KR100629599B1 - 실링제 경화 장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 단파장이 제거된 UV광을 이용하여 실링제를 경화시키는 실링제 경화 장치에 관한 것이다. 유기 전계 발광 소자에 자외선(UV광)을 조사하여 기판과 셀캡 사이에 도포된 실링제를 경화시키는 실링제 경화 장치는 UV 큐어링 챔버 및 광필터를 포함한다. 상기 UV 큐어링 챔버는 UV 조사창을 가진다. 상기 광필터는 상기 UV 조사창 위에 위치하고, 상기 발생된 자외선 중 단파장을 제거한다. 여기서, 상기 자외선은 상기 UV 조사창 및 상기 광필터를 통과하여 상기 실링제를 경화시킨다. 상기 실링제 경화 장치는 광필터를 이용하여 UV광 중 단파장을 제거하므로, 픽셀들을 구동하는 구동 트랜지스터들을 손상시키지 않는다.
실링제, UV광, 경화, 광필터

Description

실링제 경화 장치{APPARATUS FOR HARDENING A SEALING AGENT}
도 1은 종래의 실링제 경화 장치를 도시한 단면도이다.
도 2a는 도 1의 유기 전계 발광 소자들 중 하나의 유기 전계 발광 소자를 도시한 단면도이다.
도 2b는 UV광을 도시한 파형도이다.
도 3은 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 실링제 경화 장치를 도시한 단면도이다.
본 발명은 실링제 경화 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 단파장이 제거된 UV광을 이용하여 액티브 매트릭스형 유기 전계 발광 소자에 포함된 실링제를 경화시키는 실링제 경화 장치에 관한 것이다.
실링제 경화 장치는 실링 영역에 도포되는 실링제를 경화시켜 기판과 셀캡을 접착시키는 장치이다.
도 1은 종래의 실링제 경화 장치를 도시한 단면도이다.
도 1을 참조하면, 종래의 실링제 경화 장치는 UV 소스(100), UV 큐어링 챔버(102), 마스크(106) 및 유기 전계 발광 소자들(110)을 포함한다.
UV 소스(100)는 자외선(UV광)을 발생시킨다.
UV 큐어링 챔버(102)는 상부에 석영으로 이루어진 UV 조사창(104)이 형성되며, UV 소스(100)로부터 발생된 UV광을 UV 조사창(104)을 통하여 내부로 입사시킨다.
또한, UV 큐어링 챔버(102)는 실링제를 경화시키는 실링제 경화 공정시 진공 상태를 유지한다.
유기 전계 발광 소자들(110)은 각기 셀부(114), 셀캡(116) 및 실링제(118)를 포함한다.
셀부(114)는 인듐주석산화물층들(Indium Tin Oxide Films, ITO층들)과 금속전극층들이 교차하는 영역에 형성되는 복수의 픽셀들을 포함한다.
또한, 유기 전계 발광 소자들(110)은 액티브 매트릭스형 유기 전계 발광 소자들이므로, 셀부(114)는 상기 픽셀들을 각기 구동시키는 구동 트랜지스터들을 포함한다.
셀캡(116)은 실링제(118)에 의해 기판(112)과 접착되고, 그 결과 셀부(114)에 형성된 상기 픽셀들을 수분 등으로부터 보호한다.
마스크(106)는 UV 차단부(108)를 포함하며, 유기 전계 발광 소자들(110)의 실링 영역을 제외한 모든 영역에 상기 UV광이 조사되지 않도록 UV 차단부(108)를 이용하여 상기 UV광을 차단한다.
상기 UV광이 상기 실링 영역에 조사됨에 의해 실링제(118)가 경화되고, 그래서 기판(112)과 셀캡(116)이 실링제(118)에 의해 접착된다.
도 2a는 도 1의 유기 전계 발광 소자들 중 하나의 유기 전계 발광 소자를 도시한 단면도이고, 도 2b는 UV광을 도시한 파형도이다.
도 2a를 참조하면, 실링 영역(220) 내부에는 셀부(114) 및 구동 영역(200)이 형성된다.
셀부(114)에는 상기 픽셀들이 형성되며, 상기 픽셀들은 각기 구동 트랜지스터를 포함한다.
구동 영역(200)에는 도 2a에는 도시하지 않았으나 게이트 드라이버 및 스캔 드라이버가 형성된다.
상기 게이트 드라이버는 상기 구동 트랜지스터들의 동작을 제어한다.
실링 영역(220)에는 실링제(118)가 도포된다.
도 2b를 참조하면, 상기 UV광은 약 350㎚를 중심 파장을 가진다.
도 1, 도 2a 및 도 2b를 다시 참조하면, 상기 UV광이 실링 영역(220)에 도포된 실링제(118)에 조사된다.
여기서, 상기 UV광은 셀부(114)에 조사되지 않아야 하나, 실제적으로 상기 UV광이 실링 영역(220)에서 난반사되어 일부가 구동 영역(200)에 조사된다.
또는, 마스크(106)와 유기 전계 발광 소자들(110)의 얼라인(align)이 잘못 형성되어 상기 UV광이 구동 영역(200)에 조사될 수 있다.
게다가, 상기 UV광이 마스크(106)를 통과하면서 굴절되고, 그래서 상기 UV광 이 구동 영역(200)에 조사될 수 있다.
상기 UV광이 구동 영역(200)에 조사되는 경우, 약 250㎚ 이하의 단파장에 의해 상기 구동 트랜지스터가 오동작할 수 있다.
예를 들어, 상기 구동 트랜지스터가 4V에서 동작되도록 설계하였는데, 상기 UV광의 단파장에 의해 2V에서 동작할 수 있고, 그래서 픽셀별로 휘도차가 발생될 수 있었다.
그러므로, 실링제를 경화시키면서 UV광의 단파장으로부터 구동 트랜지스터들을 보호할 수 있는 실링제 경화 장치가 요구된다.
본 발명의 목적은 UV광을 조사하여 실링제를 경화시키면서도 상기 UV광의 단파장으로부터 픽셀들을 보호하는 실링제 경화 장치를 제공하는 것이다.
상기한 바와 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 유기 전계 발광 소자에 자외선(UV광)을 조사하여 기판과 셀캡 사이에 도포된 실링제를 경화시키는 실링제 경화 장치는 UV 큐어링 챔버 및 광필터를 포함한다. 상기 UV 큐어링 챔버는 UV 조사창을 가진다. 상기 광필터는 상기 UV 조사창 위에 위치하고, 상기 발생된 자외선 중 단파장을 제거한다. 여기서, 상기 자외선은 상기 UV 조사창 및 상기 광필터를 통과하여 상기 실링제를 경화시킨다.
본 발명에 따른 실링제 경화 장치는 광필터를 이용하여 UV광 중 단파장을 제거하므로, 픽셀들을 구동하는 구동 트랜지스터들을 손상시키지 않는다.
이하에서는 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명에 따른 실링제 경화 장치의 바람직한 실시예를 자세히 설명하도록 한다.
도 3은 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 실링제 경화 장치를 도시한 단면도이다.
도 3을 참조하면, 본 발명의 실링제 경화 장치는 UV 소스(300), 광필터(302), UV 큐어링 챔버(UV Curing Chamber, 304), 마스크(308) 및 유기 전계 발광 소자들(312)을 포함한다.
UV 소스(300)는 자외선(Ultraviolet rays, UV광)을 발생시키고, 상기 발생된 UV광을 광필터(302), UV 큐어링 챔버(304) 및 마스크(308)을 통하여 유기 전계 발광 소자들(312)에 조사한다.
UV 큐어링 챔버(304)는 상부에 석영으로 이루어진 UV 조사창(306)이 형성된다.
UV 조사창(306)는 빛을 투과시킬 수 있는 부분으로, 투과도 및 강도 특성이 우수하다.
광필터(302)는 UV 조사창(306) 위에 위치하며, 상기 UV광 중 단파장을 제거한다. 여기서, 상기 UV광의 중심 파장은 약 350㎚이다.
예를 들어, 광필터(302)는 상기 UV광 중 250㎚ 이하의 파장을 제거한다. 즉, 광필터(302)는 상기 UV광 중 유기 전계 발광 소자들(312)의 구동 트랜지스터들에 영향을 미칠 수 있는 단파장을 제거한다.
여기서, 상기 단파장이 제거된 UV광은 단파장이 제거되었음에도 불구하고 실링제(320)를 경화시킬 수 있다.
