KR100608438B1 - 콘택 홀 식각시 저온 가스를 이용한 선택비 개선 장치 및그 방법 - Google Patents

콘택 홀 식각시 저온 가스를 이용한 선택비 개선 장치 및그 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR100608438B1
KR100608438B1 KR1020040114632A KR20040114632A KR100608438B1 KR 100608438 B1 KR100608438 B1 KR 100608438B1 KR 1020040114632 A KR1020040114632 A KR 1020040114632A KR 20040114632 A KR20040114632 A KR 20040114632A KR 100608438 B1 KR100608438 B1 KR 100608438B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
gas
contact hole
etching
temperature
valve
Prior art date
Application number
KR1020040114632A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20060075746A (ko
Inventor
남상우
Original Assignee
동부일렉트로닉스 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 동부일렉트로닉스 주식회사 filed Critical 동부일렉트로닉스 주식회사
Priority to KR1020040114632A priority Critical patent/KR100608438B1/ko
Publication of KR20060075746A publication Critical patent/KR20060075746A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100608438B1 publication Critical patent/KR100608438B1/ko

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67017Apparatus for fluid treatment
    • H01L21/67063Apparatus for fluid treatment for etching
    • H01L21/67069Apparatus for fluid treatment for etching for drying etching
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32431Constructional details of the reactor
    • H01J37/3244Gas supply means
    • H01J37/32449Gas control, e.g. control of the gas flow
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • H01L21/31Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to form insulating layers thereon, e.g. for masking or by using photolithographic techniques; After treatment of these layers; Selection of materials for these layers
    • H01L21/3105After-treatment
    • H01L21/311Etching the insulating layers by chemical or physical means
    • H01L21/31105Etching inorganic layers
    • H01L21/31111Etching inorganic layers by chemical means
    • H01L21/31116Etching inorganic layers by chemical means by dry-etching
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • H01L21/31Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to form insulating layers thereon, e.g. for masking or by using photolithographic techniques; After treatment of these layers; Selection of materials for these layers
    • H01L21/3105After-treatment
    • H01L21/311Etching the insulating layers by chemical or physical means
    • H01L21/31127Etching organic layers
    • H01L21/31133Etching organic layers by chemical means
    • H01L21/31138Etching organic layers by chemical means by dry-etching

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)

Abstract

본 발명은 콘택 홀 식각시 저온 가스를 이용한 선택비 개선 장치에 관한 것으로, 보다 자세하게는 가스를 저장하는 봄베; 상기 봄베에서 제1 밸브를 통해 흘러나오는 가스의 유량을 조절하는 유량계; 상기 유량계 및 제 2 밸브를 통과한 상기 가스의 온도 전이를 막아주는 제1 세라믹 절연체; 상기 제1 세라믹 절연체를 통과한 가스를 어큐뮬레이터 내에서 냉각시키는 냉각 조절기; 상기 냉각된 가스의 온도 전이를 막아주는 제2 세라믹 절연체 및 제3 밸브; 및 상기 제3 밸브를 통과한 가스를 이용하여 콘택 홀을 플라즈마 식각하는 챔버로 구성됨에 기술적 특징이 있다.
따라서, 본 발명의 콘택 홀 식각시 저온 가스를 이용한 선택비 개선장치를 사용함으로써 웨이퍼를 홀딩하는 척의 온도를 올려도 웨이퍼의 온도가 높게 상승하지 않아 배리어 금속막으로 사용되는 SiN 이나 TiN과 선택적으로 식각할 수 있으므로, 과식각(Over Etch)에 대한 공정 마진(Margin)을 확보할 수 있을 뿐만 아니라, 포토레지스트에 대한 내성이 강해져서 버닝(Burning)을 예방할 수 있는 장점이 있다.
쿨링 콘트롤러, 포토레지스트 버닝

Description

콘택 홀 식각시 저온 가스를 이용한 선택비 개선 장치 및 그 방법{Apparatus for improving the selectivity using low temperature gas in contact hole etching and method thereof}
도 1은 본 발명에 의한 콘택 홀 식각시 저온 가스를 이용한 선택비 개선 장치의 구성도.
본 발명은 콘택 홀 식각시 저온 가스를 이용한 선택비 개선 장치에 관한 것으로, 보다 자세하게는 가스를 저장하는 봄베; 상기 봄베에서 제1 밸브를 통해 흘러나오는 가스의 유량을 조절하는 유량계; 상기 유량계 및 제 2 밸브를 통과한 상기 가스의 온도 전이를 막아주는 제1 세라믹 절연체; 상기 제1 세라믹 절연체를 통과한 가스를 어큐뮬레이터 내에서 냉각시키는 냉각 조절기; 상기 냉각된 가스의 온도 전이를 막아주는 제2 세라믹 절연체 및 제3 밸브; 및 상기 제3 밸브를 통과한 가스를 이용하여 콘택 홀을 플라즈마 식각하는 챔버로 이루어진 콘택 홀 식각시 저 온 가스를 이용한 선택비 개선 장치에 관한 것이다.
일반적으로 반도체 소자의 제조 공정 중 콘택 홀 식각시 식각 가스는 온도 조절을 하지 않고 상온 상태로 공급되며, 높은 파워(High Power)를 사용함으로써 식각 공정 챔버의 온도가 높아지는 문제로 웨이퍼 상의 포토레지스트가 타버리는 현상(Burning)을 막기 위해 웨이퍼를 홀딩하는 척(Chuck)의 온도를 낮게 유지해야 하기 때문에 금속 배리어(Barrier)막으로 사용되는 티타늄 나이트라이드(TiN)이나 실리콘 나이트라이(SiN)에 대한 산화막(Oxide Film)의 선택적 식각이 어려운 문제점이 있었다.
따라서, 본 발명은 상기와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로, 식각 가스의 온도를 저온으로 제어하여 식각 공정 챔버(Etch Process chamber)로 보내면 챔버의 온도가 낮아져서 웨이퍼 척의 온도에 대한 충분한 마진이 있어서 콘택 홀 식각시 배리어 금속막에서 사용되는 물질과 충분한 선택비를 얻을 수 있고. 포토레지스트의 버닝을 막을 수 있는 콘택 홀 식각시 저온 가스를 이용한 선택비 개선 방법 및 그 장치를 제공함에 본 발명의 목적이 있다.
본 발명의 상기 목적은 가스를 저장하는 봄베; 상기 봄베에서 제1 밸브를 통해 흘러나오는 가스의 유량을 조절하는 유량계; 상기 유량계 및 제 2 밸브를 통과 한 상기 가스의 온도 전이를 막아주는 제1 세라믹 절연체; 상기 제1 세라믹 절연체를 통과한 가스를 어큐뮬레이터 내에서 냉각시키는 냉각 조절기; 상기 냉각된 가스의 온도 전이를 막아주는 제2 세라믹 절연체 및 제3 밸브 및 상기 제3 밸브를 통과한 가스를 이용하여 콘택 홀을 플라즈마 식각하는 챔버로 이루어진 콘택 홀 식각시 저온 가스를 이용한 선택비 개선 장치에 의해 달성된다.
본 발명의 다른 목적은 제1 밸브 및 유량계로 봄베에서 흘러나오는 가스의 유량을 조절하는 단계; 제1 세라믹 절연체로 상기 유량계 및 제 2 밸브를 통과한 상기 가스의 온도 전이를 막아주는 단계; 상기 제1 세라믹 절연체를 통과한 가스를 어큐뮬레이터 내에서 냉각 조절기로 냉각시키는 단계; 제2 세라믹 절연체로 상기 냉각된 가스의 온도 전이를 막아주는 단계 및 상기 제2 세라믹 절연체 및 제3 밸브를 통과한 가스를 이용하여 플라즈마 식각하는 챔버에서 콘택 홀을 식각하는 단계로 이루어짐을 특징으로 하는 콘택 홀 식각시 저온 가스를 이용한 선택비 개선 방법에 의해서도 달성된다.
본 발명의 상기 목적과 기술적 구성 및 그에 따른 작용효과에 관한 자세한 사항은 본 발명의 바람직한 실시예를 도시하고 있는 도면을 참조한 이하 상세한 설명에 의해 보다 명확하게 이해될 것이다.
도 1은 본 발명에 의한 콘택 홀 식각시 저온 가스를 이용한 선택비 개선 장치의 구성도이다. 도 1에 도시된 바와 같이 봄베(Bombe)(101)에서 흘러나와 제1 밸브(102)를 거쳐 유량계(Mass Flow Controller)(103)를 통해 양이 조절된 가스는 제2 밸브(104)를 거쳐 제1 세라믹 절연체(Ceramic Insulator)(105)를 통과한다. 상기 제1 세라믹 절연체를 통과한 가스는 어큐뮬레이터(Accumulator)(106) 내에서 냉각 조절기(Cooling Controller)(107)에 의해 일정한 온도로 냉각된 후 제2 세라믹 절연체(108)를 지나 제3 밸브(109)를 거쳐 콘택 홀을 플라즈마 식각하는 식각 공정 챔버(110)로 유입된다. 이 때, 상기 제1 및 제2 세라믹 절연체는 상기 가스의 온도 전이를 막아주는 역할을 한다.
상기 봄베 및 가스 유량계는 복수 개를 사용할 수 있으며, 이 때, 상기 어큐뮬레이터는 복수 개의 봄베 사용시 믹싱 기능을 한다.
다음은 본 발명에 의한 콘택 홀 식각시 저온 가스를 이용한 선택비 개선 방법을 설명한다. 먼저 제1 밸브 및 유량계로 봄베에서 흘러나오는 가스의 유량을 조절하고, 제1 세라믹 절연체로 상기 유량계 및 제 2 밸브를 통과한 상기 가스의 온도 전이를 막아준 다음, 상기 제1 세라믹 절연체를 통과한 가스를 어큐뮬레이터 내에서 냉각 조절기로 냉각시킨다. 이 때, 상기 냉각 조절기에 의해 냉각된 가스의 온도는 섭씨 영하 20도 내지 영상 20도인 것이 바람직하다.
이어서, 상기 냉각된 가스를 제2 세라믹 절연체로 가스의 온도 전이를 막아주고, 상기 제2 세라믹 절연체 및 제3 밸브를 통과한 가스를 이용하여 플라즈마 식각하는 챔버에서 콘택 홀을 식각한다.
본 발명은 이상에서 살펴본 바와 같이 바람직한 실시 예를 들어 도시하고 설명하였으나, 상기한 실시 예에 한정되지 아니하며 본 발명의 정신을 벗어나지 않는 범위 내에서 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 변경과 수정이 가능할 것이다.
따라서, 본 발명의 콘택 홀 식각시 저온 가스를 이용한 선택비 개선 장치 및 그 방법은 웨이퍼를 홀딩하는 척의 온도를 올려도 웨이퍼의 온도가 높게 상승하지 않아 배리어 금속막으로 사용되는 SiN 이나 TiN과 선택적으로 식각할 수 있으므로, 과식각에 대한 공정 마진을 확보할 수 있을 뿐만 아니라, 포토레지스트에 대한 내성이 강해져서 버닝을 예방할 수 있는 장점이 있다.

Claims (5)

  1. 콘 택홀 식각시 저온 가스를 이용한 선택비 개선 장치에 있어서,
    가스를 저장하는 봄베;
    상기 봄베에서 제1 밸브를 통해 흘러나오는 가스의 유량을 조절하는 유량계;
    상기 유량계 및 제 2 밸브를 통과한 상기 가스의 온도 전이를 막아주는 제1 세라믹 절연체;
    상기 제1 세라믹 절연체를 통과한 가스를 어큐뮬레이터 내에서 냉각시키는 냉각 조절기;
    상기 냉각된 가스의 온도 전이를 막아주는 제2 세라믹 절연체 및 제3 밸브;
    상기 제3 밸브를 통과한 가스를 이용하여 콘택 홀을 플라즈마 식각하는 챔버로 구성됨을 특징으로 하는 콘택 홀 식각시 저온 가스를 이용한 선택비 개선 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 봄베 및 가스 유량계는 복수 개를 사용할 수 있음을 특징으로 하는 콘택 홀 식각시 저온 가스를 이용한 선택비 개선 장치.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 어큐뮬레이터는 복수 개의 봄베 사용시 믹싱 기능을 하는 것을 특징으로 하는 콘택 홀 식각시 저온 가스를 이용한 선택비 개선 장치.
  4. 콘 택홀 식각시 저온 가스를 이용한 선택비 개선 방법에 있어서,
    제1 밸브 및 유량계로 봄베에서 흘러나오는 가스의 유량을 조절하는 단계;
    제1 세라믹 절연체로 상기 유량계 및 제 2 밸브를 통과한 상기 가스의 온도 전이를 막아주는 단계;
    상기 제1 세라믹 절연체를 통과한 가스를 어큐뮬레이터 내에서 냉각 조절기로 냉각시키는 단계;
    제2 세라믹 절연체로 상기 냉각된 가스의 온도 전이를 막아주는 단계; 및
    상기 제2 세라믹 절연체 및 제3 밸브를 통과한 가스를 이용하여 플라즈마 식각하는 챔버에서 콘택 홀을 식각하는 단계
    로 이루어짐을 특징으로 하는 콘택 홀 식각시 저온 가스를 이용한 선택비 개선 방법.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 냉각된 가스는 섭씨 영하 20도 내지 영상 20도인 것을 특징으로 하는 콘택 홀 식각시 저온 가스를 이용한 선택비 개선 방법.
KR1020040114632A 2004-12-29 2004-12-29 콘택 홀 식각시 저온 가스를 이용한 선택비 개선 장치 및그 방법 KR100608438B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020040114632A KR100608438B1 (ko) 2004-12-29 2004-12-29 콘택 홀 식각시 저온 가스를 이용한 선택비 개선 장치 및그 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020040114632A KR100608438B1 (ko) 2004-12-29 2004-12-29 콘택 홀 식각시 저온 가스를 이용한 선택비 개선 장치 및그 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20060075746A KR20060075746A (ko) 2006-07-04
KR100608438B1 true KR100608438B1 (ko) 2006-08-02

Family

ID=37168246

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020040114632A KR100608438B1 (ko) 2004-12-29 2004-12-29 콘택 홀 식각시 저온 가스를 이용한 선택비 개선 장치 및그 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100608438B1 (ko)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0871200A2 (en) 1997-02-21 1998-10-14 Applied Materials, Inc. Low temperature etch process utilizing power splitting between electrodes in an RF plasma reactor
KR20000031370A (ko) * 1998-11-05 2000-06-05 윤종용 반도체 디바이스 제조 방법
KR20010018208A (ko) * 1999-08-18 2001-03-05 박종섭 수소 포함 불화탄소를 포함하는 식각가스 및 이를 이용하는 절연막의 식각방법
JP2003037100A (ja) 2001-07-24 2003-02-07 Hitachi Ltd プラズマエッチング方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0871200A2 (en) 1997-02-21 1998-10-14 Applied Materials, Inc. Low temperature etch process utilizing power splitting between electrodes in an RF plasma reactor
KR20000031370A (ko) * 1998-11-05 2000-06-05 윤종용 반도체 디바이스 제조 방법
KR20010018208A (ko) * 1999-08-18 2001-03-05 박종섭 수소 포함 불화탄소를 포함하는 식각가스 및 이를 이용하는 절연막의 식각방법
JP2003037100A (ja) 2001-07-24 2003-02-07 Hitachi Ltd プラズマエッチング方法

Also Published As

Publication number Publication date
KR20060075746A (ko) 2006-07-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9390933B2 (en) Etching method, storage medium and etching apparatus
KR102261615B1 (ko) 기판 처리 방법 및 기판 처리 장치
US8722547B2 (en) Etching high K dielectrics with high selectivity to oxide containing layers at elevated temperatures with BC13 based etch chemistries
KR102521089B1 (ko) Finfet 디바이스들을 형성하기 위한 초고 선택적 나이트라이드 에칭
KR20180051663A (ko) 원자 레벨 레졸루션 및 플라즈마 프로세싱 제어를 위한 방법들
TW201145384A (en) Semiconductor device manufacturing method and plasma etching apparatus
KR101276262B1 (ko) 반도체 제조 장치 및 반도체 제조 방법
JPH04237124A (ja) ドライエッチング方法
US20090203219A1 (en) Plasma etching method, plasma etching apparatus and computer-readable storage medium
KR20210110734A (ko) 메모리 애플리케이션들을 위한 수직 트랜지스터 제작
KR20140021610A (ko) 풀 메탈 게이트 구조를 패터닝하는 방법
JPH09298192A (ja) 半導体装置の製造装置および静電チャックからのウエハ脱着方法
KR0184934B1 (ko) 실리사이드층과 폴리실리콘층을 가지는 반도체 기판을 에칭하는 에칭방법
KR100608438B1 (ko) 콘택 홀 식각시 저온 가스를 이용한 선택비 개선 장치 및그 방법
CN101197277A (zh) 双镶嵌应用中底部抗反射涂层的两步蚀刻
US6787475B2 (en) Flash step preparatory to dielectric etch
US20230072732A1 (en) Methods for etching structures with oxygen pulsing
US20050019498A1 (en) Substrate treating method and apparatus
US9691590B2 (en) Selective removal of boron doped carbon hard mask layers
JP2004327507A (ja) 半導体装置の製造方法
US20240071732A1 (en) Edge ring, dry etching apparatus having the same, and operation method of etching apparatus
US20230360921A1 (en) Selective and isotropic etch of silicon over silicon-germanium alloys and dielectrics; via new chemistry and surface modification
KR100607750B1 (ko) 반도체 공정 챔버의 제어 방법
KR100361860B1 (ko) 도프된산화막과언도프된산화막의식각선택비조절방법
WO2022039849A1 (en) Methods for etching structures and smoothing sidewalls

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
N231 Notification of change of applicant
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee