KR0133795Y1 - 음극선관의 새깅 측정장치 - Google Patents

Abstract

본 고안은 음극선관의 새깅치를 측정하는 개선된 장치를 개시한다. 종래의 새깅치 측정장치는 음극선관의 페이스 중앙부만을 측정할수 있었는데, 페이스는 복합곡률로 변형되므로 그 중앙부의 새깅치가 대표값이 되지 못하여 음극선관의 변형 특성의 파악이 곤란하였다.

본 고안에서는 측정수단을 XY테이블상에 설치하여 임의점의 새깅치의 측정이 가능하도록 하여 음극선관의 변형특성을 신뢰성 높게 파악할수 있게 하였다.

Description

음극선관의 새깅 측정장치

제1도는 종래 측정장치의 구성을 보이는 측면도.

제2도는 본 고안 측정장치의 구성을 보이는 측면도.

제3도는 그 평면도이다.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

T : 음극선관 1 : 베이스(base)

2 : XY테이블(XY table) 6 : 측정수단

본 고안은 음극선관의 제조에 관한 것으로, 특히 그 새깅(sagging)을 측정하는 장치에 관한 것이다.

음극선관은 전자총에서 발사된 전자빔을 형광면에 선택적으로 착상(landing)시킴으로써 화상을 표시하는 장치인바, 전자빔의 안정적 발생과 가속을 위해 그 내부는 고진공 상태로 유지되지 않으면 안된다.

그런데 유리제의 음극선관 벌브(bulb)를 고진공상태로 배기하면 벌브의 페이스(face)와 펀넬(funnel)은 수축하고자 하고 스커어트(skirt)는 팽창하고자 하는 큰 변형응력이 발생된다. 이러한 변형응력에 의한 음극선관의 폭축(implosion)을 방지하기 위해 스크어트의 외주에는 방폭밴드(防爆 band)를 고(高)인장력으로 감아줌으로써 음극선관의 변형응력을 보상시키게 된다.

이와같이 보강된 음극선관의 방폭 특성을 측정하는 대표치로서 새깅치(sagging 植)와 회복율(回復率)이 사용되는데, 새깅치는 소정의 기준점으로부터 음극선관의 관축방향으로 측정한 페이스의 변형량이며, 회복율은 다음식으로 정의된다.

즉 회복율은 배기에 의해 변형된 음극선관이 밴딩에 의해 어느정도 보강되었는가를 나타내는 수치이다.

이러한 새깅치의 측정에는 일반적으로 제1도에 도시된 바와 같은 측정장치가 사용되었다. 제1도에서, 베이스(base:11)상에는 음극선관(T)을 정위치에 지지하는 포인터(pointer:18) 및 스토퍼(stopper:19)가 구비되고, 베이스(11)의 중앙에는 한 측정기(16)가 설치되어 측정된 새깅치를 미터(meter:17)로 출력한다. 이 측정기(16)는 통상 프루브(probe:16a)가 음극선관(T)의 페이스의 중앙에 접촉하여 그 이동량에 따른 전류치 등을 미터(17)로 전달하는 방식의 것이다.

이러한 새깅치는 실선으로 표시된 배기전, 점선으로 표시된 배기후(밴딩전), 그리고 일점쇄선으로 표시된 밴딩후의 값을 각각 측정하여 전술한 회복율 등을 연산하게 된다. 그런데 특히 배기후의 음극선관(t)의 페이스는 도시된 바와같이 복합적인 곡률로 변형하게 되어 그 변형상태가 균일하지 못하므로 그 중앙의 측정값이 페이스의 전체적인 변형의 대표값이 되기 어렵다. 이에따라 페이스 중앙만의 새깅치를 측정하는 종래의 방법에 의해서는 브라운관의 변형 특성을 정확히 파악하기 어려워, 음극선관의 배기전후 및 밴딩후의 응력 상태의 정확한 판정이 불가능하였다.

상술한 종래의 문제점을 감안하여 본 고안의 목적은 음극선관 페이스의 복수의 위치에 대한 새깅치 측정이 가능한 측정장치를 제공하는 것이다.

이와같은 목적을 달성하기 위해 본 고안에 의한 음극선관의 새깅치 측정장치는 측정될 음극선관을 지지하며 그 중앙부에 측정개구(measuring aperture)를 형성한 베이스와,이 베이스의 하부에 설치된 XY테이블(table)과, 이 XY테이블상에 설치되어 측정개구를 통해 음극선관 페이스의 새깅치를 측정하는 측정수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.

본 고안의 바람직한 특징에 의하면 측정수단은 비(非)접촉식 거리센서로 구성된다.

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 고안의 한 바람직한 실시예를 상세히 설명한다.

제2도 및 제3도에서, 베이스(1)상에는 측정될 음극선관(T)을 정위치에 정합(align)시켜 지지하는 포인터(8) 및 스토퍼(9)가 구비되고, 베이스(1)의 중앙에는 비교적 큰 면적의 측정개구(1a)가 형성된다. 베이스(1)의 하부에는 서포트(support:3)가 연장되어 이 서포트(3)에 XY테이블(2)이 설치된다.

XY테이블(2)은 음극선관(T)의 횡방향으로 연장되는 X스케일(X-scale:2X)과 이 X스케일(2X)상을 이동할수 있는 캐리지(carriage:4)상에 설치된 Y스케일(2Y)상에는 측정수단(6)을 지지하는 지지블록(5)이 이동가능하게 설치되어 있다. 이와같은 구성에 따라 측정수단(6)은 XY테이블(2)을 따라 이동하면서 측정개구(1a)를 통해 음극선관(T)페이스의 임의 부분의 새깅치를 측정할수 있다. 이러한 측정수단(6)의 이동의 편의를 위해 각 스케일(2X,2Y)은 랙-피니언(rack-pinion)기구를 구비하게 되고, 서포트(3)에는 XY테이블(2)의 상하위치 조정을 위해 이를 구비하는 것이 바람직하다. 부호 10은 이동 및 조정을 위한 조정노브(adjusting knob)들이다.

한편 측정수단(6)은 바람직하기로는 비접촉식 거리센서로 구성된다. 그 이유는 접촉식 측정기의 경우 이를 페이스에 접촉시킨채 이동하면 페이스에 손상을 입힐 염려가 있으며 프루부의 탄성력에 의해 정확한 측정이 이루어 지지 않기 때문이다. 비접촉식 거리센서로는 음극선관의 페이스가 비자성이므로 일반적인 근접센서는 사용될수 없다. 이에 따라 측정수단(6)은 바람직하기로 분광(分光)식 거리 측정기 등의 광 센서가 사용되며 그 측정치를 디지탈 미터(digital meter:7) 등을 통해 표시하게 된다.

이와같은 장치를 이용해 음극선관의 새깅치을 측정하는 과정은 다음과 같다. 먼저 베이스(1)상의 포인터(8) 및 스토퍼(9)상에 배기전 상태의 음극선관(T)을 위치시킨 뒤, XY테이블상에서 측정수단(6)을 소정의 측정점으로 이동시켜 배기전 새깅치를 측정한다. 이때 측정점은 종래와 같이 페이스 중앙부뿐 아니라 그 주변의 복수의 위치에 설정된다. 이에따라 복수 위치의 새깅치를 디지탈 미터(7)를 통해 판독하여 기록하거나 소정의 기억장치에 기억시킨다.

다음 이 음극선관(T)을 취출하여 배기 시킨 뒤, 배기후의 음극선관(T)을 적재하여 동일한 측정점들의 새깅치를 측정하고, 이 음극선관(T)을 취출하여 밴딩시킨후 다시 동일 측정점들의 새깅치를 측정한다.

그러면 복수의 측정점들에 대해 각각 배기전후와 밴딩후의 새깅치들이 측정된바, 이를 이용하여 각 측정점의 회복율을 연산하거나 적절한 통계적 방법으로 처리함으로써 전체적인 회복율을 연산하게 된다.

이와같이 본 고안에 의하면 복수의 측정점들에 대한 새깅치를 각각 측정함으로써 밴딩에 의한 음극선관의 응력상태를 확실히 파악할 수 있고, 이에따라 방폭의 신뢰성을 높일수 있게된다.

이에따라 본 고안은 음극선관의 안정성과 신뢰성을 향상에 큰 효과가 있다.

Claims (2)

1. 측정될 음극선관(T)을 지지하며, 그 중앙부에 측정개구(1a)가 형성된 베이스(1)와, 상기베이스(1)의 하부에 설치된 XY테이블(2)과, 상기XY테이블(2)상에 설치되어 임의 위치로 이동가능하며, 상기 측정개구(1a)를 통해 상기 음극선관(T)페이스의 복수의 측정점의 새깅치를 측정하는 측정수단(6)을 구비하는 것을 특징으로 하는 음극선관의 새깅 측정장치.
2. 제1항에 있어서, 상기 측정수단(6)이 비접촉식의 광센서인 것을 특징으로 하는 음극선관의 새깅 측정장치.