KR100657383B1 - 생산 관리 방법, 생산 라인의 설계 방법 및 생산 라인 - Google Patents

생산 관리 방법, 생산 라인의 설계 방법 및 생산 라인 Download PDF

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Abstract

본 발명은 일련의 공정에 제품을 흐르게 함으로써 제품을 가공하는 생산 라인에 있어서, 하나의 공정 중의 처리 장치의 정지가 다른 공정에 영향을 주는 것을 회피하는 것에 관한 것이다.
하나의 공정과 다음의 공정 간에, 상기 하나의 공정 중의 장치 정지의 결과로서 상기 다음의 공정에서 부족하게 되는 제품의 개수에 대응하는 안전 WIP를 확보하고, 또한 상기 하나의 공정과 상기 하나의 공정의 전(前)공정 간에, 상기 하나의 공정의 장치의 정지에 수반하여 체류하는 제품의 개수에 대응한 빈 팔레트를 준비한다.
스토커, WIP

Description

생산 관리 방법, 생산 라인의 설계 방법 및 생산 라인{PRODUCTION MANAGEMENT METHOD, DESIGN METHOD OF PRODUCTION LINE AND PRODUCTION LINE}
도1은 본 발명의 제1실시예에 의한 생산 관리 방법을 설명하는 도면.
도2는 본 발명의 제5실시예에 의한 생산 관리 방법을 설명하는 도면(그 1).
도3은 본 발명의 제5실시예에 의한 생산 관리 방법을 설명하는 도면(그 2).
도4는 본 발명의 제6실시예에 의한 생산 관리 방법을 설명하는 도면(그 1).
도5는 본 발명의 제6실시예에 의한 생산 관리 방법을 설명하는 도면(그 2).
*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명*
P1 - P9 : 공정
본 발명은 액정 유리 기판, PDP기판, 혹은 반도체 웨이퍼 생산 라인의 생산 관리 방법에 관한 것이다. 또 본 발명은 이러한 액정 유리 기판, PDP기판, 혹은 반도체 웨이퍼 생산 라인의 설계 방법에 관한 것이다.
종래로부터 반도체 장치의 생산 라인에서는 미리 자(自)공정의 목표 WIP수를 정하여 두고, 이것과 자공정의 현상(現狀) WIP(work in progress)수 간의 편차량을 계산하여, 초과하는 경우에는 전(前)공정의 처리를 정지시키고, 적은 경우는 전(前)공정의 처리를 예약함으로써, 공정의 WIP수의 평준화를 도모하는 방법이 일본국 특개평7-74226호 공보에 제안되어 있다.
또 각 공정에서 필요 처리 개수에 대한 WIP수를 과거의 WIP수와 처리수의 데이터로부터 회귀 직선 또는 근사 곡선으로부터 구하는 방법도 제안되고 있다.
또한 장치의 정지시에는 전체 라인을 멈추어 장치를 수복하는 것을 전제로 하고, 안전을 위한 WIP는 가지지 않는 생산 관리 방법이 Nikkei Microdevices, 1998년 3월호, PP. 104-107에 기재되어 있다.
또 종래로부터 반도체 장치의 생산 라인을 설계, 구성할 때에, 각 베이의 스토커에 설치하는 보관 팔레트의 수를 생산 계획으로부터 결정하는, 각 스토커의 카세트(로트)를 베이간 반송할 때의 입고 총수(from)와, 상기 베이간 반송으로의 출고 총수(to)의 합을 기준으로 결정하는 방법이 알려져 있다. 상기 기준은 그 공장에서 필요로 하는 회전율(각 베이의 총 WIP수/그 베이에서 1일에 처리하는 로트의 총수)에 의해서, 1일분의 총수로 하는 경우도 있지만, 반(半)일분의 총수로 하는 경우도 있다. 어쨌든 각 스토커의 from과 to의 총수의 비율에 따라서 스토커의 팔레트수가 결정된다.
한편, 베이마다 스토커를 두지 않고, 장치 근방에 WIP를 분산 보관하는 방법도 제안되고 있다(Nikkei Microdevices 상술).
그러나 상기 일본 특개평7-74226호 공보에 기재한 방법에서는 순조롭게 생산을 행하고 있고, 각 공정에 예정대로의 WIP가 확보되는 생산 라인에 있어서, 어떤 공정의 어떤 장치가 장애에 의하여 장시간 정지하여 버린 경우, 상기 장애가 발생한 공정에서는 WIP는 완전히 감소하지 않게 되고, 한편 그 상류측 공정에서 일련의 처리가 행하여지면, 상기 장애 공정에서 WIP가 상기 목표 WIP수를 넘어 증대하여 버린다. 이와 같은 경우에는 상기 상류측 공정을 모두 정지시킬 필요가 있다. 또 하류측의 전체 행정(行程)도 WIP가 제로로 되어 버려 정지하여 버린다. 또 이와 같은 구성의 생산 관리를 행하고 있는 경우에는 장애 장치가 복구된 경우, 전체 공정에서 처리 장치의 가동률을 통상보다 증대시킬 필요가 있지만, 만일 그 중에 필요한 가동률을 달성할 수 없는 공정이 포함되면, 생산의 지연은 결코 회복할 수 없다.
한편, 필요 처리 개수에 대한 WIP수를 과거의 WIP수와 처리수의 데이터로부터 회귀 직선 또는 근사 곡선으로부터 구하는 방법에서는 장시간의 처리 장치의 정지가 발생한 경우에는 정지의 영향이 전체 생산 라인에 미쳐 버리는 것을 피할 수 없다. 상기 필요 처리 개수에 대한 WIP수는 겨우 그 공정의 장치의 처리중 WIP와, 처리 대기 WIP, 또한 처리 대기 포지션으로의 반송 대기 WIP의 합계 정도이고, 장치가 정지된 경우, 실제의 WIP수는 이와 같이 설정된 WIP수를 용이하게 초과하여 버린다.
또 생산 라인 중의 하나의 공정이 정지된 경우에 전체 라인을 정지시키는 생산 관리 방법에서는 전체 라인이 장치의 정지 시간을 모두 가산한 시간만큼 정지하게 되고, 각각의 장치의 정지 빈도와 정지 시간이 상당히 개선되지 않으면, 생산 라인의 스루풋은 향상되지 않는다.
특히 초대형 액정 기판을 생산하는 생산 라인이나 300mm 직경을 넘는 반도체 웨이퍼를 생산하는 생산 라인에서는 투자 금액도 막대하여, 각 공정에 다수의 예비 장치를 설치하는 것은 곤란하다. 이 때문에, 1대의 장치의 정지가 하나의 공정의 처리를 완전하게 정지시키거나, 생산 라인 전체의 능력을 반감시키거나 하는 일이 많다. 또 이와 같은 초대형 액정 기판 등의 생산 라인에서는 장치가 대규모이게 되고, 고장이나 정기 점검 때의 작업량도 많아져서, 일회 정지하면 복구까지 매우 긴 시간을 필요로 하는 경우가 많다.
이와 같이 초대형 액정 기판 등의 생산 라인에서는 장치나 공정의 가동률의 확보가 곤란하고, 장치의 장시간에 걸치는 정지가 납기와 제조 비용에 심각한 영향을 주게 된다.
그런데 본 발명은 상기 과제를 해결한, 신규로 유용한 생산 관리 방법 및 생산 라인의 설계 방법을 제공하는 것을 개괄적 과제로 한다.
본 발명의 보다 구체적인 과제는 복수의 공정으로 되는 생산 라인에서, 어떤 공정의 장치에 발생한 장애의 영향을 다른 공정에 미치게 하지 않는 생산 관리 방법을 제공하는 것에 있다.
본 발명의 다른 과제는 생산 라인을 설계할 때에, 상기 생산 라인 중의 어떤 장치에서 WIP품(品)을 보관 유지하기 위해서 사용되는 스토커의 팔레트수를, 상기 장치의 가동 실적으로부터 계산한 안전 WIP수에 의거하여 결정하는 생산 라인의 설계 방법을 제공하는 것에 있다.
