KR100609621B1 - 메모리 블락별로 레이턴시 제어가 가능한 동기식 반도체메모리 장치 - Google Patents
메모리 블락별로 레이턴시 제어가 가능한 동기식 반도체메모리 장치 Download PDFInfo
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Abstract
Description
Claims (12)
- 소정의 클락신호에 동기되는 동기식 반도체 메모리 장치에 있어서,각각이 복수의 메모리셀들을 포함하는 다수개의 메모리 블락들로서, 상기 메모리셀들 각각은 소정의 데이터를 저장할 수 있는 상기 다수개의 메모리 블락들;선택되는 상기 메모리셀로부터 독출되는 데이터를 출력하기 위한 출력버퍼; 및소정의 설정 레이턴시에 해당하는 상기 클락신호의 클락이 경과한 후에, 상기 출력버퍼에서 데이터 출력이 수행되도록 제어하는 출력제어부로서, 상기 설정 레이턴시는 궁극적으로 상기 출력버퍼와 상기 선택되는 메모리셀이 포함되는 상기 메모리 블락 사이의 전송소요시간에 대한 정보를 포함하는 레이턴시 설정 정보에 의존하는 상기 출력제어부를 구비하는 것을 특징으로 하는 동기식 반도체 메모리 장치.
- 제1 항에 있어서, 상기 레이턴시 설정 정보는상기 선택되는 메모리셀의 행을 지정하는 로우 어드레스인 것을 특징으로 하는 동기식 반도체 메모리 장치.
- 제1 항에 있어서, 상기 레이턴시 설정 정보는상기 선택되는 메모리셀의 열을 지정하는 칼럼 어드레스인 것을 특징으로 하는 동기식 반도체 메모리 장치.
- 제1 항에 있어서, 상기 레이턴시 설정 정보는상기 선택되는 메모리셀의 행과 열을 각각 지정하는 로우 어드레스 및 칼럼 어드레스인 것을 특징으로 하는 동기식 반도체 메모리 장치.
- 제1 항에 있어서, 상기 출력제어부는상기 레이턴시 설정 정보에 따른 설정 레이턴시를 검출하는 레이턴시 검출수단;외부에서 제공되는 명령신호에 따라 인에이블되는 독출 인에이블 신호를 발생하는 코멘드 디코더; 및상기 독출 인에이블 신호에 응답하여 인에이블되며, 상기 설정 레이턴시에 따른 상기 클락신호의 클락의 발생에 응답하여, 소정의 출력 인에이블 신호를 상기 출력버퍼에 제공하는 레이턴시 제어수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 동기식 반도체 메모리 장치.
- 소정의 클락신호에 동기되는 동기식 반도체 메모리 장치에 있어서,각각이 복수의 메모리셀들을 포함하는 다수개의 메모리 블락들로서, 상기 메모리셀들 각각은 소정의 데이터를 저장할 수 있는 상기 다수개의 메모리 블락들;선택되는 상기 메모리셀로부터 독출되는 데이터를 출력하기 위한 출력버퍼; 및소정의 설정 레이턴시에 해당하는 상기 클락신호의 클락이 경과한 후에, 상기 출력버퍼에서 데이터 출력이 수행되도록 제어하는 출력제어부를 구비하며,상기 설정 레이턴시는 상기 메모리 블락별로 프로그램 가능한 것을 특징으로 하는 동기식 반도체 메모리 장치.
- 제6 항에 있어서, 상기 설정 레이턴시는특정의 인접하는 상기 메모리 블락들에 대해서, 동일한 값으로 설정가능한 것을 특징으로 하는 동기식 반도체 메모리 장치.
- 제6 항에 있어서,상기 출력제어부는외부의 제어에 의하여 선택되는 둘 이상의 레이턴시 세트들을 마련하고,상기 레이턴시 세트의 선택은상기 선택되는 메모리셀의 행을 지정하는 로우 어드레스에 근거하는 것을 특징으로 하는 동기식 반도체 메모리 장치.
- 제6 항에 있어서,상기 출력제어부는외부의 제어에 의하여 선택되는 둘 이상의 레이턴시 세트들을 마련하고,상기 레이턴시 세트의 선택은상기 선택되는 메모리셀의 열을 지정하는 칼럼 어드레스에 근거하는 것을 특징으로 하는 동기식 반도체 메모리 장치.
- 제6 항에 있어서,상기 출력제어부는외부의 제어에 의하여 선택되는 둘 이상의 레이턴시 세트들을 마련하고,상기 레이턴시 세트의 선택은상기 선택되는 메모리셀의 행과 열을 각각 지정하는 로우 어드레스 및 칼럼 어드레스에 근거하는 것을 특징으로 하는 동기식 반도체 메모리 장치.
- 소정의 클락신호에 동기되는 동기식 반도체 메모리 장치에 있어서,각각이 복수의 메모리셀들을 포함하는 다수개의 메모리 블락들로서, 상기 메모리셀들 각각은 소정의 데이터를 저장할 수 있는 상기 다수개의 메모리 블락들;선택되는 상기 메모리셀로부터 독출되는 데이터를 출력하기 위한 출력버퍼;선택되는 상기 메모리셀로부터 독출되는 데이터를 상기 출력버퍼로 안내하는 데이터 라인; 및소정의 설정 레이턴시에 해당하는 상기 클락신호의 클락이 경과한 후에, 상기 출력버퍼에서 데이터 출력이 수행되도록 제어하는 출력제어부로서, 상기 설정 레이턴시는 상기 데이터 라인과 상기 선택되는 메모리셀이 포함되는 상기 메모리 블락 사이의 전송거리에 대한 정보를 포함하는 레이턴시 설정 정보에 의존하는 상기 출력제어부를 구비하는 것을 특징으로 하는 동기식 반도체 메모리 장치.
- 소정의 클락신호에 동기하여 구동되는 동기식 반도체 메모리 장치에 있어서,각각이 다수개의 메모리 블락들을 가지는 다수개의 메모리 뱅크들로서, 상기 메모리 블락 각각은 소정의 데이터를 저장할 수 있는 복수개의 메모리셀들을 포함하하는 상기 다수개의 메모리 뱅크들로서, 각각이 독립적으로 자신에 포함되는 메모리셀의 워드라인을 활성화할 수 있는 상기 다수개의 메모리 뱅크들;선택되는 상기 메모리셀로부터 독출되는 데이터를 출력하기 위한 출력버퍼;선택되는 상기 메모리셀로부터 독출되는 데이터를 상기 출력버퍼로 안내하는 데이터 라인; 및소정의 설정 레이턴시에 해당하는 상기 클락신호의 클락이 경과한 후에, 상기 출력버퍼에서의 데이터 출력이 수행되도록 제어하는 출력제어부로서,상기 설정 레이턴시는 궁극적으로 상기 출력버퍼와 상기 선택되는 메모리셀이 포함되는 상기 메모리 블락 사이의 전송소요시간에 대한 정보를 포함하는 레이턴시 설정 정보에 의존하되, 상기 메모리 뱅크를 특정하는 어드레스에는 무관하게 설정되는 상기 출력제어부를 구비하는 것을 특징으로 하는 동기식 반도체 메모리 장치.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050065437A KR100609621B1 (ko) | 2005-07-19 | 2005-07-19 | 메모리 블락별로 레이턴시 제어가 가능한 동기식 반도체메모리 장치 |
US11/407,024 US7486575B2 (en) | 2005-07-19 | 2006-04-20 | Semiconductor memories with block-dedicated programmable latency register |
TW095123995A TWI309040B (en) | 2005-07-19 | 2006-06-30 | Semiconductor memories with block-dedicated programmable latency register and method of accessing data thereof |
DE102006032951.1A DE102006032951B4 (de) | 2005-07-19 | 2006-07-17 | Halbleiterspeicher mit einem blockreservierten programmierbaren Latenz-Register |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050065437A KR100609621B1 (ko) | 2005-07-19 | 2005-07-19 | 메모리 블락별로 레이턴시 제어가 가능한 동기식 반도체메모리 장치 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR100609621B1 true KR100609621B1 (ko) | 2006-08-08 |
Family
ID=37185073
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020050065437A KR100609621B1 (ko) | 2005-07-19 | 2005-07-19 | 메모리 블락별로 레이턴시 제어가 가능한 동기식 반도체메모리 장치 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7486575B2 (ko) |
KR (1) | KR100609621B1 (ko) |
TW (1) | TWI309040B (ko) |
Families Citing this family (89)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100807111B1 (ko) * | 2005-09-29 | 2008-02-27 | 주식회사 하이닉스반도체 | 출력 제어장치 |
KR101202537B1 (ko) | 2006-05-12 | 2012-11-19 | 애플 인크. | 메모리 디바이스를 위한 결합된 왜곡 추정 및 에러 보정 코딩 |
CN103280239B (zh) | 2006-05-12 | 2016-04-06 | 苹果公司 | 存储设备中的失真估计和消除 |
US8239735B2 (en) | 2006-05-12 | 2012-08-07 | Apple Inc. | Memory Device with adaptive capacity |
WO2007132452A2 (en) | 2006-05-12 | 2007-11-22 | Anobit Technologies | Reducing programming error in memory devices |
WO2008026203A2 (en) * | 2006-08-27 | 2008-03-06 | Anobit Technologies | Estimation of non-linear distortion in memory devices |
WO2008053473A2 (en) * | 2006-10-30 | 2008-05-08 | Anobit Technologies Ltd. | Memory cell readout using successive approximation |
US7975192B2 (en) * | 2006-10-30 | 2011-07-05 | Anobit Technologies Ltd. | Reading memory cells using multiple thresholds |
US7924648B2 (en) * | 2006-11-28 | 2011-04-12 | Anobit Technologies Ltd. | Memory power and performance management |
US8151163B2 (en) | 2006-12-03 | 2012-04-03 | Anobit Technologies Ltd. | Automatic defect management in memory devices |
US7706182B2 (en) * | 2006-12-03 | 2010-04-27 | Anobit Technologies Ltd. | Adaptive programming of analog memory cells using statistical characteristics |
US7900102B2 (en) | 2006-12-17 | 2011-03-01 | Anobit Technologies Ltd. | High-speed programming of memory devices |
US7593263B2 (en) * | 2006-12-17 | 2009-09-22 | Anobit Technologies Ltd. | Memory device with reduced reading latency |
US7751240B2 (en) * | 2007-01-24 | 2010-07-06 | Anobit Technologies Ltd. | Memory device with negative thresholds |
US8151166B2 (en) | 2007-01-24 | 2012-04-03 | Anobit Technologies Ltd. | Reduction of back pattern dependency effects in memory devices |
WO2008111058A2 (en) * | 2007-03-12 | 2008-09-18 | Anobit Technologies Ltd. | Adaptive estimation of memory cell read thresholds |
US8001320B2 (en) | 2007-04-22 | 2011-08-16 | Anobit Technologies Ltd. | Command interface for memory devices |
WO2008139441A2 (en) | 2007-05-12 | 2008-11-20 | Anobit Technologies Ltd. | Memory device with internal signal processing unit |
US8234545B2 (en) | 2007-05-12 | 2012-07-31 | Apple Inc. | Data storage with incremental redundancy |
KR100902048B1 (ko) * | 2007-05-14 | 2009-06-15 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 장치의 어드레스 수신회로 |
US7925936B1 (en) | 2007-07-13 | 2011-04-12 | Anobit Technologies Ltd. | Memory device with non-uniform programming levels |
US8259497B2 (en) | 2007-08-06 | 2012-09-04 | Apple Inc. | Programming schemes for multi-level analog memory cells |
US8174905B2 (en) * | 2007-09-19 | 2012-05-08 | Anobit Technologies Ltd. | Programming orders for reducing distortion in arrays of multi-level analog memory cells |
US7773413B2 (en) * | 2007-10-08 | 2010-08-10 | Anobit Technologies Ltd. | Reliable data storage in analog memory cells in the presence of temperature variations |
TWI402843B (zh) * | 2007-10-11 | 2013-07-21 | Mosaid Technologies Inc | 讀取行選擇與讀取資料匯流排預充電控制信號之時序互鎖方法及其相關電路 |
US8527819B2 (en) * | 2007-10-19 | 2013-09-03 | Apple Inc. | Data storage in analog memory cell arrays having erase failures |
US8068360B2 (en) | 2007-10-19 | 2011-11-29 | Anobit Technologies Ltd. | Reading analog memory cells using built-in multi-threshold commands |
US8000141B1 (en) | 2007-10-19 | 2011-08-16 | Anobit Technologies Ltd. | Compensation for voltage drifts in analog memory cells |
KR101509836B1 (ko) * | 2007-11-13 | 2015-04-06 | 애플 인크. | 멀티 유닛 메모리 디바이스에서의 메모리 유닛의 최적화된 선택 |
US8225181B2 (en) | 2007-11-30 | 2012-07-17 | Apple Inc. | Efficient re-read operations from memory devices |
US8209588B2 (en) | 2007-12-12 | 2012-06-26 | Anobit Technologies Ltd. | Efficient interference cancellation in analog memory cell arrays |
US8456905B2 (en) | 2007-12-16 | 2013-06-04 | Apple Inc. | Efficient data storage in multi-plane memory devices |
US8085586B2 (en) * | 2007-12-27 | 2011-12-27 | Anobit Technologies Ltd. | Wear level estimation in analog memory cells |
US8156398B2 (en) | 2008-02-05 | 2012-04-10 | Anobit Technologies Ltd. | Parameter estimation based on error correction code parity check equations |
US7924587B2 (en) | 2008-02-21 | 2011-04-12 | Anobit Technologies Ltd. | Programming of analog memory cells using a single programming pulse per state transition |
US7864573B2 (en) * | 2008-02-24 | 2011-01-04 | Anobit Technologies Ltd. | Programming analog memory cells for reduced variance after retention |
US8230300B2 (en) | 2008-03-07 | 2012-07-24 | Apple Inc. | Efficient readout from analog memory cells using data compression |
US8400858B2 (en) | 2008-03-18 | 2013-03-19 | Apple Inc. | Memory device with reduced sense time readout |
US8059457B2 (en) | 2008-03-18 | 2011-11-15 | Anobit Technologies Ltd. | Memory device with multiple-accuracy read commands |
US7995388B1 (en) | 2008-08-05 | 2011-08-09 | Anobit Technologies Ltd. | Data storage using modified voltages |
US7924613B1 (en) | 2008-08-05 | 2011-04-12 | Anobit Technologies Ltd. | Data storage in analog memory cells with protection against programming interruption |
US8169825B1 (en) | 2008-09-02 | 2012-05-01 | Anobit Technologies Ltd. | Reliable data storage in analog memory cells subjected to long retention periods |
US8949684B1 (en) | 2008-09-02 | 2015-02-03 | Apple Inc. | Segmented data storage |
US8482978B1 (en) | 2008-09-14 | 2013-07-09 | Apple Inc. | Estimation of memory cell read thresholds by sampling inside programming level distribution intervals |
US8000135B1 (en) | 2008-09-14 | 2011-08-16 | Anobit Technologies Ltd. | Estimation of memory cell read thresholds by sampling inside programming level distribution intervals |
US8239734B1 (en) | 2008-10-15 | 2012-08-07 | Apple Inc. | Efficient data storage in storage device arrays |
US8261159B1 (en) | 2008-10-30 | 2012-09-04 | Apple, Inc. | Data scrambling schemes for memory devices |
US8208304B2 (en) * | 2008-11-16 | 2012-06-26 | Anobit Technologies Ltd. | Storage at M bits/cell density in N bits/cell analog memory cell devices, M>N |
US8248831B2 (en) * | 2008-12-31 | 2012-08-21 | Apple Inc. | Rejuvenation of analog memory cells |
US8174857B1 (en) | 2008-12-31 | 2012-05-08 | Anobit Technologies Ltd. | Efficient readout schemes for analog memory cell devices using multiple read threshold sets |
US8924661B1 (en) | 2009-01-18 | 2014-12-30 | Apple Inc. | Memory system including a controller and processors associated with memory devices |
US8228701B2 (en) | 2009-03-01 | 2012-07-24 | Apple Inc. | Selective activation of programming schemes in analog memory cell arrays |
US8832354B2 (en) * | 2009-03-25 | 2014-09-09 | Apple Inc. | Use of host system resources by memory controller |
US8259506B1 (en) | 2009-03-25 | 2012-09-04 | Apple Inc. | Database of memory read thresholds |
US8238157B1 (en) | 2009-04-12 | 2012-08-07 | Apple Inc. | Selective re-programming of analog memory cells |
US8479080B1 (en) | 2009-07-12 | 2013-07-02 | Apple Inc. | Adaptive over-provisioning in memory systems |
US8495465B1 (en) | 2009-10-15 | 2013-07-23 | Apple Inc. | Error correction coding over multiple memory pages |
US8677054B1 (en) | 2009-12-16 | 2014-03-18 | Apple Inc. | Memory management schemes for non-volatile memory devices |
US8694814B1 (en) | 2010-01-10 | 2014-04-08 | Apple Inc. | Reuse of host hibernation storage space by memory controller |
US8572311B1 (en) | 2010-01-11 | 2013-10-29 | Apple Inc. | Redundant data storage in multi-die memory systems |
US8266471B2 (en) * | 2010-02-09 | 2012-09-11 | Mosys, Inc. | Memory device including a memory block having a fixed latency data output |
US8694853B1 (en) | 2010-05-04 | 2014-04-08 | Apple Inc. | Read commands for reading interfering memory cells |
US8572423B1 (en) | 2010-06-22 | 2013-10-29 | Apple Inc. | Reducing peak current in memory systems |
KR101131893B1 (ko) * | 2010-07-06 | 2012-04-03 | 주식회사 하이닉스반도체 | 지연고정루프 |
US8595591B1 (en) | 2010-07-11 | 2013-11-26 | Apple Inc. | Interference-aware assignment of programming levels in analog memory cells |
US9104580B1 (en) | 2010-07-27 | 2015-08-11 | Apple Inc. | Cache memory for hybrid disk drives |
US8767459B1 (en) | 2010-07-31 | 2014-07-01 | Apple Inc. | Data storage in analog memory cells across word lines using a non-integer number of bits per cell |
US8856475B1 (en) | 2010-08-01 | 2014-10-07 | Apple Inc. | Efficient selection of memory blocks for compaction |
US8694854B1 (en) | 2010-08-17 | 2014-04-08 | Apple Inc. | Read threshold setting based on soft readout statistics |
US8595429B2 (en) * | 2010-08-24 | 2013-11-26 | Qualcomm Incorporated | Wide input/output memory with low density, low latency and high density, high latency blocks |
US9021181B1 (en) | 2010-09-27 | 2015-04-28 | Apple Inc. | Memory management for unifying memory cell conditions by using maximum time intervals |
US20120239874A1 (en) * | 2011-03-02 | 2012-09-20 | Netlist, Inc. | Method and system for resolving interoperability of multiple types of dual in-line memory modules |
WO2013048493A1 (en) | 2011-09-30 | 2013-04-04 | Intel Corporation | Memory channel that supports near memory and far memory access |
CN103946812B (zh) | 2011-09-30 | 2017-06-09 | 英特尔公司 | 用于实现多级别存储器分级体系的设备和方法 |
EP2761467B1 (en) | 2011-09-30 | 2019-10-23 | Intel Corporation | Generation of far memory access signals based on usage statistic tracking |
JP2013097850A (ja) * | 2011-11-07 | 2013-05-20 | Elpida Memory Inc | 半導体装置 |
US8830716B2 (en) * | 2012-09-29 | 2014-09-09 | Intel Corporation | Intelligent far memory bandwith scaling |
US9147461B1 (en) | 2012-11-28 | 2015-09-29 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Semiconductor memory device performing a refresh operation, and memory system including the same |
US11249652B1 (en) | 2013-01-28 | 2022-02-15 | Radian Memory Systems, Inc. | Maintenance of nonvolatile memory on host selected namespaces by a common memory controller |
US10445229B1 (en) | 2013-01-28 | 2019-10-15 | Radian Memory Systems, Inc. | Memory controller with at least one address segment defined for which data is striped across flash memory dies, with a common address offset being used to obtain physical addresses for the data in each of the dies |
US9652376B2 (en) | 2013-01-28 | 2017-05-16 | Radian Memory Systems, Inc. | Cooperative flash memory control |
KR20140113117A (ko) * | 2013-03-15 | 2014-09-24 | 삼성전자주식회사 | 비대칭 액세스 타임을 가진 반도체 메모리 장치 |
TWI528362B (zh) * | 2013-05-30 | 2016-04-01 | 鈺創科技股份有限公司 | 靜態隨機存取記憶體系統及其操作方法 |
US9542118B1 (en) | 2014-09-09 | 2017-01-10 | Radian Memory Systems, Inc. | Expositive flash memory control |
US10290332B1 (en) * | 2017-10-31 | 2019-05-14 | Sandisk Technologies Llc | Signal path optimization for read operations in storage devices |
CN111128260B (zh) * | 2018-10-30 | 2024-09-27 | 长鑫存储技术有限公司 | 电源调节电路及方法、存储器 |
US11462261B2 (en) * | 2019-10-10 | 2022-10-04 | Micron Technology, Inc. | Methods of activating input/output lines of memory devices, and related devices and systems |
US11556416B2 (en) | 2021-05-05 | 2023-01-17 | Apple Inc. | Controlling memory readout reliability and throughput by adjusting distance between read thresholds |
US11847342B2 (en) | 2021-07-28 | 2023-12-19 | Apple Inc. | Efficient transfer of hard data and confidence levels in reading a nonvolatile memory |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55150178A (en) | 1979-05-09 | 1980-11-21 | Toshiba Corp | Memory unit |
JPH10302463A (ja) | 1997-04-25 | 1998-11-13 | Oki Electric Ind Co Ltd | 半導体記憶装置 |
KR20000033542A (ko) * | 1998-11-24 | 2000-06-15 | 김영환 | 카스(cas)레이턴시(latency) 제어 회로 |
KR20010070273A (ko) * | 2000-01-12 | 2001-07-25 | 가나이 쓰토무 | 반도체장치 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07326189A (ja) | 1994-05-31 | 1995-12-12 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
JP3406790B2 (ja) | 1996-11-25 | 2003-05-12 | 株式会社東芝 | データ転送システム及びデータ転送方法 |
US6243797B1 (en) | 1997-02-18 | 2001-06-05 | Micron Technlogy, Inc. | Multiplexed semiconductor data transfer arrangement with timing signal generator |
US6185664B1 (en) | 1997-11-17 | 2001-02-06 | Micron Technology, Inc. | Method for providing additional latency for synchronously accessed memory |
US5889726A (en) | 1997-11-17 | 1999-03-30 | Micron Electronics, Inc. | Apparatus for providing additional latency for synchronously accessed memory |
KR20000044396A (ko) | 1998-12-30 | 2000-07-15 | 윤종용 | 무선전화기의 벨/진동 모드 전환 장치 |
KR100381968B1 (ko) | 1998-12-30 | 2004-03-24 | 주식회사 하이닉스반도체 | 고속동작용디램 |
US6266750B1 (en) * | 1999-01-15 | 2001-07-24 | Advanced Memory International, Inc. | Variable length pipeline with parallel functional units |
US6111796A (en) | 1999-03-01 | 2000-08-29 | Motorola, Inc. | Programmable delay control for sense amplifiers in a memory |
US6373751B1 (en) | 2000-05-15 | 2002-04-16 | Enhanced Memory Systems, Inc. | Packet-based integrated circuit dynamic random access memory device incorporating an on-chip row register cache to reduce data access latencies |
KR100486250B1 (ko) * | 2002-07-10 | 2005-05-03 | 삼성전자주식회사 | 고주파수 동작을 위한 동기식 반도체 장치의 레이턴시제어 회로 및 그 방법 |
US6944091B2 (en) * | 2002-07-10 | 2005-09-13 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Latency control circuit and method of latency control |
KR100540472B1 (ko) * | 2003-10-31 | 2006-01-11 | 주식회사 하이닉스반도체 | 데이터 출력에 관한 동작마진이 향상된 메모리 장치 |
-
2005
- 2005-07-19 KR KR1020050065437A patent/KR100609621B1/ko active IP Right Grant
-
2006
- 2006-04-20 US US11/407,024 patent/US7486575B2/en active Active
- 2006-06-30 TW TW095123995A patent/TWI309040B/zh active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55150178A (en) | 1979-05-09 | 1980-11-21 | Toshiba Corp | Memory unit |
JPH10302463A (ja) | 1997-04-25 | 1998-11-13 | Oki Electric Ind Co Ltd | 半導体記憶装置 |
KR20000033542A (ko) * | 1998-11-24 | 2000-06-15 | 김영환 | 카스(cas)레이턴시(latency) 제어 회로 |
KR20010070273A (ko) * | 2000-01-12 | 2001-07-25 | 가나이 쓰토무 | 반도체장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20070019481A1 (en) | 2007-01-25 |
TWI309040B (en) | 2009-04-21 |
TW200721166A (en) | 2007-06-01 |
US7486575B2 (en) | 2009-02-03 |
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