KR100468024B1 - Loc package - Google Patents
Loc package Download PDFInfo
- Publication number
- KR100468024B1 KR100468024B1 KR1019970029366A KR19970029366A KR100468024B1 KR 100468024 B1 KR100468024 B1 KR 100468024B1 KR 1019970029366 A KR1019970029366 A KR 1019970029366A KR 19970029366 A KR19970029366 A KR 19970029366A KR 100468024 B1 KR100468024 B1 KR 100468024B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- fuse box
- semiconductor chip
- loc package
- inner leads
- adhesive tape
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/28—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
Abstract
본 발명은 반도체칩의 퓨즈박스영역의 보호막 손상을 억제하여 신뢰성을 향상하도록 한 LOC 패키지에 관한 것이다. 본 발명의 목적은 내부리드들의 구조를 변경하여 봉지체의 충전제에 의한 반도체칩의 퓨즈박스영역의 손상을 방지하도록 한 LOC 패키지를 제공하는데 있다. 이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 의한 LOC 패키지는 내부리드들이 반도체칩의 퓨즈박스영역에 겹쳐지지 않도록 다이어태치되거나 반도체칩의 퓨즈박스영역과 겹쳐진 내부리드의 영역에 커버용 절연성 접착테이프가 접착되어 이들 사이의 간격이 좁아지는 것을 특징으로 한다. 이에 의하면, 봉지체의 충전제가 몰딩공정 후에 내부리드에 의한 압력을 상기 퓨즈박스영역의 표면에 전달하지 못하여 퓨즈박스영역의 표면 손상이 방지되고 LOC패키지의 신뢰성이 향상된다.The present invention relates to a LOC package which improves reliability by suppressing damage to a protective film of a fuse box region of a semiconductor chip. An object of the present invention is to provide a LOC package to change the structure of the inner leads to prevent damage to the fuse box region of the semiconductor chip by the filler of the sealing body. LOC package according to the present invention for achieving the above object is a die-attached or adhesive insulating tape for the cover to the area of the inner lead overlapped with the fuse box area of the semiconductor chip so that the inner lead does not overlap the fuse box area of the semiconductor chip And the gap between them is narrowed. According to this, the filler of the encapsulation member does not transmit pressure due to the inner lead to the surface of the fuse box region after the molding process, thereby preventing surface damage of the fuse box region and improving reliability of the LOC package.
Description
본 발명은 LOC 패키지에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 봉지체의 충전제로 인한 반도체칩의 퓨즈박스영역의 보호막 손상을 억제하여 신뢰성을 향상하도록 한 LOC 패키지에 관한 것이다.The present invention relates to a LOC package, and more particularly, to a LOC package that improves reliability by suppressing damage to a protective film in a fuse box region of a semiconductor chip due to an encapsulant filler.
일반적으로 널리 알려진 바와 같이, 최근, 전자기기와 정보기기의 메모리 용량이 대용량화함에 따라 DRAM과 SRAM과 같은 반도체 메모리소자는 고집적화되면서 칩사이즈가 점차 증대하고 있다. 반면에 상기 반도체칩을 내장하는 반도체칩 패키지는 전자기기와 정보기기의 경량화 추세로 인하여 경박단소화되고 있다.As is generally known, in recent years, as memory capacities of electronic devices and information devices are increased, semiconductor memory devices such as DRAM and SRAM are highly integrated and chip sizes are gradually increasing. On the other hand, the semiconductor chip package incorporating the semiconductor chip is light and short due to the light weight of electronic devices and information devices.
반도체칩 패키지의 면적 대비 반도체칩의 면적이 최대 50% 정도였으나, 반도체칩의 다기능화, 고집적화로 인하여 반도체칩의 점유율이 70-80%까지 증가함에 따라 반도체칩의 점유 영역을 제외한 나머지 영역에 내부리드를 평면 배치할 수 있는 공간이 거의 없어지므로 이를 해결하기 위해 LOC(lead on chip) 또는 COL(chip on lead) 형태의 패키지가 개발되었다.The area of the semiconductor chip was up to 50% of the area of the semiconductor chip package, but as the market share of the semiconductor chip increased by 70-80% due to the multifunction and high integration of the semiconductor chip, the internal area of the semiconductor chip package was excluded. Since there is little space for flat lead placement, packages have been developed in the form of lead on chip (LOC) or chip on lead (COL).
