KR100343592B1 - Methods of plating on insulating substrates and plating grants obtained by the methods - Google Patents

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Abstract

본 발명은, 표면이 평활한 절연기재 상에 기재와의 밀착성이 좋은 금속의 박층을, 용이하게 저 코스트로 생산 할 수 있는 방법 및 그 방법으로 얻어지는 도금 부여물을 제공하는 것을 과제로 한다.It is an object of the present invention to provide a method capable of easily producing a thin layer of a metal having good adhesion to a substrate on an insulating substrate having a smooth surface at low cost, and a plating imparting material obtained by the method.

본 발명은, 절연기재상에 도금하는 방법으로서, 산화물을 함유하는 도전막을 절연기재상에 형성하는 과정 1과, 상기의 도전막 표층을 환원처리하여 그 도전막 표층에 환원층을 형성하는 과정 2와, 상기의 환원층에 촉매작용을 가진 금속의 이온을 함유하는 처리액을 작용시켜서 그 환원층의 표면에 촉매층을 형성하는 과정 3과, 상기의 촉매층을 가진 도전막의 위에 금속을 도금하는 과정 4를 보유하는 것을 특징으로 한다.The present invention provides a method of plating on an insulating substrate, comprising: forming a conductive film containing an oxide on an insulating substrate, and performing a reduction treatment on the conductive film surface layer to form a reducing layer on the conductive film surface layer. And a step 3 of forming a catalyst layer on the surface of the reduced layer by applying a treatment solution containing ions of a metal having a catalytic action to the reducing layer, and plating metal on the conductive film having the catalyst layer. Characterized in that it holds.

Description

절연기재상에 도금하는 방법 및 그 방법으로 얻어지는 도금부여물Method of plating on insulating substrate and plating additive obtained by the method

본 발명은, 글라스, 플라스틱, 세라믹등의 절연기재상에 도전성이 높은 금속층을 형성하는 방법 및 그 방법에서 얻어지는 도금부여물(鍍金賦與物), 예컨대, 미세한 패턴 폭의 금속배선을 보유하는 회로기판이나 컬러 필터에 관한 것이다.The present invention provides a method of forming a highly conductive metal layer on an insulating substrate such as glass, plastic, ceramic, and the like, and a plating additive obtained by the method, for example, a circuit having a metal wiring having a fine pattern width. It relates to a substrate and a color filter.

글라스, 플라스틱, 세라믹등과 같은 도전성을 갖지 않은 절연기재상에 도전성을 가진 피막을 형성하는 방법으로서, 일반적으로 물리증착법이나 화학기상법이 이용되고 있다. 이중에서 물리증착법으로서 진공증착법이나 스퍼터링(sputtering)등의 방법이 일반적이다. 도전박막에 사용되는 재료로서는 크롬, 알루미늄, 금, 탄소, 백금, 동, 팔라듐(palladium)등이 있다. 현재 흔히 사용되고 있는 것은, 크롬과 알루미늄이다. 또, 표시소자 등의 투명도전막으로서 널리 사용되는 ITO(인듐과 주석의 산화물)을 성막하는 방법으로서도 이들의 방법이 이용되고 있다. 화학기상법은 고온에서 개스를 반응시켜서 기판상에 성막하는 방법이다. 네사(nesa) 막 등의 성막에 이 방법이 사용되고 있다. 절연 기재상에 도전성의 박막을 형성하는 별도의 방법으로서, 무전해(無電解) 도금으로 절연기재표면을 금속화하는 방법이 있다. 이 경우에는, 최초에 기재표면에 팔라듐 혹은 백금 등의 촉매를 흡착시킨 후 그 금속도금을 행하지만, 기재와의 공고한 결합을 얻기 위하여 미리 피도금표면의 조화(祖化)를 행하는 것이 일반적이다.As a method of forming a conductive film on a non-conductive insulating substrate such as glass, plastic, ceramic, or the like, physical vapor deposition or chemical vapor deposition is generally used. Among them, a vacuum deposition method or a sputtering method is generally used as a physical vapor deposition method. Materials used for the conductive thin film include chromium, aluminum, gold, carbon, platinum, copper and palladium. Commonly used at present are chromium and aluminum. Moreover, these methods are also used as a method of forming ITO (oxide of indium and tin) widely used as a transparent conductive film, such as a display element. Chemical vapor deposition is a method of forming a film on a substrate by reacting the gas at a high temperature. This method is used for film formation, such as a nesa film | membrane. As another method of forming a conductive thin film on an insulating substrate, there is a method of metallizing the surface of an insulating substrate by electroless plating. In this case, first, a catalyst such as palladium or platinum is adsorbed on the surface of the substrate, and then the metal is plated. However, in order to obtain a firm bond with the substrate, it is common to roughen the surface to be plated in advance. .

물리 증착법으로 금속박막을 성막하는 방법은 처리온도가 높은데다가 금속의 종류에 따라서는 성막에 시간이 걸리는 등의 이유로, 실제 사용되는 금속의 종류는 한정되고, 범용성이 적다. 현재 흔히 사용되는 크롬이나 알루미늄의 경우에도, 장치 코스트, 목표의 수명이나 그 메인테넌스 등의 이유로 생산성이나 제조 코스트면에 문제가 있다. 또, 금속 박막을 LCD(액정 디스플레이)의 컬러 필터용 블랙 매트릭스로서 이용하는 경우 (그 금속으로서 일반적으로는 크롬이 사용된다). 핀홀 등의 존재에 의한 광선 누출을 제거 함과 아울러 저반사율의 막으로 하는 것이 요구되지만, 이들의 요구에 응하기 위해서는 중층적(重層的)인 증착이나 흑화처리를 필요로 하며, 제조 코스트의 증대를 초래 함과 동시에 얻어지는 반사율로서 반드시 만족할 수 있는 것은 아니다. 투명 도전막으로서 널리 사용되는 ITO막을 스퍼터링법으로 제조하는 방법은, 성막 스피트가 빠르고, 균일한 성막 기술이 확립되며, 대량으로 생산되어, 제조 코스트 면에서도 유리하지만, 성막된 도전층은 금속에 비하여 도전성이 낮고, 금속만큼의 고도전성을 필요로 하는 목적에는 불충분하다. 화학기상법에서의 성막도, 실용이 되는 재표가 한정되어 있고, 금속 만큼의 고도전성을 필요로 하는 목적에는 불충분 하다.The method of forming a metal thin film by physical vapor deposition has a high processing temperature and takes time to form a film depending on the type of metal, and therefore, the type of metal actually used is limited and its versatility is low. In the case of chromium and aluminum which are commonly used at present, there are problems in terms of productivity and manufacturing cost due to device cost, target life and maintenance thereof. Moreover, when using a metal thin film as a black matrix for color filters of LCD (liquid crystal display) (chromium is generally used as the metal). It is required to remove light leakage due to the presence of pinholes and to make a film having low reflectance. However, in order to meet these demands, heavy deposition and blackening are required to increase the manufacturing cost. It is not necessarily satisfactory as the reflectance obtained at the same time. The method for producing an ITO film widely used as a transparent conductive film by sputtering method has a fast film forming speed, a uniform film forming technology is established, and is produced in large quantities and advantageous in terms of manufacturing cost. The conductivity is low and insufficient for the purpose of requiring high conductivity as much as metal. The film formation in the chemical vapor deposition method is also limited in practical use and is insufficient for the purpose of requiring high electrical conductivity as much as metal.

무전해 도금으로 고도전성 금속막을 얻는 방법으로는 동이나 니켈 등의 도금이 가능하며, 고도전성을 필요로하는 목적에는 유효하다. 그러나, 이 경우, 도금 금속막과 기재표면과의 밀착성을 얻는 필요에서, 무엇인가의 방법으로 기재표면을 조화(祖化)하지 않으면 않되고, 이 기재표면의 조화는, 글라스 등의 투명성이 요구되는 목적의 경우, 혹은 표면의 평활성이 요구되는 목적의 경우에는 적합하지 못하다. 또한 표면조화를 행하였다 하더라도 얻어지는 밀착강도는 충분하다고는 할 수 없다. 또 최근과 같이 기재표면에 미세한 도전성의 배선 패턴 등을 형성하는 목적에 대해서는 패턴의 요구 정밀도에 의하여 기재표면의 조화가 부적당한 경우가 있다. 본 발명은, 표면이 평활한 절연기재상에 기재와의 밀착성이 좋은 금속의 박층을, 용이하게 저코스트로 생산할 수 있는 방법 및 그 방법으로 얻어지는 도금 부여물을 제공하는 것이다.As a method of obtaining a highly conductive metal film by electroless plating, plating of copper, nickel, or the like is possible, and is effective for the purpose of requiring high conductivity. In this case, however, in order to obtain adhesion between the plated metal film and the substrate surface, the substrate surface must be roughened by some method, and the roughening of the substrate surface requires transparency such as glass. It is not suitable for the purpose or for the purpose where surface smoothness is required. Moreover, even if surface roughening is performed, the obtained adhesive strength is not enough. In recent years, for the purpose of forming a fine conductive wiring pattern or the like on the substrate surface, there is a case where the roughness of the substrate surface is inappropriate depending on the required precision of the pattern. The present invention provides a method capable of easily producing a thin layer of metal with good adhesion to a substrate on an insulating substrate having a smooth surface, and a plating imparting material obtained by the method.

본 발명의 방법은, 산화물을 포함하는 도전막, 예컨대 ITO 도전막을 절연기재(표면 형상은 묻지 않는다. 입체적인 형상이라 해도 상관없다.)의 위에 형성하는 과정 1과, 상기의 도전막 표층을 환원처리하여 그 도전막 표층에 환원층을 형성하는 과정 2와, 상기의 환원층에 촉매작용을 가진 금속 이온을 포함하는 처리액을 작용시켜서 그 환원층의 표면에 촉매층을 형성하는 과정 3과, 상기의 촉매층을 가진 도전막의 위에 금속을 도금하는 과정 4를 보유하는 것을 특징으로 한다.According to the method of the present invention, the step 1 of forming a conductive film containing an oxide, such as an ITO conductive film, on an insulating substrate (surface shape does not matter. It may be a three-dimensional shape) and the above-described conductive film surface layer is reduced. Step 2 of forming a reducing layer on the surface of the conductive film, and a process 3 of forming a catalyst layer on the surface of the reducing layer by operating a treatment liquid containing a metal ion having a catalytic action on the reducing layer. The process 4 of plating a metal on the conductive film which has a catalyst layer is characterized by holding.

본 발명은, 절연기개상에 금속 도금을 행하기 전에, 과정 2와 3을 실시한 점이 큰 특징인 것이다.The present invention is characterized in that steps 2 and 3 are performed before metal plating on the insulator opening.

본 발명의 방법에 의하면, 먼저 과정 1에 있어서, 산화물을 포함하는 도전막이 절연기재상에 강하게 부착된다.According to the method of the present invention, first, in step 1, a conductive film containing an oxide is strongly adhered on an insulating substrate.

다음에, 과정 2로써 도전막의 표층부분의 산화물이 환원된다. 예컨대, 도전막이 ITO의 경우, 그 막표층의 주석과 인듐은 환원되어, 주석은 0가(價)에서 4가(價), 인듐은 0가에서 3가의 사이의 산화수의 혼합물의 층이 형성된다. 이 환원된 층(환원층)은 과정 1로 형성되는 도전층의 조성(組成), 두께, 및 성막조건과 과정 2의 환원조건에 의하여, 그 두께와 조성을 컨트롤 할 수 있고, 그 도전막의 표면 개질(이것은 도금막의 밀착강도, 절연기재 쪽에서 본 경우의 색조 및 반사율에 관계된다)를 용이하게 실시할 수 있다. 이 과정 2를 실시하지 않고, 도전막 표면을 조화(組化)처리 (예컨대, 그 도전막을 용해가능한 보론불화수소산, 염산, 브롬화수소산 등의 약액에 의한 처리)하고, 그 위에 도금하여도, 얻어지는 도금막과 절연기재간의 밀착성은 충분하지 않다.Next, in Step 2, the oxide of the surface layer portion of the conductive film is reduced. For example, in the case where the conductive film is ITO, tin and indium of the film surface layer are reduced to form a layer of a mixture of oxidized water between tin and tetravalent, and indium between zero and trivalent. The reduced layer (reduction layer) can control its thickness and composition by the composition, thickness, and film forming conditions of the conductive layer formed in step 1 and the reducing conditions in step 2, and the surface modification of the conductive film can be controlled. (This is related to the adhesion strength of the plated film, the color tone and reflectance when viewed from the insulating base side) can be easily performed. Even if the surface of the conductive film is subjected to a roughening treatment (for example, treatment with a chemical solution such as boron hydrofluoric acid, hydrochloric acid, or hydrobromic acid) without conducting this step 2, the conductive film surface is obtained. The adhesion between the plated film and the insulating substrate is not sufficient.

또, 과정 3으로써, 상기의 환원층과 촉매작용을 가진 금속 이온을 포함하는 처리액이 접촉되게 되면, 환원층에 포함되는 환원상태의 화합물 혹은 원소에 의하여 금속이온이 금속 혹은 금속을 함유하는 화합물에까지 환원되어 (예컨대, 촉매작용을 가진 금속의 이온을 함유하는 처리액을 염화 팔라듐(palladium)수용액으로 했을 경우, 금속 팔라듐의 미립자가 된다). 그것이, 환원층이 형성된 표면에만 선택적으로 미립자상으로 석출(析出)한다. 이렇게 하여 된 촉매작용을 가진 미립자는, 잔존하는 도전막 표층과 강한 결합을 지니고 있다고 생각된다.Also, in Step 3, when the treatment liquid containing the metal ions having a catalytic action is brought into contact with the reducing layer, the metal ion contains the metal or the metal by the compound or element in the reduced state included in the reducing layer. Is reduced to (for example, when a treating solution containing ions of a catalyzed metal is used as an aqueous palladium chloride solution, it becomes fine particles of metal palladium). It selectively precipitates in particulate form only on the surface on which the reducing layer is formed. It is considered that the fine particles having such a catalytic action have a strong bond with the remaining conductive film surface layer.

과정 2와 과정 3을 거친 도전막 표면에, 과정 4의 도금 처리에 의하여 금속막을 석출시키면, 이 금속막은 절연기재 표면에 강하게 밀착하게 된다. 이것은, 과정 1로부터 과정 3을 거친 절연기재 표면으로의 촉매작용 입자의 부여법에 의하면, 스퍼터링 등에 의하여 분자 레벨로 기재표면에 형성된 도전막의 일부가 환원되고, 그 환원된 부분과, 처리액중의 촉매작용을 가진 금속의 이온이 고액접촉반응으로 직접반응하므로, 처리액에서 생성한 촉매작용을 가진 미립자와, 그것을 환원하기 위하여 사용된 잔존하는 환원층이 분자 레벨에서 접합함과 아울러, 환원층 자체도 그 하층의 도전막층과 연속적으로 분자레벨에서 결합하고 있기 때문이라고 생각된다. 한편, 종래법에 의한 절연기재 표면의 도금법으로 일반적으로 사용되고 있는 팔라듐/주석 콜로이드 촉매나 팔라듐 화합물 촉매의 기재 표면으로의 결합은 물리적인 흡착력에 의하므로, 결합력이 약하고, 상응하는 도금막의 접착을 얻는데는 표면 조화처리에 의한 앵커(anchor)효과를 이용하지 않으면 않된다(그것도 역시 결합은 충분하지 않다).When the metal film is deposited on the surface of the conductive film which has passed through Steps 2 and 3 by the plating treatment of Step 4, the metal film is strongly adhered to the surface of the insulating base. According to the method of applying catalysis particles to the surface of the insulating substrate which has undergone the process 1 to process 3, a part of the conductive film formed on the surface of the substrate at the molecular level by sputtering or the like is reduced, and the reduced part and the process liquid Since the ions of the catalyzed metal react directly with the solid-liquid contact reaction, the catalyzed fine particles generated in the treatment liquid and the remaining reducing layer used for reducing them are bonded at the molecular level, and the reducing layer itself It is also considered that the bonding is performed at the molecular level continuously with the underlying conductive film layer. On the other hand, since the bonding of the palladium / tin colloidal catalyst or the palladium compound catalyst to the substrate surface which is generally used in the plating method of the insulating substrate surface by the conventional method is due to the physical adsorption force, the bonding strength is weak, and it is necessary to obtain the adhesion of the corresponding plating film. Must use the anchor effect by surface roughening (although not enough bonding).

이하, 본 발명의 방법의 일 실시상태를 공정순으로 표시하는 제 1 도 - 제 4 도를 참조하면서, 본 발명을 보다 상세하게 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to FIGS. 1 to 4, which show one embodiment of the method of the present invention in the order of the process.

본 발명의 방법에서는, 먼저 표면이 평활한 절연 기재 1의 일면에 도전막 2를 형성한다(제 1 도(a)). 이 도전막 2의 형성은, 스퍼터링이나 증착법 등이 이용가능하며, 그것들에 의하면 도전막 2와 절연기재 1과는 강한 밀착성이 얻어짐과 아울러, 종래의 도금법과 같이 기재표면의 조화를 필요로 하지 않으므로 30㎛이하의 미세한 선폭의 패터닝에도 충분히 대응할 수 있다.In the method of this invention, the electrically conductive film 2 is first formed in one surface of the insulating base material 1 with a smooth surface (FIG. 1 (a)). For the formation of the conductive film 2, sputtering, vapor deposition, or the like can be used. According to these, strong adhesion between the conductive film 2 and the insulating base 1 is obtained, and the surface of the substrate is not required as in the conventional plating method. Therefore, it can fully cope with the patterning of fine line width of 30 micrometers or less.

여기서, 기판 1로서는, 글라스, 플라스틱, 세라믹등이 이용된다(도금 부여물을 컬러 필터로서 이용하는 경우에는 기판 자신이 투명해야 하는 것이 더한층 필요한 것이다). 도전막 2로서는, 도전막 2의 위에 나중에 금속의 도금막이 형성되므로서 최종적인 도전성이 확보되므로, 종래의 금속 스패터(spatter)법에 의한 도전막 형성의 경우와 달리, 도전성이 높은 재료부터 선정할 필요는 없다. 과정 2에 있어서 환원을 전해액중에서의 전해처리에 의하여 행하는 경우에는 전해처리가 가능한 정도의 도전성을 가지면 충분하다. 따라서, 도전막 형성재료를 고르는데 있어서는, 생산성, 작업성이 좋은 저 코스트의 재료를 고르면 된다. 가장 대표적인 재료는 ITO이다.Here, as the board | substrate 1, glass, a plastic, a ceramic, etc. are used (when using a plating provision product as a color filter, it is further necessary that the board | substrate itself should be transparent). As the conductive film 2, the final electroconductivity is secured by forming a metal plated film later on the conductive film 2, and therefore, the conductive film 2 is selected from a material having high conductivity unlike the case of the conductive film formation by the conventional metal spatter method. There is no need to do it. In the case where the reduction is carried out by electrolytic treatment in the electrolytic solution in step 2, it is sufficient that the electroconductivity is sufficient to allow the electrolytic treatment. Therefore, what is necessary is just to select the low cost material which is good in productivity and workability in selecting a conductive film formation material. The most representative material is ITO.

과정 2에서는, 도전막 표층을 환원한다. 이 방법으로서는, 예컨대, 도전막을 환원할 수 있는 원소 혹은 화합물을 포함하는 이온 플라스마 분위기 또는 고온 분위기 중에서 건식 환원하는 방법도 들수 있으나, 전해액중에서의 전해처리에 의한 방법이 바람직하다. 전해처리의 경우, 환원의 정도를 전해조건에 의하여 조정할 수 있다. 상기의 전해처리에 있어서 전해액에는, 전도도를 조정하기 위한 임의의 전해질을 적어도 1종류 포함한다. 그 예로서는, 유산, 글리콜산, 메톡시초산, 초산, 클로로초산, 구연산, 주석산(酒石酸)을 들수 있다.In process 2, the conductive film surface layer is reduced. As this method, although the method of dry reduction in ion plasma atmosphere or high temperature atmosphere containing an element or compound which can reduce an electrically conductive film is mentioned, for example, the method by the electrolytic treatment in electrolyte solution is preferable. In the case of the electrolytic treatment, the degree of reduction can be adjusted by the electrolytic conditions. In said electrolytic treatment, electrolyte solution contains at least 1 sort (s) of arbitrary electrolytes for adjusting conductivity. Examples thereof include lactic acid, glycolic acid, methoxy acetic acid, acetic acid, chloroacetic acid, citric acid and tartaric acid.

그리고, 실용적으로 바람직한 것은, 이 전해액에, 전해처리를 균일하게 하기위한, 인히비터를 배합한다. 이 경우에는, 도전막 2상에는 환원층 4의 다른것에 전해액 성분(주로 인히비터 성분)에 의거한 층(인히비터층)3이 형성된다. (제 1 도(b)).And it is practically preferable to mix | blend the inhibitor for making electrolytic treatment uniform to this electrolyte solution. In this case, on the conductive film 2, a layer (inhibitor layer) 3 based on an electrolyte component (mainly an inhibitor component) is formed on the other of the reducing layer 4. (Fig. 1 (b)).

이 인히비터로서 통상의 전착도장(電着塗裝) 등에 이용되는 극성기(極性基)를 가진 폴리머 콜로이드를 사용할 수 있다. 이 경우, 전해에 의하여 결과적으로 폴리며 콜로이드가 환원층 4의 표면에 침착하고, 폴리며(polymer)막 3(상기 전해액에 의거한 층의 대표례)가 형성된다. 또 이경우, 폴리머 콜로이드에 광중합(光重合) 개시제등을 배합한 전착 포토레지스트(photo-resist)를 사용하면, 형성된 막은 사진법에 의하여 패턴형성을 행할 수 있다. 결과적으로, 소망 부분(도금을 원하는 부분)의 인히비터층 3은 제거되므로, 다음의 과정에서의 인히비터층 3의 제거(제 1도 (c))는 불필요해 진다. 인히비터의 예로서는, 양이온 기를 가진 아크릴 수지를 함유하는 것이든가, 양 이온기를 가진 에폭시 수지, 우레탄 수지, 폴리 아미드 수지 등을 들수 있다.As the inhibitor, a polymer colloid having a polar group used for ordinary electrodeposition coating or the like can be used. In this case, electrolysis results in poly-colloids being deposited on the surface of the reducing layer 4, thereby forming a poly-polymer film 3 (a representative example of the layer based on the electrolyte solution). In this case, when an electrodeposition photoresist in which a photopolymerization initiator is added to the polymer colloid is used, the formed film can be patterned by a photo method. As a result, the inhibitor layer 3 of the desired portion (the portion to be plated) is removed, so that the removal of the inhibitor layer 3 (FIG. 1 (c)) in the following process becomes unnecessary. Examples of the inhibitor include an acrylic resin having a cationic group, an epoxy resin having a cation group, a urethane resin, a polyamide resin, and the like.

다음에, 전해액에 함유되는 성분에 의거한 층, 예컨대 인히비터층 3이 존재한다면, 그 층을 용해제거 가능한 용액(박리액), 예컨대, 유기용제나 산/알칼리 용액등에 의하여 제거한 후 (제 1 도(c)), 촉매작용을 가진 금속의 이온을 함유한 처리액을 환원층 4에 작용시킨다.[과정 3]. 이 처리에 의하여, 도전막 2 표층의 환원층 4(예컨대 환원된 주석을 포함함)가, 상기의 금속이온을 환원하여, 촉매층 5를 도전막 2의 위에 석출시킨다.(제 1 도 (d)).Next, if there is a layer based on the component contained in the electrolyte, such as the inhibitor layer 3, the layer is removed by a solution (solvent) that can be dissolved and removed, for example, an organic solvent, an acid / alkali solution, or the like (first (C)), the treatment liquid containing ions of the catalyzed metal is acted on the reducing layer 4. [Step 3]. By this treatment, the reducing layer 4 (for example, reduced tin) of the conductive film 2 surface layer reduces the metal ions so as to precipitate the catalyst layer 5 on the conductive film 2 (FIG. 1 (d)). ).

촉매의 작용을 가진 금속의 이온을 함유한 처리액으로서는 환원층 4에 의하여 환원되어, 도금촉매로 되는 금속 또는 그것을 함유한 화합물을 석출가능한 것이라면 임의의 것이 사용될 수 있다. 예컨대, 0가가 아닌 산화된 상태의 금속(팔라듐, 백금, 로듐등)을 함유하는 화합물의 수용액을 이용할 수 있다. 금속 이온이 팔라듐의 경우, 보다 구체적으로는 염화팔라듐이나 팔라듐 배위 화합물(예컨대 팔라듐 암민 착체(錯采: complex)등의 단분자 화합물, 그 다량체, 클러스터 화합물의 수용액이 이용가능하다.As the treatment liquid containing ions of the metal having the action of a catalyst, any one can be used as long as it can be reduced by the reducing layer 4 and precipitate a metal or a compound containing the same as the plating catalyst. For example, an aqueous solution of a compound containing a non-zero oxidized metal (palladium, platinum, rhodium, etc.) may be used. In the case where the metal ion is palladium, more specifically, an aqueous solution of a monomolecular compound such as a palladium chloride or a palladium coordination compound (e.g., a palladium ammine complex), a multimer thereof, or a cluster compound can be used.

또, 처리액의 농도나 처리시간은 적의 선정하면 되지만, 염화팔라듐 수용액의 경우, 팔라듐 30 mg/l - 80 mg/l 정도이며, 처리시간은, 30초 - 5분정도 이다.The concentration of the treatment liquid and the treatment time may be appropriately selected. In the case of the palladium chloride aqueous solution, the palladium is about 30 mg / l to 80 mg / l, and the treatment time is about 30 seconds to 5 minutes.

또, 필수의 과정 3과 4와의 사이에서, 통상의 패터닝법, 결국, 촉매층 5를 가진 도전막 2의 위에 에칭레지스트를 도포하여 그 층 7을 형성하고 (제 1 도 (e)), 노광(exposure)·현상에 의한 레지스트 이메징(제 1 도 (f))에 의한 도전막의 에칭(제 1 도 (g)), 잔존하는 레지스트의 박리(제 1 도 (h))를 실시하면, 다음의 필수과정 4로 소망부분에만 도금을 실시하는 것(제 1 도 (i))이 가능하다.In addition, between the necessary steps 3 and 4, an etching resist is applied on the conventional patterning method, ie, the conductive film 2 having the catalyst layer 5 to form the layer 7 (FIG. 1 (e)), and the exposure ( The etching of the conductive film (FIG. 1 (g)) by the resist imaging (FIG. 1 (f)) and the exfoliation of the remaining resist (FIG. 1 (h)) due to exposure and development are performed. As an essential procedure 4, it is possible to apply plating only to desired parts (Fig. 1 (i)).

과정 4에서는, 동, 니켈 등의 금속을 도금(바람직하기는 무전해도금)에 의하여 촉매층 5상에 석출시키고, 금속 도금막 6을 형성한다.(제 4 도, 여기서 높은 도전성을 필요로 하는 회로기판의 금속배선의 경우에는 동이, 저 반사율이 요구되는 LCD의 컬러 필터용 블랙 매트릭스의 경우에는 니켈이 바람직하다). 목적에 따라서는 단일 금속이나 복수금속을 석출시킨다.In step 4, a metal, such as copper or nickel, is deposited on the catalyst layer 5 by plating (preferably electroless plating) to form a metal plating film 6. (Fig. 4, a circuit requiring high conductivity here) In the case of the metal wiring of a board | substrate, nickel is preferable in the case of the black matrix for color filters of LCD which requires low reflectance). Depending on the purpose, a single metal or a plurality of metals are precipitated.

본 발명의 방법에서는, 과정 3으로써, 도전막 2의 표면에 촉매층 5가 형성되지만, 이 촉매층 5와 도전막 2와의 (환원층을 개재하거나 또는 직접의) 결합은 공고하며, 또, 촉매층 5와 도금에 의한 금속도금막 6과의 결합도 공고하기 때문에, 전체로서의 금속도금막의 밀착성은 현저히 높다. 데래의 무전해 도금에 있어서 성막후의 밀착성이 낮다고 하는 결점도 본 발명의 방법에 의하면 해소될 수 있다.In the method of the present invention, in Step 3, the catalyst layer 5 is formed on the surface of the conductive film 2, but the bonding between the catalyst layer 5 and the conductive film 2 (via a reduction layer or directly) is secured, and the catalyst layer 5 and Since the bond with the metal plating film 6 by plating is also announced, the adhesiveness of the metal plating film as a whole is remarkably high. The drawback of low adhesiveness after film formation in der electroless plating can also be eliminated by the method of the present invention.

또, 종래의 LCD의 컬러 필터용 블랙매트릭스의 경우에 문제로 된 핀홀 등에 의한 광선 누출은, 금속 도금막의 석출상태가 매우 좋은 경우도 있어서 인정 될 수 없다. 또, 도전막으로서 ITO막을, 도금으로서 무전해 Ni도금을 이용하는 경우에는, 종래의 Cr의 스퍼터링막에서는 달성할 수 없었던 저반사율의 도금 부여물을 얻을 수 있다. 또, 도전막 형성 재료로서 ITO를 이용하면, 종래법, 즉 Cr의 스퍼터링에 비하여 재료 코스트가 염가로 되고, 스퍼터링도 간단하므로, 도전막 형성 코스트는 종래법에 비하여 훨씬 낮다.Moreover, the light leakage by the pinhole etc. which became a problem in the case of the black matrix for color filters of the conventional LCD cannot be recognized because the precipitation state of a metal plating film is very good. In addition, in the case where an ITO film is used as the conductive film and an electroless Ni plating is used as the plating, a low-reflectance plating impartment which can not be achieved in the conventional sputtering film of Cr can be obtained. In addition, when ITO is used as the conductive film forming material, the material cost is lower than that of the conventional method, that is, the sputtering of Cr, and the sputtering is simple, so the conductive film forming cost is much lower than that of the conventional method.

또, 본 발명의 방법에 의하면, 과정 1에서 형성하는 도전막의 두께를 변경하므로서, 절연기재 면쪽의 색조를 조절할 수 있다.(흑색 혹은 흑자색에 색조를 조절하면, 시인성(視認性)이 좋은 콘트라스트가 높은 화상을 얻을 수 있다). 또, 과정 2의 환원처리조건을 조절하므로서, 혹은 환원처리 액중에 알칼리 금속 이온 혹은알칼리 토류 금속 이온 등을 첨가하므로서, 절연기재면쪽의 색조와 반사율과를 조절할 수 있다. 따라서, 본 발명의 방법에 의하여 얻은 도금부여물은, 낮은 반사율, 즉 화면의 반사가 억제된, 그리고 높은 시인성을 가진 LCD의 컬러 필터용 블랙 매트릭스로서 이용할 수 있다.In addition, according to the method of the present invention, by changing the thickness of the conductive film formed in step 1, it is possible to adjust the color tone of the surface of the insulating substrate. (When the color tone is adjusted to black or black purple, contrast with good visibility is obtained. High burns). In addition, by adjusting the reducing treatment conditions in Step 2 or by adding alkali metal ions or alkaline earth metal ions to the reducing treatment liquid, the color tone and reflectance of the insulating substrate surface can be adjusted. Therefore, the plating additive obtained by the method of the present invention can be used as a black matrix for color filters of LCDs having low reflectance, that is, reflection of the screen is suppressed and high visibility.

또, 상기 도금부여물을 LCD의 컬러 필터용 블랙 매트릭스로서 이용하는 경우에는, 미리 각 착색부(R.G.B)를 형성하고, 그 후에 그 블랙 매트릭스로 되는 부분을 형성할 수도 있다. 즉, 도전막이 형성된 기판(제 1 도(a))상에 미리 적색(R), 녹색(G), 청색(B)의 컬러 레지스트의 패터닝을 행하고 (제 2 도 및 제 3 도), 그후, 제 1 도에 표시한 조작(b) - (d)및 (i)를 이 순서로 실시한다. 또한, 이 방법에서는 환원층 4나 인히비터층 3은 물론 촉매층 5도 각 착색부(R,G,B)상에는 형성되지 않고, 블랙매트릭스 형성부(A)에 노출한 도전막 2의 위에만 형성되므로, 제 1 도에 표시한 조작 (e) - (h)는 불필요해 지며, 공정이 간략화 된다. 이 방법에서는, 블랙매트릭스 형성부의 치수 정밀도를 높이기 위해서는, 각 착색부(R, G, B)의 형성시에 미리 블랙매트릭스 형성부(A)와의 경계를 정밀도 좋게 정하여 두는 것이 필요하다.In addition, when using the said plating additive as a black matrix for color filters of LCD, each coloring part R.G.B may be formed beforehand, and the part used as the black matrix may be formed after that. That is, the color resist of red (R), green (G), and blue (B) is patterned on the substrate (FIG. 1 (a)) on which the conductive film is formed (FIGS. 2 and 3), and then, Operations (b) to (d) and (i) shown in FIG. 1 are performed in this order. In this method, the reducing layer 4 or the inhibitor layer 3 as well as the catalyst layer 5 are not formed on each of the colored portions R, G, and B, and are formed only on the conductive film 2 exposed to the black matrix forming portion A. FIG. Therefore, the operations (e) to (h) shown in FIG. 1 become unnecessary, and the process is simplified. In this method, in order to increase the dimensional accuracy of the black matrix forming portion, it is necessary to accurately define the boundary with the black matrix forming portion A in advance at the time of forming the colored portions R, G, and B.

또 별도의 방법으로서, 과정 2에 있어서 도전막에 환원 처리를 시행할 때에 블랙매트릭스 형성부를 남겨두고, 그 이외의 부분의 도전막을 제거해 두는 수법을 들 수 있다. 이 수법에서는, 도전막 부(딸린)기판의 전면에 감광성 수지피막(감광성 수지, 이 경우에는 전착 레지스트는 인히비터로서 전해액에 배합하여 둔다)를 전착법으로 형성한 후, 노광(露光), 현상 패터닝을 행하여 블랙매트릭스 형성부분이외의 부분의 레지스트 피막을 제거한다. (제 4 도(a)). 또 에칭에 의하여 이 부분의 환원층 부 도전막을 제거한 후 (제 4 도 (b))블랙매트릭스 형성부분의 레지스트 피막을 제거한다(제 4 도 (c)). 그후, 제 1 도에 표시한 조작 (d), 즉 촉매층 5의 형성 및 (i), 측 금속 도금을 이 순서로 실시한다. 이 방법에서는, 촉매층 5의 형성을 행하는 시점에 있어서는 블랙매트릭스 형성부분이외의 부분에는 환원층 4는 물론 도전막 2도 없으므로, 촉매층 5가 형성되는 것은 환원층 부 도전막이 잔존하고 있는 블랙매트릭스 형성부분 뿐이다. 또한 이 방법에 있어서는, 상기한 방법과 같이 금속도금을 행하기 전에 에칭 레지스트의 도포(제 1 도(e)) 포토리도그래피(photo lithography)에 의한 패터닝(제 1 도(f)) 및 에칭(제 1 도(g)) 및 레지스트의 박리. 제거를 다시 행할 필요가 없어진다는 점에 있어서 이점이 있으나, 산에 약한 환원층 4가 존재하는 중에서 에칭이 행하여지므로 가로 방향으로의 침식이 있다. 따라서, 미세한 패턴의 형성을 요구받는 경우에는 적합하지 않다. 다시 또 별도의 방법으로서, 일단 금속도금을 부여하는 단계까지 처리를 행한 후, 즉 제 1 도에, 표시한 조작 (a) - (d) 및 (i)를 이 순서로 실시한 후에 (제 5 도), 금속도금의 층상에 감광성 수지(에칭 레지스트)피막을 형성한 후, 노광, 현상 패터닝을 행하여 차광층 형성 개소 이외의 장소를 노출시키고, 이어서 그 금속도금 및 그 도전막의 에칭액과 접촉시켜서 상기의 노출시킨 장소의 금속도금 및 도전막을 제거하고, 또 남은 레지스트 피막을 박리할 수도 있다. 종래의 방법(Cr의 스퍼터리에)에 있어서도, 크롬의 피막형성후, 에칭 레지스트 피막의 형성 - 에칭의 각 조작이 행해지지만, 종래법에서는 에칭의 결과 배출되는 폐액중에 유해한 크롬이 함유되는데 대하여, 본 발명 방법에서는 그것이 유해 중금속으로 지정되어 있지 않은 금속, 예컨대, 니켈이라는 점에 있어서 이점이 있다.As another method, a method of leaving the black matrix forming portion and removing the conductive film in other portions when performing the reduction treatment on the conductive film in Step 2 is mentioned. In this method, after forming a photosensitive resin film (photosensitive resin, in this case, electrodeposition resist is mix | blended with electrolyte solution as an inhibitor) on the whole surface of an electrically conductive film part board | substrate by electrodeposition, exposure and image development are carried out. Patterning is performed to remove the resist film from portions other than the black matrix forming portion. (FIG. 4 (a)). In addition, after the reduction layer secondary conductive film in this portion is removed by etching (FIG. 4B), the resist film in the black matrix forming portion is removed (FIG. 4C). Thereafter, operation (d) shown in FIG. 1, that is, formation of the catalyst layer 5 and (i), side metal plating are performed in this order. In this method, since the conductive layer 2 as well as the reducing layer 4 is not included in the portion other than the black matrix forming portion at the time of forming the catalyst layer 5, the catalyst layer 5 is formed by forming the black matrix forming portion in which the reducing layer secondary conductive film remains. It is only. In this method, before the metal plating is carried out as in the above-described method, the etching resist is applied (FIG. 1 (e)) by patterning by photolithography (FIG. 1F) and etching ( Fig. 1 (g)) and peeling of the resist. Although there is an advantage in that it is not necessary to remove again, since etching is performed in the presence of a weak reducing layer 4 in the acid, there is erosion in the transverse direction. Therefore, it is not suitable when the formation of a fine pattern is required. Again, as another method, the treatment is performed until the step of applying the metal plating once, that is, after the operations (a) to (d) and (i) shown in Fig. 1 are performed in this order (Fig. 5). ), After forming a photosensitive resin (etching resist) film on the metal plating layer, exposure and development patterning are performed to expose a place other than the light shielding layer formation place, and then contact with the metal plating and the etching solution of the conductive film to contact the above. The metal plating and the conductive film of the exposed place may be removed, and the remaining resist film may be peeled off. Also in the conventional method (to the sputter of Cr), after the formation of the chromium film, each operation of forming the etching resist film-etching is performed, but in the conventional method, harmful chromium is contained in the waste liquid discharged as a result of etching. The inventive method has an advantage in that it is a metal that is not designated as a hazardous heavy metal, for example nickel.

발명의 실시 형태Embodiment of the invention

절연기재로서 표면이 평활한 글라스 기판(400mm X 320 mm)를 사용하였다. 이 글라스 기판 1의 한쪽면에 ITO 도전막 2 (비저항 2 X 10-4Ωcm)를 스퍼터링법에 의하여 형성한 (제 1 도 (a)). ITO 도전막 2의 막두께는 1,500Å로 하였다. 다음에, ITO 도전막 2를 음극(陰極)으로 하여 전해액중에서 전해처리를 행하므로서, 그 도전막 표층의 환원처리를 실시하였다. 전해액에는 유산과 인히비터로서, 유산으로 중화된 아미노기를 가진 아크릴 수지를 콜로이드(colloid)상으로 분산 시킨 것을 사용하였다. 그 아크릴 수지로서는, 다음 공정에서의 인히비터층 3의 박리ㆍ제거를 고려하여 전착 포토레지스트(시플레이파 이스트사제의 상품명: EAGLE ED-2100을 사용)을 사용하였다. 즉 아미노기를 가진 아크릴 수지로서, 메틸메타아크릴레이트, 에틸아크릴 레이트 및 디메틸아미노 에틸메타 아크릴레이트의 공중합물(共重合物)과 디펜타에리스리톨 펜타아크릴레이트를 함유하는 조성물 (중량비로 메틸메타 아크릴 레이트 : 에틸 아크릴레이트 : 디메틸 아미노 에칠 메타아크릴 레이트 = 75 : 17 : 8, 공중합물 : 디펜타에리스리톨 펜타 아크릴레이트 = 2 : 1)을 사용하였다. 이 전해액의 전기 전도도는 400㎲/cm로, 전해조건은 40℃, 100볼트, 60초로 하였다.As an insulating substrate, a glass substrate (400 mm × 320 mm) having a smooth surface was used. On one surface of this glass substrate 1, an ITO conductive film 2 (specific resistance 2 × 10 −4 Ωcm) was formed by sputtering (FIG. 1 (a)). The film thickness of the ITO conductive film 2 was 1,500 kPa. Next, the electrolytic treatment was carried out in the electrolytic solution using the ITO conductive film 2 as a cathode, thereby reducing the conductive film surface layer. As the electrolyte and lactic acid, an electrolyte obtained by dispersing an acrylic resin having an amino group neutralized with lactic acid in the form of a colloid was used. As the acrylic resin, an electrodeposition photoresist (trade name: EAGLE ED-2100 manufactured by Schippfar East Co., Ltd.) was used in consideration of the peeling and removal of the inhibitor layer 3 in the next step. In other words, as an acrylic resin having an amino group, a composition containing a copolymer of methyl methacrylate, ethyl acrylate and dimethylamino ethyl methacrylate and dipentaerythritol pentaacrylate (in terms of weight, methyl methacrylate: Ethyl acrylate: dimethyl amino ethyl methacrylate = 75: 17: 8, copolymer: dipentaerythritol penta acrylate = 2: 1). The electrical conductivity of this electrolyte solution was 400 kV / cm, and electrolytic conditions were 40 degreeC, 100 volts, and 60 second.

전해처리를 하므로서, ITO 도전막 2의 표층이 전해환원 됨(결과로서 형성된것이 부호 4로 지시된 "환원층"이다)과 동시에 전해액에 함유된 인히비터 성분인 폴리머(polymer)의 석출물 3에 의하여 피복되었다. (제 1 도 (b)). 그 후, 현상액 (시플레이 화이트 사제의 상품명 : EAGLE RESIST DEVELOPER DE-2005를 사용에 의하여 상기의 폴리머 석출물(인히비터층 3)을 제거하였다 (제 1 (c)). ITO 도전막 2의 표면은, 상기의 전해처리에 의하여 갈색으로 착색되고, ITO 도전막 표층의 주석 성분의 일부 및 인듐성분의 일부가 환원되어 있는 것이 인정되었다. 이 환원층 4를 표층에 가진 ITO 도전막 2를, 염화팔라듐 수용액(시플레이·파이스트 사제의 상품명 : OMNISHIELD-1572를 농도 1.0 용량 %로 사용)에 3분간 침지하고, 팔라듐 촉매층 5를 ITO 도전막표면에 형성하였다. (제 1 도 (d)). 이어서 팔라듐 촉매층 5에 잔존하는 주석 성분을 제거하기 위하여, 팔라듐 촉매층을 표층에 가진 그 도전막을 유산 산성 수용액(시플레이·파이스트 사제의 상품명 : ACCELRATOR-240을 사용)중에 침지(沈漬: dipping)하였다. 그후, 무전해 Ni 도금 액 (30℃)중에 7분간 침지하고, 2,000Å의 Ni 박막을 석출시켰다.(제 5 도).By performing the electrolytic treatment, the surface layer of the ITO conductive film 2 is electrolytically reduced (the result formed is a "reduction layer" indicated by the sign 4) and at the same time by the precipitate 3 of the polymer which is an inhibitor component contained in the electrolyte solution. Sheathed. (FIG. 1 (b)). Thereafter, the polymer precipitate (inhibitor layer 3) was removed by using a developer (trade name: EAGLE RESIST DEVELOPER DE-2005 manufactured by Seaplay White Co., Ltd. (first (c)). The surface of the ITO conductive film 2 was It was recognized that the above electrolytic treatment colored brown and a part of the tin component and a part of the indium component of the ITO conductive film surface layer were reduced in. The ITO conductive film 2 having the reduced layer 4 in the surface layer was palladium chloride. It was immersed for 3 minutes in aqueous solution (The brand name: OMNISHIELD-1572 by Seaplay Pist Inc. is used by concentration 1.0 volume%), and the palladium catalyst layer 5 was formed in the surface of an ITO electrically conductive film (FIG. 1 (d)). In order to remove the tin component remaining in the palladium catalyst layer 5, the electrically conductive film which has the palladium catalyst layer in the surface layer was immersed in lactic acidic aqueous solution (The brand name: ACCELRATOR-240 by the company C. Pyfete.). After that, nothing To 7 minutes immersed in a Ni plating solution (30 ℃) and allowed to precipitate the Ni thin film of 2,000Å. (FIG. 5).

이상과 같이 하여 얻은 도금막을 주체로 하는 도금부여물은 높은 도전성을 가지며, 더구나 기재와의 밀착성도 뛰어나 있었다. 이 도금 부여물의 기반목 박리레스트(JIS K 5400)의 결과, 전혀 박리를 볼수 없었고, 높은 밀착 강도를 가진 것이 확인되었다.The plating additive mainly containing the plating film obtained as mentioned above had high electroconductivity and was also excellent in adhesiveness with a base material. As a result of the base wood peeling rest (JIS K 5400) of this plating provision, peeling was not seen at all and it was confirmed that it had high adhesive strength.

또한, 도전막의 환원처리를 실시하지 않은 것(기타의 처리는 본 실시례와 같음)은, 과정 4로 금속도금의 잘 형성되지 못하였다. 또 도전막의 환원처리 대신에 ITO 도전막의 표면 조화를 행한 것(기타의 처리는 본 실시례와 같음)은 과정 4로금속도금의 박막은 형성되긴 하지만, 기 반목 박리 테스트(JIS K 5400)에서는 그 박막은 ITO막으로 부터 간단히 박리해 버렸다.In addition, the thing which did not perform the reduction process of the electrically conductive film (other process is the same as this Example) did not form metal plating well by the process 4. In addition, the surface roughening of the ITO conductive film instead of the reduction treatment of the conductive film (other treatments are the same as in this example) is performed in step 4, but a thin film of metal plating is formed, but in the base wood peeling test (JIS K 5400), The thin film simply peeled off from the ITO film.

컬러 필터용 블랙매트릭스에 요구되는 저반사율이라고 하는 것에 관하여서는 Cr의 스퍼터링의 경우 그것대로는 약 60%의 반사율이며, 요구성능을 충분히 만족시킬 수는 없다. Cr의 스퍼터링 만으로 저반사율의 차광층을 얻기 위하여서는 CrO/Cr 또는 Cro/Cr/Cr의 2층 또는 3층 Cr의 스퍼터링을 행하지 않으면 않되고, 코스트 상승(높음)이 된다. 또, 이것에 의하여 10%정도의 반사율의 것이 얻어지고 있으나, 반사색이 적색 또는 프르스름한 흑색이다. 이것에 대하여, 본 발명의 방법에 의하면 과정 3의 처리를 실시한 후의 ITO막의 막 두께를 500Å에서 1500Å로 하므로서 30%이하라고하는 저반사율의 흑새막을 얻는 것이 가능하며, (그 막 두께를 800 - 1,000Å로 하면 반사율이 20% 이하의 것이 얻어진다). 또, 과정 2(도전막의 환원처리)에 있어서 ITO 막중의 인듐 환원량을 조정하는, 즉 환원처리액에 알칼리 금속 이온 혹은 알칼리 토류 금속 이온을 가하여 환원처리에서의 극부전류치를 증가시키면 반사율 5%이하의 것을 얻을 수 있다.As for the low reflectance required for the black matrix for color filters, the sputtering of Cr is a reflectance of about 60% as it is, and the required performance cannot be sufficiently satisfied. Sputtering of CrO / Cr or Cro / Cr / Cr two-layer or three-layer Cr is necessary to obtain a light-shielding layer having a low reflectance only by sputtering of Cr, resulting in a high cost (high). Moreover, although the thing of the reflectance about 10% is obtained by this, the reflection color is red or bluish black. On the other hand, according to the method of the present invention, it is possible to obtain a low reflectance black membrane of 30% or less by setting the film thickness of the ITO film after the process in Step 3 from 500 kPa to 1500 kPa (the film thickness is 800-1,000 If it is set to Å, a reflectance of 20% or less is obtained. In addition, in step 2 (reduction treatment of the conductive film), if the amount of indium reduction in the ITO film is adjusted, that is, alkali metal ions or alkaline earth metal ions are added to the reduction treatment solution to increase the extreme current value in the reduction treatment, the reflectance is 5% or less. You can get

또, 과정 3과 4와의 사이에 있어서, 촉매층 5의 위에 에칭 레지스트 7을 도포하고, (제 1도 (e)), 포토리도그래피에 의하여 촉매층 5 및 환원층 부 ITO 도전막 2를 미세 패턴에 에칭하고 가공한 (제 1 도 (f) - (u))후, 도금액에 투입하고, 소정의 패턴에만 도금막을 석출시키고 여러가지의 선폭의 도금 부여물을 작성하였으나(제 1 도 (i)), 5㎛의 선폭의 미세 패턴의 것까지 얻었다.In addition, between steps 3 and 4, an etching resist 7 is applied on the catalyst layer 5 (FIG. 1 (e)), and the catalyst layer 5 and the reduced layer part ITO conductive film 2 are applied to the fine pattern by photolithography. After etching and processing (FIG. 1 (f)-(u)), it was put into a plating liquid, and a plating film was deposited only in a predetermined pattern, and plating provisions of various line widths were made (FIG. 1 (i)). The fine pattern of the line width of 5 micrometers was obtained.

상기와 같이, 본 발명에 의하면, 평활한 절연기재상에 기재의 표면조화를 실시하는 일없이, 밀착강도가 높고, 동시에 전기전도도가 높은 금속 박막의 형성이 도금법으로 가능해진다. 더구나, 현재 널리 이용되고 있는 Cr의 스퍼터링에 의한 방법에서 문제가 되고 있는 크롬의 공해처리를 수반하지 않으며, 염가의 도금부여물을 제공할 수 있다. 또, 본 발명의 방법에서 얻어지는 도금부여물은, 핀홀(pin hole)이 없고, 높은 차광율과 낮은 반사율을 가지므로, LCD의 컬러 필터용 블랙 매트릭스로서 충분히 사용할 수 있는 것이다.As described above, according to the present invention, it is possible to form a metal thin film having high adhesion strength and high electrical conductivity at the same time without performing surface roughening of the substrate on a smooth insulating substrate. Moreover, it is possible to provide an inexpensive plating additive without involving the pollution treatment of chromium which is a problem in the sputtering method of Cr which is widely used at present. In addition, the plating additive obtained by the method of the present invention is free from pin holes, has a high light blocking rate and a low reflectance, and thus can be sufficiently used as a black matrix for color filters in LCDs.

제 1 도는 본 발명의 제조방법의 일상태를 공정순으로 도시한 단면도이다.1 is a cross-sectional view showing one state of the manufacturing method of the present invention in the order of process.

제 2 도는 컬러 필터의 평면 패턴도이다.2 is a planar pattern diagram of a color filter.

제 3 도는 본 발명의 제조는법의 다른 예의 일공정을 도시한 단면도이다.3 is a cross-sectional view showing one step of another example of the manufacturing method of the present invention.

제 4 도는 본 발명의 제조방법의 또 다른 예의 일공정을 도시한 단면도이다.4 is a cross-sectional view showing one step of still another example of the manufacturing method of the present invention.

제 5 도는 본 발명의 제조방법에 또 다른 예의 일공정을 도시한 단면도이다.5 is a cross-sectional view showing one step of still another example in the manufacturing method of the present invention.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings

1. 절연기판(絶然基板) 2. 투명도전막(ITO막)1. Insulation substrate 2. Transparent conductive film (ITO film)

3. 인히비터 층(層) 4. 환원층(還元層)3. Inhibitor layer 4. Reduction layer

5. 촉매층 6. 금속도금막5. Catalyst layer 6. Metal plated film

7. 에칭 레지스트(etching resist)피막7. Etching resist film

8. 전착(電着)레지스트 피막8. Electrodeposition Film

R. 적색착색층 G. 녹색착색층R. Red tinted layer G. Green tinted layer

B. 청색착색층B. Blue Colored Layer

Claims (15)

산화물을 함유하는 도전막을 절연기재상에 형성하는 과정 1과, 상기의 도전막 표층을 환원처리하여 그 도전막 표층에 환원층을 형성하는 과정 2와, 상기의 환원층에 촉매작용을 보유하는 금속 이온을 함유한 처리액을 작용시켜서, 그 환원층의 표면에 촉매층을 형성하는 과정 3과, 상기의 촉매층을 가진 도전막의 위에 금속을 도금하는 과정 4를 가진 절연기재 상에 도금하는 방법.A process 1 of forming an oxide-containing conductive film on an insulating substrate, a process of reducing the conductive film surface layer to form a reducing layer on the conductive film surface layer, and a metal having a catalytic action in the reduction layer. A method of plating on an insulating substrate, which comprises a step 3 of forming a catalyst layer on the surface of the reducing layer by applying a treatment solution containing ions and a step 4 of plating a metal on the conductive film having the catalyst layer. 제 1 항에 있어서, 상기의 과정 3에서 형성된 촉매층상에 에칭레지스트 피막에 의한 패턴을 형성하고, 불요부분의 촉매층 부 도전막을 에칭에 의하여 제거한 후, 잔존하는 그 에칭 레지스트 피막을 박리하고, 잔존하는 패턴화된 촉매층 부 도전막 상에 과정 4의 처리를 실시하는 방법.The method according to claim 1, wherein a pattern by an etching resist film is formed on the catalyst layer formed in step 3 above, the catalyst layer secondary conductive film in an unnecessary portion is removed by etching, and then the remaining etching resist film is peeled off and remaining. The process of process 4 is carried out on the patterned catalyst layer secondary conductive film. 제 1 항에 있어서, 상기의 과정 2의 처리에 있어서, 환원층의 형성을 전착 레지스트를 배합한 전해액중에서의 전해처리로 행함과 동시에 그 환원층상에 형성된 그 레지스트 감광성 수지의 피막에, 노광, 현상 패터닝을 행하여 불요부분의 환원층을 노출시키고, 이어서 그 불요부분의 환원층 부 도전막을 에칭에 의하여 제거한 후 잔존하는 그 전착 레지스트 피막을 박리하는 방법.The process according to claim 1, wherein in the above-described process 2, the formation of the reducing layer is performed by electrolytic treatment in an electrolytic solution containing an electrodeposition resist, and the exposure and development of the resist photosensitive resin film formed on the reducing layer. A method of patterning to expose a reduced layer of an unnecessary portion, and then removing the remaining conductive layer sub conductive film by etching to remove the remaining electrodeposition resist film. 제 1 항에 있어서, 상기 과정 4로서 형성된 금속도금의 층위에 에칭 레지스트 피막에 의한 패턴을 형성하고, 불요부분의 금속도금 및 도전막을 에칭에 의하여 제거한 후 잔존하는 그 에칭레지스트 피막을 박리하는 방법.2. The method according to claim 1, wherein a pattern by an etching resist film is formed on the metal plating layer formed in step 4, and the remaining metal plating and conductive film are removed by etching to remove the remaining etching resist film. 제 1 항에 있어서, 상기 과정 2의 처리에 앞서서, 미리 기판상의 착색할 장소에 착색피막을 형성하는 방법.2. A method according to claim 1, wherein prior to the process of step 2, a colored film is formed at a place to be colored on a substrate in advance. 제 1 - 5항중 어느 한항에 있어서, 상기의 도전막으로서, 인듐의 산화물, 주석의 산화물 또는 ITO의 막을 사용하는 방법.The method according to any one of claims 1 to 5, wherein as the conductive film, an oxide of indium, an oxide of tin or a film of ITO is used. 제 1 - 2 및 4 - 5항중 어느 한항에 있어서, 환원층의 형성을 전해액중에서의 전해 처리로 행하는 방법.The method according to any one of claims 1 to 2 and 4 to 5, wherein the formation of the reducing layer is performed by an electrolytic treatment in an electrolyte solution. 제 1 - 2 및 4 - 5항중 어느 한항에 있어서, 환원층의 형성을 도전막 표면을 환원할 수 있는 원소 혹은 화합물을 함유한 이온 플라즈마 분위기 중에서, 또는 고온 분위기 중에서, 건식환원하므로서 행하는 방법.The method according to any one of claims 1 to 2 and 4 to 5, wherein the reduction layer is formed by dry reduction in an ion plasma atmosphere containing an element or compound capable of reducing the surface of the conductive film, or in a high temperature atmosphere. 제 1 - 5항중 어느 한항에 있어서, 금속 도금을 무전해 도금으로 행하는 방법.The method according to any one of claims 1 to 5, wherein the metal plating is performed by electroless plating. 제 9 항에 있어서, 무전해 도금이 Ni의 무전해 도금인 방법.10. The method of claim 9, wherein the electroless plating is an electroless plating of Ni. 투명한 절연기판과, 그 절연기판상에 피착된 막으로서 그 표층에 적어도 환원된 금속 또는 금속화합물을 보유하는 ITO막과, ITO막의 표면에 피착 당한 금속도금막으로 된 절연기판의 도금부여물.A plated additive of an insulating substrate made of a transparent insulating substrate, an ITO film having at least a reduced metal or metal compound on the surface thereof as a film deposited on the insulating substrate, and a metal plated film deposited on the surface of the ITO film. 제 11 항에 있어서, 상기의 ITO막의 막두께가 800 - 1,000Å인 도금부여물.The plating additive according to claim 11, wherein the ITO film has a film thickness of 800-1,000 Pa. 제 11 항에 있어서, 상기의 금속도금막이 Ni인 도금부여물.12. The plating additive according to claim 11, wherein said metal plating film is Ni. 제 11 항에 있어서, 상기 금속도금막의 반사율이 20%이하인 도금부여물.The plating additive according to claim 11, wherein the metal plating film has a reflectance of 20% or less. 제 11 항에 있어서, 상기의 금속도금막의 반사율이 5%이하인 도금부여물.The plating additive according to claim 11, wherein the metal plating film has a reflectance of 5% or less.
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