즉, 상기 단파장이 제거된 UV광은 실링제(320)를 경화시키면서 상기 구동 트랜지스터들에 영향을 미치지 않는다.
요컨대, 상기 UV광은 광필터(302) 및 UV 조사창(306)을 통과하면서 단파장이 제거된다.
유기 전계 발광 소자들(312)은 각기 기판(314), 셀부(316), 셀캡(318) 및 실링제(320)를 포함한다. 여기서, 유기 전계 발광 소자들(312)은 액티브 매트릭스형 유기 전계 발광 소자(Active matrix-typed organic electroluminescent device)이다.
셀부(316)는 인듐주석산화물층들(Indium Tin Oxide Films, ITO층들)과 금속전극층들이 교차하는 영역에 형성되는 복수의 픽셀들을 포함한다.
또한, 셀부(316)와 실링 영역 사이에는 상기 픽셀들을 각기 구동시키는 구동 트랜지스터들이 형성된다. 여기서, 상기 각 구동 트랜지스터들은 모스 트랜지스터(MOS Transistor)이다.
상기 ITO층들에 소정의 양의 전압이 인가되고 상기 금속전극층들에 소정의 음의 전압이 인가되는 경우, 셀부(316)는 발광한다.
셀캡(318)은 실링제(320)에 의해 기판(314)과 접착되고, 그 결과 셀부(316)에 포함된 상기 픽셀들을 수분 등으로부터 보호한다.
마스크(308)는 UV 차단부(310)를 포함하며, 그래서 상기 UV광은 실링제(320) 가 도포된 실링 영역을 제외한 나머지 영역에는 조사되지 않는다. 여기서, UV 차단부(310)는 몰리브덴(MO) 등으로 이루어진다.
이하, 실링제(312)를 경화시키는 과정을 상술하겠다.
UV 소스(300)는 상기 UV광을 발생시킨다.
이어서, 상기 UV광은 광필터(302)를 통과하며, 그 결과 상기 UV광 중 단파장이 제거된다.
계속하여, 상기 단파장이 제거된 UV광이 UV 조사창(306)을 통과하여 마스크(308)에 조사된다.
이어서, 상기 UV광은 마스크(308)에 의해 일부 차단되고, 차단되지 않은 UV광이 유기 전계 발광 소자들(312)에 조사된다.
상세하게는, 상기 단파장이 제거된 UV광이 실링제(320)가 도포된 실링 영역에 조사된다.
그 결과, 실링제(320)가 경화되고, 그래서 기판(312)과 셀캡(318)이 접착된다.
본 발명의 실링제 경화 장치는 종래의 실링제 경화 장치와 달리 광필터(302)를 이용하여 상기 UV광 중 단파장을 제거하므로, 상기 UV광은 실링제(320)를 경화시키면서 상기 구동 트랜지스터들에 영향을 미치지 않는다. 그 결과, 상기 구동 트랜지스터들은 오동작을 일으키지 않고, 유기 전계 발광 소자들(312)은 원하는 휘도를 가지고 발광한다.
상기한 본 발명의 바람직한 실시예는 예시의 목적을 위해 개시된 것이고, 본 발명에 대한 통상의 지식을 가지는 당업자라면 본 발명의 사상과 범위 안에서 다양한 수정, 변경, 부가가 가능할 것이며, 이러한 수정, 변경 및 부가는 하기의 특허청구범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 따른 실링제 경화 장치는 광필터를 이용하여 UV광 중 단파장을 제거하므로, 픽셀들을 구동하는 구동 트랜지스터들을 손상시키지 않는 장점이 있다.

Claims (2)

  1. 유기 전계 발광 소자에 자외선(UV광)을 조사하여 기판과 셀캡 사이에 도포된 실링제를 경화시키는 실링제 경화 장치에 있어서,
    UV 조사창을 가지는 UV 큐어링 챔버(UV Curing Chamber); 및
    상기 UV 조사창 위에 위치하는 광필터를 포함하되,
    상기 자외선은 상기 UV 조사창 및 상기 광필터를 통과하여 상기 실링제를 경화시키는 것을 특징으로 하는 실링제 경화 장치.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 광필터는 상기 자외선 중 250㎚ 이하의 파장을 제거하는 것을 특징으로 하는 실링제 경화 장치.
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