KR100444591B1 - Apparatus for picking up Module IC in Module IC test handler - Google Patents

Apparatus for picking up Module IC in Module IC test handler Download PDF

Info

Publication number
KR100444591B1
KR100444591B1 KR10-2002-0013541A KR20020013541A KR100444591B1 KR 100444591 B1 KR100444591 B1 KR 100444591B1 KR 20020013541 A KR20020013541 A KR 20020013541A KR 100444591 B1 KR100444591 B1 KR 100444591B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
module
block
pitch
frame
variable pitch
Prior art date
Application number
KR10-2002-0013541A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20030073802A (en
Inventor
김원
Original Assignee
미래산업 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 미래산업 주식회사 filed Critical 미래산업 주식회사
Priority to KR10-2002-0013541A priority Critical patent/KR100444591B1/en
Publication of KR20030073802A publication Critical patent/KR20030073802A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR100444591B1 publication Critical patent/KR100444591B1/en

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/286External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
    • G01R31/2865Holding devices, e.g. chucks; Handlers or transport devices
    • G01R31/2867Handlers or transport devices, e.g. loaders, carriers, trays
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0491Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets for testing integrated circuits on wafers, e.g. wafer-level test cartridge

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

본 발명은 모듈 아이씨 실장 테스트 핸들러의 모듈 아이씨 픽업장치에 관한 것으로, 메인보드 상의 테스트 소켓 간의 피치가 변화되는 경우 이에 대응하여 픽업장치의 그리퍼 간의 피치가 용이하게 가변될 수 있도록 한 것이다.The present invention relates to a module IC pickup device of the module IC mounting test handler, so that the pitch between the grippers of the pickup device can be easily changed when the pitch between the test sockets on the motherboard is changed.

이를 위해 본 발명은, 프레임과, 이 프레임의 하부면에 부착된 안내부재와, 상기 프레임의 하부에서 상기 안내부재를 따라 이동가능하도록 결합되어 서로 간에 임의의 피치로 가변이 가능하도록 된 복수개의 가변피치 블럭과, 상기 각 가변피치 블럭에 설치되는 승강안내부재를 매개로 상하로 이동가능하게 설치된 그리퍼 블럭과, 상기 각 그리퍼 블럭에 좌우로 확장 및 수축 운동가능하도록 설치되어 모듈 아이씨의 양단부를 홀딩 및 해제하는 한 쌍의 그리퍼 및, 상기 프레임의 양측부에 착탈가능하게 설치되어 상기 각 가변피치 블럭을 가변된 위치에서 고정시키는 스톱퍼를 포함하여 구성된 모듈 아이씨 실장 테스트 핸들러의 모듈 아이씨 픽업장치를 제공한다.To this end, the present invention, the frame, a guide member attached to the lower surface of the frame, a plurality of variables are coupled to move along the guide member at the bottom of the frame to be variable at any pitch between each other A pitcher block, a gripper block provided to be movable up and down via a lifting guide member installed at each variable pitch block, and installed at the gripper block so as to be extended and contracted from side to side to hold both ends of the module IC. Provided is a module IC pickup device of a module IC mounting test handler comprising a pair of grippers for releasing and a stopper detachably installed at both sides of the frame to fix each variable pitch block at a variable position.

Description

모듈 아이씨 실장 테스트 핸들러의 모듈 아이씨 픽업장치{Apparatus for picking up Module IC in Module IC test handler}Apparatus for picking up Module IC in Module IC test handler}

본 발명은 모듈 아이씨(Module IC)를 테스트하는 핸들러에서 모듈 아이씨를 픽업하여 이송하는 장치에 관한 것으로, 특히 모듈 아이씨가 실장되는 메인보드 상의 소켓 간 피치가 불균일한 경우, 이에 대응하여 모듈 아이씨를 홀딩하는 그리퍼간의 피치를 용이하게 조절할 수 있도록 한 모듈 아이씨 실장 테스트 핸들러의 모듈 아이씨 픽업장치에 관한 것이다.The present invention relates to a device for picking up and transporting a module IC in a handler for testing a module IC, in particular, when the pitch between the sockets on the main board on which the module IC is mounted is uneven, holding the module IC correspondingly. It relates to a module IC pickup device of the module IC mounting test handler that can easily adjust the pitch between the grippers.

일반적으로, 모듈 아이씨는 복수개의 아이씨(IC) 및 기타 소자를 하나의 기판상에 납땜 고정하여 독립적인 회로를 구성한 것으로, 흔히 램(RAM)이라고 불리는 것이 이에 해당한다.In general, the module IC is composed of an independent circuit by soldering a plurality of IC (IC) and other elements on a single substrate, which is commonly referred to as RAM (RAM).

이러한 모듈 아이씨는 컴퓨터의 메인보드에 실장되는 여러가지의 부품들 중에서 매우 중요한 역할을 하기 때문에 사용하기 전에 보다 정밀하게 이상상태를 점점하는 과정을 반드시 거쳐야 함은 필수적이다.This module IC plays a very important role among the various components mounted on the computer's mainboard, so it is essential to go through the process of getting abnormal state more precisely before use.

따라서, 반도체 소자 및 모듈 아이씨를 생산하는 업체에서는 제품 출하 전단계에서 핸들러를 테스터(Tester)에 결합시켜 단시간내에 대량의 제품들을 테스트하고 있다.Therefore, companies that manufacture semiconductor devices and module ICs are testing large quantities of products in a short time by integrating handlers with testers in the pre-shipment stage.

이러한 모듈 아이씨 테스트 핸들러에서 이루어지는 테스트 과정에 대해 간단히 설명하면, 먼저 작업자가 모듈 아이씨들이 적재된 트레이들을 로딩스택커에 적재한 후 핸들러를 가동시키면, 핸들러의 베이스 상측에서 X-Y-Z축으로 이동 가능하게 형성된 픽업장치가 그의 그리퍼로 상기 로딩스택커의 테스트할 모듈 아이씨를 홀딩하여 핸들러 일측으로 이동한 다음, 홀딩하고 있던 모듈 아이씨를 테스터의 메인보드에 마련된 복수개의 테스트소켓에 장착하여 전기적으로 접속시키고, 이 상태에서 일정 시간동안 소정의 테스트를 수행하게 된다.Briefly describing the test process performed in the module IC test handler, when the operator first loads the trays loaded with the module ICs on the loading stacker and starts the handler, the pickup is formed to move on the XYZ axis from the upper side of the handler. The device holds the module IC to be tested of the loading stacker with its gripper and moves it to one side of the handler. Then, the holding module IC is mounted on a plurality of test sockets provided on the tester's main board and electrically connected. Will perform a test for a certain period of time.

이후 테스트가 완료된 모듈 아이씨는 다시 픽업장치에 의해 핸들러 일측에 마련된 언로딩스택커의 트레이에 테스트 결과별로 분류되어 재수납된다.After the test is completed, the module IC is re-sorted by the test results in the tray of the unloading stacker provided on one side of the handler by the pickup device.

그런데, 상기와 같은 과정을 통해 모듈 아이씨를 실장 테스트하는 핸들러에 있어서, 모듈 아이씨가 테스트되는 메인보드의 테스트 소켓 간 피치가 제작업체마다 모두 다르게 제공되기 때문에 메인보드의 종류가 바뀔 때마다 소켓 피치와 대응하는 그리퍼 피치를 갖는 픽업장치들을 준비하여 교체해주어야 하며, 이에 따라 비용과 노력이 많이 소모되는 문제점이 있었다.However, in the handler for mounting and testing the module IC through the above process, the pitch between the test sockets of the motherboard to which the module IC is tested is provided differently for each manufacturer, so the socket pitch and the socket type are changed every time the type of the motherboard is changed. Pick-up devices having corresponding gripper pitches have to be prepared and replaced, and thus there is a problem in that cost and effort are consumed.

이에 본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 모듈 아이씨가 실장되는 메인보드 상의 테스트 소켓 간의 피치가 변화되는 경우 이에 대응하여 픽업장치의 그리퍼 간의 피치가 용이하게 가변될 수 있도록 한 모듈 아이씨 실장 테스트 핸들러의 모듈 아이씨 픽업장치를 제공함에 그 목적이 있다.Accordingly, the present invention has been made in order to solve the above problems, and when the pitch is changed between the test socket on the main board on which the module IC is mounted, the module can easily change the pitch between the grippers of the pickup device correspondingly. Its purpose is to provide a module IC pickup device of an IC mount test handler.

도 1은 본 발명에 따른 모듈 아이씨 픽업장치의 구성을 나타낸 사시도1 is a perspective view showing the configuration of a module IC pickup apparatus according to the present invention

도 2는 도 1의 모듈 아이씨 픽업장치의 정면도2 is a front view of the module IC pickup apparatus of FIG.

도 3은 도 1의 모듈 아이씨 픽업장치의 평면도3 is a plan view of the modular IC pickup apparatus of FIG.

도 4는 본 발명의 모듈 아이씨 픽업장치의 일부 구성부를 분해하여 나타낸 분해 사시도Figure 4 is an exploded perspective view showing an exploded portion of the modular IC pickup apparatus of the present invention

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings

1 : 프레임 2 : 가변피치 블럭1: frame 2: variable pitch block

3 : 그리퍼 블럭 4 : 그리퍼3: gripper block 4: gripper

5a : 엘엠가이드 5b : 엘엠블럭5a: L Guide 5b: L Block

6 : 공압실린더 7a : 엘엠블럭6: pneumatic cylinder 7a: L block

7b : 엘엠가이드 7c : 가이드블럭7b: LM Guide 7c: Guide Block

10 : 실린더블럭 11 : 공압실린더10 cylinder block 11: pneumatic cylinder

12 : 스톱퍼 12a : 절개홈12: stopper 12a: incision groove

상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명은, 프레임과, 이 프레임의 하부면에 부착된 안내부재와, 상기 프레임의 하부에서 상기 안내부재를 따라 이동가능하도록 결합되어 서로 간에 임의의 피치로 가변이 가능하도록 된 복수개의 가변피치 블럭과, 상기 각 가변피치 블럭에 설치되는 승강안내부재를 매개로 상하로 이동가능하게 설치된 그리퍼 블럭과, 상기 각 그리퍼 블럭에 좌우로 확장 및 수축 운동가능하도록 설치되어 모듈 아이씨의 양단부를 홀딩 및 해제하는 한 쌍의 그리퍼 및, 상기 프레임의 양측부에 착탈가능하게 설치되어 상기 각 가변피치 블럭을 가변된 위치에서 고정시키는 스톱퍼를 포함하여 구성된 모듈 아이씨 실장 테스트 핸들러의 모듈 아이씨 픽업장치를 제공한다.In order to achieve the above object, the present invention, the frame, the guide member attached to the lower surface of the frame, and coupled to move along the guide member in the lower portion of the frame is variable to any pitch between each other A plurality of variable pitch blocks configured to be enabled, a gripper block provided to be movable up and down via an elevating guide member installed at each variable pitch block, and installed to expand and contract to the left and right sides of the respective gripper blocks Module IC of a module IC mounting test handler comprising a pair of grippers for holding and releasing both ends of the IC, and a stopper detachably installed at both sides of the frame to fix each variable pitch block at a variable position. Provide a pickup device.

본 발명의 한 실시형태에 따르면, 상기 스톱퍼는 플레이트의 일편에 상기 각 가변피치 블럭의 피치와 대응하는 간격으로 복수개의 절개홈이 형성된 형태로 구성되어, 상기 스톱퍼의 절개홈이 상기 프레임의 양측부 외측에서 각 가변피치블럭의 양단부에 삽입되면서 가변피치 블럭을 고정되게 지지하도록 된 것을 특징으로 한다.According to one embodiment of the invention, the stopper is formed in the form of a plurality of incision grooves formed on one side of the plate at intervals corresponding to the pitch of the variable pitch block, the incision grooves of the stopper is formed on both sides of the frame It is characterized in that the variable pitch block is fixedly supported while being inserted into both ends of each variable pitch block from the outside.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 모듈 아이씨 픽업장치의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described in detail a preferred embodiment of the module IC pickup apparatus according to the present invention.

도 1 내지 도 4는 본 발명에 따른 모듈 아이씨(Module IC) 픽업장치를 나타낸 것으로, 본 발명의 픽업장치는 핸들러의 본체 상측에 전후 및 좌우로 수평 이동하도록 설치된 XY로봇(미도시)에 고정되는 프레임(1)과, 상기 프레임(1)의 하부 양측에 나란하게 설치되는 한 쌍의 엘엠가이드(5a)(LM Guide)와, 상기 각 엘엠가이드(5a)를 따라 이동하도록 된 복수개의 엘엠블럭(5b)과, 상기 각 엘엠블럭(5b)에 결합되어 엘엠가이드(5a)를 따라 프레임 하측에서 수평하게 이동할 수 있도록 된 복수개(이 실시예에서는 4개)의 가변피치 블럭(2)을 구비한다.1 to 4 show a module IC pick-up device according to the present invention, the pick-up device of the present invention is fixed to the XY robot (not shown) installed to move horizontally back and forth and left and right on the upper body of the handler A frame 1, a pair of LM Guides 5a installed side by side on both sides of the lower part of the frame 1, and a plurality of LM blocks configured to move along each of the LM guides 5a. 5b) and a plurality of variable pitch blocks 2 (four in this embodiment) which are coupled to each of the EL blocks 5b so as to move horizontally below the frame along the EL guide 5a.

상기 각 가변피치 블럭(2)에는 모듈 아이씨의 양단 모서리부를 홀딩하는 그리퍼(4)(gripper)가 설치된 그리퍼 블럭(3)이 상하로 이동가능하게 설치되고, 가변피치 블럭(2)의 양단부에는 상기 각 그리퍼 블럭(3)을 상하로 구동시키기 위한 복수개의 공압실린더(6)가 설치되는 바, 도 4에 도시된 것과 같이, 상기 그리퍼 블럭(3)의 중앙부 상측에는 엘엠가이드(7b)가 고정되는 가이드블럭(7c)이 일체로 수직하게 형성되고, 상기 가변피치블럭(2)의 중앙부에는 상기 엘엠가이드(7b)와 결합하는 엘엠블럭(7a)이 고정되며, 그리퍼 블럭(3)의 양측 상부에는 공압실린더(6)의 로드(6a)와 결합하는 브라켓(9)이 설치된다. 따라서, 상기 공압실린더(6)가 동작하게 되면, 상기 그리퍼 블럭(3)의 가이드블럭(7c) 및 엘엠가이드(7b)가 고정상태의 가변피치 블럭(2)의 엘엠블럭(7a)에 대해 상하로 슬라이딩하며 이동하게 된다.Each variable pitch block 2 is provided with a gripper block 3 provided with a gripper 4 for holding corners of both ends of the module IC so as to be movable upward and downward, and at both ends of the variable pitch block 2. A plurality of pneumatic cylinders 6 for driving each gripper block 3 up and down are installed. As shown in FIG. 4, the L guide 7b is fixed above the center of the gripper block 3. A guide block 7c is integrally formed vertically, and an elm block 7a coupled to the elm guide 7b is fixed to a central portion of the variable pitch block 2, and is provided at both upper portions of the gripper block 3. A bracket 9 is installed to engage with the rod 6a of the pneumatic cylinder 6. Accordingly, when the pneumatic cylinder 6 is operated, the guide block 7c and the elm guide 7b of the gripper block 3 move up and down with respect to the elm block 7a of the variable pitch block 2 in a fixed state. Sliding to move.

그리고, 상기 그리퍼 블럭(3)의 하부에 설치되는 한 쌍의 그리퍼(4)는 대략 'ㄱ'자형태로 되어 그리퍼 블럭(3) 하부에서 좌우로 확장 및 수축 운동하면서 모듈 아이씨의 양단 모서리부를 홀딩 및 해제하게 되는 바, 그리퍼 블럭(3)의 양측 하부에 엘엠가이드(8a) 및 엘엠블럭(8b)이 설치되고, 상기 각 엘엠블럭(8b)에는 그리퍼(4)가 결합되며, 상기 그리퍼 블럭(3)의 중앙 하부에는 상기 각 그리퍼(4)를 좌우으로 측방 이동시키는 공압실린더(11)가 부착된 실린더블럭(10)이 고정된다.In addition, the pair of grippers 4 installed at the lower part of the gripper block 3 have a substantially '-' shape, and both edges of the module IC are held while extending and contracting left and right under the gripper block 3. And the bar is released, the elm guide (8a) and the elm block (8b) is installed on both lower sides of the gripper block (3), the gripper (4) is coupled to each of the elm block (8b), the gripper block ( The cylinder block 10 to which the pneumatic cylinder 11 which moves each said gripper 4 to the left and right is fixed to the center lower part of 3).

