KR100417966B1

KR100417966B1 - 인식장치와 인식방법

Info

Publication number: KR100417966B1
Application number: KR10-2001-0010333A
Authority: KR
Inventors: 요코이겐타로
Original assignee: 가부시끼가이샤 도시바
Priority date: 2000-03-14
Filing date: 2001-02-28
Publication date: 2004-02-14
Also published as: US20010022854A1; JP4409702B2; US6807302B2; KR20010091917A; JP2001256505A

Abstract

본 발명은 편지, 엽서류의 셀로판영역에 기재되어 있는 문자열의 구분정보를 인식하는 것에 있어서, 편지 및 엽서류에 대한 농담화상에 기초한 미분화상을 기초로 에지성분을 추출하고, 이 에지성분에 기초하여 셀로판 틀을 판단하고, 상기 판단한 셀로판 틀 내의 문자열을 수신처로서 인식하도록 한 것이며, 이에 의해 구분정보로서의 수신처가 기재되어 있는 셀로판영역을 정확하게 추출할 수 있고, 구분정보의 오인식, 편지 및 엽서류의 오구분의 발생을 방지할 수 있는 것을 특징으로 한다.

Description

인식장치와 인식방법{COGNITION APPARATUS AND COGNITION METHOD}

본 발명은 편지, 엽서류 예를 들면 우편물 등의 셀로판영역 또는 라벨영역에 기재되어 있는 문자열로서의 구분정보(수신처)를 인식하는 인식장치와 인식방법, 상기 인식장치에 의해 인식한 구분정보에 기초하여 구분 처리하는 편지, 엽서류 처리장치와 편지, 엽서류 처리방법에 관한 것이다.

종래, 편지, 엽서류 예를 들면 우편물 등에 기재되어 있는 수신처(문자열)로서의 구분정보에 기초하여 구분 처리하는 편지, 엽서류 처리장치로서의 구분기가 실용화되고 있다.

이러한 구분기에서 편지, 엽서류로서의 우편물, 특히 다이렉트 메일은 수신처 주소가 셀로판 틀(내부의 편지에 기재된 주소를 셀로판 틀을 통하여 외부에서 볼 수 있도록 한 것) 속에 쓰여지는 일이 많다.

셀로판 틀을 발견하는 것은 즉 주소 영역을 발견하는 것에 연결되기 때문에 수신처 인식에 유용하다.

종래는 셀로판영역 추출용 전용의 광학계를 이용하여 셀로판면에서 전반사하는 광을 포착하여 영역을 추출하고 있었다.

이러한 셀로판영역 추출용에서 전용 광학계를 이용하는 방법은 광학계의 비용만큼의 비용이 추가로 발생한다.

그 때문에 셀로판 추출용 광학계를 이용하지 않고서 농담화상(light and shadow)만으로 추출하고 싶지만, 농담화상으로는 셀로판 틀 내부(셀로판부)와 외부(편지부)의 농담차가 작기 때문에 농도차에 기초한 검출은 곤란하였다.

이러한 농담화상으로는 셀로판과 편지의 경계에 선을 볼 수 있는 일도 있지만, 명료하지 않아 도중에 끊기는 일도 많다.

또, 발송인 틀이 인쇄되는 일이 많기 때문에 단순히 틀을 추출하면 수신처 틀(셀로판 틀)이 아닌 발송인 틀(인쇄 틀)이 추출되어 버리는 일이 많다.

이 경우, 잘못 수신처를 인식해 버려, 이 오인식에 기초하여 오구분이 발생하는 문제가 있다.

본 발명은 구분정보로서 문자열이 기재되어 있는 셀로판영역 또는 라벨영역을 정확하게 추출할 수 없고, 구분정보의 오인식, 편지, 엽서류의 오구분이 발생하는 경우가 있는 결점을 제거하는 것으로, 구분정보로서의 문자열이 기재되어 있는 셀로판영역 또는 라벨영역을 정확하게 추출할 수 있으며, 구분정보의 오인식, 편지, 엽서류의 오구분의 발생을 방지할 수 있는 인식장치와 인식방법을 제공할 수 있다.

도 1은 본 발명의 실시형태를 설명하기 위한 편지, 엽서류 처리장치의 개략 구성을 나타내는 도면,

도 2는 편지, 엽서류 처리장치의 제어회로의 구성을 나타내는 블럭도,

도 3은 편지, 엽서류의 개략 구성을 나타내는 도면,

도 4는 화상처리수단의 개략 구성과 처리상황을 나타내는 도면,

도 5는 에지성분 추출처리를 설명하기 위한 플로우챠트,

도 6은 에지성분 추출처리를 설명하기 위한 개념도,

도 7은 제 2 실시형태에 있어서 화상처리수단의 개략 구성을 나타내는 도면,

도 8은 편지, 엽서류의 화상 데이터로부터 추출된 에지성분의 특징을 설명하기 위한 도면,

도 9는 에지추출수단의 에지성분에 대한 셀로판영역의 경계만큼 에지성분이 선택된 상태를 설명하기 위한 도면,

도 10은 제 3 실시형태에 있어서 화상처리수단의 개략 구성을 나타내는 도면,

도 11a, 도 11b는 농도값에 대한 미분값을 설명하기 위한 도면,

도 12는 에지삭제처리를 설명하기 위한 플로우챠트,

도 13a, 도 13b는 농도값에 대한 미분값을 설명하기 위한 도면,

도 14는 에지삭제처리를 설명하기 위한 플로우챠트,

도 15는 제 4 실시형태에 있어서 화상처리수단의 개략 구성을 나타내는 도면,

도 16은 직선추출처리를 설명하기 위한 플로우챠트,

도 17은 직선추출처리를 설명하기 위한 도면,

도 18은 제 5 실시형태에 있어서 화상처리수단의 개략 구성을 나타내는 도면,

도 19는 직사각형 추출처리를 설명하기 위한 플로우챠트,

도 20은 제 6 실시형태에 있어서 화상처리수단의 개략 구성을 나타내는 도면,

도 21은 편지, 엽서류 형식정보의 예를 설명하기 위한 도면,

도 22는 셀로판영역 선택처리를 설명하기 위한 플로우챠트, 및

도 23은 제 7 실시형태에 있어서 화상처리수단의 개략 구성을 나타내는 도면이다.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *

1: 편지, 엽서류 처리장치 2: 공급부

3: 주반송로 4: 취출부

5: 이물·경도 검지부 6: 판독부

7: 구분집적부 8: 구분포켓

9: 패스부 10: 전환게이트

11: 조작패널 13: 화상메모리

14: 화상처리수단 15: 인식장치

21: 에지추출수단 22: 셀로판영역 추출수단

23: 에지선택수단

본 발명에 의하면 편지, 엽서류의 셀로판영역 또는 라벨영역에 기재되어 있는 문자열로서의 구분정보를 인식하는 인식장치에 있어서,상기 편지, 엽서류의 주주사방향과 부주사방향의 각 화소의 농도값을 판독하는 판독수단,상기 판독수단에 의해 판독한 각 화소의 농도값에 기초하여, 농도값의 변화가 소정값을 넘는 부분을 판단하는 제 1 판단수단,상기 제 1 판단수단에 의해 판단한 농도값의 변화가 소정값을 넘는 부분에 기초하여 상기 편지, 엽서류에서 셀로판영역 또는 라벨영역을 판단하는 제 2 판단수단, 및상기 제 2 판단수단에 의해 판별된 셀로판영역 또는 라벨영역에 기재되어 있는 문자열에 의해 구분정보를 인식하는 인식수단을 구비하고,상기 제 1 판단수단은상기 판독수단에 의해 판독한 각 화소의 농도값을 미분하는 미분수단,상기 미분수단에 의해 미분된 1화면분의 미분신호에 의해 1화면분의 에지성분을 추출하는 제 1 추출수단, 및상기 제 1 추출수단에 의해 추출된 1화면분의 에지성분에 대한 수평 사영과 수직 사영을 추출하는 제 2 추출수단으로 이루어지고,상기 제 2 판단수단은상기 제 2 추출수단에 의해 추출된 수평 사영과 수직 사영에 의해 에지성분이 집중하고 있는 영역을 셀로판영역 또는 라벨영역이라 판단하는 것을 특징으로 하는 인식장치가 제공된다.

또한, 본 발명에 의하면 편지, 엽서류의 셀로판영역 또는 라벨영역에 기재되어 있는 문자열로서의 구분정보를 인식하는 방법에 있어서,상기 편지, 엽서류의 주주사방향과 부주사방향의 각 화소의 농도값을 판독하는 판독공정,상기 판독공정에 의해 판독된 각 화소의 농도값에 기초하여 농도값의 변화가 소정값을 넘는 부분을 판단하는 제 1 판단공정,상기 제 1 판단공정에 의해 판단된 농도값의 변화가 소정값을 넘는 부분에 기초하여 상기 편지, 엽서류에서 셀로판영역 또는 라벨영역을 판별하는 제 2 판단공정, 및상기 제 2 판단공정에 의해 판별된 셀로판영역 또는 라벨영역에 기재되어 있는 문자열에 의해 구분정보를 인식하는 인식공정을 포함하고,상기 제 1 판단공정은상기 판독공정에 의해 판독된 각 화소의 농도값을 미분하는 미분공정,상기 미분공정에 의해 미분된 1화면분의 미분신호에 의해 1화면분의 에지성분을 추출하는 제 1 추출공정, 및상기 제 1 추출공정에 의해 추출된 1화면분의 에지성분에 대한 수평 사영과 수직 사영을 추출하는 제 2 추출공정으로 이루어지고,상기 제 2 판단공정은상기 제 2 추출공정에 의해 추출된 수평 사영과 수직 사영에 의해 에지성분이 집중하고 있는 영역을 셀로판영역 또는 라벨영역으로 판단하는 것을 특징으로 하는 인식방법이 제공된다.

이하, 도면을 참조하면서 본 발명의 제 1 실시형태에 대해서 상세하게 설명한다.

도 1은 본 발명의 편지, 엽서류 처리장치(편지, 엽서류 구분장치)(1)의 개략 구성을 나타내고, 도 2는 도 1의 편지, 엽서류 처리장치(1)의 제어회로의 구성을 나타내는 것이다.

도 1에 도시한 바와 같이 편지, 엽서류 처리장치(1)는 제 1 면에 구분정보(문자열, 수신처)가 쓰여지거나, 또는 인쇄된 복수의 편지, 엽서류(S)를 이 제 1 면이 동일 방향을 향하도록 일단을 정돈하여 세운 위치에서 수용하는 동시에 이들 편지, 엽서류(S)를 소정의 취출(取出)위치로 순차 공급하는 공급부(공급장치)(2)를 구비하고 있다. 편지, 엽서류(S)의 취출위치에는 공급부(2)에서 공급된 편지, 엽서류(S)를 주반송로(3)를 따라서 한통씩 취출하는 취출부(4)가 설치되어 있다.

취출부(4)에서 취출된 편지, 엽서류(S)는 일정 속도로 주행하는 반송 벨트를 갖는 주반송로(3)를 통하여 반송된다. 주반송로(3) 상에는 편지, 엽서류(S)에 이물이 포함되어 있는 경우에 그 이물을 검지하는 동시에 편지, 엽서류(S) 자체의 경도를 검출하는 이물·경도 검지부(5)가 설치되어 있다. 이물·경도 검지부(5)의반송방향 하류측에서 주반송로(3)로부터 분기된 반송로 상에는 이물·경도 검지부(5)의 검지에 의해 기계처리가 불가능하다고 판단된 편지, 엽서류(S)를 배제하는 배제집적부(5a)가 설치되어 있다.

이물·경도 검지부(5)의 반송방향 하류측의 주반송로(3) 상에는 편지, 엽서류(S)의 구분정보(분류정보, 수신처정보)를 판독하기 위해서 제 1 면을 광학적으로 주사하여 화상을 판독하는 판독부(6)가 설치되어 있다.

판독부(6)의 하류측 주반송로(3)의 종단에는 편지, 엽서류(S)를 소정의 구분포켓(구분처)으로 구분하여 집적하는 구분집적부(7)(구분집적장치)가 접속되어 있다. 또한 구분처는 편지, 엽서류(S)가 구분집적되는 구분포켓의 위치를 말한다. 구분집적부(7)의 최종단에 배제(리젝트)되는 편지, 엽서류(S)를 구분하여 집적하는 배제집적부(7a)가 설치되어 있다.

구분집적부(7)는 복수의 단 및 복수의 열로 구획된 복수의 구분포켓(8)을 갖고 있다. 예를 들면 8단의 25열의 200개의 구분포켓(8, …)에 의해 구성되어 있다. 각 구분포켓(8)의 위쪽에는 각각 구분게이트(도시하지 않음)가 설치되어 있고, 이들 구분게이트를 선택적으로 전환함으로써 편지, 엽서류(S)가 소정의 구분포켓(8)으로 구분되도록 되어 있다. 이 구분은 본체 제어부(12)에서 지시한다.

도 1에 있어서 구분집적부(7)를 향하는 주반송로(3)의 종단 가까이에는 구분집적부(7)의 각 단 패스부(9)에 대응한 복수의 전환게이트(10)가 설치되고, 각 전환게이트(10)를 선택적으로 전환함으로써 주반송로(3)가 각 단 패스부(9)를 통하여 복수의 단 중 어느 하나에 선택적으로 접속되도록 되어 있다.

