KR100226953B1 - 다수의 도막을 포함하는 다이아몬드 및 이의 제조방법 - Google Patents

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Abstract

결합 특성이 우수한 다이아몬드 요소, 및 다이아몬드 기재와 탄화크롬의 제 1 층으로 도포 및 결합시키고, 티탄을 함유하는 제 2 층을 상기 제 1 층에 결합시키고, 금속 할라이드를 사용하는 CVD 기술에 의해 부착된 텅스텐 또는 몰리브덴의 제 3 층을 제 2 층에 결합시킴을 특징으로 하여 다이아몬드 요소를 제조하는 방법에 대해 기술하였다. 제 2 층은 텅스텐 또는 몰리브덴이 CVD 부착되는 동안 할라이드-함유 기체의 부식에 대해 탄화크롬을 보호하는 작용을 한다.

Description

다수의 도막을 포함하는 다이아몬드 및 이의 제조방법
본 발명은 매트릭스 유지성이 개선된, 다수의 도막을 포함하는 다이아몬드에 관한 것이다.
다이아몬드는 톱질, 천공, 드레싱(dressing) 및 연마 적용시 광범위하게 사용된다. 다이아몬드는 통상적으로 기구 동체 (tool body)에 연결된 니켈, 구리, 철, 코발트, 또는 주석, 또는 이들의 합금의 매트릭스에 기계적으로 고정시키거나 결합시킨다. 상기 매트릭스는 또한 페놀 포름알데히드와 같은 수지를 포함할 수도 있다.
다이아몬드가 연마 그릿(grit)의 형태로 존재할 경우, 이는 종종 그릿을 에워싸고 이를 적소에 고정시킨 매트릭스의 형태로 매트릭스에 기계적으로 결합되어 있다. 간단하고 실용적이긴 하나, 주변의 매트릭스가 사용되는 동안 마멸되기 때문에, 기계적 결합력은 상당히 약화되고 그릿이 손실되기 쉽다. 그릿 보존도는, 그릿을 매트릭스에 깊이 함침시켜 그릿이 거의 노출 되지 않도록 함으로써 개선시킬 수 있으나, 이는 절단능을 감소시킨다. 통상적인 톱날에의 적용시, 다이아몬드 그릿의 평균 노출도는 그릿의 총 높이의 20% 미만이다. 그릿의 손실은 그릿의 1/3 이상이 노출될 정도로 지지 매트릭스가 마멸된 경우 심각한 문제를 유발시킬 수 있다. 최초 다이아몬드 그릿의 2/3 정도 이하가 조기에 손실되기 때문에 상기한 절단기구의 평균 수명은 단축된다.
미합중국 특허 제 3,871,840호로부터, 다이아몬드 입자상의 텅스텐 도막은, 청동 또는 청동 합금과 같은 매트릭스재의 다이아몬드 입자에 대한 부착능을 향상시킴으로써 결과적으로 마멸, 절단 또는 연마 용도로 기구를 사용하는 동안 입자를 기구내에서 보존시키는 상기 매트릭스재의 수행능을 향상시키는 것으로 밝혀졌다.
또한, 그릿 유지성을 개선시키려는 시도에 있어서, 카바이드를 형성하는 전이금속(예 : 티탄 또는 지르코늄)으로 다이아몬드 입자를 도포하는 방법은 공지되어 있다. 도막의 내부면은 다이아몬드와 함께 카바이드를 형성한다. 그후, 산화성이 적은 금속(예 : 니켈 또는 구리)의 제 2 층을 적용하여 내부층이 산화되는 것을 방지할 수 있다.
크롬과 같은 내부층과 니켈과 같은 외부층을 포함하는, 이중층-도포된 다이아몬드의 인장 시험 결과는 내부 금속층과 외부 금속층간의 계면이 파쇄됨을 나타낸다. 이 는, 니켈은 합금을 형성하지 않거나, 그렇지 않으면 기저카바이드에 잘 결합되지 않고 이중층-도포된 그릿은 전체 그릿 보존도를 상당히 개선시키지는 못함을 의미한다. 또한, 니켈 도포 공정을 수행하는 동안 내부 크롬층의 산화에 의해 결합력이 약화될 수 있다.
다이아몬드 입자는 금속 증착에 의해 티탄, 망간, 크롬, 바나듐, 텅스텐, 몰리브덴 또는 니오브로 도포시킬 수 있는 것으로 공지되어 있다. 그러나, 상기한 카바이드 형서체들은 수 차례 고응력 적용시 그릿 보존도를 개선시킬 정도로 다이아몬드 결정에 충분히 강하게 결합되지 않거나, 산화되기 쉬운 것으로 밝혀졌다. 상기에서 논의한 바와 같이, 내부층이 산화되는 것을 방지하기 위해 사용된 외부 금속층은 내부층에 적당히 결합되지 못한다.
본원에 참조 문헌으로서 인용된, 일반 양도된, 계류중인 미합중국 특허원 제 07 / 261,236호에 기술된 바와 같이, 다이아몬드 입자를 우선 크롬으로 도포시킨 후 화학적 증착법에 의해 크롬상에 텅스텐을 부착시킴으로써 매트릭스와 다이아몬드 입자간의 결합력을 더욱 개선시키려는 시도가 이루어져왔다. 통상적인 CVD 기술은 크롬-도포된 다이아몬드로 하여금 증기 중에서 부양(levitation) 또는 텀블링(tumbling)하게 만든다. 상기한 증기는 통상적으로 6불화 텅스텐으로 구성되어 있다. 그러나, 상기 공정에 의해 양호한 결과가 수득되기는 하나, 불행히도 불소-함유 기체가 크롬-함유 도막과 바람직하지 못하게 반응하여 불화크롬을 생성시키는 경향이 있는 것으로 밝혀졌다. 따라서, 6불화 텅스텐을 사용하는 CVD 부착법에 있어서, 적층계의 강도는 탄화크롬과 텅스텐층간에 존재하는 불화크롬에 의해 제한된다.
본 발명에 의해, 크롬층을 먼저 기재상에 부착시켜 탄화 크롬층을 형성한 다음 티탄층을 상기 탄화크롬층상에 부착시킴으로써 다이아몬드의 유지성을 개선시킬 수 있는 것으로 밝혀졌다. 그후, 티탄-함유층을 질화시켜 질화 티탄을 함유하는 층을 형성하고, 최종적으로, 텅스텐 또는 몰리브덴 층을 질화티탄 함유층의 상부에 부착시킨다. 예기치 않게도, 질화티탄을 함유하는 중간층은 기저 탄화크롬 및 상부의 텅스텐 모두에 잘 결합될 뿐만 아니라 텅스텐 부착 공정 동안 탄화크롬 상에서 할라이드(예 : 불소)-함유 기체의 부식(attack)에 대해 보호벽을 형성한다.
본 발명의 방법에 따라, 다이아몬드는 크롬을 포함하는 제 1 금속 도막층으로 도포시킨다. 상기 크롬은 다이아몬드와 반응하여 기저 다이아몬드에 화학적으로 결합된 탄화크롬 함유층을 생성시킨다. 바람직한 결과를 제공하는 도막의 두께는 0.05μ 이상인 것이 바람직한 것으로 연구자들에 의해 밝혀졌다.
크롬층을 부착시키고 탄화크롬을 형성시킨 후, 탄화 크롬 외부에 티탄-함유층을 형성시킨다. 그후, 티탄을 질화시킴으로써 힐라이드(예 : 불소)-함유 기체와의 반응에 대해 티탄을 불활성화시킨다. 일단 질화되면, 입자를, 할라이드 (불소)-함유 기체에 노출시키는 화학적 증착법에 의해, 텅스텐 또는 몰리브덴, 바람직하게는 텅스텐과 같은 전이 금속 원자 도료를 질화티탄의 상부에 위치시킨다.
크롬층을 초기 부착시키는데 다수의 대체 방법들을 이용할 수 있다. 한가지 방법으로는, 금속 증착(MVD)에 의해, 다이아몬드 표면상에 크롬을 부착시킴으로써 도포시키는 방법이 있다. MVD에 있어서, 미세 분말 크롬층을 도포될 다이아몬드와 혼합시킨 후 약 10-6torr 진공하에 600 내지 700℃정도의 승온에서 1시간 이상 동안 노 (furnace)에서 가열시킨다. 상기한 처리를 통해 크롬 분말을 다이아몬드 표면상의 균칠층중 다이아몬드 표면상에서 증발시키고 재부착시킨다. 공정을 수행하는 동안, 입자들이 서로 접착되는 것을 방지하기 위해 교반시킬 수 있다. 크롬 분말의 입자 크기는 325 그릿 크기와 비슷한 것이 바람직하다. 크롬 분말을 염화수소로 컨디셔닝시킴으로써 도포 공정을 보조한다. 또한, 상기 도포 공정은 메탄 기체 대기 또는 기타 비-산화 대기 (예 : 아르곤 또는 수소)중에서 수행할 수 있다. 다른 부착 방법을 이용하여 제 1 크롬층을 적용시킬 수 있다.
또 다른 방법으로서, 다이아몬드와 크롬 분말을 예를 들어 NaCl, CaCl2및 KCl을 함유하는 염욕에서 혼합시킴으로써 크롬 도막을 적용시킬 수 있다. 그후, 상기 배합물을 약 650℃ 이상의 온도에서 약 5분 동안 함침시켜 크롬을 용융염욕 중에서 용해시키면, 크롬은 다이아몬드 결정상에서 층을 형성한다.
상기한 바와 같이, 크롬층 전체는 다이아몬드 입자의 탄소와 화학적으로 반응하여 다이아몬드에 결합된 탄화 크롬 (Cr3C2)을 형성하는 것으로 간주한다. 상기 결합은 다이아몬드의 탄소와 카바이드층간의 원자-대-원자 결합인 것으로 생각된다.
크롬층의 두께는 0.05 내지 1μ인 것이 바람직하나, 5μ 까지는 허용 가능하고, 0.05 내지 0.30μ이 가장 바람직하다. 금속/카바이드 층이 너무 얇으면, 후속의 금속 도막이 다이아몬드의 표면에 확산되어, 크롬을 치환시키거나 다이아몬드와 더 약한 결합을 형성할 수 있다. 결합에 적합한 탄화크롬 연속 도막을 보장하는 도막의 최소 두께는 약 0.05μ인 것으로 밝혀졌다.
철 오염도가 0.1% 미만인 99.8% 순도의 크롬 금속 분말과 혼합된, 표시 직경이 500μ인 다이아몬드 그릿(Cerac, Inc에 의해 C-1221이라는 상표명으로 시판)을 사용하여, 720℃ 및 10-5torr 하에서 4 내지 6시간 동안 MVD 공정을 수행하면, 0.05μ 이상의 크롬 도막이 제공된다. 770℃에서 2시간 동안 MVD 공정을 수행하면 0.10 내지 0.40μ의 도막이 수득된다. 820℃ 및 870℃에서 2시간 동안 MVD 공정을 수행하면, 각각 0.03 내지 0.50μ 및 0.50 내지 0.80μ의 도막이 수득된다. 920℃에서 1시간 동안 MVD 공정을 수행하면, 약 1μ 두께의 도막이 수득된다.
후속의 티탄-함유층을 형성하는데 있어서, 티탄 도막을 10-5torr 진공하에 900℃에서 6시간 동안 상기와 유사한 MVD 공정에 적용시킨다. 티탄 분말을 다이아몬드와 1:1 중량비로 혼합시키고, 티탄 3g당 0.1ml의 진한 HC1을 가한 후, 혼합하기 전에 건조시킨다. 바람직하게, 티탄을 0.1μ 이상의 두께로 부착시킨다. 10μ 이하의 두께가 적합하며, 10μ을 초과하는 두께는 도포에 의해 생긴 응력하에서 균열의 우려가 있는 것으로 생각된다. 티탄-함유층이 형성되면, 도포된 그릿을 질소(N2) 대기하에 약 1,000℃에서 2시간 동안 가열시킨다. 상기 가열 공정은 티탄-함유층의 최상부로 하여금 질소와 결합하여 질화 티탄을 형성케한다. 또한, 티탄은 물리적 증착 [스퍼터링 (sputtering)] 또는 CVD 공정으로 부착시킬 수도 있다.
최종적으로, 제 3 의 최상부 텅스텐 또는 몰리브덴-함유 도막층을 화학적 증착 또는 물리적 증착법으로 적용시킬 수 있다. 금속 증착은 바람직하지 못한데, 이는 공정을 수행 하는데 요구되는 고온이 다이아몬드를 분해시키기 쉽기 때문이다.
텅스텐층을 적용시키기 위한 가장 바람직한 방법은 다이아몬드 표면상에서 6불화 텅스텐과 같은 금속 화합물을 환원시키는 방법을 포함하는 화학적 증착이다[참조 : 미합중국 특허 제 3,757,878호(Wilder)]. CVD가 바람직한데, 이는 다수의 다이아몬드 분획을 균질하게 도포시키기가 쉽고 텅스텐을 부착시키는데 사용할 수 있는 온도가 비교적 저온이기 때문이다. 본 발명의 방법에 있어서, CVD는 통상적으로 환원성 대기하에 7torr 및 700℃에서 15 내지 90분 동안 수행한다. 텅스텐은 상기한 최상층용으로 바람직한 금속인데, 이는 텅스텐이 코발트, 니켈 및 통상적으로 사용되는 용침 합금(예 : Cu-Zn-Ni)과 같이 통상의 매트릭스제와 양호하게 결합하기 때문이다. 상기한 최상층의 텅스텐은 매트릭스재와의 고용체(solid solution)로서 확산 및 형성됨으로써 상기한 매트릭스재와 결합할 수 있다. 또한, 매트릭스의 유형에 따라 매트릭스와 금속간 결합할 수 있다.
텅스텐층의 두께는 5 내지 50μ인 것이 바람직하며 30μ 이하인 것보다 바람직하다. 박층 도막은 다소의 적용 방법 및 조건에 따라 적합시킬 수 있다. 예를 들어, CVD는 액체 합금에 침투할 수 있는 다소의 원주상 텅스텐 도막을 제공할 수 있다. 따라서, 도막은 내부 금속층을 후속의 바람직하지 못한 반응으로부터 적합하게 보호하기에 충분히 두꺼워야 한다.
[실시예]
1/2 캐럿(carat) 단결정 다이아몬드 20개를 325메쉬 크롬 분말 6g과 혼합시킨다. 크롬 분말 200g을 물 72cc 및 36% HCl 6cc 로 1시간 동안 처리한 후, 배수시키고 건조시킨다. 그후, 상기 분말과 다이아몬드의 혼합물을 관상 노(tube furnace)내에서 메탄 대기하에 800℃에서 1시간 동안 가공 시킨다. 상기 공정은 균질한 탄화크롬 층을 제공한다.
그후, 탄화크롬 도포된 다이아몬드를, 크롬에 대해 상기한 바와 유사한 방법으로 HCl로 예비 처리한, 325메쉬 티탄 분말과 혼합시킨다. 그후, 티탄과 다이아몬드 혼합물을 고진공 노중에서 900℃하에 6시간 동안 가공시킨다. 이 시간 동안 노를 약 10-5torr 진공하에서 유지시킨다. 그후, Ti/Cr- 도포된 다이아몬드를 질소 대기하에 1,000℃에서 2시간 동안 정치시켜, 티탄-함유층을 적어도 부분적으로 질화티탄(TiN)으로 전환시킨다. 특정이론으로 제한하려는 것은 아니다. 상기 티탄 도막은 탄화크롬 층의 탄소와 상호 작용하여 탄화 크롬과 바로 인접한 내부 탄화티탄 층을 형성하는 것으로 생각된다. 또한, 상기 도막의 탄화티탄과 질화티탄 사이에 탄화/질화티탄[Ti(CxNy)]을 포함하는 중간 전이층이 존재할 수도 있다.
최종적으로, Cr/Ti-도포된 다이아몬드를 CVD 실에 위치시키고 텅스텐을 사용하여 30μ의 두께로 도포시킨다. 상기한 30μ의 두께는, 다이아몬드를 기구 몸체(tool shank)에 결합시키기 위한 후속 공정에서 통상적으로 사용되는 통상의 용침 결합제(예 : Cu/Ni 기재 합금)중에 존재하는, 원소들의 이탈에 대한 확산벽으로서 효과적으로 작용하도록 만드는데 필요한 텅스텐층의 두께인 것으로 간주된다. 용침 결합이 아닌 고온 가압 공정이 사용되는 기술로 설정될 경우, 텅스텐층은 5μ 정도로 얇을 수도 있다.
상기한 바와 같이 도포된 1/2 캐럿 다이아몬드를 정교한 연마 숫돌차 기구 동체의 작동말단부에 도입시킨다. 그후, 암모니아 대기하에 1000℃에서 20분 동안 구리-아연-니켈 합금으로 용침시킨 텅스텐 분말로 팩킹(packing)시킨다. 시험시, 다이아몬드가 놓여 있는 기구 몸체가 다이아몬드의 최대 둘레 미만으로 마모된 후일지라도 다이아몬드는 기구내에 그대로 보존된다. 유사 조건하에 도포되지 않은 다이아몬드 또는 크롬-함유층 및 텅스텐으로 도포된 다이아몬드의 경우, 기구 몸체가 동일한 정도로 마모되었을 때, 다이아몬드는 기구로부터 떼어진다.

Claims (14)

  1. (a) 다이아몬드 기재, (b) 다이아몬드 기재에 결합된, 탄화크롬을 포함하는 제 1 층, (c) 제 1 층에 결합된, 크롬 또는 제 3 층에 포함된 전이 원소(여기서, 전이 원소는 텅스텐 또는 몰리브덴이다)를 제외한 원소를 포함하는 제 2 층 및, (d) 제 2 층에 결합된, 전이 원소를 포함하는 제 3 층을 포함하는, 결합 특성이 우수한 다이아몬드 요소(element).
  2. 제1항에 있어서, 제 2 층이 할라이드 부식에 대해 내성을 갖는 화합물을 포함하는 다이아몬드 요소.
  3. 제2항에 있어서, 제 2 층이 티탄 화합물을 포함하는 다이아몬드 요소.
  4. 제3항에 있어서, 티탄 화합물이 질화티탄을 포함하는 다이아몬드 요소.
  5. 제1항에 있어서, 제 3 층이, 공급물질로서 할라이드를 사용하는 화학적 증착에 의해 부착된 다이아몬드 요소.
  6. (a) 다이아몬드 기재, (b) 다이아몬드 기재에 화학적으로 결합된, 탄화 크롬을 포함하는 제 1 층, (c) 제 1 층에 화학적으로 결합된, 크롬 또는 제 3 층에 포함된 전이 원소(여기서, 전이 원소는 텅스텐 또는 몰리브덴이다)를 제외한 원소를 포함하는 제 2 층, (d) 제 2 층에 화학적으로 결합된, 전이 원소를 포함하는 제 3 층, 및 (e) 제 3 층에 결합된 바디(body)를 포함하는, 고정된 다이아몬드 요소를 함유하는 제품.
  7. 제6항에 있어서, 제 2 층이 할라이드 부식에 대해 내성을 갖는 화합물을 포함하는 제품.
  8. 제7항에 있어서, 제 2 층이 티탄 화합물을 포함하는 제품.
  9. 제8항에 있어서, 티탄 화합물이 질화티탄을 포함하는 제품.
  10. 제6항에 있어서, 제 3 층이, 공급물질로서 할라이드를 사용하는 화학적 증착에 의해 부착된 제품.
  11. 제6항에 있어서, 바디가 구리-아연-니켈 합금이 용침된 텅스텐 매트릭스를 포함하는 제품.
  12. (a) 탄화크롬을 포함하는 제 1 층을 다이아몬드 요소에 부착시키는 단계, (b) 크롬 또는 제 3 층에 포함된 전이 원소 (여기서, 전이 원소는 텅스텐 또는 몰리브덴이다)를 제외한 원소를 포함하며, 할라이드의 부식에 대해 내성을 갖는 제 2 층을 다이아몬드 요소에 부착시키는 단계, 및 (c) 전이 원소를 포함하는 제 3 층을 할라이드 기체의 존재하에 화학적 증착에 의해 다이아몬드에 부착시키는 단계를 포함하여, 기재에 견고하게 결합될 수 있는 다이아몬드 요소를 제조하는 방법.
  13. 제12항에 있어서, 제 2 층을 부착시키는 단계가, 티탄층을 부착시키고 할라이드의 부식에 대해 티탄을 불활성화하는 단계를 포함하는 방법.
  14. 제13항에 있어서, 불활성화 단계가 티탄을 질화시킴을 포함하는 방법.
KR1019910012305A 1990-07-20 1991-07-19 다수의 도막을 포함하는 다이아몬드 및 이의 제조방법 KR100226953B1 (ko)

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