KR100462371B1 - 밴드갭기준전압발생장치 - Google Patents

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KR100462371B1 KR10-1998-0060027A KR19980060027A KR100462371B1 KR 100462371 B1 KR100462371 B1 KR 100462371B1 KR 19980060027 A KR19980060027 A KR 19980060027A KR 100462371 B1 KR100462371 B1 KR 100462371B1
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Abstract

본 발명은 Band-gap 기준전압발생장치에 관한 것으로서, 4개의 PMOS트랜지스터와, 두 개의 다이오드와 3개의 저항 및 하나의 연산증폭기를 포함하여 레이아웃면적을 줄이고 1 V이하의 인가전압에서도 동작이 가능하다.

Description

밴드갭 기준전압발생장치
본 발명은 Band-gap 기준전압발생장치에 관한 것으로서, 특히 1V이하의 공급전압에 동작할 수 있는 Band-gap 기준전압발생장치에 관한 것이다.
온도의 변화에 관계없는 일정한 기준전압을 제공할 수 있는 Band-gap 기준전압발생장치를 구성하기 위해서는 각 소자의 온도계수를 알아야 한다. 즉 dVBE/dt로 나타나는 음의 온도계수와 d△VBE/dt로 나타내는 양의 온도계수를 가지는 각각의 소자 성질을 이용하여 Band-gap 기준전압발생장치를 구성한다.
도 1은 종래의 기준전압발생장치 회로도이다.
상기 종래의 Band-gap 기준전압발생장치(10)는 공급전압(VDD)단과 Vss사이에 제 1 PMOS트랜지스터(MP1), 제 1 NMOS트랜지스터(MN1), 제 2 저항(R2) 및 제 2 다이오드(D2)가 순차적으로 직렬연결되고, 상기 공급전압(VDD)단과 Vss사이에 제 2 PMOS트랜지스터(MP2), 제 2 NMOS트랜지스터(MN2) 및 제 1 다이오드(D1)가 순차적으로 직렬연결되고, 상기 공급전압(VDD)단과 Vss사이에 제 4 PMOS트랜지스터(MP4), 제 3 NMOS트랜지스터(MN3) 및 제 1 저항(R1)이 순차적으로 직렬연결되며, 제 3 PMOS트랜지스터(MP5)와 제 5 PMOS트랜지스터(MP5)의 소오스에는 공급전압(VDD)단에 연결되고 드레인은 공동으로 기준전압(Vref)출력 및 일측이 Vss에 연결된 제 3 저항(R3)의 다른 일측에 연결된다.
상기 제 1, 제 2 및 제 3 PMOS트랜지스터(MP1)(MP2)(MP3)의 게이트는 상기 제 2 PMOS트랜지스터(MP2)의 드레인에 연결된다. 또한 상기 제 4 및 제 5 PMOS트랜지스터(MP4)(MP5)의 게이트는 상기 제 4 PMOS트랜지스터(MP4)의 드레인에 연결된다. 또한 상기 제 1, 제 2 및 제 3 NMOS트랜지스터(MN1)(MN2)(MN3)의 게이트는 상기 제 1 NMOS트랜지스터의 소오스에 연결된다.
상기 제 1 다이오드(D1)와 제 2 다이오드(D2)의 dVBE는 상기 제 1, 제 2, 제 3 PMOS트랜지스터(MP1)(MP2)(MP3) 및 제 2 저항(R2)가 감지하며, 상기 제 1 다이오드(D1)의 VBE 는 상기 제 4, 제 5 PMOS트랜지스터(MP4)(MP5) 및 제 1 저항(R1)가 감지하며, 상기 제 1, 제 2 및 제 3 NMOS트랜지스터(MN1)(MN2)(MN3)는 버퍼역할을 수행한다.
상기 제 2 PMOS트랜지스터(MP2)의 드레인에서 제 2 NMOS트랜지스터(MN2)의 소오스로 흐르는 전류 I1은 상기 제 1 다이오드(D1)와 제 2 다이오드(D2)의 dVBE에 의하여 결정된다.
I1 = (VBE1 - VBE2 )/R2 = △VBE /R2 .................(식 1-1 )
I1은 양의 온도계수를 갖는다.
또한 상기 제 4 PMOS트랜지스터(MP4)의 드레인에서 제 3 NMOS트랜지스터(MN3)의 소오스로 흐르는 전류 I2은 상기 제 1 다이오드(D1)의 VBE1에 의하여 결정된다.
I2 = VBE1/R1 = VBE /R1 .................... (식 1-2)
I2 는 음의 온도계수를 갖는다.
따라서, 상기 식 3-1 과 식 3-2에 의하여 기준전압(Vref)은
Vref = (I1 + I2 ) R3 = (VBE1/R2 + △VBE /R2) R3 ......(식 1-3)
가 된다.
즉 Vref의 온도계수는
dVref/dt = [ 1/R1 dVBE/dt + 1/R2 d△VBE/dt ] R3 .......(식 1-3) 이다.
여기서 제 1 저항(R1) 및 제 3 저항(R3) 값을 조정하여
1/R1 dVBE/dt + 1/R2 d△VBE/dt = 0 ...........(식 1-5)
으로 하면 온도변화에 둔감한 Band-gap 기준전압발생장치를 구성할 수 있다.
또한 상기 장치의 인가전압은
VDD(min) = |VGSP| + |VDEN| + |VBE| ............ (식 2-1)
약 1.1V = 0.3V + 0.2V + 0.6V ............... (식 2-2)
1.1 V 이상의 전압에서 동작한다.
그러나, 상기 종래의 Band-gap 기준전압발생장치는 사용하는 소자의 종류가 PMOS트랜지스터와 NMOS트랜지스터 및 다이오드를 사용하여 구성하므로 인가전압(VDD)값이 높아지는 문제점을 가진다.
따라서, 본 발명의 목적은 상술한 종래 장치의 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 회로를 구성하는 소자의 종류를 줄여 1 V이하의 인가전압에서도 동작이 가능한 Band-gap 기준전압발생장치를 제공하는데 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 Band-gap 기준전압발생장치는 4개의 PMOS트랜지스터와, 두 개의 다이오드와 3개의 저항 및 하나의 연산증폭기를 포함한다.
이하, 도면을 참고하여 본 발명에 따른 Band-gap 기준전압발생장치를 상세히 설명한다.
도 2는 본 발명에 따른 Band-gap 기준전압발생장치 회로도이다.
본 발명에 따른 Band-gap 기준전압발생장치(100)는 소오스가 인가전압(VCC)단에 연결되는 제 1, 제 2, 제 3 및 제 4 PMOS트랜지스터(MP1)(MP2)(MP3)(MP4)와, 일정전압(VC)가 -단에 인가되고 기준전압(Vref)가 +단에 인가되고 출력은 상기 제 1, 제 2, 제 3 및 제 4 PMOS트랜지스터(MP1)(MP2)(MP3)(MP4)의 게이트로 출력하는 연산증폭기(OP)와, 상기 제 2 PMOS트랜지스터(MP2)의 게이트와 드레인에 공동단에 일측이 연결되고 다른 일측에는 Vss가 연결된 제 2 다이오드(D2)와, 상기 제 2 다이오드(D2)와 병렬로 상기 제 2 PMOS트랜지스터(MP2)의 게이트와 드레인에 공동단과 Vss사이에 순차적으로 직렬연결된 제 3 저항(R3) 및 제 3 다이오드(D3)와, 기준전압(Vref)출력의 출력단인 상기 제 3 및 제 4 PMOS트랜지스터(MP3)(MP4)의 드레인과 일측이 연결되고 다른 일측은 Vss에 연결된 제 3 저항(R3)과, 상기 제 1 PMOS트랜지스터(MP1)의 게이트와 드레인에 공동단과 Vss사이에 병렬로 연결된 제 1 다이오드(D1) 및 제 1 저항(R1)으로 구성된다.
상기 제 1 다이오드(D1)와 제 1 저항(R1)에는 음의 온도계수를 가지는 전류(I1)가 흐르고, 상기 제 2 다이오드(D2)와 제 3 다이오드(D2) 및 제 3 저항(R3)은 양의 온도계수를 가지는 전류(I2)가 흐른다.
또한 상기 제 3, 제 4 PMOS트랜지스터(MP3)(MP4) 및 제 3 저항(R3)에서 상기 양의 온도계수 및 음의 온도계수를 가지는 소자에서 생성된 전류(I1+I2)가 흐른다. 상기 연산증폭기(OP AMP)의 -단에 인가되는 전압(VC)은 (V1+V2)/2을 유지한다.
상기 제 1 PMOS트랜지스터(M1)의 드레인에서 흐르는 전류 I1 은 상기 제 1 다이오드(D1)의 VBE1에 의하여 결정된다.
(식 3-1) I1 ≒ VBE1/R1 = VBE /R1
I1은 음의 온도 계수를 갖는다. 참고로, 전원전압이 1V 이하인 경우, 제 1 다이오드(D1)로 흐르는 전류는 매우 미미하다.
상기 제 2 PMOS트랜지스터(M2)의 드레인에 흐르는 전류 I2은 상기 제 2 다이오드(D2)와 제 3 다이오드(D3)의 dVBE에 의하여 결정된다.
(식 3-2) I2 ≒ (VBE2 - VBE3 )/R2 = △VBE /R2
I2는 양의 온도계수를 갖는다.
따라서, 상기 식 3-1 과 식 3-2에 의하여 기준전압(Vref)은
(식 3-3) Vref = (I1 + I2 )R3 = (VBE1/R2 + △VBE /R2)R3
가 된다.
Vref의 온도계수는
(식 3-4) dVref/dt = [ 1/R1 dVBE/dt + 1/R2 d△VBE/dt ] R3
이다.
여기서 제 1 저항(R1) 및 제 3 저항(R3) 값을 조정하여
(식 3-5) 1/R1 dVBE/dt + 1/R2 d△VBE/dt = 0
으로 하면 온도변화에 둔감한 Band-gap 기준전압발생장치를 구성할 수 있다.
또한 상기 장치의 인가전압은
(식 4-1) VDD(min) = |VGSP| + |VBE|
(식 4-2) 약 0.9V = 0.3V + 0.6V
즉 0.9 V 이상의 전압에서 동작한다.
따라서, 본 발명에 따른 Band-gap 기준전압발생장치는 레이아웃 면적을 줄일 수 있으며 1V 이하의 인가전압(VCC)에서도 동작이 가능한 잇점이 있다.
도 1 은 종래의 Band-gap 기준전압발생장치 회로도,
도 2 는 본 발명에 따른 Band-gap 기준전압발생장치 회로도.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *
10 : 종래의 Band-gap 기준전압발생장치
MP1, MP2, MP3, MP4, MP5 : 제 1 ∼ 제 5 PMOS트랜지스터
MN1, MN2, MN3 : 제 1 ∼ 제 3 NMOS트랜지스터
D1, D2 : 제 1 및 제 2 다이오드
R1, R2, R3 : 제 1 ∼ 제 3 저항
100 : 본 발명에 따른 Band-gap 기준전압발샐장치
M1, M2, M3, M4 : 제 1 ∼ 제 4 PMOS트랜지스터
D1, D2 : 제 1 및 제 2 다이오드
R1, R2, R3 : 제 1 ∼ 제 3 저항
OPAMP : 연산증폭기

Claims (1)

  1. 온도의 변화에 관계없는 일정한 기준전압을 제공할 수 있는 Band-gap 기준전압발생장치에 있어서,
    소오스가 인가전압(VCC)단에 연결되는 제 1, 제 2, 제 3 및 제 4 PMOS트랜지스터(MP1)(MP2)(MP3)(MP4)와,
    일정전압(VC)가 -단에 인가되고 기준전압(Vref)가 +단에 인가되고 출력은 상기 제 1, 제 2, 제 3 및 제 4 PMOS트랜지스터(MP1)(MP2)(MP3)(MP4)의 게이트로 연결되는 연산증폭기(OPAMP)와,
    상기 제 2 PMOS트랜지스터(MP2)의 게이트와 드레인에 공동단에 일측이 연결되고 다른 일측에는 Vss가 연결된 제 2 다이오드(D2)와,
    상기 제 2 다이오드(D2)와 병렬로 상기 제 2 PMOS트랜지스터(MP2)의 게이트와 드레인에 공동단과 Vss사이에 순차적으로 직렬연결된 제 3 저항(R3) 및 제 3 다이오드(D3)와,
    기준전압(Vref)출력의 출력단인 상기 제 3 및 제 4 PMOS트랜지스터(MP3)(MP4)의 드레인과 일측이 연결되고 다른 일측은 Vss에 연결된 제 3 저항(R3)과,
    상기 제 1 PMOS트랜지스터(MP1)의 게이트와 드레인에 공동단과 Vss사이에 병렬로 연결된 제 1 다이오드(D1) 및 제 1 저항(R1)으로 구성되어 1V이하의 인가전압(VCC)에서도 동작이 가능한 것이 특징인 Band-gap 기준전압발생장치.
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