KR100639553B1 - Die pickup device - Google Patents

Die pickup device Download PDF

Info

Publication number
KR100639553B1
KR100639553B1 KR20050040444A KR20050040444A KR100639553B1 KR 100639553 B1 KR100639553 B1 KR 100639553B1 KR 20050040444 A KR20050040444 A KR 20050040444A KR 20050040444 A KR20050040444 A KR 20050040444A KR 100639553 B1 KR100639553 B1 KR 100639553B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
die
pushing
pick
wafer sheet
pickup
Prior art date
Application number
KR20050040444A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20060047924A (en
Inventor
가즈히로 후지사와
유타카 오다카
Original Assignee
가부시키가이샤 신가와
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 가부시키가이샤 신가와 filed Critical 가부시키가이샤 신가와
Publication of KR20060047924A publication Critical patent/KR20060047924A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR100639553B1 publication Critical patent/KR100639553B1/en

Links

Images

Abstract

다이 밀어 올리기 부재를 이용해도 다이를 파손시키지 않고, 다이를 확실하게 픽업시킬 수 있다.Even if the die pushing-up member is used, the die can be reliably picked up without damaging the die.

흡착 스테이지(10)내에는, 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재(21)에서 다이 이송측으로 다이를 밀어 올리는 다이 박리용의 다이 밀어 올리기 부재(22)가 상하동 가능하게 설치되고, 다이 밀어 올리기 부재(22)가 하강한 상태에서, 픽업되는 다이(1A)의 이송 방향측의 다이 단부를 다이 밀어 올리기 부재(22)의 상방에 위치시킨 후, 다이 밀어 올리기 부재(22)를 상승시켜서 다이(1A)의 이송 방향측의 다이 단부를 웨이퍼 시트(2)에서 벗기고, 그 후, 다이 밀어 올리기 부재(22)는 상승한 채 다이(1A)를 픽업 센터(5)로 이송해서 콜레트(4)와 다이 밀어 올리기 부재(21)에 의해 픽업시킨다.In the suction stage 10, a die pushing member 22 for die peeling, which pushes the die from the die pushing member 21 for pickup up to the die transfer side, is provided to be movable up and down, and the die pushing member 22 is provided. ), The die end on the conveying direction side of the die 1A to be picked up is positioned above the die pushing-up member 22, and then the die pushing-up member 22 is raised to raise the die 1A. The die end on the conveying direction side is peeled off from the wafer sheet 2, and the die pushing-up member 22 then moves the die 1A to the pickup center 5 while the die pushing-up member 22 is raised, thereby collet 4 and the die pushing-up member. It picks up by 21.

다이 픽업 장치, 흡착 스테이지, 다이 밀어 올리기 부재, 웨이퍼 시트, 픽업 센터, 콜레트 Die Pickup Device, Suction Stage, Die Pusher, Wafer Sheet, Pickup Center, Collet

Description

다이 픽업 장치{DIE PICKUP DEVICE}Die Pickup Device {DIE PICKUP DEVICE}

도 1은, 본 발명의 다이 픽업 장치의 제1실시형태를 도시한 정면 단면도이다.1 is a front sectional view showing a first embodiment of the die pick-up apparatus of the present invention.

도 2는, 도 1의 흡착 스테이지의 평면도이다.FIG. 2 is a plan view of the adsorption stage of FIG. 1.

도 3은, 본 발명의 다이 픽업 장치의 제2실시형태를 도시한 정면 단면도이다.3 is a front sectional view showing a second embodiment of the die pick-up apparatus of the present invention.

도 4는, 본 발명의 다이 픽업 장치의 제3실시형태를 도시한 정면 단면도이다.4 is a front sectional view showing a third embodiment of the die pick-up apparatus of the present invention.

도 5는, 본 발명의 다이 픽업 장치의 제4실시형태를 도시한 정면 단면도이다.5 is a front sectional view showing a fourth embodiment of the die pick-up apparatus of the present invention.

도 6은, 본 발명의 다이 픽업 장치의 제5실시형태를 도시한 정면 단면도이다.6 is a front sectional view showing a fifth embodiment of the die pick-up apparatus of the present invention.

도 7은, 본 발명의 다이 픽업 장치의 제6실시형태를 도시한 정면 단면도이다.7 is a front sectional view showing the sixth embodiment of the die pick-up apparatus of the present invention.

도 8은, 본 발명의 다이 픽업 장치의 제7실시형태를 도시한 정면 단면도이다.8 is a front sectional view showing a seventh embodiment of the die pick-up apparatus of the present invention.

도 9는, 본 발명의 다이 픽업 장치의 제8실시형태를 도시한 정면 단면도이 다.9 is a front sectional view showing an eighth embodiment of the die pick-up apparatus of the present invention.

[부호의 설명][Description of the code]

1A, 1B, 1C … 다이 2 웨이퍼 시트1A, 1B, 1C... Die 2 wafer sheet

3 흡착 구멍 4 콜레트3 suction hole 4 collet

5 픽업 센터 10 흡착 스테이지5 Pickup Centers 10 Suction Stages

11, 12, 13, 14, 15, 16 흡인 구멍11, 12, 13, 14, 15, 16 suction hole

21, 22, 23, 24, 25, 26 다이 밀어 올리기 부재21, 22, 23, 24, 25, 26 Die Push Up Member

30 홀더30 holder

본 발명은, 웨이퍼 시트에 부착된 다이를 콜레트로 상기 웨이퍼 시트로부터 박리해서 픽업하는 다이 픽업 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a die pick-up apparatus for peeling off and picking up a die attached to a wafer sheet from a wafer sheet by collet.

웨이퍼 시트에 부착된 다이의 픽업 장치로서, 특허문헌1에 나타난 밀어 올리기 부재방식이 일반적으로 행하여지고 있다. 그러나, 이 장치는, 다이의 두께가 약 100㎛이하로 얇을 경우에는, 다이가 파손된다는 문제가 있었다.As the pick-up apparatus of the die attached to the wafer sheet, the pushing member system shown in Patent Document 1 is generally performed. However, this apparatus has a problem that the die breaks when the thickness of the die is thin, about 100 mu m or less.

이 개선책으로서, 밀어 올리기 부재를 이용하지 않고 다이를 웨이퍼 시트에서 픽업하는 방법으로서, 예를 들면 특허문헌2를 들 수 있다. 이 장치는, 다이를 콜레트로 유지한 상태에서, 다이가 부착된 웨이퍼 시트(점착 시트)를 흡착 스테이지로 흡인하면서 흡착 스테이지를 수평면상에서 이동한 후, 상기 콜레트는 상기 웨 이퍼 시트에서 상기 다이를 픽업한다.As this improvement, patent document 2 is mentioned as a method of picking up a die from a wafer sheet, without using a pushing member. The apparatus moves the adsorption stage on a horizontal plane while sucking the wafer sheet (adhesive sheet) to which the die is attached to the adsorption stage while holding the die with the collet, and then the collet picks up the die from the wafer sheet. do.

[특허문헌1]일본국 특개평3-229441호 공보[Patent Document 1] Japanese Unexamined Patent Publication No. 3-229441

[특허문헌2]일본국 특개2001-118862호 공보(특허 제3209736호 공보) [Patent Document 2] Japanese Patent Application Laid-Open No. 2001-118862 (Patent No. 3209736)

특허문헌1은, 다이를 파손시킨다는 문제는 있지만, 다이의 픽업 미스가 거의 생기지 않는다는 이점을 가진다. 특허문헌2는, 다이의 파손은 생기지 않는다. 그러나, 부착된 웨이퍼 시트와 다이를 각각 흡착 스테이지와 콜레트의 진공흡착에 의해 유지하고, 흡착 스테이지를 수평 이동시킴으로써 양자를 벗기므로, 흡인력을 강하게 할 필요가 있어, 다이에 악영향을 준다는 문제가 있었다.Patent document 1 has the problem of damaging the die, but has an advantage that hardly a pickup miss of the die occurs. Patent Document 2 does not cause damage to the die. However, since the adhered wafer sheet and the die are held by vacuum adsorption of the adsorption stage and the collet, respectively, and both are removed by horizontally moving the adsorption stage, it is necessary to increase the suction force, which has a problem of adversely affecting the die.

본 발명의 과제는, 다이 밀어 올리기 부재를 이용하여도 다이를 파손시키지 않고, 다이를 확실하게 픽업시킬 수 있는 다이 픽업 장치를 제공하는 것에 있다.An object of the present invention is to provide a die pick-up apparatus which can reliably pick up a die without damaging the die even using a die pushing member.

상기 과제를 해결하기 위한 본 발명의 청구항1은, 다이가 부착된 웨이퍼 시트를 흡착 유지하는 흡착 스테이지와, 이 흡착 스테이지 내에 배치되고, 다이를 밀어 올리는 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재와, 이 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재로 밀어 올려진 다이를 흡착 유지해서 반송하는 콜레트를 구비한 다이 픽업 장치에 있어서,Claim 1 of this invention for solving the said subject, The adsorption stage which adsorb | sucks and hold | maintains the wafer sheet with die | dye, The die pushing-up member for pick-up which is arrange | positioned in this adsorption stage, and pushes up a die, and this pickup In the die pick-up apparatus provided with the collet which adsorbs, hold | maintains, and conveys the die | dye pushed up by the die pushing-up member,

상기 흡착 스테이지 내에는, 상기 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재에서 다이 이송측으로 다이를 밀어 올리는 다이 박리용의 다이 밀어 올리기 부재가 상하동 가능하게 설치되고, 이 다이 박리용의 다이 밀어 올리기 부재가 하강한 상태에서, 픽 업되는 다이의 이송 방향측의 다이 단부를 상기 다이 박리용의 다이 밀어 올리기 부재의 상방에 위치시킨 후, 이 다이 박리용의 다이 밀어 올리기 부재를 상승시켜서 다이의 이송 방향측의 다이 단부를 상기 웨이퍼 시트에서 벗기고, 그 후, 상기 다이 박리용의 다이 밀어 올리기 부재는 상승한 채 다이를 이송하여, 다이를 부분적 혹은 전면적으로 박리시킨 후, 픽업시키는 것을 특징으로 한다.In the said adsorption stage, the die pushing-up member for die peeling which pushes a die | die to the die conveying side from the said die pushing-up member for pick-up is provided so that up-and-down movement is possible, and the die pushing-up member for die peeling is lowered. After placing the die end on the conveying direction side of the die picked up above the die pushing up member for die peeling, the die pushing up member for die peeling is raised to bring the die end on the feeding direction side of the die Is removed from the wafer sheet, and then the die pushing-up member for peeling the die is transferred while the die is raised, and the die is partially or entirely peeled off and then picked up.

상기 과제를 해결하기 위한 본 발명의 청구항2는, 다이가 부착된 웨이퍼 시트를 흡착 유지하는 흡착 스테이지와, 이 흡착 스테이지 내에 배치되고, 다이를 밀어 올리는 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재와, 이 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재로 밀어 올려진 다이를 흡착 유지해서 반송하는 콜레트를 구비한 다이 픽업 장치에 있어서,Claim 2 of this invention for solving the said subject is an adsorption stage which adsorbs and hold | maintains the wafer sheet with die | dye, the die pushing-up member for pick-up which is arrange | positioned in this adsorption stage, and pushes up a die, and this pick-up In the die pick-up apparatus provided with the collet which adsorbs, hold | maintains, and conveys the die | dye pushed up by the die pushing-up member,

상기 흡착 스테이지 내에는, 상기 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재에서 다이 이송측으로 다이를 밀어 올리는 다이 박리용의 다이 밀어 올리기 부재가 상하동 가능하게 설치되고, 이 다이 박리용의 다이 밀어 올리기 부재가 하강한 상태에서, 픽업되는 다이의 이송 방향측의 다이 단부를 상기 다이 박리용의 다이 밀어 올리기 부재의 상방에 위치시킨 후, 이 다이 박리용의 다이 밀어 올리기 부재를 상승시켜서 다이의 이송 방향측의 다이 단부를 상기 웨이퍼 시트에서 벗기고, 그 후, 상기 다이 박리용의 다이 밀어 올리기 부재를 하강시킨 후에 다이를 이송하여, 다이를 부분적 혹은 전면적으로 박리시킨 후, 픽업시키는 것을 특징으로 한다.In the said adsorption stage, the die pushing-up member for die peeling which pushes a die | die to the die conveying side from the said die pushing-up member for pick-up is provided so that up-and-down movement is possible, and the die pushing-up member for die peeling is lowered. After placing the die end on the conveying direction side of the die to be picked up above the die pushing member for die peeling, the die pushing member for die peeling is raised to raise the die end on the feeding direction side of the die. It peels off from the said wafer sheet, and after that, the die | dye pushing-up member for die peeling is lowered, a die is conveyed, the die is peeled off partially or fully, and it picks up, It is characterized by the above-mentioned.

상기 과제를 해결하기 위한 본 발명의 청구항3은, 다이가 부착된 웨이퍼 시트를 흡착 유지하는 흡착 스테이지와, 이 흡착 스테이지내의 픽업 센터에 배치되 고, 다이를 밀어 올리는 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재와, 이 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재로 밀어 올려진 다이를 흡착 유지해서 반송하는 콜레트를 구비한 다이 픽업 장치에 있어서,Claim 3 of the present invention for solving the above problems is a suction stage for suction holding and holding a wafer sheet with a die, and a die pushing member for pick-up, which is disposed at a pickup center in the suction stage and pushes the die up; In the die pick-up apparatus provided with the collet which adsorbs, hold | maintains, and conveys the die | dye pushed up by the die pushing-up member for pick-ups,

상기 흡착 스테이지의 상면에는, 상기 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재에서 다이 이송측으로 흡인 구멍이 형성되고, 상기 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재가 하강한 상태에서 픽업되는 다이의 이송 방향측의 다이 단부를 상기 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재의 상방에 위치시킨 후, 이 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재를 상승시켜서 다이의 이송 방향측의 다이 단부를 웨이퍼 시트에서 벗기고, 상기 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재는 상승한 채로 다이를 이 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재를 타고 넘어 이동시킨 후, 상기 다이를 픽업 센터로 이송해서 픽업시키는 것을 특징으로 한다.A suction hole is formed in the upper surface of the suction stage from the die pushing up member for pick-up to the die transfer side, and the die end on the transfer direction side of the die picked up while the die pushing up member for pick-up is lowered. After positioning the die pushing-up member for pick-up, the die pushing-up member for pick-up is lifted, the die end on the conveying direction side of the die is peeled off the wafer sheet, and the die pushing-up member for pick-up is raised. After moving a die over this pick-up die pushing-up member, the die is transferred to a pick-up center for pickup.

상기 과제를 해결하기 위한 본 발명의 청구항4는, 다이가 부착된 웨이퍼 시트를 흡착 유지하는 흡착 스테이지와, 이 흡착 스테이지 내의 픽업 센터에 배치되고, 다이를 밀어 올리는 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재와, 이 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재로 밀어 올려진 다이를 흡착 유지해서 반송하는 콜레트를 구비한 다이 픽업 장치에 있어서,Claim 4 of the present invention for solving the above problems, the suction stage for suction holding and holding the wafer sheet with a die, the die pushing member for pickup which is disposed in the pickup center in the suction stage and pushes the die, In the die pick-up apparatus provided with the collet which suction-holds and conveys the die | dye pushed up by the die pushing-up member for pick-up,

상기 흡착 스테이지의 상면에는, 상기 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재에서 다이 이송측으로 흡인 구멍이 형성되고, 상기 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재가 하강한 상태에서 픽업되는 다이의 이송 방향측의 다이 단부를 상기 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재의 상방에 위치시킨 후, 이 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재를 상 승시켜서 다이의 이송 방향측의 다이 단부를 웨이퍼 시트에서 벗기고, 상기 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재를 하강시키는 동시에, 다이의 이송 방향측의 다이 단부를 상기 흡인 구멍의 상방에 위치시킨 후, 상기 다이를 픽업 센터로 이송해서 픽업시키는 것을 특징으로 한다.A suction hole is formed in the upper surface of the suction stage from the die pushing up member for pick-up to the die transfer side, and the die end on the transfer direction side of the die picked up while the die pushing up member for pick-up is lowered. After positioning above the die pushing-up member for pick-up, the die pushing-up member for pick-up is raised, the die end on the conveying direction side of the die is peeled off the wafer sheet, and the die pushing-up member for pick-up is lowered. At the same time, the die end on the conveying direction side of the die is positioned above the suction hole, and the die is transferred to a pickup center for pickup.

상기 과제를 해결하기 위한 본 발명의 청구항5는, 다이가 부착된 웨이퍼 시트를 흡착 유지하는 흡착 스테이지와, 이 흡착 스테이지 내의 픽업 센터에 배치되고, 다이를 밀어 올리는 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재와, 이 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재로 밀어 올려진 다이를 흡착 유지해서 반송하는 콜레트를 구비한 다이 픽업 장치에 있어서,Claim 5 of this invention for solving the said subject is the adsorption stage which adsorb | sucks and hold | maintains the wafer sheet with die | dye, the die pushing-up member for pick-up which is arrange | positioned at the pick-up center in this adsorption stage, and pushes up a die, In the die pick-up apparatus provided with the collet which suction-holds and conveys the die | dye pushed up by the die pushing-up member for pick-up,

상기 흡착 스테이지의 상면에는, 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재에서 다이 이송측으로 흡인 구멍이 형성되고, 픽업되는 다이의 이송 방향측의 다이 단부를 상기 흡인 구멍의 상방에 위치시킨 후, 상기 흡착 스테이지를 진공 흡인시켜서 상기 다이의 이송 방향측의 다이 단부를 상기 웨이퍼 시트에서 벗기고, 그 후, 다이를 픽업 센터에 이송해서 픽업시키는 것을 특징으로 한다.A suction hole is formed in the upper surface of the suction stage from the die pushing-up member for pickup to the die transfer side, and the die end on the transfer direction side of the die to be picked up is located above the suction hole, and then the suction stage is vacuumed. The die end is removed from the wafer sheet by suction, and then the die is transferred to a pickup center for pickup.

(발명을 실시하기 위한 최선의 형태)(The best mode for carrying out the invention)

본 발명의 다이 픽업 장치의 제1실시형태를 도 1 및 도 2에 의해 설명한다. 도 1에 도시한 바와 같이, 다이(1A, 1B, 1C…)가 부착된 웨이퍼 시트(2)의 외주는, 도시하지 않은 페이퍼 링에 고정되어 있다. 웨이퍼 링은, 평면방향의 XY축방향으로 구동되는 도시하지 않은 웨이퍼 지지 프레임에 고정된다. 다이(1A, 1B, 1C…)는, 흡착 구멍(3)이 형성된 콜레트(4)에 의해 진공 흡착되어 픽업된다. 픽업 센터 (5)의 하방에는, 웨이퍼 시트(2)를 진공 흡착하는 흡착 스테이지(10)가 배치되어 있다. 이상은 주지의 기술이다.A first embodiment of the die pick-up apparatus of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 and 2. As shown in FIG. 1, the outer circumference of the wafer sheet 2 with the dies 1A, 1B, 1C... Is fixed to a paper ring (not shown). The wafer ring is fixed to a wafer support frame (not shown) which is driven in the XY axis direction in the planar direction. The dies 1A, 1B, 1C ... are vacuum-adsorbed and picked up by the collet 4 in which the suction holes 3 are formed. Below the pick-up center 5, the adsorption stage 10 which vacuum-adsorbs the wafer sheet 2 is arrange | positioned. The above is a well-known technique.

흡착 스테이지(10)내의 픽업 센터(5)부에는, 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재(21)가 상하동 가능하게 설치되고, 이 다이 밀어 올리기 부재(21)의 양측에는, 다이 박리용의 다이 밀어 올리기 부재(22, 23)가 상하동 가능하게 설치되어 있고, 이들의 다이 밀어 올리기 부재(21, 22, 23)는, 평판형상으로 이루어지고, 각각 단독으로 도시하지 않은 상하 구동 수단으로 상하 구동되도록 되어 있다. 도 2에 도시한 바와 같이, 다이 밀어 올리기 부재(21, 22, 23)는, 웨이퍼 시트 이송 방향(A)에 직각인 방향의 길이가 다이(1A, 1B, 1C)의 모서리부보다 내측이 되도록, 즉 다이(1A, 1B, 1C)의 변의 길이보다 약간 짧게 형성되어 있다. 흡착 스테이지(10)에는, 다이 밀어 올리기 부재(21, 22, 23)의 관통구멍 및 웨이퍼 시트(2)의 흡인 구멍을 겸한 흡인 구멍(11, 12, 13)이 형성되어 있다.The die pushing-up member 21 for pick-up is provided in the pick-up center 5 part in the suction stage 10 so that up-and-down movement is possible, and the die pushing-up for die peeling is attached to both sides of this die pushing-up member 21. The members 22 and 23 are provided so that up-and-down movement is possible, and these die pushing members 21, 22, and 23 are formed in flat form, and are respectively driven up and down by the vertical drive means not shown independently. . As shown in FIG. 2, the die pushing-up members 21, 22, and 23 are so that the length of the direction orthogonal to the wafer sheet conveyance direction A may become inner rather than the edge part of die 1A, 1B, 1C. That is, it is formed slightly shorter than the length of the edge | side of die 1A, 1B, 1C. In the suction stage 10, suction holes 11, 12, 13 which serve as through holes of the die pushing members 21, 22, 23 and suction holes of the wafer sheet 2 are formed.

다음에 다이 픽업 방법에 관하여 설명한다. 도 1(a)에 도시한 바와 같이, 흡착 스테이지(10)의 진공을 온으로 하고, 픽업하는 다이(1A)의 이송 방향측의 다이 단부가 다이 밀어 올리기 부재(22)의 상방에 위치하도록, 웨이퍼 시트(2)가 고정된 도시하지 않은 웨이퍼 링을 이동시킨다. 다음에 도 1(b)에 도시한 바와 같이, 다이 밀어 올리기 부재(22)를 상승시키고, 웨이퍼 시트(2)를 통해 다이(1A)의 이송 방향측의 다이 단부를 밀어 올린다. 이에 따라, 다이(1A)의 이송 방향측의 다이 단부는 웨이퍼 시트(2)로부터 벗겨진다.Next, the die pickup method will be described. As shown in Fig. 1 (a), the vacuum of the suction stage 10 is turned on so that the die end on the conveying direction side of the die 1A to pick up is located above the die pushing member 22, The wafer ring (not shown) to which the wafer sheet 2 is fixed is moved. Next, as shown to FIG. 1 (b), the die pushing-up member 22 is raised and the die edge part of the conveying direction side of die 1A is pushed up through the wafer sheet 2. As a result, the die end on the conveying direction side of the die 1A is peeled off from the wafer sheet 2.

다음에 도 1(c)에 도시한 바와 같이, 다이 밀어 올리기 부재(22)는 상승한 채 다이(1A)가 픽업 센터(5)에 위치하도록 웨이퍼 시트(2)를 이동시킨다. 다이(1A)는, 다이 밀어 올리기 부재(22)의 상방을 통과할 때, 다이 밀어 올리기 부재(22)로 밀어 올려진 융기부를 타고 넘어 이송되므로, 웨이퍼 시트(2)와 다이(1A)의 점착력이 저하한다. 다음에 도 1(d)에 도시한 바와 같이, 다이 밀어 올리기 부재(22)는 하강해서 웨이퍼 시트(2)로부터 떨어지고, 또 콜레트(4)는 다이(1A)를 흡착하는 위치까지 하강한다. 계속해서 도 1(e)에 도시한 바와 같이, 다이 밀어 올리기 부재(21)가 상승해서 다이(1A)를 밀어 올리고, 콜레트(4)는 다이(1A)를 진공 흡착한다. 이 경우, 웨이퍼 시트(2)와 다이(1A)의 점착력은 저하되어 있으므로, 다이 밀어 올리기 부재(21)의 상승에 의해 다이(1A)는 파손되지 않고 용이하게 웨이퍼 시트(2)에서 벗겨진다.Next, as shown in FIG. 1C, the die pushing member 22 is moved to move the wafer sheet 2 so that the die 1A is positioned at the pickup center 5. When the die 1A passes above the die pushing member 22, the die 1A is transferred over the ridge pushed up by the die pushing member 22, so that the adhesive force between the wafer sheet 2 and the die 1A is transferred. This degrades. Next, as shown in Fig. 1 (d), the die pushing member 22 is lowered and separated from the wafer sheet 2, and the collet 4 is lowered to the position where the die 1A is adsorbed. Subsequently, as shown in FIG. 1E, the die pushing member 21 rises to push up the die 1A, and the collet 4 sucks the die 1A in vacuum. In this case, since the adhesive force of the wafer sheet 2 and the die 1A is falling, the die 1A is not damaged and is easily peeled off from the wafer sheet 2 by the rise of the die pushing-up member 21.

다이(1A)를 진공 흡착해서 픽업한 콜레트(4)는, 도시하지 않은 이송 수단에 의해 상승 및 XY축방향으로 이동되고, 다음 공정, 예를 들면 다이본딩, 다이 채우기 등의 공정을 행한다. 다이(1A)가 픽업되면, 도 1(f)에 도시한 바와 같이, 다이 밀어 올리기 부재(21)가 하강하고, 또 다음에 픽업되는 다이(1B)의 이송 방향측의 다이 단부가 상기한 바와 같이 다이 밀어 올리기 부재(22)의 상방에 위치하도록 웨이퍼 시트(2)가 이동된다.The collet 4 picked up by vacuum suction of the die 1A is moved up and XY-axis direction by the conveying means which is not shown in figure, and performs the following process, for example, die bonding, die filling, etc. When the die 1A is picked up, as shown in Fig. 1 (f), the die pushing-up member 21 is lowered, and the die end on the conveying direction side of the die 1B to be picked up is as described above. The wafer sheet 2 is moved to be located above the die pushing member 22 as well.

이렇게, 픽업 센터(5)로 이송된 다이(1A)와 웨이퍼 시트(2)의 점착력은 저하되어 있으므로, 다이 밀어 올리기 부재(21)로 박형의 다이(1A)를 밀어 올려도, 이 다이(1A)가 파손되는 경우는 없다.Thus, since the adhesive force of the die 1A and the wafer sheet 2 conveyed to the pick-up center 5 is reduced, even if the thin die 1A is pushed up by the die pushing member 21, this die 1A Is not broken.

또한, 상기 실시형태에서는, 다이 밀어 올리기 부재(23)는 조금도 작용하고 있지 않다. 이것은, 다이를 좌측으로부터 픽업 센터(5)로 이송한 경우에 관하여 설명했기 때문이다. 다이를 우측으로부터 픽업 센터(5)로 이송할 경우에는, 다이 밀어 올리기 부재(23)가 상기 설명한 다이 밀어 올리기 부재(22)와 동일하게 작용하고, 다이 밀어 올리기 부재(22)는 조금도 작용하지 않는다.In addition, in the said embodiment, the die pushing member 23 does not work at all. This is because the case where the die was transferred from the left side to the pickup center 5 was described. When the die is transferred from the right side to the pickup center 5, the die pushing member 23 acts in the same manner as the die pushing member 22 described above, and the die pushing member 22 does not work at all. .

본 발명의 다이 픽업 장치의 제2실시형태를 도 3에 의해 설명한다. 본 실시형태는, 상기 제1실시형태의 변형예이며, 도 1(c)(d)의 공정을 도 3(a)(b)로 바꾼 것이다. 기타는 도 1의 공정과 같으므로, 다른 공정에 관하여 설명한다.The second embodiment of the die pick-up apparatus of the present invention will be described with reference to FIG. This embodiment is a modification of the first embodiment, and replaces the process of Fig. 1 (c) (d) with Fig. 3 (a) (b). Since others are the same as the process of FIG. 1, another process is demonstrated.

도 1(a)의 공정 후, 도 1(b)에 도시한 바와 같이, 다이 밀어 올리기 부재(22)로 다이(1A)의 이송 방향측의 다이 단부를 밀어 올리고, 다이(1A)의 이송 방향측의 다이 단부를 웨이퍼 시트(2)로부터 벗긴 후, 도 3(a)에 도시한 바와 같이, 다이 밀어 올리기 부재(22)가 하강한다. 그 후, 도 3(b)에 도시한 바와 같이, 다이(1A)가 픽업 센터(5)에 위치하도록 웨이퍼 시트(2)를 이동시킨다. 상기한 바와 같이, 다이(1A)의 이송 방향측의 다이 단부는 웨이퍼 시트(2)에서 벗겨져 있으므로, 도 3(a)에서 도 3(b)와 같이 다이(1A)가 이동될 때, 흡인 구멍(12)의 진공 흡인력에 의해 다이(1A)는 웨이퍼 시트(2)에서 벗겨지고, 웨이퍼 시트(2)와 다이(1A)의 점착력은 저하한다. 그 후, 도 1(e)(f)의 공정이 행하여진다.After the process of FIG. 1 (a), as shown to FIG. 1 (b), the die edge part of the conveying direction side of die 1A is pushed up with the die pushing-up member 22, and the conveying direction of die 1A is shown. After peeling the die end of the side from the wafer sheet 2, as shown to Fig.3 (a), the die pushing-up member 22 descends. Thereafter, as shown in FIG. 3B, the wafer sheet 2 is moved so that the die 1A is located at the pickup center 5. As described above, since the die end on the conveying direction side of the die 1A is peeled off from the wafer sheet 2, when the die 1A is moved as shown in Fig. 3 (a) and Fig. 3 (b), the suction hole is moved. The die 1A is peeled off the wafer sheet 2 by the vacuum suction force of (12), and the adhesive force between the wafer sheet 2 and the die 1A is lowered. Then, the process of FIG.1 (e) (f) is performed.

본 실시형태도 상기 실시형태와 마찬가지로, 픽업 센터(5)로 이송된 다이(1A)와 웨이퍼 시트(2)의 점착력은 저하되어 있으므로, 다이 밀어 올리기 부재(21)로 박형의 다이(1A)를 밀어 올려도, 이 다이(1A)가 파손되는 경우가 없다.As in the present embodiment, similarly to the above embodiment, since the adhesive force between the die 1A and the wafer sheet 2 transferred to the pickup center 5 is reduced, the die-up member 21 is used to transfer the thin die 1A. Even if it pushes up, this die 1A will not be damaged.

본 발명의 다이 픽업 장치의 제3실시형태를 도 4에 의해 설명한다. 이하, 도 1 내지 도 3과 같은 또는 상당 부재에는 동일 부호를 첨부하고, 그 상세한 설명은 생략한다. 본 실시형태는, 픽업 센터(5)에 다이 밀어 올리기 부재(21)가 있고, 이 다이 밀어 올리기 부재(21)의 흡인 구멍(11)의 양측에는, 흡인 구멍(12, 13)만이 있고, 흡인 구멍(12, 13)에는 다이 밀어 올리기 부재(22, 23)는 배치되어 있지 않다.A third embodiment of the die pick-up apparatus of the present invention will be described with reference to FIG. Hereinafter, the same code | symbol is attached | subjected to the member equivalent or equivalent to FIGS. 1-3, and the detailed description is abbreviate | omitted. In this embodiment, the pick-up center 5 has the die pushing member 21, and there are only the suction holes 12 and 13 on both sides of the suction hole 11 of this die pushing member 21, and suction The die pushing members 22 and 23 are not disposed in the holes 12 and 13.

다음에 다이 픽업 방법에 관하여 설명한다. 도 4(a)에 도시한 바와 같이, 흡착 스테이지(10)의 진공을 온으로 하고, 픽업하는 다이(1A)의 이송 방향측의 다이 단부가 다이 밀어 올리기 부재(21)의 상방에 위치하도록, 웨이퍼 시트(2)를 이동시킨다. 다음에 도 4(b)에 도시한 바와 같이, 다이 밀어 올리기 부재(21)를 상승시키고, 웨이퍼 시트(2)를 통해 다이(1A)의 이송 방향측의 다이 단부를 밀어 올린다. 이에 따라, 다이(1A)의 이송 방향측의 다이 단부는 웨이퍼 시트(2)로부터 벗겨진다.Next, the die pickup method will be described. As shown in Fig. 4A, the vacuum of the suction stage 10 is turned on so that the die end on the conveying direction side of the die 1A to be picked up is located above the die pushing member 21, The wafer sheet 2 is moved. Next, as shown in FIG.4 (b), the die pushing-up member 21 is raised and the die edge part of the conveying direction side of the die 1A is pushed up through the wafer sheet 2. As a result, the die end on the conveying direction side of the die 1A is peeled off from the wafer sheet 2.

다음에 도 4(c)에 도시한 바와 같이, 다이 밀어 올리기 부재(21)는 상승한 채 다이(1A)가 다이 밀어 올리기 부재(21)를 타고 넘도록 웨이퍼 시트(2)를 이동시킨다. 다이(1A)는, 다이 밀어 올리기 부재(21)의 상방을 통과할 때, 다이 밀어 올리기 부재(21)로 밀어 올려진 융기부를 타고 넘어 이송되므로, 웨이퍼 시트(2)와 다이(1A)의 점착력이 저하된다. 그 후, 도 4(d)에 도시한 바와 같이, 다이 밀어 올리기 부재(21)가 하강한 후, 다이(1A)가 픽업 센터(5)에 위치하도록 웨이퍼 시트(2)를 이동시킨다. 계속해서 도 4(e)에 도시한 바와 같이, 다이 밀어 올리기 부재(21)가 상승해서 다이(1A)를 밀어 올리고, 콜레트(4)는 다이(1A)를 진공 흡착한다. 이 경우, 웨이퍼 시트(2)와 다이(1A)의 점착력은 저하되어 있으므로, 다이 밀어 올리기 부재(21)의 상승에 의해 다이(1A)는 파손되지 않고 용이하게 웨이퍼 시트(2)에서 벗겨진다.Next, as shown in FIG.4 (c), while the die pushing-up member 21 is raised, the wafer sheet 2 is moved so that the die 1A may ride over the die pushing-up member 21. FIG. When the die 1A passes above the die pushing member 21, the die 1A is transferred over the ridge pushed up by the die pushing member 21, so that the adhesive force between the wafer sheet 2 and the die 1A is transferred. Is lowered. Thereafter, as shown in FIG. 4D, after the die pushing member 21 is lowered, the wafer sheet 2 is moved so that the die 1A is positioned at the pickup center 5. Subsequently, as shown in FIG. 4E, the die pushing member 21 is raised to push up the die 1A, and the collet 4 sucks the die 1A in vacuum. In this case, since the adhesive force of the wafer sheet 2 and the die 1A is falling, the die 1A is not damaged and is easily peeled off from the wafer sheet 2 by the rise of the die pushing-up member 21.

다이(1A)를 진공 흡착해서 픽업한 콜레트(4)는, 도시하지 않은 이송 수단에 의해 상승 및 XY축방향으로 이동되고, 다음 공정, 예를 들면 다이본딩, 다이 채우기 등의 공정을 행한다. 다이(1A)가 픽업되면, 도 4(f)에 도시한 바와 같이, 다이 밀어 올리기 부재(21)가 하강하고, 또 다음에 픽업되는 다이(1B)의 이송 방향측의 다이 단부가 상기한 바와 같이 다이 밀어 올리기 부재(21)의 상방에 위치하도록(도 4(a) 참조)웨이퍼 시트(2)가 이동된다.The collet 4 picked up by vacuum suction of the die 1A is moved up and XY-axis direction by the conveying means which is not shown in figure, and performs the following process, for example, die bonding, die filling, etc. When the die 1A is picked up, as shown in Fig. 4 (f), the die pushing-up member 21 is lowered, and the die end on the conveying direction side of the die 1B to be picked up is as described above. The wafer sheet 2 is moved to be located above the die pushing member 21 (see FIG. 4 (a)).

이렇게, 픽업 센터(5)에 이송된 다이(1A)와 웨이퍼 시트(2)의 점착력은 저하되어 있으므로, 다이 밀어 올리기 부재(21)로 박형의 다이(1A)를 밀어 올려도, 이 다이(1A)가 파손되는 경우가 없다.Thus, since the adhesive force of the die 1A and the wafer sheet 2 conveyed to the pick-up center 5 is falling, even if the thin die 1A is pushed up by the die pushing member 21, this die 1A Is not broken.

본 발명의 다이 픽업 장치의 제4실시형태를 도 5에 의해 설명한다. 본 실시형태는, 상기 제3실시형태의 변형예이며, 도 4(c)(d)의 공정을 도 5(a)(b)로 바꾼 것이다. 기타는 도 4의 공정과 같으므로, 다른 공정에 관하여 설명한다.The 4th Embodiment of the die pick-up apparatus of this invention is described with reference to FIG. This embodiment is a modification of the third embodiment and changes the process of Fig. 4 (c) (d) to Fig. 5 (a) (b). Since others are the same as the process of FIG. 4, another process is demonstrated.

도 4(a)의 공정 후, 도 4(b)에 도시한 바와 같이, 다이 밀어 올리기 부재(21)로 다이(1A)의 이송 방향측의 다이 단부를 밀어 올리고, 다이(1A)의 이송 방향측의 다이 단부를 웨이퍼 시트(2)로부터 벗긴 후, 도 5(a)에 도시한 바와 같이, 다이 밀어 올리기 부재(21)가 하강하는 동시에, 다이(1A)가 이송 방향으로 이송되고 이 다이(1A)의 전면 또는 일부가 흡인 구멍(11)의 부압에 의해 웨이퍼 시트(2)로부 터 벗겨진다. 그 후, 도 5(b)에 도시한 바와 같이, 다이(1A)가 이송 방향(A)과 반대측 방향의 픽업 센터(5)에 위치하도록 웨이퍼 시트(2)를 이동시킨다. 상기한 바와 같이, 다이(1A)의 이송 방향측의 다이 단부는 웨이퍼 시트(2)에서 벗겨져 있으므로, 도 5(a)에서 도 5(b)와 같이 다이(1A)가 이동될 때, 흡인 구멍(12)의 진공 흡인력에 의해 다이(1A)는 웨이퍼 시트(2)에서 벗겨지고, 웨이퍼 시트(2)와 다이(1A)의 점착력은 저하된다. 그 후는, 도 4(e)(f)의 공정이 행하여진다.After the process of FIG. 4A, as shown to FIG. 4B, the die edge part of the conveying direction side of die 1A is pushed up with the die pushing-up member 21, and the conveying direction of die 1A is shown. After peeling the die end of the side from the wafer sheet 2, as shown in Fig. 5A, the die pushing-up member 21 is lowered, and the die 1A is transferred in the conveying direction and the die ( The whole or part of 1A) is peeled off from the wafer sheet 2 by the negative pressure of the suction hole 11. Thereafter, as shown in FIG. 5B, the wafer sheet 2 is moved so that the die 1A is located at the pickup center 5 in the direction opposite to the conveying direction A. FIG. As described above, since the die end on the conveying direction side of the die 1A is peeled off from the wafer sheet 2, when the die 1A is moved as shown in Fig. 5 (a) to Fig. 5 (b), the suction hole is moved. The die 1A is peeled off the wafer sheet 2 by the vacuum suction force of (12), and the adhesive force between the wafer sheet 2 and the die 1A is lowered. Thereafter, the process of Fig. 4E (f) is performed.

본 실시형태도 상기 각 실시형태와 마찬가지로, 픽업 센터(5)로 이송된 다이(1A)와 웨이퍼 시트(2)의 점착력은 저하되어 있으므로, 다이 밀어 올리기 부재(21)로 박형의 다이(1A)를 밀어 올려도, 이 다이(1A)가 파손되는 경우가 없다.In the present embodiment, as in the respective embodiments described above, since the adhesive force between the die 1A and the wafer sheet 2 transferred to the pick-up center 5 is reduced, the die-up member 21 is a thin die 1A. This die 1A is not damaged even if the die is pushed up.

본 발명의 다이 픽업 장치의 제5실시형태를 도 6에 의해 설명한다. 본 실시형태는, 상기 제3 및 제4실시형태와 마찬가지로, 픽업 센터(5)에는 다이 밀어 올리기 부재(21)가 있고, 이 다이 밀어 올리기 부재(21)의 흡인 구멍(11)의 양측에는, 흡인 구멍(12, 13)만이 있고, 흡인 구멍(12, 13)에는 다이 밀어 올리기 부재(22, 23)는 배치되어 있지 않다. 그러나, 다이 밀어 올리기 부재(21)의 작용이 상기 제3 및 제4실시형태와 다르다.The fifth embodiment of the die pick-up apparatus of the present invention will be described with reference to FIG. In the present embodiment, as in the third and fourth embodiments, the pick-up center 5 has a die pushing member 21, and on both sides of the suction holes 11 of the die pushing member 21, There are only suction holes 12 and 13, and the die pushing members 22 and 23 are not disposed in the suction holes 12 and 13. However, the action of the die pushing member 21 is different from the third and fourth embodiments.

다음에 다이 픽업 방법에 관하여 설명한다. 도 6(a)에 도시한 바와 같이, 픽업하는 다이(1A)의 이송 방향측의 다이 단부가 흡인 구멍(12)의 상방에 위치하도록, 웨이퍼 시트(2)를 이동시키고, 흡착 스테이지(10)의 진공을 온으로 한다. 이에 따라, 도 6(b)에 도시한 바와 같이, 흡착 스테이지(10)의 진공흡인에 의해 다이(1A)의 이송 방향측의 다이 단부의 웨이퍼 시트(2)는 하방으로 당겨지고, 다이(1A) 의 이송 방향측의 다이 단부는 웨이퍼 시트(2)로부터 벗겨진다.Next, the die pickup method will be described. As shown in FIG. 6A, the wafer sheet 2 is moved so that the die end on the conveying direction side of the die 1A to be picked up is located above the suction hole 12, and the suction stage 10 is moved. Turn on the vacuum. As a result, as shown in FIG. 6B, the wafer sheet 2 at the end of the die on the conveying direction side of the die 1A is pulled downward by vacuum suction of the suction stage 10, and the die 1A is pulled down. Die end on the conveying direction side of the sheet) is peeled off from the wafer sheet 2.

다음에 도 6(c)에 도시한 바와 같이, 다이(1A)가 픽업 센터(5)에 위치하도록 웨이퍼 시트(2)를 이동시킨다. 상기한 바와 같이, 다이(1A)의 이송 방향측의 다이 단부는 웨이퍼 시트(2)에서 벗겨져 있으므로, 도 6(b)에서 도 6(c)와 같이 다이(1A)가 이동될 때, 흡인 구멍(12)의 진공 흡인력에 의해 다이(1A)는 웨이퍼 시트(2)에서 벗겨지고, 웨이퍼 시트(2)와 다이(1A)의 점착력은 저하된다. 그 후는, 도 6(d)(e)의 공정이 행하여진다. 이 공정은 도 4(e)(f)의 공정과 같으므로, 그 설명은 생략한다.Next, as shown in FIG. 6C, the wafer sheet 2 is moved so that the die 1A is located at the pickup center 5. As described above, since the die end on the conveying direction side of the die 1A is peeled off the wafer sheet 2, when the die 1A is moved as shown in Fig. 6 (b) and Fig. 6 (c), the suction hole is moved. The die 1A is peeled off the wafer sheet 2 by the vacuum suction force of (12), and the adhesive force between the wafer sheet 2 and the die 1A is lowered. Thereafter, the process of Fig. 6D (e) is performed. Since this process is the same as the process of FIG.4 (e) (f), the description is abbreviate | omitted.

본 실시형태도 상기 각 실시형태와 마찬가지로, 픽업 센터(5)로 이송된 다이(1A)와 웨이퍼 시트(2)의 점착력은 저하되어 있으므로, 다이 밀어 올리기 부재(21)로 박형의 다이(1A)를 밀어 올려도, 이 다이(1A)가 파손되는 경우가 없다.In the present embodiment, as in the respective embodiments described above, since the adhesive force between the die 1A and the wafer sheet 2 transferred to the pick-up center 5 is reduced, the die-up member 21 is a thin die 1A. This die 1A is not damaged even if the die is pushed up.

상기 각 실시형태는, 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재(21)는 1개였다. 도 7, 도 8 및 도 9에 도시한 제6, 제7 및 제8실시형태는, 3개의 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재(24, 25, 26)를 이용했을 경우를 나타낸다. 도 7은 도 1의 제1실시형태에 적용한 예, 도 8은 도 4의 제3실시형태에 적용한 예, 도 9는 도 6의 제5실시형태에 적용한 예를 각각 도시한다. 다이 밀어 올리기 부재(24, 25, 26)는, 도시하지 않은 상하 구동 수단으로 상하 구동되는 홀더(30)에 고정되어 있고, 중앙의 다이 밀어 올리기 부재(24)는 양측의 다이 밀어 올리기 부재(25, 26)보다 높이(h)(약 100∼150㎛)가 높게 형성되어 있다. 흡착 스테이지(10)에는, 다이 밀어 올리기 부재(24, 25, 26)에 대응해서 흡인 구멍(14, 15, 16)이 형성되어 있다. 그 밖의 구성은 상기 적용한 도면와 같으므로, 같은 또는 상당 부재에는 동일한 부호를 첨부하고, 그 상세한 설명은 생략한다.In each said embodiment, the die pushing-up member 21 for pickup was one. 7, 8, and 9 show a case where the three die pushing members 24, 25, and 26 for pickup are used. 7 shows an example applied to the first embodiment of FIG. 1, FIG. 8 shows an example applied to the third embodiment of FIG. 4, and FIG. 9 shows an example applied to the fifth embodiment of FIG. 6. The die pushing members 24, 25 and 26 are fixed to the holder 30 which is driven up and down by a vertical drive means not shown, and the center die pushing member 24 is the die pushing member 25 of both sides. (H) (about 100-150 micrometers) is formed higher than (26). At the suction stage 10, suction holes 14, 15, 16 are formed corresponding to the die pushing members 24, 25, 26. Since the other structure is the same as that of the said applied figure, the same code | symbol is attached | subjected to the same or equivalent member, and the detailed description is abbreviate | omitted.

본 발명의 다이 픽업 장치의 제6실시형태를 도 7에 의해 설명한다. 본 실시형태는, 도 1의 제1실시형태에 적용한 것이며, 작용은 도 1과 거의 같으므로, 같은 작용의 상세한 설명은 생략한다. 즉, 도 7(a)(b)(c)(d)는, 도 1(a)(b)(c)(d)에 대응하고, 다이 밀어 올리기 부재(22)만이 상하동하고, 또 다이(1A)가 도 1에서 설명한 것 같이 이송되고, 도 7(d)의 상태에서는, 웨이퍼 시트(2)와 다이(1A)의 점착력은 저하되어 있다.The sixth embodiment of the die pick-up apparatus of the present invention will be described with reference to FIG. This embodiment is applied to the first embodiment of FIG. 1, and since the operation is almost the same as that in FIG. 1, detailed description of the same operation is omitted. That is, FIG.7 (a) (b) (c) (d) respond | corresponds to FIG.1 (a) (b) (c) (d), and only the die pushing-up member 22 moves up and down, and die ( 1A is conveyed as demonstrated in FIG. 1, and the adhesive force of the wafer sheet 2 and the die 1A is falling in the state of FIG. 7 (d).

다음에 도 7(e)에 도시한 바와 같이, 홀더(30)가 상승해서 다이 밀어 올리기 부재(24, 25, 26)로 다이(1A)를 밀어 올리고, 콜레트(4)는 다이(1A)를 진공 흡착한다. 이 경우, 웨이퍼 시트(2)와 다이(1A)의 점착력은 저하되어 있으므로, 도 1의 경우와 마찬가지로, 다이 밀어 올리기 부재(24, 25, 26)의 상승에 의해 다이(1A)는 파손되지 않고 용이하게 웨이퍼 시트(2)에서 벗겨진다. 또 본 실시형태는, 3개의 다이 밀어 올리기 부재(24, 25, 26)로 다이(1A)를 밀어 올리므로, 다이(1A)에 무리한 힘이 가해지지 않고, 또 중앙의 다이 밀어 올리기 부재(24)로 밀어 올려진 다이(1A)가 기울어도, 일방의 다이 밀어 올리기 부재(25 또는 26)로 지지되고, 콜레트(4)의 흡착 구멍(3)에 의한 진공흡인에 의해 콜레트(4)에 흡착 유지된다.Next, as shown in Fig. 7E, the holder 30 is raised to push the die 1A up to the die pushing members 24, 25, and 26, and the collet 4 lifts the die 1A. Adsorption in vacuum. In this case, since the adhesive force between the wafer sheet 2 and the die 1A is lowered, the die 1A is not damaged by the rise of the die pushing members 24, 25, and 26 as in the case of FIG. It is easily peeled off from the wafer sheet 2. Moreover, in this embodiment, since the die 1A is pushed up by the three die pushing members 24, 25, and 26, an unreasonable force is not applied to the die 1A, and the center die pushing member 24 is carried out. Even if the die 1A pushed up by) is inclined, it is supported by one die pushing member 25 or 26 and adsorbed to the collet 4 by vacuum suction by the suction hole 3 of the collet 4. maintain.

그 후는 도 7(f)에 도시한 바와 같이, 홀더(30)의 하강에 의해 다이 밀어 올리기 부재(24, 25, 26)가 하강하고, 다이(1A)를 흡착 유지한 콜레트(4)는 종래와 동일한 동작을 행하고, 또 도 1의 경우와 마찬가지로 다음에 픽업되는 다이(1B)의 이송 방향측의 다이 단부가 상기한 바와 같이 다이 밀어 올리기 부재(22)의 상방에 위치하도록 웨이퍼 시트(2)가 이동된다.Subsequently, as shown in FIG. 7 (f), the die pushing members 24, 25, and 26 are lowered by the lowering of the holder 30, and the collet 4 which sucks and holds the die 1A is As in the case of Fig. 1, the wafer sheet 2 is disposed so that the die end on the conveying direction side of the die 1B to be picked up next is positioned above the die pushing member 22 as described above. ) Is moved.

본 발명의 다이 픽업 장치의 제7실시형태를 도 8에 의해 설명한다. 본 실시형태는, 도 4의 제3실시형태에 적용한 것이다. 도 8(a)에 도시한 바와 같이, 흡착 스테이지(10)의 진공을 온으로 하고, 픽업하는 다이(1A)의 이송 방향측의 다이 단부가 중앙의 다이 밀어 올리기 부재(24)의 상방에 위치하도록, 웨이퍼 시트(2)를 이동시킨다. 다음에 도 8(b)에 도시한 바와 같이, 홀더(30)를 상승시키면, 다이 밀어 올리기 부재(24)는 웨이퍼 시트(2)를 통해 다이(1A)의 이송 방향측의 다이 단부를 밀어 올린다. 이에 따라, 다이(1A)의 이송 방향측의 다이 단부는 웨이퍼 시트(2)로부터 벗겨진다.A seventh embodiment of the die pick-up apparatus of the present invention will be described with reference to FIG. This embodiment is applied to the third embodiment of FIG. 4. As shown in Fig. 8 (a), the end of the die on the conveying direction side of the die 1A to be picked up with the vacuum of the suction stage 10 turned on is located above the center die pushing member 24. The wafer sheet 2 is moved so as to. Next, as shown in FIG. 8 (b), when the holder 30 is raised, the die pushing member 24 pushes up the die end on the conveying direction side of the die 1A through the wafer sheet 2. . As a result, the die end on the conveying direction side of the die 1A is peeled off from the wafer sheet 2.

다음에 도 8(c)에 도시한 바와 같이, 홀더(30), 즉 다이 밀어 올리기 부재(24)는 상승한 채 다이(1A)가 다이 밀어 올리기 부재(24)를 타고 넘도록 웨이퍼 시트(2)를 이동시킨다. 다이(1A)는, 다이 밀어 올리기 부재(24)의 상방을 통과할 때, 다이 밀어 올리기 부재(24)로 밀어 올려진 융기부를 타고 넘어 이송되므로, 웨이퍼 시트(2)와 다이(1A)의 점착력이 저하된다. 그 후, 도 8(d)에 도시한 바와 같이, 홀더(30)가 하강한 후, 다이(1A)가 픽업 센터(5)에 위치하도록 웨이퍼 시트(2)를 이동시킨다. 계속해서 도 8(e)에 도시한 바와 같이, 홀더(30)가 상승해서 다이 밀어 올리기 부재(24, 25, 26)로 다이(1A)를 밀어 올리고, 콜레트(4)는 다이(1A)를 진공 흡착한다. 이 경우, 웨이퍼 시트(2)와 다이(1A)의 점착력은 저하되어 있으므로, 도 4의 경우와 마찬가지로, 다이 밀어 올리기 부재(24, 25, 26)의 상승에 의해 다이(1A)는 파손되지 않고 용이하게 웨이퍼 시트(2)에서 벗겨진다. 또 본 실시형태는, 3개의 다이 밀어 올리기 부재(24, 25, 26)로 다이(1A)를 밀어 올리므로, 다이(1A)에 무리한 힘이 가해지지 않고, 또 중앙의 다이 밀어 올리기 부재(24)로 밀어 올려진 다이(1A)가 기울어도, 일방의 다이 밀어 올리기 부재(25 또는 26)로 지지되고, 콜레트(4)의 흡착 구멍(3)에 의한 진공 흡인에 의해 콜레트(4)에 흡착 유지된다.Next, as shown in Fig. 8C, the holder 30, i.e., the die pushing member 24, is raised and the wafer sheet 2 is moved so that the die 1A rides over the die pushing member 24. Move it. When the die 1A passes above the die pushing member 24, the die 1A is transferred over the ridge pushed up by the die pushing member 24, so that the adhesive force between the wafer sheet 2 and the die 1A is transferred. Is lowered. Thereafter, as shown in FIG. 8D, after the holder 30 is lowered, the wafer sheet 2 is moved so that the die 1A is positioned at the pickup center 5. Subsequently, as shown in FIG. 8E, the holder 30 is raised to push the die 1A up to the die pushing members 24, 25, and 26, and the collet 4 lifts the die 1A. Adsorption in vacuum. In this case, since the adhesive force of the wafer sheet 2 and the die 1A falls, as in the case of FIG. 4, the die 1A is not damaged due to the rise of the die pushing members 24, 25, and 26. It is easily peeled off from the wafer sheet 2. Moreover, in this embodiment, since the die 1A is pushed up by the three die pushing members 24, 25, and 26, an unreasonable force is not applied to the die 1A, and the center die pushing member 24 is carried out. Even if the die 1A pushed up by) is tilted, it is supported by one die pushing member 25 or 26 and adsorbed to the collet 4 by vacuum suction by the suction hole 3 of the collet 4. maintain.

그 후는 도 8(f)에 도시한 바와 같이, 홀더(30)의 하강에 의해 다이 밀어 올리기 부재(24, 25, 26)가 하강하고, 다이(1A)를 흡착 유지한 콜레트(4)는 종래와 동일한 동작을 행하고, 또 도 1의 경우와 마찬가지로 다음에 픽업되는 다이(1B)의 이송 방향측의 다이 단부가 상기한 바와 같이 다이 밀어 올리기 부재(22)의 상방에 위치하도록 웨이퍼 시트(2)가 이동된다.Subsequently, as shown in FIG. 8 (f), the die pushing members 24, 25, and 26 are lowered by the lowering of the holder 30, and the collet 4 which sucks and holds the die 1A is As in the case of Fig. 1, the wafer sheet 2 is disposed so that the die end on the conveying direction side of the die 1B to be picked up next is positioned above the die pushing member 22 as described above. ) Is moved.

본 발명의 다이 픽업 장치의 제8실시형태를 도 9에 의해 설명한다. 본 실시형태는, 도 6의 제5실시형태에 적용한 것이며, 작용은 도 6과 거의 같으므로, 같은 작용의 상세한 설명은 생략한다. 즉, 도 9(a)(b)(c)는, 도 6(a)(b)(c)에 대응하고, 도 9(c)의 상태에서는, 웨이퍼 시트(2)와 다이(1A)의 점착력은 저하되어 있다. 다음에 도 9(d)에 도시한 바와 같이, 홀더(30)가 상승해서 다이 밀어 올리기 부재(24, 25, 26)로 다이(1A)를 밀어 올리고, 콜레트(4)는 다이(1A)를 진공 흡착한다. 이 경우, 웨이퍼 시트(2)와 다이(1A)의 점착력은 저하되어 있으므로, 도 6의 경우 와 마찬가지로, 다이 밀어 올리기 부재(24, 25, 26)의 상승에 의해 다이(1A)는 파손되지 않고 용이하게 웨이퍼 시트(2)에서 벗겨진다. 또 본 실시형태는, 3개의 다 이 밀어 올리기 부재(24, 25, 26)로 다이(1A)를 밀어 올리므로, 다이(1A)에 무리한 힘이 가해지지 않고, 또 중앙의 다이 밀어 올리기 부재(24)로 밀어 올려진 다이(1A)가 기울어도, 일방의 다이 밀어 올리기 부재(25 또는 26)로 지지되고, 콜레트(4)의 흡착 구멍(3)에 의한 진공 흡인에 의해 콜레트(4)에 흡착 유지된다.An eighth embodiment of the die pick-up apparatus of the present invention will be described with reference to FIG. This embodiment is applied to the fifth embodiment of FIG. 6, and since the operation is almost the same as that in FIG. 6, detailed description of the same operation is omitted. That is, Fig. 9 (a) (b) (c) corresponds to Fig. 6 (a) (b) (c), and in the state of Fig. 9 (c), the wafer sheet 2 and the die 1A Adhesive force is falling. Next, as shown in Fig. 9 (d), the holder 30 is raised to push the die 1A up to the die pushing members 24, 25, and 26, and the collet 4 lifts the die 1A. Adsorption in vacuum. In this case, since the adhesive force between the wafer sheet 2 and the die 1A is lowered, as in the case of FIG. 6, the die 1A is not damaged by the rise of the die pushing members 24, 25, and 26. It is easily peeled off from the wafer sheet 2. Moreover, in this embodiment, since the die 1A is pushed up with the three die pushing members 24, 25, and 26, an excessive force is not applied to the die 1A, and the center die pushing member ( Even if the die 1A pushed up by 24 is inclined, it is supported by one die pushing member 25 or 26 and is brought to the collet 4 by vacuum suction by the suction hole 3 of the collet 4. Adsorption is maintained.

그 후는 도 9(e)에 도시한 바와 같이, 홀더(30)의 하강에 의해 다이 밀어 올리기 부재(24, 25, 26)가 하강하고, 다이(1A)를 흡착 유지한 콜레트(4)는 종래와 동일한 동작을 행하고, 또 도 6의 경우와 마찬가지로 다음에 픽업되는 다이(1B)의 이송 방향측의 다이 단부가 흡인 구멍(12)의 상방에 위치하도록, 웨이퍼 시트(2)를 이동시킨다.Subsequently, as shown in FIG. 9E, the die pushing members 24, 25, and 26 are lowered by the lowering of the holder 30, and the collet 4 which sucks and holds the die 1A is The wafer sheet 2 is moved so that the same operation as in the prior art is carried out and the die end on the conveying direction side of the die 1B to be picked up next is located above the suction hole 12 as in the case of FIG. 6.

상기 도 1 및 도 7에 도시한 제1 및 제6실시형태에 있어서, 도 1(b) 및 (c), 도 7(b) 및 (c)에 도시한 바와 같이, 다이 밀어 올리기 부재(22)를 상승시킨 상태에서 다이(1A)의 전체면을 박리시키면, 웨이퍼 시트(2)로부터 다이(1A)가 벗겨져 버리는 경우가 있다. 이것을 방지하기 위해서는, 다이(1A)의 후단부가 웨이퍼 시트(2)로부터 박리되기 전에 다이 밀어 올리기 부재(22)를 하강시키도록 한다. 이것은 도 4에 도시한 제3실시형태에 있어서도 마찬가지이다. 즉, 도 4(b)에 도시한 바와 같이, 다이 밀어 올리기 부재(21)를 상승시킨 상태에서 웨이퍼 시트(2), 즉 다이(1A)를 이동시켜서 이 다이(1A)가 완전하게 박리되기 전에 다이 밀어 올리기 부재(21)를 하강시킨다.In the first and sixth embodiments shown in FIG. 1 and FIG. 7, as shown in FIGS. 1B and 7C, 7B and 7C, the die pushing member 22 is used. When the whole surface of the die 1A is peeled off in the state of raising the), the die 1A may peel off from the wafer sheet 2. In order to prevent this, the die pushing-up member 22 is lowered before the rear end of the die 1A is peeled off from the wafer sheet 2. This also applies to the third embodiment shown in FIG. 4. That is, as shown in Fig. 4 (b), before the die 1A is completely peeled off by moving the wafer sheet 2, i.e., the die 1A, while the die pushing-up member 21 is raised. The die pushing member 21 is lowered.

또 도 1(b), 도 7(b)에 도시한 바와 같이, 다이 밀어 올리기 부재(22)로 다이(1A)의 이송 방향측의 다이 단부를 밀어 올린 후, 웨이퍼 시트(2)의 이동을 100 ∼200msec 정지시키면, 웨이퍼 시트(2)로부터의 다이(1A)의 박리가 좋아진다.Moreover, as shown to FIG. 1 (b) and FIG. 7 (b), after pushing up the die edge part of the conveying direction side of the die 1A with the die pushing-up member 22, the movement of the wafer sheet 2 is performed. When it stops 100-200 msec, peeling of the die 1A from the wafer sheet 2 will improve.

또 도 1(b), 도 7(b)에 도시한 바와 같이, 다이 밀어 올리기 부재(22)로 다이(1A)의 이송 방향측의 다이 단부를 밀어 올릴 경우, 다이 밀어 올리기 부재(22)의 흡착 스테이지(10)의 상면으로부터의 돌출량을 크게 한 편이 다이(1A)의 이송 방향측의 다이 단부는 박리되기 쉽다. 예를 들면 상기 돌출량을 250㎛로 한다. 그러나, 이렇게 큰 돌출량으로 웨이퍼 시트(2), 즉 다이(1A)를 이동시키면 이 다이(1A)에 데미지를 줄 우려가 있다. 이것을 피하기 위해서는, 도 1(b), 도 7(b)의 후에 다이 밀어 올리기 부재(22)를 조금 내리면 된다. 예를 들면 흡착 스테이지(10)의 상면으로부터의 돌출량을 100㎛로 한다. 이것은, 도 4의 경우도 마찬가지이다. 즉, 도 4(b)에 도시한 바와 같이, 다이 밀어 올리기 부재(21)의 흡착 스테이지(10)의 상면으로부터의 돌출량을 크게 하고, 그 후에 다이 밀어 올리기 부재(21)를 조금 내린다.1 (b) and 7 (b), when the die end of the die 1A in the feed direction side is pushed up by the die pushing-up member 22, the die pushing-up member 22 The larger the protrusion amount from the upper surface of the suction stage 10 is, the die end on the side of the die 1A in the conveying direction tends to be peeled off. For example, the protrusion amount is 250 μm. However, if the wafer sheet 2, that is, the die 1A is moved at such a large amount of protrusion, there is a risk of damaging the die 1A. In order to avoid this, the die pushing-up member 22 may be slightly lowered after Figs. 1 (b) and 7 (b). For example, the amount of protrusion from the upper surface of the suction stage 10 is 100 μm. This also applies to the case of FIG. That is, as shown in FIG.4 (b), the protrusion amount from the upper surface of the adsorption stage 10 of the die pushing member 21 is made large, and the die pushing member 21 is then slightly lowered.

또한, 도 7 및 도 9의 실시형태에 있어서의 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재(24, 25, 26)는, 이미 웨이퍼 시트(2)에 대하여 점착력이 저하되어 있는 다이(1A)를 밀어 올려서 콜레트(4)에 흡착시키는 작용뿐이므로, 다이 밀어 올리기 부재(24, 25, 26)는 모두 같은 높이라도 좋다. 그러나, 도 8의 실시형태의 경우에는, 중앙의 다이 밀어 올리기 부재(24)는 웨이퍼 시트(2)에 대하여 점착력을 저하시키는 작용을 행하므로, 본 실시형태의 경우에는, 다이 밀어 올리기 부재(24)는 적어도 다이 밀어 올리기 부재(25)보다 높게 형성할 필요가 있다.In addition, the die pushing members 24, 25, and 26 for pick-up in the embodiment of FIG. 7 and FIG. 9 push up the die 1A whose adhesive force is already reduced with respect to the wafer sheet 2, and collet. Since only the function to adsorb | suck to (4), the die pushing members 24, 25, and 26 may all be the same height. However, in the case of the embodiment of FIG. 8, since the center die pushing member 24 acts to lower the adhesive force with respect to the wafer sheet 2, in the case of the present embodiment, the die pushing member 24 is used. ) Needs to be formed at least higher than the die pushing member 25.

또 도 7 내지 도 9의 실시형태에 있어서는, 3개의 픽업용의 다이 밀어 올리 기 부재(24, 25, 26)에 관하여 설명했지만, 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재는 2개 또는 4개이상이라도 좋다. 또 도시하지 않지만, 도 7의 실시형태는 도 3의 실시형태에도 적용할 수 있고, 도 8의 실시형태는 도 5의 실시형태에도 적용할 수 있는 것은 말할 것도 없다.In addition, in the embodiment of FIGS. 7-9, although the three die pushing members 24, 25, 26 for pickup were demonstrated, two or four or more die pushing members for pickup may be sufficient. . In addition, although not shown, embodiment of FIG. 7 is applicable also to embodiment of FIG. 3, Needless to say, embodiment of FIG. 8 is also applicable to embodiment of FIG.

픽업 센터로 이송된 다이와 웨이퍼 시트의 점착력은 저하되어 있으므로, 다이 밀어 올리기 부재로 박형의 다이를 밀어 올려도, 이 다이가 파손되는 경우는 없다.Since the adhesive force of the die and the wafer sheet transferred to the pick-up center is lowered, even if the thin die is pushed up by the die pushing-up member, the die is not damaged.

Claims (7)

다이가 부착된 웨이퍼 시트를 흡착 유지하는 흡착 스테이지와, 이 흡착 스테이지 내에 배치되고, 다이를 밀어 올리는 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재와, 이 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재로 밀어 올려진 다이를 흡착 유지해서 반송하는 콜레트를 구비한 다이 픽업 장치에 있어서,An adsorption stage for adsorbing and holding a wafer sheet with a die adsorbed, a die pushing member for pick-up disposed in the suction stage and pushing up the die, and a die pushed up by the die pushing-up member for pick-up In the die pick-up device provided with a collet for conveying 상기 흡착 스테이지 내에는, 상기 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재에서 다이 이송측으로 다이를 밀어 올리는 다이 박리용의 다이 밀어 올리기 부재가 상하동 가능하게 설치되고, 이 다이 박리용의 다이 밀어 올리기 부재가 하강한 상태에서, 픽업되는 다이의 이송 방향측의 다이 단부를 상기 다이 박리용의 다이 밀어 올리기 부재의 상방에 위치시킨 후, 이 다이 박리용의 다이 밀어 올리기 부재를 상승시켜서 다이의 이송 방향측의 다이 단부를 상기 웨이퍼 시트에서 벗기고, 그 후, 상기 다이 박리용의 다이 밀어 올리기 부재는 상승한 채 다이를 이송하고, 다이를 부분적 혹은 전면적으로 박리시킨 후, 픽업시키는 것을 특징으로 하는 다이 픽업 장치.In the said adsorption stage, the die pushing-up member for die peeling which pushes a die | die to the die conveying side from the said die pushing-up member for pick-up is provided so that up-and-down movement is possible, and the die pushing-up member for die peeling is lowered. After placing the die end on the conveying direction side of the die to be picked up above the die pushing member for die peeling, the die pushing member for die peeling is raised to raise the die end on the feeding direction side of the die. The die pick-up apparatus which peels from the said wafer sheet, and after that, the die pushing-up member for peeling off dies is conveyed, raises a die partially or fully peels off, and then picks up. 다이가 부착된 웨이퍼 시트를 흡착 유지하는 흡착 스테이지와, 이 흡착 스테이지 내에 배치되고, 다이를 밀어 올리는 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재와, 이 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재로 밀어 올려진 다이를 흡착 유지해서 반송하는 콜레트를 구비한 다이 픽업 장치에 있어서,An adsorption stage for adsorbing and holding a wafer sheet with a die adsorbed, a die pushing member for pick-up disposed in the suction stage and pushing up the die, and a die pushed up by the die pushing-up member for pick-up In the die pick-up device provided with a collet for conveying 상기 흡착 스테이지 내에는, 상기 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재에서 다이 이송측으로 다이를 밀어 올리는 다이 박리용의 다이 밀어 올리기 부재가 상하동 가능하게 설치되고, 이 다이 박리용의 다이 밀어 올리기 부재가 하강한 상태에서, 픽업되는 다이의 이송 방향측의 다이 단부를 상기 다이 박리용의 다이 밀어 올리기 부재의 상방에 위치시킨 후, 이 다이 박리용의 다이 밀어 올리기 부재를 상승시켜서 다이의 이송 방향측의 다이 단부를 상기 웨이퍼 시트에서 벗기고, 그 후, 상기 다이 박리용의 다이 밀어 올리기 부재를 하강시킨 후에 다이를 이송하고, 다이를 부분적 혹은 전면적으로 박리시킨 후, 픽업시키는 것을 특징으로 하는 다이 픽업 장치.In the said adsorption stage, the die pushing-up member for die peeling which pushes a die | die to the die conveying side from the said die pushing-up member for pick-up is provided so that up-and-down movement is possible, and the die pushing-up member for die peeling is lowered. After placing the die end on the conveying direction side of the die to be picked up above the die pushing member for die peeling, the die pushing member for die peeling is raised to raise the die end on the feeding direction side of the die. The die pick-up apparatus which peels from the said wafer sheet, and after that, die | dye is conveyed after lowering the die pushing-up member for die peeling, and it picks up after peeling a die partially or fully. 다이가 부착된 웨이퍼 시트를 흡착 유지하는 흡착 스테이지와, 이 흡착 스테이지 내의 픽업 센터에 배치되고, 다이를 밀어 올리는 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재와, 이 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재로 밀어 올려진 다이를 흡착 유지해서 반송하는 콜레트를 구비한 다이 픽업 장치에 있어서,An adsorption stage for adsorbing and holding a wafer sheet having a die attached thereto, a die pushing member for pickup picking up the die and pushing up the die, and a die pushed up by the die pushing member for pickup; In the die pick-up apparatus provided with the collet which adsorbs, hold | maintains, and conveys, 상기 흡착 스테이지의 상면에는, 상기 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재에서 다이 이송측으로 흡인 구멍이 형성되고, 상기 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재가 하강한 상태에서 픽업되는 다이의 이송 방향측의 다이 단부를 상기 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재의 상방에 위치시킨 후, 이 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재를 상승시켜서 다이의 이송 방향측의 다이 단부를 웨이퍼 시트에서 벗기고, 상기 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재는 상승한 채로 다이를 이 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재를 타고 넘어 이동시킨 후, 상기 다이를 픽업 센터로 이송해서 픽업시키는 것을 특징으로 하는 다이 픽업 장치.A suction hole is formed in the upper surface of the suction stage from the die pushing up member for pick-up to the die transfer side, and the die end on the transfer direction side of the die picked up while the die pushing up member for pick-up is lowered. After positioning the die pushing-up member for pick-up, the die pushing-up member for pick-up is lifted, the die end on the conveying direction side of the die is peeled off the wafer sheet, and the die pushing-up member for pick-up is raised. And moving the die over the die pushing-up member for pick-up, and then transferring the die to the pick-up center to pick up the die. 다이가 부착된 웨이퍼 시트를 흡착 유지하는 흡착 스테이지와, 이 흡착 스테이지 내의 픽업 센터에 배치되고, 다이를 밀어 올리는 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재와, 이 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재로 밀어 올려진 다이를 흡착 유지해서 반송하는 콜레트를 구비한 다이 픽업 장치에 있어서,An adsorption stage for adsorbing and holding a wafer sheet having a die attached thereto, a die pushing member for pickup picking up the die and pushing up the die, and a die pushed up by the die pushing member for pickup; In the die pick-up apparatus provided with the collet which adsorbs, hold | maintains, and conveys, 상기 흡착 스테이지의 상면에는, 상기 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재에서 다이 이송측으로 흡인 구멍이 형성되고, 상기 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재가 하강한 상태에서 픽업되는 다이의 이송 방향측의 다이 단부를 상기 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재의 상방에 위치시킨 후, 이 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재를 상승시켜서 다이의 이송 방향측의 다이 단부를 웨이퍼 시트에서 벗기고, 상기 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재를 하강시키는 동시에, 다이의 이송 방향측의 다이 단부를 상기 흡인 구멍의 상방에 위치시킨 후, 상기 다이를 픽업 센터로 이송해서 픽업시키는 것을 특징으로 하는 다이 픽업 장치.A suction hole is formed in the upper surface of the suction stage from the die pushing up member for pick-up to the die transfer side, and the die end on the transfer direction side of the die picked up while the die pushing up member for pick-up is lowered. After positioning the die pushing-up member for picking up, the die pushing-up member for picking up is lifted, the die end on the conveying direction side of the die is peeled off the wafer sheet, and the die pushing-up member for picking up is lowered. At the same time, the die pick-up apparatus which transfers the die to a pick-up center, after positioning the die edge part of the die | dye conveyance side above the said suction hole, is picked up. 다이가 부착된 웨이퍼 시트를 흡착 유지하는 흡착 스테이지와, 이 흡착 스테이지 내의 픽업 센터에 배치되고, 다이를 밀어 올리는 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재와, 이 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재로 밀어 올려진 다이를 흡착 유지해서 반송하는 콜레트를 구비한 다이 픽업 장치에 있어서,An adsorption stage for adsorbing and holding a wafer sheet having a die attached thereto, a die pushing member for pickup picking up the die and pushing up the die, and a die pushed up by the die pushing member for pickup; In the die pick-up apparatus provided with the collet which adsorbs, hold | maintains, and conveys, 상기 흡착 스테이지의 상면에는, 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재에서 다이 이송측으로 흡인 구멍이 형성되고, 픽업되는 다이의 이송 방향측의 다이 단부를 상기 흡인 구멍의 상방에 위치시킨 후, 상기 흡착 스테이지를 진공 흡인시켜서 상기 다이의 이송 방향측의 다이 단부를 상기 웨이퍼 시트에서 벗기고, 그 후, 다이를 픽업 센터로 이송해서 픽업시키는 것을 특징으로 하는 다이 픽업 장치.A suction hole is formed in the upper surface of the suction stage from the die pushing-up member for pickup to the die transfer side, and the die end on the transfer direction side of the die to be picked up is located above the suction hole, and then the suction stage is vacuumed. A die pick-up apparatus, wherein the die end on the conveying direction side of the die is removed from the wafer sheet by suction, and then the die is transferred to a pickup center for pickup. 제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재는, 복수개로 이루어지는 것을 특징으로 하는 다이 픽업 장치.The die pick-up device according to any one of claims 1 to 5, wherein the pick-up of the die pushing-up member is made of a plurality of pieces. 제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 픽업용의 다이 밀어 올리기 부재는 3개이상으로 이루어지고, 중앙의 다이 밀어 올리기 부재는, 양측의 다이 밀어 올리기 부재보다 높게 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 다이 픽업 장치.The said die pushing member for pickup is comprised of three or more, The center die pushing member is formed higher than the die pushing member of both sides, The thing of any one of Claims 1-5. The die pick-up apparatus characterized by the above-mentioned.
KR20050040444A 2004-05-17 2005-05-16 Die pickup device KR100639553B1 (en)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004145837 2004-05-17
JPJP-P-2004-00145837 2004-05-17
JPJP-P-2004-00160407 2004-05-31
JP2004160407A JP4369298B2 (en) 2004-05-17 2004-05-31 DIE PICKUP DEVICE AND DIE PICKUP METHOD

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20060047924A KR20060047924A (en) 2006-05-18
KR100639553B1 true KR100639553B1 (en) 2006-10-30

Family

ID=35773111

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR20050040444A KR100639553B1 (en) 2004-05-17 2005-05-16 Die pickup device

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JP4369298B2 (en)
KR (1) KR100639553B1 (en)
TW (1) TW200610079A (en)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101046381B1 (en) * 2007-11-22 2011-07-05 주식회사 하이닉스반도체 Die pickup device and semiconductor chip separation method using same
JP2013034001A (en) * 2012-10-25 2013-02-14 Hitachi High-Tech Instruments Co Ltd Die bonder, pickup method, and pickup device
JP6324857B2 (en) * 2014-09-18 2018-05-16 ファスフォードテクノロジ株式会社 Die bonder, bonding method and pickup device
KR101684802B1 (en) * 2015-10-12 2016-12-08 세메스 주식회사 Vacuum table for vacuum-adsorbing semiconductor packages
KR101684803B1 (en) * 2015-10-13 2016-12-08 세메스 주식회사 Vacuum table for vacuum-adsorbing semiconductor packages
JP7137306B2 (en) * 2017-12-11 2022-09-14 株式会社Fuji Electronic component mounting device

Also Published As

Publication number Publication date
KR20060047924A (en) 2006-05-18
JP2006004956A (en) 2006-01-05
TW200610079A (en) 2006-03-16
JP4369298B2 (en) 2009-11-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100438335B1 (en) Pick-up device and method for semiconductor chip
KR101397750B1 (en) Chip ejector and chip removal method using the same
KR100639553B1 (en) Die pickup device
KR100549359B1 (en) Apparatus and method for thin die detachment
CN108346585B (en) Semiconductor manufacturing apparatus and method for manufacturing semiconductor device
JP2009188157A (en) Chip-releasing device, chip-releasing method, and chip-pickup device
JP4735829B2 (en) Chip push-up device
CN112222820A (en) Tear film assembly integral type assembly line
JP2015076410A (en) Bonding method and die bonder
US20100077590A1 (en) Die pickup method
JP3861710B2 (en) Electronic component supply device and electronic component mounting device
KR102635493B1 (en) Apparatus for transferring die in bonding equipment and method thereof
JP2006005030A (en) Method and apparatus for picking up semiconductor chip
JP2003118859A (en) Device and method for extracting flexible tabular body
KR101719168B1 (en) Detaching picker module within pick and place system for wafer ring frame type
JPS62210635A (en) Method and apparatus for isolating article
KR102330661B1 (en) Die pickup module and die bonding apparatus including the same
JP4241001B2 (en) Part take-out method, part take-out apparatus, and assembly apparatus provided with the apparatus
KR20190136944A (en) Method and apparatus for separating adhesive tape
KR101033771B1 (en) Die attach equipment having a step vacuum absorption structure and die pickup method thereof
JP3853059B2 (en) Glass plate holding and conveying method
KR101199298B1 (en) Chip peeling method, semiconductor device manufacturing method and chip peeling apparatus
KR20110050027A (en) Pick-up apparatus of semiconductor die
KR20010019114A (en) Apparatus for separating chip
KR100402947B1 (en) Wafer frame transfer system for tape removal

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20091009

Year of fee payment: 4

LAPS Lapse due to unpaid annual fee