KR100448432B1 - Mold for fabricating air-cavity plastic package to improve reliability and reduce production cost - Google Patents
Mold for fabricating air-cavity plastic package to improve reliability and reduce production cost Download PDFInfo
- Publication number
- KR100448432B1 KR100448432B1 KR1019970055532A KR19970055532A KR100448432B1 KR 100448432 B1 KR100448432 B1 KR 100448432B1 KR 1019970055532 A KR1019970055532 A KR 1019970055532A KR 19970055532 A KR19970055532 A KR 19970055532A KR 100448432 B1 KR100448432 B1 KR 100448432B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- cavity
- mold
- dam
- lead frame
- air
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/50—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor for integrated circuit devices, e.g. power bus, number of leads
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48245—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
- H01L2224/48247—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/161—Cap
- H01L2924/1615—Shape
- H01L2924/16152—Cap comprising a cavity for hosting the device, e.g. U-shaped cap
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
Description
본 발명은 에어-캐버티(air-cavity;공기동공) 플라스틱 패키지용 성형 금형에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 반도체 칩이 에어-캐버티 내에 위치하는 에어-캐버티 플라스틱 패키지의 제조에 사용되는 성형 금형에 관한 것이다.The present invention relates to a molding die for an air-cavity plastic package, and more particularly to a molding used for manufacturing an air-cavity plastic package in which a semiconductor chip is located in the air-cavity. It is about a mold.
에어-캐버티 패키지 기술은 주로 고가의 세라믹 패키지로 상용화되어 있다. 이 기술은 반도체 칩의 표면에 응력이나 유전 간섭을 주지 않기 때문에 고주파 소자에 적절한 기법이다.Air-cavity package technology is commonly commercialized as expensive ceramic packages. This technique is suitable for high frequency devices because it does not cause stress or dielectric interference on the surface of the semiconductor chip.
이와 같은 구조를 갖는 기존의 세라믹 패키지는 고가의 패키지 제조 비용이 필요하였으나, 최근에는 동일한 구조를 갖고 있으면서 플라스틱 패키지를 응용한 에어-캐버티 플라스틱 패키지가 개발되어 있는 실정이다. 이 패키지는 최근 위성 방송, 위성 통신 등 무선 통신 기술의 상업적 수요가 급격히 확산됨에 따라 이의 핵심 부품인 갈륨비소 단일칩 고주판 집적회로(MMIC)를 저렴한 가격으로 상업화해야 한다는 요구가 높아지면서 주목받기 시작했다. 다음에 소개하는 에어-캐버티 플라스틱 패키지는 최근 시티아이(CTI)사가 개발한 패키지이다.Existing ceramic packages having such a structure require expensive package manufacturing costs, but recently, air-cavity plastic packages have been developed that have the same structure and apply plastic packages. This package is attracting attention as the demand for commercialization of its gallium arsenide single chip high-plate integrated circuit (MMIC), a key component, has increased due to the rapid spread of commercial demand for wireless communication technologies such as satellite broadcasting and satellite communication. did. The next air-cavity plastic package is the latest development from CTI.
도 1은 종래 기술에 의한 에어-캐버티 플라스틱 패키지의 일 실시예를 나타낸 단면도이다.1 is a cross-sectional view showing one embodiment of an air-cavity plastic package according to the prior art.
도 1을 참조하여 그 구조를 설명하기로 한다. 종래의 에어-캐버티 플라스틱 패키지(30)는 그 구조가 리드 프레임의 리드(33)에 접착제(34)로 부착된 베이스 금속판(32) 상부에 반도체 칩(31)이 실장되고 리드(33)와 반도체 칩(31)이 본딩 와이어(35)에 의해 전기적으로 연결된 상태에서 일반적인 플라스틱 패키지와 달리 세라믹 패키지처럼 리드 프레임의 리드(33) 상부에 플라스틱 재질의 덮개(37)를 에폭시(36)를 사용하여 부착하여 내부 공간(38;이하 "에어-캐버티"라 한다)을 봉지함으로써 반도체 칩(31)과 리드(33)간의 전기적인 연결부가 에어-캐버티(38)에 위치하는 구조이다.The structure thereof will be described with reference to FIG. 1. In the conventional air-cavity
이와 같은 구조의 에어-캐버티 플라스틱 패키지는 다음과 같은 문제점을 가지고 있다.The air-cavity plastic package of such a structure has the following problems.
