KR100212193B1 - Space division switch course test device of full electrical switching system - Google Patents
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Abstract
본 발명은 전전자 교환기의 공간 분할 스위치 겨로 시험 장치에 관한 것으로, 특히 전전자 교환기의 온라인 또는 오프라인 모든 경우에 대해 링크나 시분할 스위치 등 PCM(Pulse Coded Modulation)데이터의 경로 시험을 가능하도록 한 전전자 교환기의 공간분할 스위치 경로 시험 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a test device for the space-switched switch of the electronic switchboard, and in particular, the electronic device that enables the path test of pulse coded modulation (PCM) data such as a link or a time-sharing switch in all cases of the electronic switchboard, whether online or offline. A space division switch path test apparatus of an exchanger.
본 발명의 목적은 전전자 교환기의 공간분할 스위치의 스위칭 시험이 시스템의 라인 상태뿐만 아니라 오프 상태에서도 사용자에 의한 특정 패턴 데이터의 입력으로 가능하도록 하는 장치를 제공하여 안정되고 신뢰성 있는 시스템을 구현하고자 한다. 이에 따라 사용자가 프로세서에서 발생시킨 패턴 데이터 또는 링크로부터 링크 정합 입력측으로 입력된 PCM 데이터를 프로세서에서 직접 비교하고 처리하기에 에러가 발생될 확률이 떨어지며 시스템이 완성되지 않은 상태에서도 공간분할 스위치 단독으로 경로시험을 할 수가 있어 시스템에 대한 신뢰성이 향상된다.It is an object of the present invention to provide a device that enables a switching test of a space split switch of an all-electronic exchanger to input specific pattern data by a user in the off state as well as the line state of the system, thereby implementing a stable and reliable system. . As a result, the processor is less likely to generate an error to directly compare and process the PCM data input from the link or the pattern data generated by the processor to the link matching input side. Tests can be made to improve the reliability of the system.
Description
본 발명은 전전자교환기의 공간 분할 스위치 경로 시험 장치에 관한 것으로, 특히 전전자 교환기의 온라인 또는 오프라인 모든 경우에 대해 링크나 시분할 스위치 등 PCM(pulse coded Modulation) 데이터의 경로 시험을 가능하도록 한 전전자 교환기의 공간분할 스위치 경로 시험 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a space split switch path test apparatus of an electronic switchgear, and in particular, an electronic switch that enables a path test of pulse coded modulation (PCM) data such as a link or a time-sharing switch in all cases of online or offline of an electronic switchgear. A space division switch path test apparatus of an exchanger.
일반적인 전전자 교환기의 공간분할 스위치 경로 시험 장치의 구성은 제1도와 같이 입력 링크(1)를 통해 들어온 PCM데이터를 인터페이스하는 입력링크 정합부(2)와, 입력링크 정합부(2)로부터 데이터를 받아 공간분할 스위칭을 실현하는 공간분할 스위칭부(3)와 공간분할 스위칭부(3)에 의해 스위칭된 데이터를 출력 링크(5)로 보내는 출력링크 정합부(4)와 입력링크 정합부(2)로부터 현재 스위칭될 특정 채널의 PCM데이터와 공간분할 스위칭부(3)에서 스위칭되어 출력링크 정합부(4)로부터 전해진 시험용 특정 채널의 PCM 데이터를 비교하는 비교부(6)와, 비교부(6)의 비교결과를 모니터 상에 디스플레이되도록 하는 프로세서(7)을 포함한다.The configuration of a space-switched switch path test apparatus of a general electronic switching system includes an input link matching unit (2) for interfacing the PCM data entered through the input link (1) and the input link matching unit (2). An output link matching section 4 and an input link matching section 2 for transmitting the data switched by the space division switching section 3 and the space division switching section 3 to the output link 5 in order to realize the space division switching. A comparison section 6 and a comparison section 6 for comparing the PCM data of a specific channel to be currently switched from the PCM data of the test specific channel transmitted from the output link matching section 4 and switched by the spatial division switching section 3; It includes a processor (7) for displaying the comparison result of on the monitor.
즉, 입력링크 정합부(2)에서는 링크(1)로부터 입력되어진 PCM 데이터의 특정 채널을 잡아서 비교부(6)에 전송하고, 이 시험용 특정 채널은 공간분할 스위칭부(3)에 의해 스위칭된 후 출력링크 정합부(4)에서 비교부(6)로 송신된다.That is, the input link matching section 2 captures a specific channel of PCM data input from the link 1 and transmits it to the comparison section 6, and this test specific channel is switched by the space division switching section 3 It is sent from the output link matching section 4 to the comparing section 6.
이에 비교부(6)에서는 입출력 링크 정합부(2)(4)에서 각각 송신되어 온 두 PCM데이타를 비교하여 비교 결과가 같으면 '로우'신호를, 다르면 '하이'신호를 프로세서(7)로 송신한다.The comparison unit 6 compares the two PCM data transmitted from the input / output link matching units 2 and 4, respectively, and transmits a 'low' signal to the processor 7 if the comparison result is the same and a 'high' signal to the other. do.
결국 프로세서(7)는 비교부(6)에서 보내온 비교 결과 신호를 확인해서 모니터 상에 에러 메시지를 출력시키거나 시험 결과 정상 신호를 출력시키게 한다.As a result, the processor 7 checks the comparison result signal sent from the comparator 6 to output an error message on the monitor or to output a normal signal as a result of the test.
그런데, 전술된 시험 장치에 의해서는 프로세서(7)가 입출력 링크 정합부(2)(4)와 직접 PCM 데이타를 주고 받지 않고 비교부(6)에서 처리 후 그 결과만 받기 때문에 시험 결과에 오류가 발생될 가능성이 있고, 또한 프로세서(7)에서는 PCM 데이터가 어떠한 형태인지도 알 수 없다.However, according to the above-described test apparatus, the processor 7 receives only the result after processing in the comparator 6 without directly exchanging PCM data with the input / output link matching unit 2 or 4, so that the test result has an error. There is a possibility that it will be generated, and also the processor 7 does not know what form the PCM data is.
그리고 시스템이 모두 완성되어 음성 가입자의 PCM 데이터가 입력링크 정합부(2)로 수신되었을 경우, 즉 온라인 상태에서만 시험 가능하며, 개발 단계에서의 경로시험이나 공간분할 스위치 자체만의 경로 시험은 불가능하다.When the system is completed and the PCM data of the voice subscriber is received by the input link matching unit 2, that is, it can be tested only in the online state, and the path test in the development stage or the path test only for the space splitting switch itself is impossible. .
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 전전자 교환기의 공간분할 스위치의 스위칭 시험이 시스템의 온라인 상태뿐만 아니라 오프 상태에서도 사용자에 의한 특정 패턴에 데이터의 입력으로 가능하도록 하는 장치를 제공하여 안정되고 신뢰성 있는 시스템 구현을 목적으로 한다.In order to solve the above problems, the present invention is stable by providing a device that enables a switching test of a space split switch of an electronic switchboard to input data into a specific pattern by a user in the off state as well as the online state of the system. It aims to implement a reliable system.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명은 전전자교환기의 공간분할 스위치 경로 시험 장치에 있어서, 오프라인에서는 오프라인 선택시호와 특정 패턴 데이터를 출력하면서 시험채널 선택신호를 출력해서 스위칭 전 특징 채널의 특정 패턴 데이터와, 스위칭 후 특정 패턴 데이터를 비교하여 그 비교 결과를 모니터 상에 디스플레이하고 온라인에서는 온라인 선택신호와 시험체널 선택신호를 출력해서 인가받은 스위칭 전 특정 채널에 PCM 데이터와 스위칭 후 PCM 데이터를 비교하여 그 비교 결과를 모니터 상에 디스플레이 하는 프로세서와, 온라인에서는 상기 프로세서로 부터의 온라인 선택신호와 시험채널 선택신호에 따라 입력 링크로 부터의 PCM 데이터 중에서 선택된 특정채널의 PCM 데이터를 상기 프로세서로 보냄과 함께 공간분할 스위칭부에 출력하고, 오프라인에서는 상기 프로세서로부터 입력받은 특정 패턴 데이터를 상기 프로세서로 부터의 시험채널 선택신호에 의해 선택된 특정 채널에 출력해서 상기 공간분할 스위치에 출력하는 입력링크 정합부와; 상기 공간부할 스위칭부에서 스위칭된 PCM 데이터를 출력링크로 전해줌과 함께 상기 프로세서로 전해주고, 상기 공간분할 스위칭부에서 스위칭된 특정 패턴 데이타를 상기 프로세서로 전해주는 출력링크 정합부를 포함하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the present invention provides a space-switched switch path test apparatus for an all-electronic exchange, wherein the test channel selection signal is output while the offline selection signal and the specific pattern data are output offline, After the switching, the specific pattern data is compared and displayed on the monitor, and the online selection signal and the test channel selection signal are output online, and the PCM data is compared with the PCM data after the switching to the specific channel before switching. A processor that displays the results on a monitor, and online divides the PCM data of a specific channel selected from PCM data from an input link according to an online selection signal and a test channel selection signal from the processor and spatially divides them. Output to the switching unit, An input link matching unit for outputting the specific pattern data received from the processor to a specific channel selected by the test channel selection signal from the processor and outputting the specific pattern data to the spatial division switch; And an output link matching unit which delivers the PCM data switched by the space load switching unit to an output link and delivers the specific pattern data switched by the space division switching unit to the processor. It is done.
제1도는 일반적인 전전자 교환기의 공간분할 스위치 경로 시험 장치의 구성도.1 is a block diagram of a space division switch path test apparatus of a general electronic switch.
제2도는 본 발명의 전전자 교환기의 공간분할 스위치 경로 시험 장치의 구성도.2 is a block diagram of a space division switch path test apparatus of the electro-electric exchanger of the present invention.
제3도는 제2도에서 입력링크 정합부의 구성도.3 is a configuration diagram of an input link matching unit in FIG.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings
10, 50 : 링크 20 : 입력링크 정합부10, 50: link 20: input link matching unit
21 : 셀렉터 22 : 래치부21: selector 22: latch portion
30 : 공간분할 스위칭부 40 : 출력링크 정합부30: space division switching unit 40: output link matching unit
60 : 프로세서60: processor
이하 본 발명의 일실시예를 첨부 도면을 참조로 하여 좀 더 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described in more detail with reference to the accompanying drawings.
제2도는 전전자 교환기의 공간분할 스위치 경로 시험 장치의 구성도이고, 제3도는 제2도에서 입력링크 정합부의 구성도이다.FIG. 2 is a configuration diagram of a space division switch path test apparatus of an electronic switching system, and FIG. 3 is a configuration diagram of an input link matching section in FIG.
제2도에 따른 본 발명의 구성은 프로세서(60)와, 입력링크 정합부(20)와, 공간분할 스위칭부(30)와, 출력링크 정합부(40)를 포함한다.The configuration of the present invention according to FIG. 2 includes a processor 60, an input link matching unit 20, a space division switching unit 30, and an output link matching unit 40.
상기 프로세서(60)는 시스템의 현재 동작 상태에 따라 온/오프라인 선택신호를 발생하고, 오프라인에서는 시험용 특정 패턴 데이터를 생성하여 출력하면서 시험용 채널을 선택하고, 모든 온/오프라인에서 스위칭 전 특정 채널의 데이터와 스위칭후 데이터를 비교하여 그 비교 결과를 모니터 상에 디스플레이하도록 한다.The processor 60 generates an on / offline selection signal according to the current operating state of the system, selects a test channel while generating and outputting test pattern data while offline, and selects data of a specific channel before switching in all on / offlines. Compare the data after switching with and display the result of the comparison on the monitor.
상기 입력링크 정합부(20)은 온라인에서는 입력 링크(10)로부터 PCM 데이터를 받아 프로세서(60)의 시험채널 선택신호에 의해 선택된 특정 채널의 PCM 데이터를 공간 분할 스위칭부(30)에 출력하면서 상기 프로세서(60)로 보내고 오프라인에서는 상기 프로세서(60)로부터 특정 패턴 데이터를 입력받아 프로세서(60)의 시험채널 선택신호에 의해 선택된 특정 채널을 통해 해당 특정 패턴 데이터를 공간분할 스위칭부(30) 전해준다.The input link matching unit 20 receives PCM data from the input link 10 online and outputs PCM data of a specific channel selected by the test channel selection signal of the processor 60 to the spatial division switching unit 30. Sending to the processor 60, the offline receives the specific pattern data from the processor 60 and delivers the specific pattern data through the specific channel selected by the test channel selection signal of the processor 60, the spatial division switching unit 30 .
상기 공간분할 스위칭부(30)는 상기 입력링크 정합부(20)에서 전해진 PCM 데이터와 특정 패턴 데이터를 해당 경로로 공간분할 스위칭시킨다.The space division switching unit 30 performs space division switching of the PCM data transmitted from the input link matching unit 20 and specific pattern data to a corresponding path.
상기 출력링크 정합부(40)는 상기 공간분할 스위칭부(30)에서 스위칭된 PCM 데이터를 출력 링크(50)로 전해주면서 특정 채널의 PCM 데이터를 상기 프로세서(60)로 전해주고, 상기 공간분할 스위칭부(30)에서 스위칭된 특정패턴 데이터를 상기 프로세서(60)로 전해준다. 그리고 제3도에 따른 상기 입력링크 정합부(20)의 구성은 셀렉터(21)와, 래치부(22)를 포함한다.The output link matching unit 40 transmits PCM data of a specific channel to the processor 60 while transmitting the PCM data switched by the space division switching unit 30 to the output link 50, and the space division switching. The specific pattern data switched by the unit 30 is transmitted to the processor 60. The configuration of the input link matching unit 20 according to FIG. 3 includes a selector 21 and a latch unit 22.
상기 셀렉터(21)는 상기 프로세서(60)로부터 입력된 온/오프라인 선택신호에 따라 입력 링크(10)로부터 오는 PCM 데이터와 상기 프로세서(60)에서 전해진 특정 패턴 데이터중 하나를 선택하여서 상기 프로세서(60)로부터 입력된 시험 채널 선택신호에 따라 선택된 특정 채널에 출력시켜 상기 공간분할 스위칭부(30)로 출력한다.The selector 21 selects one of the PCM data coming from the input link 10 and the specific pattern data transmitted from the processor 60 according to the on / offline selection signal input from the processor 60. A specific channel selected according to the test channel selection signal input from) is output to the space division switching unit 30.
상기 래치부(22)는 상기 프로세서(60)의 온라인 선택신호에 의해 인네이블되어 온라인 상태에서만 상기 셀렉터(21)에서 선택된 특정 채널의 PCM 데이터를 상기 프로세서(60)로 출력하다.The latch unit 22 is enabled by the online selection signal of the processor 60 and outputs PCM data of a specific channel selected by the selector 21 to the processor 60 only in an online state.
상기와 같은 구성으로 이루어진 본 발명의 동작은 다음과 같다.Operation of the present invention having the configuration as described above is as follows.
우선, 온라인 상태에서의 프로세서(60)에 의한 시험 동작을 설명한다.First, the test operation by the processor 60 in the online state will be described.
온라인 상태에서는 프로세서(60)에서 입력링크 정합부(20)의 셀렉터(21)로 온라인 선택신호와 시험 채널 선택신호를 보낸다.In the online state, the processor 60 sends an online selection signal and a test channel selection signal to the selector 21 of the input link matching unit 20.
이에 입력 링크(10)로부터 입력링크 정합부(20)로 전해진 PCM 데이터는 셀렉터(21)에서 특정 채널의 PCM 데이터가 선택되어 공간분할 스위칭부(30)로 출력되면서 동시에 프로세서(60)의 온라인 선택신호에 의해 출력 인네이블 상태에 있는 래치부(22)를 통해 프로세서(60)로 전해진다.Accordingly, the PCM data transmitted from the input link 10 to the input link matching unit 20 is selected by the selector 21, and the PCM data of a specific channel is selected and output to the space division switching unit 30 while simultaneously selecting the online of the processor 60. The signal is transmitted to the processor 60 through the latch portion 22 in the output enable state.
이후, 공간분할 스위칭부(30)에서 스위칭되어 출력링크 정합부(40)로 전해진 특정 채널의 PCM 데이터는 해당 경로의 가입자에게 전해지기 위해 출력 링크(50)로 출력 되면서 공간분할 스위칭부(30)의 시험 결과를 확인하기 위해 프로세서(60)로도 출력된다.Thereafter, the PCM data of a specific channel switched by the space division switching unit 30 and transmitted to the output link matching unit 40 is output to the output link 50 to be transmitted to the subscriber of the corresponding path, and the space division switching unit 30 is provided. It is also output to the processor 60 to check the test results of.
이에 프로세서(60)에서는 입력링크 정합부(20)에서 전해진 스위칭 전 PCM 데이터와 출력링크 정합부(40)에서 전해진 스위칭 후 PCM 데이터를 비교하여 그 비교 결과가 같으면 정상임을 확인하고 다르면 공간분할 스위칭부(30)에 이상이 있음을 모니터상에 디스플레이한다.The processor 60 compares the PCM data before switching transmitted from the input link matching unit 20 with the PCM data after switching transmitted from the output link matching unit 40 and confirms that the comparison result is normal. It is displayed on the monitor that there is an error in (30).
반면, 오프라인 상태에서의 프로세서(60)에 의한 시험동작은 다음과 같다.On the other hand, the test operation by the processor 60 in the offline state is as follows.
이때 오프라인 상태란 것은 시스템의 개발 단계에서 공간분할 스위청(30)의 동작상태를 시험할 경우를 뜻하는 것으로, 입력 링크(10)나 출력 링크(50)로 데이터의 입출력은 없게 된다.In this case, the off-line state refers to a case in which the operation state of the space dividing sweeper 30 is tested in the development stage of the system, and there is no input / output of data to the input link 10 or the output link 50.
이에 프로세서(60)에서 시험용 특정 패턴 데이터를 생성하여 이를 입력링크 정합부(20)로 보내야만 한다.Therefore, the processor 60 should generate test-specific pattern data and send it to the input link matching unit 20.
이 특정 패턴 데이타는 프로세서(60)에서 입력링크 정합부(20)로 보낸 오프라인 선택신호와 시험 채널 선택신호에 따라 특정 채널을 통해 공간분할 스위칭부(30)로 출력한다.The specific pattern data is output to the spatial division switching unit 30 through the specific channel according to the offline selection signal and the test channel selection signal sent from the processor 60 to the input link matching unit 20.
그런데, 이때 입력링크 정합부(20)의 셀렉터(21)는 해당 특정 패턴 데이터를 시험 채널 선택신호에 의해 선택되는 특정 채널에 출력하고, 해당 특정 패턴 데이터는 프로세서(60)에서 생성된 것이므로 입력링크 정합부(20)의 래치부(22)는 인네이블 될 필요가 없다.However, at this time, the selector 21 of the input link matching unit 20 outputs the specific pattern data to the specific channel selected by the test channel selection signal, and the specific pattern data is generated by the processor 60, so the input link The latch portion 22 of the mating portion 20 need not be enabled.
즉, 프로세서(60)로부터 입력된 오프라인 선택신호에 의해 래치부(22)는 출력 디저블되어 셀렉터(21)에서 선택된 특정 패턴 데이터가 입력되더라도 프로세서(60)로 출력시키지는 않는다.That is, the latch unit 22 does not output to the processor 60 even if the specific pattern data selected by the selector 21 is inputted by the offline selection signal input from the processor 60.
이에 셀렉터(21)에서 선택된 특정 패턴 데이터는 공간분할 스위칭부(30)에서 스위칭되어 출력링크 정합부(40)로 전해진다.The specific pattern data selected by the selector 21 is switched by the space division switching unit 30 and transmitted to the output link matching unit 40.
이렇게 스위칭 된 시험용 채널의 특징 패턴 데이터는 출력링크 정합부(40)에 의해 프로세서(60)로 전달된다.The feature pattern data of the switched test channel is transmitted to the processor 60 by the output link matching unit 40.
이에 프로세서(60)에서는 스위칭 전 특정 패턴 데이터와 출력링크 정합부(40)에서 전해진 스위칭 후 데이터를 비교하여 그 비교 결과가 같으면 정상임을 확인하고, 다르면 공간분할 스위칭부(30)에 이상이 있음을 모니터 상에 디스플레이 한다.Accordingly, the processor 60 compares the specific pattern data before switching with the data after switching transmitted from the output link matching unit 40 and confirms that the comparison result is normal, and if it is different, the space division switching unit 30 is abnormal. Display on the monitor.
이상에서 살펴본 바와 같이 사용자가 프로세서에서 발생시킨 패턴 데이터 또는 링크로부터 링크정합입력측으로 입력된 PCM데이타를 프로세서에서 직접 비교하고 처리하기에 에러가 발생될 확률이 떨어지며 시스템이 완성되지 않은 상태에서도 공간 분할스위치 단독으로 경로 시험을 할 수가 있어 시스템에 대한 신뢰성이 향상된다.As described above, the PCM data input from the pattern data or the link generated by the processor to the link matching input side is directly compared with the processor, and the probability of error occurs is reduced. The path test can be done by itself, improving the reliability of the system.
Claims (2)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019960070592A KR100212193B1 (en) | 1996-12-23 | 1996-12-23 | Space division switch course test device of full electrical switching system |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019960070592A KR100212193B1 (en) | 1996-12-23 | 1996-12-23 | Space division switch course test device of full electrical switching system |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR19980051679A KR19980051679A (en) | 1998-09-25 |
KR100212193B1 true KR100212193B1 (en) | 1999-08-02 |
Family
ID=19490399
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019960070592A KR100212193B1 (en) | 1996-12-23 | 1996-12-23 | Space division switch course test device of full electrical switching system |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100212193B1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100428665B1 (en) * | 1998-11-10 | 2004-06-30 | 엘지전자 주식회사 | Processor Control Space Division Switch Device and Method |
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---|---|---|---|---|
KR20020004434A (en) * | 2000-07-05 | 2002-01-16 | 박종섭 | Device and method for testing space switching of pcm data in mobile communication msc system |
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KR920003713A (en) * | 1990-07-03 | 1992-02-29 | 경상현 | Offline Test Matching Device in Space Division Exchange System |
-
1996
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---|---|
KR19980051679A (en) | 1998-09-25 |
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A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
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