본 발명은 상기 과제를
청구항 1에 기재한 바와 같이,
일련의 공정을 포함하고, 상기 일련의 공정에 제품을 흐르게 함으로써, 상기 제품에 대하여 필요한 가공을 행하는 생산 라인의 생산 관리 방법으로서,
하나의 공정과 다음의 공정 간에, 상기 하나의 공정 중의 장치 정지의 결과로서 상기 다음의 공정에서 부족하게 되는 제품의 개수에 대응하는 안전 WIP수를 확보하고,
또한 상기 하나의 공정과 상기 하나의 공정의 전(前)공정 간에, 상기 하나의 공정의 장치의 정지에 수반하여 체류하는 제품의 개수에 대응한 수의 빈 팔레트를 확보하는 것을 특징으로 하는 생산 관리 방법에 의해, 또는
청구항 2에 기재한 바와 같이,
공정군Pi(i=1, 2, …m)을 포함하고, 상기 공정군에 제품을 흐르게 함으로써, 장치군Ej(j=1, 2, …n)을 사용하여 상기 제품에 대하여 필요한 가공을 행하는 생산 라인의 생산 관리 방법으로서,
하나의 공정Pi와 다음의 공정Pi+1 간에, 상기 공정Pi의 장치 정지의 결과로서 상기 공정Pi+1에서 부족하게 되는 제품의 개수에 대응하는 안전 WIP수를
장치Ej의 공정Pi에 대한 처리 능력을 Tij, 장치Ej의 공정Pi에 대한 사용 비율 을 Rij로 해서, 공정Pi의 처리 능력TRi를
Figure 111999014782024-pat00001
에 의하여 구하고,
공정Pi의 기준 처리 능력을 Ti로 해서, 공정Pi의 장치 대수CEPi를
Figure 111999014782024-pat00002
에 의하여 구하고,
생산 계획상 공정Pi에서 1일당 필요한 처리수를 Ni, Ud를 타인 책임 가동률로 해서, 공정Pi의 필요 장치 대수CENi를
CENi=Ni/(TiㆍUd/100)
에 의하여 구하고,
장치Ej가 Ofj일 정지된 경우에 상기 다음 공정에서 부족한 제품 개수를
Sij={CENi-(CEPi-RijㆍTij/Ti)}Ti×Ofj×Ud/100
에 의하여 구하고, 상기 Sij 중의 최대의 것Si(Si=Max(Sij, j=1, 2, …n)에 따라서 확보하고,
또한 상기 공정Pi 직전에 상기 Si에 대응하는 수의 빈 팔레트를 확보하는 것을 특징으로 하는 생산 관리 방법에 의해, 또는
청구항 3에 기재한 바와 같이,
상기 빈 팔레트의 수는 상기 공정Pi의 수율을 Bi로 해서, 100Si/Bi에 따라서 결정되는 것을 특징으로 하는 청구항2 기재의 생산 관리 방법에 의해, 또는
청구항 4에 기재한 바와 같이,
상기 장치의 사용 비율Rji는 상기 공정Pi에서 요구되는 처리 능력TRi를 만족하는 범위 내에 있어서, 상기 안전 WIP수Si가 최소화하도록 결정되는 것을 특징으로 하는 청구항 2 또는 3 기재의 생산 관리 방법에 의해, 또는
청구항5에 기재한 바와 같이,
상기 정지 기간Ofj는 SEMI E10-96스탠다드에 규정된 계획 오프라인 시간과 계획외 오프라인 시간중, 긴 쪽으로 하는 것을 특징으로 하는 청구항 2 또는 3 기재의 생산 관리 방법에 의해, 또는
청구항6에 기재한 바와 같이,
상기 정지 기간Ofj는 계획외 오프라인 시간의 평균치MTUO와, 평균 계획외 다운타임 간격MTUD와, 생산 계획 상의 생산량의 관리 기간P일로부터, k를 SEMI E10-96 스탠다드에 규정된 평균 고장 간격의 신뢰성의 하한값으로 해서,
Ofj(일)=MTUOㆍln{P/(kㆍMTUD)}
에 의하여 구해지는 것을 특징으로 하는 청구항 2 또는 3 기재의 생산 관리 방법에 의해, 또는
청구항 7에 기재한 바와 같이,
공정Pi를 상기 장치군Ej(j=1, 2…n)이 처리하고, 다음 공정Pi+1을 장치군Ek(k=1, 2… m)이 처리하는 생산 라인의 생산 관리 방법으로서, 상기 공정Pi와 상기 공정Pi+1 간에 안전 WIP를 설정할 수 없는 경우에, 가상 공정Pi,i+1과 가상 장치Ej,k를 정의하고, 상기 가상 공정Pi,i+1에 대하여 안전 WIP수를
가상 장치Ej,k의 상기 가상 공정Pi,i+1에 대한 처리 능력을 Tj,k, 가상 장치Ej,k의 상기 가상 공정Pi,i+1에 대한 사용 비율을 Rj,k로 해서, 상기 가상 공정P i,i+1의 처리 능력TRi,i+1을
Figure 111999014782024-pat00003
에 의하여 구하고,
상기 가상 공정Pi+1의 기준 처리 능력을 Ti,i+1로 해서, 상기 가상 공정Pi,i+1의 장치 대수CEPi,i+1을
Figure 111999014782024-pat00004
에 의하여 구하고,
생산 계획상 상기 가상 공정Pi,i+1에서 1일당 필요한 처리수를 Ni,i+1, Ud를 타인 책임 가동률로 해서, 상기 가상 공정Pi,i+1의 필요 장치 대수CENi,i+1를
CENi,i+1=Ni,i+1/(Ti,i+1ㆍUd/100)
에 의하여 구하고, 장치Ej가 Of일 정지된 경우에 상기 다음 공정에서 부족한 제품 개수SjO을
Figure 111999014782024-pat00005
에 의하여 구하고, 장치Ek가 Of일 정지된 경우에 상기 다음 공정에서 부족한 제품 개수SOk를
Figure 111999014782024-pat00043
에 의하여 구하고, 상기 SjO과 SOk 중의 최대의 것Si,i+1(Si,i+1=Max(S jO, SOk))에 따라서 확보하고,
또한 상기 공정Pi 직전에, 상기 Si,i+1에 대응하는 수의 빈 팔레트를 확보하는 것을 특징으로 하는 생산 관리 방법에 의해, 또는
청구항 8에 기재한 바와 같이,
일련의 공정을 포함하고, 상기 일련의 공정에 제품을 흐르게 함으로써 상기 제품에 대하여 가공을 행하는 생산 라인에 있어서, 하나의 공정과 다음의 공정 간에, 상기 하나의 공정 중의 장치 정지의 결과로서 상기 다음의 공정에서 부족하게 되는 제품의 개수에 대응하는 안전 WIP수Si를 확보하고, 또한 상기 하나의 공정과 상기 하나의 공정의 전(前)공정 간에, 상기 하나의 공정의 장치의 정지에 수반하여 체류하는 제품의 개수에 대응한 수의 빈 팔레트를 확보하는 생산 관리 방법으로서,
각 공정i에서 1일에 필요한 처리수Ni를 처리하는 데 필요한 최소한의 안전 WIP수를 기본 WIP수Ski로 해서, 각 공정i의 계획 WIP수SHi를 상기 안전 WIP수Si와 상기 기본 WIP수Ski의 합으로 해서 식
SHi=Si+Ski
에 의하여 구하고, 그 때, 상기 안전 WIP수Si를 상기 공정i의 기준 일정Ki가 상기 계획 WIP수SHi를 상기 필요 처리수Ni로 나눗셈한 값SHi/Ni과 동일하게 되도록 설정하는 것을 특징으로 하는 생산 관리 방법에 의해, 또는
청구항 9에 기재한 바와 같이,
공정군Pi(i=1, 2… m)을 포함하고, 상기 공정군에 제품을 흐르게 함으로써 장치군Ej(j=1, 2…n)을 사용하여 상기 제품에 대하여 가공을 행하는 생산 라인의 생산 관리 방법으로서,
장치Ej에서 처리중인 제품수를 처리중 WIP수를 SPj, 장치Ej의 보관 팔레트에서 처리를 대기 있는 제품수를 처리 대기 WIP수를 SWj, 장치Ej의 처리를 종료하여 반출 대기하고 있는 제품수를 반출 대기 WIP수를 SFj, 장치Ej에로의 반송 대기하고 있는 제품수를 반송 대기 WIP수를 STj로 하고, 공정Pi의 장치Ej의 사용 비율을 Rij로 하고, 각 공정의 필요 가동률을 Ui로 해서, 상기 공정Pi의 기본 WIP수Ski를
Figure 111999014782024-pat00044
에 의하여 정의하고,
또한 각 공정i의 계획 WIP수SHi를 상기 기본 WIP수SKi와 안전 WIP수Si의 합으로 해서
SHi=SKi+Si
로 정의하고,
상기 계획 WIP수SHi를 상기 공정i에서 요구되는 1일당의 처리수Ni로 나눗셈함으로써 규정되는 공정i의 기준 일정Ki를, 상기 안전 WIP수Si로 해서 소망의 값이 확보되도록 설정하는 것을 특징으로 하는 생산 관리 방법에 의해, 또는
청구항 10에 기재한 바와 같이,
일련의 공정을 포함하고, 상기 일련의 공정에 제품을 흐르게 함으로써 상기 제품에 대하여 필요한 가공을 행하는 생산 라인의 생산 관리 방법으로서,
하나의 공정과 다음의 공정 간에, 상기 하나의 공정 중의 장치 정지의 결과로서 상기 다음의 공정에서 부족하게 되는 제품의 개수에 대응하는 안전 WIP수를 확보하고,
또한 상기 하나의 공정과 상기 하나의 공정의 전(前)공정 간에, 상기 하나의 공정의 장치의 정지에 수반하여 체류하는 제품의 개수에 대응한 수의 빈 팔레트를 확보하는 단계를 포함하고,
각각의 공정의 직후에는 상기 안전 WIP수와 동일한 수의 직후 WIP용 빈 팔레트가 준비되어 있고, 각각의 공정 직전에는 상기 안전 WIP수와 동일한 수의 빈 팔레트가 준비되어 있고,
상기 공정에서 장애가 발생한 경우에 그 공정의 가동률을 최대화하고, 직전 WIP용 빈 팔레트 중의 직전 WIP를 상기 직후 WIP용 빈 팔레트로 옮기는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 생산 관리 방법에 의해, 또는
청구항 11에 기재한 바와 같이,
상기 공정에서 장애가 발생한 경우, 발생하는 직후 WIP를 상기 직선 WIP용의 빈 팔레트로 옮기는 공정을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 청구항 10 기재의 생산 관리 방법에 의해, 또는
청구항 12에 기재한 바와 같이,
일련의 공정을 포함하고, 상기 일련의 공정에 제품을 흐르게 함으로써 상기 제품에 대하여 가공을 행하는 생산 라인의 생산 관리 방법으로서,
하나의 공정과 다음의 공정 간에, 상기 하나의 공정 중의 장치 정지의 결과로서 상기 다음의 공정에서 부족하게 되는 제품의 개수에 대응하는 안전 WIP수를 확보하고,
또한 상기 하나의 공정과 상기 하나의 공정의 전(前)공정 간에, 상기 하나의 공정의 장치의 정지에 수반하여 체류하는 제품의 개수에 대응한 수의 빈 팔레트를 확보하고,
