KR100268307B1 - Structure of lcd active panel and its fabrication method - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 액정표시장치 액티브패널의 구조 및 그 제조방법에 관한 것으로, 특히 액정표시장치 액티브패널의 게이트배선과 데이터 배선 및 스위칭소자를 형성한 후 화소전극을 형성하는 공정에 있어서, 상기 화소전극 형성 공정에 의해 발생하는 게이트 배선의 데미지(damage)를 방지하기 위한 액정표시장치 액티브패널의 구조 및 제조 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE
일반적으로, 액정표시장치(LCD : liquid crystal display)는 도 1에 도시된 바와 같이 칼라필터패널(30)과 액티브패널(10) 그리고, 상기 두 패널(10, 20) 사이에 채워져 있는 액정(22) 등으로 구성되어 있다. 상기 두 패널(10, 30)의 각 외면에는 가시광선을 선편광 시켜주는 편광판(11, 31)이 각각 부착되어 있다. 즉, 상기 칼라필터패널(30)의 한쪽 면에 편광판(31)이 부착되어 있고, 편광판(31)이 부착되지 않은 반대 면은 칼라필터(32)와 공통전극(33)을 포함하여 구성된다. 또한 상기 액티브패널(10)의 한쪽 면에 편광판(11)이 부착되어 있고, 편광판(11)이 부착되지 않은 반대 면은 다수의 게이트버스라인(12)과 다수의 데이터버스라인(13), 스위칭소자(A) 그리고, 화소전극(16) 등을 포함하여 구성된다.In general, a liquid crystal display (LCD) includes a
상기 액티브패널(10)의 구조를 도 2에 도시된 개략도를 참조하여 설명하면 다음과 같다. 상기 액티브패널(10)은 다수의 게이트버스라인(12)과 게이트버스라인 패드부(12b), 다수의 데이터버스라인(13)과 데이터버스라인 패드부(13b), 스위칭소자(A) 그리고, 화소전극(16)을 포함하여 구성된다. 이때 상기 다수의 게이트버스라인(12)은 서로 평행한 구조를 이루며, 상기 다수의 데이터버스라인(13)은 상기 다수의 게이트버스라인(12)과 서로 직교하여 매트리스 구조를 이룬다. 그리고 상기 게이트버스라인(12)과 데이터버스라인(13)이 서로 직교하여 이루는 소정의 영역에는, 게이트버스라인(12)에서 분기되는 게이트전극(12a)과 상기 데이터버스라인(13)에서 분기되는 소스전극(13a)과 그 소스전극(13a)과 대향하여 위치하는 드레인전극(13c)으로 구성되는 TFT 스위칭소자(A)가 위치하며, 상기 화소전극(16)은 접촉홀(15)을 통해 상기 스위칭소자(A)의 출력단자인 상기 드레인전극(13c)과 전기적 접속을 이룬다.The structure of the
상술한 바와 같은 액정표시장치 액티브패널의 제조 공정을, 도 2의 a-a 절단부의 제조공정을 나타내는 도 3a~도 3g 단면도와, 도 2의 b-b 절단부 제조 공정을 나타내는 도 4a~도 4f 단면도를 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.The manufacturing process of the liquid crystal display active panel as described above is described with reference to FIGS. 3A to 3G showing the manufacturing process of the aa cutout portion of FIG. 2 and FIGS. 4A to 4F showing the bb cut portion manufacturing process of FIG. 2. It will be described in detail as follows.
유리기판 등을 이용한 투명기판(11) 위에 알루미늄(Al), 알루미늄(Al)계 합금(Al-Pd, Al-Si, Al-Si-Ti, Al-Si-Cu 등) 중 어느 하나를 증착하여 제 1금속층을 형성한다. 상기 제 1금속층을 제 1마스크 공정으로 패턴하여, 다수의 게이트버스라인(12)과, 게이트 전극(12a) 등을 상기 투명기판(11) 위에 형성한다(도 3a, 도 4a).By depositing any one of aluminum (Al), aluminum (Al) -based alloys (Al-Pd, Al-Si, Al-Si-Ti, Al-Si-Cu, etc.) on the
상기 다수의 게이트버스라인(12)과 게이트전극(12a) 등을 포함하는 액정표시장치 기판에 계면특성이 좋고, 절연 내압이 높은 SiNx 또는, SiOx을 이용하여 절연물질층(17')을 형성한다. 상기 절연물질층(17') 위에 다결정 실리콘(a-Si) 등의 순수 반도체물질(18')과 불순물을 도핑(doping)한 불순물 반도체물질(19')을 연속으로 증착한다(도 3b, 도 4b).The insulating material layer 17 'is formed on the liquid crystal display substrate including the plurality of
상기 절연물질층(17')과 순수 반도체물질층(18'), 불순물 반도체물질층(19')을 제 2마스크 공정으로 패턴하여 게이트절연막(17)과, 순수반도체층(18) 그리고, 오믹접촉을 위한 불순물반도체층(19:오믹접촉층)을 형성한다(도 3c, 도 4c).The insulating material layer 17 ', the pure semiconductor material layer 18', and the impurity semiconductor material layer 19 'are patterned by a second mask process to form a
상기 게이트절연막(17)과 순수반도체층(18) 그리고 불순물반도체층(19)을 포함하는 기판에 알루미늄(Al), 알루미늄(Al)계 합금(Al-Pd, Al-Si, Al-Si-Ti, Al-Si-Cu 등) 중 어느 하나를 증착하여 제 2금속층을 형성한다. 상기 제 2금속층을 제 3마스크 공정으로 패턴하여 상술한 상기 게이트버스라인(12)의 형성방향과 수직한 방향을 지닌 다수의 데이터버스라인(13)과 그 데이터버스라인(13)에서 분기되는 소스전극(13a)을 형성하고, 상기 소스전극(13a)과 대향하는 위치에서 출력단자로써의 기능을 수행하는 드레인전극(13c)을 형성한다(도 3d, 도 4d). 이때 상기 데이터버스라인(13) 하층의 게이트절연막(17), 순수반도체층(18) 및, 불순물반도체층(19)은 상기 데이터버스라인(13)과 거의 같은 폭으로 형성되며, 상기 데이터버스라인(13)의 버퍼층으로써 작용한다.Aluminum (Al), aluminum (Al) -based alloys (Al-Pd, Al-Si, Al-Si-Ti) on a substrate including the
상기 게이트버스라인(12), 데이터버스라인(13) 그리고, 게이트전극(12a), 반도체층(18, 19), 소스전극(13a), 드레인전극(13c) 등을 포함하는 액정표시장치 기판에 SiNx, SiOx, BCB(Benzocyclobutene) 등의 절연물질을 도포하여 보호막(20)을형성한다(도 3e, 도 4e).The
상기 보호막(20)의 하단에 존재하는 스위칭소자의 출력단자인 드레인전극(13c)의 일부가 노출되도록 제 4마스크 공정에 의해, 상기 보호막(20)의 일부를 제거하여 접촉홀(15)을 형성한다(도 3f).The
상술한 공정이 완료된 액정표시장치 기판의 전면에 스퍼터링법 등을 이용하여 ITO(Indium Tin Oxide)막을 증착한다. 그리고, 제 5마스크 공정에 의해 상기 ITO막을 소정의 패턴으로 식각한다. 상기 ITO막의 패턴 형성으로 인해 상기 접촉홀(15)을 통해 스위칭소자의 출력단자인 드레인전극(13c)과 접속되는 화소전극(16)을 형성한다(도 3g, 도 4f). 상술한 각 일련의 과정에 의해 액정표시장치 액티브패널의 부분 제조공정이 이루어진다.An indium tin oxide (ITO) film is deposited on the entire surface of the liquid crystal display substrate having the above-described process by using a sputtering method or the like. The ITO film is etched in a predetermined pattern by a fifth mask process. Due to the pattern formation of the ITO film, the
그러나, 그러한 종래의 제조공정에 따른 액정표시장치 액티브패널의 구조에 의하면, 도 4f에 도시된 바와 같이 게이트버스라인(12)과 데이터버스라인(13)의 교차부분에 있어서, 화소전극(16) 가장자리부와 데이터버스라인(13) 가장자리부 사이에는 소정의 거리가 유지된다.However, according to the structure of the liquid crystal display active panel according to the conventional manufacturing process, as shown in FIG. 4F, the
그로 인해 보호막(20)의 상단에 ITO막을 증착하고 패턴하는 과정에 의해 상기 보호막(20)의 표면이 에칭 되거나, 크랙이 발생하게 된다. 이때, 상기 ITO막을 패턴하기 위한 에천트는, 특히 도 5의 확대도에 도시된 바와 같이, ITO막의 패턴 가장자리부와 데이터버스라인(13) 가장자리부 사이 보호막(20)의 크랙발생부(B)로 스며들게 되고, 보호막(20)의 하단에 존재하는 게이트버스라인(12)의 표면을 식각하게 되어 상기 게이트버스라인 데미지부(B')를 발생시키게 된다. 그로 인해 상기 게이트버스라인(12)이 단선되는 등의 문제가 발생한다.Therefore, the surface of the
따라서, 본 발명은 상기와 같은 문제점을 해소하기 위하여 발명된 것으로, 액정표시장치 액티브패널의 제조과정에 있어서, ITO막을 패턴하기 위한 에천트에 의해 보호막 하단에 위치하게 되는 게이트버스라인(12)이 단선되는 문제를 해결하기 위한 액정표시장치 액티브패널의 구조 및 제조방법을 제공하는데 그 목적이 있다.Accordingly, the present invention has been invented to solve the above problems. In the manufacturing process of the liquid crystal display active panel, the
제1도는 일반적인 액정표시장치 구조를 나타내는 개략도.1 is a schematic view showing a structure of a general liquid crystal display device.
제2도는 일반적인 액정표시장치 액티브패널의 구조를 나타내는 개략도.2 is a schematic view showing the structure of a typical liquid crystal display active panel.
제3a도~제3g도는 제2도의 a-a 절단부 제조공정을 나타내는 단면도.3A to 3G are sectional views showing the a-a cut part manufacturing process in FIG.
제4a도~제4f도는 제2도의 b-b 절단부 제조공정을 나타내는 단면도.4A to 4F are cross-sectional views showing the manufacturing process of the b-b cut part of FIG.
제5도는 제4f도의 부분확대도.5 is a partially enlarged view of FIG. 4f.
제6도은 본 발명의 일 실시예에 따른 액정표시장치 액티브패널의 구조를 나타내는 개략도.6 is a schematic view showing a structure of an active panel of a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention.
제7a도~제7e도는 본 발명의 일 실시예에 따른 액정표시장치 액티브패널 c-c 단면부의 제조공정을 나타내는 단면도.7A to 7E are cross-sectional views illustrating a manufacturing process of a cross-section of an active panel of a liquid crystal display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
〈도면의 주요부분에 대한 부호의 설명〉<Explanation of symbols for main parts of drawing>
10 : 액티브패널 11, 31 : 편광판10:
11, 110 : 투명기판 12, 120 : 게이트버스라인11, 110:
12a, 120a : 게이트전극 13, 130 : 데이터버스라인12a, 120a:
13a, 130a : 소스전극 13c, 130c : 드레인전극13a, 130a:
15, 150 : 접촉홀 16, 160 : 화소전극15, 150:
17, 170 : 게이트절연막 17', 170" : 절연물질층17, 170:
18, 180 : 순수반도체층 18', 180" : 순수 반도체물질층18, 180:
19, 190 : 불순물반도체층 19', 190' : 불순물 반도체물질층19, 190: impurity semiconductor layer 19 ', 190': impurity semiconductor material layer
20, 200 : 보호막 22 : 액정20, 200: protective film 22: liquid crystal
30 : 칼라필터패널 32 : 칼라필터30: color filter panel 32: color filter
33 : 공통전극 A : 스위칭소자33: common electrode A: switching element
B : 크랙발생부 B' : 데미지부B: Crack generating part B ': Damage part
C1, C2 : 크로스(cross)부C1, C2: cross section
이러한 목적을 달성하기 위해 본 발명에 따른 액정표시장치 액티브패널은, 기판; 상기 기판 위에 서로 평행하게 형성되는 다수의 게이트버스라인; 상기 게이트 버스라인과 교차하는 다수의 데이터버스라인; 상기 데이터버스라인의 하층에 연속증착되어 소정의 폭을 지니도록 패턴되는 버퍼층; 그리고, 상기 게이트버스라인과 데이터버스라인이 교차하여 이루는 소정의 영역에 위치하는 화소전극을 포함하고, 상기 버퍼층은 상기 화소전극의 가장자리부와 겹치는 것을 특징으로 한다. 즉, 상기 버퍼층은 근접한 두 화소전극의 가장자리 사이의 거리보다 큰 폭을 지니는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the liquid crystal display active panel according to the present invention includes a substrate; A plurality of gate bus lines formed parallel to each other on the substrate; A plurality of data bus lines intersecting the gate bus lines; A buffer layer continuously deposited on the lower layer of the data bus line and patterned to have a predetermined width; And a pixel electrode positioned in a predetermined region where the gate bus line and the data bus line intersect, and the buffer layer overlaps an edge of the pixel electrode. In other words, the buffer layer has a width larger than the distance between the edges of two adjacent pixel electrodes.
또한 상기 기판은 상기 게이트버스라인으로부터 분기된 게이트전극과, 상기 데이터버스라인으로부터 분기되는 소스전극과 드레인전극, 그리고 상기 소스전극과 드레인전극의 하층과 상기 게이트버스라인과 상기 게이트전극 상층에 위치하는 게이트절연막, 상기 게이트절연막 위에 위치하는 순수반도체층 및 불순물반도체층을 포함하는 것을 특징으로 한다. 이때 상기 버퍼층은 게이트절연막, 순수반도체층, 불순물반도체층의 패턴에 의해 형성되는 것을 특징으로 한다.The substrate may further include a gate electrode branched from the gate bus line, a source electrode and a drain electrode branched from the data bus line, a lower layer of the source electrode and a drain electrode, and an upper layer of the gate bus line and the gate electrode. And a pure semiconductor layer and an impurity semiconductor layer on the gate insulating layer. In this case, the buffer layer is formed by a pattern of a gate insulating film, a pure semiconductor layer, an impurity semiconductor layer.
[실시예]EXAMPLE
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 6에는 본 발명의 일 실시예에 따른 액정표시장치 액티브패널의 구조를 나타내기 위한 개략도가 도시되며, 도 7a~도 7e에는 그 액정표시장치 액티브패널의 제조공정에 따른 c-c단면부 제조공정을 나타내는 단면도가 도시된다.6 is a schematic view showing the structure of an active liquid crystal display panel according to an exemplary embodiment of the present invention, and FIGS. 7A to 7E illustrate a process of manufacturing a cc cross-section according to a manufacturing process of the active liquid crystal display panel. A cross-sectional view is shown.
유리기판 등을 이용한 투명기판(110) 위에 알루미늄(Al), 알루미늄(Al)계 합금(Al-Pd, Al-Si, Al-Si-Ti, Al-Si-Cu 등) 중 어느 하나를 증착하여 제 1금속층을 형성한다. 상기 제 1금속층을 제 1마스크 공정으로 패턴하여, 다수의 게이트버스라인(120)과 게이트 전극(120a)을 상기 투명기판(110) 위에 형성한다(도 7a, 도 6).By depositing any one of aluminum (Al), aluminum (Al) -based alloys (Al-Pd, Al-Si, Al-Si-Ti, Al-Si-Cu, etc.) on the
상기 다수의 게이트버스라인(120)과 게이트전극(120a)을 포함하는 액정표시장치 기판에 계면특성이 좋고, 절연 내압이 높은 SiNx 또는, SiOx을 이용하여 절연물질층(170')을 형성한다. 상기 절연물질층(170') 위에 다결정 실리콘(a-Si) 등의 순수 반도체물질(180')과 불순물이 도핑(doping)된 불순물 반도체물질(180')을 연속으로 증착한다(도 7b, 도 6).The insulating
상기 절연물질층(170')과 순수 반도체물질층(180'), 불순물 반도체물질층(190')을 제 2마스크 공정으로 패턴하여 게이트절연막(170)과, 순수반도체층(180) 그리고, 오믹접촉을 위한 불순물반도체층(19:오믹접촉층)으로 이루어진 버퍼층을 형성한다(도 7c, 도 6).The insulating material layer 170 ', the pure semiconductor material layer 180', and the impurity semiconductor material layer 190 'are patterned by a second mask process to form a
상기 버퍼층(170, 180, 190)을 포함하는 기판에 알루미늄(Al), 알루미늄(Al)계 합금(Al-Pd, Al-Si, Al-Si-Ti, Al-Si-Cu 등) 중 어느 하나를 증착하여 제 2금속층을 형성한다. 상기 제 2금속층을 제 3마스크 공정으로 패턴하여 상술한 상기 게이트버스라인(120)의 형성방향과 수직한 방향을 지닌 다수의 데이터버스라인(130)과 그 데이터버스라인(130)에서 분기되는 소스전극(130a)이 형성되고, 상기 소스전극(130a)과 대향하는 위치에서 출력단자로써의 기능을 수행하는 드레인전극(130c)이 형성된다. 이때 상기 데이터버스라인(130)은 상기 소정의 폭 이상으로 패턴된 버퍼층 상층에 위치하며, 상기 데이터버스라인(130)의 가장자리부와 하층의 버퍼층(170, 180, 190) 가장자리부 사이에는 소정의 간격이 유지된다(도 7d, 도 6).Any one of aluminum (Al), aluminum (Al) -based alloys (Al-Pd, Al-Si, Al-Si-Ti, Al-Si-Cu, etc.) on the substrate including the buffer layers 170, 180, 190 Deposited to form a second metal layer. The second metal layer is patterned by a third mask process, and a plurality of
상기 게이트버스라인(120), 데이터버스라인(130) 그리고, 게이트전극(120a), 반도체층(180, 190), 소스전극(130a), 드레인전극(130c) 등을 포함하는 액정표시장치 기판에 SiNx, SiOx, BCB(Benzocyclobutene) 등의 절연막을 도포하여 보호막(200)을 형성한다. 그리고 도면에 도시되지는 않았지만, 상기 보호막의 하단에 존재하는 스위칭소자의 출력단자인 드레인전극(170c)의 일부가 노출되도록 제 4마스크 공정에 의해, 상기 보호막의 일부를 제거한다. 상기 보호막의 제거에 의해 접촉홀(150)을 형성한다.The
상술한 공정이 완료된 액정표시장치 기판의 전면에 스퍼터링법 등을 이용하여 ITO(Indium Tin Oxide) 막을 증착한다. 그리고, 제 5마스크 공정에 의해 상기 ITO막을 패턴한다. 이때, 상기 ITO막은 상기 데이터버스라인(130) 하단부에 형성되는 게이트절연막(170) 순수반도체층(180) 및 불순물반도체층(180)의 가장자리부와 소정의 크로스(cross)부(C1, C2)를 지닌다. 상기 ITO막 패턴에 의해 화소전극(160)이 형성된다(도 7e, 도 6).An indium tin oxide (ITO) film is deposited on the entire surface of the liquid crystal display substrate having the above-described process by using a sputtering method or the like. Then, the ITO film is patterned by a fifth mask process. In this case, the ITO film is formed at the lower end of the
상술한 일련의 과정에 의해 상기 버퍼층(170, 180, 190)의 폭이, 근접한 화소전극의 가장자리부 사이의 거리보다 큰 폭을 지니는 액정표시장치 액티브패널의 제조공정이 이루어진다.By the above-described series of processes, a process of manufacturing an active panel of a liquid crystal display device in which the width of the buffer layers 170, 180, 190 has a width larger than the distance between edges of adjacent pixel electrodes is performed.
이상에서 설명한 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치 액티브패널의 구조 및 제조방법에 의하면, 도 7e에 도시된 바와 같이 데이터버스라인(130)의 하층에서 게이트절연막(170), 순수반도체층(180) 및, 불순물반도체층(180)으로 이루어진 버퍼층은, 화소전극(160)의 가장자리부와 소정의 크로스부(C1, C2)를 지닌다.According to the structure and manufacturing method of the liquid crystal display active panel according to the embodiment of the present invention described above, as shown in Figure 7e, the
따라서, 보호막(200)의 상단에 ITO막을 증착하고 패턴하는 과정에 의해 상기 보호막(200)의 표면이 에칭 되거나 크랙이 발생하여, 상기 ITO막을 패턴하기 위한 에천트가 ITO막의 패턴가장자리부에 존재하는 보호막(200)의 크랙발생부로 스며들게 되더라도, 보호막(200)의 하단에 존재하는 게이트버스라인(120)의 표면을 식각하지 못하게 된다. 그로 인해 상기 게이트버스라인(120)이 ITO의 에천트에 의해 단선되는 문제를 해결하는 효과가 있다.Therefore, the surface of the
이상에서 첨부된 도면을 참조하여 본 발명을 일 실시예에 의해 구체적으로 설명하였지만, 본 발명은 이에 의해 제한된 것은 아니고, 당업자의 통상적인 지식의 범위 내에서 그 변형이나 개량이 가능하다.Although the present invention has been described in detail with reference to the accompanying drawings, the present invention is not limited thereto, and modifications and improvements are possible within the scope of ordinary knowledge of those skilled in the art.
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