KR100494894B1 - 공정 패널 형상 측정 세팅장치 - Google Patents

공정 패널 형상 측정 세팅장치 Download PDF

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Abstract

본 발명은 공정 금형 위에 세팅되는 공정 패널의 상태를 일정하게 유지함으로써 보다 나은 품질의 측정 데이터를 얻을 수 있는 공정 패널 형상 측정 세팅장치에 관한 것이다. 본 발명은 공정 금형 상에 놓여지는 공정 패널의 형상을 측정하여 공정 패널의 변형정도를 측정하는 공정 패널 형상 측정장치에 있어서, 평평한 바닥면을 기준으로 세팅되는 공정 금형과; 상기 공정 금형 상에 놓여지는 공정 패널과; 상기 공정 금형과 공정 패널 사이에 장착되어 상기 공정 패널을 상기 공정 금형으로부터 높이방향으로 일정한 간격으로 이격되도록 세팅(Setting)하는 세팅부를 포함하여 구성한다.

Description

공정 패널 형상 측정 세팅장치{PANEL SETTING DEVICE}
본 발명은 공정 패널 측정장치에 관한 것으로서, 특히 공정 패널 형상 측정 세팅장치에 관한 것이다.
통상적으로, 종래 기술에 따른 공정 패널(140) 형상 측정장치의 구성은 공정 금형(110), 3차원 측정기(120), 공정 패널(140) 세팅(Setting)을 위한 세팅 치구(130)(볼트 등), 공정 패널(140), 공정 캐드 데이터(150)(CAD Data)를 포함하여 구성한다.
이러한 구성으로 종래에는 프레스 금형 공정 패널(140)의 형상을 3차원 측정기(120)로 측정하여 공정 금형(110) 또는 공정 캐드 데이터(150)와 공정 패널(140)의 변형정도를 측정하고자 할 때 전용 세팅 치구가 없어 전술한 바와 같이 볼트 등을 사용한다.
일반적으로, 공정 금형(110) 위에 공정 패널(140)을 직접 세팅할 경우에는 공정 패널(140)의 탄성으로 인하여 줄어든 부분(A)에 변형이 발생하기에 공정 금형(110)으로부터 일정 거리를 높여서 측정한다.
위와 같은 방법을 사용할 때 종래에는 공정 패널(140)을 공정 금형(110) 위에 세팅하여 3차원 측정기(120)로 측정하려고 할 때 도 1과 도 2에 도시된 바와 같이 세팅 치구(130)가 형상면에 법선 방향으로 세팅됨으로 접촉되는 부분과 미접촉 부분이 존재하며, 미접촉 부분에는 처짐 등으로 인해 공정 패널(140) 변형이 발생하는 문제점이 있었다.
본 발명의 목적은 공정 금형 위에 세팅되는 공정 패널의 상태를 일정하게 유지함으로써 보다 나은 품질의 측정 데이터를 얻을 수 있는 공정 패널 형상 측정 세팅장치를 제공하는데 있다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명은 공정 금형 상에 놓여지는 공정 패널의 형상을 측정하여 공정 패널의 변형정도를 측정하는 공정 패널 형상 측정장치에 있어서, 평평한 바닥면을 기준으로 세팅되는 공정 금형과; 상기 공정 금형 상에 놓여지는 공정 패널과; 상기 공정 금형과 공정 패널 사이에 장착되어 상기 공정 패널을 상기 공정 금형으로부터 높이방향으로 일정한 간격으로 이격되도록 세팅(Setting)하는 세팅부를 포함하여 구성하는 것을 특징으로 한다.
이하 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 하기 설명 및 첨부 도면과 같은 많은 특정 상세들이 본 발명의 보다 전반적인 이해를 제공하기 위해 나타나 있으나, 이들 특정 상세들은 본 발명의 설명을 위해 예시한 것으로 본 발명이 그들에 한정됨을 의미하는 것은 아니다. 그리고 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있는 공지 기능 및 구성에 대한 상세한 설명은 생략한다.
도 3 내지 도 5를 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 공정 패널(320) 형상 측정 세팅장치의 구성을 설명한다.
본 발명의 실시예는 공정 금형(310) 상에 놓여지는 공정 패널(320)의 형상을 측정하여 공정 패널(320)의 변형정도를 측정하는 공정 패널(320) 형상 측정장치에 있어서, 평평한 바닥면을 기준으로 세팅되는 공정 금형(310)과; 공정 금형(310) 상에 놓여지는 공정 패널(320)과; 세팅부(330)를 포함하여 구성한다.
세팅부(330)는 공정 금형(310)과 공정 패널(320) 사이에 장착되어 공정 패널(320)을 공정 금형(310)으로부터 높이방향으로 일정한 간격으로 이격되도록 세팅(Setting)하는 부분이다.
즉, 세팅부(330)는 도 3에 도시된 바와 같이 공정 금형(310) 위에 수직으로 설치되어 공정 패널(320)을 지지하는 측정 치구이다.
세팅부(330)는 수직봉(332), 연결봉(334), 수준기(336)를 포함하여 구성한다.
수직봉(332)은 도 3에 도시된 바와 같이 복수개의 조합으로 이루어져 공정 금형(310) 위에서 공정 패널(320)의 일정한 부분을 수직으로 지지한다.
본 발명의 실시예에서 수직봉(332)은 도 3에 도시된 바와 같이 5개로 구성한다.
그리고, 수직봉(332)의 길이방향 양단은 공정 금형(310)과 공정 패널(320)에 점접촉되도록 원뿔형상의 단부가 적절한 크기의 라운딩으로 마무리 가공된 첨단 형상으로 형성한다.
연결봉(334)은 복수개의 수직봉(332)을 상호 연결하여 복수개의 수직봉(332)을 수직한 상태로 유지시키는 기능을 한다.
연결봉(334)은 도 3에 도시된 바와 같이 5쌍의 조합으로 구성된다.
연결봉(334)의 조합 구성에 따른 동위각, 엇각에 의해 각각의 수직봉(332)은 평행한 상태를 유지하게 되며, 공정 금형(310)과 공정 패널(320) 사이에서 수직한 상태를 이루게 된다.
수준기(336)는 복수개의 수직봉(332) 가운데 적어도 한 개 이상의 수직봉에 장착되며, 수직봉(332)의 수직한 상태를 표시한다.
상기한 바와 같이 본 발명의 실시예에 따른 세팅부(330)는 공정 패널(320)을 3차원 측정기로 형상을 측정하여 공정 금형(310) 또는 공정 제품과 비교하여 공정 패널(320)의 변형정도를 측정하고자 할 때 공정 패널(320)을 공정 금형(310) 위에 높이방향으로 일정하게 세팅(Setting)할 수 있다.
즉, 본 발명의 실시예에 따른 세팅부(330)는 공정 패널(320)을 자유 곡면인 공정 금형(310) 위에 세팅시 높이방향으로 일정거리를 유지하고자 할 때 사용한다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 공정 패널(320) 형상 측정을 위한 세팅 완료 상태를 도시한 도면이며, 도 5는 도 4의 "A"부 상세도이다.
도 4를 참조하면, 공정 금형(310) 위에 세팅부(330)를 설치하고 공정 패널(320)을 올려서 세팅을 한 상태이다.
즉, 1공정의 금형 위에 2공정의 패널을 올려서 공정 패널(320)의 변형을 검토하고 있다.
본 발명의 실시예에 따른 공정 금형(310)은 평평한 바닥면을 기준으로 세팅을 하고, 공정 패널(320)을 공정 금형(310) 위에서 세팅부(330)를 통해 일정한 거리를 유지하도록 세팅함으로써 보다 나은 품질의 측정 데이터를 얻을 수 있다.
상술한 바와 같이 본 발명에 따른 공정 패널 형상 측정 세팅장치는 공정 금형과 공정 패널 사이에서 공정 금형으로부터 일정한 높이방향으로 이격되도록 공정 패널을 세팅함으로써 공정 패널의 측정 품질을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.
도 1은 종래 기술에 따른 공정 패널 형상 측정 세팅장치의 구성을 도시한 도면.
도 2는 종래 기술에 따른 공정 패널 형상 측정시 미접촉 부분을 도시한 도면.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 공정 패널 형상 측정 세팅장치의 구성을 도시한 도면.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 공정 패널 형상 측정을 위한 세팅 완료 상태를 도시한 도면.
도 5는 도 4의 "A"부 상세도.

Claims (4)

  1. 삭제
  2. 삭제
  3. 공정 금형 상에 놓여지는 공정 패널의 형상을 측정하여 공정 패널의 변형정도를 측정하는 공정 패널 형상 측정 세팅장치에 있어서,
    평평한 바닥면을 기준으로 세팅되는 공정 금형과;
    상기 공정 금형과 상기 공정 금형 상에 놓여지는 공정 패널 사이에서, 복수개의 조합으로 이루어져 공정 금형 위에서 공정 패널의 일정한 부분을 수직으로 지지하는 수직봉과, 상기 복수개의 수직봉을 상호 연결하여 상기 복수개의 수직봉을 수직한 상태로 유지시키는 연결봉을 포함하여 구성하며, 상기 공정 금형 위에 수직으로 설치된 상태에서 상기 공정 금형 상에 놓여지는 공정 패널을 지지하고, 상기 공정 패널을 상기 공정 금형으로부터 높이방향으로 일정한 간격으로 이격되도록 세팅(Setting)하는 세팅부를 포함하여 구성하는 것을 특징으로 하는 공정 패널 형상 측정 세팅장치.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 세팅부를 구성하는 복수개의 수직봉 가운데 적어도 한 개 이상의 수직봉에 장착되어 상기 수직봉의 수직한 상태를 표시하는 수준기를 더 포함하여 구성하는 것을 특징으로 하는 공정 패널 형상 측정 세팅장치.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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