각 공정에서 상기 안전 WIP수와 기본 WIP수의 합으로 정의되는 계획 WIP수를 실제의 실적 WIP수와 비교하여, 상기 실적 WIP수가 상기 계획 WIP수를 하회한 경우에, 상류측 공정으로부터 WIP를 해당 공정으로 이동시키는 것을 특징으로 하는 생산 관리 방법에 의해, 또는
청구항 13에 기재한 바와 같이,
상기 실적 WIP수를 상기 해당 공정의 직후 WIP수와 상기 해당 공정이 정지된 경우에 상기 해당 공정 직전에 체류하는 직전 WIP의 합으로 하는 것을 특징으로 하는 청구항 12 기재의 생산 관리 방법에 의해, 또는
청구항 14에 기재한 바와 같이,
상기 하나의 공정에서 장치가 정지된 경우, 상기 하나의 공정의 전(前)공정의 직후 WIP를 상기 하나의 공정의 직전 WIP로 변경하는 것을 특징으로 하는 청구항 13 기재의 생산 관리 방법에 의해, 또는
청구항 15에 기재한 바와 같이,
공정군Pi(i=1, 2… m)을 포함하고, 상기 공정군에 제품을 흐르게 함으로써, 장치군Ej(j=1, 2…n)을 사용하여 상기 제품에 대하여 필요한 가공을 행하는 생산 라인의 설계 방법으로서,
하나의 공정Pi와 다음의 공정Pi+1 간에, 상기 공정Pi의 장치 정지의 결과로서 상기 공정Pi+1에서 부족하게 되는 제품의 개수에 대응하는 안전 WIP수를
장치Ej의 공정Pi에 대한 처리 능력을 Tij, 장치Ej의 공정Pi에 대한 사용 비율을 Rij로 해서, 공정Pi의 처리 능력TRi을
Figure 111999014782024-pat00008
에 의하여 구하고,
공정Pi의 기준 처리 능력을 Ti로 해서, 공정Pi의 장치 대수CEPi를
Figure 111999014782024-pat00009
에 의하여 구하고,
생산 계획상 공정Pi에서 1일당 필요한 처리수를 Ni, Ud를 타인 책임 가동률로 해서, 공정Pi의 필요 장치 대수CENi을
CENi=Ni/(TiㆍUd/100)
에 의하여 구하고,
장치Ej가 Ofj일 정지된 경우에 상기 다음 공정에서 부족한 제품 개수를
Sij={CENi-(CEPi-RijㆍTij/Ti)}Ti×Ofj×Ud/100
에 의하여 구하고,
상기 Sij 중의 최대의 것Si(Si=Max(Sij, j=1, 2, …n)에 따라서 확보하는 것을 특징으로 하는 생산 라인의 설계 방법에 의해, 또는
청구항 16에 기재한 바와 같이,
공정Pi를 장치군Ej(j=1, 2, …n)이 처리하고, 다음 공정Pi+1을 장치군Ek(k=1, 2, …m)이 처리하는 생산 라인의 설계 방법으로서, 상기 공정Pi와 상기 공정Pi+1 간에 안전 WIP를 설정할 수 없는 경우에, 가상 공정Pi,i+1과 가상 장치Ej,k를 정의하고, 상기 가상 공정Pi,i+1에 대하여 안전 WIP수를
가상 장치Ej,k의 상기 가상 공정Pi,i+1에 대한 처리 능력을 Tj,k, 가상 장치Ej,k의 상기 가상 공정Pi,i+1에 대한 사용 비율을 Rj,k로 해서, 상기 가상 공정P i,i+1의 처리 능력TRi,i+1을
Figure 111999014782024-pat00010
에 의하여 구하고,
상기 가상 공정Pi+1의 기준 처리 능력을 Ti,i+1로 해서, 상기 가상 공정Pi,i+1의 장치 대수CEPi,i+1을
Figure 111999014782024-pat00011
에 의하여 구하고,
생산 계획상 상기 가상 공정Pi,i+1에서 1일당 필요한 처리수를 Ni,i+1, Ud를 타인 책임 가동률로 해서, 상기 가상 공정Pi, i+1의 필요 장치 대수CENi,i+1을
CENi,i+1=Ni,i+1/(Ti,i+1ㆍUd/100)
에 의하여 구하고,
장치Ej가 Of일 정지된 경우에 상기 다음 공정에서 부족한 제품 개수SjO을
Figure 111999014782024-pat00012
에 의하여 구하고,
장치Ek가 Of일 정지된 경우에 상기 다음 공정에서 부족한 제품 개수SOk를
Figure 111999014782024-pat00045
에 의하여 구하고, 상기 SjO과 SOk 중의 최대의 것Si,i+1(Si,i+1=Max(S jO, SOk))에 따라서 확보하는 것을 특징으로 하는 생산 라인의 설계 방법에 의해, 또는
청구항 17에 기재한 바와 같이,
공정군Pi(i=1, 2, …m)을 포함하고, 상기 공정군에 제품을 흐르게 함으로써, 장치군Ej(j=1, 2, …n)을 사용하여 상기 제품에 대하여 가공을 행하는 생산 라인의 설계 방법으로서,
장치Ej에서 처리 중의 제품수를 처리중 WIP수를 SPj, 장치Ej의 보관 팔레트에서 처리를 대기 있는 제품수를 처리 대기 WIP수를 SWj, 장치Ej의 처리를 종료하여 반출 대기하고 있는 제품수를 반출 대기 WIP수를 SFj, 장치Ej에로의 반송 대기하고 있는 제품수를 반송 대기 WIP수를 STj로 하고, 공정Pi의 장치Ej의 사용 비율을 Rij로 하고, 각 공정의 필요 가동률을 Ui로 해서, 상기 공정Pi의 기본 WIP수SHi를
Figure 111999014782024-pat00046
에 의하여 정의하고,
또한 각 공정i의 계획 WIP수SHi를 상기 기본 WIP수Ski와 안전 WIP수Si의 합으로 해서
SHi=Ski+Si
로 정의하고,
상기 계획 WIP수SHi를 상기 공정i에서 요구되는 1일당의 처리수Ni로 나눗셈함으로써 규정되는 공정i의 기준 일정 Ki을 상기 안전 WIP수Si로 해서 소망의 값이 확보되도록 설정하는 것을 특징으로 하는 생산 라인의 설계 방법에 의해, 또는
청구항 18에 기재한 바와 같이,
공정군Pi(1=1, 2, …m)을 포함하고, 상기 공정군에 제품을 흐르게 함으로써, 장치군Ej(j=1, 2, …n)을 사용하여 상기 제품에 대하여 필요한 가공을 행하는 생산 라인으로서,
하나의 공정Pi와 다음의 공정Pi+1 간에, 상기 공정Pi의 장치 정지의 결과로서 상기 공정Pi+1에서 부족하게 되는 제품의 개수에 대응한 안전 WIP수와 동일한 빈 팔레트를 구비하고,
상기 하나의 공정Pi 직전에도 상기 안전 WIP수와 동일한 빈 팔레트를 구비하고,
상기 안전 WIP수는
장치Ej의 공정Pi에 대한 처리 능력을 Tij, 장치Ej의 공정Pi에 대한 사용 비율을 Rij로 해서, 공정Pi의 처리 능력TRi를
Figure 111999014782024-pat00015
에 의하여 구하고,
공정Pi의 기준 처리 능력을 Ti로 해서, 공정Pi의 장치 대수CEPi을
Figure 111999014782024-pat00016
에 의하여 구하고,
생산 계획상 공정Pi에서 1일당 필요한 처리수를 Ni, Ud를 타인 책임 가동률로 해서, 공정Pi의 필요 장치 대수CENi을
CENi=Ni/(TiㆍUd/100)
에 의하여 구하고,
장치Ej가 Ofj일 정지된 경우에 상기 다음 공정에서 부족한 제품 개수를
Sij={CENi-(CEPi-RijㆍTij/Ti)} Ti×Ofj×Ud/100
에 의하여 구하고, 상기 Sij 중의 최대의 것Si(Si=Max(Sij, j=1, 2, …n)이 되도록 설정되어 있는 것을 특징으로 하는 생산 라인에 의해, 또는
청구항 19에 기재한 바와 같이,
공정Pi를 장치군Ej(j=1, 2, …n)이 처리하고, 다음 공정Pi+1을 장치군Ek(k=1, 2, …m)이 처리하고, 그 때 상기 공정Pi와 상기 공정Pi+1 간에 안전 WIP를 설정할 수 없는 생산 라인으로서,
상기 공정Pi+1과 다음의 공정Pi+2 간에, 상기 공정Pi의 장치 정지의 결과로서 상기 공정Pi+1에서 부족하게 되는 제품의 개수에 대응한 안전 WIP수와 동일한 빈 팔레트를 구비하고,
상기 하나의 공정Pi 직전에도, 상기 안전 WIP수와 동일한 빈 팔레트를 구비하고,
상기 안전 WIP수는
가상 공정Pi,i+1과 가상 장치Ej,k를 정의하고, 상기 가상 공정Pi,i+1에 대해서,
상기 가상 장치Ej,k의 상기 가상 공정Pi,i+1에 대한 처리 능력을 Tj,k, 상기 가상 장치Ej,k의 상기 가상 공정Pi,i+1에 대한 사용 비율을 Rj,k로 해서, 상기 가상 공정Pi,i+1의 처리 능력TRi,i+1을
Figure 111999014782024-pat00017
에 의하여 구하고,
상기 가상 공정Pi+1의 기준 처리 능력을 Ti,i+1로 해서, 상기 가상 공정Pi,i+1의 장치 대수CEPi,i+1을
Figure 111999014782024-pat00018
에 의하여 구하고,
생산 계획상 상기 가상 공정Pi,i+1에서 1일당 필요한 처리수를 Ni,i+1, Ud를 타 인 책임 가동률로 해서, 상기 가상 공정Pi,i+1의 필요 장치 대수CENi,i+1을
CENi,i+1=Ni,i+1/(Ti,i+1ㆍUd/100)
에 의하여 구하고,
장치Ej가 Of일 정지된 경우에 상기 다음 공정에서 부족한 제품 개수SjO을
Figure 111999014782024-pat00019
에 의하여 구하고,
장치Ek가 Of일 정지된 경우에 상기 다음 공정에서 부족한 제품 개수SOk를
Figure 111999014782024-pat00047
에 의하여 구하고, 상기 SjO와 SOk 중의 최대의 것Si,i+1(Si,i+1=Max(SjO, SOk))에 따라서 결정되는 것을 특징으로 하는 생산 라인에 의해, 또는
청구항 20에 기재한 바와 같이,
복수의 베이를 구비한 생산 라인에 있어서,
각각의 베이는 스토커를 구비하고,
각 베이의 스토커의 팔레트수가 적어도 그 베이에 소속하는 전체 공정의 안전 WIP수의 총합을 수납할 수 있도록 결정되는 것을 특징으로 하는 생산 라인에 의해, 또는
청구항 21에 기재한 바와 같이,
상기 각 공정Pi에서, 장치Ej의 사용에 대해서 상기 공정Pi에서 처리되는 제품의 종류에 의한 제한이 부과되는 경우에, 상기 공정군Pi(i=1, 2, …m) 대신에 상기 공정군을 제품의 종류별로 세분할(細分割)한 공정 품종군Pi(i=1, 2, …z)을 정의하고, 상기 공정 품종군Pi에 포함되는 공정 품종의 각각에 대해서, 상기 안전 WIP와 기본 WIP를 계산하는 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 청구항 2 기재의 생산 관리 방법에 의해 해결한다.
