KR0125766B1 - 주파수 영역 편광계 - Google Patents

주파수 영역 편광계

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KR0125766B1
KR0125766B1 KR1019930001039A KR930001039A KR0125766B1 KR 0125766 B1 KR0125766 B1 KR 0125766B1 KR 1019930001039 A KR1019930001039 A KR 1019930001039A KR 930001039 A KR930001039 A KR 930001039A KR 0125766 B1 KR0125766 B1 KR 0125766B1
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제임스 더블유.크롤리
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Abstract

미지의 편광을 가진 입사 전자기 신호의 파형, 방위, 및 회전은 수직으로 편광된 전자기 센서에 의해 측정된 입사 전자기파 세기(power)의 단일 채널 주파수 영역 신호 분석을 통해 식별된다. 제어된 스위치는 센서의 각 직교 방향의 출력에서의 전자기력 측정치의 사이에서 샘플링을 행하여, 주파수 영역에 있는 반송 주파수 성분 및 2개의 측파대 주파수 성분으로 이루어진 신호를 발생한다. 상기 샘플화된 무선 주파수 신호는 단일 채널 수신기에 의해 중간 주파수로 다운 변환되는데, 여기에서 반송 주파수 성분과 하나의 측파대 주파수 성분은 분리되고 동일한 주파수로 일관성있게 시프트된다. 위상 검출기 및 비율 계측기는 입사 전자기 신호의 파형, 방위 및 회전을 식별하기 위해 상기 분리된 반송 주파수 성분 및 측파대 주파수 성분간의 상대적인 위상 및 진폭 차이를 측정한다.

