KR100653677B1 - 불량 화소를 보정하는 방법 및 장치 - Google Patents

Abstract

본 발명은 디지털 화소 처리 장치에서 화소의 출력값을 바탕으로 불량 화소를 보정하는 방법에 있어서, 화소가 불량 화소인지 1차 판단하는 단계, 화소의 직전 화소가 불량 화소인지 판단하는 단계, 화소의 직후 화소가 불량 화소인지 판단하는 단계 및 화소의 1차 판단이 불량이되 직전 화소 및 직후 화소의 판단이 정상인 경우에만 화소를 불량으로 최종 판단하는 단계를 포함하는 불량 화소 보정 방법을 포함한다.

화소 보정, 불량 화소

Description

불량 화소를 보정하는 방법 및 장치{Method and Apparatus for concealing dead defeat pixel}

도 1은 본 발명과 비교되는 기존의 불량 화소를 보정하는 방법을 나타낸 순서도.

도 2는 본 발명과 비교되는 기존의 불량 화소를 보정하는 방법에 따른 출력 신호를 나타낸 도면.

도 3은 본 발명과 비교되는 기존의 불량 화소를 보정하는 방법의 단점을 나타낸 도면.

도 4는 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 불량 화소 보정 방법을 구현하기위한 구성을 나타낸 블록도.

도 5는 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 불량 화소를 보정하는 방법의 순서를 나타낸 도면.

도 6은 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 불량 화소의 보정 방법을 실시하기 위한 물리적 구성을 개략적으로 나타낸 도면.

도 7은 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 불량 화소 보정 방법의 결과를 나타낸 도면.

도 8은 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 불량 화소를 보정하는 방법의 개선된 결과 나타낸 도면.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>

601 ~ 611 : 메모리 블록

621 ~ 625 : 쉬프트 레지스터

631 : 불량 화소 판단 블록

633 : NAND 게이트

635 : AND 게이트

637 : 메모리 변경 블록

639 : 평균값 연산 블록

본 발명은 불량 화소를 보정하는 방법 및 장치에 관한 것이다.

도 1은 본 발명과 비교되는 기존의 불량 화소를 보정하는 방법을 나타낸 순서도이다.

도 1을 참조하면, 화소배열(100)에서 순서대로 R 계열 화소와 G 계열 화소가 교대로 나타날 경우에 같은 계열의 화소를 읽어 들이는 순서대로 각각 G1(101), G2(102), G3(103), G4(104)화소라 하면, 우선 첫 번째 화소(101)를 저장하고(단계111), 그 후 두 번째 화소(102)를 저장한다(단계 113). 그런 다음 두 번째 화소(102)와 첫 번째 화소(101)의 출력 크기를 비교하여(단계 115) 그 차이의 절대 값이 기준치 이상이면 세 번째 화소(103)를 저장하고(단계 117), 그렇지 않으면 다시 처음 단계로 돌아간다(단계 111).

그 후, 상기 두 번째 화소(102)의 값과 세 번째 화소(103)의 값을 비교하여(단계 119) 그 차이의 절대 값이 기준치 이상이면 두 번째 화소(102)의 원래 값을 무시하고 첫 번째 화소(101)와 세 번째 화소(103)의 평균값으로 결정한다(단계 121).

상기 예에서 상기 첫 번째 화소(101)인 G 계열의 화소 이외에 R 계열의 화소 또한 상기 G 계열의 화소의 보정 방법과 동일하다.

도 2는 본 발명과 비교되는 기존의 불량 화소를 보정하는 방법에 따른 출력 신호를 나타낸 도면이다.

도 2를 참조하면, 상기 화소배열에서 순서대로 G 계열 화소를 각각 G1(201), G2(203), G3(205) 화소라 하면, 상기 각각의 화소의 센서 출력 레벨은 위 그래프(210)에서 참조 번호 211, 참조 번호 213, 및 참조 번호 215가 된다.

상기 위의 그래프(210)와 같이 G2 화소(203)의 센서 출력값이 기준치(219) 이상이고 나머지 화소의 값이 기준치 이하일 경우에는 상기 도 1의 단계를 통하여 센서 출력값을 조정하여, 각 화소의 출력치는 상기 아래 그래프(220)의 참조 번호 221, 참조 번호 223 및 참조 번호 225와 같아진다.

도 3은 본 발명과 비교되는 기존의 불량 화소를 보정하는 방법의 단점을 나타낸 도면이다.

도 3을 참조하면, 상기 화소배열에서 순서대로 G 계열 화소를 각각 G1(301), G2(303), G3(305) 화소라고 하고 R 계열 화소를 각각 R1(302), R2(304), R3(306) 화소라고 하면, 상기 각각의 화소의 센서 출력 레벨은 위 그래프(310)에서 계열에 따라 G 계열은 참조 번호 311, 참조 번호 313 및 참조 번호 315가 되고, R 계열은 참조 번호 312, 참조 번호 314 및 참조 번호 316이 된다.

그러데 상기 위 그래프(310)와 같이 특정 지점(314, 313)에서 R 계열과 G 계열의 화소가 모두 기준치(319) 이상의 높은 출력치를 가지는 경우에는 일반적으로 상기 화소는 정상일 가능성이 매우 높다. 그러나 상기 기존 기술에 따른 화소의 보정 방법을 적용하면, 각 화소의 출력치는 상기 아래 그래프(320)의 참조 번호 321에서 참조 번호 326과 같이 정상적인 화소의 출력치를 왜곡하는 결과를 얻게 된다.

상기와 같이 하나의 화소가 불량 화소일 경우에는 기존의 방식으로도 불량 화소의 보정이 가능하지만 도 3의 경우에서처럼 불량 화소가 아닌 정상 화소일 가능성이 높은 경우에도 불량 화소로 판단하여 화상을 왜곡하는 단점이 존재하였다.

본 발명은 상술한 문제점들을 극복하기 위한 것으로, 불량 화소를 보정하는 방법 및 장치를 제공하는 데 그 목적이 있다.

본 발명의 다른 목적은, 기존의 불량 화소를 보정하는 방법의 문제점을 보완하여 정확하게 불량 화소를 검사하여 화소의 왜곡을 최소화하는데 있다.

상술한 목적들을 달성하기 위하여, 본 발명의 일 측면에 따르면, 디지털 화소 처리 장치에서 화소의 출력값을 바탕으로 불량 화소를 보정하는 방법에 있어서, 상기 화소가 불량 화소인지 1차 판단하는 단계, 상기 화소의 직전 화소가 불량 화소인지 판단하는 단계, 상기 화소의 직후 화소가 불량 화소인지 판단하는 단계 및 상기 화소의 1차 판단이 불량이되 상기 직전 화소 및 직후 화소의 판단이 정상인 경우에만 상기 화소를 불량으로 최종 판단하는 단계를 포함하는 불량 화소 보정 방법을 제공할 수 있다.

바람직한 실시예에 있어서, 상기 불량 화소로 최종 판단된 화소는 상기 불량 화소와 같은 색의 전후 화소의 평균값으로 출력하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 할 수 있다. 또한, 상기 화소의 출력값은 시프트 레지스터에 저장되는 것을 특징으로 할 수 있다. 또한, 상기 최종 판단은 NAND 게이트와 OR 게이트를 이용하는 것을 특징으로 할 수 있다.

본 발명의 다른 일 측면에 따르면, 화소의 출력값을 바탕으로 불량 화소를 보정하는 불량 화소 보정 장치에 있어서, 상기 화소가 불량 화소인지 1차 판단하는 수단, 상기 화소의 직전 화소가 불량 화소인지 판단하는 수단, 상기 화소의 직후 화소가 불량 화소인지 판단하는 수단 및 상기 화소의 1차 판단이 불량이되 상기 직전 화소 및 직후 화소의 판단이 정상인 경우에만 상기 화소를 불량으로 최종 판단하는 수단을 포함하는 불량 화소 보정 장치를 제공할 수 있다.

바람직한 실시예에 있어서, 상기 불량 화소로 최종 판단된 화소는 상기 불량 화소와 같은 색의 전후 화소의 평균값으로 출력하는 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 할 수 있다. 또한, 상기 화소의 출력값은 시프트 레지스터에 저장되는 것을 특징으로 할 수 있다. 또한, 상기 최종 판단은 NAND 게이트와 OR 게이트를 이용하는 것을 특징으로 할 수 있다.

이어서, 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다.

도 4는 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 불량 화소 보정 방법을 구현하기위한 구성을 나타낸 블록도이다.

도 4를 참고하면, 상기 화소를 저장하는 메모리 블록(401에서 415)은 순차적으로 디지털 화소 처리 장치의 화소의 출력값을 저장한다. 여기서 출력값의 불량을 판단하고 싶은 화소가 G2(407)메모리에 저장되어 있으며, 상기 참조번호 421 블록에서 상기 G2 메모리의 출력 신호가 불량인지를 판단한다. 동시에 참조번호 423 블록과 참조번호 425 블록에서 상기 G2(407)메모리의 전 후에 존재하는 메모리의 출력 신호가 불량인지를 판단한다. 그 후 상기 참조번호 423 블록과 참조번호 425 블 록의 신호를 상기 참조번호 421 블록에서 수신한 다음 상기 참조번호 421 블록에서 직접 판단한 G2(407)의 신호와 상기 423 블록과 참조번호 425 블록의 신호를 비교하여 상기 G2(407)신호의 불량여부를 최종 판단한다.

여기서 상기 메모리 블록(401에서 405)에 저장되는 화소의 출력 신호는 상기 출력 방향으로 계속 시프트되므로 상기와 같은 방식으로 모든 화상 신호의 불량여부를 판단할 수 있다.

도 5는 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 불량 화소를 보정하는 방법의 순서를 나타낸 도면이다.

도 5를 참조하면, 먼저 디지털 화소 처리 장치에서 획득한 화소 데이터가 순차적으로 입력된다(단계501). 그 후, 상기 입력된 데이터의 순서를 바탕으로 특정 화소의 출력치가 불량인지를 판단한다(단계 503). 이때 상기 특정 화소의 출력치가 불량인지의 여부는 상기 도 1에서 설명한 기존의 방식으로 불량을 판단한다(단계 503).

그 후 상기 특정 화소가 불량으로 판단되지 않으면 상기 참조번호 501의 단계를 다시 진행하고 그렇지 않고 특정 화소가 불량으로 판단되면 상기 특정 화소의 직전 화소가 불량인지를 판단하다(단계 505). 여기서 상기 특정 화소의 직전 화소는 상기 특정 화소와 같은 색의 직전 화소가 아니라 물리적으로 상기 특정화소의 바로 전에 데이터가 입력된 화소를 의미한다.

그 후, 상기 직전 화소가 불량이라면 다시 참조번호 501읠 단계로 돌아가고, 만약 직전 화소가 불량이 아니라면 상기 특정 화소의 직후 화소가 불량인지 다시 판단한다(단계 507). 여기서 상기 특정 화소의 직후 화소는 상기 특정 화소와 같은 색의 직후 화소가 아니라 물리적으로 상기 특정 화소의 바로 다음에 데이터가 입력된 화소를 의미한다. 여기서 상기 직후 화소가 불량으로 판단되면 다시 참조번호 501의 단계로 돌아가고, 그렇지 않고 상기 직후 화소가 정상 화소로 판단되면 상기 특정 화소의 출력값을 상기 특정화소와 같은 색을 가지는 화소 중 상기 특정 화소의 직전 화소와 직후 화소의 평균값으로 변경한다(단계 509).

도 6은 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 불량 화소의 보정 방법을 실시하기 위한 물리적 구성을 개략적으로 나타낸 도면이다.

도 6을 참조하면, 상기 화소를 저장하는 메모리 블록(601에서 611)은 순차적으로 디지털 화소 처리 장치의 화소의 출력값을 저장한다. 그 후 순차적으로 저장된 메모리 블록에서 각 A(601), C(605), E(609)의 블록에 저장된 출력치를 비교하여 불량 화소인지 판단하는 기존의 불량 화소 판단 방법을 상기 참조 번호 631 블록에서 실시한다. 그 후, 상기 불량 화소의 판단에 따라 상기 참조 번호 631 블록의 이후에 존재하는 시프트 레지스터(621, 623, 625)에 각 블록의 불량 화소 판단 결과를 저장한다. 여기서 상기 각 시프트 레지스터(621, 623, 625)에 저장된 값인 AS(621)는 시간의 순서에 따라 현재 C 메모리 블록(625)에 저장된 출력치의 불량 판단 결과이며, 상기 BS(623)는 상기 D 메모리 블록(607)의 불량 화소 판단 결과이고, 상기 CS(625)는 상기 E 메모리 블록(609)의 불량 화소 판단 결과이다.

따라서 상기 AS(621)와 CS(625)를 NAND(633)하여 두 결과가 모두 부정일 경우에만 신호가 발생하도록 하며, 상기 결과를 다시 BS(623)와 AND(635)하여 두 결과가 모두 긍정일 경우에만 신호가 발생하도록 하면 상기 본 발명에 따른 화소의 불량 판단 방법인 판단을 원하는 화소가 기존의 방식으로 불량 화소라 판단되고, 상기 화소의 직전 화소 및 직후 화소가 모두 불량이 아니라고 판단될 경우에만 상기 화소를 불량으로 판단하는 것과 동일한 물리적 구성이 된다.

한편 상기 B 블록(603)과 상기 F 블록(611)에 존재하는 출력값은 현재 본 발명에 따른 불량 화소를 판단하는 D 블록의 메모리(607)에 들어있는 출력값의 같은 색의 직전 화소의 출력값과 직후 화소의 출력값이다. 그러므로 참조 번호 639의 블록에서는 상기 B 블록(603)과 상기 F 블록(611)의 출력값의 평균을 구하여 상기 비교기(637)로 전송한다.

결과적으로 상기 비교기(637)는 상기 D 블록(607)에 존재하는 출력값을 상기 참조 번호 639 블록에서 구한 평균값으로 변환하는 역할을 하지만 상기 변환 역할은 상기 AND 게이트(635)에서 긍정 신호가 인입될 때에만 실행하도록 한다.

도 7은 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 불량 화소 보정 방법의 결과를 나타낸 도면이다.

도 7을 참조하면, 상기 화소배열에서 순서대로 G 계열 화소를 각각 G1(701), G2(702), G3(703) 화소라 하면, 상기 각각의 화소의 센서 출력 레벨은 위 그래프(710)에서 참조 번호 711, 참조 번호 713, 및 참조 번호 715가 된다.

상기 위의 그래프(710)와 같이 G2 화소(703)의 센서 출력값이 기준치(719) 이상이고 나머지 화소의 값이 기준치 이하일 경우에는 기존의 방식에 따른 불량 화소 판단에 따라 상기 G2 화소(703)를 불량으로 일차 판단한다. 그 후 상기 G2(703)화소의 직전 화소 및 직후 화소의 불량 여부를 판단하여 상기 직전 화소 및 직후 화소가 불량이 아니므로 상기 특정 화소가 불량으로 판단되고 그 화소의 직전 화소 및 직후 화소가 정상인 경우이므로 상기 특정 화소인 G2 화소(703)의 출력값이 불량인 것으로 최종 판단한다. 따라서 상기 G2 화소(703)의 출력값을 조정하여, 각 화소의 출력치는 상기 아래 그래프(720)의 참조 번호 721, 참조 번호 723 및 참조 번호 725와 같아진다.

도 8은 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 불량 화소를 보정하는 방법의 개선된 결과 나타낸 도면이다.

도 8을 참조하면, 상기 화소배열에서 순서대로 G 계열 화소를 각각 G1(801), G2(802), G3(803) 화소라고 하고 R 계열 화소를 각각 R1(802), R2(804), R3(806) 화소라고 하면, 상기 각각의 화소의 센서 출력 레벨은 위 그래프(810)에서 계열에 따라 G 계열은 참조 번호 811, 참조 번호 813 및 참조 번호 815가 되고, R 계열은 참조 번호 812, 참조 번호 814 및 참조 번호 816이 된다.

그러데 상기 위 그래프(810)와 같이 특정 지점(814, 813)에서 R 계열과 G 계열의 화소가 모두 기준치(819) 이상의 높은 출력치를 가지는 경우에는 상기 기존 기술에 따른 화소의 보정 방법을 적용하면, 정상적인 화소의 출력치를 왜곡하는 결 과를 얻게 된다. 그러나 본 발명에 따른 화소의 보정 방법을 사용하면, 우선 G1 화소(801) 및 G3 화소(805)를 상기 G2 화소(803)와 비교하여 일차로 상기 G2 화소(803)를 불량으로 판단한다. 그 후 상기 G2 화소(803)의 직전 화소인 R2 화소(804)와 직후 화소인 R3 화소(806)의 불량을 판단하는데, 상기 R3화소(806)는 출력값이 기준치(819) 이하이므로 정상으로 판단되나 상기 R2 화소(804)의 출력치는 불량으로 판단된다. 따라서 본 발명에 따른 화소의 보정 방법에 의해 특정 화소가 불량으로 일차 판단되고, 그 화소의 직전 및 직후 화소가 모두 정상으로 판단되지 않으므로 상기 G2 화소(803)는 불량으로 최종 판단되지 않는다.

본 발명은 상기 실시예에 한정되지 않으며, 많은 변형이 본 발명의 사상 내에서 당 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의하여 가능함은 물론이다.

본 발명에 의하여, 불량 화소를 보정하는 방법 및 장치를 제공할 수 있다.

또한 본 발명에 의하여, 기존의 불량 화소를 보정하는 방법의 문제점을 보완하여 정확하게 불량 화소를 검사하여 화소의 왜곡을 최소화할 수 있다.

Claims (8)

1. 디지털 화소 처리 장치에서 화소의 출력값을 바탕으로 불량 화소를 보정하는 방법에 있어서,

   상기 화소가 불량 화소인지 1차 판단하는 단계;

   상기 화소의 직전 화소가 불량 화소인지 판단하는 단계;

   상기 화소의 직후 화소가 불량 화소인지 판단하는 단계; 및

   상기 화소의 1차 판단이 불량이되 상기 직전 화소 및 직후 화소의 판단이 정상인 경우에만 상기 화소를 불량으로 최종 판단하는 단계

   를 포함하는 불량 화소 보정 방법.
2. 제1항에 있어서,

   상기 불량 화소로 최종 판단된 화소는 상기 불량 화소와 같은 색의 전후 화소의 평균값으로 출력하는 단계

   를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 불량 화소 보정 방법.
3. 제1항에 있어서,

   상기 화소의 출력값은 시프트 레지스터에 저장되는 것

   을 특징으로 하는 불량 화소 보정 방법.
4. 제1항에 있어서,

   상기 최종 판단은 NAND 게이트와 OR 게이트를 이용하는 것

   을 특징으로 하는 불량 화소 보정 방법.
5. 화소의 출력값을 바탕으로 불량 화소를 보정하는 불량 화소 보정 장치에 있어서,

   상기 화소가 불량 화소인지 1차 판단하는 수단;

   상기 화소의 직전 화소가 불량 화소인지 판단하는 수단;

   상기 화소의 직후 화소가 불량 화소인지 판단하는 수단; 및

   상기 화소의 1차 판단이 불량이되 상기 직전 화소 및 직후 화소의 판단이 정상인 경우에만 상기 화소를 불량으로 최종 판단하는 수단

   을 포함하는 불량 화소 보정 장치.
6. 제5항에 있어서,

   상기 불량 화소로 최종 판단된 화소는 상기 불량 화소와 같은 색의 전후 화소의 평균값으로 출력하는 수단

   을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 불량 화소 보정 장치.
7. 제5항에 있어서,

   상기 화소의 출력값은 시프트 레지스터에 저장되는 것

   을 특징으로 하는 불량 화소 보정 장치.
8. 제5항에 있어서,

   상기 최종 판단은 NAND 게이트와 OR 게이트를 이용하는 것

   을 특징으로 하는 불량 화소 보정 장치.

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