KR100681803B1 - 연속 주조물에서의 원소 농도 집중부를 국소진단하는 장치 - Google Patents

연속 주조물에서의 원소 농도 집중부를 국소진단하는 장치 Download PDF

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Abstract

비철 금속 합금으로 이루어지고 수평으로 제조되는 연속 주조물의 가장자리 구역에서 원소 농축부를 국소진단하기 위하여, 연속 주조물로부터 길이 방향 부분(3)을 떼어내고, 시편(3)을 형성하는 그 길이 방향 부분(3)으로부터 횡방향으로 1회 이상 일정 두께의 표면층을 금속 절삭 유닛(4)으로 스트립 형태로 절삭한다. 그 후, 스트립의 길이 방향으로 스펙트럼 분석을 통해 금속 조성을 일직선으로 연속하여 일일이 검사한다. 이 경우에 조사된 원소 농도는 데이터 처리 장치(11)에 의해서 수치 및/또는 그래프로 표시된다. 금속 절삭 유닛(4) 및 스펙트럼 분석 헤드(14)는 금속 절삭 및 분석 제어 유닛(6)의 작용하에 작동되는데, 그 제어 유닛(6)은 한편으로는 기억 프로그램 가능한 제어 장치(9)를 경유하고, 다른 한편으로는 스펙트로미터(16)를 경유하여 데이터 처리 장치(11)에 접속된다.

Description

연속 주조물에서의 원소 농도 집중부를 국소진단하는 장치{APPARATUS FOR THE LOCALIZATION OF ELEMENT CONCENTRATIONS IN A CONTINUOUS CASTING}
도 1은 연속 주조물에서 원소 농도 집중부를 국소진단하는 장치의 개략도.
도 2는 시편을 형성하는 연속 주조물의 길이 방향 부분의 확대 평면도.
도 3 내지 도 6은 각종의 편석 분석 그래프.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
1. 장치
2. 검사대
3. 시편
4. 금속 절삭 유닛
5. 밀링
6. 금속 절삭 및 분석 제어 유닛
7. 센서
9. 프로그램 가능한 제어 장치
11. 데이터 처리 장치
14. 스펙트럼 분석 헤드
16. 스펙트로미터
본 발명은 비철 금속 합금으로 이루어지고 수평으로 제조되는 연속 주조물의 가장자리 구역에서 원소 농도 집중부를 국소진단하는 방법 및 장치에 관한 것이다.
비철 금속 합금으로 이루어지고, 횡단면이 특히 직사각형인 연속 주조물, 예를 들어 주석/청동 스트립을 수평으로 주조함에 있어서, 실제로 많은 노력을 기울였어도 연속 주조물의 품질에 관하여 신뢰할 수 있는 정보를 획득하는 것에 대하여 여전히 문제가 있다. 이러한 곤란함은 합금의 조성 요건을 몇 배나 초과하는 주석 농도 집중부(주석 편석)가 검출된 경우에 명백하게 된다. 이러한 주석 농도 집중부는 연속 주조물의 가장자리 구역에서 주조 방향으로 길게 연장하는 스트립의 전 길이에 걸쳐 발생하는 농도 이상(異常)으로서, 이는 통상적으로 주석/청동 합금의 경우에 언제나 존재하는 것이다. 통상 이러한 주석 농도 집중부는 실제로는 특정 두께의 표면층을 절삭함으로써 제거되고, 그에 따라 그 후에 그러한 연속 주조물로부터 품질적으로 지장이 없는 최종 제품이 제조될 수 있다.
절삭되는 표면층의 두께는 지금까지 경험치에 의하여 결정되었는데, 통상의 경우에는 그러한 경험치로도 충분하다. 그러나, 전제된 특정의 조건하에서 수평형 주조를 할 경우, 일정 부위에서 정상적인 정도를 넘는 연속 주조물에 특유한 주석 농축이 생긴다. 그 원인은 대부분 의도적으로 또는 의도하지 않게 냉각 조건이 변동되는데 있다. 그러나, 이러한 이상 현상은 다수의 작업 과정이 이미 수행된 이후에 압연 및 연마된 표면에서 담황색 줄무늬 형태로 뚜렷하게 나타난다. 그 경우, 그러한 주조물은 보통 폐기되었다.
본 발명의 목적은, 비철 금속 합금으로 이루어고 수평으로 제조되는 연속 주조물의 가장자리 구역에서 원소 농도 집중부를 국소진단하는 방법 및 장치로서, 의도하거나 의도하지 않는 냉각 조건의 변동이 있을 경우에서만이 아니라, 필요에 따라 실시되는 국부적 균질화 냉각과 무관하게, 원소 농도 집중부를 확실하게 검출하여 제거할 수 있는 방법 및 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 목적 중의 방법에 관한 부분은 청구항 1의 특징부에 의해 달성된다.
본 발명의 범위에서는, 권취된 코일의 처음 및 끝에서 연속 주조물로부터 길이 방향 부분을 시편으로서 떼어내고, 이 시편으로부터 횡방향으로 일정 두께의 표면층을 스트립 형태로 절삭한다. 표면층의 절삭 제거는 밀링, 연삭 또는 다른 유형의 기계 가공에 의해 실행된다. 이 경우에 중요한 것은 절삭시에 윤활제를 전혀 첨가하지 않는다는 점이다. 절삭은 시편의 전체의 길이에 걸쳐, 그리고 그에 따라 연속 주조물의 전 폭에 걸쳐 이루어진다.
이어서, 이렇게 제거된 시편의 스트립 상에서 그 길이 방향으로 포인트-바이-포인트 스펙트럼 분석(point-by-point spectroanalysis)을 일직선으로 연속하여 수행한다. 그 경우, 그와 관련하여 측정되는 원소 농도 집중부, 즉 주석/청동 스트립의 경우에, 주석 농도가 데이터 처리 장치(컴퓨터)에 의해 수치 및 그래프로 표시된다.
그렇게 수행하여, 규정된 상한치를 초과하는 원소 농도 집중부가 하나 이상의 부위에 존재하는 것으로 측정되면, 스트립을 따라 다시 한번 더 층을 절삭하는데, 다만 그 층은 제1 층 보다는 상당히 더 얇다. 그것에 입각하여, 금속 조성의 스펙트럼 분석을 스트립의 길이 방향으로 재차 수행하고, 그 결과를 표시한다. 결국 원소 농도 집중부가 한계치 미만이면, 연속 주조물에 대해 최종 제품의 생산 또는 후속 가공이 허용된다. 허용되지 않는 농도 이상이 여전히 존재하면, 다시 한번 더 얇은 층을 절삭하고, 이어서 스펙트럼 분석을 수행하고, 그 후에 연속 주조물이 후속 가공에 공급될 수 있는지의 여부를 결정하게 된다.
그 결과, 본 발명에 따른 방법은 연속 주조물로부터 얼마만큼의 재료가 절삭되어야 하는지를 정확하게 측정할 수 있고, 이로써 흠이 없는 원재료를 후속 가공에 제공할 수 있게 된다.
본 발명의 목적 중의 장치에 관한 부분은 청구항 2의 특징부에 의해 달성된다.
본 발명에 따른 장치는 시편의 위치를 검출하는 센서, 금속 절삭 유닛 및 스펙트럼 분석 헤드를 구비하고, 상기 금속 절삭 유닛과 상기 스펙트럼 분석 헤드는 시편에 대한 상대 이동이 가능하고 금속 절삭 및 분석 제어 유닛의 작용하에 작동되며, 상기 제어 유닛은 한편으로는 프로그램 가능한 제어 장치를 경유하고, 다른 한편으로는 스펙트로미터를 경유하여 데이터 처리 장치에 접속된다. 이 데이터 처리 장치는 모니터와 프린터를 구비한다.
연속 주조물로부터 떼어진 시편은 적소에 고정된다. 그 다음, 센서가 시편의 표면을 주사하고, 금속 절삭 유닛, 특히 밀링 커터를 구비한 밀링 헤드를 균일한 두께의 표면층을 절삭할 수 있도록 조정한다. 동시에, 횡방향의 연장부가 측정된다. 이 때, 센서는 프로그램 가능한 제어 장치에 접속된 금속 절삭 및 분석 제어 유닛의 작용하에 작동된다. 제어 장치 자체는 다시 데이터 처리 장치와 연결되고, 이 데이터 처리 장치는 제어 장치와, 금속 절삭 및 분석 제어 유닛을 경유하여 센서를 단계적으로 위치시키고, 그 외에도 장치의 모든 안전 연쇄 작용 및 기능을 점검한다.
이어서, 금속 절삭 유닛에 의해서 예정된 층의 두께(예를 들면, 0.6㎜)를 스트립 형태로 제거하여, 깨끗한 표면을 생성한다. 이러한 스트립 상방을 스펙트럼 분석 헤드가 이동하여, 일직선으로 연속하여 일일이 금속 조성을 조사하고, 아울러 그 스펙트로미터는 농도를 데이터 처리 장치에 전송한다.
데이터 처리 장치는 모든 위치 결정 데이터 및 분석 데이터를 수집하고, 측정치를 참조하여 분석 데이터를 정정하기 때문에, 분석 데이터 및 위치 결정 데이터가 도표로 변환되어, 온라인으로 데이터 처리 장치의 모니터 상에 표시된다. 그 도표에서는 한계치를 초과하는 농도 이상이 존재하는 경우를 명확히 인지할 수 있다. 데이터 처리 장치는 이러한 농도 이상을 검출하는 즉시, 금속 절삭 유닛이 길이 방향 부분으로부터 또 하나의 층을 예를 들어 0.2㎜의 작은 두께로 제거하도록 지시한다. 이는 길이 방향 부분의 횡방향으로 연장부 전체에 걸쳐 실행되거나, 과도한 농도 집중부가 이미 탐지되었던 곳에서만 실행될 수도 있다.
제2 층을 절삭한 후에, 다시 한번 더 스펙트럼 분석을 실행하여 과도한 농도 집중부가 아직도 존재하는지 또는 원소 농도 집중부가 한계치에 속하는지의 여부를 확인한다. 원소 농도 집중부가 이러한 한계치 내에 있으면, 농도 이상이 지장이 없는 것으로 규정되어, 상기 한계치는 연속 주조물 가공의 특징이 될 수 있다. 농도 이상이 여전히 존재하면, 예를 들어 0.2㎜의 또 하나의 얇은 층을 절삭하고, 시편을 스펙트럼 분석한다.
본 발명에 따른 사상의 또 다른 양태에 있어서, 청구항 3에 따른 바와 같이 금속 절삭 및 분석 제어 유닛이 광도파관에 의해서 스펙트로미터와 연결되는 것이 바람직하다.
이하, 본 발명을 도면에 나타낸 실시예를 근거로 하여 더욱 상세히 설명하기로 한다.
도 1에는 구리/주석 합금(CuSn4)으로 이루어지고 횡단면이 직사각형인 수평으로 제조되는 연속 주조물의 가장자리 구역에서 원소 농도 집중부를 국소진단하는 장치가 참조 부호 "1"로 지시되어 있다. 상기 장치(1)는 검사대(2)를 포함하고, 이 검사대 상에는 연속 주조물의 짧은 길이 방향 부분이 시편(3)의 형태로 적소에 고정될 수 있다. 이와 같은 관련하여 도 2로부터도 알 수 있는 바와 같이, 연속 주조물로부터 떼어낸 시편(3)의 길이(L)는 폭(B) 보다도 상당히 짧은 크기로 되는데, 상기 폭(B)은 동시에 연속 주조물의 폭과 일치한다. 또한, 시편(3)은 검사대(2)의 길이 방향으로도 폭 연장만큼 적소에 고정된다.
밀링 커터(5)를 구비한 밀링 헤드 형태의 금속 절삭 유닛(4)은 검사대(2)의 길이 방향이자 시편(3)의 횡방향과 평행한 방향으로 이동할 수 있다. 밀링 커터(5)는 금속 절삭 유닛(4)으로부터 하방으로 연장될 수 있다. 또한, 금속 절삭 유닛(4)은 검사대(2)에 대해 횡방향으로 이동할 수 있다. 또한, 금속 절삭 유닛(4)은 도시를 생략한 방식으로 검사대(2)에 통합된 금속 절삭 및 분석 제어 유닛(6)의 작용하에 작동된다.
금속 절삭 유닛(4)에는 센서(7)가 부착되고, 이 센서(7)에 의해 검사대(2) 상에서 시편(3)의 위치 및 그 시편(3)의 폭 연장부(B)가 횡방향으로 검출된다.
금속 절삭 유닛(4)은 금속 절삭 및 분석 제어 유닛(6)의 작용하에 작동되기 때문에, 라인(8)을 경유하여 프로그램 가능한 제어 장치(9)에 접속되고, 그 제어 장치(9)는 다른 한편으로는 라인(10)을 경유하여 모니터(12) 및 프린터(13)를 구비한 데이터 처리 장치(11)에 접속된다.
또한, 검사대(3)의 길이 방향이자 시편(3)의 폭 연장부(B)와 평행한 방향으로 스펙트럼 분석 헤드(14)가 이동될 수 있다. 이 스펙트럼 분석 헤드(14)도 역시 금속 절삭 및 분석 제어 유닛(6)의 작용하에 작동되는데, 그 금속 절삭 및 분석 제어 유닛(6) 자체는 광도파관(15)을 경유하여 스펙트로미터(16)에 연결되고, 그 스펙트로미터(16)는 다시 라인(17)을 경유하여 데이터 처리 장치(11)에 접속된다.
분석을 실행하기 위해, 먼저 제어 장치(9) 및 제어 유닛(6)에 의해서 센서(7)를 시편(3) 상에 걸쳐 이동시키는데, 그 때에, 센서(7)는 시편(3)의 위치 및 그 시편(3)의 폭 연장부(B)를 스캐닝한다. 다음, 제어 장치(9)는 그 제어 장치(9)에 전송된 값을 통해 금속 절삭 유닛(4)을 조정하여, 밀링 커터(5)가 시편(3)으로부터 폭 연장부(B)만큼 0.6㎜의 깊이의 표면층을 스트립 형태로 절삭하도록 한다(도 2 참조).
이어서, 스펙트럼 분석 헤드(14)가 데이터 처리 장치(11)에 의하여 제어 장치(9)를 경유하여 절삭된 스트립(18)의 길이 방향으로 이동하는데, 이 때 시편(3)의 금속 조성의 포인트-바이-포인트 스펙트럼 분석을 일직선으로 연속(19)(스펙트로미터의 아크 스폿)하여 수행한다. 이 경우, 스펙트로미터(16)는 어떤 합금을 분석하고 언제 스파크(spark)시킬 것인지에 관해 데이터 처리 장치(11)로부터 명령을 수신한다. 스펙트로미터(16)는 방출 스펙트럼 측정법을 통해 조성을 측정하고, 농도를 데이터 처리 장치(11)에 송신한다.
도 1에서, 화살표(PF)는 정보의 흐름을 표시한 것이다.
데이터 처리 장치(11)는 위치 데이터 및 분석 데이터를 수집하고, 필요한 경우에는 측정치를 참조하여 그 데이터를 보정한다. 그 다음으로, 이 데이터 처리 장치는 분석 데이터 및 위치 데이터를 도표로 변환시키고, 이 도표는 도 3에 따른 바와 같이 온라인으로 모니터(12)에 표시된다. 이 경우, 가로 좌표(A)는 시편(3)의 폭(B)을 밀리미터로, 그리고 세로 좌표(O)는 주석 농도를 백분율로 각각 나타낸다. 허용 가능한 주석 농도는 약 3.5 내지 4.5 퍼센트 사이에 있다.
예시적인 실시예에서, 스펙트로미터(16)는 절삭 깊이가 약 0.6㎜인 경우에 375㎜ 내지 425㎜의 위치로부터 상한치(OG)를 상회하는 주석 농도(20)를 확인하여 데이터 처리 장치(11)에 전송하고 도 3에 따른 바와 같이 모니터에 표시한다.
금속 절삭 유닛(4)이 스트립(18)의 길이 방향으로 다시 한번 더 이동되어, 0.2㎜의 재료를 추가로 절삭한다.
그 다음, 스펙트럼 분석 헤드(14)가 스트립(18)의 길이 방향으로 이동되어, 금속 조성을 스캐닝한다.
이와 관련하여 도 4로부터 알 수 있는 바와 같이, 분석에 의하면 절삭 깊이가 이제 총 0.8㎜로 된 경우에도 역시 375㎜ 내지 425㎜의 사이의 구역에서 여전히 높은 주석 농도가 나타난다. 그러나, 주석 농도(20)가 베이스쪽으로 좀 더 좁혀진 것을 또한 인지할 수 있다.
여전히 높은 주석 농도(20)로 인해, 그에 입각하여 금속 절삭 유닛(4)이 재차 스트립(18)의 길이 방향으로 이동되어, 0.2㎜의 층을 더 절삭한다.
그 결과, 스펙트럼 분석 헤드(14)도 역시 재차 스트립(18)의 길이 방향으로 이동되어, 현재의 금속 조성을 스캐닝하게 된다.
이 경우, 도 5에 도시된 바와 같이, 현재의 절삭 깊이가 총 약 1㎜로 된 경우에도 여전히 375㎜ 내지 425㎜의 위치 사이에 높은 주석 농도(20)가 존재한다. 그러나, 도 5는 주석 농도(20)가 베이스쪽으로 현저히 더 좁혀진 것을 나타내고 있다.
이것에 입각하여, 금속 절삭 유닛(4)이 재차 스트립(18)의 길이 방향으로 이동되어, 밀링(5)에 의해서 0.2㎜ 두께의 층을 추가로 절삭한다.
그 다음, 스펙트럼 분석 헤드(14)가 스트립(18)의 길이 방향으로 이동되어, 금속 조성물을 스캐닝하게 된다.
데이터 처리 장치(11)의 모니터(12) 상에 나타나 있는 도 6의 도표로부터 알 수 있는 바와 같이, 현재의 절삭 깊이가 총 1.2㎜로 된 경우에 높은 농도 또는 농도 이상이 더 이상 전혀 발견되지 않는다. 주석의 농도 곡선은 2개의 한계선(OG 및 UG) 사이에서 변동된다.
그러므로, 상기 검사 결과로부터, 코일로 권취되는 연속 주조물(금속 스트립)에서 그것의 후속 가공시에 해당 제품의 불량을 초래할 수 있는 허용될 수 없는 높은 주석 농도 집중부가 존재하지 않도록 보장하기 위해서는 연속 주조물을 가공하는 밀링이 1.4㎜의 절삭 깊이로 조정되어야 한다는 결론을 얻게 된다.
본 발명의 방법 및 장치를 통하여, 의도하거나 의도하지 않는 냉각 조건의 변동이 있을 경우에서만이 아니라 필요에 따라 실시되는 국부적 균질화 냉각에도 원소 농도 집중부를 확실하게 인지하여 제거시킬 수 있는 효과를 제공한다.

Claims (3)

  1. 삭제
  2. 비철 금속 합금으로 이루어지고 수평으로 제조되는 연속 주조물의 가장자리 구역 내에서의 원소 농도 집중부(20)를 국소진단하는 방법으로서,
    연속 주조물로부터 길이 방향 부분(3)을 떼어내어 시편(3)을 형성하고, 그 길이 방향 부분(3)으로부터 횡방향으로 1회 이상 일정 두께의 표면층을 스트립 형태로 절삭하는 단계와,
    이어서, 스트립(18)의 길이 방향으로 포인트-바이-포인트 스펙트럼 분석(point-by-point spectroanalysis)을 일직선으로 연속(19)하여 수행하는 단계와,
    그 다음으로, 데이터 처리 장치(11)에 의해서 원소 농도를 수치 또는 그래프, 또는 수치 및 그래프로 표시하는 단계
    를 포함하는 것인 연속 주조물에서의 원소 농도 집중부를 국소진단하는 방법을 수행하는 장치로서,
    시편(3)의 위치를 검출하는 센서(7)와, 금속 절삭 유닛(4)과, 스펙트럼 분석 헤드(14)를 구비하고,
    상기 센서(7), 금속 절삭 유닛(4) 및 스펙트럼 분석 헤드(14)는 시편(3)에 대한 상대 이동이 가능하고, 금속 절삭 및 분석 제어 유닛(6)의 작용하에 작동되며,
    상기 제어 유닛(6)은, 한편으로는 프로그램 가능한 제어 장치(9)를 경유하고, 다른 한편으로는 스펙트로미터(16)를 경유하여 데이터 처리 장치(11)에 접속되는 것을 특징으로 하는 장치.
  3. 제2항에 있어서, 상기 금속 절삭 및 분석 제어 유닛(6)은 광도파관(15)에 의해서 스펙트로미터(16)에 접속되는 것을 특징으로 하는 장치.
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