KR100725836B1 - 씨모스 이미지 센서의 노이즈 제거 회로 - Google Patents
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Abstract
Description
상기 화소 어레이는 미세한 단위 화소가 수십에서 수백 만개가 모여서 구성되는데, 이미지를 찍기 위하여 화소를 빛에 노출시킬 때 모든 화소를 한꺼번에 노출시키지는 않는다. 이는 CMOS 이미지 센서의 특징으로, 모든 화소를 동시에 빛에 노출시키게 되면 한 프레임의 데이터를 독출할 때 까지 소요되는 시간동안 전하축적시간이 라인마다 다르고 동시에 누설 전류가 증가하는 단점이 있기 때문이다. 이와 같은 이유로, CMOS 이미지 센서에서는 라인별로 화소를 빛에 순차적으로 노출시키는 방법을 채택하고 있다.
여기서, 라인에 대해 설명하면, 예를 들면, 화소 어레이가 800×600 급의 이미지 센서는 800개의 단위 화소가 배열된 하나의 열(row)이 하나의 라인이 된다. 이를 참조하면, CMOS 이미지 센서의 동작을 살펴보면, 먼저 하나의 라인을 빛에 노출시켜 일정한 집광 시간 동안 포토 다이오드와 같은 광전 변화 소자로 빛을 받아 들인다. 다음으로, 일정 간격 후에 다음 라인이 노출되어 일정한 집광 시간 동안 이미지 정보를 생성해 낸다. 이와 같이 생성된 이미지 정보를 가지고 신호 처리부에서 신호처리를 수행한 후 이미지 재현에 이용하게 된다.
Claims (4)
- 노출 제어용 어드레스 및 데이터 독출 어드레스를 기초로 하여 노출 제어 신호 및 데이터 독출 신호가 동시에 화소 어레이에 존재하는 경우, 상기 노출 제어 신호 만 화소 어레이에 존재하는 경우, 상기 데이터 독출 신호 만 화소 어레이에 존재하는 경우 및 상기 노출 제어 신호 및 상기 데이터 독출 신호가 모두 화소 어레이에 존재하지 않은 경우 중 어디에 해당하는지를 판단하고 판단 결과에 따른 적어도 2개의 구동 신호를 발생하는 판단부; 및상기 판단부로부터 발생되는 상기 구동 신호들에 응답하여 상기 4개의 경우에 따라 CMOS 이미지 센서의 로오(Row) 선택기에 상이하게 흐르는 전류를 항상 동일한 값을 갖도록 제어하기 위한 제어 신호들을 발생하는 제어부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 CMOS 이미지 센서의 노이즈 제거 회로.
- 제1항에 있어서, 상기 적어도 2개의 구동 신호 중 일부는,상기 노출 제어 신호와 동일한 것을 특징으로 하는 CMOS 이미지 센서의 노이즈 제거 회로.
- 제1항에 있어서, 상기 제어부는,상기 구동 신호들 중 어느 하나의 구동 신호와 데이터 독출 신호를 논리 곱하여 제1 논리 곱 신호를 출력하는 제1 앤드 게이트;상기 제1 앤드 게이트로부터의 상기 제1 논리 곱 신호와 어드레스 비트 신호를 논리 곱하여 제1 제어 신호로서 제2 논리 곱 신호를 출력하는 제2 앤드 게이트;상기 제1 앤드 게이트로부터의 상기 제1 논리 곱 신호와 어드레스 비트 신호 바 신호를 논리 곱하여 제2 제어 신호로서 제3 논리 곱 신호를 출력하는 제3 앤드 게이트;상기 판단부로부터 발생되는 구동 신호들 중 다른 하나의 구동 신호와 상기 어드레스 비트 신호를 논리 곱하여 제3 제어 신호로서 제4 논리 곱 신호를 출력하는 제4 앤드 게이트; 및상기 판단부로부터 발생되는 상기 다른 하나의 구동 신호와 상기 어드레스 비트 바 신호를 논리 곱하여 제4 제어 신호로서 제5 논리 곱 신호를 출력하는 제5 앤드 게이트를 포함하는 것을 특징으로 하는 CMOS 이미지 센서의 노이즈 제거 회로.
- 제1항에 있어서, 상기 노이즈 제거 회로를 구성할 경우, 메인 화소 어레이 또는 더미 화소 어레이를 이용하여 메인 화소 어레이 또는 더미 화소 어레이에서 화소가 리셋되고 화소 데이터를 독출하는 과정을 그대로 적용하여 화소 어레이의 구동 환경을 노출 조건에 상관없이 항상 일정하게 동작해줌으로써 노이즈를 제거하는 것을 특징으로 하는 CMOS 이미지 센서의 노이즈 제거 회로.
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2005
- 2005-08-24 KR KR1020050077888A patent/KR100725836B1/ko active IP Right Grant
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Title |
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10-2004-116683 |
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