JP3496005B2 - Communication equipment test equipment - Google Patents
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Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、インターネット等
の各種通信ネットワークに組込まれた各種通信機器の特
性を試験する通信機器試験装置に係わり、特に複数の通
信機器を複数種類の試験モードで試験する通信機器試験
装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図３に示すようなインターネットを始め
とする各種の通信ネットワーク１に組込まれた各種の通
信機器２が有する各種の特性を試験することは、新規の
通信機器２を開発したり、新規の通信ネットワーク１を
構築する場合に、欠かすことのできない重要な事項であ
る。また、稼働中の通信機器や通信ネットワークの保
守、管理においても欠かすことのできない事項である。
【０００３】この通信ネットワーク１に組込まれた各通
信機器２の各種の特性を試験する試験方法は、大きく分
けて「能動試験」と「受動試験」との２種類ある。
【０００４】能動試験においては、図４（ａ）に示すよ
うに、通信機器２からなる試験対象３に対して試験装置
４ａから試験信号ａを印加して、この試験対象３から出
力される応答信号ｂを試験装置４ａで受信して、この受
信した応答信号ｂを解析してこの試験対象３の特性を評
価する。この場合、試験信号ａの信号レベルや信号パタ
ーンやエラー発生率を規格で定められた値の範囲を超え
る種々の値に故意に設定した場合における各応答信号ｂ
の信号レベルや信号波形やエラー発生率等から、試験対
象３の特性の限界値等を検出する。
【０００５】他方、受動試験においては、図４（ｂ）に
示すように、通信機器２からなる試験対象３が通信ネッ
トワークに組込まれた状態を想定して、一対の試験対象
３相互間で実際に送受信される信号ｃ、ｄを試験装置４
ｂで一定期間に亘ってモニタして、信号レベルの変動
や、エラー発生率や、トラフィック量を評価する。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図４
（ａ）、図４（ｂ）に示す各試験装置４ａ、４ｂにおい
てもまだ解消すべき次のような課題があった。
【０００７】すなわち、試験装置４ａは自己が種々の試
験信号ａを試験対象３に印加する能動試験を実施する機
能のみを有し、試験装置４ｂは複数の試験対象３相互間
で送受信される信号ｃ、ｄをモニタする受動試験を実施
する機能のみを有する。
【０００８】しかしながら、近年、通信ネットワーク１
に組込まれた各通信機器２の特性の向上、及び該当特性
の高精度の維持管理が要求され、各通信機器２に対して
能動試験と受動試験との両方の試験を実施する場合が多
々ある。このような場合、２種類の試験装置４ａ、４ｂ
を個別に準備して、それぞれ個別に試験を実施する必要
がある。
【０００９】この場合、１台目の試験対象３を図４
（ａ）に示す状態に試験装置４ａに接続して能動試験を
実施する。続いて、２台目の試験対象３を図４（ａ）に
示す状態に試験装置４ａに接続して能動試験を実施す
る。その後、２台の試験対象３どうしを図４（ｂ）に示
す状態に接続し、さらに、試験装置４ｂをいずれかの測
定対象３の入出力端子に接続する。そして、試験装置４
ｂで各試験対象３に対する受動試験を実施する。
【００１０】したがって、２種類の試験装置４ａ、４ｂ
を準備する必要があるので、試験設備全体の製造費が大
幅に上昇するのみならす、試験対象３に対する試験作業
能率が大幅に低下する。
【００１１】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たものであり、装置内に一対の切換スイッチを組込むこ
とによって、試験対象通信機器に対する接続替えを実施
することなく、１台の装置で能動試験と受動試験とを実
施でき、試験設備全体の製造費を大幅に低減できるとと
もに、試験対象通信機器に対する試験作業能率を大幅に
向上できる通信機器試験装置を提供することを目的とす
る。
【００１２】
【課題を解決するための手段】上記課題を解消するため
に、本発明は、第１、第２の試験対象通信機器に対して
それぞれ第１、第２の試験信号を出力する第１、第２の
試験信号発生回路を有し、第１、第２の試験対象通信機
器からそれぞれ出力される第１、第２の出力信号を入力
する通信機器試験装置において、第１の試験対象通信機
器への入力信号路に介挿され、第１の試験対象通信機器
に入力される信号を、第１の試験信号又は第２の出力信
号に切換える第１の切換スイッチと、第２の試験対象通
信機器への入力信号路に介挿され、第２の試験対象通信
機器に入力される信号を、第２の試験信号又は第１の出
力信号に切換える第２の切換スイッチと、第１、第２の
切換スイッチを制御することにより、第１、第２の試験
対象通信機器に第１、第２の試験信号発生回路の出力を
入力させて試験するモードと、第１、第２の試験対象通
信機器にそれぞれ第２、第１の試験対象通信機器の出力
を入力させて試験するモードとを切換えるスイッチ切換
制御手段とを備えている。
【００１３】このように構成された通信機器試験装置
で、第１、第２の試験対象通信機器に第１、第２の試験
信号発生回路の出力を入力させて試験するモードである
能動試験モードに設定された状態においては、第１、第
２の試験対象通信機器にはそれぞれ第１、第２の試験信
号発生回路から第１、第２の試験信号がそれぞれ印加さ
れる。そして、第１、第２の試験対象通信機器からそれ
ぞれ出力される第１、第２の出力信号はそれぞれ、例え
ば装置内の第１、第２のモニタ回路へ印加される。した
がって、第１、第２の試験対象通信機器に対して、個別
にかつ並列して能動試験が実施できる。
【００１４】また、第１、第２の試験対象通信機器にそ
れぞれ第２、第１の試験対象通信機器の出力を入力させ
て試験するモードである受動試験モードに設定された状
態においては、第１の試験対象通信機器から出力された
第１の出力信号は第２の試験対象通信機器へ入力される
と共に、例えば、第１のモニタ回路へ入力される。一
方、第２の試験対象通信機器から出力された第２の出力
信号は第１の試験対象通信機器へ入力されると共に、例
えば、第２のモニタ回路へ入力される。したがって、第
１、第２の試験対象通信機器相互間で送受信される信号
をモニタする受動試験が簡単に実施できる。
【００１５】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態を図面
を用いて説明する。図１は実施形態に係る通信機器試験
装置の概略構成を示すブロック図である。図３の通信ネ
ットワーク１に組込まれるべき２台の通信機器２を、通
信ネットワーク１から取り外して、第１の試験対象通信
機器としての第１の試験対象５ａ及び第２の試験対象通
信機器としての第２の試験対象５ａとする。
【００１６】第１の試験対象５ａの出力端子６ａから出
力される第１の出力信号ｅ1は、通信機器試験装置８の
第１のポート９ａの入力端子１１ａを介して第１のモニ
タ回路１４ａへ入力される。この第１のモニタ回路１４
ａは、第１の試験対象５ａから出力される第１の出力信
号ｅ1を受信して、信号レベル、信号波形、エラー発生
率等の測定を行って、その測定（モニタ）結果をデータ
処理部１８へ送出する。また、第１の試験対象５ａから
出力される第１の出力信号ｅ1は、第１のモニタ回路１
４ａへ入力されると共に、第２の切換スイッチ１２ｂの
ｂ端子へ印加される。
【００１７】第１の試験信号発生回路１３ａは、自己の
記憶部に試験目的及び試験項目に対応した複数の試験信
号パターンを記憶しており、試験制御部１６から指定さ
れた種別の試験信号パターンを読出して第１の試験信号
ｇ1として第１の切換スイッチ１２ａのａ端子に印加す
る。第１の切換スイッチ１２ａの共通端子ｃは第１のポ
ート９ａの出力端子１０ａを介して第１の試験対象の入
力端子７ａへ接続されている。
【００１８】一方、第２の試験対象５ｂの出力端子６ｂ
から出力される第２の出力信号ｅ2は、通信機器試験装
置８の第２のポート９ｂの入力端子１１ｂを介して第２
のモニタ回路１４ｂへ入力される。この第２のモニタ回
路１４ｂは、第２の試験対象５ｂから出力される第２の
出力信号ｅ2を受信して、信号レベル、信号波形、エラ
ー発生率等の測定を行って、その測定（モニタ）結果を
データ処理部１８へ送出する。また、第２の試験対象５
ｂから出力される第２の出力信号ｅ2は、第２のモニタ
回路１４ｂへ入力されると共に、第１の切換スイッチ１
２ａのｂ端子へ印加される。
【００１９】第２の試験信号発生回路１３ｂは、自己の
記憶部に試験目的及び試験項目に対応した複数の試験信
号パターンを記憶しており、試験制御部１６から指定さ
れた種別の試験信号パターンを読出して第２の試験信号
ｇ2として第2の切換スイッチ１２ｂのａ端子に印加す
る。第２の切換スイッチ１２ｂの共通端子ｃは第２のポ
ート９ｂの出力端子１０ｂを介して第２の試験対象の入
力端子７ｂへ接続されている。
【００２０】スイッチ切換制御部１５は、試験制御部１
６からの切換指令に基づいて、第１の切換スイッチ１２
ａ、第２の切換スイッチ１２ｂを切換える。具体的に
は、第１、第２の試験対象５ａ、５ｂの入力端子７ａ、
７ｂに入力される信号を、第１、第２の試験信号ｇ1、
ｇ2、又は相手側の試験対象５ｂ、５ａから出力される
第２、第１の出力信号ｅ2、ｅ1に切換える。
【００２１】例えばコンピュータ等の情報処理装置で構
成された試験制御部１６内には、試験モードメモリ１７
が記憶されている。この試験モードメモリ１７内には、
操作パネル等の操作部１９を用いて操作者（試験者）が
設定した能動試験を示す「能動試験モード」又は受動試
験を示す「受動試験モード」が記憶される。
【００２２】そして、この試験制御部１６は、スイッチ
切換制御部１５に対して切換指令を送出すると共に、
「能動試験モード」設定時に、第１、第２の試験信号発
生回路１３ａ、１３ｂに対して、第１、第２の試験信号
ｇ1、ｇ2の出力指令を送出する。さらに、この試験制御
部１６は、試験モードメモリ１７内に記憶している現在
実行中の試験モードをデータ処理部１８へ送出する。
【００２３】データ処理部１８は、第１、第２のモニタ
回路１４ａ、１４ｂから入力される第１、第２の試験対
象５ａ、５ｂの各出力信号ｅ1、ｅ2の信号レベル、信号
波形、エラー発生率等の測定（モニタ）結果を現在時点
で設定されている「能動試験モード」又は「受動試験モ
ード」が指定するデータ処理を実施し、そのデータ処理
結果を試験結果として表示部２０に表示出力する。
【００２４】このように構成された通信機器試験装置８
の各測定対象５ａ、５ｂに対する試験動作を図１，図２
を用いて説明する。
【００２５】Ａ．能動試験モード
操作者が操作部１９で能動試験モードを指定して試験指
令を入力すると、試験モードメモリ１７に「能動試験モ
ード」が書込まれる。そして、試験制御部１６は、スイ
ッチ切換制御部１５へスイッチ切換指令を送出して、各
切換スイッチ１２ａ、１２ｂの試験対象５ａ、５ｂの入
力端子７ａ、７ｂに接続された共通端子ｃを各試験信号
発生回路１３ａ、１３ｂ側のａ端子に接続する。
【００２６】この状態においては、図２（ａ）に示すよ
うに、第１、第２の試験対象５ａ、５ｂにはそれぞれ第
１、第２の試験信号発生回路１３ａ、１３ｂから第１、
第２の試験信号ｇ1、ｇ2がそれぞれ第１、第２のポート
９ａ、９ｂを介して印加される。そして、第１、第２の
試験対象５ａ、５ｂからそれぞれ出力される第１、第２
の出力信号ｅ1、ｅ2はそれぞれ第１、第２のポート９
ａ、９ｂを介して第１、第２のモニタ回路１４ａ、１４
ｂへ印加される。したがって、第１、第２の試験対象５
ａ、５ｂに対して、個別にかつ並列して、前述した能動
試験が実施される。
【００２７】Ｂ．受動試験モード
操作者が操作部１９で受動試験モードを指定して試験指
令を入力すると、試験モードメモリ１７に「受動試験モ
ード」が書込まれる。そして、試験制御部１６は、スイ
ッチ切換制御部１５へスイッチ切換指令を送出して、各
切換スイッチ１２ａ、１２ｂの試験対象５ａ、５ｂの入
力端子７ａ、７ｂに接続された共通端子ｃを反対側の試
験対象５ｂ，５ａの出力信号ｅ2、ｅ1側のｂ端子に接続
する。
【００２８】この状態においては、図２（ｂ）に示すよ
うに、第１の試験対象５ａから出力された第１の出力信
号ｅ1は通信機器試験装置８内を経由して第２の試験対
象５ｂへ入力されると共に、第１のモニタ回路１４ａへ
入力される。一方、第２の試験対象５ｂから出力された
第２の出力信号ｅ2は通信機器試験装置８内を経由して
第１の試験対象５ａへ入力されると共に、第２のモニタ
回路１４ｂへ入力される。したがって、第１、第２の試
験対象５ａ、５ｂ相互間で送受信され信号ｅ1、ｅ2をモ
ニタする受動試験が簡単に実施できる。
【００２９】さらに、第１、第２の試験対象５ａ、５ｂ
の入力端子７ａ、７ｂ、及び出力端子６ａ、６ｂを通信
機器試験装置８の各ポート９ａ，９ｂに接続した状態
で、操作部１９の試験モードの切換指示操作のみで、能
動試験と受動試験との２種類の試験が連続して実施でき
るので、試験作業能率を大幅に向上できる。
【００３０】さらに、能動試験機能と受動試験機能とを
１台の通信機器試験装置８で実現しているので、図４
（ａ）、（ｂ）に示すようにそれぞれ個別機能を有した
２台の試験装置４ａ、４ｂに比較して、合計の設備費を
大幅に節減できる。
【００３１】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の通信機器
試験装置においては、装置内に一対の切換スイッチを組
込み、試験対象相互間で送受信される信号が試験装置を
経由可能にしている。したがって、試験対象通信機器に
対する接続替えを実施することなく、１台の装置で能動
試験と受動試験とを実施でき、試験設備全体の製造費を
大幅に低減できるとともに、試験対象通信機器に対する
試験作業能率を大幅に向上できる。Description: BACKGROUND OF THE INVENTION [0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to a communication device test apparatus for testing characteristics of various communication devices incorporated in various communication networks such as the Internet. The present invention relates to a communication device test apparatus for testing a device in a plurality of types of test modes. 2. Description of the Related Art To test various characteristics of various communication devices 2 incorporated in various communication networks 1 such as the Internet as shown in FIG. 3, a new communication device 2 is tested. This is an important item that is indispensable when developing or constructing a new communication network 1. It is also an indispensable item in the maintenance and management of operating communication devices and communication networks. [0005] Test methods for testing various characteristics of each communication device 2 incorporated in the communication network 1 are roughly classified into two types, an “active test” and a “passive test”. In the active test, as shown in FIG. 4A, a test signal a is applied from a test apparatus 4a to a test object 3 composed of a communication device 2, and a response output from the test object 3 is output. The signal b is received by the test apparatus 4a, and the received response signal b is analyzed to evaluate the characteristics of the test object 3. In this case, each response signal b when the signal level, the signal pattern, and the error occurrence rate of the test signal a are intentionally set to various values exceeding the range of values defined by the standard.
The limit value of the characteristic of the test object 3 is detected from the signal level, the signal waveform, the error occurrence rate, and the like. On the other hand, in the passive test, as shown in FIG. 4B, assuming that the test object 3 composed of the communication equipment 2 is incorporated in the communication network, the actual The signals c and d transmitted and received by the
The monitoring is performed over a certain period of time at b to evaluate the fluctuation of the signal level, the error occurrence rate, and the traffic volume. [0006] However, FIG.
(A), each of the test devices 4a and 4b shown in FIG. 4 (b) has the following problems to be solved. That is, the test apparatus 4a has only a function of executing an active test in which the test apparatus 4a applies various test signals a to the test object 3, and the test apparatus 4b has a function of transmitting and receiving signals between the plurality of test objects 3. It has only the function of performing a passive test for monitoring c and d. However, in recent years, the communication network 1
It is required to improve the characteristics of each communication device 2 incorporated in the communication device and to maintain the characteristics with high accuracy, and in many cases, both the active test and the passive test are performed on each communication device 2. . In such a case, two types of test devices 4a, 4b
Must be prepared separately and each test must be performed separately. In this case, the first test object 3 is shown in FIG.
The active test is performed by connecting to the test device 4a in the state shown in FIG. Subsequently, the second test object 3 is connected to the test apparatus 4a in the state shown in FIG. Thereafter, the two test objects 3 are connected to each other in the state shown in FIG. 4B, and the test apparatus 4b is connected to the input / output terminal of any one of the measurement objects 3. And the test equipment 4
In b, a passive test is performed on each test object 3. Therefore, two types of test devices 4a, 4b
Therefore, the manufacturing cost of the entire test facility is greatly increased, and the efficiency of the test operation for the test object 3 is significantly reduced. The present invention has been made in view of such circumstances, and by incorporating a pair of changeover switches in a device, a single device can be used without changing the connection to a communication device to be tested. An object of the present invention is to provide a communication device test apparatus that can perform an active test and a passive test, can greatly reduce the manufacturing cost of the entire test facility, and can significantly improve the test operation efficiency for the communication device to be tested. [0012] In order to solve the above-mentioned problems, the present invention provides a first and second test signals for outputting first and second test signals to first and second communication devices to be tested, respectively. 1, a second test signal generating circuit, first, enter the first and second output signals output from the second test target communication device
In a communication device test apparatus, a signal inserted into an input signal path to a first communication device to be tested and input to the first communication device to be tested is converted into a first test signal or a second output signal. A first changeover switch for switching, and a signal inserted into an input signal path to the second communication device to be tested and input to the second communication device to be tested, the second test signal or the first output signal Controlling the second switch and the first and second switches to input the outputs of the first and second test signal generating circuits to the first and second communication devices to be tested. Switch switching for switching between a test mode and a test mode in which the outputs of the second and first communication devices are input to the first and second communication devices to be tested, respectively.
Control means. In the communication device test apparatus thus configured, an active test mode is a mode in which the first and second test target communication devices are input with the outputs of the first and second test signal generation circuits for testing. , The first and second test signals are respectively applied from the first and second test signal generation circuits to the first and second communication devices to be tested. The first and second output signals respectively output from the first and second communication devices under test are , for example, respectively .
For example, it is applied to first and second monitor circuits in the device . Therefore, an active test can be performed individually and in parallel on the first and second communication devices to be tested. In a state where the passive test mode, which is a mode in which the outputs of the second and first communication devices to be tested are input to the first and second communication devices to be tested, respectively, and the test is performed, the first and second communication devices are tested. The first output signal output from the first communication device to be tested is input to the second communication device to be tested and, for example, to a first monitor circuit. On the other hand, the second output signal output from the second test target communication device is input to the first test target communication device, examples
For example, it is input to the second monitor circuit. Therefore, a passive test for monitoring signals transmitted and received between the first and second communication devices under test can be easily performed. An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram illustrating a schematic configuration of a communication device test apparatus according to the embodiment. The two communication devices 2 to be incorporated in the communication network 1 of FIG. 3 are detached from the communication network 1, and the first communication device 5a as the first communication device to be tested and the second communication device 2 as the second communication device to be tested. This is the second test object 5a. The first output signal e 1 output from the output terminal 6a of the first test object 5a is supplied to the first monitor circuit 14a via the input terminal 11a of the first port 9a of the communication equipment test apparatus 8. Is input to This first monitor circuit 14
a receives the first output signal e 1 output from the first test object 5a, the signal level, the signal waveform by performing measurements such as error rate, the measurement (monitor) results data processing To the unit 18. The first output signal e 1 output from the first test target 5a is output to the first monitor circuit 1
4a and applied to the terminal b of the second changeover switch 12b. The first test signal generation circuit 13a stores a plurality of test signal patterns corresponding to test purposes and test items in its own storage unit, and stores a test signal pattern of a type designated by the test control unit 16. Is read out and applied to the terminal a of the first change-over switch 12a as a first test signal g1. The common terminal c of the first changeover switch 12a is connected to the input terminal 7a to be tested first via the output terminal 10a of the first port 9a. On the other hand, the output terminal 6b of the second test object 5b
The second output signal e 2 output from the second through the input terminal 11b of the second port 9b of telecommunications equipment tester 8
To the monitor circuit 14b. The second monitor circuit 14b receives the second output signal e 2 which is output from the second tested 5b, the signal level, the signal waveform by performing measurements such as error rate, the measured ( (Monitor) The result is sent to the data processing unit 18. In addition, the second test object 5
b, the second output signal e 2 is input to the second monitor circuit 14b and the first switch 1
It is applied to terminal b of 2a. The second test signal generation circuit 13b stores a plurality of test signal patterns corresponding to test purposes and test items in its own storage unit, and stores a test signal pattern of a type designated by the test control unit 16. and it applies the second test signal g 2 reads the a terminal of the second changeover switch 12b. The common terminal c of the second changeover switch 12b is connected to the input terminal 7b of the second test object via the output terminal 10b of the second port 9b. The switch switching control unit 15 includes the test control unit 1
6, the first changeover switch 12
a, The second switch 12b is switched. Specifically, the input terminals 7a of the first and second test objects 5a and 5b,
7b are converted into first and second test signals g 1 ,
g 2 or the second and first output signals e 2 and e 1 output from the test objects 5b and 5a on the other side. For example, a test mode memory 17 is provided in a test control unit 16 constituted by an information processing apparatus such as a computer.
Is stored. In the test mode memory 17,
An “active test mode” indicating an active test or a “passive test mode” indicating a passive test set by an operator (tester) using the operation unit 19 such as an operation panel is stored. The test control unit 16 sends a switching command to the switch switching control unit 15 and
When the "active test mode" is set, an output command of the first and second test signals g 1 and g 2 is sent to the first and second test signal generation circuits 13a and 13b. Further, the test control unit 16 sends the currently executed test mode stored in the test mode memory 17 to the data processing unit 18. The data processing section 18 is provided with signal levels and signal waveforms of the output signals e 1 and e 2 of the first and second test objects 5a and 5b input from the first and second monitor circuits 14a and 14b. , A measurement (monitor) result such as an error occurrence rate is subjected to data processing designated by the currently set “active test mode” or “passive test mode”, and the data processing result is displayed as a test result on the display unit 20. Display output. The communication device test apparatus 8 thus configured
FIGS. 1 and 2 show a test operation for each of the measurement objects 5a and 5b.
This will be described with reference to FIG. A. Active test mode When the operator specifies an active test mode on the operation unit 19 and inputs a test command, the “active test mode” is written into the test mode memory 17. Then, the test control unit 16 sends a switch switching command to the switch switching control unit 15, and connects the common terminal c connected to the input terminals 7a and 7b of the test objects 5a and 5b of each of the changeover switches 12a and 12b to each test. It is connected to the terminal a of the signal generating circuits 13a and 13b. In this state, as shown in FIG. 2A, the first and second test objects 5a and 5b respectively receive the first and second test signal generating circuits 13a and 13b from the first and second test signal generating circuits 13a and 13b.
Second test signals g 1 and g 2 are applied via first and second ports 9a and 9b, respectively. Then, the first and second signals output from the first and second test objects 5a and 5b, respectively.
Output signals e 1 and e 2 of the first and second ports 9 and 9, respectively.
a, 9b via the first and second monitor circuits 14a, 14b.
b. Therefore, the first and second test objects 5
The active test described above is performed individually and in parallel on a and 5b. B. When the passive test mode operator designates a passive test mode with the operation unit 19 and inputs a test command, the “passive test mode” is written in the test mode memory 17. Then, the test control unit 16 sends a switch switching command to the switch switching control unit 15, and sets the common terminal c connected to the input terminals 7a, 7b of the test objects 5a, 5b of the changeover switches 12a, 12b to the opposite side. The output signals e 2 and e 1 of the test objects 5b and 5a of FIG. [0028] In this state, as shown in FIG. 2 (b), the first output signal e 1 output from the first to be tested 5a second test via the communication device testing apparatus 8 The signal is input to the object 5b and also input to the first monitor circuit 14a. On the other hand, the second output signal e 2 output from the second test object 5b is input to the first test object 5a via the communication device test apparatus 8 and is also input to the second monitor circuit 14b. Is done. Therefore, a passive test for monitoring the signals e 1 and e 2 transmitted and received between the first and second test objects 5a and 5b can be easily performed. Further, the first and second test objects 5a, 5b
With the input terminals 7a and 7b and the output terminals 6a and 6b connected to the respective ports 9a and 9b of the communication device test apparatus 8, only the test mode switching operation of the operation unit 19 can be used to perform the active test and the passive test. Since the two types of tests can be performed continuously, the test operation efficiency can be greatly improved. Further, since the active test function and the passive test function are realized by one communication device test apparatus 8, FIG.
As shown in (a) and (b), the total equipment cost can be significantly reduced as compared with two test apparatuses 4a and 4b each having an individual function. As described above, in the communication device test apparatus of the present invention, a pair of changeover switches are incorporated in the apparatus so that signals transmitted and received between test objects can pass through the test apparatus. ing. Therefore, the active test and the passive test can be performed by one device without changing the connection of the communication device to be tested, and the manufacturing cost of the entire test equipment can be greatly reduced. Efficiency can be greatly improved.
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施形態に係わる通信機器試験装置
の概略構成を示すブロック図
【図２】同実施形態の通信機器試験装置における能動試
験モード設定時の接続状態、及び受動試験モード設定時
の接続状態を示す図
【図３】一般的な通信ネットワークを示す模式図
【図４】従来の能動試験及び能動試験を示す模式図
【符号の説明】
１…通信ネットワーク
２…通信機器
５ａ…第１の試験対象
５ｂ…第２の試験対象
８…通信機器試験装置
１２ａ…第１の切換スイッチ
１２ｂ…第２の切換スイッチ
１３ａ…第１の試験信号発生回路
１３ｂ…第２の試験信号発生回路
１４ａ…第１のモニタ回路
１４ｂ…第２のモニタ回路
１５…スイッチ切換制御部
１６…試験制御部
１８…データ処理部BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of a communication device test apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a connection in an active test mode setting in the communication device test apparatus of the embodiment. FIG. 3 is a diagram showing a state and a connection state when the passive test mode is set. FIG. 3 is a schematic diagram showing a general communication network. FIG. 4 is a schematic diagram showing a conventional active test and a conventional active test. Network 2 Communication device 5a First test object 5b Second test object 8 Communication device test device 12a First changeover switch 12b Second changeover switch 13a First test signal generation circuit 13b Second test signal generation circuit 14a first monitor circuit 14b second monitor circuit 15 switch switching control unit 16 test control unit 18 data processing unit
Claims (1)
５ｂ）に対してそれぞれ第１、第２の試験信号（ｇ1、
ｇ2）を出力する第１、第２の試験信号発生回路（１３
ａ、１３ｂ）を有し、前記第１、第２の試験対象通信機
器からそれぞれ出力される第１、第２の出力信号
（ｅ1，ｅ2）を入力する通信機器試験装置において、 前記第１の試験対象通信機器への入力信号路に介挿さ
れ、前記第１の試験対象通信機器に入力される信号を、
前記第１の試験信号又は前記第２の出力信号に切換える
第１の切換スイッチ（１２ａ）と、 前記第２の試験対象通信機器への入力信号路に介挿さ
れ、前記第２の試験対象通信機器に入力される信号を、
前記第２の試験信号又は前記第１の出力信号に切換える
第２の切換スイッチ（１２ｂ）と、 前記第１、第２の切換スイッチを制御することにより、
前記第１、第２の試験対象通信機器に前記第１、第２の
試験信号発生回路の出力を入力させて試験するモード
と、前記第１、第２の試験対象通信機器にそれぞれ第
２、第１の試験対象通信機器の出力を入力させて試験す
るモードとを切換えるスイッチ切換制御手段（１５，１
６）とを備えた通信機器試験装置。(57) [Claims 1] The first and second communication devices to be tested (5a,
5b) for the first and second test signals (g 1 ,
g 2 ), the first and second test signal generation circuits (13
a, 13b) , wherein the first and second output signals (e 1 , e 2 ) output from the first and second communication devices to be tested are respectively input to the communication device test apparatus . A signal inserted into an input signal path to the first communication device under test and input to the first communication device under test,
A first switch (12a) for switching to the first test signal or the second output signal; and an input signal path to the second communication device to be tested, the second communication device being connected to the second communication device to be tested. The signal input to the device is
A second switch (12b) for switching to the second test signal or the first output signal; and controlling the first and second switches.
A mode in which the outputs of the first and second test signal generation circuits are input to the first and second communication devices to be tested to perform a test, and a second and a second communication devices are respectively connected to the first and second communication devices to be tested. switch switching control means for switching a mode to be tested by inputting the output of the first test target communication device (15, 1
6) A communication device test apparatus comprising:
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