또한, 편지, 엽서류 처리장치(1)의 도면 가운데 좌측 전면에는 담당자에 의한 각종 입력조작이 이루어지는 조작패널(11)이 설치되고, 편지, 엽서류 처리장치(1)의 도면 가운데 우측에는 편지, 엽서류 처리장치(1)의 구분동작을 제어하는 주제어부(본체 제어부)(12)가 설치되어 있다.

상기 주제어부(12)는 편지, 엽서류 처리장치(1) 전체를 제어하는 것이며, 도 2에 도시한 바와 같이 화상메모리(13), 화상처리수단(14), 인식장치(15), 구분지정제어부(도시하지 않음), 상기 취출부(4) 및 상기 판독부(6)가 접속되어 있다.

상기 화상메모리(13)는 상기 판독부(6)로부터의 화상데이터를 저장하는 것이다.

상기 화상처리수단(14)은 이 화상메모리(13)에 저장된 화상데이터마다의 수신처 부분의 화상데이터를 추출하여 출력하는 것이다.

상기 인식장치(15)는 이 화상처리수단(14)으로부터의 수신처 부분의 화상데이터를 이용하여 편지, 엽서류(S)의 구분정보(sorting information)의 인식을 실시하는 것이다.

상기 구분지정 제어부는 이 인식장치(15)로부터 공급되는 구분정보에 기초한 편지, 엽서류(S)의 구분처, 즉 편지, 엽서류(S)를 구분 집적해야 하는 구분포켓(8)을 지정하도록 되어 있다.

또, 상기 주제어부(12)는 인식장치(15)로부터의 인식결과에 기초하여, 2장을 잡았는지 여부를 판단하고, 2장을 잡았다고 판단하였을 때, 대응하는 편지, 엽서류(S)를 배제집적부로 반송 구분하도록 되어 있다.

상기 편지, 엽서류(S)에는 도 3에 도시한 바와 같이 셀로판 틀 내에 구분정보인 우편번호 또는 수신처 등이 기재되어 있다.

상기 화상처리수단(14)은 화상메모리(13)에 저장된 화상데이터마다 셀로판 틀이 있는지 여부를 판단하고, 이 판단의 결과, 셀로판 틀이 있는 경우, 이 셀로판 틀 내의 화상데이터를 수신처 부분의 화상데이터로서 출력하는 것이다. 또, 화상처리수단(14)은 상기 판단 결과, 셀로판 틀이 없는 경우, 다른 수단에 의해 수신처 부분의 화상데이터를 추출하여 출력하는 것이다.

상기 화상처리수단(14)은 셀로판 틀이 있는지 여부를 판단하는 구성으로서 에지 추출수단(21)과 셀로판영역 추출수단(22)을 갖고 있다.

에지추출수단(21)은 도 4에 도시한 바와 같이 미분화상 생성처리(31), 에지성분 추출처리(32), 팽창·수축처리(33)에 의해 구성되어 있다.

미분화상 생성처리(31)는 도 4의 (a)에 도시하는 화상메모리(13)에 저장된 화상데이터(각 화상마다 256계조의 농도 데이터(density data)가 기억되어 있다)로부터 도 4의 (b)에 도시하는 에지성분 화상(예를 들면 미분화상)을 생성하는 처리이다. 이것은 Sobel의 오퍼레이터, Robinson의 오퍼레이터, Kirsch의 오퍼레이터, 라플라시안 필터 등을 편지, 엽서류(S)의 화상에 적용하여 생성할 수 있다.

예를 들면 이하와 같이 계산할 수 있다. 좌표(i, i)의 휘도값을 f(i, j), 미분화상을 g(i, j)로 하면,

로 하면 좋다.

이 미분화상 생성처리(31) 후, 에지성분 추출처리(32)에 의해 에지성분을 추출한다. 이 에지성분 추출처리(32)의 흐름을 도 5에, 에지성분 추출처리(32)의 개념을 도 6에 나타낸다.

즉, 도 6의 (a)(b)와 같이 소영역(a픽셀×b픽셀, a‘픽셀×b’픽셀)에 대하여, 각각 X, Y축방향에 사영(射影)을 취하고(ST1, 5), 그 결과에 대하여 선분추출 필터를 건다(ST2, 6). 편지, 엽서류(S) 전체를 스캔하도록 처리 대상의 소영역을 X, Y축방향으로 비키어 놓고(ST3, 7), 편지, 엽서류(S) 전체를 스캔하고 끝날때까지(ST4, 8) 상기 X, Y축방향에 사영을 취하고(ST1, 5), 그 결과에 대하여 선분 추출필터를 건다(ST2, 6).

선분추출 필터로서는 예를 들면 도 6 내에 도시한 바와 같은 DOG(Difference Of Gaussian)필터를 이용하면 좋다.

도 6의 (a)와 같이 소영역이 에지와 같은 경우는 사영과 선분추출 필터와의 매칭이 커지기 때문에 에지성분으로서의 출력값(Vx)이 커진다. 도 6의 (b)와 같이 소영역이 에지와 같지 않은 경우는 사영과 선분추출 필터와의 매칭이 작고 에지성분이 작기 때문에 출력값(Vy)이 작아진다. 이 에지성분 추출처리(32)를 편지, 엽서류(S)의 화상전체를 스캔하도록 실시하여 에지성분을 추출할 수 있다.

이 후, 처리결과에 대하여 팽창·수축처리(33)를 실시하여 노이즈를 제거하도록 하여도 좋다.

다음에 셀로판영역 추출수단(22)은 도 4에 도시한 바와 같이 사영처리(41)와피크값의 검출처리(42)에 의해 구성되어 있다.

사영처리(41)는 도 4의 (c)에 도시한 바와 같이 에지추출수단(21)으로부터 공급되는 처리결과(에지성분)에 대하여 X축방향, Y축방향에 사영처리를 실시하는 것이다. 피크값의 검출처리(42)는 사영처리(41)의 사영결과(사영값)의 피크값에서 에지성분이 집중하고 있는 영역을 검출하고, 도 4의 (d)에 도시한 바와 같은 셀로판영역을 추출하는 것이다. 예를 들면 위치정보 등을 출력한다.

이 결과, 화상처리수단(14)은 셀로판영역을 추출하였을 때, 상기 화상메모리(13)에 저장한 편지, 엽서류(S)의 1화면의 화상데이터 중, 상기 셀로판영역의 화상데이터를 구분정보로서 인식장치(15)로 출력하는 것이다.

상기 사영처리(41)는 에지추출수단(21)으로부터 공급되는 각 화소마다의 에지성분으로서의 출력값을 X축방향에 대하여 가산함으로써 X축방향의 사영처리를 실시하는 것이다. 상기 사영처리(41)는 에지추출수단(21)으로부터 공급되는 각 화소마다의 에지성분으로서의 출력값을 Y축방향에 대하여 가산함으로써 Y축방향의 사영처리를 실시하는 것이다.

다음에 상기와 같은 구성에 있어서 셀로판 틀을 갖는 편지, 엽서류(S)의 성분처리를 설명한다.

예를 들면 공급부(2)에서 공급된 편지, 엽서류(S)가 취출부(4)에 의해 취출되고, 주반송로(3)를 따라서 반송됨으로써 화상입력수단(6)에 의해 편지, 엽서류(S)의 표면이 판독 주사된다. 이 화상입력수단(6)에 의해 판독 주사된 화상신호는 화상 메모리(13)에 저장된다.

이에 의해 화상처리수단(14)은 화상메모리(13)에 저장된 화상데이터마다 셀로판 틀이 있는지 여부를 판단하고, 이 판단의 결과, 셀로판 틀이 있는 경우, 이 셀로판 틀 내의 화상데이터를 수신처 부분의 화상데이터로서 인식장치(13)로 송신된다.

이에 의해 인식장치(13)는 화상처리수단(14)에서 보내져 온 화상에서 구분정보인 수신처를 판독하고, 이 판독결과를 본체 제어부(12)로 보낸다.

이 결과, 본체 제어부(12)는 상기 판독결과에 대응하여 편지, 엽서류(S)를 구분집적부(7)로 보내도록 제어한다.

상기한 바와 같이 구분정보로서의 수신처가 기재되어 있는 셀로판영역을 정확하게 추출할 수 있고, 구분정보의 오인식, 편지, 엽서류의 오구분의 발생을 방지할 수 있다.

또한, 상기 예에서는 구분정보로서의 수신처가 편지, 엽서류의 셀로판영역에 기재되어 있는 경우에 대해서 설명하였지만, 이것에 한정되지 않고 구분정보로서의 수신처가 기재되어 있는 라벨의 경우도 상기 셀로판 틀에 의한 에지검출에 대한 라벨단부에 의한 에지검출에 의해 라벨에 대응하는 부분의 화상데이터를 추출하여 출력할 수 있다.

특히, 라벨과 상기 라벨이 붙여져 있는 편지, 엽서류(편지)의 색이 비슷한 경우에 효과가 있다.

다음에, 제 2 실시형태에 대해서 상세하게 설명한다.

이 제 2 실시형태는 상술한 제 1 실시형태의 화상처리수단(14)에 에지선택수단(23)을 추가한 것이다. 이 에지선택수단(23)은 도 7에 도시한 바와 같이 도 4에 도시한 에지추출수단(21)과 셀로판영역 추출수단(22)과의 사이에 설치되어 있다. 이들 에지추출수단(21)이 셀로판영역 추출수단(22)에 대해서는 제 1 실시형태의 경우와 동일하기 때문에 설명을 생략한다.

에지선택수단(23)은 에지추출수단(21)에 의해 추출한 에지성분으로부터 셀로판 틀과 같은 에지를 선택하고, 이 선택결과를 셀로판영역 추출수단(22)으로 출력하는 것이다.

상기 제 2 실시형태에 있어서 화상처리수단(14)에서의 에지선택수단(23)에 의한 처리의 흐름을 설명한다.

즉, 에지추출수단(21)은 제 1 실시형태와 동일하게 하여 편지, 엽서류(S)의 화상데이터로부터 에지성분을 추출한다. 다음에 에지선택수단(23)은 도 8의 (a)에 나타낸 바와 같이 에지추출수단(21)에 의해 추출된 에지성분으로부터 셀로판영역의 에지에 특징적인 약한 에지성분을 선택한다. 미분값 등의 에지성분값은 농도차가 큰 부분에서는 큰 값을 취하고, 농도차가 작은 부분에서는 작은 값을 취한다. 인쇄틀은 명료하기 때문에, 도 8의 (b)(c)에 나타낸 바와 같이 에지성분값으로서 큰 값(도면에서는 진한 흑색)을 취한다. 한편, 셀로판 틀은 인쇄 틀만큼 명료하지 않기 때문에 도 8의 (d)(e)에 나타낸 바와 같이 에지성분값은 약간 작은 값(도면에서는 연한 흑색)을 취한다.

그래서, 에지선택수단(23)은 선택하는 값의 폭(TH1∼THH2)을 설정하고 셀로판 틀에 특징적인 작은 값을 취하는 에지만을 선택(TH1<g(i, j)에서 g(i, j)<TH2인에지성분, g(i, j)만을 추출)함으로써 도 9의 (a)의 에지추출수단(21)의 에지성분에서 도 9의 (b)와 같은 셀로판영역의 경계만큼의 에지성분을 추출할 수 있다.

이렇게 하여 얻어진 에지성분에 기초하여 셀로판영역 추출수단(22)에 의해 제 1 실시형태와 동일하게 하여 셀로판영역을 추출한다. 전단의 에지선택수단(23)에 의해 셀로판과 같은 에지만이 선택되고 있기 때문에, 보다 오류가 작은 안정된 추출을 실시할 수 있다.

다음에 제 3 실시형태에 대해서 상세하게 설명한다.

이 제 3 실시형태는 상술한 제 1 실시형태의 화상처리수단(14)에 에지제거수단(24)을 추가한 것이다. 이 에지제거수단(24)은 도 10에 도시한 바와 같이 도 4에 도시한 에지추출수단(21)과 셀로판영역 추출수단(22)과의 사이에 설치되어 있다. 이들 에지추출수단(21)과 셀로판영역 추출수단(22)에 대해서는 제 1 실시형태의 경우와 동일하기 때문에 설명을 생략한다.

에지제거수단(24)은 에지추출수단(21)에 의해 추출된 에지성분으로부터 인쇄틀과 같은 에지를 제거하고, 이 제거한 결과를 셀로판영역 추출수단(22)으로 출력하는 것이다.

상기 제 3 실시형태에 있어서 화상처리수단(14)에서의 에지제거수단(24)에 의한 처리의 흐름을 설명한다.

즉, 에지추출수단(21)은 제 1 실시형태와 동일하게 하여 편지, 엽서류(S)의 화상데이터로부터 에지성분을 추출한다. 다음에, 에지제거수단(24)은 도 8의 (a)에 도시한 에지추출수단(21)에 의해 추출된 에지성분으로부터 인쇄틀의 특징적인강한 에지성분을 삭제한다. 미분값 등의 에지성분값은 농도차가 큰 부분에서는 큰 값을 취하고, 농도값이 작은 부분에서는 작은 값을 취한다. 인쇄틀은 명료하기 때문에 도 8의 (b)(c)에 도시한 바와 같이 에지성분값으로서 큰 값(도면에서는 진한 흑)을 취한다. 한편, 셀로판 틀은 인쇄틀만큼 명료하지 않기 때문에 도 8의 (d)(e)에 도시한 바와 같이 에지성분값은 약간 작은 값(도면에서는 연한 흑색)을 취한다.

그래서, 에지제거수단(24)은 제거하는 값의 임계값(TH3)을 설정하고, 이 값을 넘는 에지를 제거한다(g(i, j)>TH3이라면 에지성분 g(i, j)=0).

이에 의해 인쇄틀의 영향을 받지 않고 후단의 셀로판영역 추출(22)을 실시할 수 있다.

또, 에지제거수단(24)으로는 인접하는 2개의 에지성분을 제거하는 처리를 실시하여도 좋다.

도 11의 (a)에 나타낸 바와 같은 굵고 명료한 인쇄틀은 선의 양측에 각각 에지성분을 갖기 때문에, 에지추출처리의 결과, 도 11의 (b)에 나타낸 바와 같이 이중으로 에지성분이 추출되는 일이 있다. 즉, 평행하게 인접하는 두개의 에지성분은 인쇄 틀일 가능성이 높기 때문에 이러한 에지를 제거함으로써 인쇄틀의 영향을 받지 않고 셀로판영역의 추출을 실시할 수 있다.

구체적으로는 도 12에 처리의 흐름을 나타낸 바와 같이 어떤 소영역이 높은 에지성분을 갖고, 에지와 같다고 판단된 경우, 에지와 평행한 근방의 소영역이 동일하게 높은 에지성분을 갖고 있다면 이들을 삭제한다.

즉, 소정의 화소에 대응하는 좌표(i, j)에는 X방향의 에지가 존재하는지 여부를 판단한다(g(i, j)>TH)(ST11). 이 판단의 결과, X방향의 에지가 존재하는 경우, 좌표(i, j)의 X방향의 인접영역에 에지가 존재하는지 여부를 판단한다(g(i-Sx, j)>TH 또는 g(i+Sx, j)>TH)(ST12). 이 판단의 결과, X방향의 인접영역에 에지가 존재하는 경우, g(i, j)=0으로서 에지성분을 삭제한다(ST13).

상기 스텝(11)에 의해 X방향의 에지가 존재하지 않는 경우, 상기 스텝(12)에 의해 X방향의 인접영역에 에지가 존재하지 않는 경우, 상기 스텝(13)에 의해 에지성분을 삭제한 후, 좌표(i, j)를 시프트하고 스텝(11)으로 되돌아감으로써 편지, 엽서류(S) 전체의 처리를 실시한다.

또, 에지제거수단(24)은 에지성분의 방향을 식별하는 처리를 실시하여도 좋다. 수학식 1과 같이 미분의 크기를 보는 것이 아니고, 이하와 같이 하여 X방향의 에지성분 gx(i, j), Y방향의 에지성분 gy(i, j)를 구한다.

gx(i, j)=

{f(i-1, j-1)+f(i-1, j)+f(i-1, j+1)}

-{f(i+1, j-1)+f(i+1, j)+f(i+1, j+1)}

gy(i, j)=

{f(i-1, j-1)+f(i, j-1)+f(i+1, j-1)}

-{f(i-1, j+1)+f(i, j+1)+f(i+1, j+1)}

이에 의해 도 13의 (a), (b)에 도시한 바와 같은 화상(g)(i, j)의 부호의 양음으로부터 에지의 변화의 방향을 식별할 수 있다. 에지방향의 판단은 도 14에 도시한 바와 같이 평행하게 인접하는 2개의 에지성분이 다른 방향의 에지성분인 경우, 이들은 동일 인쇄틀 선에서 추출된 에지성분이라고 생각되기 때문에 이들을 삭제하는 처리로서 실행된다.

즉, 소정의 화소에 대응하는 좌표(i, j)에 X방향의 에지가 존재하는지 여부를 판단한다(g(i, j)>TH)(ST21). 이 판단의 결과, X방향의 에지가 존재하는 경우, 좌표(i, j)의 X방향의 인접영역에 음의 방향의 에지가 존재하는지 여부를 판단한다(g(i-Sx, j)<-TH 또는 g(i+Sx, j)<-TH)(ST22). 이 판단의 결과, X방향의 인접영역에 에지가 존재하는 경우, g(i, j)=0으로서 에지성분을 삭제한다(ST23).

상기 스텝(21)에 의해 X방향의 에지가 존재하지 않는 경우, 상기 스텝(22)에 의해 X방향의 인접영역에 에지가 존재하지 않는 경우, 상기 스텝(23)에 의해 에지성분을 삭제한 후, 좌표(i, j)를 시프트하고 스텝(21)으로 되돌림으로써 편지, 엽서류(S) 전체의 처리를 실시한다.

이렇게 하여 얻어진 에지성분에 기초하여 셀로판영역 추출수단(22)에 의해 제 1 실시형태와 동일하게 하여 셀로판영역을 추출한다. 전단의 에지제거수단(44)에 의해 인쇄틀과 같은 에지가 삭제되어 있기 때문에 보다 오류가 작은 안정된 추출을 실시할 수 있다.

다음에 제 4 실시형태에 대해서 상세하게 설명한다.

이 제 4 실시형태는 상술한 제 1 실시형태의 화상처리수단(14)에 직선추출수단(25)을 추가한 것이다. 이 직선추출수단(25)은 도 15에 도시한 바와 같이 도 4에 도시한 에지추출수단(21)과, 셀로판영역 추출수단(22)과의 사이에 설치되어 있다. 이들 에지추출수단(21)과 셀로판영역 추출수단(22)에 대해서는 제 1 실시형태의 경우와 동일하기 때문에 설명을 생략한다.

직선추출수단(25)은 에지추출수단(21)에 의해 추출된 에지를 도중에 끊김을 허용하면서 직선으로 통합하고, 이 직선에 통합한 결과를 셀로판영역 추출수단(22)으로 출력하는 것이다.

상기 제 4 실시형태에 있어서 화상처리수단(14)에서의 직선추출수단(25)에 의한 처리의 흐름을 설명한다.

즉, 에지추출수단(21)은 제 1 실시형태와 동일하게 하여 편지, 엽서류(S)의 화상데이터로부터 에지성분을 추출한다. 다음에, 직선추출수단(25)은 추출된 에지성분의 도중에 끊김을 허용하면서 직선으로 통합하고, 직선을 추출한다.

구체적으로는 직선추출수단(25)은 도 16의 처리 흐름을 나타낸 바와 같이 처리를 실행한다.

즉, 소정의 화소에 대응하는 좌표(i, j)의 화상 에지성분 g(i, j)로부터 X방향의 에지가 존재하는지 여부를 판단한다(ST31). 이 판단의 결과, X방향의 에지가 존재하는 경우, (i, j)에서 X방향에 I, Y방향에 J까지 떨어진 영역 g(i+1, j)…g(i+I, j+J)을 조사하고, 동일 직선에서 추출되었다고 생각되는 에지성분을 탐색한다(ST32).

이 탐색결과, X방향에 에지가 존재하는지 여부를 판단한다(ST33). 이 판단의 결과, X방향에 에지가 존재하는 경우, (i, j)에서 (i+I_detected, j)에 직선이 존재한다고 판단하고(ST34), i=i+I_detected로서 에지의 통합을 계속한다(ST35).

상기 스텝(31)에서 X방향의 에지가 존재하지 않는 경우, 상기 스텝(33)에서 X방향의 에지가 존재하지 않는 경우, i=i+1로서 직선의 탐색을 계속한다(ST36).

상기 스텝(35, 36) 후, 편지, 엽서류(S) 전체의 처리가 종료하였는지 여부를 판단하고(ST37), 종료하지 않는 경우 스텝(31)으로 되돌아가고, 종료인 경우 처리를 종료한다.

여기에서 상기 스텝(32)에 의해 인접하는 영역(i+1, j)뿐만 아니라, 주위(I, J)까지의 영역을 조사함으로써 에지성분에 어느 정도의 도중에 끊김이 있어도 도 17에 도시한 바와 같이 정확하게 직선을 추출할 수 있다.

셀로판영역과 같이 영역 틀이 명료하게 나타나지 않는 경우는 에지성분에 도중에 끊김이 나타나기 쉽기 때문에, 이렇게 하여 도중에 끊김을 허용하는 직선추출처리를 실시함으로써 직선 추출의 누락을 막을 수 있다.

이 처리를 편지, 엽서류(S) 전체에 대하여 실시하고, Y방향의 에지성분에 대해서도 동일하게 처리한다. 이렇게 하여 얻어진 직선성분에 기초하여 셀로판영역 추출수단(22)에 의해 제 1 실시형태와 동일하게 하여 셀로판영역을 추출한다.

다음에 제 5 실시형태에 대해서 상세하게 설명한다.

이 제 5 실시형태는 도 18에 도시한 바와 같이 상술한 제 4 실시형태의 셀로판영역 추출수단(22)을 직사각형 추출수단(26)으로 변경한 것이다. 이 직사각형 추출수단(26)은 직선추출수단(25)에 의해 추출된 직선으로부터 직사각형을 구성하는 조합을 탐색하는 것이다.

상기 제 5 실시형태에 있어서 화상처리수단(14)으로의 직사각형추출수단(26)에 의한 처리의 흐름을 설명한다.

즉, 직선추출수단(25)은 추출된 에지성분의 도중에 끊김을 허용하면서 직선으로 통합하고, 직선을 추출한다. 다음에 직사각형 추출수단(26)은 직선의 집합으로부터 직사각형을 구성하는 조합을 탐색하고, 직사각형의 셀로판영역을 추출한다.

구체적으로는 직사각형 추출수단(26)은 도 19의 처리의 흐름을 나타내는 바와 같이 처리를 실행한다.

즉, 우선 좌선(i, j)의 직선성분 h(i, j)로부터 X방향의 직선 L1이 존재하는지를 조사한다(ST41). L1이 존재한다면 (i, j)로부터 일정 거리(예를 들면 X방향으로 I, Y방향으로 J)내에 Y방향의 직선 L2가 존재하는지를 조사한다(ST42, 43). L2가 존재한다면, L2가 먼쪽의 단점으로부터 일정 거리(예를 들면 X방향으로 M, Y방향으로 N) 내에 X방향의 직선 L3이 존재하는지를 조사한다(ST44, 45). L3이 존재한다면 먼쪽의 단점 X좌표가 L1와 같은 측의 단점 X좌표와 충분히 가까운지를 판정하고(ST46), 가깝다면 L1, L2, L3으로 구성되는 직사각형 영역을 추출한다(ST47).

한편, 스텝(43)에서 Y방향의 직선이 존재하지 않는 경우, L1의 (i, j)와는 다른 측의 단점에서 일정 거리 내에 Y방향의 직선 L2가 존재하는지를 조사한다(ST48, 49). L2가 존재한다면 L2의 먼쪽의 단점으로부터 일정 거리 내에 X방향의 직선 L3이 존재하는지를 조사한다(ST50, 51). L3이 존재한다면 먼쪽의 단점 X좌표가 L1와 같은 측의 단점 X좌표와 충분히 가까운지를 판정하고(ST52), 가깝다면 L1, L2, L3으로 구성되는 직사각형 영역을 추출한다(ST47).

또, 스텝(41)에서 X방향의 직선(L1)이 존재하지 않는 경우, 스텝(47)에서 직사각형 영역을 추출한 경우, i=i+1로서 직사각형의 탐색을 계속한다(ST53).

이 후, 편지, 엽서류(S) 전체의 처리가 종료인지 여부를 판단하고(ST54), 종료가 아닌 경우 스텝(41)으로 되돌아가고, 종료인 경우 처리를 종료한다.

또, 스텝(46)에서 충분이 가깝다고 판정되지 않은 경우, 스텝(48)으로 진행한다. 또, 스텝(49)에서 L2가 존재하지 않는 경우, 스텝(52)에서 충분히 가깝다고 판정되지 않은 경우, 스텝(41)으로 되돌아간다.

이상의 처리를 편지, 엽서류 전체에 대해서 실시하고 직사각형을 탐색한다.

상기 예에서는 X방향의 직선 2개와 Y방향의 직선 1개의 조합을 탐색하고 있지만, X방향의 직선 1개와 Y방향의 직선 2개의 조합을 탐색하는 경우도 동일하게 실시한다.

셀로판영역과 같이 영역틀이 명료하지 않은 경우는 반드시 직사각형의 사변 전부가 추출되고 있다고는 한정되지 않기 때문에, 이렇게 하여 3변의 구성으로 직사각형을 추출함으로써 안정된 직사각형 추출을 실시할 수 있다. 한편, 직선 추출에 누락이 많은 경우는 3변이 아닌 2변의 구성만으로 추출하여도 좋다. 그 경우는 위의 처리에 있어서 2변이 추출된 단계에서 직사각형을 추출하면 좋다.

다음에 제 6 실시형태에 대해서 상세하게 설명한다.

이 제 6 실시형태는 상술한 제 1 실시형태의 화상처리수단(14)에 셀로판영역 선택수단(27)을 추가한 것이다. 이 셀로판영역 선택수단(27)은 도 20에 도시한 바와 같이 도 14에 도시한 에지추출수단(21), 셀로판영역 추출수단(22)의 후단에 설치되어 있다. 이들 에지추출수단(21)과 셀로판영역 추출수단(22)에 대해서는 제 1 실시형태의 경우와 동일하기 때문에 설명을 생략한다.

셀로판영역 선택수단(27)은 셀로판영역 추출수단(22)로부터 얻어진 셀로판영역에서 위치관계·종류의 정보에 기초하여 셀로판영역을 선택하는 것이다.

상기 제 6 실시형태에 있어서 화상처리수단(14)에서의 셀로판영역 선택수단(27)에 의한 처리의 흐름을 도 21에 도시한 편지, 엽서류 형식정보(편지 형식정보)의 예와 도 22에 도시한 플로우챠트를 참조하면서 설명한다.

즉, 셀로판영역 선택수단(27)은 도 21과 같은 미리 입력된 셀로판영역의 좌표정보(편지, 엽서류 형식정보)를 (본체 제어부(12)에 의해)유지하고 있다. 이 정보는 특정의 편지, 엽서류 형식마다 영역의 좌표, 크기, 형식(수신처 틀인지 발송인 틀인지 등)의 편지, 엽서류 형식정보를 갖고 있다. 편지, 엽서류 형식정보 가운데 영역좌표 정보는 추출된 영역의 좌표정보와 비교되고, 충분히 가깝다면 현재의 편지, 엽서류는 당해 편지, 엽서류 형식이라고 판단할 수 있기 때문에 이 편지, 엽서류 형식정보에 포함되는 수신처 틀 좌표정보를 출력한다. 여기에서 수신처 틀(셀로판영역)이 불명료하여 추출되기 어렵고, 발송인 틀만이 추출되는 편지, 엽서류에 있어서도 매치한 편지, 엽서류 형식정보로부터 수신처 틀만이 출력되기 때문에 잘못하여 발송인 틀을 선택하게 되는 일은 없다.

즉, 다음 추출영역정보를 취득하고(ST61), 편지, 엽서류 형식정보를 취득하고(ST62), 영역의 좌표와 크기가 충분히 가까운지 여부가 판단된다(ST63). 이 판단의 결과, 영역의 좌표와 크기가 충분히 가깝다고 판단된 때, 그 편지, 엽서류 형식정보에 포함되는 수신처 틀의 좌표를 셀로판영역으로서 출력한다(ST64).

이 후, 상기 편지, 엽서류 형식정보를 모두 처리하였는지 여부를 판단하고(ST65), 처리가 끝나지 않은 경우 스텝(63)으로 되돌아가고, 처리가 끝난 경우 종료한다.

다음에 제 7 실시형태에 대해서 상세하게 설명한다.

이 제 7 실시형태는 상술한 제 1 실시형태의 화상처리수단(14)의 에지추출수단(21)의 후단에 에지선택수단(23), 에지제거수단(24), 직선추출수단(25), 직사각형 추출수단(26), 셀로판영역 선택수단(27)을 추가한 것이다.

개개의 수단에 있어서 처리는 상술한 실시형태에서 논한 바와 같다. 이들 수단을 조합함으로써 미분 화상을 기초로 에지성분을 추출하고, 그들을 셀로판 틀과 동일함에 기초하여 선택·제거한 후, 도중에 끊김을 허용하면서 직선으로서 통합한다. 이들을 기초로 직사각형을 구성하는 직선의 조합을 탐색하여 직사각형을 추출하고, 크기·위치 등으로 검증한 뒤 셀로판영역으로서 출력하도록 한 것이다.

이에 의해 인쇄 틀이나 발송인 틀 등을 오검출하지 않고, 수신처가 쓰여진 셀로판영역만을 추출할 수 있다.

상기한 각 실시예에 의하면 셀로판 틀을 취하기 위한 전용의 광학계가 필요없게 된다. 또, 셀로판 틀과 같이 편지부와 틀 내의 농도차가 거의 없는 경우에 있어서도 정확하게 영역을 검출할 수 있게 되고, 수신처 인식에 유용하게 쓸 수 있다. 또한, 인쇄된 발송인 틀을 잘못해서 추출하는 것을 막을 수 있다.

또한, 상기 예에서는 구분 정보로서의 수신처가 기재되어 있는 편지, 엽서류의 셀로판영역을 추출하는 경우에 대해서는 설명하였지만, 이것에 한정되지 않고, 구분정보으로서의 수신처가 기재되어 있는 편지, 엽서류의 라벨영역을 추출하는 경우도 동일하게 실시할 수 있다.

특히, 라벨과 이 라벨이 붙여져 있는 편지, 엽서류(편지)의 색이 비슷한 경우에 효과가 있다.

또, 일반적인 방법에 의해 라벨의 추출, 인식을 실시할 때에 라벨인식을 할 수 없는 경우에 상기한 라벨영역의 추출수단을 이용하도록 하여도 좋다.

Claims

편지, 엽서류의 셀로판영역 또는 라벨영역에 기재되어 있는 문자열로서의 구분정보를 인식하는 인식장치에 있어서,

상기 편지, 엽서류의 주주사방향과 부주사방향의 각 화소의 농도값을 판독하는 판독수단,

상기 판독수단에 의해 판독한 각 화소의 농도값에 기초하여, 농도값의 변화가 소정값을 넘는 부분을 판단하는 제 1 판단수단,

상기 제 1 판단수단에 의해 판단한 농도값의 변화가 소정값을 넘는 부분에 기초하여 상기 편지, 엽서류에서 셀로판영역 또는 라벨영역을 판단하는 제 2 판단수단, 및

상기 제 2 판단수단에 의해 판별된 셀로판영역 또는 라벨영역에 기재되어 있는 문자열에 의해 구분정보를 인식하는 인식수단을 구비하고,

상기 제 1 판단수단은

상기 판독수단에 의해 판독한 각 화소의 농도값을 미분하는 미분수단,

상기 미분수단에 의해 미분된 1화면분의 미분신호에 의해 1화면분의 에지성분을 추출하는 제 1 추출수단, 및

상기 제 1 추출수단에 의해 추출된 1화면분의 에지성분에 대한 수평 사영과 수직 사영을 추출하는 제 2 추출수단으로 이루어지고,

상기 제 2 판단수단은

상기 제 2 추출수단에 의해 추출된 수평 사영과 수직 사영에 의해 에지성분이 집중하고 있는 영역을 셀로판영역 또는 라벨영역이라 판단하는 것을 특징으로 하는 인식장치.
삭제
제 1 항에 있어서,

상기 제 2 추출수단은

상기 제 1 추출수단에 의해 추출된 1화면분의 에지성분의 값이 소정 범위내인 에지성분을 취출하는 제 1 취출수단과,

상기 제 1 취출수단에 의해 취출된 에지성분에 대한 수평 사영과 수직 사영을 추출하는 제 3 추출수단으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 인식장치.
제 1 항에 있어서,

상기 제 2 추출수단은

상기 제 1 추출수단에 의해 추출된 1화면분의 에지성분의 값이 소정값 이상인 에지성분을 제거하는 제 1 제거수단과,

상기 제 1 제거수단에 의해 제거되지 않은 상기 제 1 추출수단에 의해 추출된 에지성분에 대한 수평 사영과 수직 사영을 추출하는 제 4 추출수단으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 인식장치.
제 1 항에 있어서,

상기 제 2 추출수단은

상기 제 1 추출수단에 의해 추출된 1화면분의 에지성분을 취출하는 제 2 취출수단,

상기 제 2 취출수단에 의해 취출된 에지성분 중, 이중 에지성분을 제거하는 제 2 제거수단, 및

상기 제 2 제거수단에 의해 제거되지 않은 상기 제 2 취출수단에 의해 취출된 에지성분에 대한 수평 사영과 수직 사영을 추출하는 제 5 추출수단으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 인식장치.
제 1 항에 있어서,

상기 제 2 추출수단이

상기 제 1 추출수단에 의해 추출된 1화면분의 에지성분의 각각의 화소에 있어서 인접하는 화소와 주변 화소의 에지성분의 유무에 따라 에지성분의 직선부분을 추출하는 제 6 추출수단과,

상기 제 6 추출수단에 의해 추출된 직선부분의 에지성분에 대한 수평 사영과 수직 사영을 추출하는 제 7 추출수단으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 인식장치.
제 6 항에 있어서,

상기 제 7 추출수단은

상기 제 6 추출수단에 의해 추출된 직선부분의 에지성분에 기초하여 직사각형 영역을 추출함으로써 셀로판영역 또는 라벨영역으로서 추출하는 것을 특징으로 하는 인식장치.
제 1 항에 있어서,

상기 제 2 판단수단은

상기 제 2 추출수단에 의해 추출된 수평 사영과 수직 사영에 의해 에지성분이 집중하고 있는 하나 이상의 영역을 셀로판영역 또는 라벨영역으로 판단하는 제 3 판단수단과,

상기 제 3 판단수단에 의해 복수의 영역을 셀로판영역 또는 라벨영역으로 판단하였을 때에 각각의 영역의 위치 또는 크기에 기초하여 하나의 영역을 선택하는 선택수단으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 인식장치.
제 1 항에 있어서,

상기 인식장치가 이용되는 편지, 엽서류 처리장치에서,

상기 인식장치의 인식수단에 의해 인식된 구분정보에 기초하여 상기 편지, 엽서류를 구분하는 구분수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 인식장치.
편지, 엽서류의 셀로판영역 또는 라벨영역에 기재되어 있는 문자열로서의 구분정보를 인식하는 방법에 있어서,

상기 편지, 엽서류의 주주사방향과 부주사방향의 각 화소의 농도값을 판독하는 판독공정,

상기 판독공정에 의해 판독된 각 화소의 농도값에 기초하여 농도값의 변화가 소정값을 넘는 부분을 판단하는 제 1 판단공정,

상기 제 1 판단공정에 의해 판단된 농도값의 변화가 소정값을 넘는 부분에 기초하여 상기 편지, 엽서류에서 셀로판영역 또는 라벨영역을 판별하는 제 2 판단공정, 및

상기 제 2 판단공정에 의해 판별된 셀로판영역 또는 라벨영역에 기재되어 있는 문자열에 의해 구분정보를 인식하는 인식공정을 포함하고,

상기 제 1 판단공정은

상기 판독공정에 의해 판독된 각 화소의 농도값을 미분하는 미분공정,

상기 미분공정에 의해 미분된 1화면분의 미분신호에 의해 1화면분의 에지성분을 추출하는 제 1 추출공정, 및

상기 제 1 추출공정에 의해 추출된 1화면분의 에지성분에 대한 수평 사영과 수직 사영을 추출하는 제 2 추출공정으로 이루어지고,

상기 제 2 판단공정은

상기 제 2 추출공정에 의해 추출된 수평 사영과 수직 사영에 의해 에지성분이 집중하고 있는 영역을 셀로판영역 또는 라벨영역으로 판단하는 것을 특징으로 하는 인식방법.
삭제
제 10 항에 있어서,

상기 제 2 추출공정은

상기 제 1 추출공정에 의해 추출된 1화면분의 에지성분의 값이 소정 범위내의 에지성분을 취출하는 제 1 취출공정과,

상기 제 1 취출공정에 의해 취출된 에지성분에 대한 수평 사영과 수직 사영을 추출하는 제 3 추출공정으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 인식방법.
제 10 항에 있어서,

상기 제 2 추출공정은

상기 제 1 추출공정에 의해 추출된 1화면분의 에지성분의 값이 소정값 이상의 에지성분을 제거하는 제 1 제거공정과,

상기 제 1 제거공정에 의해 제거되지 않은 상기 제 1 추출공정에 의해 추출된 에지성분에 대한 수평 사영과 수직 사영을 추출하는 제 4 추출공정으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 인식방법.
제 10 항에 있어서,

상기 제 2 추출공정은

상기 제 1 추출공정에 의해 추출된 1화면분의 에지성분을 취출하는 제 2 취출공정,

상기 제 2 취출공정에 의해 취출된 에지성분 중, 이중 에지성분을 제거하는 제 2 제거공정, 및

상기 제 2 제거공정에 의해 제거되지 않은 상기 제 2 취출공정에 의해 취출된 에지성분에 대한 수평 사영과 수직 사영을 추출하는 제 5 추출공정으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 인식방법.
제 10 항에 있어서,

상기 제 2 추출공정은

상기 제 1 추출공정에 의해 추출된 1화면분의 에지성분의 각각의 화소에서 인접하는 화소와 주변 화소의 에지성분의 유무에 따라 에지성분의 직선부분을 추출하는 제 6 추출공정과,

상기 제 6 추출공정에 의해 추출된 직선부분의 에지성분에 대한 수평 사영과 수직 사영을 추출하는 제 7 추출공정으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 인식방법.
제 15 항에 있어서,

상기 제 7 추출공정은

상기 제 6 추출공정에 의해 추출된 직선부분의 에지성분에 기초하여 직사각형 영역을 추출함으로써 셀로판영역 또는 라벨영역으로 추출하는 것을 특징으로 하는 인식방법.
제 10 항에 있어서,

상기 제 2 판단공정은

상기 제 2 추출공정에 의해 추출된 수평 사영과 수직 사영에 의해 에지성분이 집중하고 있는 하나 이상의 영역을 셀로판영역 또는 라벨영역으로 판단하는 제 3 판단공정과,

상기 제 3 판단공정에 의해 복수의 영역을 셀로판영역 또는 라벨영역으로 판단하였을 때에 각각의 영역의 위치 또는 크기에 기초하여 1개의 영역을 선택하는 선택공정으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 인식방법.
제 10 항에 있어서,

상기 인식장치가 이용되는 편지, 엽서류 처리장치에서,

상기 인식장치의 인식공정에 의해 인식한 구분정보에 기초하여 상기 편지, 엽서류를 구분하는 구분공정을 갖는 것을 특징으로 하는 인식방법.