며, 원판의 둘레에는 크기, 개수 및 형태가 다양한 링형태의 이미지를 형성할 수 있는 다수의 필터가 형성되어 있고, 원판의 회전을 통하여 형성하고자 하는 링형태의 이미지와 부합하는 필터를 선택하여 상기 광원(21)에서 조사되는 측정광의 중심과 일치되도록 위치시키므로 다양한 링형태의 이미지를 형성할 수 있다. 그리고 상기 필터부(22)는 상기 광원(21)에서 조사된 측정광이 상기 슬릿부(23)를 통과하여 슬릿 형태의 측정광 이미지를 형성하기 위하여 상기 슬릿부(23)의 슬릿의 길이, 폭에 상응하는 필터를 포함할 수 있으며, 또는 이동 가능하도록 설치될 수 있다. 또한 상기 필터부(22)는 상기 슬릿부(23)의 슬릿의 가로, 세로 길이를 조절하기 위하여 적합한 형태의 필터를 포함할 수 있다.
상기 슬릿부(23)는 통상적인 세극등 현미경에서 사용되는 것으로서, 하나 이상의 슬릿을 포함한다. 상기 슬릿은 다양한 폭, 길이 및 각도로 형성될 수 있으며, 예를 들면, 상기 슬릿의 폭은 14mm로부터 0mm까지 변화하며, 길이는 14mm로부터 0mm까지 변화할 수 있다. 또한 상기 슬릿부(23)와 연결된 컨트롤러(controller, 미도시)에 의하여 임의의 폭, 길이 및 각도로 형성된 슬릿을 선택할 수 있다. 그리고 상기 슬릿부(23)는 상기 광원(21)에서 조사된 측정광이 상기 슬릿부(23)를 통과하지 않도록 이동가능한 구조를 가질 수 있으며, 상기 광원(21)에서 조사된 측정광이 필터부(22)를 통과하여 형성된 링형태의 측정광 이미지를 유지하기 위하여 이에 상응하는 길이 및 폭으로 형성된 슬릿을 포함할 수 있으며, 또한 상기 필터부(22)와 슬릿부(23)사이에 대물렌즈(미도시)를 위치시켜, 상기 링형태의 측정광 이미지가 상기 슬릿을 통과하도록 할 수 있다.
상기 측정광학부(50)는 도 2에 도시한 바와 같이 대물렌즈(51), 배율부 광학계(52) 및 접안부(56)을 포함하며, 눈금망선(55) 및 광검출부(60)를 더욱 포함할 수 있으며, 대물렌즈(51), 배율부 광학계(52), 광검출부(60), 눈금망선(55) 및 접안부(56)의 순으로 형성될 수 있다.
상기 접안부(56)는 상기 피검안(1)에 형성된 측정광 이미지를 검사자의 눈으로 볼 수 있도록 검사자의 눈에 근접해 형성되어 있으며, 통상적인 세극등 현미경에서 사용되는 접안부를 사용할 수 있다.
상기 배율부 광학계(52)는 피검안(1)의 상태 확인 및 각막(2) 곡률반경 측정을 정확하게 하기 위한 것으로서, 상기 피검안(1)에 형성된 이미지를 확대할 수 있는 구조로서 통상적인 세극등 현미경에 사용되는 배율부 광학계를 사용할 수 있으며, 예를 들면 다수의 배율렌즈 등을 사용할 수 있다. 따라서 검사자는 배율부 광학계(52)의 배율을 조정하면서 피검안(1)의 상태를 확인할 수 있으며, 광축의 중심 여부도 용이하게 정렬시킬 수 있다.
상기 눈금망선(55)은 도 4에 도시한 바와 같이 상기 피검안(1)에 형성된 측정광 이미지의 크기를 검사자의 눈으로 직접 확인할 수 있도록 눈금이 새겨져 있는 것으로, 상기 눈금망선(55)의 눈금 간격은 각막(2) 곡률반경을 측정할 수 있을 정도이어야 하며, 예를 들면, 가로, 세로 간격이 동일하고 0.1mm 정도이다. 또한 상기 눈금망선(55)은 각막 곡률반경 측정이 아닌 눈의 상태만을 확인하는 경우, 이동 가능하도록 설치될 수 있다.
상기 광검출부(60)는 피검안(1)에 형성된 이미지를 검출하여, 피검안(1)의 상태 확인 및 각막(2) 곡률반경 측정을 용이하게 하기 위한 것으로서, 통상적인 전하결합소자(Charge Coupled Device, CCD)를 사용할 수 있다. 예를 들면, 도 2에 도시한 바와 같이, 상기 광검출부(60)는 상기 배율부 광학계(52)과 눈금망선(55) 사이에 위치하며, 피검안(1)에서 반사된 측정광 이미지를 분할하는 빔 스플리터(beam splitter, 61), 대물렌즈(62), 반사미러(63) 및 광검출기(64)을 포함하며, 상기 광검출기(64)는 통상적인 전하결합소자(CCD)를 사용할 수 있다. 그리고 상기 광검출부(60)는 광검출기(64)에 결상된 광학적 상을 전기적 신호로 바꾸어 주는 것으로서, 상기 전환된 전기적 신호를 통하여 각막(2) 곡률반경 값을 산출하는 연산장치(미도시) 및 상기 피검안(1)의 상태 및 산출된 곡률반경 값을 검사자가 볼 수 있도록 표시하는 모니터(미도시)와 연결될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 각막 곡률반경 측정기능을 구비한 세극등 현미경의 동작에 대하여 살펴본다.
피검안(1)의 상태를 확인하기 위한 동작은 통상적인 세극등 현미경의 동작과 동일할 수 있으며, 도 2에 도시한 바와 같이, 조명광학부(20)의 광원(21)에서 조사된 측정광은 곡률미러(26)에 반사되어 평행 측정광을 형성하여 대물렌즈(24)를 통과하고 필터부(22) 및 슬릿부(23)를 통과하여 슬릿형태의 측정광 이미지를 형성한다. 여기서, 상기 필터부(22)는 슬릿형태의 측정광 이미지를 형성하기 위하여, 상기 슬릿형태의 측정광 이미지를 형성하는 슬릿의 길이, 폭에 상응하는 필터를 사용할 수 있다. 상기 형성된 슬릿형태의 측정광 이미지는 대물렌즈(25)를 통과하고 반사미러(27)에서 반사되어 피검안(1)에 슬릿형태의 측정광 이미지를 형성한다. 상기 피검안(1)에 형성된 슬릿형태의 측정광 이미지는 상기 피검안(1)에서 반사되어 대물렌즈(51) 및 배율부 광학계(52)를 통과하여 눈금망선(55)에 결상된다. 따라서 검사자는 접안부(56)를 통하여 상기 눈금망선(55)에 결상된 슬릿 형태의 측정광 이미지를 볼 수 있으므로 상기 피검안(1) 및 각막(2)의 상태를 관찰할 수 있고, 슬릿의 폭, 길이 및 각도를 조절하면서 더욱 구체적으로 관찰할 수 있으며, 배율부 광학계(52)의 배율을 고배율로 변경하여 정확하게 관찰할 수 있다. 또한, 상기 피검안(1)에서 반사된 측정광 이미지는 대물렌즈(51) 및 배율부 광학계(52)을 통과하고, 그 일부가 빔 스플리터(61)에서 반사되어 대물렌즈(62)을 통과하고, 반사미러(63)에서 반사되어 광검출기(64)에서 결상된다. 상기 광검출기(64)에서 결상된 측정광 이미지는 전기적 신호로 전환되며, 연산장치(미도시)를 거치고, 모니터(미도시)에 표시되어 검사자는 이를 확인할 수 있다. 따라서 검사자는 선택적으로 상기 접안부(56) 또는 상기 광검출부(60)와 연결된 모니터(미도시)를 통하여 피검안(1) 및 각막(2)의 상태를 확인할 수 있다.
각막(2) 곡률반경 측정동작에 대하여 살펴본다. 도 2에 도시한 바와 같이, 상기 조명광학부(20)의 광원(21)에서 조사된 측정광은 상기 필터부(22)를 통과하여 링형태의 측정광 이미지를 형성한다. 여기서, 상기 링형태의 측정광 이미지를 유지하기 위하여, 상기 슬릿부(23)를 이동시킬 수 있으며, 또는 상기 슬릿부(23)의 슬릿의 길이, 폭을 조정할 수 있다. 상기 형성된 링형태의 측정광 이미지는 대물렌즈(25)를 통과하고 반사미러(27)에서 반사되어 피검안(1)의 각막(2)에 링형태의 측정광 이미지를 형성한다. 상기 각막(2)에 형성된 링형태의 측정광 이미지는 상기 각막(2)에서 반사되어 대물렌즈(51) 및 배율부 광학계(52)를 통과하여 눈금망선(55)에 결상된다. 검사자는 접안부(29)를 통하여 각막(2)에 형성된 링형태의 측정광 이미지를 확인할 수 있으며, 각막(2)의 중심과 링형태의 측정광 이미지의 중심이 일치하는지 확인한다. 상기 중심이 정렬되어 있으면, 검사자는 접안부를 통하여 눈금망선(55)에 결상된 링형태의 측정광 이미지를 눈금망선(55)의 간격으로 확인하여 각막 곡률반경 값을 측정한다. 또한 각막(2)에서 반사된 링형태의 측정광 이미지는 대물렌즈(51) 및 배율부 광학계(52)를 통과하고, 그 일부가 빔 스플리터(61)에서 반사되고, 대물렌즈(62)을 통과하고, 반사미러(63)에서 반사되어 광검출기(64)에서 결상되며, 상기 광검출기(64)에서 결상된 링형태의 측정광 이미지는 상기 광검출기(64)와 연결된 연산장치(미도시)에서 각막(2) 곡률반경 값으로 산출된다. 따라서 검사자는 상기 연산장치(미도시)와 연결된 모니터(미도시)에 표시된 각막(2) 곡률반경 값을 확인할 수 있다. 만약 상기 중심이 정렬되어 있지 않으면, 배율부 광학계(52)의 배율을 고배율로 변경하여, 확대된 링형태의 측정광 이미지를 확인할 수 있으므로, 상기 중심을 용이하게 일치시킬 수 있다. 따라서 상기 중심이 정렬되면, 검사자는 선택적으로 상기 접안부(56) 또는 광검출부(60)와 연결된 모니터(미도시)를 통하여 각막(2) 곡률반경을 측정할 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 각막 곡률반경 측정기능을 구비한 세극등 현미경에 대하여 상세히 살펴본다.
도 5에 도시한 바와 같이, 피검안에 다양한 형태의 측정광을 조사하는 제1 조명광학부(30), 상기 제1 조명광학부(30)와 별도로 형성되어 있으며, 상기 피검안(1)에 링형태의 측정광을 조사하는 제2 조명광학부(40) 및 상기 제1 조명광학부(30)와 상기 제2 조명광학부(40)에 의하여 조사된 측정광에 의하여 상기 피검안에 형성된 이미지을 확인하는 측정광학부(50)을 포함한다. 여기서, 상기 측정광학부(50)는 도 2에 도시된 세극등 현미경과 동일하다. 따라서 상기 측정광학부(50)에 관한 도면번호는 본 발명의 일 실시예에 따른 세극등 현미경의 경우와 동일하게 사용된다.
상기 제1 조명광학부(30)는 주로 피검안(1)의 상태를 확인하기 위하여 슬릿 형태의 측정광을 조사하는 위한 것으로서, 하나 이상의 슬릿이 형성되어 있는 슬릿부(33), 상기 슬릿부(33)를 향하여 측정광을 조사하는 제1 광원(31)을 포함하며, 상기 슬릿부(33)을 향하여 상기 제1 광원(31)의 후방에 위치하며, 상기 제1 광원 (31)에서 조사된 측정광을 평행 측정광으로 형성하기 위한 곡률미러(36) 및 상기 제1 조명광학부(30)의 전면부 및 상기 제1 광원(31)과 슬릿부(33) 사이에 위치한 대물렌즈(35, 34)를 더욱 포함할 수 있으며, 곡률미러(36), 제1 광원(31), 대물렌즈(34), 슬릿부(33) 및 대물렌즈(35) 순으로 배열될 수 있다. 상기 제1 광원(31) 및 슬릿부(33)는 도 2에 도시된 세극등 현미경에 사용되는 광원(21) 및 슬릿부(22)와 동일할 수 있다. 제1 조명광학부(30)는 피검안(1)의 상태를 확인하기 위한 기능 이외에 보조적으로 각막(2) 곡률반경 측정기능을 구비할 수 있으며, 이를 위하여 상기 슬릿부(33)와 대물렌즈(34) 사이에 위치하며, 상기 피검안(1)의 각막(2)에 링형태의 이미지를 형성하는 제1 필터부(미도시)를 더욱 포함할 수 있다. 상기 제1 필터부는 도 2에 도시된 세극등 현미경에 사용되는 필터부(23)와 동일할 수 있다.
상기 제2 조명광학부(40)는 각막(2) 곡률반경을 측정하기 위하여 링형태의 측정광을 조사하기 위한 것으로서, 피검안(1)의 각막(2)에 링형태의 이미지를 형성하기 위한 제2 필터부(42), 상기 제2 필터부(42)를 향하여 측정광을 조사하는 제2 광원(41) 및 대물렌즈(44)을 포함할 수 있다. 또는 상기 제2 조명광학부(40)는 상기 각막(2)에 링형태의 측정광 이미지를 형성하기 위하여, 별도의 광원(41) 및 필터부(42)의 설치 없이 링형태로 배열된 LED광원(미도시)을 포함할 수 있다. 상기 제2 광원(41) 및 제2 필터부(42)는 도 2에 도시된 세극등 현미경에 사용되는 광원(21) 및 필터부(22)와 동일할 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 각막 곡률반경 측정기능을 구비한 세극등 현미경의 동작에 대하여 살펴본다. 도 5에 도시한 바와 같이, 각막(2) 곡률반경 측정 동작에 대하여 살펴보면, 제2 조명광학부(40)의 제2 광원(41)에서 조사된 측정광은 제2 필터부(42)를 통과하여 링형태의 측정광 이미지를 형성하며, 상기 링형태의 측정광 이미지는 대물렌즈(44)를 통과하고, 반사미러(37)에서 반사되어 피검안(1)의 각막(2)에 링형태의 측정광 이미지를 형성한다. 상기 각막(2)에 형성된 링형태의 측정광 이미지는 대물렌즈(51) 및 배율부 광학계(52)를 통과하여 눈금망선(55)에 결상되고 그 일부는 광검출기(64)에 결상되며, 검사자는 접안부(56) 및 광검출부(60)와 연결된 모니터(미도시)를 통하여 중심 일치 여부를 확인하고 각막(2) 곡률반경 값을 측정할 수 있다. 또한, 상기 제2 조명광학부(40)는 링형태로 배열된 LED광원(미도시)에서 링형태의 측정광을 조사하여 상기 각막(2)에 링형태의 측정광 이미지를 형성할 수 있다. 그리고, 상기 제1 조명광학부(30)에 보조적으로 형성된 제1 필터부(미도시)를 이용하여 상기 각막(2)에 링형태의 측정광 이미지를 형성할 수 있으며, 그 구체적인 동작은 도 2에 도시된 세극등 현미경에서 사용되는 필터부(22)를 이용하는 경우와 동일할 수 있다.
피검안(1)의 상태를 확인하기 위한 동작을 살펴보면, 도 2에 도시된 세극등 현미경에 사용되는 조명광학부(20)를 이용하는 경우와 동일할 수 있다. 도 5에 도시한 바와 같이, 제1 광원(31)에서 조사된 측정광은 곡률미러(36)에 반사되어 평행 측정광을 형성하여 대물렌즈(34)를 통과하고 슬릿부(33)를 통과하여 슬릿형태의 측 정광 이미지를 형성하고, 상기 형성된 슬릿 형태의 측정광 이미지는 대물렌즈(35)를 통과하고 반사미러(37)에서 반사되어 피검안(1)에 슬릿형태의 측정광 이미지를 형성한다. 상기 피검안(1)에 형성된 슬릿형태의 측정광 이미지는 상기 피검안(1)에서 반사되어 대물렌즈(51) 및 배율부 광학계(52)를 통과하여 눈금망선(55)에 결상되고 그 일부는 광검출기(64)에서 결상되며, 검사자는 상기 접안부(56) 및 광검출부(60)와 연결된 모니터(미도시)를 통하여 피검안(1)의 상태를 확인할 수 있다.
