KR100208234B1 - Method for function examination in full electronic switching system - Google Patents
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Abstract
본 발명은 전전자 교환기 시스템에 있어서 R2/DTMF 신호 송수신 기능을 시험하도록 하기에 적합한 전전자 교환기의 기능 시험 방법에 관한 것으로서, 종래의 기술에 있어서는 전 채널에 테스트 신호를 라이트하여 송신하고 일정 시간 경과 후, 라이트되어 송신된 신호를 수신하여 리드해서 송신했던 데이터와 수신된 데이터가 동일한지를 검사하기 때문에 검출 시간이 고정됨으로써 시험한 보드가 불량인 경우 시험한 보드가 검출이 전혀 안되는 보드인지 또는 타이밍이 맞지 않아 일정 시간안에 검출이 되지 않는지를 확인할 수가 없었으나, 본 발명에서는 시험자가 타이머 인터럽트 주기를 조정하여 주기적으로 인터럽트를 실행함으로써 신호 검출 시간을 확인하도록하여 시험하고자하는 보드의 에러 원인을 찾을 수 있도록 함으로써 상술한 결점을 개선시킬 수 있는 것이다.The present invention relates to a functional test method of an electronic switching system suitable for testing the R2 / DTMF signal transmission / reception function in an electronic switching system. In the prior art, a test signal is written and transmitted to all channels for a predetermined time. After that, the received and read signals are read and read, and the data transmitted and the received data are checked for equality. Therefore, the detection time is fixed, so that the tested board is bad. It was not possible to check whether it was not detected within a certain time, but in the present invention, the tester can check the signal detection time by adjusting the timer interrupt period to execute the interrupt periodically so that the cause of the error of the board to be tested can be found. To overcome the above-mentioned drawbacks It is capable.
Description
제1도는 본 발명에 따른 전전자 교환기의 기능 시험 방법을 적용할 수 있는 신호 시험 장치의 일 실시예를 나타낸 블록도.1 is a block diagram showing an embodiment of a signal test apparatus that can be applied to the functional test method of the electronic switch according to the present invention.
제2도는 본 발명에 따른 전전자 교환기의 기능 시험 방법의 일 실시 예를 단계별로 나타낸 순서도.Figure 2 is a flow chart showing step by step an embodiment of a functional test method of an electro-electronic exchange according to the present invention.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings
10 : 메인 프로세서 20 : 표시부10: main processor 20: display unit
30 : 신호 시험 장치 32 : 정합부30: signal test device 32: matching unit
34 : 제어부 36 : 송신부34 control unit 36 transmission unit
38 : 루프백 회로 40 : 수신부38 loopback circuit 40 receiver
본 발명은 전전자 교환기의 기능 시험 방법에 관한 것으로서, 특히, 전전자 교환기 시스템에 있어서 R2/DTMF 신호 송수신 기능을 시험하도록 하기에 적합한 전전자 교환기의 기능 시험 방법에 관한 것이다.FIELD OF THE INVENTION The present invention relates to a method for testing the functionality of an all-electronic exchange, and more particularly, to a method for testing the functionality of an all-electronic exchange suitable for testing R2 / DTMF signal transmission / reception functions in an all-electronic exchange system.
이와 관련하여, 종래의 기술에 따른 전전자 교환기 시스템에 있어서 R2/DTMF 신호 송수신 기능을 시험하기 위한 방법을 보면 다음과 같다.In this regard, a method for testing an R2 / DTMF signal transmission / reception function in an all-electronic exchange system according to the related art is as follows.
시험하고자하는 테스트 보드(Test board)를 선택하여 해당 테스트 신호를 선택해서 전 채널(Channel)에 테스트 신호(Test signal)를 라이트(Write)하여 송신하고 일정 시간 경과 후, 라이트되어 송신된 신호를 수신하여 리드(Read)해서 송신했던 데이터와 수신된 데이터가 동일한지를 검사한다.Select the test board to test and select the test signal to write and transmit the test signal to all channels. After a certain time, the received signal is received. Then, the data read and transmitted are checked for equality.
즉, 송신했던 데이터와 수신된 데이터가 동일하면 테스트 합격으로 판정하고 반대로, 송신했던 데이터와 수신된 데이터가 동일하지 않으면 불합격으로 판정한다.That is, if the transmitted data and the received data are the same, it is determined as a test pass, and conversely, if the transmitted data and the received data are not the same, it is determined as fail.
그러나 이와 같은 종래의 기술에 있어서는 전 채널에 테스트 신호를 라이트하여 송신하고 일정 시간 경과 후, 라이트되어 송신된 신호를 수신하여 리드해서 송신했던 데이터와 수신된 데이터가 동일한지를 검사하기 때문에 검출 시간이 고정됨으로써 시험한 보드가 불량인 경우 시험한 보드가 검출이 전혀 안되는 보드인지 또는 타이밍이 맞지 않아 일정 시간안에 검출이 되지 않는지를 확인할 수가 없었다.However, in such a conventional technique, the detection time is fixed because the test signal is written and transmitted to all channels, and after a predetermined time, the received and read signal is read and read to check whether the received data and the received data are the same. As a result, when the tested board was defective, it was not possible to confirm whether the tested board was not detected at all or not detected within a certain time due to incorrect timing.
본 발명은 이와 같은 종래 기술의 결점을 해결하기 위하여 안출한 것으로서, 시험한 보드가 불량인 경우 검출 시간을 일정 간격으로 늘려서 시험함으로써 시험보드가 검출이 전혀 안되는 보드인지 또는 타이밍이 맞지 않아 시험자가 입력한 시간안에 검출이 되지 않는지를 확인할 수 있도록 하는 전전자 교환기의 기능 시험 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.The present invention has been made in order to solve the drawbacks of the prior art, and if the tested board is bad, by increasing the detection time at regular intervals and testing, the test board is not detected at all or the timing is not correct. The aim is to provide a functional test method for an electronic changer that can be checked for detection within an hour.
이하, 이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 실시 예를 첨부된 도면에 의하여 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings an embodiment of the present invention for achieving the above object is as follows.
제1도를 참조하면, 제1도는 본 발명에 따른 전전자 교환기의 기능 시험 방법으로 적용할 수 있는 신호 시험 장치의 일 실시 예를 나타낸 블록도로서, 시험 시작시 채널 정보와 데이터 정보를 출력하는 메인 프로세서(Main Processor: MP)(10)와, 메인 프로세서(10)에 시험 시작 명령어를 인가하며 시험 상태를 디스플레이하는 표시부(20)와, 메인 프로세서(10)로부터 채널 정보와 데이터 정보를 인가받아 신호 시험 장치(30)에서 사용할 수 있는 형태로 변환시켜 출력하며 이의 역 기능을 수행하는 정합부(32)와, 정합부(32)로부터 채널 정보와 데이터 정보를 인가받아 출력하며 이의 역 기능을 수행하고 신호 시험 장치(30)의 각 기능을 제어하는 제어부(34)와, 제어부(34)로부터의 채널 정보 및 데이터 정보를 인가받아 각 채널별로 지정된 PCM(Pulse Code Modulation) 데이터를 발생시켜 송신하는 송신부(36)와, 제어부(34)의 제어에 따라 송신부(36)로부터의 PCM 데이터를 루프백(Loop back) 시켜 출력하는 루프백 회로(38)와, 루프백 회로(38)로부터의 출력을 인가받아 제어부(34)로 통보하는 수신부(40)를 포함하여 이루어진다.Referring to FIG. 1, FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a signal test apparatus that can be applied to a functional test method of an electronic switch according to the present invention, and outputs channel information and data information at the start of a test. A main processor (MP) 10, a display unit 20 for applying a test start command to the main processor 10 and displaying a test state, and receiving channel information and data information from the main processor 10. The matching unit 32 converts the form into a form usable by the signal testing apparatus 30 and outputs the reverse function, and receives the channel information and the data information from the matching unit 32, and performs the reverse function. The controller 34 controls the respective functions of the signal testing device 30, and receives channel information and data information from the controller 34 to generate PCM (Pulse Code Modulation) data designated for each channel. A loopback circuit 38 for looping back and outputting the PCM data from the transmitter 36 under the control of the control unit 34 and an output from the loopback circuit 38. And a receiving unit 40 which is authorized and notified to the control unit 34.
이와 같이 이루어지는 본 발명을 제2도를 참조하여 보면 다음과 같다.The present invention thus made will be described with reference to FIG.
먼저, 메인 프로세서(10)는 표시부(20)로부터 시험 시작 명령어를 인가받아 시험 시작시 채널 정보와 데이터 정보를 출력하며, 표시부(20)는 메인 프로세서(10)에 시험 시작 명령어를 인가하며 시험 상태를 디스플레이하여 사용자가 시험 상태를 시각적으로 알 수 있도록 한다.First, the main processor 10 receives the test start command from the display unit 20 and outputs channel information and data information at the start of the test, and the display unit 20 applies the test start command to the main processor 10 and the test state. Is displayed so that the user can visually know the test status.
다음, 신호 시험 장치(30) 내의 정합부(32)는 메인 프로세서(10)로부터 채널 정보와 데이터 정보를 인가받아 신호 시험 장치(30)에서 사용할 수 있는 형태로 변환시켜 출력하며 이의 역 기능을 수행하며, 제어부(34)는 정합부(32)로부터 채널 정보와 데이터 정보를 인가받아 출력하며 이의 역 기능을 수행하고 신호 시험 장치(30)의 각 기능을 제어한다.Next, the matching unit 32 in the signal test device 30 receives channel information and data information from the main processor 10, converts the data into a form that can be used by the signal test device 30, and outputs the converted information. The controller 34 receives channel information and data information from the matching unit 32 and outputs the same, performs the reverse function, and controls each function of the signal test apparatus 30.
또한, 송신부(36)는 제어부(34)로부터의 채널 정보 및 데이터 정보를 인가받아 각 채널별로 지정된 PCM 데이터를 발생시켜 송신하며, 루프백 회로(38)는 제어부(34)의 제어에 따라 송신부(36)로부터의 PCM 데이터를 루프백시켜 출력하고 수신부(40)는 루프백 회로(38)로부터의 출력을 인가받아 제어부(34)로 통보한다.In addition, the transmitter 36 receives the channel information and the data information from the controller 34 to generate and transmit the PCM data designated for each channel, and the loopback circuit 38 performs the transmitter 36 under the control of the controller 34. The PCM data from the loopback is outputted by loopback, and the receiver 40 receives the output from the loopback circuit 38 and notifies the controller 34.
제2도는 본 발명에 따른 전전자 교환기의 기능 시험 방법의 일 실시 예를 단계별로 나타낸 순서도이다.2 is a flow chart showing step by step an embodiment of a functional test method of an electro-electronic exchange according to the present invention.
먼저, 시험하고자하는 테스트 보드를 선택하여 해당 테스트 신호를 선택해서 특정 신호 검출 시간을 입력하고 각 채널 송신 영역에 테스트 데이터를 라이트한다(100,110,120).First, a test board to be tested is selected, a corresponding test signal is selected, a specific signal detection time is input, and test data is written to each channel transmission region (100, 110, 120).
다음, 타이머 인터럽트(Timer Interrupt)를 인에이블(Enable)시켜 타이머 인터럽트가 수행될 때마다 타이머 카운터(Counter)의 카운트를 일정 시간만큼씩 증가시켜서 카운트가 시험자가 입력한 시간이 되도록 한다(130,140,150).Next, the timer interrupt is enabled to increase the count of the timer counter by a predetermined time every time the timer interrupt is performed, so that the count becomes the time input by the tester (130, 140, 150).
이에, 카운트가 시험자가 입력한 시간이 되면 타이머 인터럽트를 디저블(Disable)시키고 각 채널 수신 영영의 데이터를 리드해서 각 채널별로 수신된 데이터가 송신했던 데이터와 동일한지를 검사한다(160,170).Therefore, when the count reaches the time input by the tester, the timer interrupt is disabled and the data of each channel reception area is read to check whether the received data for each channel is the same as the transmitted data (160 and 170).
그리고 송신했던 데이터와 수신된 데이터가 동일하면 테스트 합격으로 판정하고 반대로, 송신했던 데이터와 수신된 데이터가 동일하지 않으면 불합격으로 판정한다(180,190).If the transmitted data and the received data are the same, it is determined to pass the test. On the contrary, if the transmitted data and the received data are not the same, it is determined to fail (180, 190).
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명은 시험자가 타이머 인터럽트 주기를 조정하여 주기적으로 인터럽트를 실행함으로써 신호 검출 시간을 확인하도록하여 시험하고자하는 보드의 에러(Error) 원인을 찾을 수 있다.As described above, the present invention allows the tester to check the signal detection time by adjusting the timer interrupt period and periodically executing the interrupt, thereby finding the cause of the error of the board to be tested.
즉, 시험한 보드가 불량인 경우 검출 시간을 일정 간격으로 늘려서 시험함으로써 시험보드가 검출이 전혀 안되는 보드인지 또는 타이밍이 맞지 않아 시험자가 입력한 시간안에 검출이 되지 않는지를 확인할 수 있는 것이다.In other words, if the test board is defective, the test time is increased by a predetermined interval to check whether the test board is a board that cannot be detected at all or whether the test board is not detected within the time input by the tester because the timing is not correct.
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KR100506279B1 (en) * | 1997-12-29 | 2005-10-13 | 삼성전자주식회사 | How to manage interrupts in a private exchange system |
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1996
- 1996-07-15 KR KR1019960028554A patent/KR100208234B1/en not_active IP Right Cessation
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