KR100279159B1

KR100279159B1 - Apparatus of loop back test a conference call device in a exchangeer

Info

Publication number: KR100279159B1
Application number: KR1019970056979A
Authority: KR
Inventors: 최덕수
Original assignee: 윤종용; 삼성전자주식회사
Priority date: 1997-10-31
Filing date: 1997-10-31
Publication date: 2001-01-15
Also published as: KR19990035224A

Abstract

본 발명은 루프백 테스트를 위한 데이터를 송수신하며, 송신 병렬/직렬 변환부, 수신 직렬/병렬 변환부, 중앙처리장치를 구비하는 교환시스템 회의 통화장치의 루프백 테스트 장치에 있어서, 상기 중앙처리장치로부터 발생되는 송신용 루프백 테스트 시험용 데이터를 레치하여 이를 후단의 송신 병렬/직렬 변환부로 입력시키며, 동시에 비교기의 제1입력으로 이를 입력시키는 송신 데이터 레치부와, 전단의 수신 직렬/병렬 변환부를 통해 루프백되어 수신된 시험용 데이터를 래치하며 이를 중앙처리부로 입력시키며, 동시에 상기 비교기의 제2입력으로 입력시키는 수신 데이터 래치부와, 상기 제1입력에 입력된 시험용 테스트 데이터와 상기 제2입력으로 입력된 수신된 시험용 데이터를 비교하여 동일한 패턴의 데이터일 시 상기 중앙처리부에 인터럽트를 발생하여, 상기 중앙처리부가 상기 수신데이터 래치부를 리드하도록 하는 비교기를 가짐을 특징으로 하는 루프백 테스트 장치를 가진다.The present invention provides a loopback test apparatus for an exchange system conference call apparatus that transmits and receives data for a loopback test, and includes a transmission parallel / serial conversion unit, a reception serial / parallel conversion unit, and a central processing unit. Loopback test for transmitting the test data is latched and inputted to the transmission parallel / serial conversion unit of the next stage, and at the same time, it is looped back through the transmission data latch unit for inputting it to the first input of the comparator and the reception serial / parallel conversion unit of the previous stage. Latches the received test data and inputs it to the central processing unit and simultaneously inputs the received test data to the second input of the comparator, and the test data input to the first input and the received test input to the second input. Compare the data and interrupt the central processing unit when the data is the same pattern Generated, and has a loop back test apparatus characterized by having a comparator for the central processing unit so as to latch the lid part of the received data.

Description

A loopback test device for conference call devices at an exchange device {APPARATUS OF LOOP BACK TEST A CONFERENCE CALL DEVICE IN A EXCHANGEER}

본 발명은 교환시스템에 관한 것으로, 특히 교환시스템의 회의통화장치(CMCA: Conference call Mixer Circuit Assemble이하 회의 통화장치라 함)에서 루프 백 테스트(loop back test) 기능을 개선하는 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an exchange system, and more particularly, to an apparatus for improving a loop back test function in a conference call mixer (CMCA) of a conference system.

통상적으로, 전전자 교환기에서 회의 통화장치의 경우 타임 스위치 인터페이스 유지보수(time switch interface maintenance)를 루프백(loop back) 테스트 방법을 사용하였다. 그러한 루프백 테스트방법은 각종 소자에서 타 블럭과의 유지보수를 위하여 사용하는 테스트방법의 일종으로서, 상기 소자로부터 시험용 패턴데이터를 그 인터페이스되는 타 블록들로 전송한 후 루프백되어 돌아오는 그 패턴 데이터를 검출하고, 상기 인터페이스되는 타 블록들의 이상 유, 무를 판별하는 방식이다.Typically, time switch interface maintenance was used for the loop back test method in the case of conference equipment in an electronic switchboard. Such a loopback test method is a test method used for maintenance of other blocks in various devices, and transfers test pattern data from the device to the other blocks to be interfaced, and then detects the pattern data returned by loopback. And, it is a method of determining the presence or absence of abnormality of the other blocks to be interfaced.

이하, 상기 회의 통화장치에 사용한 종래의 루프백 테스트 방법을 도 1을 통해 상세히 설명한다. 도 1을 참조하면, 회의 통화 장치내의 CPU(100)는 특정 시험용 패턴데이터를 데이터-버스를 통해 송신 데이터 래치부(102)에 인가하고, 그 송신 데이터 래치부(102)는 상기 CPU(100)의 제어하에 상기 인가된 시험용 패턴데이터를 래치시킨 후 송신 병렬/직렬(parallel to serial) 데이터 변환부(104)로 출력한다. 그리고, 상기 송신 병렬/직렬 데이터 변환부(104)는 그 인가된 시험용 패턴 데이터를 직렬데이터로 변환하여 후단의 타임스위치(106)에 인가한다. 이때, 상기 타임스위치(106)는 상기 시험용 패턴데이터가 루프백되어 돌아가도록 스위칭한다. 따라서, 상기 루프백되어 돌아오는 상기 직렬 시험용 패턴데이터는 상기 타임스위치(106) 후단의 수신 직렬/병렬(serial to parallel)데이터 변환부(108)에서 병렬데이터로 변환된 후 수신 데이터 래치부(110)에 인가되어 래치된다. 이때, 상기 CPU(100)는 상기 수신 데이터 래치부(110)를 소정 시간간격으로 주기적 감시하여 루프백되는 데이터를 리드한 후 최종 테스트 결과를 판단하도록 한다.Hereinafter, a conventional loopback test method used in the conference call apparatus will be described in detail with reference to FIG. 1. Referring to FIG. 1, the CPU 100 in the conference call apparatus applies specific test pattern data to the transmission data latch unit 102 via a data bus, and the transmission data latch unit 102 transmits the CPU 100 to the CPU 100. Under the control of the latching the applied test pattern data and outputs to the parallel to serial (parallel to serial) data converter 104. Then, the transmission parallel / serial data converter 104 converts the applied test pattern data into serial data and applies it to the time switch 106 at the next stage. At this time, the time switch 106 switches so that the test pattern data loops back. Accordingly, the serial test pattern data returned from the loopback is converted into parallel data by the reception serial / parallel data conversion unit 108 at the rear end of the time switch 106, and then received data latch unit 110. Is applied to and latched. At this time, the CPU 100 periodically monitors the reception data latch unit 110 at a predetermined time interval to read the data to be looped back and then determine a final test result.

하지만, 상기한 종래의 외의 통화장치에서의 루프백 테스트방법은 상기 CPU(100)가 상기 루프백되어 돌아오는 시험용 패턴데이터를 검출하기 위해 주기적으로 상기 수신 데이터 래치부(110)를 감시해야 하고, 그 리드 주기를 결정하기가 어려운 문제점이 있었다.However, the loopback test method in the communication apparatus other than the related art should monitor the reception data latch unit 110 periodically in order to detect the test pattern data that the CPU 100 returns to the loopback. It was difficult to determine the cycle.

다른 문제점으로서, 상기 수신 데이터 래치부(110)가 래치동작을 수행하는 중에 상기 CPU(100)가 데이터를 리드할 경우 리드된 데이터가 불안정한 문제점이 있었다.As another problem, when the CPU 100 reads data while the reception data latch unit 110 performs the latch operation, the read data is unstable.

따라서, 본 발명의 목적은 교환시스템의 회의통화장치에서 루프 백 테스트를 보다 효율적으로 수행할 수 있도록 하는 장치를 제공함에 있다.Accordingly, an object of the present invention is to provide an apparatus for more efficiently performing a loop back test in a conference call apparatus of an exchange system.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명은 루프백 테스트를 위한 데이터를 송수신하며, 송신 병렬/직렬 변환부, 수신 직렬/병렬 변환부, 중앙처리장치를 구비하는 교환시스템 회의 통화장치의 루프백 테스트 장치에 있어서,In the present invention for achieving the above object, in the loopback test apparatus of the conference system conference call apparatus for transmitting and receiving data for the loopback test, and having a transmission parallel / serial converter, a receiving serial / parallel converter, a central processing unit,

상기 중앙처리장치로부터 발생되는 송신용 루프백 테스트 시험용 데이터를 레치하여 이를 후단의 송신 병렬/직렬 변환부로 입력시키며, 동시에 비교기의 제1입력으로 이를 입력시키는 송신 데이터 레치부와,A transmission data latch unit which latches the transmission loopback test test data generated from the central processing unit and inputs the data to a transmission parallel / serial conversion unit of a subsequent stage, and simultaneously inputs it to the first input of the comparator;

전단의 수신 직렬/병렬 변환부를 통해 루프백되어 수신된 시험용 데이터를 래치하며 이를 중앙처리부로 입력시키며, 동시에 상기 비교기의 제2입력으로 입력시키는 수신 데이터 래치부와,A reception data latch unit which loops back through the reception serial / parallel conversion unit of the front end and latches the received test data and inputs the test data to the central processing unit, and simultaneously inputs it to the second input of the comparator;

상기 제1입력에 입력된 시험용 데이터와 상기 제2입력으로 입력된 시험용 데이터를 비교하여 동일한 패턴의 데이터일 시 상기 중앙처리부에 인터럽트를 발생하여, 상기 중앙처리부가 상기 수신데이터 래치부를 리드하도록 하는 비교기를 가짐을 특징으로 한다.Comparators for comparing the test data input to the first input and the test data input to the second input to generate an interrupt in the central processing unit when the data of the same pattern is the same pattern, so that the central processing unit reads the received data latch unit Characterized by having.

도 1은 종래 교환기에서 회의 통화장치의 루프백 테스트를 수행하는 장치의 블록구성도이다.1 is a block diagram of an apparatus for performing a loopback test of a conference call apparatus in a conventional exchange.

도 2는 본 발명의 실시예에 따른 교환기에서 회의 통화장치의 루프백 테스트를 수행하는 장치의 블록구성도이다.2 is a block diagram of an apparatus for performing a loopback test of a conference call apparatus in an exchange according to an embodiment of the present invention.

이하 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 그리고 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the following description of the present invention, if it is determined that a detailed description of a related known function or configuration may unnecessarily obscure the subject matter of the present invention, the detailed description thereof will be omitted.

도 2는 본 발명의 실시예에 따른 교환기에서 회의 통화장치의 루프백 테스트를 수행하는 장치의 블록구성도이다. 도 2를 참조하면, 먼저 그 구성은 회의 통화 장치내의 CPU(200)는 시스템 내부의 운용을 담당하며, 특히 본 발명에 따라 특정 시험용 패턴데이터를 데이터-버스를 통해 발생한다. 송신데이터 래치부(202)는 통상적인 74LS374타입의 칩으로 구성되며, 상기 CPU(200)로부터 출력되어 데이터-버스를 통해 입력되는 시험용 패턴데이터를 래치시켜 병렬데이터 형태로 후단의 송신 병렬/직렬데이터 변환부(204) 및 비교기(210)의 제1입력에 각각 출력한다. 수신 데이터 래치부(212)는 통상적인 74LS374타입의 칩으로 구성되며, 상기 루프백되어 돌아오는 시험용 패턴데이터를 래치 시키고, 이후에 상기 CPU(200)의 리드 명령에 의거하여 상기 시험용 패턴 데이터를 상기 데이터-버스를 통해 그 CPU(200)로 출력한다. 어드레스 디코더(214)는 상기 CPU(200)로부터의 연결된 어드레스-버스를 통해 어드레스 신호를 인가받아 주변기기에 각종 동기클럭을 발생한다. 송신 병렬/직렬 데이터 변환부(204)는 통상적인 74LS166 타입의 칩으로 구성되며, 상기 송신 데이터 래치부(202)로부터 출력되는 병렬 시험용 패턴 데이터를 직렬데이터로 변환하여 후단의 타임스위치(206)에 출력한다. 수신 직렬/병렬 데이터 변환부(208)는 통상적인 74LS164 타입의 칩으로 구성되며, 상기 타임스위치(206)를 통해 루프백되어 돌아오는 직렬형태의 시험용 패턴 데이터를 병렬데이터로 변환하여 후단의 상기 수신데이터 래치부(212)와 비교기(210)의 제2입력에 각 각 출력한다. 타임스위치(206)는 상기 회의 통화장치를 루프백 테스트하기 위한 경로를 스위칭 연결해준다. 타임슬롯선택회로(216)는 상기 송신 병렬/직렬 데이터 변환부(204)로부터 변환 출력될 직렬데이터를 전송하기 위해 후단의 타임스위치(206)의 경로를 선택한다.2 is a block diagram of an apparatus for performing a loopback test of a conference call apparatus in an exchange according to an embodiment of the present invention. Referring to FIG. 2, first, the configuration is that the CPU 200 in the conference call device is in charge of operating the system, and in particular, generates specific test pattern data through the data bus according to the present invention. The transmission data latch unit 202 is composed of a conventional 74LS374 type chip, and latches test pattern data output from the CPU 200 and input via a data bus, and transmits parallel / serial data at a rear end in parallel data form. Output to the first input of the converter 204 and the comparator 210, respectively. The reception data latch unit 212 is configured with a conventional 74LS374 type chip, and latches the test pattern data that is looped back and returns the test pattern data based on a read command of the CPU 200. Output to the CPU 200 via the bus. The address decoder 214 receives an address signal through the connected address bus from the CPU 200 and generates various synchronization clocks in the peripheral device. The transmission parallel / serial data conversion section 204 is composed of a conventional 74LS166 type chip, and converts the parallel test pattern data outputted from the transmission data latch section 202 into serial data to a subsequent time switch 206. Output The reception serial / parallel data conversion unit 208 is composed of a conventional 74LS164 type chip, and converts the test pattern data of the serial form, which is looped back through the time switch 206, into parallel data, and converts the received data of the subsequent stage. Outputs to the second input of the latch unit 212 and the comparator 210, respectively. The time switch 206 switches the path for loopback testing the conference call device. The timeslot selection circuit 216 selects a path of the time switch 206 at a later stage in order to transmit serial data to be converted and output from the transmission parallel / serial data converter 204.

한편 상기 한 구성을 가지는 본 발명의 동작을 설명하면, 회의 통화 장치내의 CPU(200)는 데이터 버스를 통해 시험용 데이터 패턴을 송신 데이터 래치부(202)에 출력하고, 그와 동시에 어드레스 디코더(214)와 연결된 어드레스 버스를 통해 어드레스 신호를 인가하여 그 어드레스 디코더(214)가 상기 송신데이터 래치부(202)에 동기클럭을 발생하도록 한다. 결국, 상기 송신데이터 래치부(202)에 입력되는 시험용 패턴 데이터는 상기 어드레스 디코더(214)로부터 제공되는 동기클럭에 의해 래치된다. 그런후, 상기 래치된 8비트(bit)의 시험용 데이터는 후단의 비교기의 제1입력(P)과 송신 병렬/직렬 데이터 변환부(204)에 각각 입력된다. 이때, 상기 송신 병렬/직렬 데이터 변환부(204)에 입력된 병렬 형태의 시험용 데이터는 직렬형태의 데이터로 변환되어 후단의 타임스위치(206)에 인가되며, 그 타임스위치(206)에 의거하여 상기 직렬 시험용 패턴 데이터는 루프백 된다. 그러므로, 상기 루프백 되어 돌아오는 상기 직렬 시험용 패턴데이터는 상기 타임스위치(206) 후단의 수신 직렬/병렬(serial to parallel)데이터 변환부(208)에서 병렬데이터로 변환된 후 후단의 수신 데이터 래치부(212)와 비교기(210)의 제2입력(Q)에 각각 입력된다. 이때, 상기 비교기(210)는 이전에 제1입력(P)으로 입력된 시험용 데이터 패턴과 현재 루프백되어 상기 제2입력(Q)에 입력된 시험용 데이터를 비교하여 동일할 시 상기 CPU(200)에 인터럽트를 발생한다. 따라서, 상기 비교기(210)으로부터 인터럽트를 인가받은 상기 CPU(200)는 상기 어드레스 디코더(214)를 통해 상기 수신데이터 래치부(212)에 리드클럭을 인가시켜 상기 래치된 시험용 데이터를 리드하여 최종적으로 루프백 테스트 결과를 판단하도록 한다. 하지만, 상기 비교기(210)가 제2입력을 통해 루프백된 시험용 데이터를 인가받았으나 인터럽트가 발생되지 않을 시(즉, 비교데이터가 동일하지 않을 시) 상기 CPU(200)는 최종 루프백 테스트 결과가 나쁜 것으로 처리한다. 즉 상기 비교기로부터 인터럽트가 발생하지 않는다는 것은 수신된 데이터에 에러가 있다는 의미이므로, CPU(200)은 시험용 데이터를 발생한 후 미리 설정된 일정시간 동안 상기 비교기로부터 인터럽트가 발생하지 않으면, 루프백 테스트 결과가 나쁜 것으로 간주할 수 있게 된다.On the other hand, when the operation of the present invention having the above configuration is explained, the CPU 200 in the conference call apparatus outputs the test data pattern to the transmission data latch unit 202 via the data bus, and at the same time, the address decoder 214 The address decoder 214 generates an synchronous clock in the transmission data latch unit 202 by applying an address signal through an address bus connected with As a result, the test pattern data input to the transmission data latch unit 202 is latched by the synchronization clock provided from the address decoder 214. Thereafter, the latched 8-bit test data is input to the first input P and the transmission parallel / serial data conversion section 204 of the comparator at a later stage, respectively. In this case, the parallel test data input to the transmission parallel / serial data conversion unit 204 is converted into serial data and applied to the time switch 206 at the next stage, and based on the time switch 206. Pattern data for serial test is looped back. Therefore, the serial test pattern data that is returned to the loopback is converted into parallel data by the reception serial / parallel data conversion unit 208 at the rear end of the time switch 206 and then at the rear end of the received data latch unit ( 212 and the second input Q of the comparator 210, respectively. At this time, the comparator 210 compares the test data pattern previously inputted to the first input P with the test data currently looped back and inputted to the second input Q to the CPU 200 when they are identical. Generate an interrupt. Therefore, the CPU 200 receiving the interrupt from the comparator 210 applies a read clock to the received data latch unit 212 through the address decoder 214 to read the latched test data and finally. Determine the loopback test result. However, when the comparator 210 receives the test data looped back through the second input but no interrupt occurs (that is, when the comparison data is not the same), the CPU 200 determines that the final loopback test result is bad. Process. That is, since the interrupt from the comparator means that there is an error in the received data, the CPU 200 determines that the loopback test result is bad if the interrupt does not occur from the comparator for a predetermined time after generating test data. Can be considered.

결론적으로, 기존에 회의 통화장치에서 사용하던 루프백 테스트 방법을 개선하기 위해 별도의 비교기를 구비하여 상기 CPU(200)가 테스트를 수행하기 전에 1차적으로 테스트하여 상기 CPU(200)의 효율성을 증대시켰다.In conclusion, in order to improve the loopback test method used in the conference call device, a separate comparator is provided to increase the efficiency of the CPU 200 by first testing the CPU 200 before performing the test. .

한편, 본 발명의 상세한 설명에서는 구체적인 실시예에 관해 설명하였으나, 본 발명의 범위에서 벗어나지 않는 한도내에서 여러가지 변형이 가능함은 물론이다. 그러므로, 본 발명의 범위는 설명된 실시예에 국한되어 정해져서는 안되며 후술하는 특허청구의 범위뿐만 아니라 이 특허청구의 범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.Meanwhile, in the detailed description of the present invention, specific embodiments have been described, but various modifications may be made without departing from the scope of the present invention. Therefore, the scope of the present invention should not be limited to the described embodiments, but should be defined not only by the scope of the following claims, but also by the equivalents of the claims.

상술한 바와같이 본 발명은 기존에 회의 통화장치에서 사용하던 루프백 테스트 방법을 개선하기 위해 별도의 비교기를 구비하여 상기 CPU(200)이 테스트하기 전에 1차적으로 테스트하여 상기 CPU(200)의 효율성을 증대 시킬 수 있었으며, 아울러 상기 루프백 테스트 결과의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 이점이 있다.As described above, the present invention is provided with a separate comparator to improve the loopback test method used in the conference call device. The test is performed first before the CPU 200 tests the efficiency of the CPU 200. It was possible to increase, and also has the advantage of improving the reliability of the loopback test results.

Claims

In the loopback test apparatus of the conference system conference call apparatus, which transmits and receives data for a loopback test, and includes a transmission parallel / serial conversion unit, a reception serial / parallel conversion unit, and a central processing unit.

A transmission data latching unit which latches the transmission loopback test test data generated from the central processing unit and inputs the data to the first input of a subsequent transmission parallel / serial conversion unit and a comparator;

A reception data latch unit for looping back the received test data through the reception serial / parallel conversion unit of the front end and inputting the test data to the second input of the central processing unit and the comparator;

The test data inputted to the first input and the received test data inputted to the second input are compared for a predetermined time, and when the data of the same pattern is generated, an interrupt is generated in the central processing unit so that the central processing unit receives the received data. And a comparator for leading the latch portion.