KR100424247B1 - 블록 공중합체를 이용하는 나노-소자 - Google Patents
블록 공중합체를 이용하는 나노-소자 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100424247B1 KR100424247B1 KR10-1999-0038819A KR19990038819A KR100424247B1 KR 100424247 B1 KR100424247 B1 KR 100424247B1 KR 19990038819 A KR19990038819 A KR 19990038819A KR 100424247 B1 KR100424247 B1 KR 100424247B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- polymer
- electrode
- electrodes
- delete delete
- string
- Prior art date
Links
- 229920001400 block copolymer Polymers 0.000 title claims description 12
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 claims abstract description 82
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 28
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 52
- 239000000178 monomer Substances 0.000 claims description 37
- 239000000693 micelle Substances 0.000 claims description 10
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 7
- 229920001222 biopolymer Polymers 0.000 claims description 5
- 239000002105 nanoparticle Substances 0.000 claims description 5
- 239000005062 Polybutadiene Substances 0.000 claims description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 3
- 229920002857 polybutadiene Polymers 0.000 claims description 3
- 229920001195 polyisoprene Polymers 0.000 claims description 3
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 12
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 12
- 230000008569 process Effects 0.000 description 12
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 9
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 7
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 6
- 108020004414 DNA Proteins 0.000 description 5
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 5
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 5
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 4
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 4
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 4
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 4
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 4
- 239000002096 quantum dot Substances 0.000 description 4
- UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N Benzene Chemical compound C1=CC=CC=C1 UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 3
- 230000009477 glass transition Effects 0.000 description 3
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 3
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000010899 nucleation Methods 0.000 description 3
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 238000011160 research Methods 0.000 description 3
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 3
- 102000053602 DNA Human genes 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N Styrene Chemical compound C=CC1=CC=CC=C1 PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 238000007772 electroless plating Methods 0.000 description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 2
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000002940 palladium Chemical class 0.000 description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920006254 polymer film Polymers 0.000 description 2
- 230000005641 tunneling Effects 0.000 description 2
- ROGIWVXWXZRRMZ-UHFFFAOYSA-N 2-methylbuta-1,3-diene;styrene Chemical compound CC(=C)C=C.C=CC1=CC=CC=C1 ROGIWVXWXZRRMZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N Acetic acid Chemical group CC(O)=O QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 description 1
- VVQNEPGJFQJSBK-UHFFFAOYSA-N Methyl methacrylate Chemical compound COC(=O)C(C)=C VVQNEPGJFQJSBK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N O-Xylene Chemical compound CC1=CC=CC=C1C CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N Ozone Chemical compound [O-][O+]=O CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002174 Styrene-butadiene Substances 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000002051 biphasic effect Effects 0.000 description 1
- MTAZNLWOLGHBHU-UHFFFAOYSA-N butadiene-styrene rubber Chemical compound C=CC=C.C=CC1=CC=CC=C1 MTAZNLWOLGHBHU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 239000003638 chemical reducing agent Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 239000012467 final product Substances 0.000 description 1
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 1
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 238000005342 ion exchange Methods 0.000 description 1
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 1
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 239000011115 styrene butadiene Substances 0.000 description 1
- 229920003048 styrene butadiene rubber Polymers 0.000 description 1
- 229920001059 synthetic polymer Polymers 0.000 description 1
- 239000008096 xylene Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K10/00—Organic devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching; Organic capacitors or resistors having potential barriers
- H10K10/701—Organic molecular electronic devices
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82B—NANOSTRUCTURES FORMED BY MANIPULATION OF INDIVIDUAL ATOMS, MOLECULES, OR LIMITED COLLECTIONS OF ATOMS OR MOLECULES AS DISCRETE UNITS; MANUFACTURE OR TREATMENT THEREOF
- B82B1/00—Nanostructures formed by manipulation of individual atoms or molecules, or limited collections of atoms or molecules as discrete units
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C07—ORGANIC CHEMISTRY
- C07H—SUGARS; DERIVATIVES THEREOF; NUCLEOSIDES; NUCLEOTIDES; NUCLEIC ACIDS
- C07H21/00—Compounds containing two or more mononucleotide units having separate phosphate or polyphosphate groups linked by saccharide radicals of nucleoside groups, e.g. nucleic acids
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y10/00—Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C07—ORGANIC CHEMISTRY
- C07B—GENERAL METHODS OF ORGANIC CHEMISTRY; APPARATUS THEREFOR
- C07B2200/00—Indexing scheme relating to specific properties of organic compounds
- C07B2200/11—Compounds covalently bound to a solid support
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K85/00—Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
- H10K85/10—Organic polymers or oligomers
- H10K85/151—Copolymers
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S977/00—Nanotechnology
- Y10S977/70—Nanostructure
- Y10S977/788—Of specified organic or carbon-based composition
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S977/00—Nanotechnology
- Y10S977/84—Manufacture, treatment, or detection of nanostructure
- Y10S977/882—Assembling of separate components, e.g. by attaching
- Y10S977/884—Assembled via biorecognition entity
- Y10S977/885—Via nucleic acid hybridization
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Genetics & Genomics (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Biotechnology (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Nanotechnology (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Thin Film Transistor (AREA)
- Electrodes Of Semiconductors (AREA)
Abstract
본 발명은 기재를 포함하는 구조물에 관한 것이다. 기재상에 제 1 전극과 제 2 전극이 서로 이격되어 배열된다. 두 전극사이의 기재상에 중합체 스트링이 위치하고, 중합체 선은 약 50nm 미만의 폭을 갖는다.
Description
본 발명은 반도체 칩 분야에 관한 것이다. 특히, 본 발명은 매우 작은 특징부 크기를 갖는 능동 소자를 포함하는 반도체 칩에 관한 것이다. 본 발명은 또한 이런 크기를 갖는 활성 특징부를 포함하는 반도체 칩의 형성 방법에 관한 것이다.
실리콘 칩상의 능동 소자의 치수를 감소시키는 기술은 포토리토그래피 기술에 의해 설정되는 제한요소에 의해 그 한계에 직면하고 있다. 예를 들면, 복사선의 파동성, 예를 들면 간섭과 굴절 현상은 소자 크기와 밀도를 제한할 수 있다. 포토리토그래피 기술의 한계를 극복하기위해 상당한 연구가 수행되어왔다.
이에 대한 연구는 위상 이동 리토그래피등에서 제기되는 문제점을 보정하면서 다른 신규한 접근법을 개발하는 것에 관한 것이다. 부수적으로, 이 연구를 이용하여 작은 부피의 전자 제한을 이용하는 소자 설계 기술을 발전시켜왔다. 3개의 기본적인 카테고리는 콴텀 도트(Quantum Dots, QD), 공명 터넬링 소자(Resonant Tunneling Devices, RTD) 및 단일 전자 트랜지스터(SET)와 같은 소자 설계이다. 콴텀 도트는 터튼(R. Turton)의 문헌[The Quantum Dot, Oxford, U.K., Oxford University Press, 1995]에, 공명 터넬링 소자는 시보(A.C. Seabaugh) 등의 문헌[Future Electron Devices(FED), J., Vol. 3, Suppl. 1, pp. 9-20, (1993)]에, 단일 전자 트랜지스터는 카스트너(M.A. Kastner)의 문헌[Rev. Mod. Phys., Vol. 64, pp. 849-858(1992)]에 보다 자세히 개시되어있고, 이들은 모두 본원에 참고로 인용되어 있다.
본 발명의 양태는 기재를 포함하는 구조물을 제공한다. 기재상에 제 1 전극과 제 2 전극이 배열된다. 두 전극사이의 기재상에 중합체 선이 위치된다. 중합체 선은 약 50nm 미만의 폭을 갖는다.
본 발명의 다른 양태는 기재상에 구조물을 형성하는 방법을 제공하는 것이다. 이러한 방법은 기재상에 제 1 전극과 제 2 전극을 제공하는 것을 포함한다. 두 전극사이에 중합체가 침착된다. 제 1 전극과 제 2 전극사이에 전압이 인가된다.
본 발명의 또다른 목적 및 이점은 본 발명의 바람직한 양태만을 나타내고 개시하며, 본 발명을 수행하기 위한 최적의 양상을 단지 예시하는 하기의 상세한 설명으로부터 당 분야에 숙련된 이들에 의해 쉽게 이해될 것이다. 물론, 본 발명은 본 발명에서 벗어남이 없이 다른 상이한 양태를 포함할 수 있고 이의 여러 상세한 점들이 다양한 명확한 양태로 변형될 수 있다. 따라서, 도면 및 상세한 설명은 단지 예시일 뿐 제한하고자함이 아니다.
도 1a 내지 1c는 본 발명의 한 양태에 따른 방법의 다양한 단계에서 존재하는 본 발명의 한 양태에 따른 소자의 상면도이고, 도 1d는 횡단면도이다.
도 2a는 본 발명의 한 양태에 따른 방법의 추가 공정도중 다양한 단계에서 존재하는 본 발명의 한 양태에 따른 소자의 상면도이고, 도 2b 내지 2d는 횡단면도이다.
도 3a는 본 발명의 한 양태에 따른 방법의 추가 공정도중 다양한 단계에서 존재하는 본 발명의 한 양태에 따른 소자의 횡단면도이고 도 3b 및 도 3c는 상면도이다.
도 4는 본 발명의 한 양태에 따른 소자에 대한 중합체 배열의 사시도이다.
본 발명은 포토리토그래피 기술 및 또한 전자 한정 소자와 관련된 문제를 극복하고 실제로 해결하기 위한 방법을 제공하는 것이다. 생성된 소자는 통상적으로 공지된 기술에 의해 제조된 것보다 훨씬 더 작다. 따라서, 본 발명은 나노미터 규모의 소자 또는 나노소자를 제조하기 위한 신규한 제조방법을 포함한다.
이런 소자를 제조하기 위해서, 본 발명은 블록 공중합체로 공지된 특정한 합성 중합체의 자가 조직화 성질을 이용한다. 본 발명에 따라 사용되는 블록 공중합체는 전형적으로 둘 이상의 단량체를 포함한다. 이들 기준에 따르면, 단량체중의 하나는 전형적으로 단량체 중합후 이중 결합을 포함한다.
그러나, 둘보다 많은 단량체를 사용할 수 있다. 실제로, 임의의 수의 단량체를 본 발명에 따라 사용할 수 있다. 각각의 단량체는 전형적으로 각각의 중합체에서 유사하거나 동일한 블록 길이를 형성할 것이다. 그럼에도 불구하고 2 또는 3개의 단량체가 일반적으로 본 발명에 사용되며, 4개의 단량체도 사용할 수 있다.
본 발명에 따라 사용될 수 있는 단량체의 예는 이중 결합 함유 중합체를 형성하는 단량체를 포함한다. 이런 단량체의 예는 폴리이소프렌 및 폴리부타디엔을 포함한다. 다른 단량체는 스티렌 및 메틸메타크릴레이트를 포함한다.
2개의 단량체, 단량체 A와 단량체 B를 이용하는 양태는 단량체 A의 NA단위와 단량체 B의 NB단위의 블록을 포함할 수 있다. 단량체 A는 단량체 당 하나이상의 이중 결합이 있는 중합체를 형성할 수 있다. 단량체 A와 단량체 B의 상대적인 양은 양태에 따라 다양할 수 있다. 한 양태에 따르면, 일반적으로 NA<NB이다. NA:NB비는 불연속 A상이 원통형 마이셀(miscelles)을 형성하도록 하는 것일 수 있다. 전형적으로, NA/(NA+NB) 범위는 약 0.15 내지 약 0.30이다.
단량체의 절대량은 양태에 따라 다양할 수 있다. 예를 들면 NA는 약 1000이상일 수 있다.
본 발명의 양태에 따르면 상이한 2개의 단량체의 양은 본 발명의 수행되는 방법과 최종 제품에서의 중합체를 고려하여 중합체의 바람직한 특성에 따라 다양할 수 있다.
예를 들면 단량체의 상대적인 양과 이들의 특징, 예를 들면 분자량은 중합체의 특징들을 조절하기 위해 다양할 수 있다.
한 예에 따르면, 분자량 다분산도, 중량평균분자량을 수평균분자량으로 나눈 비, 즉 P=Mw/Mn은 시스템이 미세상 분리되어 단량체 B의 연속상중에 단량체 A의 원통형 마이셀을 형성하도록 충분히 낮다. 이런 경우, Mw/Mn은 전형적으로 약 1.5 미만이다. 중합체가 그자체로 배열하여 원통형 마이셀을 형성하는 경우, 원통형 마이셀이 정렬될 수 있다. 도 4는 2개의 중합체 A와 B의 원통형 마이셀이 형성된 예를 나타낸다.
실제로, 2개의 단량체의 상대적인 양은 수학적으로 한정될 수 있다. 한 예에 따르면, 2개의 단량체들의 양사이의 관계는 하기 수학식 1에 의해 나타나는 φ에 의해 특징지워질 수 있다:
상기 식에서,
NA와 NB는 상기 정의된 바와 같다.
φ의 값은 용도에 따라 다양할 수 있다. 한 양태에 따르면, φ는 약 0.15 내지 약 0.3의 범위의 값을 갖는다.
본 발명에 따른 구조물은 또한 본 발명의 나노소자가 그위에 제조될 수 있는 기재를 포함한다. 기재는 유리를 포함할 수 있다. 또한, 유리 또는 다른 형태의 기재는 임의의 통상적인 반도체 물질을 포함할 수 있다. 예를 들면 기재는 실리콘을 포함할 수 있다.
전극은 기재상에 배열될 수 있다. 기재상에 중합체 선을 생성하는 것이 바람직한 경우, 2개의 전극을 기재상에 배열할 수 있다. 전극은 통상적인 포토리토그래피 기술에 따라 기재상에 형성될 수 있다.
또한, 전극 (B)와 (C)를 임의의 전기 전도성 물질로 제조할 수 있다. 예를 들면, 전극은 임의의 금속 또는 합금으로 제조될 수 있다. 바람직하게는 전극은 산화물 부재 금속으로 제조된다. 한 예에 따르면, 전극은 금으로 제조된다.
도 1a는 표면상에 2개의 전극, (B)와 (C)가 있는 기재의 양태를 위에서 본 도면을 나타낸다. 전극 (B)와 (C)는 서로 매우 밀착된다. 전극들 사이의 거리는 양태에 따라 다양할 수 있다. 한 예에 따르면, 전극은 약 1㎛ 내지 약 100㎛의 거리로 분리될 수 있다.
필름의 두께는 전형적으로 원통형 마이셀의 직경과 실질적으로 동일하다. 마이셀의 직경은 전형적으로 도 4에 도시된 바와 같은 원통형 마이셀의 경우 약 10 내지 약 50nm이다.
전극은 양태에 따라 다양한 형태를 가질 수 있다. 도 1a는 전극 (B)와 (C)가 서로 마주하는 점 또는 정점 (1)과 (3)에서 종결되는 예를 나타낸다. 점의 측부는 곡선일 수 있다. 예를 들면 전극의 측부는 볼록하거나 오목할 수 있다. 다르게는, 전극의 측부들은 직선일 수 있다. 전극의 나머지 부분의 외형은, 나머지 부분이 전극에 전력을 제공하는 전원의 연결을 위한 영역을 제공하는 한, 다양할 수 있다.
본 발명은 제 3의 전극 A를 포함할 수 있다. 제 3의 전극은 게이트 전극으로 언급될 수 있다. 제 3의 전극의 역할은 하기에 더욱 자세하게 논의될 것이다.
제 3의 전극은 도 1a에 도시된 양태에 예시된 바와 같이 2개의 제 1 전극사이에 위치할 수 있다. 제 3의 전극은 또한 다른 기술을 이용할 수도 있지만, 통상적인 포토리토그래피 기술을 이용하여 형성될 수 있다.
제 3의 전극의 외형, 예를 들면 형태는 양태에 따라 다양할 수 있다. 예를 들면 도 1a에 개시된 제 3의 전극은 실질적으로 길고 가는 사각형, 달리 말하자면, 실질적으로 직선이다.
제 3의 전극의 두께는 용도에 따라 다양할 수 있다. 예를 들면 제 3의 전극은 약 100nm 내지 약 5000nm의 폭을 가질 수 있다. 바람직하게는, 제 3의 전극은 가능한한 좁고 가늘다. 한 양태에 따르면 제 3의 전극은 약 100nm 미만의 두께를 갖는다.
제 3의 전극의 치수, 특히 두께는 다양한 인자에 의해 조절될 수 있다. 예를 들면 제 3의 전극의 치수는 전극상에 침착되는 블록 공중합체 필름의 품질에 의해 조절될 수 있다. 제 3의 전극의 치수에 영향을 미칠 수 있는 필름의 품질 특성은 평활도와 접착성을 포함한다. 한 양태에 따르면, 제 3의 전극은 제 3 전극의 두께에 기인한, 침착된 필름상의 기복을 피하기 위해 가능한한 얇게 제조된다. 두꺼운 제 3 전극은 제 3 전극상에 융기를 갖는 중합체 필름을 생성시킬 수 있다.
제 3 전극의 정확한 위치는 양태에 따라 다양할 수 있다. 예를 들면, 제 3 전극의 목적이 그의 위치를 제어할 수 있다. 바람직하게는, 제 3 전극 (A)는 2개의 전극 (B)와 (C)의 선단(tip) (1)과 (3)으로부터 동일한 거리에 위치한다. 한 양태에 따르면, 제 3 전극은 전극 (B)와 (C)의 점을 연결하는 선에 수직이도록 배열될 수 있다.
전극 (B), (C)와 마찬가지로, 전극 (A)는 임의의 전기 전도성 물질로 제조될 수 있다. 예를 들면 제 3 전극은 임의의 금속 또는 합금으로 제조될 수 있다. 바람직하게는 제 3 전극은 산화물 부재 금속으로 제조될 수 있다. 한 예에 따르면, 제 3 전극은 금으로 제조된다.
둘이상의 전극 (B)와 (C)를 제공한 후에, 상기 개시된 바와 같은 블록 공중합체는 두 개의 전극 (B)와 (C)사이의 영역에서 기재에 침착될 수 있다. 중합체는 다양한 기술을 이용하여 침착될 수 있다. 한 예에 따르면, 중합체는 스핀 코팅에 의해 기재상에 침착될 수 있다. 다른 예에 따르면, 블록 공중합체는 기재상에 용액 캐스트된다.
중합체는 용액으로 적용될 수 있다. 용매는 중합체가 용해되는 임의의 적합한 용매일 수 있다. 예를 들면 용매는 유기 용매일 수 있다. 특정한 용매는 전형적으로 사용되는 블록 공중합체 시스템에 의존한다. 예를 들면, 중합체가 스티렌-이소프렌 또는 스티렌-부타디엔을 포함하는 경우, 용매는 탄화수소 용매, 예를 들면 크실렌, 톨루엔, 벤젠을 포함할 수 있다.
중합체는 전극 (B)와 (C)사이의 영역에 도포될 수 있다. 중합체는 심지어 전극을 완전히 덮을 수 있다. 과다한 중합체는 필요에 따라 항상 제거될 수 있다. 중합체는 또한 임의의 두께의 층으로 도포될 수 있다. 예를 들면, 도포되는 중합체 층의 두께는 용매를 증발시켰을 때 A 단량체의 원통의 단층이 형성될 수 있도록 하는 두께일 수 있다.
용액은 약 20 내지 약 200℃의 온도에서 오븐에서 구워서 건조될 수 있다. 적어도 일부 진공 또는 대기압 미만의 압력이 증발을 용이하게 하도록 가해질 수 있다.
건조후에, 나머지 중합체 필름을 어닐링시킬 수 있다. 어닐링 방법은 중합체를 그의 유리 전이 온도 이상의 온도에 노출시키는 것을 포함할 수 있다. 온도는 중합체의 유리 전이 온도보다 상당히 높을 수 있다.
어닐링 공정동안, 필름을 블록 공중합체의 유리 전이 온도 이상의 약 100 내지 약 300℃의 온도로 가열할 수 있다. 온도는 또한 중합체가 단일 상 시스템으로부터 2개상 필름으로 미세상 분리되고, 소량의 성분의 원통형 마이셀이 다량의 성분의 연속 매트릭스에 의해 둘러싸이기에 적절하다.
어닐링 공정동안, 중합체는 전계하에 있을 수 있다. 전계의 강도는 양태에 따라 다양할 수 있다. 예를 들면 블록 공중합체의 2개의 중합성 성분사이의 분자량과 유전 상수의 차이는 전계의 강도를 결정하는데 작용할 수 있다. 예를 들면 유전 상수의 더 큰 차이 또는 더 작은 분자량이 더 작은 전계를 적용하는데 필요할 수 있다.
전계는 중합체(들)의 원통형을 정렬하기에 충분히 크다. 다르게는 또는 추가로, 전계는 중합체(들)의 원통이 전극 (B)와 (C)의 선단사이의 영역에서만 완전히 정렬하기에 충분하도록 작을 수 있다. 도 1b에 개시된 바와 같이, 한 양태에 따르면, 전계는 약 20KV/cm이상일 수 있다.
전계는 전극 (B)와 (C)를 가로질러 전압을 인가하여 생성될 수 있다. 전압은 양태에 따라 다양할 수 있다. 전형적으로, 전압은 전극 (B)와 (C)사이에 중합체(들)/단량체(들)의 하나이상의 원통의 정렬을 생성하기에 충분히 크다. 도 1b는 두개의 전극 (B)와 (C)의 점사이의 거리에 걸쳐있는 하나의 원통(D)을 예시한다. 하나이상의 원통이 전극사이에 연장될 수 있다. 동일한 전극상에서 2개의 점사이에서 연장하며 전극 (B)와 (C)를 연결하지 않는 루프는 기능을 하지 않는다.
예를 들면, 전계는 약 1kV/cm 내지 약 103kV/cm일 수 있다.
어닐링후에, 중합체는 기재의 표면, 전극 또는 임의의 다른 표면으로부터 매트릭스 물질을 제거하도록 건조 가공될 수 있다. 이는 모든 중합체 및/또는 단량체 물질이 원통을 형성하지 않음을 나타낸다. 한 양태에 따르면, 물질은 플라즈마 가공에 의해 제거될 수 있다.
매트릭스 물질을 제거하기 위해 사용될 수 있는 방법은 공정에 사용될 수 있는 중합체(들)의 유형에 의존할 것이다. 예를 들면, 매트릭스 물질은 건조 공정을 이용하여 에칭되거나 제거될 수 있다. 한 양태에 따르면, 본 발명에 사용되는 중합체가 이중 결합 함유 중합체, 예를 들면 폴리이소프렌 또는 폴리부타디엔인 경우, 에칭 공정은 오존 노출을 포함하는 건조 공정일 수 있다.
매트릭스 물질의 에칭은 원통에 포함된 부분을 제외하는 모든 중합체/단량체의 에칭을 생성할 수 있다. 도 1c는 에칭후의 소자의 외관을 나타낸다. 전극사이의 원통(들)만이 전극 (B)와 (C)사이에 걸쳐있으므로 이 영역만이 도 1c에 도시되어있다. 그러나, 도 1b에 도시된 다른 원통은 여전히 기재상에 있다. 도 1d는 도 1c에 도시된 단계에서의 소자의 횡단면도를 제공한다.
도 1c 및 1d에 도시된 바와 같이, 본 발명은 전극 (B)와 (C)사이의 "중합체 와이어"를 형성시킨다. 도 1c 및 1d에서는, 임의의 중합체 루프가 남아있는 경우, 이들은 비작용성이므로 도시되지않는다. 상기 정의된 바와 같은 NA가 약 1000인 경우, 와이어의 폭은 약 10nm 내지 약 20nm일 것이다. 두께는 대략 원통의 직경일 것이다. 전형적으로 전극은 약 1mm 미만으로 떨어져있다. 결과적으로, 절대 전압은 임의의 유전체 파단을 피할 수 있도록 충분히 낮다.
중합체 와이어가 형성된 후에, 와이어의 표면을 개질시키도록 공정이 수행될 수 있다. 예를 들면 하나이상의 금속 및/또는 합금을 중합체 와이어의 표면상에 도금할 수 있다. 수행될 수 있는 개질은 개질(들)의 바람직한 기능에 의존할 수 있다.
금속이 중합체 와이어상에 도금되는 경우, 도금 방법은 표준 무전해 도금법을 이용하여 수행될 수 있다. 예를 들면 도금법은 시딩(seeding) 공정으로 시작될 수 있다. 시딩 공정의 한 예는 중합체 와이어상에 팔라듐을 시딩하는 것이다.
한 양태에 따르면, 시딩 공정은 아세테이트 기 또는 산 분무를 이용하여 중합체 와이어의 표면을 개질시키는 것으로 시작할 수 있다. 그런 다음, 이온 교환을 팔라듐 염으로 수행할 수 있다. 그런다음, 팔라듐 염상에서 환원을 수행하여 환원제를 이용하여 중합체 와이어상에 팔라듐을 시딩할 수 있다. 시드/시드 층은 도 2b에서 (E)로 나타낸다.
완전한 중합체 와이어(D)의 무전해 도금 전에, 상기 전극(A)의 영역에서의 금속 시드를 제거할 수 있다. 시드의 제거는 다양한 공정을 이용하여 수행될 수 있다. 예를 들면 시드는 원자력 현미경을 이용하여 이 영역에서 제거될 수 있다. 시드를 제거하여 시드가 제거된 영역의 왼쪽 및 오른쪽 측부상의 와이어 사이의 용량성 결합(capacitive coupling)을 형성할 수 있다. 도 2b는 공정중 상기 단계에서의 소자의 상태를 예시한다.
시드의 선택적인 제거후에, 금속을 시딩된 중합체 와이어상에 도금할 수 있다. 임의의 금속 및/또는 합금을 중합체 와이어상에 도금할 수 있다. 한 양태에 따르면 금을 중합체 와이어상에 도금한다. 도금된 와이어는 도 2c에서 (F)로 나타낸다.
전극 (A)상의 영역에서 도금 시드의 제거 결과로서, 무전해 도금된 중합체 와이어는 갈라진 틈을 갖는다. 이 갈라진 영역은 변형될 수 있고 도 2a 내지 2d에 예시되고 상기 개시된 유사한 공정에 의해 시딩되어 전극 (B)와 (C)에 연결된 중합체 와이어에 용량 연결된 금속 섬(island)을 성취할 수 있다. 도 2d는 비도금 영역의 백금 시드를 예시한다.
2개의 도금된 중합체 와이어가 상기 전극 (A)의 영역에 의해 분리된 결과, 전극 (B)에서 전극 (C)로의 전류는 게이트 전극(D), 즉 중합체 와이어를 통해 시드에서의 전하 주입에 의해 조절될 수 있다.
2개의 게이트 선을 끼워넣음으로써, AND 게이트를 성취할 수 있다. 또한, 전술된 개시와 유사하게 두 쌍의 전극을 연결하여 OR 게이트를 제조할 수 있다.
중합체 와이어상의 도금 금속(들)보다는, 소자는 생물학적 중합체 또는 바이오폴리머(biopolymer), 예를 들면 DNA를 이용하여 중합체 와이어상에 제조될 수 있다. 전형적으로, 바이오폴리머는 분자 축을 갖는다. 바이오폴리머의 분자 축은 중합체 스트링과 평행하게 배열될 수 있다.
DNA는 본 발명과 동일한 발명자를 갖고, 동일한 양수인에게 양도되고, 참고로 본원에 인용된 미국 특허원 제 09/154,575 호에 개시된 바와 같이 침착 및 변형될 수 있다.
도 3a 내지 3c는 소자를 형성하기 위한 방법의 다양한 단계에서 이런 장치를 예시한다. 도 3a에 도시된 방법에 따르면, 하나이상의 DNA 분자는 상기 개시된 중합체 스트링과 같은 중합체 스트링상에 배열될 수 있다. 하나이상의 R-루프가 DNA 분자에 형성될 수 있다. 하나이상의 나노입자는 R-루프내에 DNA 분자에 결합될 수 있다. 나노입자(들)의 조성 및 R-루프를 이용하여 용량성 결합을 형성할 수 있다. 따라서, 나노입자(들)는 금속, 반도체 및/또는 절연체를 포함할 수 있다.
본 발명의 전술한 개시는 본 발명을 예시하고 개시한다. 또한, 명세서는 본 발명의 바람직한 양태만을 도시하고 개시하지만, 전술된 바와 같이, 본 발명은 다양한 다른 조합, 변형 및 환경에서 이용될 수 있고, 본원에 기술된 바와 같이 본 발명의 개념의 범위내에서 변화 또는 변형할 수 있고 상기 개시 및/또는 관련 분야의 기술 또는 지식에 상응할 수 있다. 상기 개시된 양태는 또한 본 발명을 실시하는 가장 잘 공지된 방식을 설명하고 이런 또는 다른 양태를 당분야의 다른 숙련된 이들이 본 발명을 이용하고 특정한 용도 또는 발명의 용도에 필요한 다양한 변형을 가능하게 하기 위함이다. 따라서, 본원의 상세한 설명은 본 발명을 본원에 개시된 형태로 한정하지 않는다. 또한, 첨부된 특허청구범위는 다른 양태를 포함하고자 한다.
본 발명에 의하면, 매우 작은 크기를 갖는 능동 소자를 포함하는 반도체 칩이 제공된다.
Claims (40)
- 기재,상기 기재상에서 서로 이격되어 배열되는 제 1 전극 및 제 2 전극, 및상기 두 전극사이의 기재상에 위치하며 폭이 50nm 미만인 것으로, 하나 이상의 블록 공중합체를 포함하는 중합체로 제조된 중합체 스트링(string)을 포함하고;상기 중합체 스트링에 수직이며 2개의 전극 사이에 배열된 제 3 전극을 추가로 포함하는 구조물.
- 제 1 항에 있어서,추가로 중합체 스트링의 적어도 일부에 시드(seed) 층 또는 바이오폴리머(biopolymer)를 포함하거나 중합체 스트링에 결합된 나노입자를 포함하는 구조물.
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 제 1 항에 있어서,2개의 전극이 1㎛ 내지 100㎛의 거리로 분리되어 있는 구조물.
- 삭제
- 제 1 항에 있어서,제 1 전극과 제 2 전극이 산화물 부재 물질로 제조되는 구조물.
- 제 1 항에 있어서,제 1 전극과 제 2 전극이 서로 마주하는 예리한 선단(tip)에서 종결되는 구조물.
- 제 1 항에 있어서,기재가 유리를 포함하는 물질로 제조되는 구조물.
- 삭제
- 삭제
- 제 1 항에 있어서,블록 공중합체가 상이한 양의 2개의 단량체를 포함하는 구조물.
- 제 1 항에 있어서,블록 공중합체의 분자량 다분산도가 시스템이 미세상 분리되어 2개의 단량체의 원통형 마이셀(miscelles)을 형성하기에 충분히 낮은 구조물.
- 제 1 항에 있어서,중합체 스트링이 2개의 단량체의 정렬된 원통형 마이셀을 다수 포함하는 구조물.
- 삭제
- 제 1 항에 있어서,중합체 스트링이 이중 결합 함유 중합체를 포함하는 구조물.
- 삭제
- 제 20 항에 있어서,2개의 단량체의 양이 하기 수학식 1에 의해 정의되는 구조물:수학식 1φ = NA/(NA+NB)상기 식에서,φ는 중합체의 비를 나타내고,NA는 제 1 단량체의 양을 나타내고,NB는 제 2 단량체의 양을 나타낸다.
- 제 26 항에 있어서,φ가 0.15 내지 0.3의 값을 갖거나 또는, NA가 1000인 구조물.
- 제 1 항에 있어서,중합체 스트링이 10nm 내지 20nm의 폭을 갖는 구조물.
- 삭제
- 기재상에 제 1 및 제 2 전극을 제공하는 단계; 상기 두 전극사이에 중합체를 침착시키는 단계; 및 상기 두 전극사이에 전압을 인가함으로써 중합체의 한 말단을 제 1 전극에 접촉시키고 다른 말단을 제 2 전극에 접촉시키는 단계를 포함하는, 기재상에 구조물을 형성하는 방법.
- 제 30 항에 있어서,중합체 스트링을 형성하기 위해 제 1 및 제 2 전극과 접촉하지 않는 중합체의 일부를 제거하는 단계를 추가로 포함하는 방법.
- 삭제
- 삭제
- 제 31 항에 있어서,중합체 스트링의 적어도 일부에 시드 층을 적용하는 단계, 중합체 스트링의 적어도 일부에 바이오폴리머를 적용하는 단계, 나노입자를 중합체 스트링에 결합시키는 단계 또는 중합체 스트링에 수직이며 제 1 및 제 2 전극사이에 배열된 제 3 전극을 제공하는 단계를 추가로 포함하는 방법.
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 기재,상기 기재상에서 서로 이격되어 배열되는 제 1 전극 및 제 2 전극, 및상기 두 전극사이의 기재상에 위치하는 것으로 폭이 50nm 미만인 중합체 스트링을 포함하고, 상기 중합체가 폴리이소프렌 또는 폴리부타디엔인 구조물.
- 제 30 항에 있어서,중합체를 가열하는 단계를 추가로 포함하는 방법.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US09/182,874 US6218175B1 (en) | 1998-10-30 | 1998-10-30 | Nano-devices using block-copolymers |
US9/182,874 | 1998-10-30 | ||
US09/182,874 | 1998-10-30 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20000056979A KR20000056979A (ko) | 2000-09-15 |
KR100424247B1 true KR100424247B1 (ko) | 2004-03-22 |
Family
ID=22670432
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR10-1999-0038819A KR100424247B1 (ko) | 1998-10-30 | 1999-09-11 | 블록 공중합체를 이용하는 나노-소자 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US6218175B1 (ko) |
KR (1) | KR100424247B1 (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100820102B1 (ko) * | 2005-06-30 | 2008-04-10 | 한국화학연구원 | 반도체 나노소자 |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TW457736B (en) * | 1998-09-17 | 2001-10-01 | Ibm | Self assembled nano-devices using DNA |
US20030048619A1 (en) * | 2001-06-15 | 2003-03-13 | Kaler Eric W. | Dielectrophoretic assembling of electrically functional microwires |
US6483125B1 (en) * | 2001-07-13 | 2002-11-19 | North Carolina State University | Single electron transistors in which the thickness of an insulating layer defines spacing between electrodes |
JP4328167B2 (ja) * | 2003-10-02 | 2009-09-09 | ソニー株式会社 | 突起する対向電極を利用する物質間の相互作用検出部と該検出部が設けられたバイオアッセイ用基板 |
JP3952042B2 (ja) * | 2004-06-07 | 2007-08-01 | ソニー株式会社 | 凹状部位を有する電極を備えるハイブリダイゼーション検出部と該検出部を備えるdnaチップ |
JP5484817B2 (ja) * | 2009-08-04 | 2014-05-07 | 株式会社東芝 | パターン形成方法及び半導体装置の製造方法 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5137827A (en) * | 1986-03-25 | 1992-08-11 | Midwest Research Technologies, Inc. | Diagnostic element for electrical detection of a binding reaction |
JP3064001B2 (ja) * | 1990-10-09 | 2000-07-12 | 株式会社アドバンス | 分子固定装置 |
US5563424A (en) * | 1994-03-24 | 1996-10-08 | Uniax Corporation | Polymer grid triodes |
US5607568A (en) | 1995-03-16 | 1997-03-04 | International Business Machines Corporation | Assembly suitable for identifying a code sequence of a biomolecule in a free-solution embodiment |
US5538898A (en) | 1995-03-16 | 1996-07-23 | International Business Machines Corporation | Method suitable for identifying a code sequence of a biomolecule |
US5724253A (en) | 1996-03-26 | 1998-03-03 | International Business Machines Corporation | System and method for searching data vectors such as genomes for specified template vector |
US6060327A (en) * | 1997-05-14 | 2000-05-09 | Keensense, Inc. | Molecular wire injection sensors |
-
1998
- 1998-10-30 US US09/182,874 patent/US6218175B1/en not_active Expired - Lifetime
-
1999
- 1999-09-11 KR KR10-1999-0038819A patent/KR100424247B1/ko not_active IP Right Cessation
-
2001
- 2001-03-07 US US09/799,701 patent/US6403321B1/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100820102B1 (ko) * | 2005-06-30 | 2008-04-10 | 한국화학연구원 | 반도체 나노소자 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20020076703A1 (en) | 2002-06-20 |
US6218175B1 (en) | 2001-04-17 |
US6403321B1 (en) | 2002-06-11 |
KR20000056979A (ko) | 2000-09-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9388047B2 (en) | Directed assembly of carbon nanotubes and nanoparticles using nanotemplates | |
JP3989290B2 (ja) | Dnaを利用した自己組織化ナノデバイス構造およびその製造方法 | |
EP2251918A1 (en) | Semiconductor device | |
US20080135826A1 (en) | Controlled nanowire in permanent integrated nano-templates and method of fabricating sensor and transducer structures | |
US6673424B1 (en) | Devices based on molecular electronics | |
Cativo et al. | Air–liquid interfacial self-assembly of conjugated block copolymers into ordered nanowire arrays | |
US5017975A (en) | Organic electronic device with a monomolecular layer or multi-monomolecular layer having electroconductive conjugated bonds | |
EP0469243B1 (en) | Organic device and method for producing the same | |
KR100424247B1 (ko) | 블록 공중합체를 이용하는 나노-소자 | |
JP3752183B2 (ja) | 微粒子のアレイをアセンブルする方法 | |
JP2005079335A (ja) | ナノギャップ電極の製造方法及び該方法により製造されたナノギャップ電極を有する素子 | |
JP2000349275A (ja) | 単一電子素子とその製造方法 | |
WO2004040671A2 (en) | Dispersed growth of nanotubes on a substrate | |
KR100434272B1 (ko) | 탄소나노튜브의 수평성장 방법 | |
Xiao et al. | AFM observations of self-assembled lambda DNA network on silanized mica | |
JP4992009B2 (ja) | 磁気抵抗素子およびその製造方法、並びにその利用 | |
Saraf | Nano-Devices Using Blockcopolymers | |
RU2106041C1 (ru) | Способ изготовления туннельного прибора | |
US9806273B2 (en) | Field effect transistor array using single wall carbon nano-tubes | |
JP2020510993A (ja) | 化学機械的平坦化なしで製作されたナノ要素プリンティング用のダマシンテンプレート | |
JP4023045B2 (ja) | 微細構造体の製造方法 | |
US8058644B1 (en) | Nanostructure for molecular electronics comprising collinear metal lines defining precise nanoscale gap | |
JPH09129637A (ja) | 微細パターン形成方法 | |
WO2001057939A2 (en) | A hybrid organic-inorganic semiconductor device and a method of its fabrication | |
Sapkov et al. | Preparation of electrodes for molecular transistor by focused ion beam |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20110201 Year of fee payment: 8 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |