KR100525436B1 - 다결정화 방법과 이를 이용한 액정표시장치 제조방법 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 비정질 실리콘층의 상부 또는 하부에 표면저항 가열물질을 형성시켜 국부적인 가열을 통해 비정질 실리콘층을 다결정화하는 방법에 관한 것으로서, 본 발명에 따른 다결정화 방법은 절연기판 상에 버퍼층을 형성하는 단계와, 상기 버퍼층 상에 표면저항 가열물질을 형성하는 단계와, 상기 표면저항 가열물질 상에 비정질 실리콘층을 형성하는 단계와, 상기 비정질 실리콘층 양측면의 소정부위를 식각하여 상기 표면저항 가열물질을 노출시키는 단계와, 상기 노출된 표면저항 가열물질상에 전극을 형성하는 단계와, 상기 전극에 전계를 인가함과 동시에 기판을 열처리하여 상기 비정질 실리콘층을 다결정 실리콘으로 결정화하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.
Description
본 발명은 다결정 실리콘 박막트랜지스터 제조방법에 관한 것으로 특히, 전계인가 금속유도결정화 방법을 이용한 다결정화 방법 및 이를 이용한 액정표시장치 제조방법에 관한 것이다.
박막트랜지스터 액정표시장치(TFT-LCD)가 고밀도, 대면적화되고 디스플레이 부분과 구동회로 부분을 동일 기판 위에 제작하기 위해서는 스위칭 소자인 박막트랜지스터의 이동도(Mobility) 증가가 절실히 요구되고 있지만, 비정질 수소화 실리콘 박막트랜지스터(a-Si:H TFT)로는 이점을 만족하기가 어렵다.
최근에 이런 문제점을 효과적으로 해결할 수 있는 방법으로 다결정 실리콘 박막트랜지스터(Polycrystalline silicon TFT ; Poly-Si TFT)가 많은 주목을 받고 있다. 다결정 실리콘 TFT는 이동도가 크기 때문에 유리기판 위에 주변회로를 집적할 수 있는 장점이 있어서 생산비용 절감 측면에서도 많은 관심을 끌고 있다.
또한, 다결정 실리콘 TFT는 비정질 실리콘 TFT보다 이동도가 높아 고해상도 패널의 스위칭 소자로 유리하고, 비정질 실리콘 TFT에 비하여 광전류가 적어 빛이 많이 쪼이는 프로젝션 패널에 적합하다.
다결정 실리콘을 제작하는 방법은 여러 가지가 보고되어 있는데, 크게 다결정 실리콘을 직접 증착하는 방법과 비정질 실리콘을 증착한 후, 결정화하는 단계를 거쳐서 다결정질 실리콘을 만드는 방법이 있다.
전자의 방법에는 저압 화학기상증착(Low Pressure Chemical Vapor Deposition ; LPCVD)법, 플라즈마 화학기상증착(Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition ; PECVD)법 등이 있는데, 이중 LPCVD법은 그 증착 온도가 550℃이상으로 기판 재료로 고가의 실리카(silica) 또는 석영(quartz)을 사용하기 때문에 제작 단가가 높아 대량 생산용으로는 적합하지 못하다. 그리고 PECVD법은 경우 SiF4/SiH4/H2 혼합 가스를 사용하여 400℃ 이하에서 증착이 가능하지만, 결정립을 억제하기 힘들며, 특히 증착시의 결정립 성장 방향의 불균일성 때문에 다결정 실리콘 박막의 표면 특성에 심각한 문제점을 가지고 있는 것으로 알려져 있다.
후자의 방법 즉, 비정질 실리콘을 증착하여 결정화하는 방법에는 고상결정화(Solid Phase Crystallization ; SPC)법, 엑시머 레이저(Excimer Laser Annealing ; ELA)법 등이 있다.
상기 ELA법은 강한 에너지를 갖는 엑시머 레이저(eximer laser)를 비정질 실리콘 박막에 펄스 형태로 투여하여 순식간에 박막을 결정화시키는 방법으로 박막 내 결정립의 크기가 크고 우수한 결정성을 갖는 다결정 실리콘 박막의 제조가 가능한 방법이다. 그러나, ELA법은 엑시머 레이저라는 고가의 부대 장비를 필요로 하기 때문에 대량 생산 및 대면적용의 LCD 구동용 TFT용으로는 한계점을 가지고 있는 방법이라 할 수 있다.
고상결정화법은 주로 반응로(furnace)속에서 로 가열법을 이용하여 비정질 실리콘 박막을 결정화시키는 방법으로, 마찬가지로 우수한 결정성을 갖는 다결정 실리콘 박막의 제조가 가능하나, 고상 반응에 의해서 진행되기 때문에 결정화 반응 속도가 느려 600℃ 이상의 고온에서 수십 시간 이상의 오랜 결정화 시간이 요구된다는 단점을 가진다.
상기와 같은 방법 외에, 최근에는 대면적의 액정표시장치 제작에 다결정 실리콘을 사용하기 위하여 결정화 온도를 낮추기 위한 많은 연구가 진행되고 있는데, 그 중 하나가 금속유도결정화(Metal Induced Crystallization)방법이고 나아가 금속유도결정화법에 전계를 인가하여 결정화 속도를 향상시키는 전계인가 금속유도결정화(Electric Field Enhanced Metal Induced Crystallization)법도 연구 진행 중이다.
이 방법들에 의하면, 특정한 종류의 금속을 비정질 실리콘과 접촉시키면 비정질 실리콘의 결정화 온도를 500℃ 이하로 낮출 수 있으며, 이러한 금속유도결정화 효과는 여러 종류의 금속에서 나타나는 것으로 알려져 있다.
금속유도결정화는 금속의 종류에 따라 결정화를 일으키는 원인이 다르다. 즉, 수소화 비정질 실리콘(a-Si:H)에 접하는 금속의 종류에 따라 결정화 현상이 달라질 수 있다.
예를 들면, 알루미늄(Al), 금(Au), 은(Ag) 등의 금속은 비정질 실리콘과의 경계면에서 실리콘(Si)의 확산(diffusion)에 의해서 지배된다. 즉, 금속과 실리콘의 경계면에서 실리콘의 확산에 의한 준안정상태의 실리사이드(silicide)상을 형성하는데, 이 실리사이드는 결정화 에너지를 낮추는 역할을 하게 되어 실리콘의 결정화를 촉진한다.
이에 반하여 니켈(Ni), 티타늄(Ti) 등의 금속은 어닐링(annealing)에 의한 금속의 확산이 지배적이다. 즉, 금속과 실리콘 경계면에서 실리콘층 방향으로의 금속 확산에 의하여 실리사이드상을 형성하고, 이러한 실리사이드가 결정화를 촉진하여 결정화 온도를 낮춘다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 종래 기술에 따른 다결정화 방법을 설명하기로 한다.
도 1a 내지 1c는 종래 기술에 따른 비정질 실리콘 박막을 결정화하는 방법을 설명하기 위한 공정단면도이다.
도 1a에 도시한 바와 같이, 절연기판(101) 상에 실리콘 산화막(SiO2)으로 버퍼층(102)을 형성하고 상기 버퍼층상에 비정질 실리콘(103)을 증착한 후, 결정화 촉매로 작용하는 금속박막층(104)을 비정질 실리콘층에 형성한다. 여기서, 상기 금속박막층(104)으로는 니켈(Ni) 등이 사용된다.
도 1b에 도시한 바와 같이, 상기 금속박막층(104)상에 전계를 인가하기 위한 전극(105)을 부가한다. 상기 전극용 물질로는 몰리브덴(Mo)등이 사용된다.
이어서, 상기 전극(105)에 소정의 전계를 인가하고 동시에 열처리공정을 진행하며, 도 1c에 도시한 바와 같이, 도 1b의 결정화 작업 결과로 실리콘(Si)층 방향으로의 니켈(Ni)의 확산에 의하여 실리사이드상(NiSi2)이 형성된다. 그리고, 이 실리사이드(NiSi2)가 실리콘 박막의 결정화를 촉진하여 결정화 온도를 낮춘 상태에서 비정질 실리콘 박막을 다결정 실리콘 박막(106)으로 결정화한다.
그러나 상기와 같은 종래 다결정화 방법은 다음과 같은 문제점이 있었다.
비정질 실리콘층의 결정화 이후 다결정 실리콘층 상에 미반응 금속(104a)(도 1c 참조)이 잔류하게 되어 누설 전류를 야기하고 또한, 표면 열손실에 의한 결정화 반응 속도의 저하 및 결정화 이후, 결정립 내에 점결함(Point defect) 등의 결함이 존재하는 등의 단점이 있다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로, 비정질 실리콘층의 결정화 반응을 촉진시킴으로써 박막트랜지스터의 소자 특성을 향상시키는 다결정화 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
본 발명의 다른 목적은 상기 다결정화 방법을 이용하여 액정표시장치를 제조하는 방법을 제공하는데 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 다결정화 방법은 절연기판 상에 버퍼층을 형성하는 단계와, 상기 버퍼층 상에 표면저항 가열물질을 형성하는 단계와, 상기 표면저항 가열물질 상에 비정질 실리콘층을 형성하는 단계와, 상기 비정질 실리콘층 양측면의 소정부위를 식각하여 상기 표면저항 가열물질을 노출시키는 단계와, 상기 노출된 표면저항 가열물질상에 전극을 형성하는 단계와, 상기 전극에 전계를 인가함과 동시에 기판을 열처리하여 상기 비정질 실리콘층을 다결정 실리콘으로 결정화하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.
그리고 상기와 같은 다결정화 방법을 이용한 박막트랜지스터 제조방법은 절연기판 상에 버퍼층을 형성하는 공정과, 상기 버퍼층 상에 표면저항 가열물질을 형성하는 공정과, 상기 표면저항 가열물질 상에 비정질 실리콘층을 형성하는 공정과, 상기 표면저항 가열물질에 전계를 인가함과 동시에 기판을 열처리하여 상기 비정질 실리콘층을 다결정 실리콘층으로 결정화하는 공정과, 상기 다결정 실리콘층을 섬 모양의 반도체층으로 패터닝하는 공정과, 상기 반도체층을 포함한 전면에 게이트 절연막을 형성하는 공정과, 상기 게이트 절연막 상의 소정부위에 게이트 전극을 형성하는 공정과, 상기 반도체층에서 상기 게이트 전극과 중첩되지 않는 영역을 이온 도핑하여 소스/드레인 영역을 형성하는 공정과, 상기 반도체층을 활성화시키는 공정과, 상기 반도체층과 게이트 전극 상에 층간절연막을 형성한 후, 상기 소스/드레인 영역의 일부를 노출시키는 공정과, 노출된 상기 소스/드레인 영역과 연결되도록 소스 전극과 드레인 전극을 형성하는 공정을 포함하여 이루어진다.
또한, 상기와 같은 박막트랜지스터를 이용한 액정표시장치 제조방법은 제 1 기판과 제 2 기판을 준비하는 공정과, 상기 제 1 기판 상에 버퍼층을 형성하는 공정과, 상기 버퍼층 상에 표면저항 가열물질을 형성하는 공정과, 상기 표면저항 가열물질 상에 비정질 실리콘층을 형성하는 공정과, 상기 비정질 실리콘층 양측면의 소정부위를 식각하여 상기 표면저항 가열물질을 노출시키는 공정과, 상기 노출된 표면저항 가열물질상에 전극을 형성하는 공정과, 상기 전극에 전계를 인가함과 동시에 기판을 열처리하여 상기 비정질 실리콘층을 다결정 실리콘층으로 결정화하는 공정과, 상기 다결정 실리콘층을 섬 모양의 반도체층으로 패터닝하는 공정과, 상기 반도체층을 포함한 전면에 게이트 절연막을 형성하는 공정과, 상기 게이트 절연막 상의 소정부위에 게이트 전극 및 게이트 라인들을 형성하는 공정과, 상기 반도체층에서 상기 게이트 전극과 중첩되지 않는 영역을 도핑하여 소스/드레인 영역을 형성하는 공정과, 상기 반도체층을 활성화시키는 공정과, 상기 반도체층과 게이트 전극 상에 제 1 절연막을 형성한 후, 상기 소스/드레인 영역을 노출시키는 공정과, 노출된 상기 소스/드레인 영역과 연결되도록 소스/드레인 전극 및 데이터 라인들을 형성하는 공정과, 상기 드레인 전극과 전기적으로 연결되는 화소전극을 형성하는 공정과, 상기 제 1 기판과 제 2 기판 사이에 액정층을 형성하는 공정을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.
이하, 도면을 참조하여 본 발명에 따른 다결정화 방법 및 그를 이용한 박막트랜지스터 제조방법을 설명한다.
도 2a 내지 2c는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 다결정화 방법을 설명하기 위한 공정단면도이고, 도 3a 내지 3c는 본 발명의 제 2 실시예에 따른 다결정화 방법을 설명하기 위한 공정단면도이다.
도 2a에 도시한 바와 같이, 절연기판(201) 상에 실리콘 산화막(SiO2) 또는 실리콘 질화막(SiNx) 재질의 버퍼층(202)을 화학기상증착법을 이용하여 형성한 후, 상기 버퍼층(202) 상에 표면저항 가열물질(204)을 형성한다.
상기 표면저항 가열물질(204)은 향후 비정질 실리콘층의 결정화 작업을 위해 형성하는 것으로서, 그 재료로서는 인(P) 또는 붕소(B)가 도핑된 비정질 실리콘을 이용하거나 미세결정질 실리콘(Microcrystalline Si) 등이 사용된다.
이후, 상기 표면저항 가열물질(204) 상에 SiH4 와 H2 혼합가스를 플라즈마 화학기상증착(Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition)법을 이용하여 비정질 실리콘(a-Si:H)층(203)을 형성한다.
도 2b에 도시한 바와 같이, 상기 비정질 실리콘층(203)의 양 측면의 소정부위를 식각하여 상기 표면저항 가열물질(204)을 드러나게 한 다음, 상기 표면저항 가열물질(204) 상에 전계를 인가하기 위한 전극(205)을 부가한다. 이때, 상기 전극(205)용 물질로는 몰리브덴(Mo), 그라파이트(Graphite) 등이 이용된다.
상기 전극(205)에 일정 조건의 전계를 인가하고 동시에 기판을 열처리하여 상기 비정질 실리콘층을 결정화시킨다. 이때, 인가 전압은 10∼500V/cm, 인가 시간은 15∼300분, 기판의 열처리 온도는 400∼600℃ 정도가 적당하다.
이상과 같은 결정화 공정에 의해, 도 2c에 도시한 바와 같이, 상기 비정질 실리콘층(203)이 다결정 실리콘(206)으로 결정화되는데, 그 결정화 과정은 다음과 같다.
상기 표면저항 가열물질에 전계가 인가됨으로 인해 표면저항 가열물질 상에 형성되어 있는 비정질 실리콘층에 국부적인 표면 가열 효과가 발생되어, 기판의 열처리 온도보다 더 높은 상태가 된다. 즉, 기판의 열처리 온도가 500℃ 라면, 비정질 실리콘층은 약 600℃의 높은 온도가 발생된다.
따라서, 다결정 실리콘으로의 결정화 반응이 급속히 진행되며, 저온 공정으로 결정화 공정이 진행됨에도 불구하고 이 때, 결정화된 다결정 실리콘층은 고온 다결정 실리콘 박막 특성을 갖는다.
한편, 상기 비정질 실리콘층의 온도가 기판에 비해 상대적으로 높기 때문에 기판으로의 열유입이 예상되나, 기판 상에 형성되어 있는 저열전도성의 버퍼층에 의해 열유입을 최소화할 수 있다.
본 발명의 제 2 실시예에 따른 다결정화 방법을 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
도 3a 에 도시한 바와 같이, 절연기판(201) 상에 실리콘 산화막 재질의 버퍼층(202)을 형성한 후, 상기 버퍼층(202) 상에 SiH4 와 H2 혼합가스를 플라즈마 화학기상증착(Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition)법을 이용하여 비정질 실리콘(a-Si:H)층(203)을 형성한다.
이어, 상기 비정질 실리콘층(203) 상에 표면저항 가열물질(204)을 형성한다.
상기 표면저항 가열물질(203)은 향후 비정질 실리콘층의 결정화 작업을 위해 형성하는 것으로서, 그 재료로서는 인(P) 또는 붕소(B)가 도핑된 비정질 실리콘을 이용하거나 미세결정질 실리콘 등이 사용된다.
도 3b에 도시한 바와 같이, 상기 표면저항 가열물질(204)상의 좌우 소정부위에 전계를 인가하기 위한 전극(205)을 부가한다.
이때, 상기 전극(205)용 물질로는 몰리브덴(Mo), 그라파이트(Graphite) 등이 이용된다.
상기 전극(205)에 일정 조건의 전계를 인가하고 동시에 기판을 열처리하여 상기 비정질 실리콘층을 결정화시킨다. 이때, 인가 전압은 10∼500V/cm, 인가 시간은 15∼300분, 기판의 열처리 온도는 400∼600℃ 정도가 적당하다.
이상과 같은 결정화 공정에 의해, 도 3c에 도시한 바와 같이, 상기 비정질 실리콘층(203)이 다결정 실리콘(206)으로 결정화되는데, 그 결정화 과정은 본 발명의 제 1 실시예와 동일하다.
이와 같은 다결정화 방법을 이용한 박막트랜지스터 제조공정을 설명하면 다음과 같다.
도 4a 내지 4e는 본 발명의 제 1, 제 2 실시예에 따른 다결정화 방법을 이용한 박막트랜지스터 제조방법을 설명하기 위한 공정단면도이다.
도 4a에 도시한 바와 같이, 절연기판(201) 상에 화학기상증착법을 이용하여 실리콘 산화막 또는 실리콘 질화막 재질의 버퍼층(202)과 비정질 실리콘층(a-Si:H)(203)을 순차적으로 적층한다. 여기서, 상기 버퍼층(202)은 절연기판(201)의 불순물 성분이 비정질 실리콘층(203)으로 확산되는 것을 방지하기 위한 것이며, 상기 비정질 실리콘층(203)은 SiH4 와 H2 혼합가스를 이용한 플라즈마 화학기상증착법(PECVD)으로 형성한다.
이후, 상기 비정질 실리콘층(203) 상에 표면저항 가열물질(204)을 형성한다.
상기 표면저항 가열물질(204)은 향후 비정질 실리콘층의 결정화 작업을 위해 형성하는 것으로서, 그 재료로서는 인(P) 또는 붕소(B)가 도핑된 비정질 실리콘을 이용하거나 미세결정질 실리콘(Microcrystalline Si) 등이 사용된다.
한편, 상기 표면저항 가열물질을 먼저 적층하고 그 상층에 비정질 실리콘층을 형성하는 본 발명의 제 1 실시예에 따라 형성하는 것도 가능하다.
이어, 도 4b에 도시한 바와 같이, 상기 표면저항 가열물질(204) 상의 좌우 소정 영역에 전계를 인가하기 위한 전극(205)을 부가한다. 이때, 상기 전극(205)의 물질로서는 몰리브덴(Mo), 그라파이트(Graphite) 등을 사용한다.
이후, 상기 전극(205)에 일정 조건의 전계를 인가하고, 동시에 기판을 열처리하여 상기 비정질 실리콘층(203)을 결정화시킨다. 이때, 상기 전극(205)에 인가되는 전압은 10∼500V/cm이고, 인가 시간은 약 15∼300분정도로 하며, 열처리 온도는 400∼600℃ 로 설정하는 것이 바람직하다.
이와 같은 과정을 통해 비정질 실리콘층(203)을 다결정 실리콘층(206)으로 결정화한 후, 도 4c에 도시한 바와 같이, 상기 다결정 실리콘층(206)을 섬 모양으로 패터닝한 다음, 상기 다결정 실리콘층(206)을 포함한 기판 전면에 실리콘 산화막 또는 실리콘 질화막 재질의 게이트 절연막(207)을 화학기상증착법을 이용하여 형성한다.
이어서, 도 4d에 도시한 바와 같이, 상기 게이트 절연막(207) 상에 AlNd, Mo의 이중의 금속층을 스퍼터링법을 이용하여 차례로 적층한 후, 패터닝하여 이중막 구조의 게이트 전극(208)을 형성한다.
이후, 상기 게이트 전극(208)을 마스크로 하는 이온주입 공정을 통해 상기 게이트 전극(208) 양측의 다결정 실리콘층(206)에 n+ 이온을 주입하여 소스/드레인 영역을 형성하고, 결정화 온도보다 낮은 온도에서 활성화시킨 다음, 상기 게이트 전극(208)을 포함한 기판 전면에 층간절연막(209)을 형성한다.
도 4e에 도시한 바와 같이, 상기 n+ 이온이 도핑된 다결정 실리콘층(206)의 소정영역이 노출되도록 층간절연막(209)과 게이트 절연막(207)을 식각하여 비아 홀(Via hole)을 형성하고, 상기 비아 홀이 충분히 채워지도록 AlNd, Mo의 이중의 금속층을 차례로 적층한 후, 패터닝하여 소스/드레인 전극(210, 211)을 형성하면, 본 발명에 따른 다결정화 방법을 이용한 박막트랜지스터 제조공정이 완료된다.
이하에서는 상기와 같은 박막트랜지스터 제조공정을 이용한 액정표시장치 제조방법을 설명하기로 한다.
도 5a 내지 5f는 본 발명에 따른 액정표시장치 제조방법을 설명하기 위한 공정단면도이다.
도 5a에 도시한 바와 같이, 제 1 기판(201a) 상에 실리콘 산화막 재질의 버퍼층(202)을 형성한 후, 상기 버퍼층(202) 상에 SiH4 와 H4 혼합가스를 이용한 플라즈마 화학기상증착법으로 비정질 실리콘층(203)을 형성한다.
상기 비정질 실리콘층의 상층 또는 하층에 전술한 바와 같이 표면저항 가열물질(도시하지 않음)이 형성된다.
이후, 도 5b에 도시한 바와 같이, 상기 비정질 실리콘층(203)을 전술한 결정화공정을 통해 다결정 실리콘층(206) 결정화한 다음, 도 5c에 도시한 바와 같이, 박막트랜지스터의 채널층으로 사용될 수 있도록 섬 모양으로 패터닝한다. 이후, 상기 섬 모양의 다결정 실리콘층(206)을 포함한 전면에 실리콘 질화막 또는 실리콘 산화막 재질의 게이트 절연막(207)을 형성한 후, 상기 게이트 절연막 상에 AlNd, Mo 의 이중의 금속층을 적층한 후, 패터닝하여 박막트랜지스터의 게이트 전극(208) 및 게이트 라인(도시하지 않음)을 형성한다.
이후, 도 5d에 도시한 바와 같이, 상기 게이트 전극(208)을 마스크로 상기 다결정 실리콘층(206)에 n+ 이온을 주입하여 소스/드레인 영역을 형성하고 활성화시킨 후, 상기 게이트 전극(208) 및 게이트 라인을 포함한 전면에 층간절연막(209)을 형성한다.
이어, 도 5e에 도시한 바와 같이, 상기 n+ 이온이 주입된 다결정 실리콘층(206)의 소스/드레인 영역의 소정부위가 노출되도록 층간절연막(209) 및 게이트 절연막(207)을 차례로 제거하여 비아 홀을 형성한 후, 상기 비아 홀이 충분히 채워지도록 AlNd, Mo의 이중의 금속막을 형성한 다음 패터닝하여 박막트랜지스터의 소스 전극(210)과 드레인 전극(211)을 형성한다.
이후, 도 5f에 도시한 바와 같이, 상기 소스/드레인 전극(210, 211)을 포함한 전면에 실리콘 질화막 재질의 제 1 보호막(212)과 BCB(Benzocyclobutene) 재질의 제 2 보호막(213)을 차례로 적층한 후, 상기 드레인 전극(211)이 노출되도록 콘택홀을 형성한다.
이후, 상기 콘택홀을 포함한 기판 전면에 투명도전막 예컨대, ITO(Indium Tin Oxide)를 형성한 후, 패터닝하여 상기 콘택홀을 통해 드레인 전극(211)과 전기적으로 연결되는 화소전극(214)을 형성한다.
이후, 도면에 도시되지 않았지만, 상기 제 1 기판(201a)과 대향되는 제 2 기판 사이에 액정층을 형성하면 본 발명에 따른 액정표시장치 제조공정이 완료된다.
여기서, 상기 제 2 기판에는 색상을 표현하기 위한 칼라필터층이 형성되고, 상기 제 1 기판(201a) 상에 형성된 박막트랜지스터와 게이트 라인 및 데이터 라인으로 빛이 투과되는 것을 방지하기 위한 블랙매트릭스 패턴이 형성되며, 상기 화소전극(214)과 함께 액정층에 전기적 신호를 인가하는 공통전극이 형성된다.
이상 상술한 바와 같이, 본 발명의 다결정화 방법 및 이를 이용한 액정표시장치 제조방법은 다음과 같은 효과가 있다.
종래의 금속박막층을 이용한 다결정화 방법에 비해, 금속박막층을 사용하지 않음으로써 잔류 금속으로 인한 문제점이 발생되지 않으며, 비정질 실리콘층의 빠르고 안정적인 결정화를 통해 고온 다결정 실리콘 박막에 상응하는 특성을 가질 수 있다.
또한, 기존의 엑시머 레이저법에 비해서, 장비 투자의 절감을 통해 가격경쟁력을 담보할 수 있는 장점이 있다.
도 1a 내지 1c는 종래 기술에 따른 다결정화 방법을 설명하기 위한 공정단면도.
도 2a 내지 2c는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 다결정화 방법을 설명하기 위한 공정단면도.
도 3a 내지 3c는 본 발명의 제 2 실시예에 따른 다결정화 방법을 설명하기 위한 공정단면도.
도 4a 내지 4e는 본 발명의 다결정화 방법을 이용한 박막트랜지스터 제조방법을 설명하기 위한 공정단면도.
도 5a 내지 5f는 본 발명의 다결정화 방법을 이용한 액정표시장치 제조방법.
도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
201 : 기판 202 : 버퍼층
203 : 비정질 실리콘층 204 : 표면저항 가열물질
205 : 전극
Claims (11)
- 절연기판 상에 버퍼층을 형성하는 단계;상기 버퍼층 상에 표면저항 가열물질을 형성하는 단계;상기 표면저항 가열물질 상에 비정질 실리콘층을 형성하는 단계;상기 비정질 실리콘층 양측면의 소정부위를 식각하여 상기 표면저항 가열물질을 노출시키는 단계;상기 노출된 표면저항 가열물질상에 전극을 형성하는 단계;상기 전극에 전계를 인가함과 동시에 기판을 열처리하여 상기 비정질 실리콘층을 다결정 실리콘으로 결정화하는 단계를 포함하여 이루어지는 다결정화 방법.
- 절연기판 상에 버퍼층을 형성하는 단계;상기 버퍼층 상에 비정질 실리콘층을 형성하는 단계;상기 비정질 실리콘층 상에 표면저항 가열물질을 형성하는 단계;상기 표면저항 가열물질 상의 좌우 소정 영역에 전극을 형성하는 단계;상기 전극에 전계를 인가함과 동시에 기판을 열처리하여 상기 비정질 실리콘층을 다결정 실리콘으로 결정화하는 단계를 포함하여 이루어지는 다결정화 방법.
- 제 1 항 또는 2 항에 있어서, 상기 비정질 실리콘을 결정화하는 단계는,상기 전극에 인가되는 전압이 10∼500V/cm, 인가하는 시간은 15∼300분, 열처리 온도는 400∼600℃의 범위에서 이루어지는 것을 특징으로 하는 다결정화 방법.
- 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 표면저항 가열물질은 전도성 물질로 형성하는 것을 특징으로 하는 다결정화 방법.
- 제 4 항에 있어서, 상기 전도성 물질은 인(P) 또는 붕소(B)가 도핑된 비정질 실리콘 박막이거나 미세결정질 실리콘 박막인 것을 특징으로 하는 다결정화 방법.
- 제 1 기판과 제 2 기판을 준비하는 공정과,상기 제 1 기판 상에 버퍼층을 형성하는 공정과,상기 버퍼층 상에 비정질 실리콘층을 형성하는 공정과,상기 비정질 실리콘층상에 표면저항 가열물질을 형성하는 공정과,상기 표면저항 가열물질 상의 좌우 소정영역에 전극을 형성하는 공정과,상기 전극에 전계를 인가함과 동시에 상기 기판을 열처리하여상기 비정질 실리콘층을 결정화하는 공정과,상기 결정화된 실리콘층을 패터닝하여 섬 모양의 반도체층을 형성하는 공정과,상기 반도체층을 포함한 전면에 게이트 절연막을 형성하는 공정과,상기 게이트 절연막 상의 소정부위에 게이트 전극 및 게이트 라인들을 형성하는 공정과,상기 반도체층에 이온을 도핑하여 소스/드레인 영역을 형성하는 공정과,상기 반도체층을 활성화시키는 공정과,상기 반도체층과 게이트 전극 상에 층간절연막을 형성한 후, 상기 소스/드레인 영역의 일부를 노출시키는 공정과,상기 노출된 반도체층과 연결되도록 소스/드레인 전극 및 데이터 라인들을 형성하는 공정과,상기 드레인 전극과 전기적으로 연결되는 화소전극을 형성하는 공정과,상기 제 1 기판과 제 2 기판 사이에 액정층을 형성하는 공정을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 액정표시장치 제조방법.
- 제 6 항에 있어서, 상기 표면저항 가열물질은 전도성 물질로 형성하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치 제조방법.
- 제 7 항에 있어서, 상기 전도성 물질은 인(P) 또는 붕소(B)가 도핑된 비정질 실리콘 박막이거나 미세결정질 실리콘 박막인 것을 특징으로 하는 액정표시장치 제조방법.
- 제 6 항에 있어서, 상기 비정질 실리콘을 결정화하는 단계는,상기 전극에 인가되는 전압이 10∼500V/cm, 인가하는 시간이 15∼300분, 열처리 온도는 400∼600℃의 범위에서 이루어지는 것을 특징으로 하는 액정표시장치 제조방법.
- 제 6 항에 있어서, 상기 소스/드레인 전극은 AlNd, Mo의 이중층으로 형성하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치 제조방법.
- 제 6 항에 있어서,상기 소스/드레인 전극을 포함한 전면에 실리콘 질화막과 BCB의 이중절연막을 형성하는 공정과,상기 이중절연막을 일부 식각하여 드레인 전극을 노출시켜서 상기 화소전극과 전기적으로 연결하는 공정을 더 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 액정표시장치 제조방법.
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2001
- 2001-05-25 KR KR10-2001-0028958A patent/KR100525436B1/ko not_active IP Right Cessation
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR20020090428A (ko) | 2002-12-05 |
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