KR100541920B1 - 스핀 에처 및 에칭 방법 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (5)
- 웨이퍼에 약액과 세정액을 분사하는 스핀 에처에 있어서,상기 웨이퍼를 회전시키는 스핀 헤드 및 회전축을 포함하는 회전 장치;상기 웨이퍼 상부를 선회하며 상기 약액을 상기 웨이퍼 상에 분사시키는 약액 분사 장치; 및상기 약액이 상기 웨이퍼 상에 분사되는 동안 상기 세정액을 상기 웨이퍼의 중심부에 분사하도록 위치되어, 상기 약액의 분사가 완료되면 상기 웨이퍼의 중심부로 세정액을 분사하는 세정액 분사 장치를 포함하는 것을 특징으로 하는 스핀 에처.
- 제 1항에 있어서,상기 회전하는 웨이퍼로부터 약액이 외부로 퍼지는 것을 방지하는 다단 보울을 더 포함하고,상기 스핀 헤드는 승하강되며,상기 약액 분사 장치와 상기 세정액 분사 장치는 상기 스핀 헤드의 승하강 동작과 함께 승하강되는 동작하는 것을 특징으로 하는 스핀 에처.
- 제 1항 또는 제 2항에 있어서,상기 약액 분사 장치는,지지축;상기 지지축과 연결되어 선회 동작을 하는 노즐 아암; 및상기 노즐 아암의 단부와 연결되어 상기 웨이퍼에 약액을 분사하는 분사 노즐을 포함하는 것을 특징으로 하는 스핀 에처.
- 제 3항에 있어서,상기 세정액 분사부는,지지축; 및상기 지지축과 연결되어 상기 웨이퍼의 중심부로 세정액을 분사하도록 고정된 분사 노즐을 포함하는 것을 특징으로 하는 스핀 에처.
- 웨이퍼를 스핀 헤드 상에 로딩한 후 상기 스핀 헤드를 회전시키고, 약액 분사 장치로부터 상기 웨이퍼 상으로 약액을 분사하여 웨이퍼를 식각하며, 식각이 완료되면 세정액 분사 장치로부터 상기 웨이퍼 중심부로 세정액을 공급하여 상기 웨이퍼 전체 영역에서 자연건조가 일어나는 것을 방지하되,상기 약액 분사 장치로부터 상기 웨이퍼 상에 약액이 분사되는 동안 상기 세정액 분사 장치는 상기 웨이퍼의 중심부로 상기 세정액을 분사할 수 있도록 위치되고, 상기 웨이퍼로 상기 약액의 공급이 중단되면 상기 세정액을 상기 웨이퍼의 중심부로 분사하는 것을 특징으로 하는 에칭 방법.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020030063609A KR100541920B1 (ko) | 2003-09-15 | 2003-09-15 | 스핀 에처 및 에칭 방법 |
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KR20050027367A KR20050027367A (ko) | 2005-03-21 |
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KR1020030063609A KR100541920B1 (ko) | 2003-09-15 | 2003-09-15 | 스핀 에처 및 에칭 방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
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KR (1) | KR100541920B1 (ko) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR102584142B1 (ko) | 2021-10-15 | 2023-10-05 | 엘에스이 주식회사 | 스핀 척 장치 |
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