이상 상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 세극등 현미경은 눈의 상태를 관찰함과 동시에 각막 곡률반경을 용이하게 측정할 수 있으며, 그 측정 오차가 작으며, 광축 정렬이 용이하다. 또한 제조 장비가 감소되고, 제작이 용이한 각막 곡률반경 측정기능을 구비한 세극등 현미경을 제공할 수 있다.

Claims (7)

  1. 피검안에 슬릿형태의 측정광과 링형태의 측정광을 조사하는 조명광학부; 및
    상기 조명광학부에 의하여 조사된 측정광에 의하여 피검안에 형성된 이미지를 확인하는 측정광학부을 포함하며,
    상기 조명광학부는 상기 피검안에 상기 슬릿형태의 측정광에 의한 슬릿형태의 이미지를 형성하기 위한, 하나 이상의 슬릿이 형성되어 있는 슬릿부, 상기 피검안에 링형태의 측정광에 의한 링형태의 이미지를 형성하기 위한, 하나 이상의 필터로 이루어진 필터부 및 상기 슬릿부와 필터부을 향하여 측정광을 조사하는 광원를 포함하는 것인 각막 곡률반경 측정기능을 구비한 세극등 현미경.
  2. 제1항에 있어서, 상기 측정광학부는 상기 피검안에 형성된 이미지의 크기를 측정할 수 있는 눈금이 새겨져 있는 눈금망선 및 상기 피검안에 형성된 이미지를 검출하는 광검출부를 포함하는 것인 각막 곡률반경 측정기능을 구비한 세극등 현미경.
  3. 피검안에 슬릿형태의 측정광을 조사하는 제1 조명광학부;
    상기 제1 조명광학부와 별도로 형성되어 있으며, 상기 피검안에 링형태의 측정광을 조사하는 제2 조명광학부; 및
    상기 제1 조명광학부와 상기 제2 조명광학부에 의하여 조사된 측정광에 의하여 상기 피검안에 형성된 이미지을 확인하는 측정광학부을 포함하며;
    상기 제1 조명광학부는 하나 이상의 슬릿이 형성되어 있는 슬릿부, 상기 슬릿부를 향하여 측정광을 조사하는 제1 광원을 포함하는 것인 각막 곡률반경 측정기능을 구비한 세극등 현미경.
  4. 제3항에 있어서, 상기 제1 조명광학부는 상기 피검안을 향하여 상기 제1 광원의 전방에 위치하며, 상기 피검안에 링형태의 이미지를 형성하기 위한 제1 필터부를 포함하는 것인 각막 곡률반경 측정기능을 구비한 세극등 현미경.
  5. 제3항에 있어서, 상기 제2 조명광학부는 상기 피검안에 링형태의 이미지를 형성하기 위한 제2 필터부 및 상기 제2 필터부를 향하여 측정광을 조사하는 제2 광원을 포함하는 것인 각막 곡률반경 측정기능을 구비한 세극등 현미경.
  6. 제3항에 있어서, 상기 제2 조명광학부는 상기 피검안에 링형태의 이미지를 형성하기 위하여 링형태로 배열된 LED광원을 포함하는 것인 각막 곡률반경 측정기능을 구비한 세극등 현미경.
  7. 제3항에 있어서, 상기 측정광학부는 상기 피검안에 형성된 이미지의 크기를 측정할 수 있는 눈금이 새겨져 있는 눈금망선 및 상기 피검안에 형성된 이미지를 검출하는 광검출부를 포함하는 것인 각막 곡률반경 측정기능을 구비한 세극등 현미경.
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