첫째, 패키지 두께가 기존의 플라스틱 패키에 비해 두껍다. 덮개와 리드 프레임간의 봉합 부분에 의해 전체적인 패키지의 높이가 증가하고 편차가 심하다.First, the package is thicker than conventional plastic packages. The sealing between the lid and lead frame increases the height of the overall package and causes severe variations.
둘째, 칩 부착을 위하여 리드 프레임의 다이패드 역할을 하는 베이스 금속판이 필요하기 때문에 원가가 상승된다.Second, the cost increases because the base metal plate serving as the die pad of the lead frame is required for chip attachment.
셋째, 습기 침투의 주 경로인 패키지 측면의 리드가 돌출되는 부분에서 봉합이 이루어지기 때문에 패키지 신뢰성을 저하시킨다.Third, since the sealing is made at the protruding part of the lid of the package side, which is the main path of moisture penetration, the package reliability is lowered.
넷째, 베이스 금속판을 미리 성형해야 하기 때문에 추가적인 공정이 필요하여 공정수 증가 및 원가 상승된다.Fourth, since the base metal plate must be molded in advance, an additional process is required, thereby increasing the number of processes and the cost.
다섯째, 전하결합소자(Charge Coupled Device; CCD)등 패키지 상면이 유리 봉지되어야 하는 패키지에는 그 적용이 불가능하다.Fifth, the package is not applicable to a package in which the upper surface of the package such as a charge coupled device (CCD) should be glass encapsulated.
여섯째, 봉합되면서 외부 리드 쪽에 플래시(flash)가 발생하여 외부 리드의 도금 불량을 유발시킬 수 있는 위험성이 내포되어 있다.Sixth, there is a risk that a flash may be generated on the external lead side while sealing, causing plating failure of the external lead.
따라서 본 발명의 목적은 상기한 문제점들을 개선하기 위한 패키지를 제조하기 위해 사용되는 성형 금형을 제공하여 패키지 신뢰성 향상과 생산비용 감소를 실현할 수 있게 하는 데에 있다.Accordingly, an object of the present invention is to provide a molding die used to manufacture a package for improving the above problems, thereby realizing improved package reliability and reduced production cost.
도 1은 종래 기술에 의한 에어-캐버티(air-cavity;공기동공) 플라스틱 패키지를 나타낸 단면도,1 is a cross-sectional view showing an air-cavity (air cavity) plastic package according to the prior art,
도 2는 본 발명에 의한 에어-캐버티 플라스틱 패키지용 성형 금형의 구조를 나타낸 사시도,2 is a perspective view showing the structure of a molding die for an air-cavity plastic package according to the present invention;
도 3은 본 발명에 의한 에어-캐버티 플라스틱 패키지용 성형 금형의 부분 사시도이고,3 is a partial perspective view of a molding die for an air-cavity plastic package according to the present invention;
도 4는 도 3의 상부 금형을 나타낸 저면도이며,4 is a bottom view showing the upper mold of FIG.
도 5는 본 발명에 의한 에어-캐버티 플라스틱 패키지용 성형 금형의 단면도이고,5 is a cross-sectional view of a molding die for an air-cavity plastic package according to the present invention;
도 6은 개선된 에어-캐버티 플라스틱 패키지를 나타낸 단면도이다.6 is a cross-sectional view of an improved air-cavity plastic package.
< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 ><Description of Symbols for Main Parts of Drawings>
1 ; 반도체 칩 11 ; 리드 프레임One ;
13a ; 내부 리드 13b ; 외부 리드13a; Internal lead 13b; External lead
15 ; 본딩 와이어 40 ; 상부 금형15;
41 ; 상부 캐버티 42 ; 상부 댐41;
43,53 ; 홈 50 ; 하부 금형43,53; Groove 50; Lower mold
51 ; 하부 캐버티 52 ; 하부 댐51;
60 ; 성형 금형60; Molding mold
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 에어-캐버티 패키지용 성형 금형은 칩이 실장되어 와이어 본딩이 완료된 리드 프레임을 개재하여 성형 수지로 봉지하기 위한 성형 장치에 있어서, 칩 성형에 필요한 상부 캐버티와 하부 캐버티가 상부 금형과 하부 금형에 각각 형성되어 있고, 실장되는 리드 프레임의 와이어 본딩된 부분 외측에 위치하고 링의 형상을 가지며 캐버티에 의해 형성된 저면으로부터 소정의 높이만큼 상부 댐과 하부 댐이 돌출되어 있는 것을 특징으로 한다.The molding die for air-cavity package according to the present invention for achieving the above object is a molding apparatus for encapsulating with a molding resin via a lead frame in which a chip is mounted and wire bonding is completed, the upper cavity required for chip molding And the lower cavity are formed in the upper mold and the lower mold, respectively, and are located outside the wire bonded portion of the lead frame to be mounted, and have a ring shape, and the upper dam and the lower dam are formed by a predetermined height from the bottom formed by the cavity. It is characterized by protruding.
이하 첨부 도면을 참조하여 본 발명에 따른 에어-캐버티 패키지용 성형 금형을 보다 상세하게 설명하고자 한다.Hereinafter, a molding die for an air-cavity package according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 2는 본 발명에 의한 에어-캐버티 플라스틱 패키지용 성형 금형의 구조를 나타낸 사시도이다.2 is a perspective view showing the structure of a molding die for an air-cavity plastic package according to the present invention.
도 2에 도시된 실시예를 참조하면, 본 발명에 의한 에어-캐버티 플라스틱 패키지용 성형 금형(60)은 기본적으로 상부 금형(40)과 하부 금형(50)으로 구분될 수 있다. 상부 금형(40)과 하부 금형(50)에는 각각 리드 프레임 성형을 위한 상부 캐버티(41)와 하부 캐버티(51)를 갖는다. 그 상·하부 캐버티(41,51)에는 상부 댐(42)과 하부 댐(52)이 각각 형성되어 있다. 그리고, 상부 금형(40)과 하부 금형(50)은 상·하부 캐버티(41,51)외에 복수의 덮개 성형을 위한 홈(43,53)을 갖고 있다.Referring to the embodiment shown in FIG. 2, the
상·하부 캐버티(41,51)들은 하부 금형(50)에 형성된 런너(57)를 거쳐 성형 수지를 공급받게 되고, 홈(43,53)들도 또 다른 런너(58)를 거쳐 성형 수지를 공급받게 된다. 런너들(57,58)은 상부 금형(40)의 중앙에 형성된 실린더(44)와 하부 금형(51)의 포트(59)에 연결되어 실린더(44)내에서 용융된 성형 수지(63)를 플런저(64)로 가압하여 포트(59)를 거쳐 상·하부 캐버티(41,51)와 각각의 홈(43,53)들에 공급한다. 상·하부 캐버티(41,51)는 하나의 런너(57)를 통하여 여러 개의 리드 프레임에 대한 성형을 하기 위하여 런너(57)를 중심으로 양측에 배열되도록 형성되어 있다. 그리고, 홈(43,53)은 상·하부 캐버티(41,51)중 어느 하나의 수보다 2배를 형성시키는 것이 후술하는 패키지 제조시 덮개의 개수를 맞추어 줄 수 있어 바람직하다. 상·하부 캐버티(41,51)들과 이 홈(43,53)이 패키지 외관을 결정한다.The upper and
도 3은 본 발명에 의한 성형 금형의 부분 확대 사시도이고, 도 4는 도 3의 상부 금형을 나타낸 저면도이다.3 is a partially enlarged perspective view of the molding die according to the present invention, Figure 4 is a bottom view showing the upper mold of FIG.
도 3과 도 4를 참조하여 본 발명에 의한 성형 금형을 좀 더 상세히 살펴보기로 하자. 도 3에 도시된 바와 같이 하부 금형(50)은 하부 캐버티(51)로 인해 소정의 깊이에 형성되는 저면으로부터 소정의 높이를 가지며 상방향으로 돌출된 사각링 형상의 하부 댐(52)을 갖고 있다. 그리고, 상부 금형(40)은 하부 금형(50)의 하부 댐(52)의 위치에 대응되어 도 4에서와 같이 상부 캐버티(41)로 인해 소정의 깊이로 형성되는 저면으로부터 소정의 높이를 가지며 돌출된 사각링 형상의 상부 댐(42)을 갖고 있다.With reference to Figures 3 and 4 let's look at the molding die according to the present invention in more detail. As shown in FIG. 3, the
여기서 하부 댐(52)은 상부 댐(42)과는 달리 상단에 작업될 리드 프레임(11)의 내부 리드(13a)와 대응되는 위치에 복수의 요홈이 형성되어 있다. 이 요홈은 리드 프레임(11)을 개재한 상태에서 상부 금형(40)과 하부 금형(50)이 맞물릴 때 내부 리드(13a)가 삽입되어 상부 댐(42)과 하부 댐(52)의 내측으로 성형 수지가 유입되지 않도록 하기 위한 것으로 내부 리드(13a)의 폭과 두께 정도의 폭과 깊이로 형성된다. 여기에서는 하부 댐(52)의 상단에만 요홈이 형성된 것을 예를 들고 있지만, 리드 프레임(11)을 개재하였을 때 상·하부 댐(52)의 내측을 완전 밀폐시키는 범위 안에서 상부 댐(42)에 형성되거나 상·하부 댐(52)에 모두 형성되어도 된다.Here, unlike the
한편, 상부 캐버티(41)와 하부 캐버티(51)의 외측에는 덮개성형을 위하여 각각 홈(43,53)이 형성되어 있다. 이 홈(43,53)들의 가로길이 a와 세로길이 b는 상부 캐버티(41)나 하부 캐버티(51)에 의해 결정될 수 있는데, 여기서 홈(43,53)의 가로길이 a는 상부 캐버티(41)나 하부 캐버티(51)의 가로길이 c와 동일하게 형성된다. 그리고, 홈(43,53)의 깊이는 상부 금형(40)과 하부 금형(50)이 맞물렸을 때 상·하부의 홈이 합쳐진 깊이가 하부 캐버티(51)의 세로길이 d와 동일하게 형성된다.On the other hand,
도 5는 본 발명에 의한 에어-캐버티 플라스틱 패키지용 성형 금형의 단면도이다.5 is a cross-sectional view of a molding die for an air-cavity plastic package according to the present invention.
도 5를 참조하면, 내부 리드(13a)의 와이어 본딩된 부분의 외측에 하부 댐(52)이 위치하도록 하부 금형(50)에 리드 프레임(11)이 놓여지고 상부 금형(40)이 하강하여 리드 프레임(11)을 사이에 두고 맞물린다. 이와 같이 리드 프레임(11)이 개재된 상태에서 도 2에 나타나 있는 실린더(44) 내에서 용융된 성형 수지(63)는 포트(56)와 런너(57)를 거쳐 상·하부 캐버티(41,51) 내에 유입된다. 또한, 용융된 성형 수지(63)는 포트(59)와 런너(58)를 거쳐 덮개성형을 위해 상·하부 캐버티(41,51)의 외측에 형성된 홈(43,53)에도 채워지게 된다. 이때, 상부 댐(42)과 하부 댐(52)에 의해 칩(1)과 그에 와이어 본딩된 부분들 쪽으로는 성형 수지(63)가 유입되지 않고, 그 외측에만 성형 수지(63)가 들어차게 된다.Referring to FIG. 5, the
도 6은 개선된 에어-캐버티 플라스틱 패키지를 나타낸 단면도이다.6 is a cross-sectional view of an improved air-cavity plastic package.
