KR100524902B1 - 불량 파형 검출 기능을 갖는 트래킹 에러 검출장치 - Google Patents

불량 파형 검출 기능을 갖는 트래킹 에러 검출장치 Download PDF

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Abstract

불량 파형 검출 기능을 갖는 트래킹 에러 검출 장치가 개시된다. 본 발명에 따른 디지탈 다기능 디스크 시스템의 불량 파형 검출 기능을 갖는 트래킹 에러 검출 장치는, 제1신호와 제2신호의 위상 차를 검출하고, 제1신호를 기준으로 제2신호의 위상차를 검출한 결과를 제1위상차 신호로서 출력하고, 제2신호를 기준으로 제1신호의 위상차를 검출한 결과를 제2위상차 신호로서 출력하는 위상 검출 수단, 제1신호 또는 제2신호가 불량 파형인가를 검출하고, 검출된 결과로서 불량 파형이 나타나는 구간에 상응하는 펄스 신호를 생성하여 제1불량 파형 검출 신호로서 출력하는 제1불량 파형 검출수단, 제1신호 또는 제2신호와 제1불량 파형 검출 신호를 논리곱하고, 논리곱된 신호를 출력하는 제1불량 파형 제거 수단, 제1신호 또는 제2신호 중에서 정상 파형을 갖는 신호와, 제1또는 제2위상차 신호를 입력하고, 제1불량 파형 검출 신호에 응답하여 위상차 신호를 소정 시간 지연시켜 제2불량 파형 검출 신호로서 출력하는 제2불량 파형 검출 수단, 제1불량 파형 제거 수단의 출력과 제2불량 파형 검출 신호를 논리곱하고, 논리곱된 신호를 출력하는 제2불량 파형 제거 수단 및 제2불량 파형 제거 수단의 출력을 저역 필터링하여 트래킹 에러 신호로서 출력하는 저역 통과 필터를 구비하는 것을 특징으로한다.

Description

불량 파형 검출 기능을 갖는 트래킹 에러 검출 장치
본 발명은 디지탈 다기능 디스크(Digital Versatile Disc:DVD)시스템의 1빔 방식 트래킹 에러 검출 장치에 관한 것으로서, 특히, 불량 파형 검출 기능을 갖는 트래킹 에러 검출 장치에 관한 것이다.
일반적으로 DVD시스템의 고주파 증폭 회로에서 트래킹 에러를 검출하는 방식 중 1빔(BEAM) 방식은 위상 검출 회로를 사용하여 펄스로 증폭된 2개의 빔 혼합 신호(A, B)의 위상 차를 검출하고, 검출된 값을 저역 통과 필터에서 저역 필터링함으로써 일정한 직류 레벨의 트래킹 에러 신호(TE)를 생성한다. 그러나, 빔이 피트의 중심을 정상적으로 통과하는 경우에도 트래킹 에러 신호 발생 과정 에서 입력 신호(A,B)가 불량 파형으로 변형되어 입력됨으로써 트래킹 에러 신호의 직류 레벨을 증가시키게 되는 경우가 있다.
다시 말해서, DVD시스템에서는 입력 신호(A, B) 중에서 어느 한 신호가 불량 파형으로 변형되어 주기적으로 펄스가 발생되지 않은 형태로 위상 검출부에 입력되는 경우가 흔히 발생할 수 있다. 만일, 이러한 불량 파형이 위상 검출부의 입력으로 인가되면, 입력 신호들(A,B)에 대해서 배타적 논리합된 출력을 생성 함으로써 위상 차를 검출하는 위상 검출기는 펄스가 발생되지 않은 구간에서 하이 레벨의 펄스를 발생시키게 된다. 이러한 펄스는 저역 통과 필터에서 필터링되어 트래킹 에러 신호(TE)의 직류 값으로 나타나게 됨으로써 트래킹 에러 신호(TE)의 직류 전위를 증가시키고, 결국 트래킹 모터를 원치않는 방향으로 움직이게 된다는 문제점이 발생할 수 있다.
종래에는 이러한 문제점을 해결하기 위해, 위상 검출부에서 출력된 위상차 신호와 같은 주기를 갖고, 상기의 위상차 신호보다 일 펄스 만큼 지연된 펄스를 발생시켜 저역 통과 필터의 스위치를 온/오프하도록 제어함으로써 트래킹 에러 신호에 나타나는 직류 값을 최대한 억제하였다. 그러나, 이러한 방법은 트래킹 에러 신호의 직류 전위를 완전하게 '0'로 만들지 못하기 때문에, 그 직류 값이 변화하는 일정 범위를 미리 설정해두어야 한다는 문제점이 있다.
본 발명이 이루고자하는 기술적 과제는, 트래킹 에러 검출 과정에서 불량 파형이 발생하는 경우에 불량 파형을 검출하기위한 제1, 제2불량 파형 검출부를 구비함으로써 트래킹 에러 신호의 직류 전위를 완전한 0로 만들 수 있는 불량 파형 검출 기능을 갖는 트래킹 에러 검출 장치를 제공하는데 있다.
상기 과제를 이루기위해, 본 발명에 따른 불량 파형 검출 기능을 갖는 트래킹 에러 검출 장치는, 디스크로부터 수광한 빔을 4분할하고, 4분할된 빔들을 전류/전압 변환 및 연산 과정을 거친후에 구형파로 변형한 제1 및 제2신호를 이용하여 트래킹 에러 신호를 검출하는 트래킹 에러 검출 장치에 있어서, 제1신호와 제2신호의 위상 차를 검출하고, 제1신호를 기준으로 제2신호의 위상차를 검출한 결과를 제1위상차 신호로서 출력하고, 제2신호를 기준으로 제1신호의 위상차를 검출한 결과를 제2위상차 신호로서 출력하는 위상 검출 수단, 제1신호 또는 제2신호가 불량 파형인가를 검출하고, 검출된 결과로서 불량 파형이 나타나는 구간에 상응하는 펄스 신호를 생성하여 제1불량 파형 검출 신호로서 출력하는 제1불량 파형 검출수단, 제1신호 또는 제2신호와 제1불량 파형 검출 신호를 논리곱하고, 논리곱된 신호를 출력하는 제1불량 파형 제거 수단, 제1신호 또는 제2신호 중에서 정상 파형을 갖는 신호와, 제1또는 제2위상차 신호를 입력하고, 제1불량 파형 검출 신호에 응답하여 위상차 신호를 소정 시간 지연시켜 제2불량 파형 검출 신호로서 출력하는 제2불량 파형 검출 수단, 제1불량 파형 제거 수단의 출력과 제2불량 파형 검출 신호를 논리곱하고, 논리곱된 신호를 출력하는 제2불량 파형 제거 수단 및 제2불량 파형 제거 수단의 출력을 저역 필터링하여 트래킹 에러 신호로서 출력하는 저역 통과 필터로 구성되는 것이 바람직하다.
이하, 본 발명에 따른 불량 파형 검출 기능을 갖는 트래킹 에러 검출 장치에 관하여 첨부된 도면을 참조하여 다음과 같이 설명한다.
도 1은 본 발명에 따른 불량 파형 검출 기능을 갖는 트래킹 에러 검출 장치를 설명하기 위한 블럭도로서, 위상 검출부(100), 제1불량 파형 검출부(110), 제1불량 파형 제거부(130), 제2불량 파형 검출부(120), 제2불량 파형 제거부(140) 및 저역 통과 필터(150)로 구성된다. 여기에서, 제1불량 파형 제거부(110)는 앤드 게이트들(132,134)로 구성되고, 제2불량 파형 제거부(140)는 앤드 게이트들 (142,144)로 구성된다.
위상 검출부(100)에 인가되는 제1신호(A) 및 제2신호(B)는 디스크로부터 수광한 빔의 4분할된 각 빔들을 전류/전압 변환 및 소정의 연산 과정을 거쳐서 구형파로 변형한 신호들이다. 즉, 빔이 피트의 중심을 정상적으로 통과하는 경우에는 위상차를 갖지 않으며, 정상적으로 통과하지 않는 경우에는 위상차를 갖는다. 본 발명은 빔이 피트의 중심을 정상적으로 통과하는데도 제1신호(A) 또는 제2신호(B) 중 한 신호가 불량 파형으로 변형되어 위상차를 갖게 되는 경우에 상기의 불량 파형을 검출 및 제거함으로써 위상 차에 상응하는 트래킹 에러 신호를 출력하지 않도록 제어한다.
도 1에 도시된 위상 검출부(100)는 디스크로부터 수광한 빔의 4분할된 각 빔들을 전류/전압 변환 및 연산 과정을 거친후에 구형파로 변형한 제1 및 제2신호(A및 B)를 입력하여 그 위상 차를 검출하고, 검출된 결과를 제1위상차 신호(PD11)또는 제2위상차 신호(PD12)로서 출력한다. 즉, 위상 검출부(100)는 제1신호(A)를 기준으로 제2신호(B)의 위상차를 검출한 신호를 제1위상차 신호 (PD11)로서 출력하고, 제2신호(B)를 기준으로 제1신호(A)의 위상 차를 검출한 신호를 제2위상차 신호(PD12)로서 출력한다. 제1위상차 신호(PD11)는 두 신호(A,B)의 위상차가 없는 구간에서 로우 레벨을 갖고, 제1신호(A)를 기준으로 위상 차가 발생하는 구간에서 제1신호(A)의 레벨을 갖는다. 또한, 제2위상차 신호(PD12)는 두 신호의 위상차가 없는 구간에서 로우 레벨을 갖고, 제2신호(B)를 기준으로 위상 차가 발생하는 구간에서 제2신호(B)의 레벨을 갖는다. 따라서, 제1위상차 신호(PD11)및 제2위상차 신호(PD12)는 위상이 서로 다른 구간에서 반전된 상태로 나타나며 제1위상차 신호 (PD11) 및 제2위상차 신호(PD12) 중 한 신호는 로우 레벨 상태를 유지한다.
제1불량 파형 검출부(110)는 하이 레벨로 고정되는 리셋 신호(reset)에 응답하여 제1신호(A) 또는 제2신호(B)가 불량 파형으로 변형되었는가를 검출하고, 제1신호(A)와 제2신호(B)의 레벨이 서로 다른 구간 즉, 불량 파형으로 검출된 구간에 상응하는 제1불량 파형 검출 신호(C1)를 생성하여 제1또는 제2위상차 신호(PD11, PD12)에서 검출된 불량 파형의 1/2을 제거하는데 이용한다. 상세한 동작에 관해서는 하기의 도 3 및 도 4를 참조하여 설명하기로 한다.
제1불량 파형 제거부(130)는 위상 검출부(100)에서 출력되는 제1위상 검출 신호(PD11) 또는 제2위상 검출 신호(PD12)를 입력하고, 제1불량 파형 검출부(110)에서 출력되는 제1불량 파형 검출 신호(C1)와 논리곱하여 제1불량 파형 제거 신호(ED11 또는 ED12)를 생성한다. 즉, 앤드 게이트(132)는 제1위상차 신호(PD11)와 제1불량 파형 검출 신호(C1)를 논리곱하여 제1불량 파형 제거 신호(ED11)를 생성한다. 한편, 앤드 게이트(134)는 제2위상차 신호(PD12)와 제1불량 파형 검출 신호(C1)를 논리곱하여 제1불량 파형 제거 신호(ED12)를 생성한다. 여기에서, 제2신호(B)가 불량 파형으로 나타나는 경우에는 앤드 게이트(132)의 출력이 제1불량 파형 제거 신호(ED11)가 된다. 제1신호(A)가 불량 파형으로 나타나는 경우에는 앤드 게이트(134)의 출력이 제1불량 파형 제거 신호(ED12)가 된다. 이 때, 불량 파형 제거 신호를 생성하지 않는 앤드 게이트는 로우 레벨의 출력 상태를 유지한다. 여기에서, 제1불량 파형 제거부(130)의 출력은 제1및 제2위상차 신호(PD11, PD12)에서 검출된 불량 파형의 1/2이 제거된 신호이다.
제2불량 파형 검출부(120)는 제1불량 파형 검출 신호(C1)와, 상기 제1신호(A) 또는 제2신호(B) 중에서 정상 파형을 갖는 신호를 입력하여 위상차 신호(PD11또는 PD12)를 소정 시간 지연시켜 제2불량 파형 검출 신호(C2 또는 C3)로서 출력한다. 여기에서, 제2불량 파형 검출 신호(C2 또는 C3)는 1/2이 제거된 불량 파형의 나머지 1/2를 제거하기 위해 이용되는 신호이다. 이러한 제2불량 파형 검출부(120)의 상세한 동작에 관해서는 하기의 도 5 및 도 6을 참조하여 설명하기로한다.
제2불량 파형 제거부(140)는 제1불량 파형 제거부(130)에서 출력된 제1불량 파형 제거 신호(ED11 또는 ED12)와 제2불량 파형 검출 신호(C2 또는 C3)를 논리곱하여 상기의 제1불량 파형 제거부(130)에서 제거된 불량 파형의 나머지 1/2이 제거된 제2불량 파형 제거 신호(ED21 또는 ED22)를 생성한다. 여기에서, 앤드 게이트들(142, 144)의 출력은 모두 로우 레벨이 된다.
저역 통과 필터(150)는 제2불량 파형 제거 신호(ED21 또는 ED22)를 입력하여 저역 필터링하고, 필터링된 결과를 트래킹 에러 신호(TE)로서 출력한다.
도 2(a)~2(g)는 도 1에 도시된 장치의 각 단자들의 파형도들로서, 2(a)는 위상 검출부(100)에 입력되는 제1신호(A)를 나타내고, 2(b)는 위상 검출부(100)에 입력되는 제2신호(B)를 나타내고, 2(c)는 위상 검출부(100)에서 출력된 제1위상차 신호(PD11)를 나타내고, 2(d)는 제1불량 파형 검출부(110)에서 출력된 제1불량 파형 검출 신호(C1)를 나타내고, 2(e)는 제1불량 파형 제거부 (130)의 출력을 나타내고, 2(f)는 제2불량 파형 검출부(120)에서 출력된 제2불량 파형 검출 신호(C2 또는 C3)를 나타내고 2(g)는 제2불량 파형 제거부(140)의 출력을 나타낸다.
도 1 및 도 2를 참조하여 본 발명에 따른 불량 파형 검출 기능을 갖는 트래킹 에러 검출 장치의 동작에 관하여 상세히 살펴보면 다음과 같다.
우선, 도 2(a)에 도시된 제1신호(A)는 정상 신호로서 입력되고, 2(b)에 도시된 제2신호(B)가 불량 파형으로 나타난다고 가정하고 설명한다. 즉, 제2신호 (B)는 정상적인 제1신호(A)를 기준으로 할때 주기적으로 펄스가 빠져있는 상태의 펄스로서 나타난다. 제1신호(A)와 제2신호(B)의 배타적 논리합된 결과를 위상차 신호로서 나타내는 위상 검출부(100)의 출력은 도 2(c)에 도시된 제1위상차 신호(PD11)이다. 여기에서, 만약 불량 파형으로 나타나는 신호가 제2신호(B)가 아닌 제1신호(A)라면 위상 검출부(100)에서 출력되는 제2위상차 신호(PD12)가 도 2(c)의 파형과 같이 나타난다. 이 때, 도 2(c)에 도시된 제1위상차 신호(PD11)는 정상적인 제1신호(A)를 기준으로하여 제2신호(B)에서 누락되어 있는 펄스들만으로 이루어진 형태를 갖는다. 이 때, 제1불량 파형 검출부(110)에 인가되는 리셋 신호 (reset)는 하이 레벨로 고정되며, 제1위상차 신호(PD11)에서 검출된 펄스의 1/2을 제거하기 위해 제2신호(B)의 펄스가 없는 구간에서 하이 레벨의 펄스를 생성한다. 상기의 하이 레벨의 펄스는 도 2(d)에 도시된 제1불량 파형 검출 신호(C1)를 나타낸다. 제1불량 파형 검출 신호(C1)는 제1불량 파형 제거부(130)의 앤드 게이트 (132)로 인가되어 제1위상차 신호(PD11)와 논리곱되고, 도 2(e)에 도시된 제1불량 파형 제거 신호(ED11)를 생성한다.
상술한 바와 같이, 제1불량 파형 제거부(130)에서는 제1위상차 신호(PD11)에서 검출된 불량 파형에서 1/2만큼이 제거된다. 한편, 제2불량 파형 검출부(120)는 제2신호(B)의 불량 파형의 나머지 1/2를 제거하기 위해, 제1위상차 신호(PD11), 제1신호(A) 및 제1불량 파형 검출부(110)의 출력을 입력으로하여 도 2(f)에 도시된 제2불량 파형 검출 신호(C2)를 생성한다. 즉, 제2불량 파형 검출 신호(C2)는 제1불량 파형 검출 신호(C1)에 응답하여 발생되며, 제1불량 파형 제거 신호(ED11)와 파형이 중복되지 않도록 하기 위해, 제1위상차 신호(PD11)보다 소정 시간 지연시켜 생성한다. 이러한 제2불량 파형 검출 신호(C2)는 제2불량 파형 제거부(140)의 앤드 게이트(142)에서 제1불량 파형 제거 신호(ED11)와 논리곱되어 도 2(g)에 도시된 로우 레벨의 제2불량 파형 제거 신호(ED21)를 생성한다. 따라서, 저역 통과 필터(150)를 통하여 출력되는 트래킹 에러 신호(TE)는 제2신호(B)에서 발생된 불량 파형을 제거함으로써 0의 직류 전위를 갖게 된다.
도 3은 도 1에 도시된 트래킹 에러 검출 장치의 제1불량 파형 검출부(110)를 설명하기 위한 바람직한 일실시예의 회로도로서, 낸드 게이트(32), 인버터(34), 플립플롭(36) 및 앤드 게이트(38)로 구성된다.
도 4(a)~4(e)는 도 3에 도시된 제1불량 파형 검출부(110)의 각 단자들의 파형도들로서, 4(a)와 4(b)는 각각 제1및 제2신호(A및 B)를 나타내고, 4(c)는 낸드 게이트(32)의 출력을 나타내고, 4(d)는 플립플롭(36)의 정출력(Q)을 나타내고, 4(e)는 제1불량 파형 검출 신호(C1)를 나타낸다.
도 3및 도 4를 참조하여 제1불량 파형 검출부(110)의 동작을 상세히 설명 하면 다음과 같다.
도 3에 도시된 낸드 게이트(32)는 도 4(a)에 도시된 제1신호(A)와 4(b)에 도시된 제2신호(B)를 반전 논리곱하여 도 4(c)에 도시된 바와 같이 두 신호가 하이 레벨을 갖는 경우에만 로우 레벨을 갖는 펄스 신호를 생성한다. 상기의 펄스 신호 는 플립플롭(36)의 클럭 신호(CK)로서 입력된다. 플립플롭(36)은 하이 레벨로 고정되는 외부 리셋 신호(reset)의 반전된 신호를 리셋 신호(RN)로서 입력하며 부출력 신호(QN)와 연결된 입력 데이타(D)를 갖는다, 따라서, 플립플롭(36)은 리셋 신호(RN)가 로우 레벨인 상태에서 클럭 입력되는 낸드 게이트(32)의 출력에 응답하여 입력 데이타(D)를 정출력 단자(Q)로 출력한다. 결과적으로 도 4(d)에 도시된 플립플롭(36)의 정출력(Q)은 도 4(c)에 도시된 낸드 게이트(32)의 출력을 2분주한 신호가 된다. 이 때, 플립플롭(36)의 정출력(Q)은 앤드 게이트(38)에서 낸드 게이트(32)의 출력과 논리곱되며, 결과적으로 두 신호가 하이 레벨인 구간에서만 하이 레벨을 갖는 도 4(e)에 도시된 제1불량 파형 검출 신호(C1)을 생성한다. 이러한 제1불량 파형 검출 신호(C1)는 제2신호(B)의 펄스가 없는 모든 구간에서 하이 레벨을 갖는 것이 아니라, 한 펄스 씩 건너뛴 형태로 생성됨으로써 불량 펄스의 1/2을 제거할 수 있도록한다.
도 5는 도 1에 도시된 트래킹 에러 검출 장치의 제2불량 파형 검출부(120)를 설명하기 위한 바람직한 일실시예의 회로도로서, 인버터들(51,53), 플립플롭(55), 인버터들(57,58), 플립플롭(59), 제1지연부(60) 및 제2지연부(65)로 구성된다.
도 6(a)~6(d)는 도 5에 도시된 제2불량 파형 검출부(120)의 각 단자의 파형도들로서, 6(a)는 위상 검출부(100)의 출력을 나타내고, 6(b)는 제1신호(A)를 나타내고, 6(c)는 제1불량 파형 검출부(110)의 출력을 나타내고, 6(d)는 제2불량 파형 검출부(120)의 출력을 나타낸다.
도 6(a)에 도시된 제1불량 파형 제거부(130)의 출력 즉, 제1불량 파형 제거 신호(ED11)는 제2불량 파형 검출부(120)의 플립플롭(55)으로 데이타 입력된다. 또한, 플립플롭(55)은 정상적인 신호로서 입력되는 도 6(b)에 도시된 제1신호(A)의 반전된 신호를 클럭 신호(CK)로서 입력하고, 도 6(c)에 도시된 제1불량 파형 검출 신호(C1)의 반전된 신호를 리셋 신호(RN)로서 입력한다. 만약, 제1신호(A)가 불량 파형이고 제2신호(B)가 정상적인 신호라면 제2신호(B)를 클럭 신호(CK)로 이용할 수 있다. 따라서, 플립플롭(55)은 제1신호(A)의 반전된 신호에 응답하여 제1불량 파형 검출 신호(C1)의 반전된 신호를 출력하며, 이러한 신호는 제1지연부(60)에서 소정 시간 지연되어 도 6(d)에 도시된 제2불량 파형 검출 신호(C2)로서 생성된다. 결과적으로, 도 6(c)에 도시된 제1불량 파형 검출 신호(C1)를 이용하여 플립플롭(55)이 리셋되는 구간을 제어함으로써 제2불량 파형 검출 신호(C2)는 제1위상차 신호(PD11)의 펄스폭보다 폭이 좁은 펄스로서 생성된다. 즉, 플립플롭 (55)의 정출력(Q)은 리셋 신호(RN)가 로우 레벨로 인에이블된 구간에서만 생성되고, 제1지연부(60)의 인버터들(60a~60h)의 수만큼 소정 시간 지연되어 제2불량 파형 검출 신호(C2)로서 출력된다. 여기에서, 플립플롭(55)의 정출력(Q)을 제1위상차 신호(PD11)보다 소정 시간 지연시켜 출력하는 것은 제1불량 파형 제거 신호(ED11)와 겹쳐지지 않도록하기 위해서이며, 제1불량 파형 제거 신호(ED11)와 제2불량 파형 검출 신호(C2)는 도 1의 앤드 게이트(142)에서 논리곱된다. 도 5에 도시된 실시예에서 제1및 제2지연부(60 및 65)는 직렬 연결된 8개의 인버터들로 이루어져 있으나, 설계 방식에 따라서 그 수는 가변될 수 있다.
즉, 제2불량 파형 검출 신호(C2)는 제1위상차 신호(PD11)에서 1/2이 제거된 상태인 제1불량 파형 제거 신호(ED11)를 제거하기 위한 펄스 신호이다. 즉, 제2불량 파형 제거부(140)는 제1불량 파형 제거 신호(ED11)와 제2불량 파형 검출 신호(C2)를 논리곱하여 완전한 로우 레벨의 제2불량 파형 제거 신호(ED21)를 생성하게 된다.
상술한 바에 의하면, 제2신호(B)가 불량 파형으로 나타나는 경우에는 플립플롭(55)과 제1지연부(60)를 통해서 생성된 신호가 제2불량 파형 검출 신호(C2)로서 출력되지만, 만일 제1신호(A)가 불량 파형으로 나타난다면, 플립플롭(59)과 제2지연부(65)를 통해서 생성된 신호가 제2불량 파형 검출 신호(C3)로 출력됨을 알 수 있다.
본 발명에 따르면, 제1 및 제2불량 펄스 검출부를 구비함으로써 트래킹 에러 검출 장치에 입력되는 입력 신호가 불량 파형으로 변형되는 경우에 이를 완전하게 제거함으로써 트래킹 에러 신호의 직류 전위를 완전히 '0'으로 만들수 있다는 효과가 있다.
도 1은 본 발명에 따른 불량 파형 검출 기능을 갖는 트래킹 에러 검출 장치를 설명하기 위한 블럭도이다.
도 2(a)~2(g)는 도 1에 도시된 장치의 각 단자들의 파형도들이다.
도 3은 도 1에 도시된 장치의 제1불량 파형 검출부를 설명하기 위한 바람직한 일실시예의 회로도이다.
도 4(a)~4(e)는 도 3에 도시된 제1불량 파형 검출부의 각 단자들의 파형도들이다.
도 5는 도 1에 도시된 장치의 제2불량 파형 검출부를 설명하기 위한 바람직한 일실시예의 회로도이다.
도 6(a)~6(d)는 도 5에 도시된 제2불량 파형 검출부의 각 단자들의 파형도들이다.

Claims (6)

  1. 디스크로부터 수광한 빔을 4분할하고, 상기 4분할된 빔들을 전류/전압 변환 및 연산 과정을 거친후에 구형파로 변형한 제1 및 제2신호를 이용하여 트래킹 에러 신호를 검출하는 트래킹 에러 검출 장치에 있어서,
    상기 제1신호와 상기 제2신호의 위상 차를 검출하고, 상기 제1신호를 기준으로 상기 제2신호의 위상차를 검출한 결과를 제1위상차 신호로서 출력하고, 상기 제2신호를 기준으로 상기 제1신호의 위상차를 검출한 결과를 제2위상차 신호로서 출력하는 위상 검출 수단;
    상기 제1신호 또는 상기 제2신호가 불량 파형인가를 검출하고, 상기 검출된결과로서 불량 파형이 나타나는 구간에 상응하는 펄스 신호를 생성하여 제1불량 파형 검출 신호로서 출력하는 제1불량 파형 검출수단;
    상기 제1신호 또는 상기 제2신호와 상기 제1불량 파형 검출 신호를 논리곱하고, 상기 논리곱된 신호를 출력하는 제1불량 파형 제거 수단;
    상기 제1신호 또는 제2신호 중에서 정상 파형을 갖는 신호와, 상기 제1 또는 제2위상차 신호를 입력하고, 상기 제1불량 파형 검출 신호에 응답하여 상기 위상차 신호를 소정 시간 지연시켜 제2불량 파형 검출 신호로서 출력하는 제2불량 파형 검출 수단;
    상기 제1불량 파형 제거 수단의 출력과 상기 제2불량 파형 검출 신호를 논리곱하고, 상기 논리곱된 신호를 출력하는 제2불량 파형 제거 수단; 및
    상기 제2불량 파형 제거 수단의 출력을 저역 필터링하여 트래킹 에러 신호로서 출력하는 저역 통과 필터를 포함하는 것을 특징으로하는 불량 파형 검출 기능을 갖는 트래킹 에러 검출 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제1불량 파형 검출 수단은,
    상기 제1신호와 상기 제2신호를 반전 논리곱하는 제1반전 논리곱 수단;
    소정의 리셋 신호에 응답하여 리셋되고, 상기 제1반전 논리곱 수단의 출력에 응답하여 인가된 데이타를 정출력 단자로 출력하는 제1플립플롭; 및
    상기 제1반전 논리곱 수단의 출력과 상기 제1플립플롭의 정출력을 논리곱하여 상기 제1불량 파형 검출 신호로서 출력하는 제1논리곱 수단을 포함하고,
    상기 제1플립플롭의 입력 데이타는 상기 제1플립플롭의 부출력과 연결된 것을 특징으로하는 불량 파형 검출 기능을 갖는 트래킹 에러 검출 장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 제1불량 파형 검출 수단은,
    상기 제1위상차 신호 또는 제2위상차 신호에서 검출된 불량 파형의 1/2를 제거하기 위한 펄스를 생성하는 것을 특징으로하는 불량 파형 검출 기능을 갖는 트래킹 에러 검출 장치.
  4. 제1항에 있어서, 상기 제2불량 파형 검출 수단은,
    상기 제1신호를 반전시키는 제1인버터;
    상기 제1불량 파형 검출 신호의 반전된 신호를 리셋 신호로서 입력하고, 상기 제1인버터의 출력에 응답하여 상기 제1위상차 신호를 출력하는 제2플립플롭;
    상기 제2플립플롭의 출력을 소정시간 지연시켜 제2불량 파형 검출 신호로서 출력하는 제1지연 수단;
    상기 제2신호를 반전시키는 제2인버터;
    상기 제1불량 파형 검출 신호의 반전된 신호를 리셋 신호로서 입력하고, 상기 제2인버터의 출력에 응답하여 상기 제2위상차 신호를 출력하는 제3플립플롭; 및
    상기 제3플립플롭의 출력을 소정 시간 지연시켜 상기 제2불량 파형 검출 신호로서 출력하는 제2지연 수단을 포함하는 것을 특징으로하는 불량 파형 검출 기능을 갖는 트래킹 에러 검출 장치.
  5. 제4항에 있어서, 상기 제1지연 수단 및 제2지연 수단은, 직렬 연결된 복수 개의 인버터들로 이루어진 것을 특징으로하는 불량 파형 검출 기능을 갖는 트래킹 에러 검출 장치.
  6. 제1항에 있어서, 상기 제2불량 파형 검출 수단은,
    상기 제1불량 파형 검출 수단에서 검출된 불량 파형의 나머지 1/2를 제거하기 위한 펄스를 생성하는 것을 특징으로하는 불량 파형 검출 기능을 갖는 트래킹 에러 검출 장치.
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