KR100325674B1

KR100325674B1 - 식별회로

Info

Publication number: KR100325674B1
Application number: KR1020000014749A
Authority: KR
Inventors: 히라노준; 모리쿠라스스무; 후루사와사토시
Original assignee: 모리시타 요이찌; 마쯔시다덴기산교 가부시키가이샤
Priority date: 1999-03-26
Filing date: 2000-03-23
Publication date: 2002-02-25
Also published as: DE60025290T2; EP1039644A3; US6271690B1; EP1039644A2; DE60025290D1; KR20010006857A; TW445718B; EP1039644B1

Abstract

본 발명은 식별회로에 관한 것이며, 보다 특정적으로는 최적한 임계값을 자동적으로 생성하여, 입력된 다값신호를 생성한 임계값을 이용하여 진폭 변별하는 식별회로에 관한 것으로서, 식별회로(D1)에 있어서 파형정형회로(3)는 2분기된 한쪽 다값신호(MS)의 파형을 제어신호 생성회로(10)로부터의 제어신호(CS)에 기초하여 후단의 검출회로(4)가 제 1 기준레벨(RL₁)을 정확하게 검출 가능한 파형으로 정형하고, 검출회로(4)는 파형정형회로(3)의 출력신호(OS₃)로부터 제 1 기준레벨(RL₁)을 검출하고, 또 기준레벨 생성회로(5)는 다값신호(MS)의 제 2 기준레벨(RL₂)을 생성하고, 임계값 생성회로(6)는 제 1 기준레벨(RL₁) 및 제 2 기준레벨(RL₂)에 기초하여 필요한 수의 임계값(Th₁, Th₂, Th₃)을 생성하고, 비교기(82∼84)는 분기된 다른쪽 다값신호(MS)와 임계값(Th₁∼Th₃)을 비교하며, 제어신호 생성회로(10)는 각 비교기(82∼84)의 비교결과에 기초하여 제어신호(CS)를 생성하고, 이상의 식별회로(D1)에 의해 송신측은 보다 자유롭게 다값신호를 생성할 수 있는 것을 특징으로 한다.

Description

식별회로{DISCRIMINATOR}

본 발명은 식별회로에 관한 것이며, 보다 특정적으로는 최적한 임계값을 자동적으로 생성하고, 입력된 다값신호를 생성한 임계값을 이용하여 진폭 변별하는 식별회로에 관한 것이다.

종래부터 전송계에 있어서 3개 이상의 진폭값을 갖는 다값신호가 송수신되는 경우가 있다. 이러한 다값신호에서는 각 진폭값에 정보가 할당된다. 이 전송계의 수신측은 보내져 온 다값신호를 미리 정해진 임계값을 이용하여 진폭 변별한다. 그러나, 다값신호의 진폭은 다양한 요인으로 변동하기 때문에, 고정적인 임계값에서는 다값신호의 어느 진폭값과, 그 1레벨 아래의 진폭값과의 중심에서 벗어나 버리는 경우가 많다. 그 결과, 수신측이 잘못된 진폭 변별을 실시하거나 식별결과의 펄스폭이 일그러지거나 하는 경우가 있었다.

또, 「Hi」 또는 「Lo」의 값을 갖는 2값신호의 전송계에 있어서는 수신측은 도 12에 도시한 바와 같은 식별회로(CD)에 의해 진폭 변별을 실시하는 경우가 있다. 도 12에 있어서 식별회로 CD는 수신 2값신호의 진폭이 변동하는 경우라도 진폭 변별에 적합한 임계값을 자동적으로 생성할 수 있도록 되어 있고(이른바 자동임계값제어), 입력단자(21), 분기부(22), 피크검출회로(23), 기저레벨 생성회로(24), 임계값 생성회로(25) 및 비교기(26)를 포함한다.

분기부(22)는 입력단자(21)를 통하여 입력된 2값신호를 2분기하여 한쪽의 2값신호를 피크검출회로(23)로 출력하고, 다른쪽 2값신호를 비교기(26)로 출력한다. 피크검출회로(23)는 입력된 2값신호의 피크값을 검출하여 유지한다. 검출된 피크값은 2값신호의 「Hi」와 동전위이고 임계값 생성회로(25)에 부여된다. 또, 기저레벨 생성회로(24)는 2값신호의 「Lo」와 동전위를 갖는 기저레벨을 생성하여 임계값 생성회로(25)로 부여한다. 임계값 생성회로(25)는 입력된 피크값과 기저레벨과의 중간레벨을 생성하여, 임계값으로서 비교기(26)로 출력한다. 비교기(26)는 입력된 다른쪽 2값신호의 진폭과 임계값을 비교하여, 식별결과로서 출력한다. 이상과 같이 피크검출회로(23)가 피크값을 검출하기 때문에, 비록 2값신호의 진폭이 변동하여도 임계값 생성회로(25)는 진폭변동에 대응한 임계값을 자동적으로 생성할 수 있다.

이상의 식별회로(CD)를 다값신호의 전송계에 응용하는 경우, 원리적으로는 임계값 생성회로(25)를 중간레벨을 생성하는 회로로부터 다값신호의 어느 진폭값과, 그 1레벨 아래의 진폭값의 중간레벨을 갖는 복수의 임계값을 생성하는 회로로 변경하면 좋다.

그런데, 다값신호에서는 일반적으로 각 진폭값이 출현하는 비율(마크율)은 2값신호의 그보다도 줄어든다. 그 때문에 다값신호의 최대진폭값이 피크검출회로(23)의 시정수로 규정되는 기간내에 나타나지 않는 경우가 생기기 쉽다. 이러한 경우, 피크값 검출회로(23)에 의해 검출되는 피크값은 다값신호의 최대진폭값과 동전위가 되지 않게 되기 때문에, 임계값 생성회로(25)는 정확한 임계값을 생성할 수 없게 된다.

또, 다값신호의 마크률은 2값신호의 그것과 비교하여 관리하는 것이 어렵다. 또한, 다값신호의 평균값이 그 진폭의 중심레벨을 가리키는 것이라고 한정되지 않는다. 그 때문에 피크검출회로(23)를 평균값 검출회로로 바꾸는 것도 현실적이지 않다.

이상과 같은 배경에서 종래의 다값신호의 전송계에서는 송신측이 적어도 다값신호의 피크값(필요에 따라서 버텀값도)을 미리 정한 시간마다 수신측으로 송신하여 피크검출회로(23)의 커패시턴스를 충전하거나, 송신측이 적어도 최대진폭값(경우에 따라서는 최소진폭값도)이 적절하게 출현하도록 하는 다값신호를 생성할 필요가 있었다. 이상과 같이 종래의 식별회로(CD)를 다값신호의 전송계에 응용하는 경우에는 송신측에서 다값신호의 생성에 제약이 걸린다는 문제점이 있었다.

따라서 본 발명의 목적은 송신측이 보다 자유롭게 다값신호를 생성할 수 있는 식별회로를 제공하는 것이다.

도 1a-1d는 제 1 실시형태에 관한 다값신호(MS), 제어신호(CS), 출력신호(OS₃), 제 1 기준레벨(RL₁), 제 2 기준레벨(RL₂)의 파형을 나타내는 도면,

도 2는 제 1 실시형태에 관한 식별회로(D1)의 전체 구성을 나타내는 회로도,

도 3a-3b는 제 1 실시형태에 관한 임계값(Th₁, Th₂, Th₃) 및 출력신호(OS₇)의 파형을 나타내는 도면,

도 4a-4b는 검출회로(4), 파형정형회로(3)의 다른 구성을 나타내는 회로도,

도 5a-5b는 다값신호(MS), 출력신호(OS₃)의 다른 파형을 나타내는 도면,

도 6은 제 2 실시형태에 관한 식별회로(D2)의 전체 구성을 나타내는 회로도,

도 7a-7d는 제 2 실시형태에 관한 다값신호(MS), 출력신호(OS₁₂), 제 1 기준레벨(RL₁) 및 출력신호(OS₁₄)의 파형을 나타내는 도면,

도 8은 제 2 실시형태에 관한 제어신호(CS)를 설명하기 위한 도면,

도 9a-9b는 제 2 실시형태에 관한 제 2 기준레벨(RL₂) 및 임계값(Th₁, Th₂, Th₃)의 파형을 나타내는 도면,

도 10은 제 3 실시형태에 관한 식별회로(D2)의 전체 구성을 나타내는 회로도,

도 11은 제 3 실시형태에 관한 출력신호(OS₁₄)의 파형을 나타내는 도면, 및

도 12는 종래의 식별회로(CD)의 전체 구성을 나타내는 회로도이다.

*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

1: 입력단자 2, 11: 제 1 분기부

3: 파형정형회로 4: 검출회로

5: 기준레벨 생성회로 6: 임계값 생성회로

7: 진폭조정회로 8: 비교회로

9: 출력단자군 10, 16: 제어신호 생성회로

12: 제 1 파형정형회로 13: 제 1 검출회로

14: 제 2 파형정형회로 15: 제 2 검출회로

31, 43: 트랜지스터 32, 33, 61, 72: 저항

41: 다이오드 42: 커패스턴스

44: 전류원 121: 제 1 증폭기

131: 제 1 다이오드 132: 제 1 커패시턴스

133: 제 1 트랜지스터 134: 제 1 전류원

141: 제 2 증폭기 151: 제 2 다이오드

152: 제 2 커패시턴스 153: 제 2 트랜지스터

154: 제 2 전류원

본 발명은 상기 목적을 달성하기 위해서 이하의 국면을 갖는다. 또, 각 국면은 각각 이하와 같은 기술적효과를 나타낸다.

제 1 국면은 3개 이상의 진폭값을 갖는 다값신호를 식별하는 식별회로로서, 외부로부터 입력되는 다값신호를 2분기하는 제 1 분기부, 제 1 분기부에서 출력되는 한쪽 다값신호의 파형을 소정의 조건하에서 정형하는 파형정형회로, 파형정형회로의 출력신호로부터 제 1 기준레벨을 검출하는 검출회로, 외부에서 입력되는 다값신호의 제 2 기준레벨을 생성하는 기준레벨 생성회로, 제 1 및 상기 제 2 기준레벨에 기초하여 필요한 수의 임계값을 생성하는 임계값 생성회로, 임계값 생성회로에 의해 생성된 임계값과, 제 1 분기부로부터 출력되는 다른쪽 다값신호를 비교하는 비교회로 및 비교회로에 의한 비교결과에 기초하여 제어신호를 생성하는 제어신호 생성회로를 구비하고, 파형정형회로는 제어신호 생성회로로부터 출력되는 제어신호에 기초하여 입력되는 다값신호의 파형을 검출회로가 제 1 기준레벨을 정확하게 검출 가능한 파형으로 정형한다.

제 2 국면은 제 1 국면에 종속하고 있으며, 임계값 생성회로는 서로 다른 (진폭값의 개수-1)개의 임계값을 제 1 및 제 2 기준레벨에 기초하여 생성하고, 비교회로는 입력된 다값신호를 (진폭값의 개수-1)개로 분기하는 제 2 분기부, 임계값 생성신호에 의해 생성된 임계값이 1개씩 입력되고, 또한 제 2 분기부에 의해 분기된 다값신호가 1개씩 입력되는 (진폭값의 개수-1)개의 비교기를 포함하고, 각 비교기는 입력된 임계값과 다값신호의 진폭을 비교한다.

제 1 및 제 2 국면에 의하면, 파형정형회로는 어느 시간구간에 있는 특정 진폭값이 치우쳐 존재하도록 하는 다값신호가 식별회로에 입력되었다고 해도 제어신호에 기초하여 상술한 바와 같은 파형정형을 실시하기 때문에 비교회로는 정확한 임계값을 이용하여 다값신호를 진폭 변별할 수 있다. 이에 의해 송신측이 다값신호를 생성할 때의 제약이 가벼워지고, 보다 자유롭게 다값신호를 생성할 수 있게 된다.

제 3 국면은 제 1 국면에 종속하고 있으며, 제 1 분기부로부터 출력되는 다른쪽 다값신호의 진폭과, 임계값 생성회로에서 생성되는 임계값과의 사이의 상대적인 차를 조정하는 진폭조정회로를 또한 구비한다.

제 3 국면에 의하면, 진폭조정회로가 다른쪽 다값신호의 진폭과 임계값과의 사이의 상대적인 차를 조정한다. 그 때문에 임계값 생성회로는 보다 최적한 임계값을 생성하게 되기 때문에, 잘못된 식별결과가 생성될 가능성이 현격하게 줄고, 또한 식별결과에 펄스폭 왜곡이 생기기 어려워진다.

제 4 국면은 제 1 국면에 종속하고 있으며, 기준레벨 생성회로는 다값신호가 송신되어 오지 않는 때의 전위를 제 2 기준레벨로서 생성한다.

제 4 국면에 의하면, 제 2 기준레벨을 간단하게 생성할 수 있다.

제 5 국면은 제 1 국면에 종속하고 있으며, 제어신호는 입력된 다값신호에 있어서 미리 정한 진폭값이 치우쳐 존재하고 있는 시간구간을 규정하고, 파형정형회로는 제어신호에 따라 규정되는 시간구간에는 미리 정해진 진폭값이 제 2 기준레벨과 동일한 값이 되도록 입력된 다값신호의 파형을 정형한다.

제 5 국면에 의하면, 제어신호 생성회로가 비교회로로부터의 비교결과를 기초로 미리 정해진 진폭값이 치우쳐 존재하고 있는 시간구간을 규정하는 제어신호를 생성하고, 파형정형회로에 피드백하기 때문에, 파형정형회로는 식별회로가 현재 수신중인 다값신호의 파형을 적절하게 정형할 수 있다.

제 6 국면은 3개 이상의 진폭값을 갖는 다값신호를 식별하는 식별회로로서, 외부로부터 입력되는 다값신호를 3분기하여 제 1∼제 3의 다값신호를 출력하는 제 1 분기부, 제 1 분기부로부터 출력되는 제 1 다값신호의 파형을 소정의 조건하에서정형하는 제 1 파형정형회로, 제 1 파형정형회로의 출력신호로부터 제 1 기준레벨을 검출하는 제 1 검출회로, 제 1 분기부에서 출력되는 제 2 다값신호의 파형을 소정의 조건하에서 정형하는 제 2 파형정형회로, 제 2 파형정형회로의 출력신호로부터 제 2 기준레벨을 검출하는 제 2 검출회로, 제 1 및 상기 제 2 기준레벨에 기초하여 필요한 수의 임계값을 생성하는 임계값 생성회로, 임계값 생성회로에 의해 생성된 임계값과, 상기 제 1 분기부에서 출력되는 제 3 다값신호를 비교하는 비교회로 및 비교회로에 의한 비교결과에 기초하여 제어신호를 생성하는 제어신호 생성회로를 구비하고, 제 1 파형정형회로는 제어신호 생성회로로부터 출력되는 제어신호에 기초하여 입력되는 제 1 다값신호의 파형을 제 1 검출회로가 제 1 기준레벨을 정확하게 검출가능한 파형으로 정형하고, 제 2 파형정형회로는 제어신호 생성신호에서 출력되는 제어신호에 기초하여 입력되는 제 2 다값신호의 파형을 제 2 검출회로가 제 2 기준레벨을 정확하게 검출 가능한 파형으로 정형한다.

제 7 국면은 제 6 국면에 종속하고 있으며, 임계값 생성회로는 서로 다른 (진폭값의 개수-1)개의 임계값을 제 1 및 제 2 기준레벨에 기초하여 생성하고, 비교회로는 입력된 제 3 다값신호를 (진폭값의 개수-1)개로 분기하는 제 2 분기부와, 임계값 생성회로에 의해 생성된 임계값이 1개씩 입력되고, 또한 제 2 분기부에 의해 분기된 제 3 다값신호가 1개씩 입력되는 (진폭값의 개수-1)개의 비교기를 포함하고, 각 비교기는 입력된 임계값과 제 3 다값신호의 진폭을 비교한다.

제 6 및 제 7 국면에 의하면, 제 1 및 제 2 파형정형회로는 어느 시간구간에 있는 특정 진폭값이 치우쳐 존재하도록 하는 다값신호가 식별회로에 입력되었다고해도 제어신호에 기초하여 상술한 바와 같은 파형정형을 실시하기 때문에, 비교회로는 정확한 임계값을 이용하여 다값신호를 진폭 변별할 수 있다. 이에 의해 송신측이 다값신호를 생성할 때의 제약이 가벼워지고, 보다 자유롭게 다값신호를 생성할 수 있게 된다.

제 8 국면은 제 6 국면에 종속하고 있으며, 비교회로에 입력되는 제 3 다값신호의 진폭과 임계값 생성회로에서 생성되는 임계값과의 사이의 상대적인 차를 조정하는 진폭조정회로를 또한 구비한다.

제 9 국면은 제 6 국면에 종속하고 있으며, 제어신호는 입력된 다값신호에 있어서 미리 정해진 진폭값이 치우쳐 존재하고 있는 시간구간을 규정하고, 제 1 및 제 2 파형정형회로는 제어신호에 의해 규정되는 시간구간에는 미리 정해진 진폭값이 제 1 및 제 2 기준레벨과 동일한 값이 되도록 입력된 제 1 및 제 2 다값신호의 파형을 정형한다.

제 10 국면은 3개 이상의 진폭값을 갖는 다값신호를 식별하는 식별회로로서, 외부로부터 입력되는 다값신호를 2분기하는 제 1 분기부, 제 1 분기에서 출력되는 한쪽 다값신호의 파형을 소정 조건하에서 정형하는 제 1 파형정형회로, 제 1 파형정형회로의 출력신호의 파형을 소정 조건하에서 정형하는 제 2 파형정형회로, 제 2 파형정형회로의 출력신호가 부여되고, 해당 출력신호로부터 제 1 기준레벨을 검출하는 제 1 검출회로, 제 2 파형정형회로의 출력신호가 부여되고, 해당 출력신호로부터 제 2 기준레벨을 검출하는 제 2 검출회로, 제 1 및 제 2 기준레벨에 기초하여 필요한 수의 임계값을 생성하는 임계값 생성회로, 임계값 생성회로에 의해 생성된임계값과, 제 1 분기부로부터 출력되는 다른쪽 다값신호를 비교하는 비교회로 및 비교회로에 의한 비교결과에 기초하여 제어신호를 생성하는 제어신호 생성회로를 구비하고, 제 1 파형정형회로는 제어신호 생성회로로부터 출력되는 제어신호에 기초하여 입력되는 다값신호의 파형을 상기 제 1 검출회로가 제 1 기준레벨을 정확하게 검출 가능한 파형으로 정형하고, 제 2 파형정형회로는 제어신호 생성회로로부터 출력되는 제어신호에 기초하여 제 1 파형정형회로의 출력신호의 파형을 제 2 검출회로가 제 2 기준레벨을 정확하게 검출 가능한 파형으로 정형한다.

제 11 국면은 제 10 국면에 종속하고 있으며, 임계값 생성회로는 서로 다른 (진폭값의 개수-1)개의 임계값을 제 1 및 제 2 기준레벨에 기초하여 생성하고, 비교회로는 입력된 다값신호를 (진폭값의 개수-1)개로 분기하는 제 2 분기부와, 임계값 생성회로에 의해 생성된 임계값이 1개씩 입력되고 또한 제 2 분기부에 의해 분기된 다값신호가 1개씩 입력되는 (진폭값의 개수-1)개의 비교기를 포함하고, 각 비교기는 입력된 임계값과 다값신호를 비교한다.

제 10 및 제 11 국면에 의하면, 제 1 및 제 2 파형정형회로는 어느 시간구간에 있는 특정 진폭값이 치우쳐 존재하도록 하는 다값신호가 식별회로에 입력되었다고 해도 제어신호에 기초하여 상술한 바와 같은 파형정형을 실시하기 때문에, 비교회로는 정확한 임계값을 이용하여 다값신호를 진폭 변별할 수 있다. 이에 의해 송신측이 다값신호를 생성할 때의 제약이 가벼워지고, 보다 자유롭게 다값신호를 생성할 수 있게 된다.

제 12 국면은 제 10 국면에 종속하고 있고, 제 1 분기부로부터 출력되는 다른쪽 다값신호의 진폭과, 임계값 생성회로에서 생성되는 임계값과의 사이의 상대적인 차를 조정하는 진폭조정회로를 또한 구비한다.

제 13 국면은 제 10 국면에 종속하고 있고, 제어신호는 입력된 다값신호에 있어서 미리 정해진 진폭값이 치우쳐 존재하고 있는 시간구간을 규정하고, 제 1 및 제 2 파형정형회로는 제어신호에 의해 규정되는 시간구간에는 특정 진폭값이 제 1 및 제 2 기준레벨과 동일한 값이 되도록 각각의 입력신호의 파형을 정형한다.

본 발명의 이러한 그리고 다른 목적, 특징, 측면 및 이점들은 첨부한 도면을 참조할 때 후술되는 본 발명의 상세한 설명으로부터 좀더 명확해질 것이다.

우선, 도 1a를 참조하여, 제 1 실시형태에 관한 식별회로(D1)에 입력되는 다값신호(MS)에 대해서 설명한다. 다값신호(MS)는 각 심벌이 n개(n은 3 이상으 자연수)의 진폭값 중 어느 하나로 표시된 신호이다. 도 1에는 그 일례로서 n=4의 경우가 나타나 있다. 지금, 설명의 편의를 위해 다값신호(MS)는 진폭값 「W」, 「X」, 「Y」 및 「Z」(W>X>Y>Z)로 표시된다고 가정한다. 또한 ｜W-X｜=｜X-Y｜=｜Y-Z｜=△V라고 가정한다.

이상의 다값신호(MS)는 전송계의 송신측에서 생성된다. 다값신호(MS)는 각 진폭값이 적절히 혼재하도록 하는 신호일 필요는 없으며, 어느 시간구간에 있는 특정 진폭값이 치우쳐 존재하고 있어도 좋다. 도 1a의 다값신호(MS)에서는 시간구간(T₁) 및 시간구간(T₃)의 사이에는 진폭값 「W」가 사용되고 있지 않고, 시간구간(T₂)의 사이에 진폭값「W」가 치우쳐 존재하고 있다.

송신측은 이상의 다값신호(MS)를 전기신호의 상태로 전송로를 통하여 수신측으로 송신하거나, 해당 다값신호(MS)를 광신호로 변환한 후에 수신측으로 송신하거나 한다.

여기에서 도 2는 광전송계인 경우에 있어서 수신측의 개략 구성을 나타내고 있다. 도 2에 있어서 수신측은 광수신기(Rx)와 식별회로(D1)를 구비한다. 광수신기(Rx)는 광전송로(도시하지 않음)를 통해서 수신한 광신호를 다값신호(MS)로 변환하여 식별회로(D1)로 출력한다. 또한, 송신측이 다값신호(MS)를 전기신호의 상태에서 송신한 경우에는 광수신기(Rx)는 불필요하고, 식별회로(D1)에는 다값신호(MS)가 직접 입력된다.

식별회로(D1)는 입력단자(1), 제 1 분기부(2), 파형정형회로(3), 검출회로(4), 기준레벨 생성회로(5), 임계값 생성회로(6), 진폭조정회로(7), 비교회로(8), 출력단자군(9) 및 제어신호 생성회로(10)를 포함한다.

입력단자(1)에는 광수신기(Rx)로부터 출력된 다값신호(MS) 또는 전송로상을 전송되는 다값신호(MS)가 입력된다.

제 1 분기부(2)는 입력단자(1)를 통하여 입력된 다값신호(MS)를 2분기한다. 2분기된 다값신호(MS)의 한쪽은 트랜지스터(31)(후술)의 드레인에 부여되고 그 다른쪽은 진폭조정회로(7)에 부여된다.

파형정형회로(3)는 제어신호 생성회로(10)로부터 출력되는 제어신호(CS)(후술)에 기초하여 입력된 다값신호(MS)의 파형을 검출회로(4)가 제 1 기준레벨(RL₁)(후술)을 정확하게 검출 가능한 파형으로 정형한다. 그를 위한 구성예로서 파형정형회로(3)는 트랜지스터(31)와 2개의 저항(32, 33)을 포함한다.

트랜지스터(31)의 드레인은 제 1 분기부(2)와 접속된다. 또, 그 소스는 다이오드(41)의 양극에 접속된다. 또 드레인과 소스와의 사이에는 저항(32)이 접속된다. 또한 소스는 저항(33)을 통하여 기준레벨 생성회로(5)에 접속된다. 또, 그 게이트는 제어신호 생성회로(10)의 출력단자와 접속된다.

저항(32)의 값(R₃₂) 및 저항(33)의 값(R₃₃)은 다값신호(MS)의 형식 및/또는 식별회로(D1)의 사양에 따라 정해진다. 이하, 저항값(R₃₂, R₃₃)의 일례를 설명한다. 본 실시형태에서는 제 1 기준레벨(RL₁)은 진폭값「X」와 실질적으로 동전위로 선택된다고 가정한다. 또, 식별회로(D1)의 사양에 따라 파형정형회로(3)는 진폭값 「W」를 제 1 기준레벨(RL₁)로 조정한다고 가정한다. 이를 가정하에서는 저항값(R₃₂)과 저항값(R₃₃)은 R₃₂:R₃₃=1:2가 성립하도록 선택된다.

트랜지스터(31)의 게이트에는 제어신호 생성회로(10)로부터 출력된 제어신호(CS)가 입력된다. 상세한 것은 후술하지만, 제어신호 생성회로(10)는 다값신호(MS)중에 진폭값 「W」가 치우쳐 존재하고 있다고 판단한 경우에 「Hi」의 제어신호(CS)를 생성하고, 그 이외라고 판단한 경우에는 「Lo」의 제어신호(CS)를 생성한다(도 1b 참조).

제어신호(CS)가 「Hi」인 경우, 트랜지스터(31)는 도통하고, 그 결과 제 1분기부(2)의 다값신호(MS)는 그대로 다이오드(41)의 양극에 부여된다.

제어신호(CS)가 「Lo」인 경우, 트랜지스터(31)는 도통하지 않기 때문에 파형정형회로(3)는 제 1 분기부(2)의 출력신호를 저항(32, 33)을 이용하여 분압하여 다이오드(41)의 양극에 부여한다.

다음에 파형정형회로(3)의 동작의 구체예에 대하여 설명한다. 이상의 설명에서 알 수 있듯이, 도 1a와 같은 파형의 다값신호(MS)가 식별회로(D1)에 입력된 경우, 제어신호 생성회로(10)는 시간구간(T₂)의 사이에 「Hi」를 나타내는 제어신호(CS)를 트랜지스터(31)에 부여하고, 시간구간(T₁) 및 시간구간(T₃) 사이에는 「Lo」를 나타내는 제어신호(CS)를 부여한다(도 1b 참조). 그 때문에 파형정형회로(3)는 시간구간(T₁) 및 시간구간(T₃) 사이에는 제 1 분기부(2)로부터의 다값신호(MS)를 그대로 다이오드(41)의 양극에 부여한다. 또, 시간구간(T₂)의 사이에는 제 1 분기부(22)로부터의 다값신호(MS)는 저항(32, 33)에 의해 분압된 후에 다이오드(41)의 양극에 부여된다. 그 결과, 파형정형회로(3)의 출력신호(OS₃)의 진폭은 도 1c와 같이, 시간구간(T₂)에서는 입력 다값신호(MS)의 진폭과 비교하면, 실질적으로 2/3으로 감쇠되고, 그 피크값은 진폭값 「X」와 실질적으로 동일하게 된다.

재차 도 1을 참조한다. 검출회로(4)는 출력신호(OS₃)로부터 제 1 기준레벨(RL₁)을 검출한다. 그를 위한 바람직한 구성으로서 검출회로(4)는 다이오드(41), 커패시턴스(42), 트랜지스터(43) 및 전류원(44)을 포함한다.

다이오드(41)의 양극은 트랜지스터(31)의 소스와 접속된다. 그 캐소드는 트랜지스터(43)의 게이트에 접속된다. 또, 캐소드는 커패시턴스(42)를 통하여 접지된다. 트랜지스터(43)의 드레인은 도시하지 않는 정전압원과 접속되어 있고, 그 소스는 전류원(44)을 통하여 접지된다. 또한 그 소스는 임계값 생성회로(6)의 저항(61)(후술)과 접속된다.

상기 구성의 검출회로(4)에 있어서 다이오드(41)의 임계값(V_th)은 실질적으로 제 1 기준레벨(RL₁)과 동전위에서 선택되고 있다. 커패시턴스(42)는 이러한 다이오드(41)를 통해서 출력신호(OS₃)가 부여되고, 입력전압(V_i)과 출력전압(V₀)이 같은 값이 되기까지 충전된다. 이렇게 하여 커패시턴스(42)는 출력신호(OS₃)의 피크값을 검출하여 제 1 기준레벨(RL₁)로서 저항(61)의 한쪽단에 부여한다.

또한, 트랜지스터(43)와 전류원(44)과는 커패시턴스(42)의 방전패스를 끊는 버퍼를 구성한다. 이 버퍼에 의해 커패시턴스(42)는 검출회로(4)의 출력임피던스의 영향을 받지 않고서 출력신호(OS₃)의 피크값을 안정적으로 유지할 수 있다.

다음에, 검출회로(4)의 동작의 구체예에 대하여 설명한다. 본 실시형태에서는 다이오드(41)의 양극에는 도 1c의 신호가 부여되기 때문에, 커패시턴스(42)는 제 1 기준레벨(RL₁)로서 진폭값「X」을 검출하여 유지한다. 그 때문에 검출회로(4)에서 출력되는 제 1 기준레벨(RL₁)은 도 1d에 도시한 바와 같이 시간에 대하여 일정 또한 진폭값 「X」와 동일한 전위를 갖는다.

기준레벨 생성회로(5)는 다값신호(MS)의 제 2 기준레벨(RL₂)을 생성한다. 본 실시형태에서는 제 2 기준레벨(RL₂)은 다값신호(MS)의 기저레벨(즉 진폭값「Z」)과 실질적으로 동일한 전위에서 선택된다고 가정한다. 이 가정하에서는 기준레벨 생성회로(5)는 더미의 광수신기(51)로 구성되는 것이 바람직하다. 더미의 광수신기(51)는 본 식별회로(D1)의 전단(前段)에 설치된 광수신기(Rx)와 동일한 입출력특성을 갖고, 그 출력단자는 저항(33), 임계값 생성회로(6)의 저항(64)(후술) 및 진폭조정회로(7)의 저항(72)(후술)과 접속된다. 광수신기(51)의 출력단자로부터는 다값신호(MS)가 송신되고 있지 않은 때의 전위가 제 2 기준레벨(RL₂)로서 출력된다.

본 실시형태에서는 광수신기(Rx)는 도 1a에 도시한 다값신호(MS)를 입력단자(1)로 출력하기 때문에 더미의 광수신기(51)의 출력단자로부터는 도 1d에 도시한 바와 같이 제 2 기준레벨(RL₂)로서 다값신호(MS)의 기저레벨(진폭값「Z」)이 출력된다.

임계값 생성회로(6)는 검출회로(4)로부터의 제 1 기준레벨(RL₁) 및 기준레벨 생성회로(5)로부터의 제 2 기준레벨(RL₂)에 기초하여 필요한 개수의 임계값을 생성한다. 본 실시형태에서는 다값신호(MS)는 4값으로 구성되기 때문에, 3개의 임계값(Th₁, Th₂, Th₃)이 생성될 필요가 있다. 그 때문에 임계값 생성회로(6)는 4개의 저항(61∼64)과 3개의 배선(65∼67)을 포함한다. 저항(61∼64)은 트랜지스터(43)의 소스와, 기준레벨 생성회로(5)의 출력단자와의 사이에 직렬 접속된다. 배선(65)은 서로 인접하는 2개의 저항(61) 및 저항(62)의 사이에서 꺼내지고 있고, 비교회로(8)의 비교기(82)(후술)와 접속된다. 다른 배선(66, 67)은 저항(62, 63)의 사이 및 저항(63, 64)의 사이(후술)에서 꺼내지고 있고, 비교기(83, 84)와 접속된다.

진폭조정회로(7)는 제 1 분기부(2)에서 출력되는 다른쪽 다값신호(MS)의 진폭과 임계값 생성회로(6)에서 생성되는 임계값과의 사이의 상대적인 레벨차를 조정한다. 이 기능을 실현하는 한 구성예로서 진폭조정회로(7)는 2개의 저항(71, 72)과 배선(73)을 포함한다. 저항(71, 72)은 제 1 분기부(2)의 제 2 출력단자와, 기준레벨 생성회로(5)의 출력단자와의 사이에 직렬 접속된다. 배선(73)은 저항(71, 72)의 사이에서 꺼내지고, 비교회로(8)의 제 2 분기부(81)와 접속된다.

여기에서 저항(61∼64)의 값(R₆₁∼R₆₄)과 저항(71)의 값(R₇₁) 및 저항(72)의 값(R₇₂)과의 일례에 대하여 설명한다. 저항값(R₆₁∼R₆₄)과 저항값(R₇₁, R₇₂)은 다값신호(MS)의 형식 및/또는 식별회로(D1)의 사양에 기초하여 정해지지만, 서로 관련한다. 예를 들면, 저항값(R₆₁∼R₆₄)이 R₆₁:R₆₂:R₆₃:R₆₄=1:2:2:1을 만족하도록 선택된다고 가정한다. 또, 저항(61∼64)으로 이루어지는 회로의 단자사이에는 제 1 기준레벨(RL₁)(진폭값「X」와 동전위) 및 제 2 기준레벨(RL₂)(진폭값「Z」와 동전위)이 부여된다. 이 경우, 임계값(Th₁, Th₂, Th₃)은 제 2 기준레벨(RL₃)을 기준으로 하여 5X/6, X/2 및 X/6의 전위를 갖는다. 여기에서 진폭값 「X」는 진폭값 「Z」를 기준으로 하면, X=2△V이기 때문에, 도 3a에 도시한 바와 같이 임계값 생성회로(6)는 배선(65, 66, 67)을 통해서 Th₁=5△V/3, Th₂=△V 및 Th₃=△V/3이 되는 임계값을 비교회로(8)에 부여한다.

여기에서 도 1a의 다값신호(MS)를 진폭 변별하는 경우, 일반적으로 3개의 임계값(Th₁', Th₂', Th₃')은 어떤 진폭값과 그 1레벨 아래의 진폭값과의 중심레벨에서 선택되는 것이 바람직하므로 통상, 진폭값 「Z」를 기준으로 하여 5△V/2, 3△V/2 및 △V/2로 선택된다. 이 경우, (Th₁/Th₁')=(Th₂/Th₂')=(Th₃/Th₃')=2/3이라는 관계가 성립한다. 때문에 임계값(Th₁, Th₂, Th₃)을 이용하여 제 1 분기부(2)에서 출력되는 다른쪽 다값신호(MS)를 정확하게 진폭 변별하는 데에는 저항값(R₇₁, R₇₂)은 R₇₁:R₇₂=1:2가 성립하도록 선택되는 것이 바람직하다. 이러한 경우 진폭조정회로(7)는 도 3b에 도시한 바와 같이 입력된 다른쪽 다값신호(MS)의 진폭이 2/3로 분압된 신호(OS₇)를 생성하고, 비교회로(8)에 부여한다.

비교회로(8)는 임계값 생성회로(6)로부터의 임계값(Th₁, Th₂, Th₃)과 진폭조정회로(7)의 출력신호(OS₇)의 진폭을 비교한다. 이 비교결과가 본 식별회로(D1)에 입력된 다값신호(MS)의 식별결과를 나타낸다. 4값신호를 식별하는 경우의 일반적인 구성으로서 비교회로(8)는 제 2 분기부(81)와, 3개의 비교기(82∼84)를 포함한다. 제 2 분기부(81)는 진폭조정회로(7)의 출력신호(OS₇)를 3분기한다. 비교기(82∼84)에는 3분기된 신호(OS₇)가 1개씩 입력된다. 또한 비교기(82∼84)에는 배선(65∼67)을 통해서 임계값(Th₁∼Th₃)이 입력된다. 비교기(82)는 입력신호(OS₇)의 진폭과 임계값(Th₁)과의 대소관계를 비교하여 「Hi」 또는 「Lo」로 나타내는 비교결과를 출력한다. 비교기(83, 84)는 입력신호(OS₇)의 진폭과 임계값(Th₂, Th₃)과의 대소관계를 비교하여 「Hi」 또는 「Lo」로 나타내는 비교결과를 출력한다.

비교회로(8)는 비교기(82∼84)의 비교결과를 출력단자군(9)이 갖는 출력단자(91∼93)를 통하여 외부로 출력한다. 출력단자(91∼93)로부터 출력된 비교결과는 다값신호(MS)의 각 심벌의 식별결과를 나타낸다.

이상의 구성에 의해 식별회로(D1)에 입력된 다값신호(MS)의 진폭값이 「W」인 경우에는 모든 비교기(82∼84)가 출력단자(91∼93)을 통하여 「Hi」를 외부로 출력하고, 진폭값이 「X」인 경우에는 비교기(83, 84)만이 출력단자(92, 93)를 통하여 「Hi」를 출력하고, 진폭값이 「Y」인 경우에는 비교기(84)만이 출력단자(93)를 통하여 「Hi」를 출력하고, 진폭값이 「Z」인 경우에는 모든 비교기(82∼84)가 출력단자(91∼93)를 통하여 「Lo」를 출력한다.

또한, 이상의 비교결과는 제어신호 생성회로(10)로 송신된다. 여기에서 이하의 설명의 편의를 위해 비교결과 {Hi, Hi, Hi}는 모든 비교기(82∼84)로부터 「Hi」가 출력된 것을 나타낸다. 또, 비교결과 {Lo, Hi, Hi}는 비교기(83, 84)에서만 「Hi」가 출력된 것을 나타낸다. 또, 비교결과 {Lo, Lo, Hi}는 비교기(84)에서만 「Hi」가 출력된 것을 나타낸다. 또, 비교결과 {Lo, Lo, Lo}는 모두비교기(82∼84)로부터 「Lo」가 출력된 것을 나타낸다.

제어신호 생성회로(10)는 전형적으로는 CPU(Central Processing Unit), FPGA(Field Programmable Gate Array) 또는 논리회로에 의해 구성되고, 비교회로(8)로부터의 비교결과에 기초하여 제어신호(CS)(도 1b 참조)를 생성하고, 트랜지스터(31)의 게이트에 부여한다. 이하, 이 제어신호(CS)의 생성방법의 일례를 설명한다.

제어신호 생성회로(10)는 병렬(3) 비트의 비교결과를 거의 일정시간 간격에서 반복하여 수신한다. 제어신호 생성회로(10)는 최근의 비교결과를 이미 정해진 개수(N_PRE)만 내부에 기억한다. 다음에 제어신호 생성회로(10)는 현재 기억하는 N_PRE개의 비교결과 중에 비교결과 {Hi, Hi, Hi}가 몇개 포함되어 있는지를 카운트한다. 다음에, 제어신호 생성회로(10)는 비교결과 {Hi, Hi, Hi}의 개수(N_W)가 기준값(N_REF)보다도 큰지 여부를 판단한다.

제어신호 생성회로(10)는 N_WN_REF를 만족한다고 판단한 경우, 현재 수신중인 다값신호(MS)중에 진폭값「W」가 치우쳐 존재하고 있다고 간주하고, 「Lo」를 갖는 제어신호(CS)를 생성한다.

한편, 제어신호 생성회로(10)는 N_W≤N_REF를 만족한다고 판단한 경우, 현재 수신중인 다값신호(MS)중에 진폭값 「W」가 치우쳐 존재하고 있지않다고 간주하고, 「Hi」의 제어신호(CS)를 생성한다.

이상과 같이 하여 제어신호(CS)는 생성된다. 이 생성방법에 의하면, 도 1a의 다값신호(MS)가 식별회로(D1)에 입력된 경우, 시간구간(T₁) 및 시간구간(T₃)의 사이에, 실질적으로 「Hi」의 값을 갖는 제어신호(CS)가 생성되고, 제 1 파형정형회로(12)로 송신된다. 또, 시간구간(T₂)의 사이, 실질적으로 「Lo」의 값을 갖는 제어신호(CS)가 제 1 파형정형회로(12)로 송신된다. 또한, N_PRE, N_W, N_REF의 선택법에 의해서도 제어신호(CS)의 「Hi」 및 「Lo」의 기간은 약간 벗어난다.

다음에, 식별회로(D1)의 기술적 효과에 대하여 설명한다. 종래의 식별회로(CD)(도 12 참조)를 다값신호(MS)의 식별에 응용한 경우, 피크검출회로(23)에는 다값신호(MS)가 파형정형되지 않고서 입력되기 때문에, 그 커패시턴스의 충전전위는 진폭값 「W」 또는 「X」가 되고, 부정하게 된다. 그 때문에, 식별회로(CD)는 정확한 임계값을 생성할 수 없게 되고, 어느 시간구간에서 특정 진폭값이 치우쳐 존재하도록 하는 다값신호(MS)(도 1a 참조)를 정확하게 진폭 변별할 수 없으며, 송신측은 최대진폭값이 소정 시간마다 나타나고, 또한 각 진폭값이 적절하게 분산한 다값신호를 생성하지 않으면 안되는 제약이 있었다.

그에 대하여 식별회로(D1)에 의하면, 도 1a와 같은 다값신호(MS)가 입력된 경우, 제어신호(CS)는 시간구간(T₂)에 있어서 「Lo」이기 때문에, 스위치(트랜지스터(31))는 해당 시간구간(T₂)에 비도통하게 된다. 그 결과, 파형정형회로(3)는 시간구간(T₂)과 같이 다값신호(MS) 중에 진폭값 「W」가 치우쳐 존재하는 시간구간에 해당 다값신호(MS)의 진폭값을 2/3으로 분압한다. 그 때문에, 커패시턴스(42)의충전전위는 제 1 기준레벨(RL₁)을 넘지않고서, 해당 제 1 기준레벨(RL₁)은 진폭값 「X」와 동전위로 일정하게 된다. 그 때문에, 임계값 생성회로(6)는 다값신호(MS)를 정확하게 식별 가능한 일정의 임계값(Th₁, Th₂, Th₃)을 생성할 수 있다.

이상에서 설명한 바와 같이 식별회로(D1)는 어느 시간구간인 특정 진폭값이 집중하도록 하는 다값신호(MS)(도 1a 참조)가 송신되어 왔다고 해도 해당 다값신호(MS)를 정확하게 진폭 변별할 수 있다. 이에 의해 송신측은 종래보다도 제약없이 자유롭게 다값신호(MS)를 생성할 수 있다.

또한, 진폭조정회로(7)는 제 1 실시형태에서는 제 1 분기부(2)와 비교회로(8)와의 사이에 배치되고, 입력된 다값신호(MS)를 감쇠시키고 있었다. 그러나, 진폭조정회로(7)는 상술한 바와 같이 다른쪽의 다값신호(MS)와 임계값과의 상대적인 레벨차를 조정할 수 있다면 좋기 때문에, 다른 위치에 배치되어도 좋다. 예를 들면 제 1 분기부(2)와 파형정형회로(3)와의 사이, 파형정형회로(3)와 검출회로(4)와의 사이, 검출회로(4)와 임계값 생성회로(6)의 사이, 또는 임계값 생성회로(6)와 비교회로(8)와의 사이에 진폭조정회로(7)를 배치할 수도 있다. 이러한 배치에서는 제 1 분기부(2)와 비교회로(8)가 직접 접속되기 때문에, 도 1a에 도시한 다값신호(MS)가 각 비교기(82∼84)에 입력된다. 그 때문에, 상기 위치에 배치된 진폭조정회로(7)는 진폭기에 의해 구성되고, 해당 증폭기는 입력신호를 1.5배로 증폭한다. 또한, 식별회로(D1)는 2개 이상의 진폭조정회로(7)를 포함하는 구성이라도 좋다.

또, 제 1 실시형태에서는 파형정형회로(3)는 도 1c에 도시한 신호를 검출회로(4)에 부여하고 있고, 또한 제 1 기준레벨(RL₁)이 진폭값「X」와 동전위에서 선택되고 있으므로, 검출회로(4)는 입력신호의 피크값을 검출하는 구성을 갖고 있었다. 그러나, 검출회로(4)는 도 4a에 도시한 바와 같은 구성이라도 좋다. 단, 도 4a의 구성에서는 제 1 기준레벨(RL₁)이 검출회로(4)의 입력신호의 평균값과 동전위가 되기 때문에, 저항값(R₆₁∼R₆₄)의 분압비 및/또는 저항값(R₇₁, R₇₂)의 분압비도 적절하게 선택할 필요가 있다.

또, 제 1 실시형태에서는 파형정형회로(3)는 분압회로에 의해 구성되고 있었지만, 이에 한정되지 않고 도 4b에 도시한 바와 같이 제어신호(CS)에 의해 그 증폭도를 변경할 수 있는 증폭기에 의해 구성되어도 좋다. 예를 들면 식별회로(D1)에 도 5a에 도시한 바와 같은 다값신호(MS)가 입력되었다고 한다. 도 5a의 다값신호(MS)는 시간구간(T₄) 및 시간구간(T₆)의 사이에 진폭값 「Z」가 사용되고 있지 않고, 진폭값 「Y」이 적절하게 사용되고 있다. 또, 시간구간(T₅)의 사이에 진폭값「Z」이 치우쳐 존재하고 있다. 도 4b의 증폭기의 증폭도는 시간구간(T₅)의 사이에서는 (2/3)으로 설정되고, 해당 증폭기는 입력 다값신호(MS)의 진폭을 진폭값「W」를 기준으로서 (2/3)으로 증폭(감쇠)한다. 다른 시간구간(T₄) 및 시간구간(T₆)의 사이에서는 진폭값이 1로 설정된다. 그 결과, 도 5b에 도시한 바와 같이 진폭값「Y」와 동전위의 버텀값을 갖는 출력신호가 증폭기의 출력단자에 나타나고, 검출회로(4)에 부여된다.

검출회로(4)는 도 5b와 같은 신호가 부여되는 경우, 도 4b에 도시한 바와 같이 구성되는 것이 바람직하다. 단, 도 4b의 구성에서는 제 1 기준레벨(RL₁)이 검출회로(4)의 입력신호의 버텀값과 동전위가 되기 때문에, 저항값(R₆₁∼R₆₄)의 분압비 및/또는 저항값(R₇₁, R₆₂)의 분압비도 적절하게 선택할 필요가 있다.

또한 상술한 각 검출회로(4)와 파형정형회로(3)와의 사이에 트랜지스터를 접속하여 버퍼를 구성하여도 좋다.

또, 검출회로(4)는 보다 짧은 시간에서 제 1 기준레벨(RL₁)을 출력하는 쪽이 좋기 때문에, 입력된 다값신호(MS)의 최소 펄스폭의 범위내에서 동작하는 것이 바람직하다. 보다 구체적으로는 제어신호 생성회로(10)에서 제어신호(CS)의 생성으로부터 해당 제어신호(CS)에 기초하여 파형정형회로(3)에서 다값신호(MS)의 파형정형까지의 제어속도가 검출회로(4)에서 제 1 기준레벨(RL₁)을 검출하기 위한 추종속도보다도 빠른 것이 보다 바람직하다.

또, 기준레벨 생성회로(5)가 제어신호 생성회로(10)로부터의 제어신호(CS)에 기초하여 제 2 기준레벨(RL₂)을 생성함으로써 해당 제 2 기준레벨(RL₂)의 최적화를 도모할 수 있다.

다음에, 제 2 실시형태에 관한 식별회로(D2)에 대하여 설명한다. 도 6은 식별회로(D2)의 상세한 회로구성을 나타내고 있다. 도 6에 있어서 식별회로(D2)는입력단자(1), 제 1 분기부(11), 제 1 파형정형회로(12), 제 1 검출회로(13), 제 2 파형정형회로(14), 제 2 검출회로(15), 임계값 생성회로(6), 비교회로(8), 출력단자군(9) 및 제어신호 생성회로(16)를 포함한다. 또한 식별회로(D2)에 있어서 식별회로(D1)의 구성에 상당하는 것으로는 동일 참조부호를 붙여 그 설명을 생략한다.

제 1 분기부(2)에는 입력단자(1)를 통하여 도 7a에 도시한 바와 같은 다값신호(MS)가 입력된다. 여기에서 도 7a의 다값신호(MS)도 도 1a의 것과 동일하게 각 심벌이 4개의 진폭값( 「W」, 「X」, 「Y」, 「Z」)의 어느 하나를 나타낸 신호라고 가정한다. 또, ｜W-X｜=｜X-Y｜=｜Y-Z｜=△V라고 가정한다. 도 7a의 다값신호(MS)에 있어서도 어느 시간구간에 어느 특정 진폭값이 집중하여 존재하여도 좋다. 도 7a의 예에서는 시간구간(T₈)의 사이에 진폭값「X」및 「Y」가 다값신호(MS) 중에 치우쳐 존재하지만, 시간구간(T₇) 및 시간구간(T₉)의 사이에 진폭값「X」 및 「Y」는 치우쳐 존재하고 있지 않다.

제 1 분기부(11)는 이상의 다값신호(MS)를 3분기한다. 3분기된 다값신호(MS)는 비교회로(8), 제 1 파형정형회로(12) 및 제 2 파형정형회로(14)에서 1개씩 출력된다.

제 1 파형정형회로(12)는 제어신호 생성회로(16)로부터 보내져 오는 제어신호(CS)(후술)에 기초하여 입력된 다값신호(MS)의 파형을 제 1 검출회로(13)가 제 1 기준레벨(RL₁)(후술)을 정확하게 검출 가능한 파형으로 정형한다. 그를 위한 구성예로서 제 1 파형정형회로(12)는 제 1 증폭기(121)를 포함한다. 제 1 증폭기(121)의 입력단자는 제 1 분기부(11)와 접속되고, 그 출력단자는 제 1 다이오드(131)의 애노드에 접속된다. 또한, 제 1 증폭기(121)는 2비트폭의 버스를 통하여 제어신호 생성회로(16)와도 접속된다.

제 1 증폭기(121)에는 제어신호 생성회로(16)로부터의 제어신호(CS)가 송신되어 온다. 본 실시형태에서는 제어신호(CS)는 병렬 2비트로 표시된다. 이 제어신호(CS)는 도 8에 도시한 바와 같이 4가지의 패턴을 갖는다. 제 1 제어신호(CS₁)는 그 2비트가 모두 「Hi」이고, 현재 수신하고 있는 다값신호(MS) 중에, 진폭값 「X」 및 「Y」가 치우쳐 존재하고 있는 것을 나타낸다. 제 2의 제어신호(CS₂)는 그 2비트가 모두 「Lo」이고, 수신중의 다값신호(MS)에 진폭값「X」 및 「Y」가 치우쳐 존재하고 있지 않은 것을 나타낸다. 제 3의 제어신호(CS₃)는 버스의 한쪽 및 다른쪽의 라인 상의 비트가 「Hi」 및 「Lo」이고, 수신중의 다값신호(MS)에 진폭값「X」가 치우쳐 존재하고 있는 것을 나타낸다. 제 4 제어신호(CS₄)는 버스의 한쪽 및 다른쪽의 라인상의 비트가 「Lo」 및 「Hi」인 경우, 수신중의 다값신호(MS)에 진폭값 「Y」가 치우쳐 존재하고 있는 것을 나타낸다.

제 1 증폭기(121)의 증폭도(A₁₂₁)는 이상의 제 1 제어신호(CS₁)∼제 4 제어신호(CS₄)에 따라서 다른 값으로 설정된다. 증폭도(A₁₂₁)는 다값신호(MS)의 형식 및/또는 식별회로(D2)의 사양에 따라서 정해진다. 이하, 증폭도(A₁₂₁)의 일례를 설명한다.

제 1 증폭기(121)가 제 1 제어신호(CS₁) 또는 제 3 제어신호(CS₃)를 수신한 때, 그 증폭도(A₁₂₁)는 다값신호(MS)의 기저레벨(진폭값 「Z」)을 기준으로서 W/X의 값으로 설정된다. 본 실시형태에서는 W/X는 1.5이다. 한편, 제 1 증폭기(121)가 제 2 제어신호(CS₂) 또는 제 4 제어신호(CS₄)를 수신한 때, 그 증폭도(A₁₂₁)는 1로 설정된다.

다음에 상기 구성의 제 1 파형정형회로(12)의 동작의 구체예에 대해서 설명한다. 도 7a의 다값신호(MS)가 식별회로(D2)에 입력된 경우, 시간구간(T₇) 및 시간구간(T₉)의 사이에는 제 2 제어신호(CS₂)가 제 1 증폭기(121)에 송신되어 오기 때문에, 그 증폭도(A₁₂₁)는 1로 설정된다. 그 때문에 제 1 증폭기(121)는 입력된 다값신호(MS)를 그대로 제 1 다이오드(131)에 출력한다.

또, 시간구간(T₈)의 사이에는 제 1 제어신호(CS₁)가 제 1 증폭기(121)에 송신되어 오기 때문에, 증폭도(A₁₂₁)는 기저레벨을 기준으로서 1.5로 설정되고 입력된 다값신호(MS)의 진폭은 해당 증폭도(A₁₂₁)에 따라서 증폭된다.

이상과 같이 하여 제 1 파형정형회로(12)는 입력된 다값신호(MS)의 파형을 정형한다. 그 결과, 출력신호(OS₁₂)의 진폭은 도 7b에 나타낸 바와 같이 입력다값신호(MS)의 진폭과 비교하면, 시간구간(T₈)에 있어서 기저레벨을 기준으로서 증폭되고, 그 피크값은 진폭값「W」과 실질적으로 동전위가 된다.

재차 도 6을 참조한다. 제 1 검출회로(13)는 제 1 파형정형회로(12)의 출력신호로부터 제 1 기준레벨(RL₁)을 검출한다. 그 바람직한 구성으로서 제 1 검출회로(13)는 제 1 다이오드(131), 제 1 커패시턴스(132), 제 1 트랜지스터(133) 및 제 1 전류원(134)를 포함한다. 이상의 회로구성은 도 2의 검출회로(4)의 그것과 동일하기 때문에 그 동작설명을 간소화한다.

제 1 검출회로(13)에 있어서 제 1 다이오드(131)의 임계값(V_th)은 실질적으로 제 1 기준레벨(RL₁)과 동전위로 선택되고 있다. 제 1 커패시턴스(132)는 이러한 제 1 다이오드(131)를 통하여 신호(OS₁₂)가 부여되고, 입력전압(V_i)과 출력전압(V_o)이 같은 값이 되기까지 충전된다. 이렇게 하여 제 1 커패시턴스(132)는 출력신호(OS₁₂)의 피크값을 검출하여 도 7c와 같은 제 1 기준레벨(RL₁)로서 저항(61)의 한쪽단에 부여한다.

재차 도 6을 참조한다. 제 2 파형정형회로(14)는 제어신호 생성회로(16)로부터의 제어신호(CS)(도 8 참조)에 기초하여 제 1 분기부(11)에서 출력된 다값신호(MS)의 파형을 제 2 검출회로(15)가 제 2 기준레벨(RL₂)(후술)을 정확하게 검출 가능한 파형으로 정형한다. 그를 위한 구성예로서 제 2 파형정형회로(14)는 제 2 증폭기(141)를 포함한다. 제 2 증폭기(141)의 입력단자는 제 1 분기부(11)와 접속되고, 그 출력단자는 제 2 다이오드(151)의 캐소드와 접속된다. 또한 제 2 증폭기(141)는 2비트폭의 버스를 통하여 제어신호 생성회로(16)와도 접속된다.

제 2 증폭기(141)의 증폭도(A₁₄₁)는 상술한 제 1 제어신호(CS₁)∼제 4 제어신호(CS₄)에 따라서 다른 값으로 전환된다. 증폭도(A₁₄₁)의 값은 다값신호(MS)의 형식 및/또는 식별회로(D2)의 사양에 따라서 미리 정해진다. 이하, 증폭도(A₁₄₁)의 값의 일례를 설명한다.

제 2 증폭도(141)가 제 1 제어신호(CS₁) 또는 제 4 제어신호(CS₄)를 수신한 때, 그 증폭도(A₁₄₁)는 다값신호(MS)의 진폭값 「W」를 기준으로서 Z/Y의 값으로 설정된다. 본 실시형태에서는 Z/Y는 1.5이다. 한편, 제 2 증폭기(141)가 제 2 제어신호(CS₂) 또는 제 3 제어신호(CS₃)를 수신한 때, 그 증폭도(A₁₄₁)는 1로 설정된다.

다음에 상기 구성의 제 2 파형정형회로(14)의 동작의 구체예에 대해서 설명한다. 도 7a의 다값신호(MS)가 식별회로(D2)에 입력된 경우, 시간구간(T₇) 및 시간구간(T₉)의 사이에는 제 2 제어신호(CS₂)가 제 2 증폭기(141)에 송신되어 오기 때문에, 그 증폭도(A₁₄₁)는 1로 설정된다. 그 때문에, 제 2 증폭기(141)는 제 1 분기부(11)로부터의 다값신호(MS)를 그대로 제 2 다이오드(151)의 캐소드에 부여한다.

또, 시간구간(T₈)의 사이에는 제 1 제어신호(CS₁)가 제 2 증폭기(141)로 송신되어 오기 때문에 증폭기(A₁₄₁)는 1.5로 설정된다. 그 때문에 제 1 증폭기(121)는 입력된 다값신호(MS)의 진폭을 진폭값 「W」를 기준으로서 1.5배로 증폭하여 제 2다이오드(151)의 캐소드에 부여한다.

제 2 파형정형회로(14)는 이상과 같은 파형정형을 실시하기 위한 출력신호(OS₁₄)의 진폭은 도 7d에 도시한 바와 같이 입력 다값신호(MS)의 진폭과 비교하면, 시간구간(T₈)에 있어서 진폭값「W」을 기준으로서 1.5배로 증폭되고, 그 버텀값은 진폭값「Z」와 실질적으로 동전위가 된다.

재차 도 6을 참조한다. 제 2 검출회로(15)는 제 2 파형정형회로(14)의 출력신호(OS₁₄)에서 제 2 기준레벨(RL₂)을 검출한다. 그를 위한 바람직한 구성으로서 제 2 검출회로(15)는 제 2 다이오드(151), 제 2 커패시턴스(152), 제 2 트랜지스터(153) 및 제 2 전류원(154)를 포함한다.

제 2 다이오드(151)의 캐소드는 제 2 증폭기(141)의 출력단자와 접속된다. 그 애노드는 제 2 트랜지스터(153)의 게이트에 접속된다. 또 애노드는 제 2 커패시턴스(152)를 통하여 접지된다. 제 2 트랜지스터(153)의 드레인은 도시하지 않는 정전압원과 접속되어 있고, 그 소스는 제 2 전류원(154)을 통하여 접지된다. 또한 그 소스는 임계값 생성회로(6)의 저항(64)(후술)의 한쪽단과 접속된다.

상기 구성의 제 2 검출회로(15)에 있어서, 제 2 다이오드(151)의 임계값(V_th)은 실질적으로 제 2 기준레벨(RL₂)과 동전위에서 선택되고 있다. 제 2 커패시턴스(152)는 이러한 제 2 다이오드(151)를 통해서 출력신호(OS₁₄)가 부여되고, 입력전압(V_i)과 출력전압(V_o)이 동일한 값이 되기까지 충전된다. 이렇게 하여제 2 커패시턴스(152)는 출력신호(OS₁₄)의 버텀값을 검출하고 제 2 기준레벨(RL₂)로서 저항(64)의 한쪽단에 부여된다.

또한, 제 2 트랜지스터(153)와 전류원(154)은 제 2 커패시턴스(152)의 방전패스를 끊는 버퍼를 구성한다. 이 버퍼에 의해 제 2 커패서턴스(152)는 입력신호(OS₁₄)의 버텀값을 안정적으로 유지할 수 있다.

본 실시형태에서는 제 2 다이오드(151)의 캐소드에는 도 7d에 도시한 파형의 신호(OS₁₄)가 부여되기 때문에, 제 2 기준레벨(RL₂)은 도 9a에 도시한 바와 같이 시간에 대하여 일정 또한 진폭값「Z」와 동일 전위를 갖는다.

임계값 생성회로(6) 및 비교회로(8)의 기능 및 구성은 제 1 실시형태에서 설명한 바와 같기 때문에, 그 설명을 생략한다. 단, 본 실시형태에서는 임계값 생성회로(6)에는 제 1 기준레벨(RL₁)로서 진폭값「W」 및 제 2 기준레벨(RL₂)로서 진폭값 「Z」가 부여되기 때문에, 생성되는 3개의 임계값(Th₁, Th₂, Th₃)은 진폭값「Z」를 기준으로서 Th₁=5△V/2, Th₂=3△V/2 및 Th₃=△V/2로 선택된다.

비교기(82)는 입력된 다값신호(MS)와 임계값(Th₁)과의 대소관계를 비교하여 「Hi」 또는 「Lo」로 나타내는 비교결과를 출력한다. 비교기(83, 84)는 다값신호(MS)와, 임계값(Th₂, Th₃)과의 대소관계를 비교하여 「Hi」 또는 「Lo」로 나타내는 비교결과를 출력한다. 비교기(82∼84)의 비교결과는 다값신호(MS)의 각 심벌의 식별결과를 나타내고 있고, 출력단자군(9)에 포함되는 출력단자(91∼93)를통해서 외부로 출력된다.

또한, 이상의 비교결과는 제어신호 생성회로(16)에 송신된다. 여기에서 이하의 설명에 있어서, 비교결과 {Hi, Hi, Hi}는 모두 비교기(82∼84)에서 「Hi」가 출력된 것을 나타낸다. 또, 비교결과 {Lo, Hi, Hi}는 비교기(83, 84)에서만 「Hi」가 출력된 것을 나타낸다. 또한, 비교결과 {Lo, Lo, Hi}는 비교기(84)에서만 「Hi」가 출력된 것을 나타낸다. 또한 비교결과 {Lo, Lo, Lo}는 모두 비교기(82∼84)에서 「Lo」가 출력된 것을 나타낸다.

제어신호 생성회로(16)는 전형적으로는 CPU, FPGA 또는 논리회로에 의해 구성되고, 비교회로(8)로부터의 비교결과에 기초하여 제어신호(CS)(도 8 참조)를 생성하고, 2비트폭의 버스를 통해서 제 1 파형정형회로(12) 및 제 2 파형정형회로(14)로 송신한다. 제어신호(CS)의 생성방법도 또한 다값신호(MS)의 형식 및/또는 식별회로(D2)의 사양에 따라서 정해지지만, 본 실시형태에서는 그 일례를 설명한다.

제어신호 생성회로(16)는 병렬 3비트의 비교결과를 거의 일정시간 간격에서 반복하여 수신한다. 제어신호 생성회로(16)는 최근의 비교결과를 미리 정해진 개수(N_PRE)만 내부에 기억한다. 다음에 제어신호 생성회로(16)는 현재 기억하는 N_PRE개의 비교결과 중에 비교결과{Lo, Hi, Hi}가 몇개 포함되어 있는지를 카운트한다. 다음에, 제어신호 생성회로(16)는 비교결과 {Lo, Hi, Hi}의 개수(N_X)가 제 1 기준값(N_REF1)보다도 큰지 여부를 판단한다.

또, 제어신호 생성회로(16)는 현재 기억하는 비교결과 중에 비교결과 {Lo, Lo, Hi}가 몇개 포함되어 있는지를 카운트한다. 다음에 제어신호 생성회로(16)는 비교결과 {Lo, Lo, Hi}의 개수(N_Y)가 제 2 기준값(N_REF2)보다도 큰지 여부를 판단한다.

제어신호 생성회로(16)는 N_XN_REF1을 만족하고, 또한 N_YN_REF2를 만족한다고 판단한 경우, 현재 수신중인 다값신호(MS)에 진폭값「X」 및 「Y」가 치우쳐 존재하고 있다고 간주하고 제 1 제어신호(CS₁)를 생성한다.

또, 제어신호 생성회로(16)는 N_X≤N_REF1을 만족하고, 또한 N_Y≤N_REF2를 만족한다고 판단한 경우, 현재 수신중인 다값신호(MS)에 진폭값 「X」 및 「Y」가 치우쳐 존재하고 있지않다고 간주하고 제 2 제어신호(CS₂)를 생성한다.

제어신호 생성회로(16)는 N_XV_REF1을 만족하고, 또한 N_Y≤N_REF2를 만족한다고 판단한 경우, 현재 수신중인 다값신호(MS)에 진폭값 「X」가 치우쳐 존재하고 있다고 간주하고, 제 3 제어신호(CS₃)를 생성한다.

또, 제어신호 생성회로(16)는 N_X≤V_REF1을 만족하고, 또한 N_yN_REF2를 만족한다고 판단한 경우, 현재 수신중인 다값신호(MS)에 진폭값 「Y」가 치우쳐 존재하고 있지않다고 간주하고 제 4 제어신호(CS₄)를 생성한다.

이상의 생성방법에 의하면, 도 7a의 다값신호(MS)가 식별회로(D2)에 입력된경우, 시간구간(T₂) 및 시간구간(T₉)의 사이에서는 상술한 바와 같이 제 2 제어신호(D₂)가 제 1 파형정형회로(12) 및 제 2 파형정형회로(14)로 송신되고, 시간구간(T₈)의 사이에서는 제 1 제어신호(D₁)가 제 1 파형정형회로(12) 및 제 2 파형정형회로(14)로 송신된다.

이상의 식별회로(D2)도 또한 식별회로(D1)과 동일한 기술적 효과를 나타낸다. 즉, 식별회로(D2)는 어느 시간구간인 특정의 진폭값이 치우쳐 존재하도록 하는 다값신호(MS)(도 7a 참조)가 송신되어 왔다고 해도 해당 다값신호(MS)를 정확하게 진폭 변별할 수 있다. 이에 의해 송신측은 종래보다도 제약없이 자유롭게 다값신호(MS)를 생성할 수 있다.

다음에, 제 3 실시형태에 관한 식별회로(D3)에 대하여 설명한다. 도 10은 식별회로(D3)의 상세한 회로구성을 나타내고 있다. 식별회로(D3)는 식별회로(D2)(도 6 참조)와 동일한 구성을 포함함으로, 도 10에 있어서 도 6의 구성에 상당하는 것에는 동일 참조부호를 붙인다.

단, 식별회로(D3)는 식별회로(D2)와 비교하면, 제 1 파형정형회로(12) 및 제 2 파형정형회로(14)가 직렬 접속되는 점에서 현저하게 상위하다. 이하에는 이러한 상위점에 관련하는 점을 중심으로 설명한다.

제 1 분기부(11)는 입력단자(1)를 통하여 입력된 다값신호(MS)(도 7a 참조)를 2분기한다. 2분기된 다값신호(MS)의 한쪽은 제 1 파형정형회로(12)로 출력되고, 그 다른쪽은 비교회로(8)로 출력된다.

제 1 파형정형회로(12)는 제 1 증폭기(121)를 포함한다. 제 1 증폭기(121)의 입력단자는 제 1 분기부(11)와 접속되고, 그 출력단자는 제 2 증폭기(141)의 입력단자와 접속된다. 또한 제 1 증폭기(121)는 제어신호 생성회로(16)와도 접속된다.

제 1 증폭기(121)의 증폭도(A₁₂₁)는 상술과 동일하게 제 1 제어신호(CS₁)∼제 4 제어신호(CS₄)(도 8 참조)에 따라서 다른 값으로 설정된다. 증폭도(A₁₂₁)는 다값신호(MS)의 형식 및/또는 식별회로(D3)의 사양에 따라서 정해진다. 이하, 증폭도(A₁₂₁)의 일례를 설명한다.

제 1 증폭기(121)가 제 1 제어신호(CS₁)를 수신하였을 때, 그 증폭도(A₁₂₁)는 다값신호(MS)의 기저레벨(진폭값「Z」)을 기준으로서 W/X의 값으로 설정된다. 본 실시형태에서는 W/X는 1.5이다. 한편, 제 1 증폭기(121)가 제 2 제어신호(CS₂) 또는 제 4 제어신호(CS₄)를 수신한 때, 그 증폭도(A₁₂₁)는 1로 설정된다.

이상의 구성에 의해 도 7a의 다값신호(MS)가 식별회로(D3)에 입력된 경우, 시간구간(T₇) 및 시간구간(T₉)의 사이에는 제 2 제어신호(CS₂)가 제 1 증폭기(121)에 송신되어 오기 때문에, 그 증폭도(A₁₂₁)는 1로 설정된다. 그 때문에 제 1의 증폭기(121)는 제 1 분기부(11)로부터의 다값신호(MS)를 그대로 제 2 증폭기(141)의 입력단자로 출력한다.

또, 시간구간(T₈)의 사이에는 제 1 제어신호(CS₁)가 제 1 증폭기(121)에 송신되어 오기 때문에, 증폭도(A₁₂₁)는 1.5로 설정된다. 그 때문에 제 1 증폭기(121)는 입력된 다값신호(MS)의 진폭을 기저레벨을 기준으로서 1.5배로 증폭한다. 그 결과, 출력신호의 진폭은 도 7b에 도시한 바와 같이 입력 다값신호(MS)의 진폭과 비교하면, 시간구간(T₈)에 있어서 1.5배로 증폭되고 그 피크값은 진폭값「W」와 실질적으로 동전위가 된다.

또한, 도 6에 있어서 제 2 파형정형회로(14)는 제 2 증폭기(141)를 포함한다. 제 2 증폭기(141)의 입력단자는 제 1 증폭기(121)와 접속되고 그 출력단자는 제 1 다이오드의 애노드 및 제 2 다이오드(151)의 캐소드와 접속된다. 또한 제 2 증폭기(141)는 제어신호 생성회로(16)와도 접속된다.

제 2 증폭기(141)의 증폭도(A₁₄₁)는 상술의 제 1 제어신호(CS₁)∼제 4 제어신호(CS₄)에 따라서 다른 값으로 전환된다. 증폭도(A₁₄₁)의 값은 다값신호(MS)의 형식 및/또는 식별회로(D3)의 사양에 따라서 미리 정해진다. 이하, 증폭도(A₁₄₁)의 값의 일례를 설명한다.

제 2 증폭기(141)가 제 1 제어신호(CS₁)를 수신한 때, 그 증폭도(A₁₄₁)는 다값신호(MS)의 진폭값「W」을 기준으로서, ｜W-Z｜/｜W-3·Y/2｜의 값으로 설정된다. 본 실시형태에서는 ｜W-Z｜/｜W-3·Y/2｜는 2이다. 한편, 제 2 증폭기(141)가 제 2 제어신호(CS₂) 또는 제 3 제어신호(CS₃)를 수신한 때 그 증폭도(A₁₄₁)는 1로설정된다.

다음에, 상기 구성의 제 2 파형정형회로(14)의 동작의 구체예에 대해서 설명한다. 도 7b의 신호가 제 2 증폭기(141)에 입력된 경우, 시간구간(T₇) 및 시간구간(T₉)의 사이에는 제 2 제어신호(CS₂)가 제 2 증폭기(141)로 송신되어 오기 때문에, 그 증폭도(A₁₄₁)는 1로 설정된다. 그 때문에, 제 2 증폭기(141)는 입력신호를 그대로 제 1 다이오드(131) 및 제 2 다이오드(151)에 부여한다.

또, 시간구간(T₈)의 사이에는 제 1 제어신호(CS₁)가 제 2 증폭기(141)에 송신되어 오기 때문에, 증폭도(A₁₄₁)는 2로 설정된다. 그 때문에 제 1 증폭기(121)는 입력된 다값신호(MS)의 진폭을 진폭값「W」을 기준으로서 2배로 증폭하여 제 1 다이오드(131) 및 제 2 다이오드(151)에 부여한다.

이상과 같이 하여 제 2 파형정형회로(14)는 제 1 파형정형회로(12)의 출력신호의 파형을 정형한다. 그 결과, 출력신호(OS₁₄)의 진폭은 도 11에 도시한 바와 같이 입력신호(OS₁₂)(도 7b 참조)의 진폭과 비교하면, 시간구간(T₈)에 있어서 진폭값「W」를 기준으로서 2배로 증폭되기 때문에 그 버텀값은 진폭값 「Z」와 실질적으로 동일하게 된다.

제 1 검출회로(13) 및 제 2 검출회로(15)에는 도 11의 신호(OS₁₄)가 입력되기 때문에, 제 2 실시형태와 동일하게 일정 피크값 및 버텀값을 검출할 수 있게 된다. 따라서, 식별회로(D3)도 또 식별회로(D1)와 동일하게 어느 시간구간인 특정의 진폭값이 치우쳐 존재하도록 하는 다값신호(MS)(도 7a 참조)가 송신되어 왔다고 해도 해당 다값신호(MS)를 정확하게 진폭 변별할 수 있다. 이에 의해 송신측은 종래보다도 제약없이 자유롭게 다값신호(MS)를 생성할 수 있다.

또한, 식별회로(D2) 및 식별회로(D3)에는 식별회로(D1)의 진폭조정회로(7)에 상당하는 구성을 갖고 있지않다. 왜냐하면, 제 1 기준레벨(RL₁) 및 제 2 기준레벨(RL₂)로서 진폭값「W」 및 「Z」가 선택되고 있기 때문에, 임계값 생성회로(6)는 식별결과에 펄스폭 왜곡이 생기는 일 없이 정확하게 진폭 변별 가능한 임계값(Th₁, Th₂, Th₃)을 생성할 수 있기 때문이다.

그러나, 제 1 기준레벨(RL₁) 및 제 2 기준레벨(RL₂)의 선택법에 따라서는 식별회로(D2)와 식별회로(D3)에도 진폭조정회로(7)가 배치될 필요가 생긴다. 예를 들면 식별회로(D2)에 있어서 제 1 기준레벨(RL₁) 및 제 2 기준레벨(RL₂)로서 진폭값「X」 및 「Z」가 선택되는 경우에는 입력신호를 2/3로 분압 가능한 진폭조정회로(7)가 제 1 분기부(11)와 비교회로(8)와의 사이에 배치될 필요가 생긴다.

또한, 진폭조정회로(7)는 식별회로(D1)의 경우와 동일하게 제 1 분기부(11)와 제 1의 파형정형회로(12) 및 제 2 파형정형회로(14)와의 사이, 또는 임계값 생성회로(6)와 비교회로(8)와의 사이 등에 배치되어도 좋고, 2개 이상 배치되어도 좋다.

또, 제 2 및 제 3 실시형태에서는 제 1 검출회로(13) 또는 제 2 검출회로(15)는 제 1 파형정형회로(12) 또는 제 2 파형정형회로(14)의 출력신호의평균값을 검출하는 회로(도 4a 참조)라도 좋다.

또, 제 2 및 제 3의 실시형태의 각각에 있어서 제 1 검출회로(13) 및 제 2 검출회로(15)는 제 1 실시형태의 검출회로(4)와 동일하게 최소펄스폭의 범위내에서 동작하는 것이 바람직하다.

또, 이상의 제 1∼제 3 실시형태에서는 식별회로(D1∼D3)의 기동직후에 불필요한 진폭값이 치우쳐 존재하는 다값신호(MS)가 송신되어 온 경우, 다이오드(또는 저항) 및 커패시턴스로 이루어지는 검출회로는 제 1 기준레벨(RL₁) 또는 제 2 기준레벨(RL₂)을 신속하게 검출할 수 없는 경우가 있다. 예를 들면 도 2의 식별회로(D1)의 기동 직후에, 진폭값 「Y」 또는 「Z」가 치우쳐 존재하는 다값신호(MS)가 송신되어 오면, 검출회로(4)가 제 1 기준레벨(RL₁)(진폭값 「X」)을 검출하기까지에 상당한 시간을 요하게 되고, 임계값 생성회로(6)가 정확한 임계값(Th₁, Th₂, Th₃)을 신속하게 생성할 수 없게 된다.

식별회로(D1)가 기동 직후로부터 정확한 진폭 변별을 실시하는 데에는 제 1 기준레벨(RL₁)의 초기값을 생성하는 초기값 생성회로를 검출회로(4)에 배치하는 것이 바람직하다. 초기값 생성회로는 식별회로(D1)의 기동후 일정시간만 동작하고, 생성한 제 1 기준레벨(RL₁)의 초기값을 임계값 생성회로(6)에 부여한다. 이에 의해임계값 생성회로(6)는 식별회로(D1)의 기동직후에 신속하고 정확한 임계값(Th₁, Th₂, Th₃)을 생성할 수 있다.

이상의 초기값 생성회로는 제 1 검출회로(13) 또는 제 2 검출회로(15)에도 동일하게 배치할 수 있다.

또, 임계값(Th₁, Th₂, Th₃)의 초기값을 생성하는 초기값 생성회로를 임계값 생성회로(6)에 배치하는 것에 의해서도 식별회로(D1∼D3)는 기동직후에 정확한 진폭 변별을 할 수 있게 된다. 이러한 초리값 생성회로는 식별회로(D1∼D3)의 기동후 일정 시간만 동작하고, 생성한 임계값(Th₁, Th₂, Th₃)의 초기값을 비교기(82, 83, 84)에 부여한다.

또, 송신측이 다값신호(MS)에 앞서서 트레이닝신호를 식별회로(D1∼D3)에 일정시간만 송신하는 것에 의해서도 식별회로(D1∼D3)는 기동직후로부터 정확한 진폭 변별을 실시할 수 있게 된다. 이러한 트레이닝신호는 미리 정해진 진폭값 또는 패턴을 갖는다. 예를 들면 식별회로(D1)에는 진폭값 「X」의 트레이닝신호가, 적어도 커패시턴스(42)의 충전시간 동안만 송신되면 검출회로(4)는 다값신호(MS)의 선두시점에서 정확한 제 1 기준레벨(RL₁)을 검출할 수 있다.

또, 이상의 실시형태에서는 다값신호(MS)는 4개의 진폭값을 갖는 것으로서 설명하였다. 그러나, 이것에 한정하지 않고 본 식별회로(D1∼D3)의 기술적 사상은 n개의 진폭값으로 이루어지는 다값신호(MS)를 진폭 변별할 수 있는 것으로 간단하게 응용할 수 있다. 즉, 본 식별회로(D1∼D3)에 있어서는 제 1 기준레벨(RL₁) 및/또는 제 2 기준레벨(RL₂)이 미리 정해진 일정 전위를 갖는 것이 포인트이기 때문에 다값신호(MS)에 있어서 어느 특정 값이 치우쳐 있는 부분이 제 1 기준레벨(RL1) 및/또는 제 2 기준레벨(RL2)의 전위가 되도록 파형정형회로(3), 제 1 파형정형회로(12) 또는 제 2 파형정형회로(14)에서 정형하면 좋다.

상기한 바와 같은 식별회로를 구비하여, 송신측이 보다 자유롭게 다값신호를 생성할 수 있는 효과를 얻을 수 있다.

Claims

3개 이상의 진폭값을 갖는 다값신호를 식별하는 식별회로에 있어서,

외부로부터 입력되는 다값신호를 2분기하는 제 1 분기부,

상기 제 1 분기부에서 출력되는 한쪽 다값신호의 파형을 소정의 조건하에서 정형하는 파형정형회로,

상기 파형정형회로의 출력신호로부터 제 1 기준레벨을 검출하는 검출회로,

외부에서 입력되는 다값신호의 제 2 기준레벨을 생성하는 기준레벨 생성회로,

상기 제 1 및 상기 제 2 기준레벨에 기초하여 필요한 수의 임계값을 생성하는 임계값 생성회로,

상기 임계값 생성회로에 의해 생성된 임계값과, 상기 제 1 분기부에서 출력되는 다른쪽의 다값신호를 비교하는 비교회로, 및

상기 비교회로에 의한 비교결과에 기초하여 제어신호를 생성하는 제어신호 생성회로를 구비하고,

상기 파형정형회로는 상기 제어신호 생성회로로부터 출력되는 제어신호에 기초하여 입력되는 다값신호의 파형을 상기 검출회로가 제 1 기준레벨을 정확하게 검출 가능한 파형으로 정형하는 것을 특징으로 하는 식별회로.
제 1 항에 있어서,

상기 임계값 생성회로는 서로 다른 (진폭값의 개수-1)개의 임계값을 제 1 및 제 2 기준레벨에 기초하여 생성하고,

상기 비교회로는

입력된 다값신호를 (진폭값의 개수-1)개로 분기하는 제 2 분기부,

상기 임계값 생성신호에 의해 생성된 임계값이 1개씩 입력되고, 또한 상기 제 2 분기부에 의해 분기된 다값신호가 1개씩 입력되는 (진폭값의 개수-1)개의 비교기를 포함하고,

각 상기 비교기는 입력된 임계값과 다값신호의 진폭을 비교하는 것을 특징으로 하는 식별회로.
제 1 항에 있어서,

상기 제 1 분기부로부터 출력되는 다른쪽 다값신호의 진폭과, 상기 임계값 생성회로에서 생성되는 임계값과의 사이의 상대적인 차를 조정하는 진폭조정회로를 또한 구비하는 것을 특징으로 하는 식별회로.
제 1 항에 있어서,

상기 기준레벨 생성회로는 다값신호가 송신되어 오지 않을 때의 전위를 제 2 기준레벨로서 생성하는 것을 특징으로 하는 식별회로.
제 1 항에 있어서,

상기 제어신호는 입력된 다값신호에 있어서 미리 정한 진폭값이 치우쳐 존재하고 있는 시간구간을 규정하고,

상기 파형정형회로는 제어신호에 따라 규정되는 시간구간에는 미리 정한 진폭값이 제 2 기준레벨과 동일한 값이 되도록 입력된 다값신호의 파형을 정형하는 것을 특징으로 하는 식별회로.
3개 이상의 진폭값을 갖는 다값신호를 식별하는 식별회로에 있어서,

외부로부터 입력되는 다값신호를 3분기하여 제 1∼제 3의 다값신호를 출력하는 제 1 분기부,

상기 제 1 분기부로부터 출력되는 제 1 다값신호의 파형을 소정의 조건하에서 정형하는 제 1 파형정형회로,

상기 제 1 파형정형회로의 출력신호로부터 제 1 기준레벨을 검출하는 제 1 검출회로,

상기 제 1 분기부에서 출력되는 제 2 다값신호의 파형을 소정의 조건하에서 정형하는 제 2 파형정형회로,

상기 제 2 파형정형회로의 출력신호로부터 제 2 기준레벨을 검출하는 제 2 검출회로,

상기 제 1 및 상기 제 2 기준레벨에 기초하여 필요한 수의 임계값을 생성하는 임계값 생성회로,

상기 임계값 생성회로에 의해 생성된 임계값과, 상기 제 1 분기부에서 출력되는 제 3 다값신호를 비교하는 비교회로, 및

상기 비교회로에 의한 비교결과에 기초하여 제어신호를 생성하는 제어신호 생성회로를 구비하고,

상기 제 1 파형정형회로는 상기 제어신호 생성회로로부터 출력되는 제어신호에 기초하여 입력되는 제 1 다값신호의 파형을 상기 제 1 검출회로가 제 1 기준레벨을 정확하게 검출 가능한 파형으로 정형하고,

상기 제 2 파형정형회로는 상기 제어신호 생성회로에서 출력되는 제어신호에 기초하여 입력되는 제 2 다값신호의 파형을 상기 제 2 검출회로가 제 2 기준레벨을 정확하게 검출 가능한 파형으로 정형하는 것을 특징으로 하는 식별회로.
제 6 항에 있어서,

상기 임계값 생성회로는 서로 다른 (진폭값의 개수-1)개의 임계값을 제 1 및 제 2 기준레벨에 기초하여 생성하고,

상기 비교회로는

입력된 제 3 다값신호를 (진폭값의 개수-1)개로 분기하는 제 2 분기부와,

임계값 생성회로에 의해 생성된 임계값이 1개씩 입력되고, 또한 제 2 분기부에 의해 분기된 제 3 다값신호가 1개씩 입력되는 (진폭값의 개수-1)개의 비교기를 포함하고,

각 비교기는 입력된 임계값과 제 3 다값신호의 진폭을 비교하는 것을 특징으로 하는 식별회로.
제 6 항에 있어서,

상기 비교회로에 입력되는 제 3 다값신호의 진폭과 임계값 생성회로에서 생성되는 임계값과의 사이의 상대적인 차를 조정하는 진폭조정회로를 또한 구비하는 것을 특징으로 하는 식별회로.
제 6 항에 있어서,

상기 제어신호는 입력된 다값신호에 있어서 미리 정해진 진폭값이 치우쳐 존재하고 있는 시간구간을 규정하고,

상기 제 1 및 상기 제 2 파형정형회로는 제어신호에 의해 규정되는 시간구간에는 미리 정해진 진폭값이 상기 제 1 및 상기 제 2 기분레벨과 동일한 값이 되도록 입력된 제 1 및 제 2 다값신호의 파형을 정형하는 것을 특징으로 하는 식별회로.
3개 이상의 진폭값을 갖는 다값신호를 식별하는 식별회로에 있어서,

외부로부터 입력되는 다값신호를 2분기하는 제 1 분기부,

상기 제 1 분기에서 출력되는 한쪽 다값신호의 파형을 소정 조건하에서 정형하는 제 1 파형정형회로,

상기 제 1 파형정형회로의 출력신호의 파형을 소정 조건하에서 정형하는 제 2 파형정형회로,

상기 제 2 파형정형회로의 출력신호가 부여되고, 해당 출력신호로부터 제 1 기준레벨을 검출하는 제 1 검출회로,

상기 제 2 파형정형회로의 출력신호가 부여되고, 해당 출력신호로부터 제 2 기준레벨을 검출하는 제 2 검출회로,

상기 제 1 및 상기 제 2 기준레벨에 기초하여 필요한 수의 임계값을 생성하는 임계값 생성회로,

상기 임계값 생성회로에 의해 생성된 임계값과, 제 1 분기부로부터 출력되는 다른쪽 다값신호를 비교하는 비교회로, 및

상기 비교회로에 의한 비교결과에 기초하여 제어신호를 생성하는 제어신호 생성회로를 구비하고,

상기 제 1 파형정형회로는 상기 제어신호 생성회로로부터 출력되는 제어신호에 기초하여 입력되는 다값신호의 파형을 상기 제 1 검출회로가 제 1 기준레벨을 정확하게 검출 가능한 파형으로 정형하고,

상기 제 2 파형정형회로는 상기 제어신호 생성회로로부터 출력되는 제어신호에 기초하여 상기 제 1 파형정형회로의 출력신호의 파형을 상기 제 2 검출회로가 제 2 기준레벨을 정확하게 검출 가능한 파형으로 정형하는 것을 특징으로 하는 식별회로.
제 10 항에 있어서,

상기 임계값 생성회로는 서로 다른 (진폭값의 개수-1)개의 임계값을 제 1 및제 2 기준레벨에 기초하여 생성하고,

상기 비교회로는

입력된 다값신호를 (진폭값의 개수-1)개로 분기하는 제 2 분기부와,

상기 임계값 생성회로에 의해 생성된 임계값이 1개씩 입력되고 또한 제 2 분기부에 의해 분기된 다값신호가 1개씩 입력되는 (진폭값의 개수-1)개의 비교기를 포함하고,

각 상기 비교기는 입력된 임계값과 다값신호를 비교하는 것을 특징으로 하는 식별회로.
제 10 항에 있어서,

상기 제 1 분기부로부터 출력되는 다른쪽 다값신호의 진폭과, 상기 임계값 생성회로에서 생성되는 임계값과의 사이의 상대적인 차를 조정하는 진폭조정회로를 또한 구비하는 것을 특징으로 하는 식별회로.
제 10 항에 있어서,

상기 제어신호는 입력된 다값신호에 있어서 미리 정해진 진폭값이 치우쳐 존재하고 있는 시간구간을 규정하고,

상기 제 1 및 상기 제 2 파형정형회로는 제어신호에 의해 규정되는 시간구간에는 특정의 진폭값이 제 1 및 제 2 기준레벨과 동일한 값이 되도록 각각의 입력신호의 파형을 정형하는 것을 특징으로 하는 식별회로.