한편, 도 1 내지 도 3에 도시된 것과 같이 상기 프레임(1)의 양측에는 각 가변피치 블럭(2)의 양단부를 고정되게 지지함으로써 가변피치 블럭(2)을 가변된 위치에서 지지하여 주는 스톱퍼(12)가 착탈가능하게 설치되는데, 상기 스톱퍼(12)는 내측면에 가변피치 블럭(2)의 각 끝단부가 삽입되어 지지되는 복수개의 절개홈(12a)이 형성된 플레이트 형태로 이루어진다.On the other hand, as shown in Figures 1 to 3 on both sides of the frame (1) by holding both ends of the variable pitch block (2) fixed by a stopper for supporting the variable pitch block (2) in a variable position ( 12) is detachably installed. The stopper 12 is formed in a plate shape in which a plurality of cutout grooves 12a are formed and supported at each end of the variable pitch block 2 on an inner side thereof.

상기 스톱퍼(12)의 절개홈(12a)들은 각 가변피치 블럭(2)들의 피치와 대응하는 피치를 갖도록 형성된다. 따라서, 가변피치 블럭(2)들의 피치가 변화되면 이에 대응하는 절개홈(12a) 피치를 갖는 다른 스톱퍼(12)를 준비하여 교체해주면 된다.The cutting grooves 12a of the stopper 12 are formed to have a pitch corresponding to the pitch of each variable pitch block 2. Therefore, when the pitch of the variable pitch blocks 2 is changed, another stopper 12 having a pitch of the cutout groove 12a corresponding thereto may be prepared and replaced.

상기와 같이 구성된 본 발명의 픽업장치의 작동은 다음과 같이 이루어진다.Operation of the pickup device of the present invention configured as described above is made as follows.

핸들러에서 한 종류의 모듈 아이씨를 테스트 하고 나서 다른 종류의 모듈 아이씨를 테스트할 경우 테스터(Tester)의 메인보드가 테스트 대상에 맞도록 교체되면 이에 따라 메인보드 상의 테스트 소켓들 간의 피치가 변화되는 경우가 발생하게 된다.If you test one type of module IC in a handler and then another type of module IC, the pitch of the test sockets on the motherboard will change if the mainboard of the tester is replaced to match the test target. Will occur.

이 경우, 작업자는 픽업장치의 프레임(1)으로부터 스톱퍼(12)를 분리시킨 다음, 각 가변피치 블럭(2)을 프레임(1) 하부에 설치된 엘엠가이드(5a)를 따라 이동시키면서 가변피치 블럭(2) 간의 피치(P1, P2, P3)를 메인보드의 테스트 소켓(미도시) 피치와 일치하도록 하고, 상기 테스트 소켓 피치와 일치하는 절개홈(12a) 피치를 갖는 스톱퍼(12)를 선택하여 스톱퍼(12)의 각 절개홈(12a)을 각 가변피치 블럭(2)의 양단부에 삽입시키면서 프레임(1)의 양측에 결합시켜 사용하면 된다.In this case, the operator separates the stopper 12 from the frame 1 of the pick-up apparatus, and then moves each variable pitch block 2 along the LM guide 5a installed under the frame 1, while the variable pitch block ( 2) The pitch (P1, P2, P3) between the match the pitch of the test socket (not shown) of the motherboard, select the stopper 12 having a pitch of the cutout groove 12a matching the pitch of the test socket stopper The cutting grooves 12a of (12) may be inserted into both ends of the variable pitch block 2 and coupled to both sides of the frame 1 for use.

참고로, 상기와 같은 픽업장치의 피치 조정작업을 수행하기 위해서는 각각의 메인보드 종류에 따른 테스트 소켓 피치와 대응하는 스톱퍼들을 미리 준비해야 하는 선결 조건이 따르지만, 상기와 같은 스톱퍼는 복수개의 절개홈이 형성된 플레이트 형태로 되어 있으므로 프레스작업과 같은 공정을 통해 매우 간단하게 제작할 수있으므로, 픽업장치 전체를 교체해야 하는 기존의 구조에 비하면 교체 작업에 소요되는 비용과 작업이 대폭적으로 축소됨을 알 수 있다.For reference, in order to perform the pitch adjustment operation of the pick-up device as described above, a prerequisite is to prepare a stopper corresponding to the pitch of the test socket according to each motherboard type, but the stopper as described above has a plurality of incision grooves. Since it is formed in the form of a plate can be produced very simply through a process such as press work, it can be seen that the cost and work required for the replacement work is significantly reduced compared to the existing structure to replace the entire pickup device.

한편, 상기와 같이 피치 조정 작업이 완료된 픽업장치는 각각의 그리퍼(4)들이 종래와 동일한 방식으로 모듈 아이씨를 홀딩 및 해제하는 작업을 수행하게 되는 바, 픽업장치가 모듈 아이씨를 홀딩 및 해제하는 작동은 본 발명의 요지에 해당하지는 아니하므로 이에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.On the other hand, the pick-up device is completed pitch adjustment as described above, the respective grippers (4) is to perform the operation of holding and releasing the module IC in the same manner as the conventional bar, the operation of the pickup device holding and releasing the module IC Since this does not correspond to the gist of the present invention, a detailed description thereof will be omitted.

이상에서와 같이 본 발명에 따르면, 픽업장치의 스톱퍼를 교체해주는 작업만으로 픽업장치의 각 그리퍼들 간의 피치를 변화되는 테스트 소켓의 피치에 맞도록 용이하게 교체해줄 수 있게 되므로, 픽업장치 전체를 교체할 필요가 없으며 피치 조정 작업에 드는 비용이 대폭 축소됨과 더불어 피치 조정 작업 또한 간소화되어 작업 효율성이 향상되는 효과가 있다.As described above, according to the present invention, it is possible to easily replace the pitch between the grippers of the pickup device to match the pitch of the test socket is changed only by replacing the stopper of the pickup device, so that the entire pickup device can be replaced. There is no need, and the cost of pitch adjustment is greatly reduced, and the pitch adjustment is also simplified, which increases work efficiency.

Claims (2)

프레임과;A frame; 상기 프레임에 수평하게 설치된 엘엠가이드(LM Guide) 및 이 엘엠가이드를 따라 이동하도록 결합된 복수개의 엘엠블럭(LM Block)과;An LM Guide horizontally mounted on the frame and a plurality of LM blocks coupled to move along the LM guide; 상기 각 엘엠블럭에 결합되어 엘엠가이드를 따라 이동하면서 서로 간에 임의의 피치로 위치 가변이 가능하도록 된 복수개의 가변피치 블럭과;A plurality of variable pitch blocks coupled to each of the EL blocks, the plurality of variable pitch blocks being capable of varying positions at random pitches while moving along the EL guide; 상기 각 가변피치 블럭에 수직하게 설치되는 승강안내부재를 매개로 상하로 이동가능하게 설치된 그리퍼 블럭과;A gripper block provided to be movable up and down via a lifting guide member installed perpendicular to each of the variable pitch blocks; 상기 각 그리퍼 블럭에 좌우로 확장 및 수축 운동하도록 설치되어 모듈 아이씨의 양단부를 홀딩 및 해제하는 한 쌍의 그리퍼 및;A pair of grippers installed to expand and contract the left and right sides of the gripper blocks to hold and release both ends of the module IC; 상기 프레임의 일측부 외측에 착탈 가능하게 결합되고, 그 일측변에 상기 각 가변피치 블럭의 일측부가 삽입되면서 지지되는 복수개의 절개홈이 소정 간격으로 형성되어, 각 가변피치 블럭의 위치를 고정시키는 플레이트 형태의 스톱퍼를 포함하여 구성된 모듈 아이씨 실장 테스트 핸들러의 모듈 아이씨 픽업장치.Removably coupled to the outer side of one side of the frame, a plurality of incision grooves are formed at predetermined intervals supported by one side of each of the variable pitch block is inserted into one side of the plate to fix the position of each variable pitch block Modular IC pick-up of a modular IC-mounted test handler comprising a stopper of the type. 삭제delete
KR10-2002-0013541A 2002-03-13 2002-03-13 Apparatus for picking up Module IC in Module IC test handler KR100444591B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2002-0013541A KR100444591B1 (en) 2002-03-13 2002-03-13 Apparatus for picking up Module IC in Module IC test handler

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2002-0013541A KR100444591B1 (en) 2002-03-13 2002-03-13 Apparatus for picking up Module IC in Module IC test handler

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20030073802A KR20030073802A (en) 2003-09-19
KR100444591B1 true KR100444591B1 (en) 2004-08-16

Family

ID=32224600

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR10-2002-0013541A KR100444591B1 (en) 2002-03-13 2002-03-13 Apparatus for picking up Module IC in Module IC test handler

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100444591B1 (en)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100607546B1 (en) * 2005-05-25 2006-08-02 우리마이크론(주) Memory auto tester for computer
KR100737400B1 (en) * 2006-05-12 2007-07-09 미래산업 주식회사 Device transfer for semiconductor device test handler
KR100656749B1 (en) * 2006-06-17 2006-12-13 에이엠티 주식회사 Test handler apparatus of flexible cell type and method for controlling thereof
KR100935651B1 (en) * 2006-12-18 2010-01-07 미래산업 주식회사 Picker Unit for Module IC Test Handler

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19980033607A (en) * 1998-04-30 1998-07-25 박주천 Pick end place of semiconductor device inspection device
KR19990055501A (en) * 1997-12-27 1999-07-15 정문술 Picker Spacing Device of Module IC Handler
KR20000000251U (en) * 1998-06-05 2000-01-15 김영환 Pitch adjusting device of pickup head for semiconductor handler
KR20000010416A (en) * 1998-07-31 2000-02-15 정문술 Apparatus for adjusting a module ic pitch of a module ic handler
KR20000067570A (en) * 1999-04-29 2000-11-25 정문술 forking and un forking picker of shoting handler for burn-in tester
KR20000072967A (en) * 1999-05-03 2000-12-05 정문술 device for alignment of loading and unloading picker in sorting handler for burn-in tester

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19990055501A (en) * 1997-12-27 1999-07-15 정문술 Picker Spacing Device of Module IC Handler
KR19980033607A (en) * 1998-04-30 1998-07-25 박주천 Pick end place of semiconductor device inspection device
KR20000000251U (en) * 1998-06-05 2000-01-15 김영환 Pitch adjusting device of pickup head for semiconductor handler
KR20000010416A (en) * 1998-07-31 2000-02-15 정문술 Apparatus for adjusting a module ic pitch of a module ic handler
KR20000067570A (en) * 1999-04-29 2000-11-25 정문술 forking and un forking picker of shoting handler for burn-in tester
KR20000072967A (en) * 1999-05-03 2000-12-05 정문술 device for alignment of loading and unloading picker in sorting handler for burn-in tester

Also Published As

Publication number Publication date
KR20030073802A (en) 2003-09-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100253936B1 (en) Ic mounting and demounting apparatus and mounting and demounting head thereof
CN107533102B (en) Component handler
KR100517074B1 (en) Transferring apparatus for tray and automatic test handler having thereof
KR101335916B1 (en) Apparatus for testing an object
KR100444591B1 (en) Apparatus for picking up Module IC in Module IC test handler
KR100829232B1 (en) Handler for testing electronic parts
KR100276929B1 (en) device for loading and unloading module IC from module IC handler to socket
JP2019120564A (en) Electronic component conveyance device and electronic component inspection device
KR100401014B1 (en) Test Handler
KR100973189B1 (en) Test handler
KR100456258B1 (en) Tray transfer of handler for testing semiconductor
KR100236774B1 (en) Device for adjusting space of pickers in handler for module ic
KR100297393B1 (en) device for alignment of loading and unloading picker in sorting handler for burn-in tester
KR100522084B1 (en) Loading/unloading apparatus for handler
KR101508507B1 (en) Picker unit for vision inspection machine
KR100402311B1 (en) System for testing Semi-conductor and method for controling the same
KR100689972B1 (en) Apparatus for testing flat type electric device
WO2021064922A1 (en) Substrate support pin installation jig, and method for installing substrate support pin
KR100528706B1 (en) Tray Transfer for Semi-conductor Test Handler
JP2001508237A (en) Equipment for supplying electrical components to automatic mounting equipment
JP2020100147A (en) Work device for substrate
KR20120009199A (en) Customer tray stacker
KR200302342Y1 (en) Tester of inspecting apparatus of protection circuit module
JPH08292228A (en) Apparatus for testing ic device
TWI679423B (en) Electronic component test device and test classification equipment for application thereof

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20120803

Year of fee payment: 9

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130802

Year of fee payment: 10

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20140804

Year of fee payment: 11

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150804

Year of fee payment: 12

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160803

Year of fee payment: 13

LAPS Lapse due to unpaid annual fee