도 5와 도 6을 참조하면, 성형이 완료된 후에 상부 금형(40)을 상승시켜 리드 프레임(11)을 분리시키면 리드 프레임(11)에는 도 6에서 도시된 바와 같이 와이어 본딩된 부분의 외측에 측벽(17)이 형성된다. 그리고, 홈(43,53)으로부터 상부 덮개(18)와 하부 덮개(19)를 얻을 수 있다. 상부 덮개(18)와 하부 덮개(19)를 측벽(17)의 상단면과 하단면에 각각 부착시키면 개선된 형태의 에어-캐버티 플라스틱 패키지(10)를 얻을 수 있다. 이렇게 형성된 에어-캐버티 플라스틱 패키지(10)는 리드 프레임(11)의 다이패드(12)에 반도체 칩(1)이 실장되어 측벽(17)으로 둘러싸인 상태에서 상부와 하부가 상부 덮개(18)와 하부 덮개(19)로 봉지되어 내부에 에어-캐버티(20)가 형성되어 있는 구조가 된다.5 and 6, after the molding is completed, the
이와 같은 구조의 에어-캐버티 플라스틱 패키지는 봉합 부분이 패키지의 측면부 중앙이 아닌 측면 상단과 하단이 되기 때문에 종래보다 습기에 대하여 강하다. 그리고, 종래와 같이 별도로 제작된 베이스 금속판을 이용하지 않고 다이패드를 갖는 일반적인 리드 프레임을 사용할 수 있어 생산원가 측면이나 공정수 측면에서 유리하다. 또한, 상부 덮개가 측벽과 일체형이 아니기 때문에 유리 봉지되어야 하는 전하결합소자에도 그 적용이 가능하다.The air-cavity plastic package of such a structure is stronger against moisture than the conventional one because the sealing portion becomes the top and bottom of the side rather than the center of the side of the package. In addition, since a conventional lead frame having a die pad can be used without using a base metal plate manufactured separately as in the related art, it is advantageous in terms of production cost and number of processes. In addition, since the top cover is not integral with the side wall, the application is also applicable to the charge coupling device that must be glass encapsulated.
본 발명에 의한 에어-캐버티 플라스틱 패키지용 성형 금형은 에어-캐버티 플라스틱 패키지의 제조에 있어서, 미리 제조된 덮개를 사용하지 않고 반도체 칩이 실장된 리드 프레임에 직접 성형을 실시하여 측벽을 형성하고 그 상부에 부착되는 상부 덮개와 하부 덮개를 성형할 수 있기 때문에 공정의 수를 감소시켜 생산비용을 절감할 수 있으며, 패키지 신뢰성 향상에도 기여할 수 있다.In the molding die for an air-cavity plastic package according to the present invention, in the manufacture of an air-cavity plastic package, a sidewall is formed by directly molding a lead frame on which a semiconductor chip is mounted without using a cover prepared in advance. Since the upper cover and the lower cover attached to the upper part can be molded, the number of processes can be reduced, thereby reducing the production cost and contributing to the improvement of package reliability.
이상과 같은 본 발명에 의한 에어-캐버티 플라스틱 패키지용 성형 금형에 따르면 종래의 패키지보다 두께가 감소되고 생산성 측면에서 우수한 개선된 형태의 에어-캐버티 플라스틱 패키지를 용이하게 만들 수 있는 이점(利點)이 있다.According to the molding die for an air-cavity plastic package according to the present invention as described above, the advantage of being able to easily make an improved-type air-cavity plastic package having a reduced thickness and excellent productivity in comparison with a conventional package. There is.
Claims (5)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019970055532A KR100448432B1 (en) | 1997-10-28 | 1997-10-28 | Mold for fabricating air-cavity plastic package to improve reliability and reduce production cost |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019970055532A KR100448432B1 (en) | 1997-10-28 | 1997-10-28 | Mold for fabricating air-cavity plastic package to improve reliability and reduce production cost |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR19990034053A KR19990034053A (en) | 1999-05-15 |
KR100448432B1 true KR100448432B1 (en) | 2004-11-16 |
Family
ID=37366717
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019970055532A KR100448432B1 (en) | 1997-10-28 | 1997-10-28 | Mold for fabricating air-cavity plastic package to improve reliability and reduce production cost |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100448432B1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9024448B2 (en) | 2012-07-17 | 2015-05-05 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Lower semiconductor molding die, semiconductor package, and method of manufacturing the semiconductor package |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3533159B2 (en) | 2000-08-31 | 2004-05-31 | Nec化合物デバイス株式会社 | Semiconductor device and manufacturing method thereof |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6080257A (en) * | 1983-10-07 | 1985-05-08 | Oki Electric Ind Co Ltd | Manufacture of package for semiconductor device |
JPS63287041A (en) * | 1987-05-19 | 1988-11-24 | Sony Corp | Manufacture of package for containing semiconductor element |
JPH05121473A (en) * | 1991-10-25 | 1993-05-18 | Nec Corp | Resin-sealed semiconductor device |
KR930010071A (en) * | 1991-11-12 | 1993-06-22 | 티모시 엔. 비숍 | Polyurethane and preparation method thereof |
JPH06140525A (en) * | 1992-10-23 | 1994-05-20 | Nippon Steel Corp | Semiconductor device |
JPH06268088A (en) * | 1993-03-12 | 1994-09-22 | Hitachi Ltd | Semiconductor device |
-
1997
- 1997-10-28 KR KR1019970055532A patent/KR100448432B1/en not_active IP Right Cessation
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6080257A (en) * | 1983-10-07 | 1985-05-08 | Oki Electric Ind Co Ltd | Manufacture of package for semiconductor device |
JPS63287041A (en) * | 1987-05-19 | 1988-11-24 | Sony Corp | Manufacture of package for containing semiconductor element |
JPH05121473A (en) * | 1991-10-25 | 1993-05-18 | Nec Corp | Resin-sealed semiconductor device |
KR930010071A (en) * | 1991-11-12 | 1993-06-22 | 티모시 엔. 비숍 | Polyurethane and preparation method thereof |
JPH06140525A (en) * | 1992-10-23 | 1994-05-20 | Nippon Steel Corp | Semiconductor device |
JPH06268088A (en) * | 1993-03-12 | 1994-09-22 | Hitachi Ltd | Semiconductor device |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9024448B2 (en) | 2012-07-17 | 2015-05-05 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Lower semiconductor molding die, semiconductor package, and method of manufacturing the semiconductor package |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR19990034053A (en) | 1999-05-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7102213B2 (en) | Leadframe-based housing, leadframe strip, surface-mounted optoelectronic-component, and production method | |
US4855868A (en) | Preformed packaging arrangement for energy dissipating devices | |
KR20020018145A (en) | Semiconductor device and manufacturing method thereof | |
KR100448432B1 (en) | Mold for fabricating air-cavity plastic package to improve reliability and reduce production cost | |
US7358598B2 (en) | Process for fabricating a semiconductor package and semiconductor package with leadframe | |
CN104952854A (en) | Electronic packaging structure and packaging method thereof | |
CN114883288A (en) | Lead frame structure, manufacturing method thereof, packaging structure, chip assembly and terminal | |
US6885088B2 (en) | Flat leadframe for a semiconductor package | |
JPH0548955B2 (en) | ||
CN218788374U (en) | Semiconductor packaging shell and semiconductor packaging structure | |
CN218498065U (en) | Semiconductor device with a plurality of transistors | |
KR200289924Y1 (en) | Lead frame | |
KR100262811B1 (en) | A plastic package having air cavity and method for manufacturing it | |
KR100521977B1 (en) | Mold block for manufacturing semiconductor package | |
CN217562562U (en) | Lead frame structure, packaging structure, chip assembly and terminal | |
KR200177346Y1 (en) | Semiconductor package | |
KR20010067312A (en) | Semiconductor device and method of manufacturing the same | |
KR100221918B1 (en) | Chip scale package | |
JP4215300B2 (en) | Manufacturing method of semiconductor device | |
KR100253708B1 (en) | Semiconductor package and method for manufacture thereof | |
JP2665668B2 (en) | Resin encapsulation molding method for electronic parts and mold for resin encapsulation molding | |
KR19990032607A (en) | Air-cavity plastic package and its manufacturing method | |
JP2000124167A (en) | Manufacture of semiconductor device | |
KR20000014539U (en) | Semiconductor package | |
KR0134168Y1 (en) | Semiconductor package |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |