KR100373981B1 - 틸트 검출방법 및 틸트 검출장치 - Google Patents

틸트 검출방법 및 틸트 검출장치 Download PDF

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Abstract

본 발명은 픽업부의 소형화를 도모하고, 탑재성을 향상시킬 수 있고, 더욱이 제조비용을 저감시킬 수 있는 틸트 검출방법 및 틸트 검출장치에 관한 것으로, 수광부(51)는 수광한 광량에 대응하는 검출결과를 비교기(120)로 출력한다. 수광부(52)는 수광한 광량에 대응하는 검출결과를 비교기(120)로 출력한다. 비교기(120)는 수광부(51)와 수광부(52)로부터의 출력신호의 차이를 검출하고, 검출신호를 탄젠셜 틸트신호로서 출력한다. 아날로그 지연소자(130)는 비교기(120)의 출력신호를 광디스크의 회전각에 대하여 90°지연시켜 래디얼 틸트신호로서 출력하는 것이다.

Description

틸트 검출방법 및 틸트 검출장치{Tilt Detection Method and Tilt Detector}
본 발명은 광디스크 장치에 관한 것으로, 특히 기록매체로 조사되는 광빔의 축이 경사진 각도를 검출하는 틸트 검출방법 및 틸트 검출장치에 관한 것이다.
광디스크 장치에 있어서, 정보를 정확하게 기록재생하기 위해서는 광원으로부터 출력된 레이저광이 광디스크의 기록면에 대하여 수직으로 조사될 필요가 있다. 그러나, 광디스크의 면에 휨이나 비뚤어짐 등이 있을 경우에 광디스크 면은 광원으로부터 출력된 광의 축에 대하여 경사(틸트)진다. 즉 광원으로부터 출력된 레이저광이 광디스크 면에 대하여 경사진 상태에서 조사된다. 광디스크 면이 경사져 있는 경우에 광디스크 기판내를 레이저광이 진행하는 거리가 위치에 따라 변화되게 된다. 이 때문에, 빔 스플리터의 형상이 복잡하고, 재생신호를 정확하게 재생하지 못하는 등의 악영향을 미친다.
상기 문제를 해결하기 위한 종래의 틸트 검출장치에 대해서 도면을 이용하여 설명한다. 도 7은 광디스크(1)가 반경방향으로 경사(래디얼 틸트)진 양인 래디얼 틸트량을 검출하는 래디얼 틸트 검출장치의 구성을 나타낸 개략적인 구성도이다. 도 7a에 있어서, 광검출기(3)는 수광하는 광의 량에 대응하는 검출결과를 출력하는수광부(31)와 수광부(32)에 의하여 구성되어 있다. 광디스크(1)가 휨이나 비뚤어짐 등에 의하여 변형되어 있기 때문에 광디스크(1)가 스핀들 모터(4)의 출력축인 스핀들(2)에 경사진 상태로 고정되어 있는 경우 광디스크 면을 광원으로부터 출력되는 광의 축에 대하여 경사(틸트)진다. 본 도면에서와 같이, 광디스크(1)가 반경방향에 대한 중심측이 상승하고, 외주(外周)측이 하강하는 기울기가 발생되는 경우에 있어서 광검출기(3)의 수광면에 도달한 광의 형상은 도 7b의 부호 (35)와 같이 변형된 타원형이 된다.
또한, 도 7c에 도시된 바와 같이, 광디스크(1)가 변경방향에 대하여 중심측이 하강하고, 외주측이 상승하는 기울기가 발생하는 경우에 있어서 광검출기(3)의 수광면에 도달한 광의 형상은 도 7d의 부호 (36)와 같이 변형된 타원형이 된다. 이와 같이 광디스크(1)가 경사진 상태에서 광이 조사되어 광디스크의 기록면에서 광이 반사되면 광검출기(3)의 수광면에 도달한 광의 형상은 코마 수차를 갖고 정확한 원이 되지 않고, 변형된 타원형이 된다.
도 7a 및 도 7b에 도시된 바와 같이, 종래의 래디얼 틸트 검출장치는 정보재생용 광빔과는 별도로 틸트량을 검출하기 위한 광빔을 광원(30)으로부터 광디스크(1)로 조사하고, 상기 틸트량 검출용의 광빔의 반사광을 반경방향에 대하여 수직방향으로 2분할된 수광부(31)와 수광부(32)에 의해 수광한다. 그리고, 수광면(31) 및 수광면(32)에서의 검출신호의 차이로부터 광원(30)으로부터 출력된 광의 축에 대해서 광디스크가 반경방향으로 경사진 양인 래디얼 틸트량을 검출하고 있다.
한편, 도 8은 광디스크(1)가 접선방향으로 경사(탄젠셜 틸트)진 양인 탄젠셜 틸트량을 검출하는 탄젠셜 틸트 검출장치의 구성을 나타낸 개략적인 구성도이다. 도 8a에 있어서, 광검출기(5)는 수광된 광의 양에 대응하여 검출결과를 출력하는 수광부(51)와 수광부(52)에 의하여 구성되어 있다. 상기 도면에 도시된 바와 같이, 광디스크(1)가 회전하는 접선방향의 전방이 상승하고, 후방이 하강하는 기울기가 발생하는 경우에 있어서 광검출기(5)의 수광면에 도달한 광의 형상은 도 8b의 부호 (55)와 같이 변형된 타원형이 된다. 또한, 도 8c에 도시된 바와 같이, 광디스크(1)의 접선방향의 전방이 하강하고, 후방이 상승하는 기울기가 발생하는 경우에 있어서 강검출기(5)의 수광면에 도달한 광의 형상은 도 8d의 부호 (56)와 같이 변형된 타원형이 된다.
도 8a 및 도 8b에 도시된 바와 같이, 정보재생용 광빔과는 별도로 틸트량을 검출하기 위한 광빔을 광원(50)으로부터 광디스크로 조사하고, 상기 틸트량 검출용 광빔의 반사광을 접선방향에 대하여 수직방향으로 2분할된 수광부(51)과 수광부(52)에 의하여 수광한다. 그리고 수광부(51) 및 수광부(52)로부터의 검출신호의 차이로부터 광원(50)으로부터 출력된 광의 축에 대해서 광디스크가 접선방향으로 경사진 양인 탄젠셜 틸트량을 검출하고 있다(이하, 틸트량 검출용 광빔을 출력하는 광출력장치 및 상기 2분할된 수광부를 묶어서 틸트센서라 한다).
그러나, 상기 방법에서는 픽업부에 있어서, 기록매체로부터의 반사된 광을 수광하고, 수광된 광신호에 의하여 정보재생의 신호를 출력하는 광검출기 외에 상기 2개의 틸트센서, 즉 탄젠셜 틸트량을 검출하는 탄젠셜 틸트센서와 래디얼 틸트량을 검출하는 래디얼 틸트센서를 구성할 필요가 있었다. 때문에 픽업부가 대형화되고, 탑재성이 악화됨과 동시에 제조비용이 높아지는 문제가 있었다.
본 발명은 이러한 점을 감안한 것으로, 그 목적은 픽업부의 소형화를 시도하고, 탑재성을 향상시키며, 나아가 제조비용을 저감할 수 있는 틸트 검출방법 및 틸트 검출장치를 제공하기 위한 것이다.
도 1은 본 발명의 제 1실시예에 있어서 틸트 검출장치의 구성을 나타낸 개략적인 블록도,
도 2는 도 1의 틸트 검출장치에 위상 지연회로를 적용한 경우의 구성을 나타낸 개략적인 블록도,
도 3은 본 발명의 제 2실시예에 있어서 틸트 검출장치의 구성을 나타낸 개략적인 블록도,
도 4는 본 발명의 제 3실시예에 있어서 틸트 검출장치의 구성을 나타낸 개략적인 블록도,
도 5는 도 4의 틸트 검출장치에 위상 지연회로를 적용한 경우의 구성을 나타낸 개략적인 블록도,
도 6은 본 발명의 제 4실시예에 있어서 틸트 검출장치의 구성을 나타낸 개략적인 블록도,
도 7은 래디얼 틸트 검출장치의 구성을 나타낸 개략적인 구성도,
도 8은 탄젠셜 틸트 검출장치의 구성을 나타낸 개략적인 구성도.
♣ 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 ♣
120, 320: 비교기 130, 330: 아날로그 지연소자
140, 340: 위상 지연소자 200, 400: A/D(아날로그/디지털)변환기
210, 410: FIFO(First-in First-out) 220, 420: 클럭
230, 430: D/A(디지털/아날로그)변환기
상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 광원으로부터의 레이저광을 디스크 상의 기록매체에 조사되는 조사광의 광축의 기록매체에 대한 기울기를 검출하는 틸트 검출장치에 있어서, 상기 기록매체에 대하여 접선방향의 기울기, 예를 들면, 실시예에 있어서 탄젠셜 틸트방향을 검출하고, 상기 검출한 접선방향의 기울기의 검출결과를 상기 기록매체가 회전하는 회전각이 90°또는 270°에 해당하는 시간을 지연시켜 상기 기록매체의 반경방향의 기울기(예를 들어, 실시예에 있어서 래디얼 틸트)로서 출력하는 것을 특징으로 한다.
본 발명은, 광원으로부터의 레이저광이 디스크 형상의 기록매체에 조사되는 조사광의 광축의 기록매체에 대한 기울기를 검출하는 틸트 검출장치에 있어서, 상기 기록매체에 대한 반경방향의 기울기를 검출하고, 상기 검출된 반경방향의 기울기의 검출결과를 상기 기록매체가 회전하는 회전각이 90°또는 270°에 상당하는 시간을 지연시켜 상기 기록매체의 접선방향의 기울기로서 출력하는 것을 특징으로 한다.
본 발명은, 광원으로부터의 레이저광이 디스크 형상의 기록매체에 조사되는 조사광의 광축의 기록매체에 대한 반경방향의 기울기를 검출하는 틸트 검출장치에 있어서, 상기 반경방향의 기울기의 검출결과를 상기 기록매체가 회전하는 회전각이 90°또는 270°에 상당하는 시간을 지연시켜 상기 기록매체의 접선방향의 기울기량으로서 출력하는 지연소자를 구비한 것을 특징으로 한다.
본 발명은, 광원으로부터의 레이저광이 디스크 형상의 기록매체에 조사되는 조사광의 광축의 기록매체에 대한 접선방향의 기울기를 검출하는 틸트 검출장치에 있어서, 상기 접선방향의 기울기의 검출결과를 상기 기록매체가 회전하는 회전각이 90°또는 270°에 상당하는 시간을 지연시켜 상기 기록매체의 반경방향의 기울기량으로서 출력하는 지연소자를 구비한 것을 특징으로 한다.
이하 본 발명의 제 1실시예에 의한 틸트 검출장치를 도면을 참조하여 설명한다.
도 1은 본 발명의 제 1실시예에 있어서 틸트 검출장치의 구성을 나타낸 개략적인 블록도이다. 상기 도면에 있어서, 광검출기(5)는 도 8에 있어서의 종래 광검출기를 적용한 것이다. 광검출기(5)는 수광된 광의 량에 대응하는 검출결과를 출력하는 수광부(51) 및 (52)으로 구성되어 있다. 상기 광검출기(5)는 정보재생용의 광빔과는 별도로 틸트량을 검출하기 위한 광빔을 광원(50)으로부터 광디스크로 조사하고, 이 틸트량 검출용 광빔의 반사광을 접선방향에 대하여 수직방향으로 2분할된 수광부(51) 및 (52)에 의해 수광한다.
수광부(51) 및 수광부(52)는 수광된 광의 양에 대응하는 검출결과를비교기(120)로 출력한다.
비교기(120)는 수광부(51) 및 수광부(52)로부터 출력신호의 차이를 검출하고, 검출신호를 광디스크의 접선방향의 기울기(탄젠셜 틸트)의 양을 나타내는 신호로서 출력한다.
아날로그 지연소자(130)는 비교기(120)로부터의 출력신호를 미리 결정된 시간지연시키고, 광디스크의 반경방향의 기울기(래디얼 틸트)의 양을 나타내는 신호로서 출력한다. 상기 미리 결정된 시간은 광디스크의 회전각이 90°회전하는 시간에 대응하는 것이다.
여기에서 아날로그 지연소자(130)의 기능에 대하여 더욱 상세하게 설명한다. 광디스크가 휨이나 비뚤어짐 등에 의하여 변형되어 있기 때문에 광디스크가 스핀들 모터의 출력축인 스핀들에 기울어진 상태로 고정된 경우에 광디스크 면은 광원으로부터 출력된 광의 축에 대한 경사(틸트)진다. 이 틸트량은 디스크의 회전과 동시에 주기적으로 변화한다. 즉 디스크가 1회전하는 사이에 1주기의 틸트성분이 포함된다. 따라서, 탄젠셜 틸트성분을 광디스크의 회전각을 90°위상을 지연시킨 성분에는 래디얼 틸트성분이 포함된다. 이와 같이 아날로그 지연소자(130)는 탄젠셜 틸트성분을 광디스크의 회전각을 90°정도의 위상을 지연시키므로 광디스크의 회전각이 90°회전하는 시간 정도의 지연시간을 부여함으로써 래디얼 틸트성분을 생성한다.
다음으로, 도 1의 구성에 있어서 틸트 검출장치의 동작에 대하여 설명한다.
먼저, 광원(50)으로부터 출력된 광이 광디스크의 신호면에 조사되어 반사되면 광검출기(5)는 이 반사광을 수광한다. 이 광검출기(5) 중에 수광부(51)는 수광된 광량에 대응하는 검출결과를 비교기(120)로 출력한다.
한편, 광검출기(5)의 수광부(52)는 수광된 광량에 대응하는 검출결과를 비교기(120)로 출력한다.
비교기(120)는 수광부(51) 및 수광부(52)로부터의 출력신호의 차이를 검출하고, 검출신호를 광디스크의 접선방향의 기울기량을 나타내는 탄젠셜 틸트신호로서 출력한다. 아날로그 지연소자(130)는 비교기(120)의 출력신호를 광디스크가 90°회전하는 시간에 대응하는 지연시켜 래디얼 틸트량을 나타내는 래디얼 틸트신호로서 출력한다.
상기 래디얼 틸트신호와 탄젠셜 틸트신호에 기초하여 틸트각을 보정하는 틸트 보정기구를 이용함으로써 광검출기(5)에 대한 광디스크의 반경방향에 대한 기울기의 보정과 광디스크의 접선방향에 대한 기울기의 보정을 실시하는 것이 가능하다.
또한, 상기 실시예에 있어서는 탄젠셜 틸트신호를 지연하기 위한 아날로그 지연소자(130)를 이용하였지만, 상기 아날로그 지연소자(130)를 도 2에 도시된 바와 같이, 위상 지연회로(140)로 대체하여 탄젠셜 틸트신호의 위상각을 90°지연시켜서 래디얼 틸트신호로서 출력하도록 해도 좋다.
다음으로, 제 2실시예에 대하여, 도 3을 이용하여 설명한다. 도 3에 있어서 도 1의 각부에 대응하는 부분에는 동일한 부호를 부여하고, 그 설명은 생략한다. A/D(아날로그/디지털)변환기(200)는 비교기(120)로부터 출력된 아날로그의탄젠셜 틸트신호를 디지털신호로 변환시키고, 탄젠셜 틸트 데이터로서 FIFO(先入先出)(210)로 출력한다.
FIFO(210)는 A/D변환기(200)로부터 출력된 디지털의 탄젠셜 틸트 데이터를 일시 축적하고, 클럭(220)으로부터 출력된 타이밍신호에 근거하여 축적된 탄젠셜 틸트 데이터를 래디얼 틸트 데이터로 D/A변환기(230)로 출력한다. 클럭(220)은 FIFO(210)에 틸트 데이터를 출력하는 타이밍신호를 출력한다. 상기 타이밍신호는 비교기(120)의 출력신호를 광디스크의 회전각이 90°회전하는 시간이 되는 타이밍이다. D/A변환기(230)는 FIFO(210)으로부터 출력된 디지털의 래디얼 틸트 데이터를 아날로그의 신호로 변환하고, 상기 신호를 래디얼 틸트신호로서 출력한다.
다음으로, 도 3의 구성에 있어서 틸트 검출장치의 동작에 대하여 설명한다. 먼저, 광원으로부터 출력된 광이 광디스크의 신호면에 조사되어 반사되면 광검출기(5)는 상기 반사광을 수광한다. 상기 광검출기(5) 중에 수광부(51)는 수광된 광량에 대응하는 검출결과를 비교기(120)로 출력한다.
한편, 광검출기(5)의 수광부(52)는 수광한 광량에 대응한 검출결과를 비교기(120)로 출력한다.
비교기(120)는 수광부(51)과 수광부(52)로부터의 출력신호의 차이를 검출하고, 검출신호를 광디스크의 접선방향의 기울기량을 나타내는 탄젠셜 틸트신호로서 출력한다.
한편, A/D변환기(200)는 비교기(120)로부터 출력된 아날로그의 탄젠셜 틸트신호를 디지털신호로 변환하고, 탄젠셜 틸트 데이터로 FIFO(210)로 출력한다.FIFO(210)는 A/D변환기(200)로부터 출력된 디지털의 탄젠셜 틸트 데이터를 순차적으로 축적한다.
다른 한편, 클럭(220)은 비교기(120)의 출력신호를 광디스크의 회전각이 90°회전하는 시간이 되는 타이밍에서 타이밍신호를 FIFO(210)로 출력한다. FIFO(210)는 클럭(220)으로부터 타이밍신호가 출력되면, 축적된 탄젠셜 틸트 데이터를 래디얼 틸트 데이터로 D/A변환기(230)로 출력한다. D/A변환기(230)는 FIFO(210)로부터 출력된 디지털의 래디얼 틸트 데이터를 아날로그신호로 변환하여 이 신호를 래디얼 틸트신호로 출력한다.
상술한 래디얼 틸트신호와 탄젠셜 틸트신호에 근거하여 틸트각을 보정하는 틸트 보정기구를 이용함으로써 광검출기(5)에 대한 광디스크이 반경방향에 대한 기울기의 보정과 광디스크의 접선방향에 대하여 기울기의 보정을 수행하는 것이 가능한다.
또한, 이 실시형태에 있어서, FIFO(210)로부터 출력된 틸트 데이터를 래디얼 틸트 데이터로 틸트 보정기구로 출력하고, 이 래디얼 틸트 데이터에 근거하여 래디얼 틸트를 보정하도록 해도 좋다.
또한, A/D변환기(200)의 출력 데이터를 탄젠셜 틸트 데이터로 틸트 보정기구로 출력하고, 이 탄젠셜 틸트 데이터에 근거하여 탄젠셜 틸트를 보정하도록 해도 좋다.
다음으로, 제 3실시예에 대하여 도 4를 이용하여 설명한다. 이 도면에 있어서, 광검출기(3)는 도 7에 있어서 종래의 광검출기를 적용하고 있다.광검출기(3)는 수광하는 광량에 대응하는 검출결과를 출력하는 수광부(31)와 수광부(32)에 의하여 구성된다. 이 광검출기(3)는 정보재생용의 광빔과는 별도로 틸트량을 검출하기 위한 광빔을 광원(30)으로부터 광디스크로 조사하고, 이 틸트량 검출용 광빔의 반사광을 반경방향에 대하여 수직방향으로 2분할된 수광부(31)와 수광부(32)에 의해 수광한다.
수광부(31) 및 수광부(32)는 수광한 광량에 대한 검출결과를 비교기(320)로 출력한다.
비교기(320)는 수광부(31) 및 수광부(32)로부터 출력신호의 차이를 검출하고 검출신호를 광디스크의 반경방향의 기울기(래디얼 틸트)의 양을 나타내는 신호로서 출력한다.
아날로그 지연소자(330)는 비교기(320)의 출력신호를 광디스크가 90°회전하는 시간에 대하여 지연시켜 광디스크의 접선방향의 기울기(탄젠셜 틸트)의 양을 나타내는 신호로서 출력한다. 여기에서, 아날로그 지연소자(330)의 기능에 대하여 더욱 상세하게 설명한다. 광디스크가 휨이나 비뚤어짐 등에 의하여 변형되어 있기 때문에 광디스크가 스핀들 모터의 출력축인 스핀들에 기울어진 상태로 고정되는 경우에 광디스크 면은 광원으로부터 출력된 광의 축에 대하여 경사(틸트)지게 된다. 이 틸트량은 디스크의 회전과 동시에 주기적으로 변화한다. 즉 디스크가 1회전하는 사이에 1주기의 틸트성분이 포함된다. 따라서, 래디얼 틸트성분을 광디스크의 회전각을 90°위상을 지연시킨 성분에는 탄젠셜 틸트성분이 포함되어 있다. 이와 같이 아날로그 지연소자(230)는 래디얼 틸트성분을 광디스크의 회전각을 90°정도의 위상을 지연시키기 때문에 광디스크의 회전각이 90°회전하는 시간 정도의 지연시간을 부여함으로서 탄젠셜 틸트성분을 생성한다.
다음으로, 도 4의 구성에 있어서 틸트 검출장치의 동작에 대하여 설명한다.
우선, 광원으로부터 출력된 광이 광디스크의 신호면에 조사되어 반사되면, 광검출기(3)는 이 반사광을 수광한다. 이 광검출기(3) 중에서 수광부(31)는 수광된 광량에 대한 검출결과를 비교기(320)로 출력한다.
한편, 광검출기(3)의 수광부(32)는 수광된 광량에 대한 검출결과를 비교기(320)로 출력한다.
다음으로, 비교기(320)는 수광부(31) 및 수광부(32)의 출력신호의 차이를 검출하고, 검출신호를 래디얼 틸트량을 나타내는 래디얼 틸트신호로서 출력한다. 아날로그 지연소자(330)는 비교기(320)의 출력신호를 광디스크가 90°회전하는 시간에 대하여 지연시켜 탄젠셜 틸트량을 나타내는 탄젠셜 틸트신호로서 출력한다.
상술한 래디얼 틸트신호와 탄젠셜 틸트신호에 근거하여 틸트각을 보정하는 틸트 보정기구를 이용함으로써 광검출기(3)에 대한 광디스크의 반경방향에 대한 기울기의 보정과 광디스크의 접선방향에 대한 기울기의 보정을 수행할 수 있다.
또한, 상기 실시예에 있어서는 래디얼 틸트신호를 지연시키기 위하여 아날로그 지연소자(330)를 이용하였지만, 이 지연소자(330)를 도 5에 도시된 바와 같이, 위상 지연회로(340)로 대체하여 래디얼 틸트신호의 위상각을 90°지연시켜 탄젠셜 틸트신호로서 출력하도록 해도 좋다.
다음으로, 제 4실시예에 대하여, 도 6을 이용하여 설명한다. 도 6에 있어서 도 4의 각부에 대응하는 부분에는 동일한 부호를 부여하고, 그 설명은 생략한다. A/D(아날로그/디지털)변환기(400)는 비교기(320)로부터 출력된 아날로그의 래디얼 틸트신호를 디지털신호로 변환시키고, 래디얼 틸트 데이터로서 FIFO(先入先出)(410)로 출력한다.
FIFO(410)는 A/D변환기(400)로부터 출력된 디지털의 래디얼 틸트 데이터를 일시 축적하고, 클럭(420)으로부터 출력된 타이밍신호에 근거하여 축적된 래디얼 틸트 데이터를 탄젠셜 틸트 데이터로서 D/A변환기(430)로 출력한다. 클럭(420)은 FIFO(410)에 틸트 데이터를 출력하는 타이밍신호를 출력한다. 상기 타이밍신호는 비교기(420)의 출력신호를 광디스크의 회전각이 90°회전하는 시간이 되는 타이밍이다. D/A변환기(430)는 FIFO(410)으로부터 출력된 디지털의 탄젠셜 틸트 데이터를 아날로그의 신호로 변환하고, 이 신호를 탄젠셜 틸트신호로 출력한다.
다음으로, 도 6의 구성에 있어서 틸트 검출장치의 동작에 대하여 설명한다. 먼저, 광원으로부터 출력된 광이 광디스크의 신호면에 조사되어 반사되면 광검출기(3)는 상기 반사광을 수광한다. 상기 광검출기(3) 중에 수광부(31)는 수광된 광량에 대응하는 검출결과를 비교기(320)로 출력한다.
한편, 광검출기(3)의 수광부(32)는 수광된 광량에 대응한 검출결과를 비교기(320)로 출력한다.
수광부(31)과 수광부(32)로부터의 출력신호에 근거하여 비교기(320)는 수광부(31)와 수광부(32)의 출력신호의 차이를 검출하고, 검출신호를 래디얼 틸트량을 나타내는 래디얼 틸트신호로서 출력한다.
한편, A/D변환기(400)는 비교기(320)로부터 출력된 아날로그의 래디얼 틸트신호를 디지털신호로 변환하고, 래디얼 틸트 데이터로 FIFO(410)로 출력한다. FIFO(410)는 A/D변환기(400)로부터 출력된 디지털의 래디얼 틸트 데이터를 순차적으로 축적한다.
다른 한편, 클럭(420)은 비교기(320)의 출력신호를 광디스크의 회전각이 90°회전하는 시간이 되는 타이밍에서 타이밍신호를 FIFO(410)로 출력한다. FIFO(410)는 클럭(420)으로부터 타이밍신호가 출력되면, 축적된 래디얼 틸트 데이터를 탄젠셜 틸트 데이터로서 D/A변환기(430)로 출력한다. D/A변환기(430)는 FIFO(410)로부터 출력된 디지털의 탄젠셜 틸트 데이터를 아날로그신호로 변환시키고, 이 신호를 탄젠셜 틸트신호로서 출력한다.
상술한 래디얼 틸트신호와 탄젠셜 틸트신호에 근거하여 틸트각을 보정하는 틸트 보정기구를 이용함으로써 광검출기(3)에 대한 광디스크이 반경방향에 대한 기울기의 보정과 광디스크의 접선방향에 대하여 기울기의 보정을 수행하는 것이 가능하다.
또한, 이 실시형태에 있어서, FIFO(410)로부터 출력된 틸트 데이터를 탄젠셜 틸트 데이터로서 틸트 보정기구로 출력하고, 이 탄젠셜 틸트 데이터에 근거하여 탄젠셜 틸트를 보정하는 것이 바람직하다.
또한, A/D변환기(400)의 출력 데이터를 래디얼 틸트 데이터로 틸트 보정기구로 출력하고, 이 래디얼 틸트 데이터에 근거하여 래디얼 틸트를 보정하는 것이 바람직하다.
또한, 이상에서 설명한 실시예에 있어서, 광디스크가 90°회전하는 시간에 대응하여 지연시간을 설정하여 탄젠셜 틸트신호로부터 래디얼 틸트신호를 생성하도록 하였다. 또한, 광디스크가 90°회전하는 시간에 대응하는 지연시간을 설정하여 래디얼 틸트신호로부터 탄젠셜 틸트신호를 생성하도록 하였다. 그러나, 지연되는 시간은 광디스크가 90°회전하는 시간에 한정되지 않고, 예를 들어, 광디스크가 270°회전하는 시간에 대응하는 지연시간을 설정하는 것도 좋다. 더욱이 이 지연되는 시간은 광디스크가 90°또는 270°회전하는 시간에 대응하는 지연시간(450°, 630°, …)인 것이 바람직하다.
이상에서 설명한 실시예에 의하면, 광검출기로부터의 출력에 근거하여 래디얼 틸트신호를 검출함과 아울러, 이 래디얼 틸트신호를 광디스크의 회전각에 대하여 90°까지는 270°지연함으로써, 탄젠셜 틸트신호를 생성하도록 하였다. 이것에 의해 광디스크가 휨이나 비뚤어짐 등에 의하여 변형되어 있기 때문에 광디스크가 스핀들 모터의 출력축인 스핀들에 경사진 상태로 고정된 경우에 있어서 발생하는 틸트를 보정하는 것이 가능함과 동시에 틸트 검출장치를 소형화할 수 있고, 탑재성을 향상시키며, 제조비용을 저감시킬 수 있는 효과를 얻을 수 있다.
이상 본 발명의 실시예를 도면을 참조하여 설명하였지만, 구체적인 구성은 본 실시예에 한정되지 않고, 본 발명의 요지를 벗어나지 않은 범위의 설계 등도 포함된다.
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명에 의하면, 기록매체에 조사된 조사광의광축의 기록매체에 대한 반경방향의 기울기의 검출결과를 기록매체가 회전하는 회전각 90°또는 270°에 상당하는 시간을 지연시키도록 하였기 때문에, 기록매체의 접선방향의 기울기의 양을 생성할 수 있고, 이것에 의해 기록매체의 접선방향의 기울기를 검출하는 틸트 검출장치를 설치할 필요가 없고, 틸트 검출장치를 소형화할 수 있으며, 탑재성을 향상시킬 수 있는 효과를 얻을 수 있다.
또한, 본 발명에 의하면, 기록매체에 조사된 조사광의 광축의 기록매체에 대한 접선방향의 기울기의 검출결과를 상기 기록매체가 회전하는 회전각이 90°또는 270°에 해당하는 시간을 지연시킬 수 있도록 하였기 때문에, 기록매체의 반경방향의 기울기의 양을 생성할 수 있고, 이것에 의하여 기록매체의 반경방향의 기울기를 검출하는 틸트 검출장치를 설치할 필요가 없고, 틸트 검출장치를 소형화할 수 있으며, 탑재성을 향상시킬 수 있는 효과를 얻을 수 있다.
또한, 본 발명에 의하면, 틸트 검출장치를 복수로 설치할 필요가 없는 것으로 제조비용을 저감시킬 수 있는 효과를 얻을 수 있다.

Claims (4)

  1. 광원으로부터의 레이저광을 디스크 형상의 기록매체에 조사하여 조사광의 광축의 기록매체에 대한 기울기를 검출하는 틸트 검출장치에 있어서,
    상기 기록매체에 대하여 접선방향의 기울기를 검출하고, 상기 검출된 접선방향의 기울기의 검출결과를 상기 기록매체가 회전하는 회전각이 90°또는 270°에 해당하는 시간을 지연시켜 상기 기록매체의 반경방향의 기울기로 출력하는 것을 특징으로 하는 틸트 검출방법.
  2. 광원으로부터의 레이저광을 디스크 형상의 기록매체에 조사하여 조사광의 광축의 기록매체에 대한 기울기를 검출하는 틸트 검출장치에 있어서,
    상기 기록매체에 대하여 반경방향의 기울기를 검출하고, 상기 검출된 반경방향의 기울기의 검출결과를 상기 기록매체가 회전하는 회전각이 90°또는 270°에 해당하는 시간을 지연시켜 상기 기록매체의 접선방향의 기울기로 출력하는 것을 특징으로 하는 틸트 검출방법.
  3. 광원으로부터의 레이저광을 디스크 형상의 기록매체에 조사하여 조사광의 광축의 기록매체에 대한 반경방향의 기울기를 검출하는 틸트 검출장치에 있어서,
    상기 반경방향의 기울기의 검출결과를 상기 기록매체가 회전하는 회전각이 90°또는 270°에 해당하는 시간을 지연시켜 상기 기록매체의 접선방향의 기울기량으로 출력하는 지연소자를 구비한 것을 특징으로 하는 틸트 검출장치.
  4. 광원으로부터의 레이저광을 디스크 형상의 기록매체에 조사하여 조사광의 광축의 기록매체에 대한 접선방향의 기울기를 검출하는 틸트 검출장치에 있어서,
    상기 접선방향의 기울기의 검출결과를 상기 기록매체가 회전하는 회전각이 90°또는 270°에 해당하는 시간을 지연시켜 상기 기록매체의 반경방향의 기울기량으로 출력하는 지연소자를 구비한 것을 특징으로 하는 틸트 검출장치.
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