도 1은 종래 기술에 의한 LOC 패키지의 구조를 나타낸 요부 평면도이고, 도 2는 도 1의 A-A선을 따라 절단한 단면도이다. 설명의 편의상 도 1 및 도 2를 연관하여 설명하기로 한다.1 is a plan view of main parts showing the structure of a LOC package according to the prior art, and FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line A-A of FIG. 1. For convenience of description, the description will be made with reference to FIGS. 1 and 2.
도시된 바와 같이, LOC리드프레임의 내부리드들(11)의 하부면 내측부가 다이어태치용 접착테이프(13)에 의해 반도체칩(1)의 상부면에 다이어태치되어 있고, 반도체칩(1)의 퓨즈박스영역(3)의 소정 영역(3a),(4a)이 내부리드(11)의 일부 영역 아래에 겹쳐져 있고, 본딩패드들(5)이 본딩와이어(15)에 의해 각각 대응하여 전기적으로 연결되어 있고, 봉지체(17)가 상기 각부를 에워싸고 있다. 여기서, 퓨즈박스영역(3),(4)은 일정 깊이와 넓이를 갖는 노출된 요홈부로서 그 표면에 반도체칩(1)을 테스트한 후 수리(repair)를 하기 위한 패턴들이 형성되어 있다. 점선은 봉지체(17)의 경계선을 나타낸 것이다.As shown, the inner side of the lower surface of the
이와 같이 구성된 LOC 패키지에서는 봉지체(17), 예를 들어 에폭시계 성형수지가 반도체칩(1)과 내부리드들(11) 및 본딩와이어(15)를 외부 환경으로부터 보호하기 위해 봉지하는데, 이때 봉지체(17)가 반도체칩(1)과 내부리드들(11)이 겹쳐지는 빈 공간에도 채워짐은 당연하다.In the LOC package configured as described above, the
그런데, 몰딩공정이 완료되고 나면, 반도체칩(1)과 내부리드(11)의 열팽창계수 차이로 인하여 내부리드(11)가 일정한 압력을 받아 내부리드(11)와 반도체칩(1) 사이에 존재하는 봉지체(17), 특히 봉지체를 구성하는 하나의 물질인 충전제(도시 안됨)에 열적, 기계적 응력을 유발시킨다.However, after the molding process is completed, due to the difference in thermal expansion coefficient between the semiconductor chip 1 and the
그러나, 접착테이프(13)가 반도체칩(1)의 상부면 외측부까지 내부리드들(11)을 따라 연장되지 않았기 때문에 반도체칩(1)의 퓨즈박스영역(3),(4) 이외의 반도체칩(1)의 표면과 내부리드들(11)의 하부면 사이에 접착테이프(13)의 두께에 해당하는 간격(t1)의 빈 공간이 존재하지만, 영역(3a),(4a)과 내부리드들(11) 사이에 접착테이프(13)의 두께와 영역(3a),(4a)의 깊이의 합에 해당하는 간격(t2)의 빈 공간이 존재한다. 따라서, 영역(3a).(4a)에는 간격(t1) 보다 큰 직경의 충전제가 채워지는 경우가 다발하였다.However, since the
여기서, 충전제는 봉지체(17)의 유동성을 조절하고 경도를 높이기 위해 첨가되는 첨가제로서, 수십㎛ 내지 수백㎛의 다양한 직경을 가지며 가끔 수백㎛의 직경을 초과하는 등 다양한 직경을 갖고 있다.Here, the filler is an additive added to control the fluidity of the
이로 인하여 내부리드(11)의 압력이 영역(3a),(4a) 상의 큰 직경을 갖는 충전제를 매개체로 하여 영역(3a),(4a)의 표면을 가압하여 퓨즈박스영역(3a),(4a)의 표면에 형성된 보호층들의 균열을 유발시키고, 심한 경우 그 하부에 존재하는 반도체칩(1)의 회로 또는 메모리셀 까지도 손상시켜 LOC 패키지의 신뢰성을 악화시킨다.As a result, the pressure of the
따라서, 본 발명의 목적은 내부리드들의 구조를 변경하여 봉지체의 충전제에 의한 반도체칩의 퓨즈박스영역의 손상을 방지시키도록 한 LOC 패키지를 제공하는데 있다.Accordingly, it is an object of the present invention to provide a LOC package that changes the structure of the inner leads to prevent damage to the fuse box region of the semiconductor chip by the filler of the encapsulation.
이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 의한 LOC 패키지는 내부리드들이 반도체칩의 퓨즈박스영역에 겹쳐지지 않도록 형성되는 것을 특징으로 한다.LOC package according to the present invention for achieving the above object is characterized in that the inner leads are formed so as not to overlap the fuse box region of the semiconductor chip.
또한, 이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 의한 LOC 패키지는 반도체칩의 퓨즈박스영역과 겹쳐진 내부리드의 영역에 커버수단, 예컨대 커버용 절연성 접착테이프가 접착되는 것을 특징으로 한다.In addition, the LOC package according to the present invention for achieving the above object is characterized in that the cover means, for example, an insulating adhesive tape for the cover is bonded to the region of the inner lead overlapping the fuse box region of the semiconductor chip.
이에 의하면, 봉지체의 큰 직경의 충전제가 내부리드와 퓨즈박스영역 사이에 존재하지 못하므로 몰딩공정 후에 발생하는 내부리드에 의한 압력이 상기 퓨즈박스영역의 표면에 전달되지 못한다. 따라서, 퓨즈박스영역의 표면 보호층 손상이 방지되고 LOC패키지의 신뢰성이 향상되는 것이다.According to this, since the filler of the large diameter of the encapsulation body does not exist between the inner lead and the fuse box region, the pressure caused by the inner lead generated after the molding process is not transmitted to the surface of the fuse box region. Therefore, damage to the surface protective layer of the fuse box region is prevented and reliability of the LOC package is improved.
이하, 본 발명에 의한 LOC 패키지를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다. 종래의 부분과 동일한 구성과 동일한 작용을 하는 부분에는 동일한 부호를 부여한다.Hereinafter, a LOC package according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. The same code | symbol is attached | subjected to the part which has the same structure and the same function as the conventional part.
도 3은 본 발명에 의한 LOC 패키지의 구조를 나타낸 요부 평면도이다.3 is a plan view of principal parts showing the structure of the LOC package according to the present invention.
도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명의 LOC 패키지는 내부리드들(21)이 퓨즈박스영역(3),(4)에 전혀 겹쳐지지 않도록 형성된 것을 제외하면, 도 1의 구조와 동일하다.As shown in FIG. 3, the LOC package of the present invention is the same as the structure of FIG. 1 except that the
이와 같이 구성된 LOC 패키지에서는 봉지체(17), 예를 들어 에폭시계 성형수지가 반도체칩(1)과 내부리드들(11) 및 본딩와이어(15)를 외부 환경으로부터 보호하기 위해 봉지하는데, 이때 내부리드들(11)이 퓨즈박스영역(3),(4)에 겹쳐지지 않으므로 내부리드들(21)과 퓨즈박스영역(3),(4) 사이에 충전제가 전혀 채워질 수 없는 것이다.In the LOC package configured as described above, the
따라서, 본 발명은 몰딩공정 후에 내부리드들(21)의 압력이 발생하더라도 큰 직경의 충전제에 의한 퓨즈박스영역(3),(4)의 표면 보호층의 균열 발생을 방지할 수 있다.Therefore, the present invention can prevent cracking of the surface protective layers of the
도 4는 본 발명에 의한 다른 LOC 패키지의 구조를 나타낸 요부 평면도이고, 도 5는 도 4의 A-A선을 따라 절단한 단면도이다. 설명의 편의상 도 4 및 도 5를 연관하여 설명하기로 한다.Figure 4 is a plan view of the main portion showing the structure of another LOC package according to the present invention, Figure 5 is a cross-sectional view taken along the line A-A of FIG. For convenience of description, the description will be made with reference to FIGS. 4 and 5.
도시된 바와 같이, 본 발명의 LOC 패키지는 퓨즈박스영역(3),(4)의 영역(3a),(4a)에 겹쳐지는 LOC리드프레임의 내부리드(11)의 하부면에 커버수단인 커버용 절연성 접착테이프(41)가 접착된 것을 제외하면, 도 1의 구조와 동일하다. 여기서, 커버용 절연성 접착테이프(41)가 영역(3a),(4a)을 커버하도록 일체로 형성된 폴리이미드 필름이다.As shown, the LOC package of the present invention is a cover which is a cover means on the lower surface of the
이와 같이 구성된 LOC 패키지에서는 내부리드(11)의 일부 영역이 퓨즈박스영역(3),(4)의 영역(3a),(4a)에 겹쳐지더라도 내부리드(11)의 하부면에 접착된 커버수단인 커버용 절연성 접착테이프(41)가 영역(3a),(4a)을 커버하므로 내부리드(11)와 영역(3a).(4a) 사이의 빈 공간 간격이 접착테이프(41)의 두께만큼 좁아진다. 그래서, 봉지체(17)가 영역(3a).(4a)의 빈 공간에 채워지더라도 작은 직경의 충전제만이 채워지고 큰 직경의 충전제가 전혀 채워지지 못하는 것이다.In the LOC package configured as described above, the cover bonded to the lower surface of the
따라서, 몰딩공정 후에 내부리드들(11)에 의한 압력이 발생하더라도 큰 직경의 충전제에 의한 퓨즈박스영역(3),(4)의 표면 보호층의 균열 발생을 방지할 수 있다.Therefore, even if the pressure caused by the inner leads 11 after the molding process, it is possible to prevent the occurrence of cracks in the surface protective layer of the fuse box region (3), (4) by a large diameter filler.
이상에서 살펴본 바와 같이, 본 발명에 의한 LOC 패키지는 내부리드를 퓨즈박스영역에 겹쳐지지 않도록 형성하거나 퓨즈박스영역에 겹쳐질 내부리드의 하부면에 커버용 절연성 접착테이프를 접착하도록 이루어져 있다.As described above, the LOC package according to the present invention is formed so that the inner lead does not overlap the fuse box region or the adhesive insulating tape for the cover is adhered to the lower surface of the inner lead to overlap the fuse box region.
따라서, 본 발명은 몰딩공정 후에 내부리드에 의한 압력이 발생하더라도 큰 직경에 의한 봉지체의 충전제에 의한 퓨즈박스영역의 표면 보호층 손상 발생을 방지하여 LOC패키지의 신뢰성을 향상시킨다.Therefore, the present invention improves the reliability of the LOC package by preventing the occurrence of damage to the surface protection layer of the fuse box region by the filler of the encapsulation material due to the large diameter even if the pressure caused by the inner lead occurs after the molding process.
한편, 본 발명은 하나의 내부리드가 퓨즈박스영역의 일부 영역을 겹쳐지는 것을 도면에 도시하고 있으나 이에 한정하지 않고 다수개의 내부리드들이 해당하는 퓨즈박스영역의 일부 영역을 각각 겹쳐질 수도 있음은 당연하다 할 것이다.Meanwhile, the present invention shows that one inner lead overlaps a portion of the fuse box region, but the present invention is not limited thereto, and a plurality of inner leads may overlap some regions of the corresponding fuse box region. Will do.
도 1은 종래 기술에 의한 LOC 패키지의 구조를 나타낸 요부 평면도.1 is a plan view of main parts showing the structure of a LOC package according to the prior art.
도 2는 도 1의 A-A선을 따라 절단한 단면도.2 is a cross-sectional view taken along the line A-A of FIG.
도 3은 본 발명에 의한 LOC 패키지의 구조를 나타낸 요부 평면도.Figure 3 is a plan view of the main portion showing the structure of the LOC package according to the present invention.
도 4는 본 발명에 의한 다른 LOC 패키지의 구조를 나타낸 요부 평면도.Figure 4 is a plan view of the main portion showing the structure of another LOC package according to the present invention.
도 5는 도 4의 A-A선을 따라 절단한 단면도.5 is a cross-sectional view taken along the line A-A of FIG.
< 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 ><Description of Symbols for Major Parts of Drawings>
1: 반도체칩 3,4: 퓨즈박스(fuse box) 영역 5: 본딩패드 11: 내부리드 13: 다이어태치용 접착테이프 15: 본딩와이어 17: 봉지체 21: 내부리드 41: 커버용 접착테이프DESCRIPTION OF SYMBOLS 1
Claims (4)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019970029366A KR100468024B1 (en) | 1997-06-30 | 1997-06-30 | Loc package |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019970029366A KR100468024B1 (en) | 1997-06-30 | 1997-06-30 | Loc package |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR19990005193A KR19990005193A (en) | 1999-01-25 |
KR100468024B1 true KR100468024B1 (en) | 2005-05-18 |
Family
ID=37302500
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019970029366A KR100468024B1 (en) | 1997-06-30 | 1997-06-30 | Loc package |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100468024B1 (en) |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05315455A (en) * | 1992-05-13 | 1993-11-26 | Hitachi Ltd | Semiconductor device |
JPH0778910A (en) * | 1993-09-07 | 1995-03-20 | Nec Ic Microcomput Syst Ltd | Semiconductor device |
KR970046975U (en) * | 1995-12-28 | 1997-07-31 | Leadframe Structure for Semiconductor Package with Fuse Region | |
KR100196285B1 (en) * | 1996-04-18 | 1999-06-15 | 윤종용 | Addition method of lead and chip, of lead on chip package |
JPH11265939A (en) * | 1998-03-17 | 1999-09-28 | Hitachi Ltd | Semiconductor device and its manufacture |
-
1997
- 1997-06-30 KR KR1019970029366A patent/KR100468024B1/en not_active IP Right Cessation
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05315455A (en) * | 1992-05-13 | 1993-11-26 | Hitachi Ltd | Semiconductor device |
JPH0778910A (en) * | 1993-09-07 | 1995-03-20 | Nec Ic Microcomput Syst Ltd | Semiconductor device |
KR970046975U (en) * | 1995-12-28 | 1997-07-31 | Leadframe Structure for Semiconductor Package with Fuse Region | |
KR100196285B1 (en) * | 1996-04-18 | 1999-06-15 | 윤종용 | Addition method of lead and chip, of lead on chip package |
JPH11265939A (en) * | 1998-03-17 | 1999-09-28 | Hitachi Ltd | Semiconductor device and its manufacture |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR19990005193A (en) | 1999-01-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6777268B2 (en) | Method of fabricating tape attachment chip-on-board assemblies | |
KR100825784B1 (en) | Semiconductor package suppressing a warpage and wire open defects and manufacturing method thereof | |
KR101059629B1 (en) | Semiconductor Package Manufacturing Method | |
US20040018662A1 (en) | Method of manufacturing a semiconductor device | |
JP2958136B2 (en) | Semiconductor integrated circuit device, its manufacturing method and mounting structure | |
US5278101A (en) | Semiconductor device and method for manufacturing the same | |
KR20010022174A (en) | Semiconductor device and method for manufacturing the same | |
KR100468024B1 (en) | Loc package | |
KR100475340B1 (en) | Lead-on Chip Package | |
KR100382965B1 (en) | Resin-sealed semiconductor device and manufacturing method thereof | |
US20060180906A1 (en) | Chip package and producing method thereof | |
US20080088037A1 (en) | Semiconductor package and method for manufacturing the same | |
US11694950B2 (en) | Semiconductor package | |
US11961778B2 (en) | Semiconductor device package having multi-layer molding compound and method | |
KR19990051002A (en) | Laminated package and its manufacturing method | |
US6856028B1 (en) | Semiconductor device having an improved mounting structure | |
KR19980022527A (en) | Chip Scale Package with Clip Leads | |
KR0138301B1 (en) | Lead on chip package | |
US20050067720A1 (en) | Method of forming an encapsulation layer on a back side of a wafer | |
KR20070075925A (en) | Loc type semiconductor chip package having inner lead frame having notch | |
KR19980058400A (en) | Multi-chip package | |
KR19990005518A (en) | Lead-on chip package | |
KR19990050856A (en) | Vijay package and manufacturing method | |
KR19990017845U (en) | Semiconductor package | |
JPH02271557A (en) | Semiconductor device and its manufacture |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |