KR0169923B1 - 파형검사장치 및 그 방법 - Google Patents
파형검사장치 및 그 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR0169923B1 KR0169923B1 KR1019960002246A KR19960002246A KR0169923B1 KR 0169923 B1 KR0169923 B1 KR 0169923B1 KR 1019960002246 A KR1019960002246 A KR 1019960002246A KR 19960002246 A KR19960002246 A KR 19960002246A KR 0169923 B1 KR0169923 B1 KR 0169923B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- signal
- board
- main controller
- waveform
- inspection
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/281—Specific types of tests or tests for a specific type of fault, e.g. thermal mapping, shorts testing
- G01R31/2813—Checking the presence, location, orientation or value, e.g. resistance, of components or conductors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
- G01R31/2825—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere in household appliances or professional audio/video equipment
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
본 발명은 파형검사장치 및 그 방법에 관한 것이다.
본 발명에 의한 파형검사장치 및 그 방법은 VTR 또는 TV생산시, 이에 내장되는 인쇄회로기판에서 처리되는 신호파형에 대한 검사를 원격탐침(遠隔探針)을 이용하는 장치 및 내장프로그램에 의해서 수행하도록함으로써, 검사작업의 정확도가 개선됨과 동시에 생산성향상 및 품질의 균일화를 획득할 수 있는 것이다.
Description
제1도는 종래의 파형검사방법을 설명하기 위한 설명도.
제2도는 본 발명에 따른 파형검사장치의 구성도.
제3도는 제2도에 도시한 원격탐침(40)의 사시도.
제4도는 본 발명에 따른 파형검사방법을 보이는 플로우챠트.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
10 : 주제어기 11 : CPU보드
12 : 그래픽보드(Graphic board) 13 : A/D변환보드
14 : 트리거보드(Trigger board) 15 : 카운터보더
16 : 데이타I/O보드 17 : GP-IB제어부
20 : 전원공급기 30 : 신호발생기
40 : 원격탐침(Remote probe) 41 : 원격탐침몸체
42 : 출력파형 확대조절부 43 : 스텝키
44 : 탐침 45 : 케이블
50 : 신호분리기 60 : 모니터
본 발명은 파형검사장치 및 그 방법에 관한 것으로, 특히 VTR 또는 TV생산시, 이에 내장되는 인쇄회로기판에서 처리되는 신호파형에 대한 검사를 원격탐침(遠隔探針)을 이용하는 장치 및 내장프로그램에 의해서 수행하도록함으로써, 검사작업의 정확도가 개선됨과 동시에 생산성향상 및 품질의 균일화를 획득할 수 있는 파형검사장치 및 그 방법에 관한 것이다.
일반적으로, 비디오/오디오신호를 처리하는 인쇄회로기판은 비디오테이프레코더, 비디오카메라 및 텔레비젼등에 포함되는데, 상기 VTR이나 TV등을 생산하는 과정에서 이에 내장되는 인쇄회로기판을 사전에 검사하는 과정이 수반된다.
상기 인쇄회로기판에서 처리되어 출력되는 신호를 검사하여 부품을 조정하는 신호 항목에는 비디오신호(휘도, 크로마레벨등을 포함), 오디오신호등이 있고, 회로항목에는 비디오처리회로, 오디오처리회로, 자동이득조절회로(AGC)등 상당히 다양한 항목들이 있다.
일반적인 기술에 관련되는 종래의 파형검사방법을 설명하기 위한 설명도는 제1도에 도시되어 있는 바와같이, 이송장치(1)에 의해서 이동되는 검사대상체인 인쇄회로기판(2)이 소정위치로 이동되는 경우에 다수개의 오실로스코우프들(3-1), (3-2), (3-3), (3-4)등을 포함하는 상용 계측장비(3)를 이용해서 검사자가 직접 인쇄회로기판(2)상에 형성되어 있는 테스트포인트(TP)로 신호파형을 상기 오실로스코우프로 입력시킴으로써 파형검사를 실시하게 된다.
이와같은 종래의 파형검사방법에서는 장비의 전체크기가 방대해지고, 신호파형을 검사하는 기준이 없이 검사하는 사람의 경험에 의해서 양부를 판정하게 되는 관게로 검사결과의 신뢰성결여의 문제점이 있으며, 또한 검사작업이 일일이 수동으로 이루어짐에 의해서 작업자체가 번거로울 뿐만아니라 많은 검사시간이 소요되는 등과같은 여러가지 문제점이 있었던 것이다.
본 발명은 상기한 문제점을 해결하기 위해 안출한 것이다.
따라서, 본 발명의 목적은 VTR 또는 TV생산시, 이에 내장되는 인쇄회로기판에서 처리되는 신호파형에 대한 검사를 원격탐침(遠隔探針)을 이용하는 장치 및 내장프로그램에 의해서 수행하도록함으로써, 검사작업의 정확도가 개선됨과 동시에 생산성향상 및 품질의 균일화를 획득할 수 있는 파형검사장치 및 그 방법을 제공하는데 있다.
상기한 목적을 달성하기 위한 기술적인 수단으로써, 본 발명은 파형검사를 위한 전체회로 및 장치를 제어하도록 프로그램이 내장되어 있는 CPU보드와, 검사선택에 의해서 동작되어 전원공급 및 신호발생을 제어하는 인터페이스제어부와, 신호분리기로 신호분리제어신호를 출력하고 원격탐침으로부터 신호를 입력받는 데이타I/O보드와, 신호발생기로부터의 동기신호로 트리거신호를 발생시키는 트리거보드와, 상기 트리거보드의 트리거신호에 의해서 상기 신호분리기로부터의 아날로그신호를 디지털신호로 변환하는 A/D변환보드와, 상기 신호분리기로부터의 주파수를 카운팅하는 카운트보드와, 검사신호를 출력할 모니터의 화면표시를 제어하는 그래픽보드로 구성된 주제어기;
상기 인터페이스제어부를 통한 주제어기의 제어에 따라 인쇄회로기판을 지지하는 하부지그설비장치에 전원을 인가하는 전원공급기;
상기 인터페이스제어부를 통한 주제어기의 제어에 따라 영상반송파신호와 동기신호를 발생시켜서, 인쇄회로기판을 지지하는 하부지그설비장치에 영상반송신호를 제공함과 동시에 상기 주제어기의 트리거보드에 동기신호를 제공하는 신호발생기;
상기 인쇄회로기판상의 다수의 테스트포이트중 탐침이 테스트포인트에 접촉하는 경우에 접촉검출신호를 주제어기의 데이타I/O보드로 제공하고, 상기 접촉된 테스트포인터로부터의 신호를 신호분리기로 제공하는 원격탐침;
상기 데이타I/O보드를 통한 주제어기의 제어에 따라 상기 원격탐침으로부터의 신호에 대한 크기성분과 주파수성분으로 분리해서 주제어기의 A/D변환보드와 카운터보드로 각각 제공하는 신호분리기;
상기 주제어기에 포함된 그래픽보드로부터의 신호와 검사결과를 화면으로 표시하는 모니터를 구비함을 특징으로한다.
또한, 본 발명의 다른특징으로는 전체 장치 및 회로를 제어하고 선택된 신호를 분석하는 주제어기와, 소망 전원을 공급하는 전원공급기와, 신호를 발생시키는 신호발생기와, 인쇄회로가판상의 테스트포인트를 선택하여 검사신호를 취입하는 원격탐침과, 상기 원격탐침으로부터의 신호를 분리하는 신호분리기와, 상기 검사신호에 대한 파형을 화면으로 표시하는 모니터를 포함하는 장치를 이용한 검사방법에 있어서, 파형검사가 선택됨에 따라 규격치를 로딩(Loading)시키고, 하드웨어 및 소프트웨어 동작상에 필요한 변수를 최기화시키는 제1단계;
제1단계후, 인터페이스제어부를 통해서 전원공급기 및 신호발생기를 각각 제어하여 인쇄회로기판에 전원 및 신호를 제공하는 제2단계;
제2단계후, 원격탐침의 스텝키로 검사를 설정하고, 이후 원격탐침의 탐침을 인쇄회로기판상의 해당 테스트포인트에 접촉시키는 제3단계;
상기 탐침이 해당 테스트포인트에 접촉됨이 데이타I/O보드를 통해서 확인된 경우에 신호분리기를 제어한 다음에 이로부터 입력받은 크기성분을 A/D변환부를 통해서 디지털신호로 변환함과 동시에 주파수를 카운팅하는 제4단계;
상기 제4단계에서 변환된 측정치가 규격치의 범위를 벗어나는 경우에는 불량으로 판단하고, 반면 범위를 벗어나지 않을 경우에는 양호로 판단한후, 이 판단한 검사 결과에 해당하는 데이타와 취입된 신호파형을 그래픽보드를 통해 모니터에 표시하는 제5단계;
상기 제5단계후, 스텝키의 입력선택이 있는 경우에 상기 제3단계로 진행되는 제6단계로 이루어짐을 특징으로 한다.
이하, 본 발명에 따른 파형검사장치의 바람직한 실시예를 첨부한 도면을 참조하여 설명한다.
제2도는 본 발명에 따른 파형검사장치의 구성도이고, 제3도는 제2도에 도시한 원격탐침(40)의 사시도로서, 제2도 및 제3도를 참조하면 본 발명의 파형검사장치의 구성은 다음과 같다.
10은 주제어기로, 이는 파형검사를 위한 전체회로 및 장치를 제어하도록 프로그램이 내장되어 있는 CPU보드(11)와, 검사선택에 의해서 동작되어 전원공급 및 신호발생을 제어하는 인터페이스제어부(17)와, 신호분리기로 신호분리제어신호를 출력하고 원격탐침으로부터 신호를 입력받는 데이타I/O보드(16)와, 신호발생기로부터의 동기신호로 트리거신호를 발생시키는 트리거보드(14)와, 상기 트리거보드(16)의 트리거신호에 의해서 상기 신호분리기로부터의 아날로그신호를 디지털신호로 변환하는 A/D변환보드(13)와, 상기 신호분리기로부터의 주파수를 카운팅하는 카운트보드(15)와, 검사신호를 출력할 모니터의 화면표시를 제어하는 그래픽보드(12)를 구비하고 있다.
20은 전원공급기로, 이는 상기 인터페이스제어부(11)를 통한 주제어기(10)의 제어에 따라 인쇄회로기판(PCB)을 지지하는 하부지그설비장치(DF)에 전원을 공급하는 장치이고, 30은 신호발생기로, 이는 상기 인터페이스제어부(11)를 통한 주제어기(10)의 제어에 따라 영상반송파신호와 동기신호를 발생시켜서, 인쇄회로기판(PCB)을 지지하는 하부지그설비장치(DF)에 영상반송파신호를 제공함과 동시에 상기 주제어기(10)의 트리거보드(14)에 동기신호를 제공하는 장치이다.
40은 원격탐침으로, 이는 상기 인쇄회로기판(PCB)상의 다수의 테스트포인트중 탐침(44)이 테스트포인트에 접촉하는 경우에 접촉검출신호를 주제어기(10)의 데이타I/O보드로 제공하고, 상기 접촉된 테스트포인터로부터의 신호를 신호분리기(50)로 제공하고, 또한 상기 원격탐침(40)의 몸체(41)에 검사항목을 절환하도록 형성된 스텝키(43)와, 모니터(60)에 출력되는 신호파형을 수직측으로 확대비율을 조절하도록 형성된 출력파형 확대조절부(42)를 구성한다.
50은 신호분리기로, 이는 상기 데이타I/O보드(16)를 통한 주제어기(10)의 제어에 따라 상기 원격탐침(40)으로부터의 신호에 대한 크기성분과 주파수성분으로 분리해서 주제어기(10)의 A/D변환보드(13)와 카운터보드(15)로 각각 제공하는 장치이고, 60은 모니터로, 이는 상기 주제어기(10)에 포함된 그래픽보드(12)로부터의 신호와 검사결과를 화면으로 표시하는 장치이다.
여기서, 도면중 미설명부호인 45는 원격탐침(40)과 신호분리기(50) 및 주제어기(10)간에 전기적으로 접촉시키는 케이블이고, 61은 모니터(60)의 화면에서 신호파형을 출력시키는 영역이며, 62는 신호검사에 따른 결과를 출력시키는 영역이다. 제4도는 본 발명에 따른 파형검사방법을 보이는 플로우챠트이다.
이와같이 구성된 본 발명에 따른 작용 및 효과를 첨부도면에 의거하여 하기에 상세히 설명한다.
제2도, 제3도 및 제4도를 참조하면, 본 발명의 주제어기(10)로 검사선택을 입력함에 따라서 상기 주제어기(10)는 신호검사를 위해 초기환경(프로그램의 로딩, 변수들의 초기화)을 조성시킨다(이상은 제4도의 제1단계(110)에 해당됨).
상기 주제어기(10)는 인터페이스제어부(17)를 통해서 전원공급기(20)로 전원공급을 명령함과 동시에 신호발생기(30)로 신호발생을 명령하고, 이에따라 전원공급기(20)는 인쇄회로기판(PCB)에서 필요로되는 전원을 하부지그설비장치(DF)를 통해서 제공하고, 이와동시에 신호발생기(30)에서는 영상반송파신호를 하부지그설비장치(DF)를 통해서 인쇄회로기판(PCB)에 제공하고, 또한 상기 신호발생기(30)에서 출력되는 동기신호(SYC)는 주제어기(10)의 트리거보드(14)로 제공된다(이상은 제4도의 제2단계(111)에 해당됨).
상기와 같은 인쇄회로기판(PCB)에 전원과 신호가 공급된 다음에 검사자는 원격탐침(40)의 스텝키(43)를 선택하여 주제어기(10)에 검사선택을 알린후, 원격탐침(40)의 탐침(44)을 사전에 설정된 검사항목에 해당되는 테스트포인트에 접촉시킨다(이상은 제4도의 제3단계(112,113)에 해당됨).
또한, 상기 주제어기(10)는 데이타I/O보드(16)를 통해서 탐침(44)이 해당된 테스트포인트에 접촉됨이 확인되면 신호분리기(50)로 동작신호를 출력하고, 이에따라 상기 신호분리기(50)는 원격탐침(40)으로부터의 신호를 크기성분과 주파수성분(또는 타이밍성분)으로 분리하며, 또한 상기 트리거보드(14)를 제어하여 신호발생기(30)로부터의 동기신호(SYC)로 트리거신호를 생성시켜서 A/D변환보드(13)에 제공하여 상기 신호분리기(50)로부터의 신호에 대한 크기성분에 해당되는 아날로그신호를 A/D변환보드(13)에서 디지털신호로 변환함과 동시에 카운터보드(15)에서는 주파수 성분을 카운팅한다(이상은 제4도의 제4단계(114,115)에 해당됨).
계속해서, 상기 제어기(10)는 CPU보드(11)에서 상기 변환된 디지털신호를 사전에 설정된 해당신호에 대한 규격치의 범위에 포함되는지를 비교하여 규격치에 포함되는 경우에는 양호로 판단하고, 반면에 규격치를 벗어나는 경우에는 불량으로 판단하여, 상기 판단된 결과에 해당하는 데이타(양호 또는 불량)와 상기 취입딘 신호를 그래픽보드(12)를 통해서 모니터(60)로 출력한다(이상은 제4도의 제5단계(116,117,118,119)에 해당됨).
한편, 검사자는 상기 모니터(60)에 출력되는 양호 또는 불량으로 표시되는 검사결과로 즉시 결과를 알 수 있으며, 또한 결과에 따른 신호파형의 분석이 가능하고, 한편 모니터(60)에 출력되는 신호파형의 형태를 식별하기 어렵거나 보다 정확한 신호파형을 보기 위해서는 원격탐침(40)의 몸체(41)에 마련된 출력파형 확대조절부(42)를 슬라이드식으로 조절함에 의해서 모니터(60)의 수직축으로 신호파형의 확대비를 용이하게 조절가능하게 되는 것이다.
상기한 바와같이 첫번째로 설정된 해당 신호에 대한 일련의 검사과정이 진행된후에는 상기 주제어기(10)은 원격탐침(40)의 스텝키(43)의 선택이 있는지를 체크하여 선택이 있는 경우에는 두번째로 설정된 해당신호에 대한 일련의 검사과정이 상기한 과정과 동일한 과정으로 진행되는 것이다(이상은 제4도의 제6단계에 해당됨).
상술한 바와같은 본 발명은 VTR 또는 TV생산시, 이에 내장되는 인쇄회로기판에서 처리되는 신호파형에 대한 검사를 원격탐침(遠隔探針)을 이용하는 장치 및 내장프로그램에 의해서 수행하도록함으로써, 검사작업의 정확도가 개선됨과 동시에 생산성향상 및 품질의 균일화를 획득할 수 있는 등과같은 효과가 있다.
이상의 설명은 본 발명의 일실시예에 대한 설명에 불과하며, 본 발명은 그 구성의 범위내에서 다양한 변경 및 개조가 가능하다.
Claims (3)
- 파형검사를 위한 전체회로 및 장치를 제어하도록 프로그램이 내장되어 있는 CPU보드(11)와, 검사선택에 의해서 동작되어 전원공급 및 신호발생을 제어하는 인터페이스제어부(17)와, 신호분리기로 신호분리제어신호를 출력하고 원격탐침으로부터 신호를 입력받는 데이타I/O보드(16)와, 신호발생기로부터의 동기신호로 트리거신호를 발생시키는 트리거보드(14)와, 상기 트리거보드(16)의 트리거신호에 의해서 상기 신호분리기로부터의 아날로그신호를 디지털신호로 변환하는 A/D변환보드(13)와, 상기 신호분리기로부터의 주파수를 카운팅하는 카운트보드(15)와, 검사신호를 출력할 모니터의 화면표시를 제어하는 그래픽보드(12)로 구성된 주제어기(10); 상기 인터페이스제어부(11)를 통한 주제어기(10)의 제어에 따라 인쇄회로기판(PCB)을 지지하는 하부지그설비장치(DF)에 전원을 인가하는 전원공급기(20); 상기 인터페이스제어부(11)를 통한 주제어기(10)의 제어에 따라 영상반송파신호와 동기신호를 발생시켜서, 인쇄회로기판(PCB)을 지지하는 하부지그설비장치(DF)에 영상반송파신호를 제공함과 동시에 상기 주제어기(10)의 트리거보드(14)에 동기신호를 제공하는 신호발생기(30); 상기 인쇄회로기판(PCB)상의 다수의 테스트포인트중 탐침(44)이 테스트포인트에 접촉하는 경우에 접촉검출신호를 주제어기(10)의 데이타I/O보드로 제공하고, 상기 접촉된 테스트포인터로부터의 신호를 신호분리기(50)로 제공하는 원격탐침(40); 상기 데이타I/O보드(16)를 통한 주제어기(10)의 제어에 따라 상기 원격탐침(40)으로부터의 신호에 대한 크기성분과 주파수성분으로 분리해서 주제어기(10)의 A/D변환보드(13)와 카운터보드(15)로 각각 제공하는 신호분리기(50); 상기 주제어기(10)에 포함된 그래픽보드(12)로부터의 신호와 검사결과를 화면으로 표시하는 모니터(60)를 구비함을 특징으로하는 파형검사장치.
- 제1항에 있어서, 상기 원격탐침(40)은 그 몸체(41)에 검사항목을 절환하도록 형성된 스텝키(43)와, 모니터(60)에 출력되는 신호파형을 수직측으로 확대비율을 조절하도록 형성된 출력파형 확대조절부(42)를 구비함을 특징으로 하는 파형검사장치.
- 전체 장치 및 회로를 제어하고 선택된 신호를 분석하는 주제어기(10)와, 소망 전원을 공급하는 전원공급기(20)와, 신호를 발생시키는 신호발생기(30)와, 인쇄회로가판상의 테스트포인트를 선택하여 검사신호를 취입하는 원격탐침(40)과, 상기 원격탐침(40)으로부터의 신호를 분리하는 신호분리기(50)와, 상기 검사신호에 대한 파형을 화면으로 표시하는 모니터(60)를 포함하는 장치를 이용한 검사방법에 있어서, 파형검사가 선택됨에 따라 규격치를 로딩(Loading)시키고, 하드웨어 및 소프트웨어 동작상에 필요한 변수를 최기화시키는 제1단계(110); 제1단계(110)후, 인터페이스제어부(17)를 통해서 전원공급기(20) 및 신호발생기(30)를 각각 제어하여 인쇄회로기판에 전원 및 신호를 제공하는 제2단계(111); 제2단계(111)후, 원격탐침(40)의 스텝키(43)로 검사를 설정하고, 이후 원격탐침(40)의 탐침(44)을 인쇄회로기판(PCB)상의 해당 테스트포인트에 접촉시키는 제3단계(112,113); 상기 탐침(44)이 해당 테스트포인트에 접촉됨이 데이타I/O보드(16)를 통해서 확인된 경우에 신호분리기(50)를 제어한 다음에 이로부터 입력받은 크기성분을 A/D변환보드(13)를 통해서 디지털신호로 변환함과 동시에 주파수를 카운팅하는 제4단계(114,115); 상기 제4단계(114,115)에서 변환된 측정치가 규격치의 범위를 벗어나는 경우에는 불량으로 판단하고, 반면 범위를 벗어나지 않을 경우에는 양호로 판단한후, 이 판단한 검사 결과에 해당하는 데이타와 취입된 신호파형을 그래픽보드(12)를 통해 모니터(60)에 표시하는 제5단계(116,117,118); 상기 제5단계(116,117,118)후, 스텝키(43)의 입력선택이 있는 경우에 상기 제3단계로 진행되는 제6단계로 이루어짐을 특징으로하는 파형검사방법.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019960002246A KR0169923B1 (ko) | 1996-01-31 | 1996-01-31 | 파형검사장치 및 그 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019960002246A KR0169923B1 (ko) | 1996-01-31 | 1996-01-31 | 파형검사장치 및 그 방법 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR970059743A KR970059743A (ko) | 1997-08-12 |
| KR0169923B1 true KR0169923B1 (ko) | 1999-03-20 |
Family
ID=19450484
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1019960002246A KR0169923B1 (ko) | 1996-01-31 | 1996-01-31 | 파형검사장치 및 그 방법 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR0169923B1 (ko) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100795569B1 (ko) * | 2006-08-17 | 2008-01-21 | 옥순봉 | 실시간 측정그래프를 통한 회로검사장치 및 그 방법 |
-
1996
- 1996-01-31 KR KR1019960002246A patent/KR0169923B1/ko not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR970059743A (ko) | 1997-08-12 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0999452B1 (en) | Method and apparatus for automatically acquiring a waveform measurement | |
| KR0169923B1 (ko) | 파형검사장치 및 그 방법 | |
| US5703492A (en) | System and method for fault analysis of semiconductor integrated circuit | |
| JPH06258356A (ja) | 信号波形の最大，最小値測定装置 | |
| KR100190646B1 (ko) | 개인용컴퓨터를 이용한 비디오신호 검사장치 및 방법 | |
| KR100219392B1 (ko) | 기능 검사가 가능한 범용 계측기 | |
| JPH08189939A (ja) | プロービング特性試験装置 | |
| KR0143517B1 (ko) | 텔레비젼 화질검사 방법 | |
| KR100213370B1 (ko) | 자동검사 지그장치를 구비한 회로기능 검사장치 | |
| KR100190667B1 (ko) | 개인용 컴퓨터를 이용한 회로기능검사시스템 | |
| KR980010452A (ko) | 회로기판 검사장치 및 검사방법 | |
| KR100200831B1 (ko) | 화상 신호용 인쇄 회로 기판의 화상 신호 출력의 검사 조정기 및 이에 의한 검사 조정 방법 | |
| KR200143217Y1 (ko) | 오실로스코프기능을 구비한 회로기능검사장치 | |
| JPS58144764A (ja) | 回路基板自動計測検査装置 | |
| KR0151956B1 (ko) | 튜너의 누설전류 자동검사시스템 | |
| KR0169924B1 (ko) | 카오디오 튜너의 최적파형 검출방법 | |
| KR100190666B1 (ko) | 개인용컴퓨터를 이용한 주파수 측정장치 및 방법 | |
| KR0158422B1 (ko) | 실장형 회로소자 자동검사장치 | |
| KR0158382B1 (ko) | 듀얼모드의 회로기능검사 시스템 | |
| KR0169925B1 (ko) | 카오디오 튜너 파형검사 조정시스템 | |
| KR0146802B1 (ko) | 튜너 자동검사 장치 및 그 제어방법 | |
| KR0151960B1 (ko) | 브이. 시. 알의 화면검사장치 | |
| JPS63198878A (ja) | 実装回路基板の試験装置 | |
| KR19990021675U (ko) | 택트 스위치 검사봉을 구비한 아이씨티 검사장치 | |
| JPH09127210A (ja) | 半導体テスト装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination | ||
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| GRNT | Written decision to grant | ||
| LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |