KR100300232B1 - Manufacturing method for rear panel of plasma display panel - Google Patents

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KR100300232B1 KR1019980044182A KR19980044182A KR100300232B1 KR 100300232 B1 KR100300232 B1 KR 100300232B1 KR 1019980044182 A KR1019980044182 A KR 1019980044182A KR 19980044182 A KR19980044182 A KR 19980044182A KR 100300232 B1 KR100300232 B1 KR 100300232B1
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Abstract

본 발명은 스크린 프린팅과 포토리소그래피를 적절히 사용하여 PDP 후면판의 각 기능층들을 형성하고 소성체를 화학 에칭해 격벽층을 형성한 PDP 제조방법에 있어서, 이들 각 기능층을 얼라인할 때 기본적으로 해당층과 그 하층을 짝맞춤하고 포토리소그래피 시에는 해당층과 동일하게 얼라인마크를 가져 가도록 하며, 이 과정에서 인쇄 및 소성에 의해 각 기능층에서 생기는 변형에 따른 얼라인 에러를 보정 및 보상을 하도록 하여 얼라인 에러를 줄인 플라즈마 디스플레이 패널 후면판 제조 방법에 관한 것이다.The present invention provides a PDP manufacturing method in which each functional layer of the PDP backplane is properly used by screen printing and photolithography and a chemically etched plastic body is formed to form a partition layer. Match the layer with the lower layer and bring the alignment mark to the same layer as in the case of photolithography, and in this process, correct and compensate the alignment error due to the deformation in each functional layer by printing and firing. The present invention relates to a method for manufacturing a plasma display panel back plate having reduced alignment error.

Description

플라즈마 디스플레이 패널 후면판 제조 방법 {MANUFACTURING METHOD FOR REAR PANEL OF PLASMA DISPLAY PANEL}Plasma Display Panel Backplane Manufacturing Method {MANUFACTURING METHOD FOR REAR PANEL OF PLASMA DISPLAY PANEL}

본 발명은 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel: PDP) 후면판 제조 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 스크린 프린팅과 포토리소그래피를 적절히 사용하여 PDP 후면판의 각 기능층들을 형성하고 소성체를 화학 에칭해 격벽층을 형성한 PDP 제조방법에 있어서, 이들 각 기능층을 얼라인할 때 기본적으로 해당층과 그 하층을 짝맞춤하고 포토리소그래피 시에는 해당층과 동일하게 얼라인마크를 가져 가도록 하며, 이 과정에서 인쇄 및 소성에 의해 각 기능층에서 생기는 변형에 따른 얼라인 에러를 보정 및 보상을 하도록 하여 얼라인 에러를 줄인 플라즈마 디스플레이 패널 후면판 제조 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a plasma display panel (PDP) backplane manufacturing method. More particularly, screen printing and photolithography are used to form the functional layers of the backplane and chemically etch the plastics. In the PDP manufacturing method in which the partition layer is formed, basically, when aligning each functional layer, the corresponding layer and the lower layer are matched, and when the photolithography is performed, the alignment mark is brought to be the same as the corresponding layer. The present invention relates to a method of manufacturing a plasma display panel back plate which reduces alignment errors by correcting and compensating alignment errors due to deformations generated in each functional layer by printing and firing.

상기 플라즈마 디스플레이 패널(PDP)은 전면글라스기판과 후면글라스기판 사이에 방전 공간을 형성하고 전극사이에서 플라즈마 방전을 일으켜 주위에 존재하는 형광체로 하여금 여기되도록 발광시킴으로써 화면을 표시하는 장치이다.The plasma display panel (PDP) is a device for displaying a screen by forming a discharge space between the front glass substrate and the rear glass substrate, and generates a plasma discharge between the electrodes to emit light to excite the phosphors present in the surroundings.

일반적으로, 플라즈마 디스플레이 패널(PDP)은 직류형과 교류형으로 나눌수 있으며, 이 중 교류형 PDP가 현재 주류를 이루고 있다.In general, a plasma display panel (PDP) can be divided into a direct current type and an alternating current (AC) type, and an AC type PDP is the mainstream.

도 1은 일반적인 교류형 PDP의 1(one) 셀(Cell)의 단면 구성으로 나타낸 것으로, 전면판(100)과 후면판(200) 사이에 실링구조체(36)가 밀봉된 구조이다.1 is a cross-sectional configuration of a one-cell of a general AC PDP, and the sealing structure 36 is sealed between the front plate 100 and the rear plate 200.

먼저 전면판(100)은, 전면글라스기판(10)과, 전면글라스기판(10) 하단에 형성된 유지전극(12)과, 유지전극(12)의 저항을 줄이기 위해 유지전극(12) 하단에 형성된 버스(BUS)전극(14)과, 버스전극(14) 및 유지전극(12)을 덮는 전면유전체층(16)과, 전면유전체층(16)의 스퍼터링을 방지하기 위해 전면유전체(16)층 하단에 형성된 산화마그네슘(MgO)층(18)으로 구성되어 있다.First, the front plate 100 is formed on the front glass substrate 10, the sustain electrode 12 formed at the bottom of the front glass substrate 10, and the bottom of the sustain electrode 12 to reduce the resistance of the sustain electrode 12. The front dielectric layer 16 covering the bus electrode 14, the bus electrode 14 and the sustain electrode 12, and a lower portion of the front dielectric layer 16 to prevent sputtering of the front dielectric layer 16. The magnesium oxide (MgO) layer 18 is comprised.

후면판(200)의 구성은, 후면글라스기판(20)과, 후면글라스기판(20) 위에 형성되며 어드레스 전극의 색번짐 등을 방지하기 위한 하지층(22)과, 하지층(22) 위에 일정한 간격으로 형성된 어드레스전극(24)과, 어드레스전극(24)을 덮는 후면유전체층(26)과, 어드레스전극(24) 사이의 유전체층(26) 상단에 형성된 격벽(28)과, 격벽(28) 면을 따라 각각 코팅ㆍ소성된 적색(R), 녹색(G), 청색(B) 형광체(30,32,34)로 되어 있다.The rear plate 200 is formed on the rear glass substrate 20, the rear glass substrate 20, and has a base layer 22 and a predetermined gap therebetween to prevent color smearing of the address electrode. Along the surface of the partition wall 28 formed on the top of the dielectric layer 26 between the address electrode 24, the rear surface dielectric layer 26 covering the address electrode 24, and the address electrode 24. It consists of red (R), green (G), and blue (B) phosphors 30, 32 and 34 coated and fired, respectively.

전면판(100)과 후면판(200) 사이에는 플라즈마 방전을 일으키는 가스가 봉입되어 있으며, 이것의 밀폐를 위해 전면판(100)과 후면판(200) 사이를 실링구조체(36)가 밀봉한다.A gas causing plasma discharge is sealed between the front plate 100 and the back plate 200, and the sealing structure 36 seals between the front plate 100 and the back plate 200 for sealing thereof.

후면판(200)을 형성하기 위한 제조방법으로는 스크린 프린터(screen print)법, 샌드블라스트(Sand Blast)법 등이 널리 사용되고 있다.As a manufacturing method for forming the back plate 200, a screen printer method, a sand blast method, and the like are widely used.

상기 스크린 프린터법은, 후면글라스기판(20)에 하지제판을 올려놓은 다음 하지용 페이스트를 하지제판 위에 올려놓고 스퀴지로 밀어서 상기 하지제판의 개구부를 통해 상기 페이스트를 통과시켜 스크린 인쇄한다. 이때, 인쇄된 하지층(22)은 120∼150℃의 온도로 5∼10분 정도 건조시킨후 550∼580℃로 10분 정도 소성을 행한다.In the screen printer method, a base plate is placed on the rear glass substrate 20, and then a base paste is placed on the base plate and pushed with a squeegee to pass the paste through the opening of the base plate to screen print. At this time, the printed base layer 22 is dried at a temperature of 120 to 150 ° C. for about 5 to 10 minutes, and then fired at 550 to 580 ° C. for about 10 minutes.

그후, 상기 소성체에 전극용페이스트를 전극제판 위에 올려놓고 스퀴지로 전극패턴인쇄를 실시하여 전극층(24)을 형성하고, 이를 120∼150℃의 온도로 5∼10분정도 건조시킨후 500∼600℃로 10분 정도 소성을 행한다.Subsequently, an electrode paste is placed on the electrode plate on the fired body, and electrode pattern printing is performed using a squeegee to form an electrode layer 24, which is dried at a temperature of 120 to 150 ° C. for 5 to 10 minutes and then 500 to 600. Firing is carried out at about 10 minutes.

이어, 상기 소성체에 유전체용 페이스트를 유전체제판 위에 올려놓고 스퀴지로 유전체 전면인쇄를 실시하여 유전체(26)를 형성하고, 이를 120∼150℃의 온도로 5∼10분 정도 건조시킨후 550∼580℃로 10분 정도 소성을 행한다.Subsequently, a dielectric paste was placed on the dielectric plate on the fired body and the entire surface was printed with a squeegee to form a dielectric material 26. The dielectric material 26 was dried at a temperature of 120 to 150 ° C. for about 5 to 10 minutes, and then 550 to 580. Firing is carried out at about 10 minutes.

그후, 상기 소성체에 격벽용 페이스트를 격벽제판 위에 올려놓고 스퀴지로 격벽 패턴인쇄를 실시하여 격벽층(28)을 형성하고 이를 120∼150℃의 온도로 5∼10분정도 건조시킨후, 다시 상기 격벽층(28) 위에 격벽 패턴인쇄 공정과 건조 공정을 8∼20회 정도 실시한후 550∼600℃로 10분 정도 소성을 행한다.Then, the bulkhead paste is placed on the partition plate on the calcined body, and the partition pattern is printed by squeegee to form the partition layer 28, which is dried at a temperature of 120 to 150 ° C. for about 5 to 10 minutes, and then again. After the partition pattern printing process and the drying process are performed about 8-20 times on the partition layer 28, it bakes at 550-600 degreeC for about 10 minutes.

그후, 상기 소성체에 적색형광체용 페이스트를 적색형광체 제판위에 올려놓고 스퀴지로 적색형광체 패턴인쇄를 실시하여 적색형광체층(30)을 형성하고, 이를 120∼150℃의 온도로 5∼10분 정도 건조시킨후 녹색형광체용 페이스트를 녹색형광체 제판위에 올려놓고 상기와 동일한 방법으로 녹색형광체층(32)을 형성한다. 그리고, 청색형광체용 페이스트를 청색형광체제판 위에 올려놓고 상기와 동일한 방법으로 청색형광체층(34)을 형성하고 난 뒤 450∼490℃로 30∼60분 정도로 소성을 행하여 PDP 후면판을 완성한다.Thereafter, the red phosphor paste was placed on the red phosphor plate on the fired body, and a red phosphor pattern was printed by squeegee to form a red phosphor layer 30, which was dried at a temperature of 120 to 150 ° C. for about 5 to 10 minutes. After the green phosphor paste is placed on the green phosphor plate, the green phosphor layer 32 is formed in the same manner as described above. Then, the blue phosphor paste is placed on the blue phosphor plate to form the blue phosphor layer 34 in the same manner as described above, and then baked at 450 to 490 ° C. for about 30 to 60 minutes to complete the PDP back plate.

상기 샌드블라스터법에 의한 PDP 후면판 제조방법은 다음과 같다.PDP backplane manufacturing method by the sandblasting method is as follows.

후면기판(20) 위에 하지층(22)에서 유전체층(26) 까지를 형성하는 방법은 상기 스크린 프린터법과 동일하며 이후 격벽(28)을 형성하는 방법은 다음과 같다.The method of forming the base layer 22 to the dielectric layer 26 on the back substrate 20 is the same as the screen printer method, and the method of forming the partition wall 28 is as follows.

유전체(26)의 소성체 위에 격벽용 페이스트를 격벽제판 위에 올려놓고 스퀴지로 격벽 전면인쇄를 실시하여 격벽층을 형성하고, 이를 120∼150℃의 온도로 5∼10분 정도 건조시킨후 다시 형성된 격벽층 위에 격벽 전면인쇄 공정과 건조 공정을 8∼10회 정도 실시한 후, 포토레지스트를 상기 건조체 위에 코팅하여 노광 현상을 실시한 뒤 샌드로 샌드블라스팅하여 격벽층을 형성하고, 이어 550∼600℃로 10분정도 소성을 행하여 격벽(28)을 완성한다. 그후 적색, 녹색, 청색형광체(30,32,34)층을 상기 스크린 프린터법과 동일하게 형성한다.The bulkhead paste is placed on the bulkhead plate on the fired body of the dielectric material 26, and the bulkhead layer is printed by squeegee to form the partition wall layer. The partition wall is dried for 5 to 10 minutes at a temperature of 120 to 150 ° C, and the partition wall is formed again. After the bulkhead front printing process and the drying process are performed on the layer about 8 to 10 times, the photoresist is coated on the dry body, subjected to exposure development, and then sandblasted with sand to form the partition layer, followed by 10 minutes at 550 to 600 ° C. The degree of calcination is performed to complete the partition wall 28. Then, the red, green, and blue phosphor layers 30, 32, and 34 are formed in the same manner as the screen printer method.

여기서, 스크린 프린터법 및 샌드블라스트법에 의한 PDP 후면판 제조공정에 있어서, 각 상하층 인쇄 및 소성 공정 진행에 따른 얼라인(Align) 방법은 다음과 같다.Here, in the manufacturing process of the PDP backplane by the screen printer method and the sand blast method, the alignment method according to the progress of the upper and lower layer printing and firing processes is as follows.

먼저 도 2에 나타낸 바와 같이, 인쇄시 스크린 프린팅의 결과로 각 기능층은 인쇄영역(40)과 얼라인마크(Align Mark)(42)로 표시될 수 있으며, 또한 샌드블라스트법에서의 포토리소그래피시 격벽 건조체 위에 코팅된 포토레지스트를 노광하는데 필요한 포토마스크(Photo Mask)도 상기와 동일하게 패턴형성영역(40)과 얼라인마크(42)로 표시할 수 있다.First, as shown in FIG. 2, as a result of screen printing during printing, each functional layer may be represented by a print area 40 and an alignment mark 42, and also during photolithography in the sandblasting method. A photo mask required for exposing the photoresist coated on the barrier rib body may also be indicated by the pattern forming region 40 and the alignment mark 42 as described above.

여기서, 통상 얼라인마크(42)는 인쇄영역(40) 또는 패턴영역(40)의 대각선 연장선상 또는 대각선 연장선상을 중심으로 좌우로 배치되며, 형태는 원형 또는 사각형 또는 십자형으로 표기된다.Here, the alignment mark 42 is generally disposed left and right about the diagonal extension line or the diagonal extension line of the printing area 40 or the pattern area 40, and the shape is represented by a circle, a square, or a cross.

상기 스크린프린터법 및 샌드블라스트법의 인쇄 공정은 글라스기판(20) 위에 얼라인마크(42)가 있는 하지층(22)을 인쇄, 건조, 소성한 후 상기 소성체의 하지용얼라인마크(42)와 전극용제판에 표시된 얼라인마크를 얼라인하여 전극인쇄를 실시한다. 이어, 전극 인쇄체를 건조ㆍ소성후 상기 하지용얼라인마크와 유전체용제판에 표시된 얼라인마크와를 얼라인하여 유전체 인쇄를 실시한다.In the printing process of the screen printer method and the sand blasting method, after the base layer 22 having the alignment mark 42 is printed, dried, and fired on the glass substrate 20, the alignment mark 42 for the fired body is ) And the alignment mark marked on the electrode plate are printed. Subsequently, after the electrode printed body is dried and fired, dielectric printing is performed by aligning the base alignment mark and the alignment mark displayed on the dielectric plate.

그후, 유전체 인쇄체를 건조, 소성후 상기 하지용얼라인마크와 격벽용 제판에 표시된 얼라인마크를 얼라인하여 격벽패턴인쇄(스크린 프린터법의 경우)하거나 격벽전면인쇄(샌드블라스트법의 경우)를 실시하고, 이를 건조한후 소성(스크린 프린터법의 경우)하거나 포토리소그래피(샌드블라스트법의 경우)를 행한다.Then, after drying and firing the dielectric printed material, the alignment mark displayed on the base alignment mark and the barrier plate is aligned, and the barrier rib pattern printing (for the screen printer method) or the barrier rib front printing (for the sand blast method) are performed. It is then dried and fired (in the case of the screen printer method) or photolithography (in the case of the sand blast method).

이때 포토리소그래피에 있어서는 상기 전극용 얼라인마크와 격벽용 포토마스크의 얼라인마크를 얼라인하여 노광현상을 실시하여 샌 블라스팅해 격벽을 완성한후 소성을 실시한다.At this time, in photolithography, the alignment mark of the electrode alignment mark and the alignment mask of the barrier rib photomask are aligned and exposed to light, followed by sand blasting to complete the barrier rib and firing.

그후 상기 소성체의 격벽 얼라인마크와 적색형광체제판에 표시된 얼라인마크를 얼라인하여 적색형광체 패턴인쇄를 실시하고 건조를 행한다. 녹색, 청색형광체 형성시에도 상기 적색형광체 형성시와 동일한 방법으로 실시하여 각각 적색, 녹색, 청색형광체를 인쇄, 건조한후 소성을 행하여 PDP 후면판을 만들게 된다.Thereafter, the alignment mark displayed on the partition alignment mark of the fired body and the alignment plate of the red phosphor are aligned to perform red phosphor pattern printing and to be dried. The green and blue phosphors are formed in the same manner as the red phosphors, and the red, green, and blue phosphors are printed, dried, and calcined to form a PDP back plate.

그런데, 이와 같은 종래의 플라즈마 디스플레이 패널 후면판 얼라인 방법에 있어서는 다음과 같은 문제점이 있었다.However, the conventional plasma display panel rear panel alignment method has the following problems.

첫째, PDP 후면판에 사용되는 글라스기판(20)은 통상 일반창 유리용 소다라임 글라스(Soda-lime Glass) 또는 PDP 전용의 소다라임 글라스(PD-200, ASahi제품)등을 사용하나 이는 500℃ 이상의 열처리시에 변형이 일어나는 문제점이 있었다. 즉, 하지층(22)에서 격벽층(28) 형성 공정 사이의 소성처리 온도가 보통 550∼600℃ 이므로 열처리시 변형이 일어나 각 상하층의 얼라인이 맞지 않게 되며, 더군다나 소성 횟수가 증가할수록 변형 정도는 더 증가하여 얼라인이 더 맞지 않는 문제점이 있다.First, the glass substrate 20 used for the PDP back panel is generally used soda-lime glass (Soda-lime Glass) or PDP-only soda-lime glass (PD-200, ASahi) for general window glass, but this is 500 ℃ There was a problem that deformation occurs during the above heat treatment. That is, since the firing temperature between the base layer 22 and the partition layer 28 forming process is usually 550 to 600 ° C., deformation occurs during heat treatment, so that the alignment of the upper and lower layers is not aligned. There is a problem that the degree is further increased, the alignment is more misaligned.

둘째, 사용제판의 텐션(Tension) 변화, 페이스트의 점도 변화, 스크린 프린터(Screen Printer)의 기계적인 상태 변화등이 발생할 경우 각 상하층간의 얼라인을 맞추기가 어려운 문제점이 있다.Second, there is a problem that it is difficult to align the alignment between the upper and lower layers when a tension change, a viscosity change of a paste, and a mechanical state change of a screen printer occur.

셋째, 얼라인을 위한 짝맞춤이 하지층 얼라인마크를 중심으로 맞출 경우 얼라인마크 표시 및 상층의 전극유전체층, 격벽층과의 얼라인을 위한 작업이 쉬워지기는 하나 소성 횟수의 증가 및 인쇄 과정상 오차의 누적으로 인해 실제적으로는 얼라인이 잘 되지않는 문제점이 있다.Third, when the alignment for alignment is centered on the alignment mark of the underlying layer, the work for alignment mark display and the alignment of the electrode dielectric layer and the partition layer of the upper layer becomes easy, but the number of firings is increased and the printing process Due to the accumulation of phase errors, there is a problem in that the alignment is not really good.

넷째, 샌드블라스트법의 경우, 포토레지스트를 코팅한 후 노광을 행할 때 인쇄오차, 변형 오차 등에 대한 얼라인 보정을 실시하지 않을 경우 격벽 사이에 전극이 위치하지 않고 격벽 밑에 전극이 위치하거나 옆 격벽쪽으로 전극이 위치해 버리는 경우가 발생하여 제품의 불량을 가져오는 문제점이 있다.Fourth, in the case of sandblasting, when the photoresist is coated and the exposure is not performed, if the correction of printing errors, deformation errors, etc. is not performed, the electrodes are not positioned between the partition walls and the electrodes are positioned below the partition walls or toward the side partition walls. There is a problem that the electrode is placed to bring the defect of the product.

다섯째, 스크린프린터법 및 샌드블라스트법에 있어서, 격벽 소성전 완벽하게 얼라인이 이루어지더라도 반드시 실시되어야 하는 격벽 소성처리로 인해 글라스기판 및 격벽 하층들의 변형이 일어나 전극과의 얼라인이 완벽하게 되지 않는 문제점이 있다.Fifth, in the screen printer method and the sand blasting method, even if the alignment is completed perfectly before the firing of the partition wall, the glass substrate and the lower layer of the partition wall are deformed due to the partition wall firing process, which must be performed. There is a problem.

따라서, 본 발명은 상기 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 본 발명에서는 스크린프린팅과 포토리소그래피를 적절히 사용하여 PDP 후면판의 각 기능층들을 형성하고 소성체를 화학 에칭해 격벽층을 형성한 PDP 제조방법에 있어서, 이들 각 기능층을 얼라인할 때 기본적으로 해당층과 그 하층을 짝맞춤하고 포토리소그래피 시에는 해당층과 동일하게 얼라인마크를 가져 가도록 하며, 이 과정에서 인쇄 및 소성에 의해 각 기능층에서 생기는 변형에 따른 얼라인 에러를 보정 및 보상을 하도록 하여 얼라인 에러를 줄인 플라즈마 디스플레이 패널 후면판 제조 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.Accordingly, the present invention has been made to solve the above problems, in the present invention, by using the appropriate screen printing and photolithography to form each functional layer of the PDP backplane and chemically etched plastics to form a barrier layer layer formed PDP In the method, each of the functional layers is basically aligned with the corresponding layer and the lower layer, and during photolithography, the alignment mark is taken to be the same as the corresponding layer. SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a method for manufacturing a plasma display panel rear panel which reduces alignment errors by correcting and compensating alignment errors due to deformations generated in the functional layer.

도 1은 일반적인 교류형 PDP의 1셀의 단면 구성도.1 is a cross-sectional configuration diagram of one cell of a general AC PDP.

도 2는 종래의 인쇄 또는 패턴영역 및 얼라인마크의 위치를 나타낸 도면.2 is a view showing the position of a conventional printing or pattern area and alignment mark.

도 3a 내지 도 3d는 본 발명에 의한 PDP의 각 층별 제판상의 얼라인마크를 나타낸 도면.3A to 3D are diagrams showing alignment marks on each plate of the PDP according to the present invention.

도 4는 본 발명에 의한 인쇄 단계별 얼라인 흐름도.Figure 4 is an alignment step by step printing step according to the present invention.

도 5는 인쇄 또는 소성 공정시 비틀림의 예를 나타낸 도면.5 shows an example of twisting in a printing or firing process.

도 6은 본 발명에 의한 포토 마스크의 구성을 나타낸 도면.6 is a view showing a configuration of a photomask according to the present invention.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings

10 : 전면글라스기판 12 : 유지전극10: front glass substrate 12: sustain electrode

14 : 버스전극 16 : 전면유전체층14 bus electrode 16 front dielectric layer

18 : 산화마그네슘(MgO)층 20 : 후면글라스기판18: magnesium oxide (MgO) layer 20: back glass substrate

22 : 하지층 24 : 어드레스전극층22: base layer 24: address electrode layer

26 : 후면유전체층 28 : 격벽층26: rear dielectric layer 28: partition wall

30 : 적색형광체 32 : 녹색형광체30: red phosphor 32: green phosphor

34 : 청색형광체 36 : 실링구조체34 blue phosphor 36 sealing structure

40 : 인쇄영역 또는 패턴형성영역 42 : 얼라인마크40: printing area or pattern forming area 42: alignment mark

44 : 하지용제판의 하지용얼라인마크44: Alignment mark of the lower surface of the lower plate

45 : 전극용제판의 하지용얼라인마크45: bottom alignment mark of electrode plate

46 : 전극용제판의 전극용얼라인마크46: Alignment mark for electrode of electrode plate

47 : 유전체용제판의 전극용얼라인마크47: Alignment mark for electrode of dielectric plate

48 : 유전체용제판의 유전체용얼라인마크48: Dielectric alignment mark of dielectric plate

49 : 격벽용제판의 유전체용얼라인마크49: alignment mark for dielectric of bulkhead plate

50 : 격벽용제판의 적색형광체용얼라인마크50: alignment mark for red phosphor on bulkhead plate

52 : 격벽용제판의 녹색형광체용얼라인마크52: alignment mark for green phosphor on bulkhead plate

54 : 격벽용제판의 청색형광체용얼라인마크54: alignment mark for blue phosphor on bulkhead plate

70 : n-1층 얼라인마크 70' : n층 얼라인마크70: n-1th floor alignment mark 70 ': nth floor alignment mark

72 : n-1층 인쇄 또는 소성영역 종축 중심선72: n-1 layer printing or plastic zone longitudinal axis center line

72' : n층 인쇄 또는 소성영역 종축 중심선72 ': n-layer printing or plastic zone longitudinal centerline

74 : n-1층 인쇄 또는 소성영역 횡축 중심선74: n-1 layer printing or plastic zone horizontal axis center line

74' : n층 인쇄 또는 소성영역 횡축 중심선74 ': n-layer printing or plastic zone horizontal axis centerline

76 : 포지 패턴 78 : 포토 마스크 기판76: forge pattern 78: photo mask substrate

80 : 네가 패턴80: you pattern

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 플라즈마 디스플레이 패널 후면판 제조 방법은,In order to achieve the above object, the plasma display panel backplane manufacturing method of the present invention,

적어도 글라스 기판위에 하지층, 전극층, 유전체층, 격벽층, 적색형광체층, 녹색형광체층 및 청색 형광체층으로 구성되고, 상기 하지층과 유전체층은 전면인쇄→건조→소성의 순으로 가공처리되고, 상기 전극층과 형광체층은 패턴인쇄→건조→소성의 순에 의한 가공처리, 또는 전면인쇄→건조→포토리소그래피→소성에 의한 가공처리중 어느 하나로 행하고, 상기 격벽층은 전면인쇄→건조→소성→포토리소그래피의 순으로 가공처리하도록 하는 플라즈마 디스플레이 패널 후면판 제조 방법에 있어서,At least on a glass substrate, a base layer, an electrode layer, a dielectric layer, a partition layer, a red phosphor layer, a green phosphor layer, and a blue phosphor layer, wherein the base layer and the dielectric layer are processed in the order of front printing → drying → firing, and the electrode layer And the phosphor layer may be processed by pattern printing → drying → firing, or full surface printing → drying → photolithography → firing. The partition layer may be formed by front printing → drying → firing → photolithography. In the plasma display panel back plate manufacturing method to be processed in order,

상기 전면인쇄 또는 패턴인쇄 공정시에는, 상기 하지층을 상기 글라스기판과 얼라인하는 단계와, 상기 전극층을 상기 하지층과 얼라인하는 단계와, 상기 유전체층을 상기 전극층과 얼라인하는 단계와, 상기 격벽층을 상기 유전체층과 얼라인하는 단계와, 상기 적색, 녹색, 청색형광체층을 순차적으로 상기 격벽층과 각각 얼라인하는 단계를 수행하고, 상기 건조체 또는 소성체 위의 포토리소그래피 공정시에는, 상기 하지층과 동일한 얼라인마크를 가지는 전극용 포토마스크로 상기 하지층과 얼라인하는 단계와, 상기 전극층과 동일한 얼라인마크를 가지는 격벽용 포토마스크로 상기 전극층과 얼라인하는 단계와, 상기 격벽층과 동일한 얼라인마크를 가지는 형광체용 포토마스크로 상기 격벽층과 얼라인하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.During the front printing or pattern printing process, aligning the base layer with the glass substrate, aligning the electrode layer with the base layer, aligning the dielectric layer with the electrode layer, and Aligning the barrier layer with the dielectric layer, and sequentially aligning the red, green, and blue phosphor layers with the barrier layer, respectively, and during the photolithography process on the dry or fired body, Aligning the base layer with an electrode photomask having an alignment mark identical to that of the base layer, aligning the electrode layer with a barrier photomask having the same alignment mark as the electrode layer, and the barrier layer And a step of aligning the barrier layer with a photomask for phosphors having the same alignment mark as.

이하, 본 발명의 일 실시예에 관하여 첨부도면을 참조하면서 상세히 설명한다.Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

또, 실시예를 설명하기 위한 모든 도면에서 동일한 기능을 갖는 것은 동일한 부호를 사용하고 그 반복적인 설명은 생략한다.In addition, in all the drawings for demonstrating an embodiment, the thing with the same function uses the same code | symbol, and the repeated description is abbreviate | omitted.

먼저, 본 발명에 의한 PDP 후면판 제조방법은 다음과 같다.First, the PDP backplane manufacturing method according to the present invention is as follows.

글라스기판(20) 위에 하지용페이스트를 하지제판 위에 올려놓고 스퀴지로 하지전면인쇄를 실시하여 하지층(22)을 형성하고, 이를 120∼180℃로 10∼20분 정도 건조한 후, 550∼600℃로 10∼60분 정도로 소성을 행한다.The base paste was placed on the glass substrate 20 on the glass substrate 20, and the base layer 22 was formed by squeegee printing. Then, the base layer 22 was dried at 120 to 180 ° C. for 10 to 20 minutes, and then 550 to 600 ° C. Baking is carried out in about 10 to 60 minutes.

이어 전극층(24)을 아래의 2가지 공정중 1가지로 행한다.The electrode layer 24 is then performed in one of the two steps below.

즉, 그 하나가 상기 하지소성체에 전극용페이스트를 전극용제판 위에 올려놓고 스퀴지로 전극 패턴인쇄를 실시하여 전극층(24)을 형성하고, 이를 120∼180℃로 10∼20분정 도 건조한 후, 500∼580℃로 10∼60분 정도로 소성을 행한다.That is, one of the substrate is placed on the electrode plate on the base material, and the electrode pattern printing is performed with a squeegee to form the electrode layer 24, which is then dried for 10 to 20 minutes at 120 to 180 ° C. It bakes at 500-580 degreeC for about 10 to 60 minutes.

또 다른 방법은, 상기 하지소성체에 전극용 유(U)브이(V) 페이스트를 전극용 제판위에 올려놓고 스퀴지로 전극 전면인쇄를 실시하여 전극층(24)을 형성하고 이를 120∼180℃로 10∼20분 정도 건조한후 UV 페이스트 전용현상액을 사용하여 현상을 실시한 후 550∼600℃로 10∼60분 정도로 소성을 행한다.Another method is to put the electrode (U) V (V) paste for the electrode on the base plate on the electrode plate and to print the entire surface of the electrode with a squeegee to form the electrode layer 24 and to 10 to 120 ~ 180 ℃ After drying for about 20 minutes, development is carried out using a UV paste-dedicated developer, and baking is carried out at 550 to 600 ° C. for about 10 to 60 minutes.

그 후, 유전체층(26)은 상기 전극층(24) 위에 유전체용 페이스트를 유전체제판위에 올려놓고 스퀴지로 유전체 전면인쇄를 실시하여 유전체층(26)을 형성하고, 이를 120∼180℃로 10∼20분 정도 건조한 후, 550∼600℃로 10∼60분 정도로 소성을 실시한다Subsequently, the dielectric layer 26 forms a dielectric layer 26 by placing a dielectric paste on the dielectric plate on the electrode layer 24 and printing the entire surface with a squeegee. The dielectric layer 26 is formed at 120 to 180 ° C. for about 10 to 20 minutes. After drying, it bakes at about 550-600 degreeC for about 10 to 60 minutes.

이어 격벽층(28)은 상기 유전체층 소성체 위에 격벽용 페이스트를 격벽제판위에 올려놓고 스퀴지로 격벽 전면인쇄를 실시하여 격벽층(28)을 형성하고 120∼180℃로 10∼20분정도 건조한 후, 다시 격벽층(28) 위에 격벽전면인쇄 공정, 건조 공정을 8∼10회 정도 실시한 후, 450∼650℃로 10∼30분 정도로 소성을 행한다Subsequently, the partition layer 28 is formed by placing a barrier paste on the partition plate on the dielectric layer plastic body and performing a front surface printing with a squeegee to form the partition layer 28 and drying at 120 to 180 ° C. for 10 to 20 minutes. After performing the bulkhead front printing process and the drying process on the partition layer 28 again about 8-10 times, baking is performed at 450-650 degreeC for about 10 to 30 minutes.

이어 상기 소성체 위에 포토레지스트를 형성하여 에칭용 포토 마스크로 노광현상을 실시하고 전용 에칭액으로 에칭을 실시하여 격벽층(28)을 완성한다.Then, a photoresist is formed on the fired body, the exposure is performed with an etching photo mask, and the etching layer is etched to complete the partition layer 28.

이어 형광체층(30,32,34)은 아래의 2가지중 1가지로 행한다.Subsequently, the phosphor layers 30, 32, and 34 are performed by one of the following two types.

그 하나가 상기 격벽 가공체 위에 적색(R)형광체용 페이스트를 형광체제판 위에 올려놓고 스퀴지로 적색형광체 패턴인쇄를 실시하여 적색형광체층(30)을 형성하고, 이를 120∼180℃로 10∼20분 정도 건조한 후, 녹색(G) 및 청색(B)형광체층을 순차적으로 상기와 동일하게 실시하여 적색, 녹색, 청색형광체층을 건조 완료하고, 이어 450∼490℃로 30∼60분 정도로 소성을 행한다One of them places a red (R) phosphor paste on the partition body on a phosphor plate and performs a red phosphor pattern printing with a squeegee to form a red phosphor layer 30, which is 10 to 20 minutes at 120 to 180 ° C. After drying, the green (G) and blue (B) phosphor layers are sequentially performed in the same manner as above, and the red, green, and blue phosphor layers are dried, and then fired at 450 to 490 ° C. for about 30 to 60 minutes.

또 다른 방법은 상기 격벽 가공체 위에 적색형광체용 UV 페이스트를 적색형광체용 제판위에 올려놓고 스퀴지로 적색형광체 전면인쇄를 실시하여 적색형광체층(30)을 형성하고, 이를 120∼180℃로 10∼20분정도 건조한후, 적색형광체용 포토 마스크로 노광하고 전용 현상액으로 현상한후 녹색 및 청색 형광체층을 순차적으로 상기와 동일하게 실시하여 적색, 녹색, 청색형광체 층을 현상완료하고 이어 450∼490℃로 30∼60분 정도로 소성을 행한다In another method, the red phosphor layer 30 is formed by placing a red phosphor UV paste on the partition body on a plate of red phosphor, and performing red phosphor front printing with a squeegee, and forming the red phosphor layer 30 at 120 to 180 ° C. After drying for about a minute, the resultant is exposed with a red phosphor photomask, developed with a dedicated developer, and the green and blue phosphor layers are sequentially performed in the same manner as described above to complete the development of the red, green and blue phosphor layers, followed by 450 to 490 ° C. Firing in about 30 to 60 minutes

여기서 본 발명에 의한 PDP 후면판 제조방법에 있어서, 먼저 각 상하층 인쇄 및 소성 공정 진행에 따른 얼라인 방법을 도 3a 내지 도 3d를 참조하여 설명하기로 한다.Here, in the manufacturing method of the PDP backplane according to the present invention, first, the alignment method according to the progress of the upper and lower layer printing and firing processes will be described with reference to FIGS. 3A to 3D.

도 3a 내지 도 3d는 본 발명에 의한 각 층별 제판상 얼라인마크의 예를 나타낸 것이다.3A to 3D show examples of the aligning mark on each plate according to the present invention.

하지용제판은 하지영역(22) 바깥에 1∼2개 하지용제판의 하지용얼라인마크(44)가 형성되어 있으며, 하지용제판의 하지용얼라인마크(44)와 글라스기판(20)을 얼라인 한 후, 하지용 페이스트를 하지제판 위에 올려놓고 스퀴지로 하지전면인쇄를 글라스기판(20) 위에 실시한다.(더미 인쇄(Dummy printing, 空인쇄))The base plate has a base alignment mark 44 of one or two base plate outside the base area 22, and the base alignment mark 44 and the glass substrate 20 of the base plate. After aligning, put the base paste on the base plate and perform the squeegee underside front printing on the glass substrate 20. (Dummy printing, air printing)

이어 상기 더미인쇄한 것을 얼라인용 카메라에 인식시키고 글라스기판(20)을 투입하여 얼라인용 카메라가 상기 더미인쇄한 것을 인식한 내용과 얼라인하여 글라스기판(20) 위에 하지 전면인쇄를 실시한다. 즉, 도 3 및 도 4에 나타낸 바와 같은 방식으로 전극층(24), 유전체층(26), 격벽층(28), 형광체층(30,32,34)까지 적용하여 진행하게 된다.Subsequently, the dummy printing is recognized by the alignment camera, and the glass substrate 20 is input to align the content of the alignment camera with the recognition of the dummy printing, and the front substrate is printed on the glass substrate 20. That is, the electrode layer 24, the dielectric layer 26, the partition layer 28, and the phosphor layers 30, 32, and 34 are applied in the manner as shown in FIGS. 3 and 4.

여기서, 각층별 얼라인마크 및 짝맞춤은 도 3a 내지 도 3d에 표시한 바와 같이, 전극층(24)의 얼라인마크는 전극용제판의 하지용얼라인마크(45)와 전극용제판의 전극용얼라인마크(46)로 구성되며 그 구성요소가 2~5개(최초에는 1~5) 정도이다. 그중, 1∼2개 정도의 전극용제판의 하지용얼라인마크(45)(도 3b에서는 1개)를 하지층(22)의 하지용제판의 하지용얼라인마크(44)(도 3a에서는 1개)와 동일하게 표시(도 3a 및 도 3b참조)하여 짝맞춤 한다.Here, as shown in FIGS. 3A to 3D, the alignment mark and the matching for each layer are as shown in FIGS. 3A to 3D, and the alignment mark of the electrode layer 24 is for the electrode of the electrode alignment plate 45 and the electrode alignment plate. It is composed of an alignment mark 46, and its components are about 2-5 (first 1-5). Among them, the base alignment marks 45 (one in FIG. 3B) of the electrode plate of about 1 to 2 are replaced by the base alignment marks 44 of the base plate of the base layer 22 (in FIG. 3A). The pairing is performed in the same manner as in Fig. 1 (see Figs. 3A and 3B).

그리고, 유전체층(26)의 얼라인마크는 유전체용제판의 전극용얼라인마크(47)와 유전체용제판의 유전체용얼라인마크(48)로 구성되며, 그 수가 2~5(최초에는 1~2)개 정도이다. 여기서 1~3(최초에는 1~2)정도의 유전체용제판의 전극용얼라인마크(47)(도 3c에서는 3개)를 전극층(22)의 전극용제판의 전극용얼라인마크(46)(도 3b에서는 3개)와 동일하게 표시(도 3b 및 도 3c 참조)하여 짝맞춤한다.The alignment mark of the dielectric layer 26 is composed of the electrode alignment mark 47 of the dielectric plate and the dielectric alignment mark 48 of the dielectric plate, and the number is 2 to 5 (1 to 1 at first). 2) about. Here, the electrode alignment marks 47 (three in FIG. 3C) of the dielectric plate of about 1 to 3 (first 1 to 2) are aligned with the electrode alignment marks 46 of the electrode plate of the electrode layer 22. (3 in FIG. 3B) are displayed in the same manner (see FIG. 3B and FIG. 3C) for matching.

격벽층(28)의 얼라인마크는 격벽용제판의 유전체용얼라인마크(49)와 격벽용제판의 적색, 녹색, 청색형광체용얼라인마크(50,52,54)로 구성되고, 그 수가 각각 7~15개(최초에는 1~5) 정도이다. 여기서, 1~2개 정도의 격벽용제판의 유전체용얼라인마크(49)(도 3d에서는 1개)를 유전체층(26)의 유전체용제판의 유전체용얼라인마크(48)(도 3c에서는 1개)와 동일하게 표시하여 짝맞춤한다.The alignment mark of the partition layer 28 includes an alignment mark 49 for dielectrics of the partition plate and red, green and blue phosphor alignment marks 50, 52, and 54 of the partition plate. 7-15 each (1-5 initially). Here, the dielectric alignment marks 49 (one in FIG. 3D) of one or two partition plate plates are replaced by the dielectric alignment marks 48 (1 in FIG. 3C) of the dielectric plate of the dielectric layer 26. FIG. And match them with

적색, 녹색 및 청색형광체(30,32,34)(도 1참조)의 얼라인마크는 적색, 녹색 및 청색형광체용제판의 적색, 녹색 및 청색형광체용얼라인마크로 각각 구성되는데, 이때 격벽용제판의 적색, 녹색 및 청색형광체용얼라인마크(50,52,54)와 각각 동일하게 표시하여 전술한 바와 같이 짝맞춤한다.The alignment marks of the red, green, and blue phosphors 30, 32, and 34 (see FIG. 1) consist of alignment marks for the red, green, and blue phosphors of the red, green, and blue phosphor plates, respectively. The red, green, and blue phosphor alignment marks 50, 52, and 54 are respectively the same and matched as described above.

여기서, 포토리소그래피(Photo Lithograpy)로 진행하는 공정, 즉 전극층(24), 격벽층(28), 형광체층(30,32,34) 포토리소그래피 시에는 각각의 포토마스크는 다음과 같이 짝맞춤 및 얼라인을 실시한다.Here, in the process of photolithography (Photo Lithograpy), that is, during the photolithography of the electrode layer 24, the partition layer 28, the phosphor layers 30, 32, 34, each photomask is matched and frozen as follows. Perform phosphorus.

즉, 전극층(24)은 전극포토마스크에 해당 하지층(22)과 동일한 얼라인마크 및 개수를 표시하여 해당 하지층(22)과 짝맞춤을 하여 얼라인하고, 격벽층(28)은 격벽 포토마스크에 해당 전극층과 동일한 얼라인마크 및 개수를 표시하여 해당 전극층과 짝맞춤을 하여 얼라인하고, 형광체층(30,32,34)은 적색, 녹색, 청색형광체 포토마스크 각각에 해당 격벽층과 얼라인마크 및 개수를 표시하여 해당 격벽층과 각각 짝맞춤을 하여 얼라인한다.That is, the electrode layer 24 displays the same alignment mark and number as that of the base layer 22 on the electrode photomask, aligns with the base layer 22 to align, and the partition layer 28 is the partition wall photo. The same alignment mark and number as that of the electrode layer are displayed on the mask to align with the electrode layer, and the phosphor layers 30, 32, and 34 are aligned with the corresponding barrier layer on each of the red, green, and blue phosphor photomasks. The mark and the number of marks are displayed to align with each of the partition walls.

그런데, 각 상하층 인쇄 및 소성공정 진행에 따라 해당층의 얼라인을 실제로 행할 경우 다음과 같은 여러 문제점이 발생하여 얼라인 보정을 실시하지 않을 수 없다.However, when the alignment of the corresponding layer is actually performed as the upper and lower layers are printed and fired, the following problems occur and the alignment correction cannot be performed.

즉, 실제 인쇄 작업시 각각 해당층의 스크린제판의 스크린 텐션변화, 사용 페이스트의 롯트별 특성 및 사용중 점도변화, 스크린프린터의 기계적인 오차 등이 발생하여 각 상하층의 얼라인이 설계, 또는 제판에 형성된 얼라인마크를 기준하여 상하좌우로 틀어지게 된다.In other words, the screen tension of the screen plate of the corresponding layer during the actual printing operation, the properties of each lot of the paste used, the viscosity change during use, the mechanical error of the screen printer occurs, so that the alignment of the upper and lower layers are designed or plated Based on the alignment mark formed, it is distorted up, down, left and right.

또한, 소다 라임 글라스 위에 형성된 각 층은 대부분 500℃가 넘는 열처리를 행하게 되므로 해서 변형이 일어나 상기 언급한 변형이 인쇄에 의한 변형과는 별개로 발생한다.In addition, since each layer formed on the soda lime glass is subjected to heat treatment over 500 ° C., most of the deformation occurs so that the above-described deformation occurs separately from the deformation by printing.

따라서 인쇄 및 소성에 의한 변형에 따라 얼라인 보정을 실시해야 한다.Therefore, alignment correction should be performed according to the deformation caused by printing and firing.

먼저, 인쇄에 의한 변형의 경우 도 5에 표시된 바와 같이 각 상하층 사이의 짝맞춤하는 얼라인마크들(70,70')이 한 지점에서 네 지점 사이에 1개∼4개 얼라인마크 불일치(짝맞춤하는 상하의 얼라인마크를 각각 1개씩만 하는 경우)에 따른 경우의 수 만큼 얼라인 불일치가 일어날 수 있다. 따라서 하지층에서 형광체층 사이의 인쇄 얼라인 불일치에 대응하여 균일하게 후면판 전체로 얼라인 할 수 있는 최상의 방법은 각 상하층의 인쇄 영역 종축중심선(72,72')과 횡축중심선(74,74') 끼리를 맞추는 것이다.First, in the case of deformation by printing, as shown in FIG. 5, the matching alignment marks 70 and 70 'between each upper and lower layers have one to four alignment mark mismatches between four points at one point. Alignment inconsistency may occur by the number of cases according to the case where only one upper and lower alignment mark is matched each other). Therefore, the best way to uniformly align the entire backplate in response to the misalignment between the underlayer and the phosphor layer is to print the vertical center line (72,72 ') and the horizontal center line (74,74) in the upper and lower layers. ') To match.

이렇게 함으로써, 얼라인 불일치에 대해 동일량으로 최대한 균등하게 얼라인 보정을 쉽게 할 수 있다.By doing so, it is easy to align the correction as evenly as possible with respect to the alignment mismatch.

이어 소성에 의한 변형의 경우, 특별히 문제 될 수 있는 것은 포토리소그래피 공정에 있어서, 포토리소그래피되는 대상과 해당 포토마스크의 얼라인 불일치이다. 좀더 상세히 말하면, 횡축 방향으로 기(旣) 패턴 형성층 위에 포토리소그래피를 하여 패턴을 형성하려는 공정에서 얼라인 보정을 할 필요가 있다는 것이다.(단, 하지층 위에 전극층을 포토리소그래피로 형성할 경우는 패턴 대 패턴 끼리의 얼라인 필요성이 상대적으로 떨어진다.)Then, in the case of deformation by plasticity, what may be particularly problematic is an alignment mismatch between the object to be photolithography and the corresponding photomask in the photolithography process. More specifically, it is necessary to align the correction in the process of forming a pattern by photolithography on the base pattern formation layer in the horizontal axis direction (however, in the case of forming the electrode layer on the underlying layer by photolithography, the pattern The need for alignment between large patterns is relatively low.)

즉, 전극층이 형성된 소성체 위에(보다 정확히는 유전체층 위에) 격벽 패턴을 형성하는 경우와 격벽층이 형성된 소성체 위에 형광체 패턴을 형성하는 경우이다.That is, the case where a partition pattern is formed on the baking body in which the electrode layer was formed (more exactly, on a dielectric layer), and the case where a phosphor pattern is formed on the baking body in which the partition layer was formed.

먼저 전극층과 격벽층 사이의 관계를 보면, PDP 후면판 구조로 볼 때 격벽들 사이에 전극이 위치하는 관계로 격벽층 포토리소그래피시 전극층과 얼라인이 필요하다. 그런데, 통상 소다 라임 글라스로 된 글라스기판 위에 하지소성, 전극소성, 유전체소성, 격벽소성의 순으로 열처리를 하는 경우 각 단계별로 소성을 거치게 될 때마다 본래의 글라스기판 길이보다 짧아지는 열수축 현상이 일어나게 된다. 즉표 1과 같은 결과를 얻을 수 있다.First, when the relationship between the electrode layer and the partition layer, in view of the PDP backplane structure, the electrode layer and the alignment of the electrode layer is required in the partition layer photolithography because the electrodes are located between the partition walls. However, when heat treatment is performed on a glass substrate made of soda-lime glass in the order of bottom plasticity, electrode plasticity, dielectric plasticity, and bulkhead plasticity, thermal shrinkage occurs that becomes shorter than the original glass substrate for each step of firing. do. That is, the result as shown in Table 1 can be obtained.

(단위 : ㎛)(Unit: μm) 하지 소성체Not plastic 전극 소성체Electrode plastic body 유전체 소성체Dielectric plastic 격벽 소성체Bulkhead plastic 비 고Remarks 최초 글라스 기판에서 단계별 적층후 글라스 횡축길이 수축량The amount of shrinkage of the glass transverse length after the initial stacking on the glass substrate -100∼-1000-100 to -1000 -20∼-300-20 to -300 -20∼-300-20 to -300 -20∼-300-20 to -300

여기서,here,

1) 사용 기판 : 소다 라임 글라스로 두께는 2.8t, 크기는 40인치임.1) Substrate: Soda lime glass, 2.8t thick and 40 inches in size.

2) 길이 측정 지점 : 전극 인쇄영역 바깥의 횡축 양 끝단부를 잇는 임의의 2지점2) Length measuring point: Any two points connecting the ends of the horizontal axis outside the electrode printing area

3) 각 단계별로 편차가 있는 것은 글라스기판 하나하나 마다의 특성차에 기인한 것으로 표 1은 평균값임.3) The variation in each step is due to the characteristic difference of each glass substrate. Table 1 is the average value.

즉, 상기와 같이 각 단계별로 소성을 거치게 되면 글라스기판은 수축이 일어나게 되며 이에따라 전극 패턴 형성 직후를 기준으로 격벽 소성을 거친 직후까지의 길이 수축량을 계산해 보면 -100∼-400㎛ 정도가 된다. 이를 40인치 VGA급의 단위 피치값인 420㎛와 상관해 고려하면 전극과 격벽이 제대로 얼라인 될 수 없음을 증명한다. 더구나 단위 피치가 더 작은 VGA급 이상의 고해상도에서는 더욱더 얼라인 불일치가 일어날 수 있음을 쉽게 알수 있다.That is, when the plastic substrate is subjected to the firing in each step as described above, the glass substrate shrinks. Accordingly, the length shrinkage of the glass substrate immediately after the partition wall firing based on the electrode pattern is about -100 to -400 μm. Taking this into consideration with the unit pitch value of 420 μm, which is equivalent to the 40-inch VGA class, it proves that the electrode and the partition cannot be properly aligned. Moreover, it is easy to see that alignment mismatch can occur at higher resolutions over VGA level with smaller unit pitch.

이때, 패턴 형성 지역의 종축으로도 변형이 일어나나 종축 방향으로는 상호 얼라인 상관성이 약해 그 효과를 무시할 수 있다.At this time, deformation occurs in the longitudinal axis of the pattern formation region, but the mutual alignment correlation is weak in the longitudinal axis direction, and the effect thereof can be ignored.

여기서, 격벽층과 형광체층의 경우는 전극층과 격벽층과의 관계와는 다르다.Here, the partition layer and the phosphor layer are different from the relationship between the electrode layer and the partition layer.

즉, 격벽층은 스크린프린트법 또는 샌드블라스트법에 의한 경우와는 다르게 이미 소성이 완료된 상태에서 격벽 가공이 되므로, 상기와 같이 횡축방향으로의 열수축을 고려할 필요가 없다. 따라서 소성에 의한 열수축으로 횡축 방향에 대한 형광체 포토마스크의 얼라인 보정은 필요없다.That is, since the partition layer is partitioned in the state where baking is already completed unlike the case of the screen printing method or the sand blasting method, it is not necessary to consider thermal contraction in the horizontal axis direction as described above. Therefore, alignment correction of the phosphor photomask in the horizontal axis direction is not necessary due to thermal contraction by firing.

상기의 사실을 바탕으로 소성 변형에 대응한 얼라인을 보정하기 위한 방법은 다음과 같다.Based on the above facts, a method for correcting the alignment corresponding to plastic deformation is as follows.

먼저, 포토리소그래피 공정에 있어서, 각각 전극층, 격벽층, 형광체층 형성을 위해 각각의 포토마스크와 포토레지스트가 코팅된 글라스기판의 해당층과의 노광을 위한 얼라인 보정이 필요하다. 즉, 상기 언급한 변형에 의해, 정확하게 각 해당 얼라인마크들이 일치하지 않기 때문에 인쇄에 의한 변형에 대응한 얼라인 보정과 마찬가지로 포토리소그래피 되는 대상과 해당 포토마스크의 횡축 및 종축 중심선과를 맞추어 보정하는 것이다.First, in the photolithography process, alignment correction for exposure of a corresponding photomask and a corresponding layer of a photoresist-coated glass substrate is required to form an electrode layer, a partition layer, and a phosphor layer, respectively. That is, according to the above-mentioned deformation, since each of the alignment marks does not coincide exactly, correction is performed by matching the photolithographic object with the horizontal axis and the vertical axis center line of the photomask as in the alignment correction corresponding to the deformation by printing. will be.

그러나, 상기 언급한 바와 같이, 포토리소그래피 시에는 종축 방향으로의 상호 얼라인 연관성이 약하고 또한 횡축 방향으로의 변형에 대한 고려가 필요하므로, 실제적으로는 포토리소그래피 되는 대상의 종축중심선과 해당 포토마스크의 종축중심선과를 맞추어 보정하면 된다.However, as mentioned above, in photolithography, since the mutual alignment in the longitudinal axis is weak and consideration must be given to the deformation in the transverse direction, in practice, the longitudinal axis of the photolithographic object and the corresponding photomask This can be corrected by matching the center line of the vertical axis.

이때 얼라인을 위한 짝맞춤시 노광 공정에 있어서, 포토마스크의 네가(Nega) 또는 포지(Posi) 타입에 따라 얼라인 작업의 용이성이 문제된다.At this time, in the alignment process for alignment for alignment, the ease of alignment operation is a problem depending on the negative or posi type of the photomask.

즉 전극층, 격벽층, 형광체층의 패턴 노광시 통상 노광기에 해당 포토마스크를 고정하고 해당 노광대상 기판을 거취대에 장착후 이동을 시켜 짝맞춤을 실시하게 되는데, 해당 포토마스크의 얼라인마크가 네가 패턴(Negative Pattern : 데이터가 있는 유효 폐도형 형상을 말함)(80)이 될 경우 해당 노광대상 기판의 얼라인마크와의 짝맞춤에 있어서, 얼라인마크 전체 크기가 식별이 잘 되지 않기 때문에 작업이 어렵게 된다. 따라서 해당 포토마스크의 얼라인마크는 도 6에 나타낸 바와 같이, 포지패턴(Positive Pattern : 데이터가 있는 유효 개도형 형상을 말함)(76)이 될 경우 상기 문제를 쉽게 해결 할 수 있다.That is, when the pattern of the electrode layer, the partition layer, and the phosphor layer is exposed, the photomask is fixed to the normal exposure machine and the substrate to be exposed is mounted on the mounting table, and then moved to perform a matching. The alignment mark of the photomask is negative pattern. (Negative Pattern: Refers to an effective closed drawing shape with data) (80) makes the operation difficult because the entire alignment mark is not easily identified in the alignment with the alignment mark of the substrate to be exposed. do. Therefore, when the alignment mark of the photomask becomes a positive pattern (representing an effective open shape having data) 76, the problem can be easily solved.

또한, 패턴유효부는 얼라인마크와 반대로 네가 패턴(80)으로 해야만 포토리소그래피후 전극층, 격벽층, 형광체층이 제대로 형성될 수 있다.In addition, the pattern effective portion must have the negative pattern 80 as opposed to the alignment mark so that the electrode layer, the partition layer, and the phosphor layer can be properly formed after photolithography.

따라서 해당 포토마스크의 패턴유효부는 네가패턴(80)으로 얼라인마크부는 포지패턴(76)으로 실시하는 것이 가장 적합하다.Therefore, it is most preferable to perform the pattern effective portion of the photomask with the negative pattern 80 and the alignment mark portion with the positive pattern 76.

이어 상기 언급한 소성 변형에 의한 전극과 격벽의 얼라인 보정에 있어서, 에칭용 격벽 포토마스크는 상기 표 1에 나타낸 바와 같은 열수축을 감안하여 얼라인 보정을 실시해야 한다.Subsequently, in the alignment correction of the electrode and the partition wall by the above-mentioned plastic deformation, the etching partition wall photomask should be aligned in consideration of thermal shrinkage as shown in Table 1 above.

즉, 전극 패턴 형성후에서 격벽 형성후 사이의 수축량을 고려하여 에칭용 격벽 포토마스크내 스트라이퍼(stripe : 전극 또는 격벽 패턴에 있어서 패턴 집합체를 이루고 있는 전극 또는 격벽 단위체)들마다 보정값을 주어야 한다.That is, in consideration of the shrinkage between the formation of the electrode pattern and the formation of the partition wall, a correction value must be given for each striper in the etching partition photomask (electrode or partition unit of the pattern assembly in the electrode or partition pattern).

이를 주기 위한 방법으로 동일량 분할 및 부분 변형량 분할 등이 있으나 부분 변형량 분할은 격벽 전체 지역을 n등분 분할하여 각 분할 지역마다 분할지수 X 부분 변형량을 격벽 스트라이퍼에 보정할 수 있는 방법이나 그 보정값이 포토마스크의 패턴을 묘화하는 플로팅(plotting)기의 묘화한계 하한이기 때문에 적용이 어렵다. 따라서 동일량 분할을 적용하여 기(旣) 측정한 전극패턴의 단계별 소성처리시의 변형량을 평균한 즉 총전극 패턴 횡축길이 변화량을 총격벽 스트라이퍼수 만큼 나누어 변형량을 계산하고 이 값을 전체 격벽 스트라이퍼들에 동일하게 보정하게되면 가장 간단하게 또한 전극 및 격벽간 얼라인 오차범위내로 얼라인 보정이 가능해진다.In order to provide this, there are the same amount division and the partial deformation division, but the partial deformation division divides the whole partition area n equally, so that the partition index X partial deformation amount can be corrected by the partition striper for each division area. Application is difficult because it is the lower limit of the drawing limit of the plotting machine for drawing the pattern of the photomask. Therefore, the amount of deformation during the stepwise firing of the electrode pattern measured by applying the same amount division was averaged, that is, the amount of deformation of the total electrode pattern horizontal axis length was divided by the number of total bulkhead strippers to calculate the amount of deformation. The same correction can be achieved in the simplest and also within the alignment error range between the electrode and the partition wall.

이상 설명한 바와 같이, 본 발명의 플라즈마 디스플레이 패널 후면판 제조 방법에 의하면, 각 기능층별 소성처리에 따른 소성횟수 증가로 인한 변형에 대응해 얼라인 보정이 가능하며, 인쇄상 발생하는 각종 얼라인 에러에 대응해 얼라인 보정 작업을 쉽게 할 수 있을 뿐만아니라 얼라인 에러 오차를 간단한 방법으로 쉽게 줄일수 있다. 또한, 스크린프린팅과 포토리소그래피를 적절히 사용하고 특히 소성체를 화학 에칭해 격벽을 가공하는 공정을 포함하는 PDP 후면판 제조방법에 대응해 얼라인하는 방법에 있어서, 얼라인 작업을 효율화할 수 있으며 동시에 PDP 후면판 전체적으로 얼라인 불일치가 없는 양품을 만들 수 있다. 그리고 격벽층 소성처리후 격벽 얼라인을 할수 있기 때문에 스크린프린팅법 및 샌드블라스터법 대비 격벽층 형성 전후 얼라인을 쉽게 할수 있는 매우 뛰어난 효과가 있다.As described above, according to the method of manufacturing a plasma display panel back plate of the present invention, alignment correction is possible in response to deformation caused by an increase in the firing frequency according to the firing process for each functional layer, and various alignment errors occurring in printing Correspondingly, the alignment correction can be easily performed, and the alignment error error can be easily reduced by a simple method. In addition, in the method of aligning to the PDP backplane manufacturing method, which includes screen printing and photolithography, and in particular, a process of chemically etching a fired body and processing a partition wall, the alignment operation can be made more efficient. It is possible to make a good product with no alignment mismatches throughout the PDP backplane. In addition, since the partition wall alignment can be performed after the barrier layer firing, the screen printing method and the sand blaster method have an excellent effect of easily aligning before and after the partition wall formation.

아울러 본 발명의 바람직한 실시예들은 예시의 목적을 위해 개시된 것이며, 당업자라면 본 발명의 사상과 범위 안에서 다양한 수정, 변경, 부가등이 가능할 것이며, 이러한 수정 변경등은 이하의 특허청구범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.In addition, preferred embodiments of the present invention are disclosed for the purpose of illustration, those skilled in the art will be able to various modifications, changes, additions, etc. within the spirit and scope of the present invention, these modifications and changes should be seen as belonging to the following claims. something to do.

Claims (9)

적어도 글라스 기판위에 하지층, 전극층, 유전체층, 격벽층, 적색형광체층, 녹색형광체층 및 청색 형광체층으로 구성되고,Composed of at least a base layer, an electrode layer, a dielectric layer, a partition layer, a red phosphor layer, a green phosphor layer and a blue phosphor layer on a glass substrate, 상기 하지층과 유전체층은 전면인쇄→건조→소성의 순으로 가공처리되고,The base layer and the dielectric layer are processed in the order of front printing → drying → firing, 상기 전극층과 형광체층은 패턴인쇄→건조→소성의 순에 의한 가공처리, 또는 전면인쇄→건조→포토리소그래피→소성에 의한 가공처리중 어느 하나로 행하고,The electrode layer and the phosphor layer may be subjected to any one of pattern printing → drying → firing, or full surface printing → drying → photolithography → firing. 상기 격벽층은 전면인쇄→건조→소성→포토리소그래피의 순으로 가공처리하도록 하는 플라즈마 디스플레이 패널 후면판 제조 방법에 있어서,In the method of manufacturing a plasma display panel back plate to the barrier layer is processed in the order of front printing → drying → baking → photolithography, 상기 전면인쇄 또는 패턴인쇄 공정시에는,In the front printing or pattern printing process, 상기 하지층을 상기 글라스기판과 얼라인하는 단계와,Aligning the underlying layer with the glass substrate; 상기 전극층을 상기 하지층과 얼라인하는 단계와,Aligning the electrode layer with the base layer; 상기 유전체층을 상기 전극층과 얼라인하는 단계와,Aligning the dielectric layer with the electrode layer; 상기 격벽층을 상기 유전체층과 얼라인하는 단계와,Aligning the barrier layer with the dielectric layer; 상기 적색, 녹색, 청색형광체층을 순차적으로 상기 격벽층과 각각 얼라인하는 단계를 수행하고,Aligning the red, green, and blue phosphor layers sequentially with the barrier layer, 상기 건조체 또는 소성체 위의 포토리소그래피 공정시에는,In the photolithography process on the dry or fired body, 상기 하지층과 동일한 얼라인마크를 가지는 전극용 포토마스크로 상기 하지층과 얼라인하는 단계와,Aligning with the underlying layer with an electrode photomask having the same alignment mark as the underlying layer; 상기 전극층과 동일한 얼라인마크를 가지는 격벽용 포토마스크로 상기 전극층과 얼라인하는 단계와,Aligning the electrode layer with a barrier photomask having the same alignment mark as that of the electrode layer; 상기 격벽층과 동일한 얼라인마크를 가지는 형광체용 포토마스크로 상기 격벽층과 얼라인하는 단계를 수행하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널 후면판 제조 방법.And aligning the barrier layer with a phosphor photomask having the same alignment mark as the barrier layer. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 전면인쇄 또는 패턴인쇄는,The front printing or pattern printing, 상기 글라스기판위에 적층된 어느 특정한 층을 n층이라고 하고 그 밑층을 n-1층이라고 할 때,When a specific layer laminated on the glass substrate is called n-layer and its lower layer is called n-1 layer, 상기 n층의 인쇄는, n층에 해당하는 기능층을 더미인쇄하는 단계와,The printing of the n-layer, dummy printing a functional layer corresponding to the n-layer, 상기 더미인쇄 위치를 얼라인용 카메라에 인식시키는 단계와,Recognizing the dummy printing position in an alignment camera; 상기 n-1층이 형성된 소성체를 투입하여 얼라인용 카메라에 그 위치를 인식시켜 상기 n-1층과 상기 n층을 얼라인하여 n층에 해당하는 기능층을 인쇄하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널 후면판 제조 방법.And inserting the fired body in which the n-1 layer is formed to recognize the position of the n-1 layer and the n layer to print the functional layer corresponding to the n layer. The plasma display panel backplane manufacturing method. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 인쇄에 의한 변형으로 각 상하층 사이의 얼라인마크가 불일치할 경우,When the alignment mark between the upper and lower layers is inconsistent due to the deformation caused by the printing, 상층의 인쇄영역 종축 및 횡축 중심선과 하층의 인쇄영역 종축 및 횡축 중심선을 일치시켜서 얼라인 보정을 하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널 후면판 제조 방법.And aligning the upper and lower print area vertical and horizontal axis center lines of the upper layer and the lower printing area vertical and horizontal axis center lines to perform alignment correction. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 소성에 의한 변형으로 상기 전극층과 에칭용 격벽 포 마스크와의 얼라인마크가 불일치할 경우,When the alignment mark between the electrode layer and the etching barrier rib mask is inconsistent due to the deformation caused by the firing, 상기 전극층의 종축중심선과 상기 에칭용 격벽 포 마스크의 종축중심선을 일치시켜서 얼라인 보정을 하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널 후면판 제조 방법.And aligning the longitudinal center line of the electrode layer with the longitudinal center line of the etching barrier rib fabric mask, thereby performing alignment correction. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 소성에 의한 변형으로 상기 격벽층과 형광체층 포토 마스크와의 얼라인마크가 불일치할 경우,When the alignment mark between the barrier rib layer and the phosphor layer photomask is inconsistent due to deformation caused by the firing, 상기 격벽층의 종축중심선과 상기 형광체층 포토마스크의 종축중심선을 일치시켜서 얼라인 보정을 하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널 후면판 제조 방법.And aligning the longitudinal center line of the barrier layer with the longitudinal center line of the phosphor layer photomask, thereby performing alignment correction. 제 1 항 또는 제 4 항에 있어서,The method according to claim 1 or 4, 상기 전극용 포토 스크에서, 전극 유효부를 네가 패턴으로, 얼라인마크부를 포지 패턴으로 형성시키는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널 후면판 제조 방법.In the electrode photosk, a plasma display panel backplane manufacturing method characterized by forming an electrode effective portion in a negative pattern and an alignment mark portion in a positive pattern. 제 1 항 또는 제 4 항에 있어서,The method according to claim 1 or 4, 상기 에칭용 격벽 포토마스크에서, 격벽 유효부를 네가 패턴으로, 얼라인마크부를 포지 패턴으로 형성시키는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널 후면판 제조 방법.In the etching barrier rib photomask, a partition effective portion is formed in a negative pattern, and an alignment mark portion is formed in a positive pattern. 제 1 항 또는 제 5 항에 있어서,The method according to claim 1 or 5, 상기 형광체용 포토마스크에서, 형광체 유효부를 네가 패턴으로, 얼라인마크부를 포지 패턴으로 형성시키는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널 후면판 제조 방법.In the phosphor photomask, a plasma display panel back panel manufacturing method comprising forming a phosphor effective portion in a negative pattern and an alignment mark portion in a positive pattern. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 에칭용 격벽 포토마스크는 "총전극 패턴의 횡축길이 변화량÷총 격벽 스트라이퍼 수" 만큼의 변형량을 전체 격벽 스트라이퍼들에 동일하게 분할 보정하여 전극패턴과 격벽패턴을 얼라인 하도록 하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널 후면판 제조 방법.The etching barrier photomask includes a step of aligning the electrode pattern and the barrier rib pattern by equally dividing and correcting the amount of deformation equal to the total variation of the transverse length of the total electrode pattern ÷ the total barrier striper stripper to all the barrier rib strippers. A plasma display panel backplane manufacturing method.
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