[작용]
본 발명에서는 공정의 직후에 그 공정의 장치의 장시간에 걸치는 정지의 영향을 타공정에 미치게 하지 않기 위한 안전 WIP수에 상당하는 WIP를 확보하고, 직전에는 이것과 거의 동수(同數)의 빈 팔레트를 확보하여 둔다. 그리고 장시간 정지가 발생한 경우에는 직후 WIP가 다음 공정에서 처리되어 감소함과 동시에, 직전에 이것과 거의 동수의 투입 대기 WIP가 체류한다. 직후 WIP와 직전 WIP의 합이 평상시에도 장치 장시간 정지시에도 대체로 일정하도록 생산 라인을 관리함으로써, 장치의 장시간에 걸치는 정지가 타공정에 영향을 주는 일이 회피된다. 이에 대해서 종래에는 직전의 WIP만을 고려하고 있었기 때문에, 장치가 장시간에 걸쳐 정지한 경우에는 WIP가 증대하여 버리고, 생산 라인이 정지되어 버린다. 이에 대해서 본 발명에서는 직전 WIP와 직후 WIP의 합에 대해서, 계획수와 실적수를 비교함으로써 관리를 행하기 때문에, 라인을 멈출 필요가 없어지고, 장치 정지의 영향을 장치 정지가 발생한 공정만에 의해 흡수하는 것이 가능해진다.
또 본 발명은 장치의 가동 실적데이터로부터 안전 WIP수를 계산하는 방법을 제공한다. 이 방법은 안전 WIP수를 WIP수와 처리수의 추이로부터 근사적으로 구하는 방법에 비해서, 계획 WIP수를 명확하게 정의하는 것이 가능하다. 본 발명에서는 상기 안전 WIP수를 계산함으로써 필요한 스토커의 팔레트수를 결정한다. 이렇게 함으로써 필요할 때에 필요한 팔레트수가 준비되고, 생산 라인 중의 어떤 공정에서 어떤 장치의 정지가 다른 공정에 미치는 일이 회피되어, 생산 라인의 스루풋이 향상된다. 또한 본 발명에서는 불필요한 팔레트가 설치되는 일이 없어 스토커의 비용도 최소화된다.
(발명의 실시예)
(제1실시예)
이하 본 발명을 액정 표시 장치를 구성하는 TFT기판의 제조에 적용한 경우에 대해서, 도1을 참조하면서 설명한다.
도1을 참조하면, TFT기판의 제조 라인은 공정P1~ P9를 포함하고, 장치E1~E4가 공정P2, P5, P8을 처리하고 있다. 이 중, 상기 공정P2는 장치E1과 E2가 처리하고, 한편 공정P5에서는 장치E1~ E4의 전체가 사용되고 있다. 도1중, 공정P1, P4, P7은 성막(成膜) 공정에 대응하고, 공정P2, P5및 P8은 포토 공정, 또 P3, P6, P9가 에칭 공정에 대응한다. 공정P1~P9까지 차례로 처리를 진행시킴으로써,TFT기판의 처리가 이루어진다.
본 실시예에서는 각 공정의 부하율을 구하고, 이것을 동일하게 하도록 각 장치의 사용 비율을 결정함으로써, 각 공정의 처리 능력을 정한다. 또한 적정한 계획 WIP수(안전 WIP와 기본 WIP)를 결정함으로써 제조 라인의 능력을 최대화한다.
최초로 각 공정의 처리 능력TRi를, 공정Pi에 대한 장치Ej의 사용 비율을 Rij로 하고, 장치Ej의 처리 능력을 Tij로 해서, 이하와 같이 구한다.
TR2 =R21ㆍT21ㆍR22ㆍT22
TR5=R51ㆍT51ㆍR52ㆍT52ㆍR53ㆍT53ㆍR54ㆍT54
TR8=R83ㆍT83ㆍR81ㆍT81
또한 각 공정Pi의 부하율을 Li, 타인 책임 가동률을 Ud로 해서, 필요한 기판 처리 개수Ni를
Ni [개/일]=[공정 Pi의 생산 계획상 필요 처리 개수]/[월의 조업 일수]
로 정의하면, 각 공정의 부하율Li는 다음 식으로 계산할 수 있다.
L2=N2/[TR2×Ud2/100]
L5=N5/[TR5×Ud5/100]
L8=N8/[TR8×Ud8/100]
여기서 L2=L5=L8이 되도록, 환언하면 각 공정의 부하율이 평준화하도록 장치Eij의 사용 비율R21, R22, R51, R52, R53, R54, R83, R81을 정한다. 이에 따라 제조 라인의 스루풋을 최대화하는 최적인 장치의 사용 비율이 구해진다.
여기서 공정Pi의 기준 처리 능력Ti[개/일]을
Ti=Max(Tij, j =1, 2, …m)로 하고,
공정Pi의 장치 대수CEPi 을
Figure 112004029404883-pat00021
[대]
로 정의하고, 또한 공정Pi의 필요 장치 대수를
CENi=Niㆍ(TiㆍUd/100)[대]
로 정의한다.
그러면 장치Eij가 기간Ofj[일] 정지된 경우에 다음 공정에서 부족한 기판수Sij, 환언하면 전(前)공정에서 체류하는 기판수Sij는
Sij={CENi-(CEPi-RijㆍTij/Ti)}Ti×Ofj×Ud/100 [개]
으로 계산할 수 있다. 단, 기간Ofj는 생산 계획상 생산량의 관리 기간(통상1개월 정도) 내에서 예상되는 최장의 장치 정지 시간이다.
이와 같이 하여 구해진 j=1, 2, …n의 각 장치에 대한 기판수Sij중, 가장 수량이 큰 Si, 즉 Si=Max(Sij, j=1, 2, …n)을 공정Pi의 안전 WIP수로 한다.
그리고 상기 공정Pi의 직후에, 상기 안전 WIP수Si 혹은 이것에 가장 가까운 로트 편성 기판수의 총합을 표시하는 정수(整數)에 대응한 WIP를 확보하도록 상기 제조 라인을 관리한다. 또 상기 공정Pi 직전에 상기 공정Pi의 수율을 Bi로 해서, Si/Bi×100에 대응한, 혹은 이것에 가장 가까운 로트 편성 기판수의 총합을 표시하는 정수로 대응한 빈 팔레트를 확보한다.
이러한 제조 라인의 관리의 결과, 상기 공정Pi의 장치 정지의 영향이 다른 공정에 미치는 일이 회피되고, 제조 스루풋이 최대화된다.
[제2실시예]
다음에 WIP가 체류하기 쉬운 제약(制約) 공정인 Ps공정과 Pn공정을 예로 해서 안전 WIP수, 장치 정지시와 회복 후의 WIP수의 관리 방법을 본 발명의 제2실시예로 해서 설명한다.
Ps공정과 Pn공정 간에는 공정 간에 시간 제약이 엄하기 때문에, 인라인적 취급이 필요한 것으로 한다. Ps공정과 Pn공정의 각 장치의 처리 능력을 표1에 나타낸다.
Figure 112004029404883-pat00059
먼저 최장 계획외 오프라인 시간을 계산한다. 그 때, MTBF는 신뢰도90%의 계수에 의하여 보정하고,
Of(E01, 계획외)=2701n[1440×30/(14118×0.634)]=425[min]
Of(E02, 계획외)=1801n[1440×30/(9792×0.675)]=338[min]
Of(E10, 계획외)=6901n[1440×30/(25260×0.539)]=797[min]
을 얻는다.
이 중, 표1의 최장 계획은 오프라인 시간과 비교하여 긴쪽을 각 장치의 최장 정지 시간으로 한다.
Ps공정은 E10 1대(臺)에서, Pn공정은 E01과 E02의 2대에서 처리를 한다. Ps공정의 처리 종료로부터 Pn공정의 장치에 로드하기까지의 프로세스적인 유예 시간을 40[min] 이내로 하면, 양 공정 간에 안전 WIP를 둘 수 없다. 따라서E01과 E02는 E10과 연속한 가상의 장치로서 능력을 계산할 필요가 있다.
장치E10과 장치E01을 연속한 가상의 장치를 E11, 그 스루풋을 T11[개/일], 고장률을 F11으로 한다. 장치E10과 장치E02를 연속한 가상의 장치를 E12, 그 스루풋을 T12[개/일], 고장률을 F12로 나타낸다. 연속 이동시의 E10의 스루풋이 E01과 E02의 스루풋의 합보다 크기 때문에, 연속 가동시의 E11, E12의 택트는 E01과 E02의 택트와 동일하게 된다. 장치E11의 비(非)고장률(1-F11)은 각 장치(E10과 E01)의 비고장률의 곱(1-F10)ㆍ(1-F01)으로 주어진다. 또 부대(附帶) 작업 시간은 각 장치의 부대 작업 시간을 더한 것으로부터, 동시에 하는 부대 작업 시간을 뺀 것이 된다고 생각하여, T11, T12는 다음 식으로 계산할 수 있다(부대 작업은 독립으로 행한다고 가정함).
T11={86400×0.981×0.973-(116.4+6.4)×60}/81=927 [개/일]
삭제
T12={86400×0.982×0.973-(51.4+6.4)×60}/(338+51.7)=203 [개/일]
삭제
공정에 대해서도 공정Ps와 공정Pn을 연속한 가상의 공정Psn을 생각한다. 이 공정에 대한 가상 장치E11과 E12의 사용 비율R11과 R12는 모두 1이다. 가상 공정Psn의 처리 능력을 TR,sn, 장치 대수를 CEP,sn, 필요 장치 대수를 CEN,sn, 부하율을 Lsn으로 한다.
TR,sn=R11ㆍT11+R12ㆍT12=1130 [개/일]
공정Psn의 장치 대수CEP,sn은 기준 처리 능력을 Tsn로 하면,
Tsn=Max(T11, T12)=T11=927 [개/일] (1)
CEP,sn=R11ㆍT11+ R12ㆍT12/T11
=927/927+203/927=1.219 [대] (2)
월당 필요 처리수를 27000[개/일], 월 조업 일수를 30일, 공정 타인 책임 가동률Ud를 90%로 하면, 가상의 공정Psn에서 1일당 필요한 처리 개수Nsn은 900[개/일]이 되고,
CEN,sn =Nsn/(T11ㆍUd/100)
=900/(927ㆍ0.9)=1.079 [대] (3)
장치E10, E01, E02의 각 장치 정지시에 대해서 가상 공정Psn에 대하여 안전 WIP를 시산(試算)한다. 실제로 Pn공정 직후에 안전 WIP수Ss에 상당하는 WIP를 두고, Ps와 Pn의 양 공정에 대한 안전 WIP로 생각하는
[E10 정지시] 안전 WIP S10은
S10 ={CEN,sn-(CEP,sn-R11ㆍT11/T11- R12ㆍT12/T11)}
T11ㆍOf(스핀슬라이드)ㆍ0.9={1.079-(1.219-1-0.219)}ㆍ927ㆍ(Of/1440)ㆍ0.9=0.6251Of=0.6251ㆍ797=498.2 [매]
[E01정지시] 안전 WIP S01은
S01={1.079-(1.219-1)}ㆍ927ㆍ(Of/1440)ㆍ0.9
=0.4983Of=0.4983ㆍ1050=523.2 [개]
[E02정지시] 안전 WIP S02는
S02={1.079-(1.219-0.219)}ㆍ927ㆍ(360/1440)ㆍ0.9
=0.0458Of=0.0458ㆍ360=16.5 [개]
이상의 결과에 의해서 E02의 정지는 영향을 주지 않지만 E01과 E10의 정지의 영향이 동정도이고, 안전 WIP는 523[개], 약 26[로트] 필요한 것을 알 수 있다. 즉 Pn공정 직후에 26[로트]의 WIP가, 또 Ps공정 직전에 26팔레트의 빈 팔레트가 필요하다.
[제3실시예]
다음에 기본 WIP 계산의 일 실시예를 제1실시예의 가상 공정Psn에 대해서 나타낸다. 표2에 계산을 위해 각 장치의 기초 데이터를 나타낸다.
또 표3에 가상 장치E11, E12와 가상 공정Psn의 기본 WIP의 계산 결과를 나타낸다.
Figure 112004029404883-pat00060
Figure 112004029404883-pat00024
가상 장치에 대해서는 2대의 연속한 장치중 입구측 장치E10의 처리 대기 WIP SW,10, 반송 대기 WIP ST,10을 가상 장치E11(E12)의 SW,11(SW,12), ST,11(ST,12)로 한다. 출구측 장치E01(E02)의 반출 대기 WIP SF,01(SF,02)을 가상 장치E11(E12)의 SF,11(SF,12)로 한다. 또 입구측 장치E10의 처리중 WIP SP,10, 반출 대기 WIP SP,10과 출구측 장치E01(E02)의 처리 대기 WIP SW,01(SW,02), 처리중 WIP SP,01(SP,02)을 더한 것을 가상 장치의 SP,11(SP,12)로 한다.
가상 공정Psn에 대해서는 가상 장치E11, E12의 입구측 장치E10이 공통이기 때문에, E11, E12의 각 WIP수(처리중, 처리 대기, 반출 대기, 반송 대기)의 합으로부터, E11과 E12에서 공통의 WIP수를 뺀 것을 Psn의 각 WIP수(처리중, 처리 대기, 반출 대기, 반송 대기)로 하였다.
Psn의 필요 가동률 Usn은 공정 타인 책임 가동률90%로 해서,
Usn=90ㆍCEN,sn/CEP,sn =90ㆍ1.079/1219=79.66 [%] (4)
전체로서의 비(非)고장률(1-Fsn)은 가상 장치E11과 E12의 비고장률의 평균을 취한다.
(1-Fsn)=(0.981×0.973+0.982×0.973)/2=0.955
따라서 가상 공정Psn의 기본 WIP SK,sn은 다음 식으로 계산할 수 있다.
SK,sn=0.7966×(7+1+2+1)×0.955=11×0.7608=8.4[로트] (5)
[제4실시예]
다음에 공정의 기본 일정을 안전 WIP와 기본 WIP으로부터 계산하는 일 실시예를 제2, 제3실시예의 경우에 대해서 나타낸다. Ps공정과 Pn공정을 합한 가상 공정의 WIP는 기본 WIP가 8.4[로트], 안전 WIP가 26[로트]인 것을 알 수 있다. 1일당 필요한 처리 로트수는 900[개/일]을 20[개/로트]에서 나누어, 45[로트/일]이므로, 기준 일정Ksn은 다음 식으로 계산할 수 있다.
Ksn=8.4/45+26/45=0.1867+0.5778=0.7644[일]
Ps공정과 Pn공정에 상기 안전 WIP를 두고, 기준 일정0.7644[일]로 일정 관리를 함으로써, 장치의 장시간 정지의 영향이 타공정에 미치는 것을 방지할 수 있다.
[제5실시예]
다음에 안전 WIP와 기본 WIP를 기초로 실제의 후속 공정에 따르는 일정 관리를 하는 방법에 대해서 본 발명의 제5실시예로 해서 도2를 참조하면서 설명한다.
도2는 Psn공정 전후의 계획 WIP를 나타낸다. Psn공정의 기본 WIP SK,sn은 반송 대기, 처리 대기, 처리중, 반출 대기의 각 WIP의 합 ST,sn+SW,sn+SP,sn+SF,sn과 동일하다. Psn 공정의 기준 일정은 이 기본 WIP에 대응하는 일정과, 안전 WIP에 대응하는 일정의 합으로 주어진다. 각 로트의 스테이터스가 (… → [전(前)공정 기본 WIP] → [전(前)공정 안전 WIP] → [Psn공정 기본 WIP] → [Psn공정 안전 WIP] → [후속 공정 기본 WIP] → [후속 공정 안전 WIP] → …)로 차례로 이동함으로써 공정이 진행한다.
도3에 현상(現狀)의 공정 관리 시스템 상에서 실제로 감시(수집)할 수 있는 실적 WIP를 나타낸다. 수집할 수 있는 실적 WIP는 공정 관리 시스템상의 각 공정(오퍼레이션)의 처리중 WIP와 처리 대기 WIP이다. 이들 처리중ㆍ처리 대기 WIP로부터, 도2의 기본 WIPㆍ안전 WIP에 대응하는 실적 WIP를 계산할 수 있다.
Psn공정의 기본 WIP수SK,sn에 대응하는 실적 WIP, SZ,sn은 {(Ps공정 처리중 WIP SZ,s11)+(Pn공정 처리 대기 WIP SZ,n+0)+(Pn공정 처리중 WIP SZ,n+1)+1}로 계산할 수 있다. SZ,sn이 기본 WIP수SK,sn과 일치하도록 일정 관리를 한다. 1을 더하는 것은 실적값SZ,sn에 Psn 공정의 반송 대기 WIP ST,sn이 포함되지 않기 때문이다. SZ,sn을 공정Psn의 처리중 WIP라고 부른다.
Psn공정의 안전 WIP수Ssn에 대응하는 WIP, SZ,sna은 {(전(前)공정 처리 대기 WIP SZ,aso)-1}로 계산할 수 있다. SZ,sna를 공정Psn의 직후 WIP라고 부른다.
Ps공정의 전(前)공정Psr의 안전 WIP Ssr에 대응하는 실적 WIP, Sz,sra은 {(Ps공정 처리 대기 WIP SZ,s10)-1}이다. SZ,sra를 공정Psr의 직후 WIP라고 부른다.
(Ssn-SZ,sna)≥20이 되면(Psn공정의 직후 WIP SZ,sna에 안전 WIP Ssn에 대해서 1[로트]분의 빈 곳이 생기면), Psn공정의 처리중 WIP SZ,sn로부터 1[로트]를 진행시켜, Psn공정의 직후 WIP SZ,sna에 입력된다.
마찬가지로 (SK,sn SZ,sn)≥20이 되면(Psn공정의 처리중 WIP SZ,sn에 기본 WIP SK,sn에 대해서, 1[로트] 이상의 빈 곳이 생기면) Psr공정의 직후 WIP Sz,sra으로부터 1[로트]를 Psn(슬라이드에치) 공정으로 나아갈 수 있어, Psn공정의 처리중 WIP SZ,sn에 입력된다.
일반적으로 공정Pi의 안전 WIP(계획)Si와 공정Pi의 직후 WIP(실적)Sz,ia,공정Pi의 기본 WIP(계획)Sk,i과 처리중 WIP(실적)Sz,i를 차례로 비교하여, 실적 WIP에 계획 WIP에 대한 1[로트]분의 빈 곳이 생긴 것을 확인하여, 로트의 스테이터스를 [Pi-1] 공정의 직후 WIP → Pi공정의 처리중 WIP → Pi공정의 처리중 WIP → Pi공정의 직후 WIP와 같이 차례로 옮겨서 진행하여 간다. 이것에 의하여 후속 공정에 따르는 로트 진행이 가능해진다.
[제6실시예]
다음에 Psn공정을 예로 해서, 장치에서 장시간 정지가 실제로 발생한 경우의 일정 관리 방법을 설명한다. E10 장치에서 800[min]의 고장 정지가 발생되었다고 가정한다.
도4에 Psn공정 전후의 계획 WIP (안전 WIP와 기본 WIP)와 빈 팔레트를 나타낸다. 빈 팔레트는 장치의 장시간 정지시에 공정 직전에 체류하는 로트를 수납하기 위한 것으로서, 안전 WIP수를 로트의 기본 편성수 20으로 나눈 것과 동일하다. 또 도5에 장치 장시간 정지시의 Psn공정 전후의 실적 WIP의 양상을 나타낸다.
E10장치의 정지중에는 Psn공정의 처리가 정지된다. Psn공정 이외의 공정은 계획대로 처리를 한다. Psn공정의 후속 공정의 처리중 WIP SZ,as에 기본 WIP Sk.as에 대한 빈 곳이 생길 때마다, Psn공정의 직후 WIP SZ,sna의 로트의 스테이터스가 SZ,as로 이동한다.
한편, Psn의 공정의 처리중 WIP SZ,sn 중 반송 대기와 처리 대기의 2[로트]는 장치의 정지중에는 스테이터스가 바뀌지 않는다. 나머지의 처리중과 반출 대기의 9[로트]의 스테이터스는 Psn공정의 직후 WIP SZ,sna로 차례로 이동한다. 따라서 Psn공정의 처리중 WIP SZ,sn은 2[로트]가 된다. 그 이후는 처리중 WIP SZ,sn로부터 직후 WIP SZ,sna에로의 보충을 할 수 없기 때문에, SZ,sna가 감소하여 간다.
Psn공정 직전에는 안전 WIP수와 동일한 빈 팔레트가 준비되어 있다. 장치의 장시간 정지중에는 이 빈 팔레트에, 전(前)공정Psr의 직후 WIP SZ,sna으로부터 로트를 옮긴다. 빈 팔레트에 수납되는 WIP를 Psn공정의 직전 WIP라고 부르고, SZ,snb로 나타낸다.
Psn공정의 직후 WIP SZ,snb가 Psn공정의 안전 WIP수Ssn과 동일하게 될 때까지, SZ,sra으로부터 SZ,snb에 로트의 스테이터스를 옮겨간다. 옮기는 타이밍은 Psn공정의 후속 공정의 처리중 WIP SZ,as에 기본 WIP Sk,as에 대한 빈 곳이 생기는 타이밍으로, Psn공정의 직후 WIP SZ,sna의 로트의 스테이터스를 SZ,as로 옮기는 것과, 동일한 타이밍으로 옮기면 된다. 이에 따라 Psn공정 정지의 영향을 받지않고, 라인 전체로서는 후속 공정에 이어서 생산을 계속할 수 있다.
단, SZ, snb≥Ssn이 되면 (직전 WIP수가 안전 WIP수를 넘어가면), 라인 전체를 멈춘다. 실제로는 Ssn을 예측되는 최장 정지 시간에 맞추어 설정하고 있으므로, 라인 전체의 정지는 원칙적으로 일어나지 않을 것이다.
800[min] 후에 E10 장치가 복구되기까지, Psn 공정의 직후 WIP와 처리중 WIP의 합, [SZ,sna+SZ,sn]은 500[개], 25[로트] 만큼 감소한다. 실제로는 직후 WIP SZ,sna가 16[로트] 감소하여 10[로트]이 되고, Psn공정의 처리중 WIP SZ,sn이 9[로트] 감소하여 2[로트]가 되고 있다. 그리고 Psn공정의 직전 WIP SZ,snb가 0[로트]로부터 25[로트]로 증가하고 있다.
[제7실시예]
이전의 장시간 장치 정지 복구 후에 감소한 WIP를 안전 WIP수까지 회복시키는 방법에 대한 실시예를 나타낸다. 제6실시예에서 V6, E10장치의 복구 후에는 Psn 공정의 가동률을 평상시보다 높게 하여, 필요한 WIP수를 회복할 필요가 있다. 즉 Psn공정의 직전 WIP SZ,snb의 25[로트]의 스테이터스를, 처리중 WIP SZ,sn을 거쳐서, 직후 WIP SZ,sna으로 옮기면 된다. 당연, 라인 전체의 가동을 유지하는데 필요한 900[개/일]을 처리한 여력을 기울이는 것이 된다.
여기에서는 Psn공정의 가동률을 100%로 올린 경우의 회복 시간을 계산한다. Psn공정의 필요 가동률은 (4)식에 의해 80%이고, 기울일 수 있는 여력은 20%다. 회복해야 할 WIP수는 500[개], Psn공정의 기준 처리 능력은 (1)식에 의해 Tsn=927[개/일], 장치 대수는 (2)식에 의해 CEP,sn=1.219[대]이므로,
K=500/{1.219ㆍ927(1-80/100)}=2.21 [일] (6)
따라서 약2.2[일]에서 Psn공정의 직후 WIP Sz,sna의 수를 안전 WIP수 523[개]까지 회복시킬 수 있다.
이상, 본 발명을 바람직한 실시예에 대해서 설명했지만, 본 발명은 상기 실시예에 한정되지 않고, 특허 청구 범위에 기재한 요지 내에서 다양한 변형, 변경이 가능하다.
청구항 1~21에 기재한 본 발명의 특징에 의하면, 공정의 직후에 그 공정의 장치의 장시간에 걸치는 정지의 영향을 타공정에 미치게 하지 않기 위한 안전 WIP수에 상당하는 WIP를 확보하고, 직전에는 이것과 거의 동수의 빈 팔레트를 확보하여 둔다. 이렇게 하여 둠으로써, 장시간에 걸치는 장치의 정지가 발생한 경우에는 직후 WIP가 다음 공정에서 처리되어 감소함과 동시에, 직전에 이것과 거의 동수의 투입 대기 WIP가 체류한다. 그 때, 직후 WIP와 직전 WIP의 합이 평상시도 장치의 장시간 정지시에도 대체로 일정하게 되도록 생산 라인을 관리함으로써, 장치의 장시간에 걸치는 정지가 타공정에 영향을 주는 일이 회피된다. 즉, 본 발명에서는 직전 WIP와 직후 WIP의 합에 대해서, 계획수와 실적수를 비교함으로써 관리를 행하기 때문에, 라인을 멈출 필요가 없어지고, 장치 정지의 영향을 장치 정지가 발생한 공정만에 의해 흡수하는 것이 가능해진다.
또 본 발명은 장치의 가동 실적데이터로부터 안전 WIP수를 계산하는 방법을 제공한다. 이 방법은 안전 WIP수를 WIP수와 처리수의 추이로부터 근사적으로 구하는 방법에 비해서, 계획 WIP수를 명확하게 정의하는 것이 가능하다. 본 발명에서는 상기 안전 WIP수를 계산함으로써, 필요한 스토커의 팔레트수를 결정한다. 이렇게 함으로써, 필요할 때에 필요한 팔레트 수가 준비되고, 생산 라인 중의 어떤 공정에서 어떤 장치의 정지가 다른 공정에 미치는 것이 회피되고, 생산 라인의 스루풋이 향상된다. 또한 본 발명에서는 쓸데없는 팔레트가 설치되는 일이 없어, 스토커의 비용도 최소화된다.

Claims (21)

  1. 일련의 공정을 포함하고, 상기 일련의 공정에 제품을 흐르게 함으로써, 상기 제품에 대하여 필요한 가공을 행하는 생산 라인의 생산 관리 방법으로서,
    하나의 공정과 다음의 공정 간에, 상기 하나의 공정 중의 장치 정지의 결과로서 상기 다음의 공정에서 부족하게 되는 제품의 개수에 대응하는 안전 WIP수를 확보하고,
    또한 상기 하나의 공정과 상기 하나의 공정의 전(前)공정 간에, 상기 하나의 공정의 장치의 정지에 수반하여 체류하는 제품의 개수에 대응한 수의 빈 팔레트를 확보하는 것을 특징으로 하는 생산 관리 방법.
  2. 공정군Pi(i=1, 2, …m)을 포함하고, 상기 공정군에 제품을 흐르게 함으로써, 장치군Ej(j=1, 2, …n)을 사용하여 상기 제품에 대하여 필요한 가공을 행하는 생산 라인의 생산 관리 방법으로서,
    하나의 공정Pi와 다음의 공정Pi+1 간에, 상기 공정Pi의 장치 정지의 결과로서 상기 공정Pi+1에서 부족하게 되는 제품의 개수에 대응하는 안전 WIP수를
    장치Ej의 공정Pi에 대한 처리 능력을 Tij, 장치Ej의 공정Pi에 대한 사용 비율을 Rij로 해서, 공정Pi의 처리 능력TRi를
    Figure 112004029404883-pat00025
    에 의하여 구하고,
    공정Pi의 기준 처리 능력을 Ti로 해서, 공정Pi의 장치 대수CEPi를
    Figure 112004029404883-pat00026
    에 의하여 구하고,
    생산 계획상 공정Pi에서 1일당 필요한 처리수를 Ni, Ud를 타인 책임 가동률로 해서, 공정Pi의 필요 장치 대수CENi를
    CENi=Ni/(TiㆍUd/100)
    에 의하여 구하고,
    장치Ej가 Ofj일 정지된 경우에 상기 다음 공정에서 부족한 제품 개수를
    Sij={CENi-(CEPi-RijㆍTij/Ti)} Ti×Ofj×Ud/100
    에 의하여 구하고, 상기 Sij 중의 최대의 것Si(Si=Max(Sij, j=1, 2, …n)에 따라서 확보하고,
    또한 상기 공정Pi 직전에 상기 Si에 대응하는 수의 빈 팔레트를 확보하는 것을 특징으로 하는 생산 관리 방법.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 빈 팔레트의 수는 상기 공정Pi의 수율을 Bi로 해서, 100Si/Bi에 따라서 결정되는 것을 특징으로 하는 생산 관리 방법.
  4. 제2항 또는 제3항에 있어서,
    상기 장치의 사용 비율Rij는 상기 공정Pi에서 요구되는 처리 능력TRi를 만족하는 범위 내에서 상기 안전 WIP수Si가 최소화하도록 결정되는 것을 특징으로 하는 생산 관리 방법.
  5. 제2항 또는 제3항에 있어서,
    상기 정지 기간Ofj는 SEMI E10-96스탠다드에 규정된 계획 오프라인 시간과 계획외 오프라인 시간중, 긴쪽으로 하는 것을 특징으로 하는 생산 관리 방법.
  6. 제2항 또는 제3항에 있어서,
    상기 정지 기간Ofj는 계획외 오프라인 시간의 평균치MTUO와, 평균 계획외 다운타임 간격MTUD와, 생산 계획 상의 생산량의 관리 기간P일로부터, k를 SEMI E10-96스탠다드에 규정된 평균 고장 간격의 신뢰성의 하한값으로 해서,
    Ofj(일)=MTUOㆍln{P/(kㆍMTUD)}
    에 의하여 구해지는 것을 특징으로 하는 생산 관리 방법.
  7. 공정Pi를 장치군Ej(j=1, 2, …n)이 처리하고, 다음 공정Pi+1을 장치군Ek(k=1, 2, …m)이 처리하는 생산 라인의 생산 관리 방법으로서,
    상기 공정Pi와 상기 공정Pi+1 간에 안전 WIP를 설정할 수 없는 경우에, 가상 공정Pi,i+1과 가상 장치Ej,k를 정의하고, 상기 가상 공정Pi,i+1에 대하여 안전 WIP수를,
    가상 장치Ej,k의 상기 가상 공정Pi,i+1에 대한 처리 능력을 Tj,k, 가상 장치Ej,k의 상기 가상 공정Pi,i+1에 대한 사용 비율을 Rj,k로 해서, 상기 가상 공정Pi,i+1의 처리 능력TRi,i+1을
    Figure 112004029404883-pat00027
    에 의하여 구하고,
    상기 가상 공정Pi+1의 기준 처리 능력을 Ti,i+1로 해서, 상기 가상 공정Pi,i+1의 장치 대수CEPi,i+1을
    Figure 112004029404883-pat00028
    에 의하여 구하고,
    생산 계획상 상기 가상 공정Pi,i+1에서 1일당 필요한 처리수를 Ni,i+1, Ud를 타인 책임 가동률로 해서, 상기 가상 공정Pi,i+1의 필요 장치 대수CENi,i+1를
    CENi,i+1=Ni,i+1/(Ti,i+1ㆍUd/100)
    에 의하여 구하고,
    장치Ej가 Of일 정지된 경우에 상기 다음 공정에서 부족한 제품 개수SjO을
    Figure 112004029404883-pat00029
    에 의하여 구하고,
    장치Ek가 Of일 정지된 경우에 상기 다음 공정에서 부족한 제품 개수SOk를
    Figure 112004029404883-pat00049
    에 의하여 구하고, 상기 SjO과 SOk 중의 최대의 것Si,i+1(Si,i+1=Max(SjO, SOk))에 따라서 확보하고,
    또한 상기 공정Pi 직전에, 상기 Si,i+1에 대응하는 수의 빈 팔레트를 확보하는 것을 특징으로 하는 생산 관리 방법.
  8. 일련의 공정을 포함하고, 상기 일련의 공정에 제품을 흐르게 함으로써 상기 제품에 대하여 가공을 행하는 생산 라인에 있어서, 하나의 공정과 다음의 공정 간에, 상기 하나의 공정 중의 장치 정지의 결과로서 상기 다음의 공정에서 부족하게 되는 제품의 개수에 대응하는 안전 WIP수Si를 확보하고, 또한 상기 하나의 공정과 상기 하나의 공정의 전(前)공정 간에, 상기 하나의 공정의 장치의 정지에 수반하여 체류하는 제품의 개수에 대응한 수의 빈 팔레트를 확보하는 생산 관리 방법으로서,
    각 공정i에서 1일에 필요한 처리수Ni를 처리하는 데 필요한 최소한의 안전 WIP수를 기본 WIP수Ski로 해서, 각 공정i의 계획 WIP수SHi를 상기 안전 WIP수Si와 상기 기본 WIP수Ski의 합으로 해서 식
    SHi=Si+Ski
    에 의하여 구하고, 그 때, 상기 안전 WIP수Si를 상기 공정i의 기준 일정Ki가 상기 계획 WIP수SHi를 상기 필요 처리수Ni로 나눗셈한 값SHi/Ni과 동일하게 되도록 설정하는 것을 특징으로 하는 생산 관리 방법.
  9. 공정군Pi(i=1, 2, … m)을 포함하고, 상기 공정군에 제품을 흐르게 함으로써 장치군Ej(j=1, 2, …n)을 사용하여 상기 제품에 대하여 가공을 행하는 생산 라인의 생산 관리 방법으로서,
    장치Ej에서 처리중인 제품수를 처리중 WIP수를 SPj, 장치Ej의 보관 팔레트에서 처리 대기하고 있는 제품수를 처리 대기 WIP수를 SWj, 장치Ej의 처리를 종료하여 반출 대기하고 있는 제품수를 반출 대기 WIP수를 SFj, 장치Ej에로의 반송 대기하고 있는 제품수를 반송 대기 WIP수를 STj로 하고, 공정Pi의 장치Ej의 사용 비율을 Rij로 하고, 각 공정의 필요 가동률을 Ui로 해서, 상기 공정Pi의 기본 WIP수Ski를
    Figure 112004029404883-pat00050
    에 의하여 정의하고,
    또한 각 공정i의 계획 WIP수SHi를 상기 기본 WIP수Ski와 안전 WIP수Si의 합으로 해서
    SHi=Ski+Si
    로 정의하고,
    상기 계획 WIP수SHi를 상기 공정i에서 요구되는 1일당의 처리수Ni로 나눗셈함으로써 규정되는 공정i의 기준 일정Ki를, 상기 안전 WIP수Si로 해서 소망의 값이 확보되도록 설정하는 것을 특징으로 하는 생산 관리 방법.
  10. 일련의 공정을 포함하고, 상기 일련의 공정에 제품을 흐르게 함으로써 상기 제품에 대하여 필요한 가공을 행하는 생산 라인의 생산 관리 방법으로서,
    하나의 공정과 다음의 공정 간에, 상기 하나의 공정 중의 장치 정지의 결과로서 상기 다음의 공정에서 부족하게 되는 제품의 개수에 대응하는 안전 WIP수를 확보하고,
    또한 상기 하나의 공정과 상기 하나의 공정의 전(前)공정 간에, 상기 하나의 공정의 장치의 정지에 수반하여 체류하는 제품의 개수에 대응한 수의 빈 팔레트를 확보하는 단계를 포함하고,
    각각의 공정의 직후에는 상기 안전 WIP수와 동일한 수의 직후 WIP용의 빈 팔레트가 준비되어 있으며, 각각의 공정의 직전에는 상기 안전 WIP수와 동일한 수의 빈 팔레트가 준비되어 있고,
    상기 공정에서 장애가 발생한 경우에 그 공정의 가동률을 최대화하고, 직전 WIP용 빈 팔레트 중의 직전 WIP를 상기 직후 WIP용 빈 팔레트로 옮기는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 생산 관리 방법.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 공정에서 장애가 발생한 경우, 발생하는 직후 WIP를 상기 직전 WIP용의 빈 팔레트로 옮기는 공정을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 생산 관리 방법.
  12. 일련의 공정을 포함하고, 상기 일련의 공정에 제품을 흐르게 함으로써 상기 제품에 대하여 가공을 행하는 생산 라인의 생산 관리 방법으로서,
    하나의 공정과 다음의 공정 간에, 상기 하나의 공정 중의 장치 정지의 결과로서 상기 다음의 공정에서 부족하게 되는 제품의 개수에 대응하는 안전 WIP수를 확보하고,
    또한 상기 하나의 공정과 상기 하나의 공정의 전(前)공정 간에, 상기 하나의 공정의 장치의 정지에 수반하여 체류하는 제품의 개수에 대응한 수의 빈 팔레트를 확보하고,
    각 공정에서 상기 안전 WIP수와 기본 WIP수의 합으로 정의되는 계획 WIP수를 실제의 실적 WIP수와 비교하여, 상기 실적 WIP수가 상기 계획 WIP수를 하회한 경우에, 상류측 공정으로부터 WIP를 해당 공정으로 이동시키는 것을 특징으로 하는 생산 관리 방법.
  13. 제12항에 있어서,
    상기 실적 WIP수를 상기 해당 공정의 직후 WIP수와 상기 해당 공정이 정지된 경우에 상기 해당 공정의 직전에 체류하는 직전 WIP의 합으로 하는 것을 특징으로 하는 생산 관리 방법.
  14. 제13항에 있어서,
    상기 하나의 공정에서 장치가 정지된 경우, 상기 하나의 공정의 앞의 공정의 직후 WIP를 상기 하나의 공정의 직전 WIP로 변경하는 것을 특징으로 하는 생산 관리 방법.
  15. 공정군Pi(i=1, 2, … m)을 포함하고, 상기 공정군에 제품을 흐르게 함으로써, 장치군Ej(j=1, 2, …n)을 사용하여 상기 제품에 대하여 필요한 가공을 행하는 생산 라인의 설계 방법으로서,
    하나의 공정Pi와 다음의 공정Pi+1 간에, 상기 공정Pi의 장치 정지의 결과로서 상기 공정Pi+1에서 부족하게 되는 제품의 개수에 대응하는 안전 WIP수를
    장치Ej의 공정Pi에 대한 처리 능력을 Tij, 장치Ej의 공정Pi에 대한 사용 비율을 Rij로 해서, 공정Pi의 처리 능력TRi을
    Figure 112004029404883-pat00032
    에 의하여 구하고,
    공정Pi의 기준 처리 능력을 Ti로 해서, 공정Pi의 장치 대수CEPi를
    Figure 112004029404883-pat00033
    에 의하여 구하고,
    생산 계획상 공정Pi에서 1일당 필요한 처리수를 Ni, Ud를 타인 책임 가동률로 해서, 공정Pi의 필요 장치 대수CENi을
    CENi=Ni/(TiㆍUd/100)
    에 의하여 구하고,
    장치Ej가 Ofj일 정지된 경우에 상기 다음 공정에서 부족한 제품 개수를
    Sij={CENi-(CEPi-RijㆍTij/Ti)}Ti×Ofj×Ud/100
    에 의하여 구하고, 상기 Sij 중의 최대의 것Si(Si=Max(Sij, j=1, 2, …n)에 따라서 확보하는 것을 특징으로 하는 생산 라인의 설계 방법.
  16. 공정Pi를 장치군Ej(j=1, 2, …n)이 처리하고, 다음 공정Pi+1을 장치군Ek(k=1, 2, …m)이 처리하는 생산 라인의 설계 방법으로서,
    상기 공정Pi와 상기 공정Pi+1 간에 안전 WIP를 설정할 수 없는 경우에, 가상 공정Pi,i+1과 가상 장치Ej,k를 정의하고, 상기 가상 공정Pi,i+1에 대하여 안전 WIP수를
    가상 장치Ej,k의 상기 가상 공정Pi,i+1에 대한 처리 능력을 Tj,k, 가상 장치Ej,k의 상기 가상 공정Pi,i+1에 대한 사용 비율을 Rj,k로 해서, 상기 가상 공정Pi,i+1의 처리 능력TRi,i+1을
    Figure 112004029404883-pat00034
    에 의하여 구하고,
    상기 가상 공정Pi+1의 기준 처리 능력을 Ti,i+1로 해서, 상기 가상 공정Pi,i+1의 장치 대수CEPi,i+1을
    Figure 112004029404883-pat00061
    에 의하여 구하고,
    생산 계획상 상기 가상 공정Pi,i+1에서 1일당 필요한 처리수 Ni,i+1, Ud를 타인 책임 가동률로 해서, 상기 가상 공정Pi, i+1의 필요 장치 대수CENi,i+1을
    CENi,i+1=Ni,i+1/(Ti,i+1ㆍUd/100)
    에 의하여 구하고,
    장치Ej가 Of일 정지된 경우에 상기 다음 공정에서 부족한 제품 개수SjO을
    Figure 112004029404883-pat00035
    에 의하여 구하고, 장치Ek가 Of일 정지된 경우에 상기 다음 공정에서 부족한 제품 개수SOk를
    Figure 112004029404883-pat00051
    에 의하여 구하고, 상기 SjO과 SOk 중의 최대의 것Si,i+1(Si,i+1=Max(SjO, SOk))에 따라서 확보하는 것을 특징으로 하는 생산 라인의 설계 방법.
  17. 공정군Pi(i=1, 2, …m)을 포함하고, 상기 공정군에 제품을 흐르게 함으로써, 장치군Ej(j=1, 2, …n)을 사용하여 상기 제품에 대하여 가공을 행하는 생산 라인의 설계 방법으로서,
    장치Ej에서 처리 중의 제품수를 처리중 WIP수를 SPj, 장치Ej의 보관 팔레트에서 처리 대기하고 있는 제품수를 처리 대기 WIP수를 SWj, 장치Ej의 처리를 종료하여 반출 대기하고 있는 제품수를 반출 대기 WIP수를 SFj, 장치Ej로의 반송 대기하고 있는 제품수를 반송 대기 WIP수를 STj로 하고, 공정Pi의 장치Ej의 사용 비율을 Rij로 하고, 각 공정의 필요 가동률을 Ui로 해서, 상기 공정Pi의 기본 WIP수Ski를
    Figure 112004029404883-pat00052
    에 의하여 정의하고,
    또한 각 공정i의 계획 WIP수SHi를 상기 기본 WIP수Ski와 안전 WIP수Si의 합으로 해서
    SHi=Ski+Si
    로 정의하고,
    상기 계획 WIP수SHi를 상기 공정i에서 요구되는 1일당의 처리수Ni로 나눗셈함으로써 규정되는 공정i의 기준 일정 Ki을 상기 안전 WIP수Si로 해서 소망의 값이 확보되도록 설정하는 것을 특징으로 하는 생산 라인의 설계 방법.
  18. 공정군Pi(i=1, 2, …m)을 포함하고, 상기 공정군에 제품을 흐르게 함으로써, 장치군Ej(j=1, 2, …n)을 사용하여 상기 제품에 대하여 필요한 가공을 행하는 생산 라인으로서,
    하나의 공정Pi와 다음의 공정Pi+1 간에, 상기 공정Pi의 장치 정지의 결과로서 상기 공정Pi+1에서 부족하게 되는 제품의 개수에 대응한 안전 WIP수와 동일한 빈 팔레트를 구비하고,
    상기 하나의 공정Pi의 직전에도, 상기 안전 WIP수와 동일한 빈 팔레트를 구비하고,
    상기 안전 WIP수는
    장치Ej의 공정Pi에 대한 처리 능력을 Tij, 장치Ej의 공정Pi에 대한 사용 비율을 Rij로 해서, 공정Pi의 처리 능력TRi를
    Figure 112004029404883-pat00038
    에 의하여 구하고,
    공정Pi의 기준 처리 능력을 Ti로 해서, 공정Pi의 장치 대수CEPi을
    Figure 112004029404883-pat00039
    에 의하여 구하고,
    생산 계획상 공정Pi에서 1일당 필요한 처리수를 Ni, Ud를 타인 책임 가동률로 해서, 공정Pi의 필요 장치 대수CENi을
    CENi=Ni/(TiㆍUd/100)
    에 의하여 구하고,
    장치Ej가 Ofj일 정지된 경우에 상기 다음 공정에서 부족한 제품 개수를
    Sij={CENi-(CEPi-RijㆍTij/Ti)}Ti×Ofj×Ud/100
    에 의하여 구하고, 상기 Sij 중의 최대의 것Si(Si=Max(Sij, j=1, 2, …n)이 되도록 설정되어 있는 것을 특징으로 하는 생산 라인.
  19. 공정Pi를 장치군Ej(j=1, 2, …n)이 처리하고, 다음 공정Pi+1을 장치군Ek(k=1, 2, …m)이 처리하고, 그 때 상기 공정Pi와 상기 공정Pi+1 간에 안전 WIP를 설정할 수 없는 생산 라인으로서,
    상기 공정Pi+1과 다음의 공정Pi+2 간에, 상기 공정Pi의 장치 정지의 결과로서 상기 공정Pi+1에서 부족하게 되는 제품의 개수에 대응한 안전 WIP수와 동일한 빈 팔레트를 구비하고,
    상기 하나의 공정Pi의 직전에도, 상기 안전 WIP수와 동일한 빈 팔레트를 구비하고,
    상기 안전 WIP수는
    가상 공정Pi,i+1과 가상 장치Ej,k를 정의하고, 상기 가상 공정Pi,i+1에 대해서,
    상기 가상 장치Ej,k의 상기 가상 공정Pi,i+1에 대한 처리 능력을 Tj,k, 상기 가상 장치Ej,k의 상기 가상 공정Pi,i+1에 대한 사용 비율을 Rj,k로 해서, 상기 가상 공정Pi,i+1의 처리 능력TRi,i+1을
    Figure 112004029404883-pat00040
    에 의하여 구하고,
    상기 가상 공정Pi+1의 기준 처리 능력을 Ti,i+1로 해서, 상기 가상 공정Pi,i+1의 장치 대수CEPi,i+1을
    Figure 112004029404883-pat00041
    에 의하여 구하고,
    생산 계획상 상기 가상 공정Pi,i+1에서 1일당 필요한 처리수를 Ni,i+1, Ud를 타인 책임 가동률로 해서, 상기 가상 공정Pi,i+1의 필요 장치 대수CENi,i+1을
    CENi,i+1=Ni,i+1/(Ti,i+1ㆍUd/100)
    에 의하여 구하고,
    장치Ej가 Of일 정지된 경우에 상기 다음 공정에서 부족한 제품 개수SjO을
    Figure 112004029404883-pat00042
    에 의하여 구하고,
    장치Ek가 Of일 정지된 경우에 상기 다음 공정에서 부족한 제품 개수SOk를
    Figure 112004029404883-pat00053
    에 의하여 구하고, 상기 SjO와 SOk 중의 최대의 것Si,i+1(Si,i+1=Max(SjO, SOk))에 따라서 결정되는 것을 특징으로 하는 생산 라인.
  20. 복수의 베이를 구비한 생산 라인에 있어서,
    각각의 베이는 스토커를 구비하고,
    각 베이의 스토커의 팔레트수가 적어도 그 베이에 소속하는 전체 공정의 안전 WIP수의 총합을 수납할 수 있도록 결정되는 것을 특징으로 하는 생산 라인.
  21. 제2항에 있어서,
    상기 각 공정Pi에서, 장치Ej의 사용에 대해서 상기 공정Pi에서 처리되는 제품의 종류에 의한 제한이 부과되는 경우에, 상기 공정군Pi(i=1, 2, …m) 대신에 상기 공정군을 제품의 종류별로 세분할(細分割)한 공정 품종군Pi (i=1, 2, …z)을 정의하고, 상기 공정 품종군Pi에 포함되는 공정 품종의 각각에 대해서, 상기 안전 WIP와 기본 WIP를 계산하는 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 생산 관리 방법.
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