KR19980061225U - Computer-Based Integrated Test Equipment of Switchboard Circuit Packs - Google Patents

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Abstract

시험자가 데이터 및 명령을 입력시키기 위한 키보드와, 결과 메시지를 화면에 출력시키기 위한 모니터와, 상기한 키보드로부터 입력되는 명령에 따라 교환기 회로팩의 테스트 프로그램이 수행되도록 한 뒤에 그 결과 데이터를 저장 및 디스플레이하기 위한 제어신호를 출력하는 컴퓨터 처리장치와, 시험 결과 데이터를 저장하기 위한 하드 디스크 메모리와, 상기한 컴퓨터 처리장치로부터 입력되는 제어신호에 따라 교환기 회로팩을 시험하기 위한 프로그램을 수행하고 그 결과 데이터를 전송하는 롬 메모리와, 상기한 롬 메모리에 연결되어 있는 피시험 회로팩을 포함하여 이루어지며, 컴퓨터를 이용하여 교환기 회로팩을 시험함과 동시에 그 시험 결과를 통합적으로 저장 및 관리함으로써 시험자가 용이하게 불량분석을 함과 동시에 해결방안을 얻을 수 있는 교환기 회로팩의 컴퓨터 기반 통합 시험장치를 제공한다.A keyboard for inputting data and commands, a monitor for outputting result messages on the screen, and a test program of the exchanger circuit pack to be executed according to the commands input from the keyboard, and then the result data is stored and displayed. A computer processing apparatus for outputting a control signal for performing the program; a hard disk memory for storing test result data; and a program for testing an exchanger circuit pack according to the control signal input from the computer processing apparatus. It includes a ROM memory for transmitting the memory and a circuit pack under test connected to the ROM memory, and the tester can easily test the exchange circuit pack using a computer and simultaneously store and manage the test results. Analyze the defects and get solutions To provide a computer-based integrated test device for an exchange circuit pack.

Description

교환기 회로팩의 컴퓨터 기반 통합 시험장치Computer-Based Integrated Test Equipment of Switchboard Circuit Packs

이 고안은 교환기 회로팩의 컴퓨터 기반 통합 시험장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게 말하자면 컴퓨터를 이용하여 교환기 회로팩을 시험함과 동시에 그 시험 결과를 통합적으로 저장 및 관리함으로써 시험자가 용이하게 불량분석을 함과 동시에 해결방안을 얻을 수 있는 교환기 회로팩의 컴퓨터 기반 통합 시험장치에 관한 것이다.The present invention relates to a computer-based integrated test device of an exchanger circuit pack. More specifically, the tester easily analyzes the exchanger circuit pack using a computer and simultaneously stores and manages the test results so that the tester can easily analyze the defects. The present invention relates to a computer-based integrated test apparatus for an exchange circuit pack that can be solved at the same time.

일반적으로 교환기에서의 데이터 교환방식은 회선 스위칭, 메시지 스위칭, 패킷 스위칭 등으로 구별될 수가 있다. 상기한 회선 스위칭이란 송수신 단말장치에서 데이터를 전송할 때마다 통신경로를 설정하여 데이터를 교환하는 방식을 말하고, 상기한 메시지 스위칭은 다른쪽으로 메시지를 전달하고자 할 때 목적지의 주소를 메시지와 함께 전송하는 방식을 말하고, 상기한 패킷 스위칭은 전송하고자하는 데이터를 일정한 크기로 나눈 뒤에 각각의 송,수신단의 주소를 첨가시켜서 패킷으로 만들어진 데이터를 목적지 주소에 따라서 적당한 통신경로를 택하여 전송하는 방식을 말한다. 이와 같은 데이터 교환은 교환기 회로팩에 의해서 제어되기 때문에, 교환기를 생산하는 과정에서 교환기 회로팩 회로팩의 신뢰성을 시험하는 것은 매우 중요한 공정중의 하나이다.In general, data exchange at the exchange can be divided into circuit switching, message switching, packet switching, and the like. The above-mentioned line switching refers to a method of exchanging data by setting a communication path every time data is transmitted and received by a transmitting and receiving terminal device. The above-mentioned message switching transmits an address of a destination together with a message when a message is to be transferred to the other side. In other words, the packet switching refers to a method of transmitting data made of packets by selecting an appropriate communication path according to a destination address by dividing the data to be transmitted into a predetermined size and adding an address of each transmitter and receiver. Since such data exchange is controlled by the exchange circuit pack, it is one of the very important process to test the reliability of the exchange circuit pack circuit pack during the production of the exchange.

이하, 첨부된 도면을 참조로 하여 종래의 교환기 회로팩의 시험장치에 대하여 설명하기로 한다.Hereinafter, a test apparatus of a conventional exchanger circuit pack will be described with reference to the accompanying drawings.

도 1은 종래의 교환기 회로팩의 시험장치의 구성 블럭도이다. 도 1에 도시되어 있는 바와 같이 종래의 교환기 회로팩의 시험장치의 구성은, 키보드(11)와 모니터(120)를 포함하는 터미널(10)과, 상기한 터미널(10)과 입출력단이 연결되어 있으며 시험 프로그램이 저장되어 있는 롬 메모리(20)와, 상기한 롬 메모리(20)에 연결되어 있는 피시험 회로팩(30)으로 이루어진다.1 is a block diagram illustrating a test apparatus of a conventional exchanger circuit pack. As shown in FIG. 1, a configuration of a test apparatus of a conventional exchanger circuit pack includes a terminal 10 including a keyboard 11 and a monitor 120, and the terminal 10 and an input / output terminal connected thereto. And a ROM memory 20 in which a test program is stored, and a circuit pack under test 30 connected to the ROM memory 20.

상기한 구성에 의한, 종래의 교환기 회로팩의 시험장치의 동작은 다음과 같이 이루어진다.With the above configuration, the operation of the test apparatus of the conventional exchanger circuit pack is performed as follows.

시험자가 터미널(10)의 키보드(11)를 이용하여 시험 명령어를 입력시키면 메모리(20)에 저장되어 있는 시험 프로그램이 작동된다. 이와 같이 롬 메모리(20)에 저장되어 있는 프로그램이 작동되면, 롬 메모리(20)에서는 피시험 회로팩(30)에 테스트 벡터를 전달하여 시험하고자 하는 기능이 수행되도록 한다. 피시험 회로팩(30)에서는 테스트 벡터에 따른 동작을 수행하고 나면 그 결과 데이터를 롬 메모리(20)의 프로그램으로 전달한다. 롬 메모리(20)의 프로그램은 피시험 회로팩(30)으로부터 전송되어 온 결과 데이터에 따라 그에 해당되는 출력 메시지를 데이터 영역에서 찾아 낸 뒤에 이를 출력 양식에 맞추어 모니터(40)에 디스플레이되도록 한다.When the tester inputs a test command by using the keyboard 11 of the terminal 10, the test program stored in the memory 20 is operated. When the program stored in the ROM memory 20 is operated as described above, the ROM memory 20 transmits a test vector to the circuit pack under test 30 to perform a function to be tested. After performing the operation according to the test vector, the circuit under test 30 transmits the result data to the program of the ROM memory 20. The program of the ROM memory 20 searches for a corresponding output message in the data area according to the result data transmitted from the circuit pack 30 under test, and then displays the corresponding output message on the monitor 40 according to the output form.

그러나, 상기한 바와 같은 종래의 교환기 회로팩의 시험장치는, 터미널이 단순히 데이터 입력 및 디스플레이 기능만을 가지고 있기 때문에 시험 결과 데이터를 관리할 수가 없으며, 터미널의 종류에 따라 프로그램을 다르게 작성해야 해야 하므로 프로그램이 복잡할 뿐만 아니라 변경 및 개선이 어렵고, 또한 한정된 크기의 메모리에 시험 프로그램, 시험 메뉴, 출력 메시지에 관한 데이터를 저장하고 있어야 하기 때문에 출력 메시지를 상세히 나타낼 수가 없는 문제점이 있다.However, the test apparatus of the conventional exchanger circuit pack as described above cannot manage the test result data because the terminal has only data input and display functions, and the program must be prepared differently according to the type of terminal. Not only is this complicated, but also difficult to change and improve, and because the data related to the test program, the test menu, and the output message must be stored in a limited memory, the output message cannot be described in detail.

이 고안의 목적은 상기한 바와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 컴퓨터를 이용하여 교환기 회로팩을 시험함과 동시에 그 시험결과를 통합적으로 저장 및 관리함으로써 시험자가 용이하게 불량분석을 함과 동시에 해결방안을 얻을 수 있는 교환기 회로팩의 컴퓨터 기반 통합 시험장치를 제공하는데 있다.The object of the present invention is to solve the above-mentioned problems, and the tester can easily analyze the defects by testing the switch circuit pack using a computer and simultaneously storing and managing the test results. It is to provide a computer-based integrated test device of the exchange circuit pack to obtain a solution.

도 1은 종래의 교환기 회로팩의 시험장치의 구성 블럭도이다.1 is a block diagram illustrating a test apparatus of a conventional exchanger circuit pack.

도 2는 이 고안의 실시예에 따른 교환기 회로팩의 컴퓨터 기반 통합 시험장치의 구성 블럭도이다.2 is a block diagram illustrating a computer-based integrated test apparatus of an exchanger circuit pack according to an embodiment of the present invention.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings

10 : 터미널 11, 41 : 키보드 12, 44 : 모니터 20 : 롬 메모리 30 : 피시험 회로팩 40 : 컴퓨터 42 : 처리장치 43 : 하드 디스크 메모리10 terminal 11, 41 keyboard 12, 44 monitor 20 ROM memory 30 circuit pack under test 40 computer 42 processing unit 43 hard disk memory

상기한 목적을 달성하기 위한 수단으로서 이 고안의 구성은, 시험자가 데이터 및 명령을 입력시키기 위한 키보드와, 결과 메시지를 화면에 출력시키기 위한 모니터와, 상기한 키보드로부터 입력되는 명령에 따라 교환기 회로팩의 테스트 프로그램이 수행되도록 한 뒤에 그 결과 데이터를 저장 및 디스플레이하기 위한 제어신호를 출력하는 컴퓨터 처리장치와, 시험 결과 데이터를 저장하기 위한 하드 디스크 메모리와, 상기한 컴퓨터 처리장치로부터 입력되는 제어신호에 따라 교환기 회로팩을 시험하기 위한 프로그램을 수행하고 그 결과 데이터를 전송하는 롬 메모리와, 상기한 롬 메모리에 연결되어 있는 피시험 회로팩을 포함하여 이루어진다.As a means for achieving the above object, the constitution of the present invention includes a keyboard for inputting data and commands, a monitor for outputting result messages on a screen, and an exchanger circuit pack according to the commands input from the keyboard. Computer processing apparatus for outputting a control signal for storing and displaying the result data after the test program is executed, a hard disk memory for storing the test result data, and a control signal input from the computer processing apparatus. And a ROM memory for carrying out a program for testing the exchanger circuit pack and transmitting the result data, and a circuit pack under test connected to the ROM memory.

이하, 이 고안이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 이 고안을 용이하게 실시할 수 있을 정도로 상세히 설명하기 위하여, 이 고안의 가장 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조로 하여 설명하기로 한다.Hereinafter, the most preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings in order to be described in detail that can be easily carried out by those of ordinary skill in the art.

도 2는 이 고안의 실시예에 따른 교환기 회로팩의 컴퓨터 기반 통합 시험장치의 구성 블럭도이다. 이 고안의 실시에에서는 도 1에 도시되어 있는 종래의 교환기 회로팩의 시험장치와 기능 및 구성이 동일한 부분은 동일한 부호를 사용하여 표현하였다. 도 2에 도시되어 있는 바와 같이 이 고안의 실시예에 따른 교환기 회로팩의 컴퓨터 기반 통합 시험장치의 구성은, 데이터 입력을 위한 키보드(41)와 결과 메시지 출력을 위한 모니터(44)와 상기한 키보드(41)로부터 입력되는 명령에 따라 테스트 프로그램을 수행시키고 그 결과 데이터를 저장하기 위한 제어신호를 출력하는 처리장치(42)와 데이터를 저장하기 위한 하드 디스크 메모리(43)를 포함하는 컴퓨터(40)와, 상기한 컴퓨터(40)에 입출력단이 연결되어 있으며 시험 프로그램이 저장되어 있는 롬 메모리(20)와, 상기한 롬 메모리(20)에 연결되어 있는 피시험 회로팩(30)으로 이루어진다.2 is a block diagram illustrating a computer-based integrated test apparatus of an exchanger circuit pack according to an embodiment of the present invention. In this embodiment of the present invention, the parts having the same function and configuration as the test apparatus of the conventional exchanger circuit pack shown in Fig. 1 are represented by the same reference numerals. As shown in FIG. 2, the configuration of the computer-based integrated test apparatus of the exchanger circuit pack according to the embodiment of the present invention includes a keyboard 41 for data input, a monitor 44 for outputting a result message, and the keyboard described above. Computer 40 comprising a processing device 42 for executing a test program in accordance with an instruction input from 41 and outputting a control signal for storing data and a hard disk memory 43 for storing data. And a ROM memory 20 having an input / output terminal connected to the computer 40 and storing a test program, and a circuit pack under test 30 connected to the ROM memory 20.

상기한 구성에 의한, 이 고안의 실시예에 따른 교환기 회로팩의 컴퓨터 기반 통합 시험장치의 작용은 다음과 같다.With the above configuration, the operation of the computer-based integrated test apparatus of the exchanger circuit pack according to the embodiment of the present invention is as follows.

시험자에 의해서 전원이 인가되면, 이 고안의 실시예에 따른 교환기 회로팩의 컴퓨터 기반 통합 시험장치의 동작이 시작된다. 동작이 시작된 뒤에, 시험자가 컴퓨터(40)의 키보드(41)를 이용하여 시험 명령어를 입력시키면 처리장치(42)는 모니터(44)의 화면에 시험표준 데이터가 디스플레이되도록 한 뒤에 메모리(20)로 제어신호를 출력함으로써 메모리(20)에 저장되어 있는 시험 프로그램이 작동되도록 한다.When the power is applied by the tester, the operation of the computer-based integrated test apparatus of the exchanger circuit pack according to the embodiment of the present invention is started. After the operation is started, the tester inputs a test command by using the keyboard 41 of the computer 40, and the processing device 42 causes the test standard data to be displayed on the screen of the monitor 44 and then enters the memory 20. By outputting the control signal, the test program stored in the memory 20 is operated.

이와 같이 롬 메모리(20)에 저장되어 있는 프로그램이 작동되면, 롬 메모리(20)에서는 피시험 회로팩(30)에 테스트 벡터를 전달하여 시험하고자 하는 기능이 수행되도록 한다. 피시험 회로팩(30)에서는 테스트 벡터에 따른 동작을 수행하고 나면 그 결과 데이터를 롬 메모리(20)의 프로그램으로 전달하게 되고, 롬 메모리(20)의 프로그램은 피시험 회로팩(30)으로부터 전송되어 온 결과 데이터를 컴퓨터(40)의 처리장치(42)로 전송한다.When the program stored in the ROM memory 20 is operated as described above, the ROM memory 20 transmits a test vector to the circuit pack under test 30 to perform a function to be tested. After performing the operation according to the test vector, the circuit under test 30 transmits the result data to the program of the ROM memory 20, and the program of the ROM memory 20 is transmitted from the circuit under test 30. The resultant data is transmitted to the processing unit 42 of the computer 40.

컴퓨터(40)의 처리장치(42)는 롬 메모리(20)로부터 전송되어 온 결과 데이터를 하드 디스크 메모리(43)에 통합 저장되도록 함과 동시에 결과 데이터에 따른 출력 메시지를 데이터 영역에서 읽어내어 모니터(40)의 화면에 디스플레이되도록 한다.The processing unit 42 of the computer 40 integrates and stores the result data transmitted from the ROM memory 20 into the hard disk memory 43, and at the same time reads an output message according to the result data from the data area and monitors ( 40) to be displayed on the screen.

향후, 시험자는 컴퓨터(40)의 하드 디스크 메모리(43)에 저장되어 있는 데이터를 가공 및 편집하여 교환기 회로팩의 불량원인을 분석하기 위한 자료로서 사용한다.In the future, the tester processes and edits the data stored in the hard disk memory 43 of the computer 40 and uses it as data for analyzing the cause of the failure of the exchanger circuit pack.

이상에서와 같이 이 고안의 실시예에서, 컴퓨터를 이용하여 교환기 회로팩을 시험함과 동시에 그 시험 결과를 통합적으로 저장 및 관리함으로써 시험자가 용이하게 불량분석을 함과 동시에 해결방안을 얻을 수 있는 효과를 가진 교환기 회로팩의 컴퓨터 기반 통합 시험장치를 제공할 수가 있다. 이 고안의 이러한 효과는 교환기 검사장치 분야에서 이 고안의 요지를 벗어나지 않는 범위내에서 당업자에 의해 변형되어 이용될 수가 있다.As described above, in the embodiment of the present invention, by using a computer to test the exchanger circuit pack and simultaneously store and manage the test results, the tester can easily analyze the defects and at the same time obtain a solution. It is possible to provide a computer-based integrated test device of an exchange circuit pack with This effect of the present invention can be modified and used by those skilled in the art without departing from the gist of the present invention in the field of exchange inspection equipment.

Claims (2)

시험자가 데이터 및 명령을 입력시키기 위한 키보드와, 결과 메시지를 화면에 출력시키기 위한 모니터와, 상기한 키보드로부터 입력되는 명령에 따라 교환기 회로팩의 테스트 프로그램이 수행되도록 한 뒤에 그 결과 데이터를 저장 및 디스플레이하기 위한 제어신호를 출력하는 컴퓨터 처리장치와, 시험 결과 데이터를 저장하기 위한 하드 디스크 메모리와, 상기한 컴퓨터 처리장치로부터 입력되는 제어신호에 따라 교환기 회로팩을 시험하기 위한 프로그램을 수행하고 그 결과 데이터를 전송하는 롬 메모리와, 상기한 롬 메모리에 연결되어 있는 피시험 회로팩을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 교환기 회로팩의 컴퓨터 기반 통합 시험장치.A keyboard for inputting data and commands, a monitor for outputting result messages on the screen, and a test program of the exchanger circuit pack to be executed according to the commands input from the keyboard, and then the result data is stored and displayed. A computer processing apparatus for outputting a control signal for performing the program; a hard disk memory for storing test result data; and a program for testing an exchanger circuit pack according to the control signal input from the computer processing apparatus. Comprising a ROM memory for transmitting a, and the computer-based integrated test device of the circuit breaker, characterized in that it comprises a circuit pack under test connected to the ROM memory. 청구항 1에 있어서,The method according to claim 1, 상기한 하드 디스크 메모리에 저장되어 있는 데이터는 교환기 회로팩의 불량원인을 분석하기 위한 자료로서 사용되는 것을 특징으로 하는 교환기 회로팩의 컴퓨터 기반 통합 시험장치.The data stored in the hard disk memory is a computer-based integrated test device of the exchanger circuit pack, characterized in that used as data for analyzing the cause of the failure of the exchanger circuit pack.
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Cited By (3)

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KR19990009915A (en) * 1997-07-12 1999-02-05 윤종용 How to check a private exchange
KR100386556B1 (en) * 1999-05-28 2003-06-02 엘지전자 주식회사 Method for inventoring processor in communication system
KR100590859B1 (en) * 1999-09-14 2006-06-19 삼성전자주식회사 Method for testing function of switching system

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19990009915A (en) * 1997-07-12 1999-02-05 윤종용 How to check a private exchange
KR100386556B1 (en) * 1999-05-28 2003-06-02 엘지전자 주식회사 Method for inventoring processor in communication system
KR100590859B1 (en) * 1999-09-14 2006-06-19 삼성전자주식회사 Method for testing function of switching system

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