KR100721031B1 - 탭 아이씨 검사용 프로브 카드 - Google Patents

Abstract

본 발명은 탭 아이씨(TAB IC) 검사용 프로브 카드에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 메인 기판과 니들에 신호를 연결하는 다수의 신호선을 연결하지 않고서도 간단한 구조로 빠른 신호 전달이 이루어지도록 한 탭 아이씨 검사용 프로브 카드에 관한 것으로서, 중앙부에 상하로 관통공이 형성되고, 다수의 회로연결단자가 형성된 메인기판과; 상기 관통공에 삽입되어 고정되고, 중앙부에 블럭결합공이 형성된 보강링과; 상기 블럭결합공의 내측에 서로 이격되어 고정되는 한 쌍의 지지블럭과; 일단이 상기 메인기판의 하면에 형성된 회로연결단자에 접속되고, 타단이 메인기판의 수직방향으로 배치되도록 절곡되면서 그 끝단이 상기 지지블럭의 상부측으로 돌출되며, 상기 지지블럭에 고정되는 다수의 니들로 구성된 니들어셈블리;를 포함하여 구성된다.

이에 따라, 신호선을 각각 납땜해서 연결해야 하는 불편함이 사라져 프로브 카드의 제작이 더욱 간편해 질 뿐만 아니라, 니들(41)의 끝단이 매인기판의 수직방향으로 배치됨으로써 더욱 많은 수의 니들(41)을 배치할 수 있게 되어 하나의 프로브 카드로 동시에 다수의 탭 아이씨를 검사할 수 있게 되어 프로브 카드를 이용한 탭아이씨의 검사 속도가 더욱 개선되는 효과를 가지게 된다.

프로브 카드, 니들어셈블리, 탭 아이씨, TAB IC

Description

탭 아이씨 검사용 프로브 카드{a probe card for inspecting a TAB IC}

도 1은 본 발명의 일 실시예를 보인 분해사시도.

도 2는 도 1의 결합상태를 보인 평면도.

도 3은 도 1의 결합상태를 보인 저면도.

도 4는 도 1의 결합상태를 보인 종단면도.

도 5는 종래 탭 아이씨 검사용 프로브 카드의 일 예를 보인 평면도.

도 6은 도 5의 저면도.

도 7은 도 5의 요부의 종단면도.

※ 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명

10 : 메인기판

11 : 관통공 12 : 회로연결단자

13 : 체결공

20 : 보강링

21 : 블럭결합공

30 : 지지블럭

31 : 니들삽입홈 32 : 볼트

40 : 니들어셈블리

41 : 니들

본 발명은 탭 아이씨(TAB IC) 검사용 프로브 카드에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 메인 기판과 니들에 신호를 연결하는 다수의 신호선을 연결하지 않고서도 간단한 구조로 빠른 신호 전달이 이루어지도록 한 탭 아이씨 검사용 프로브 카드에 관한 것이다.

일반적으로 탭 아이씨(TAB IC)는 통상적인 TV나 컴퓨터용 모니터에 사용되고 있는 LCD 패널을 점등시키기 위한 구동칩을 의미하며, 이러한 탭 아이씨의 제조를 위해서는 구동 아이씨를 만들기 위한 웨이퍼 제작공정과 웨이퍼를 절단하는 공정, 절단된 구동아이씨를 LCD 패널에 장착하기 위한 신호 연결용 필름(이하 탭 필름)의 제작, 그리고 최종적으로 구동아이씨와 필름의 부착공정을 거치게 된다.

이후, 조립이 끝난 완제품상태의 탭 아이씨를 전기적인 신호를 인가하여 불량제품을 검출해 내며 이때 탭 아이씨에 직접 신호를 인가하기 위한 접촉체로 프로브 카드를 사용하게 된다.

상기와 같은 탭 아이씨 검사를 위해 사용되는 일반적인 프로브 카드는 도 5 내지 도7에서 보인 것과 같이 중앙부에 관통공(101)이 형성되고 니들이 납땜 고정되는 다수의 회로연결단자(101)가 형성된 메인기판(100)과, 메인기판(100)의 관통공(101)에 고정되는 보강링(200)과, 메인기판(100)의 상면으로 탭 아이씨의 전극 부위와 접촉되는 다수의 니들로 구성된 니들어셈블리(300) 및 니들어셈블리(300)가 메인기판(100)에 에폭시(401)로 접착되어 고정되도록 하는 고정링(400)과, 니들과 메인기판의 신호 연결을 위해 메인기판의 하면에 부착되는 다수의 신호선(500)으로 구성된다.

또한, 상기 니들어셈블리(300)는 메인기판(100)의 상면에 경사지게 배치되어 일측 끝단이 메인기판(100)에 납땜에 의해 접속되고, 타측 끝단이 상기 관통공(101)의 하부측으로 돌출 배치되도록 하며, 니들의 끝단이 탭 아이씨에 접촉되도록 함으로써, 탭 아이씨와 메인기판이 전기적으로 연결되어 탭 아이씨의 결함을 검사할 수 있게 되는 것이다.

그러나, 상기와 같은 종래의 프로브 카드는 메인기판의 하면에 니들이 부착되어 고정되고, 니들과 메인기판의 신호 접속을 위하여 메인기판의 상면에 다수의 신호선을 납땜으로 구비하게 되는데, 이러한 신호선을 각각 별도로 납땜하여 결합하는 작업이 매우 번거롭고 힘든 문제점이 있었을 뿐만 아니라, 니들과 신호선 사이에는 저항이 증가되어 정확한 신호가 전달되지 못하는 경우도 발생하였다.

또한, 니들이 손상되는 경우에는 일부분 만을 수리하는 작업이 매우 힘들어 전체 프로브 카드를 교체해야만 하는 낭비가 있었으며, 니들어셈블리를 구성하는 니들을 평행하게 배치하는 것이 매우 힘들어 프로브 카드에 결합되는 니들의 수에 한계가 발생하는 문제점이 있었다.

이에, 본 발명은 상기와 같은 종래의 제반 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 그 목적은 메인 기판과 니들에 신호를 연결하는 다수의 신호선을 연결하지 않고서도 간단한 구조로 빠른 신호 전달이 이루어지도록 한 탭 아이씨 검사용 프로브 카드를 제공함에 있다.

또한, 본 발명의 목적은 지지블럭에 다수의 니들이 일정한 간격을 유지하면서 고정되도록 함에 있다.

또한, 본 발명의 목적은 니들어셈블리가 지지블럭에 견고히 고정되도록 함에 있다.

또한, 본 발명의 목적은 니들어셈블리의 합선이 방지되도록 함에 있다.

또한, 본 발명의 목적은 니들어셈블리의 교체가 간편하게 이루어지도록 함에 있다.

상기와 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은 중앙부에 상하로 관통공이 형성되고, 다수의 회로연결단자가 형성된 메인기판과; 상기 관통공에 삽입되어 고정되고, 중앙부에 블럭결합공이 형성된 보강링과; 상기 블럭결합공의 내측에 서로 이격되어 고정되는 한 쌍의 지지블럭과; 일단이 상기 메인기판의 하면에 형성된 회로연결단자에 접속되고, 타단이 메인기판의 수직방향으로 배치되도록 절곡되면서 그 끝단이 상기 지지블럭의 상부측으로 돌출되며, 상기 지지블럭에 고정되는 다수의 니들로 구성된 니들어셈블리;를 포함하여 구성된다.

또한, 상기 지지블럭은; 서로 마주보는 내측면에 상기 니들이 삽입되는 니들삽입홈이 형성된 것을 특징으로 한다.

또한, 상기 니들어셈블리는; 상기 지지블럭의 측면에 에폭시로 부착되는 것 을 특징으로 한다.

또한, 상기 니들의 외측면에 절연튜브가 구비된 것을 특징으로 한다.

또한, 상기 지지블럭은; 상기 보강링의 일측에 볼트로 체결되어 고정된 것을 특징으로 한다.

이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참고로 하여 더욱 상세하게 설명하면 다음과 같다.

도 1은 본 발명의 일 실시예를 보인 분해사시도이고, 도 2는 도 1의 결합상태를 보인 평면도이며, 도 3은 도 1의 결합상태를 보인 저면도이며, 도 4는 도 1의 결합상태를 보인 종단면도로서, 도시된 것과 같이 본 발명은 프로브 카드의 니들(41)이 부착되면서 검사장비에 결합되도록 하는 메인기판(10)과, 메인기판(10)의 관통공(11)의 내측에 지지블럭(30)에 의해 수직으로 배치되어 일측 끝단이 탭 아이씨와 접촉되고 타측 끝단이 직접 메인기판(10)에 접속되도록 한 다수의 니들(41)로 구성된 니들어셈블리(40)를 포함하여 메인기판(10)에 다수의 신호선을 구비하지 않고서도 간단한 구조로 빠른 신호 전달이 이루어지도록 한 탭 아이씨 검사용 프로브 카드에 관한 것이다.

상기 메인기판(10)은 프로브 카드가 탭 아이씨를 검사하는 검사장비에 고정되도록 하면서, 후술되는 니들(41)이 부착되어 검사장비와의 신호가 연결되도록 하는 것으로서, 통상의 PCB 기판으로 형성되고, 중앙부에는 관통공(11)이 형성되어 관통공(11)을 통해 니들(41)이 메인기판(10)의 외측으로 노출되면서 탭 아이씨와 접촉되도록 한다.

또한, 관통공(11)의 외측으로는 니들(41)이 납땜에 의해 고정되면서 신호가 연결되도록 하는 회로연결단자(12) 및 검사장비에 프로브 카드가 고정되도록 하는 체결공(13)을 형성하여 메인기판(10)에 니들(41)이 간편하게 접속되면서 검사장비에 프로브 카드가 견고하게 고정되도록 한다.

상기 지지블럭(30)은 상기 관통공(11)의 내측에 고정되어 니들(41)이 메인기판(10)에 고정되도록 하는 것으로서, 상기 관통공(11)의 내측에 평행하게 이격되어 한 쌍이 고정되고, 전기 전도성을 띄지 않는 통상의 세라믹 재질 등으로 형성하여 지지블럭(30)의 서로 마주보는 내측면에 후술되는 니들어셈블리(40)가 부착되어 고정되도록 한다.

상기 니들어셈블리(40)는 탭 아이씨를 검사하는 검사장비 및 탭 아이씨 사이의 신호를 연결하는 것으로서 전기 전도성을 갖는 통상의 금속 선재로 형성되고, 일단이 상기 메인기판(10)의 회로연결단자(12)에 납땜에 의해 접속되며, 타측이 절곡되어 메인기판(10)과 수직방향으로 배치되면서 상기 관통공(11) 측으로 삽입되고, 그 끝단이 지지블럭(30)의 하방으로 돌출되도록 한 다수의 니들(41)로 구성되도록 한다.

또한, 상기 니들(41)은 측방으로 다수개가 배열되어 구비되도록 함으로써, 니들어셈블리(40)를 형성하도록 하고, 상기 지지블럭(30)과 맞닿는 면에는 에폭시를 이용하여 접착 고정되도록 함으로써, 다수의 니들(41)로 구성된 니들(41) 어셈블리가 견고히 고정되도록 한다.

이에 따라, 지지블럭(30)의 하부측으로 돌출된 니들(41)의 끝단이 탭 아이씨와 맞닿으면서 검사를 수행하게 되고, 니들(41)을 타고 흐르는 신호가 별도의 신호선이 없이 메인기판(10)에서 바로 접속되게 되어 전류에 가해지는 저항이 최소화되어 더욱 정확한 검사가 가능해지게 되는 것이다.

또한, 지지블럭(30)에 고정되는 다수의 니들(41)은 서로 평행한 상태를 유지할 수 있게 되어 니들(41)의 집적도를 극대화할 수 있게 됨으로써, 니들어셈블리(40)에 더욱 많은 수의 니들(41)을 구비할 수 있게 되어 하나의 프로브 카드 만으로도 동시에 다수의 탭 아이씨를 검사하는 것이 가능해 지게 되는 것이다.

더불어, 상기 니들어셈블리(40)와 접촉되는 지지블럭(30)의 측면에는 니들(41)이 삽입되는 다수의 니들삽입홈(31)을 일정한 간격으로 형성하여 니들어셈블리(40)를 구성하는 다수의 니들(41)이 지지블럭(30)에 일정한 간격으로 고정되도록 함으로써, 프로브 카드를 제작할 때 니들(41)이 일정한 간격을 유지하면서 배치되도록 하는 작업이 더욱 편리해지도록 할 뿐만 아니라, 다수의 니들(41)이 일정한 간격을 유지하여 탭 아이씨와의 접촉이 더욱 균일하게 이루어져 탭 아이씨의 검사가 더욱 원활하게 이루어지도록 하는 것이 바람직하다.

더불어, 상기 관통공(11)에는 중앙부에 블럭결합공(21)이 형성된 보강링(20)을 고정하고, 상술한 지지블럭(30)이 블럭결합공(21)의 내측으로 삽입되어 보강링(20)에 볼트(32)에 의해 체결 고정되도록 함으로써, 니들(41)이 손상된 경우에는 해당되는 부분의 지지블럭(30) 만을 분리하여 그에 부착된 니들어셈블리(40)를 교체함으로써, 전체적인 프로브 카드를 교체해야 하는 낭비가 사라지도록 하는 것이 바람직하다.

또한, 상기 니들(41)의 외측면에는 절연재로 형성된 절연튜브를 구비하여 절연튜브가 각각의 니들(41)을 감싸도록 함으로써, 니들(41)이 서로 접촉됨에 따른 합선을 방지하여 더욱 정확한 검사가 이루어지도록 하는 것이 바람직하다.

상술한 바와 같이, 본 발명은 메인기판과 니들에 신호를 연결하는 다수의 신호선을 연결하지 않고서도 간단한 구조로 빠른 신호 전달이 이루어지도록 한 탭 아이씨 검사용 프로브 카드를 제공함으로서, 신호선을 각각 납땜해서 연결해야 하는 불편함이 사라져 프로브 카드의 제작이 더욱 간편해 질 뿐만 아니라, 니들의 끝단이 매인기판의 수직방향으로 배치됨으로써 더욱 많은 수의 니들을 배치할 수 있게 되어 하나의 프로브 카드로 동시에 다수의 탭 아이씨를 검사할 수 있게 되어 프로브 카드를 이용한 탭아이씨의 검사 속도가 더욱 개선되는 효과를 가지게 된다.

또한, 본 발명은 지지블럭에 니들삽입홈을 형성하여 지지블럭에 다수의 니들이 일정한 간격을 유지하면서 고정되도록 함으로서, 니들이 일정한 간격을 유지하면서 배치되도록 하는 작업이 더욱 편리해질 뿐만 아니라, 니들과 탭 아이씨의 접촉이 더욱 균일하게 이루어져 탭 아이씨의 검사가 더욱 원활하게 이루어지는 효과를 가지게 된다.

또한, 본 발명은 니들어셈블리가 지지블럭에 에폭시에 의해 견고히 고정되도록 함으로서, 반복적인 검사를 수행할 때에도 니들어셈블리가 상시 일정한 위치를 유지할 수 있는 효과를 가지게 된다.

또한, 본 발명은 니들의 외측에 절연튜브를 구비하여 니들어셈블리의 합선이 방지되도록 함으로서, 니들의 합선에 의한 프로브 카드의 오작동을 방지하는 효과를 가지게 된다.

또한, 본 발명은 지지블럭이 보강링에 체결 고정되도록 하여 니들어셈블리의 교체가 간편하게 이루어지도록 함으로서, 니들이 손상될 경우에 간편하게 니들어셈블리를 교체하여 프로브 카드 전체를 교체함에 따른 낭비를 줄일 수 있는 효과를 가지게 된다.

Claims (5)

1. 중앙부에 상하로 관통공(11)이 형성되고, 다수의 회로연결단자(12)가 형성된 메인기판(10)과;

   상기 관통공(11)에 삽입되어 고정되고, 중앙부에 블럭결합공(21)이 형성된 보강링(20)과;

   상기 블럭결합공(21)의 내측에 서로 이격되어 고정되는 한 쌍의 지지블럭(30)과;

   일단이 상기 메인기판(10)의 하면에 형성된 회로연결단자(12)에 접속되고, 타단이 메인기판(10)의 수직방향으로 배치되도록 절곡되면서 그 끝단이 상기 지지블럭(30)의 상부측으로 돌출되며, 상기 지지블럭(30)에 고정되는 다수의 니들(41)로 구성된 니들어셈블리(40);를 포함하는 탭 아이씨 검사용 프로브 카드.
2. 제 1항에 있어서,

   상기 지지블럭(30)은;

   서로 마주보는 내측면에 상기 니들(41)이 삽입되는 니들삽입홈(31)이 형성된 것을 특징으로 하는 탭 아이씨 검사용 프로브 카드.
3. 제 1항에 있어서,

   상기 니들어셈블리(40)는;

   상기 지지블럭(30)의 측면에 에폭시로 부착되는 것을 특징으로 하는 탭 아이씨 검사용 프로브 카드.
4. 제 1항에 있어서,

   상기 니들(41)의 외측면에 절연튜브가 구비된 것을 특징으로 하는 탭 아이씨 검사용 프로브 카드.
5. 제 1항 내지 제 4항 중 어느 한 항에 있어서,

   상기 지지블럭(30)은;

   상기 보강링(20)의 일측에 볼트로 체결되어 고정된 것을 특징으로 하는 탭 아이씨 검사용 프로브 카드.

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