Description

주파수 영역 편광계
제1도는 종래의 이중 채널 정합 수신기 편광계(a conventional dual channel matched receiver polarimeter)에 대한 블럭도.
제2도는 단일 채널 수신기 주파수 영역 편광계에 대한 단순화된 블럭도.
제3도는 단일 채널 수신기 주파수 영역 편광계에 대한 양호한 실시예를 도시한 블럭도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
10 : 이중 채널 위상 및 이득 정합 수신기 편광계 14, 16 : 선형 탐침
18, 20 : 위상 및 이득 정합 수신기 22 : 공유형 국부 발진기
24 : 위상 검출기
[발명의 목적]
[발명이 속하는 기술 분야 및 그 분야의 종래 기술]
[기술분야]
본 발명은 전자기파 에너지 측정에 관한 것으로, 특히, 입사 전자기 신호의 편광을 측정하기 위한 장치에 관한 것이다.
[발명의 배경]
무선 주파수 스펙트럼(radio frequency specturm)에서 전자기파가 선형이나, 타원형이나 또는 원형으로 편광될 수도 있다는 것은 이 분야의 기술에서는 널리 공지되어 있다. 선형으로 편광된 전자기파는 파 전달의 방향으로 확장하는 단일 평면에 제한되지만 임의의 각도로 향할 수 있다. 원형이나 또는 타원형으로 편광된 전자기파는 파 전달의 축에 대하여 시계 방향으로 또는 반시계 방향으로 회전된 선형파를 포함한다. 타원형으로 편광된 파의 주축은 선형으로 편광된 파와 유사한 방식에서 임의의 각도로 향할 수도 있다.
군사 응용에 있어서, 입사 전자기파 형태, 즉, 방위(orientation) 또는 회전에 대한 정보가 가능한 빨리 결정되는 것이 중요하다. 이 정보는 전자기파 방사원(emitter)의 신분(signature), 또는 지문(fingerprint)을 식별하는 중요한 파라미터를 제공한다. 일단, 상기 파에 대한 정보가 식별 되어졌다면, 정보 수집(intelligence gathering), 자동유도(homing), 방사원 선별, 또는 활성 전자기파 방해기(active electromagnetic wave jammer)의 배열의 목적으로 상기 입사 전자기파를 발생시킨 방사원은 그 특징(signature)으로부터 인식될 수 있다.
역사적으로, 편광계는 입사 전자기파의 편광 성분의 세기(power)를 측정하기 위해 이중의 직각으로 편광된 안테나에 결합된 이중 채널 수신기로 구성되어졌다. 이들 성분의 측정된 세기는 상기 전자기파의 편광 특성을 식별한다. 종래의 편광계는 한 쌍의 위상 및 이득 정합 수신기(phase and gain matched receivers)에 결합된 직각으로 편광된 안테나를 포함한다. 상기 입사 파의 형태, 방위 및 회전의 식별은 상기 이중 수신기로부터의 출력 신호의 상대적인 진폭 및 위상을 비교하는 것에 의해 이루어진다.
편광계 구성에 대한 종래의 방법은 2개의 복잡하고 값비싼 위상 및 이득 정합 수신기를 상호 접속할 필요가 있기 때문에 만족스럽지 못한 것으로 판명되어졌다. 이중 채널 정합 수신기 편광계의 또 다른 결점은 제2의 수신기가 상기 장치에 중량을 가중시키고 부가적인 장착 공간을 필요로 한다는 것이다. 예를들어, 군사 항공기와 같이 중량 및 공간에 민감한 응용에 있어서, 상기 편광계용 제2의 수신기를 제공하는데 필요한 중량 및 공간은 유효하지 않거나, 또는 유효하다면 다른 중요한 시스템 성분의 희생으로 제공된다.
따라서, 복잡하고 값비싼 이중 채널 수신기에 대한 필요성을 제거한 편광 검출용 신호 처리 테크닉이 요구되고 있다.
[발명이 이루고자하는 기술적 과제]
[발명의 요약]
본 발명은 파 특성을 검출하고 방사원의 특징(signature)을 식별하기 위해 단일의 채널 수신기를 사용한 신호 처리 테크닉을 제공함으로써 종래의 편광계 구성과 관련된 전술한 문제점 및 다른 문제점을 극복한다. 본 발명의 보다 폭넓은 양상에 따라, 입사 전자기파 세기(power)는 직각으로 편광된 전자기파 센서에 의해 측정 및 출력된다. 각 센서로부터의 출력된 전자기력(electromagnetic power)을 단일의 채널 수신기에 의해 처리하고, 위상 및 진폭의 비교를 행한다. 그리고 상기 위상 및 진폭 비교 정보를 더 처리해서, 상기 입사 전자기파의 형태(선형, 원형 또는, 타원형), 방위(편광 각도) 및/또는 회전(시계 또는 반시계 방향)을 식별한다.
특히, 직각으로 편광된 센서 출력은 인입 신호의 대역폭의 적어도 2배와 동일한 샘플링 주파수에서 동작하는 안정된 방향파 발진기에 의해 구동되는 단일-극, 이중-발사(double-throw) 무선 주파수(RF) 샘플링 스위치에 접속된다. 샘플링 스위치로부터의 RF 출력은 상기 입사파 편광과 상기 샘플링 RF 스위치의 변조 신호 작용간의 상호 작용에 의해 발생된 주파수 영역에서의 2개의 측파대(sideband) 성분과 반송 주파수(carrier frequency) 성분으로 구성된다. 상기 RF 스위치의 출력은 단일의 채널 수신기에 접속되고 다른 신호 처리를 위해 중간 주파수(IF) 출력으로 다운 변환된다(down converted). 상기 반송 주파수 성분 및 측파대 주파수 성분은 대역통과 필터를 사용하여 분리되고 동일한 주파수로 일관성있게(coherently) 시프트된다. 그리고, 상기 시프트된 주파수 성분 사이의 상대적인 위상 및 진폭을 측정 및 비교해서, 상기 입사 전자기파의 편광 특징(signature)을 유일하게 식별한다.
본 발명의 장치에 대한 가능한 응용은 전자기 정보 수집, 다수의 방사원 선별 및 인식, 자동 유도 시스템의 교정(calibration), 기기 감도 향상 및 간섭(interference) 감소, 및 활성 전자기 방해기(active electromagnetic jammer)의 편광 구성을 포함한다. 본 발명의 사용으로부터 유도되는 응용에 있어서의 다른 이점은, 첨부한 도면과 관련하여 행해진 하기의 상세한 설명으로부터 이 분야의 기술에 숙련된 자가 쉽게 제안할 것이다.
첨부한 도면과 관련하여 하기의 상세한 설명을 참조하는 것을 통해 본 발명에 대한 보다 완벽한 이해가 이루어질 것이다.
[발명의 구성 및 작용]
제1도를 참조하면, 일반적으로 화살표(12)로 표시된 입사 전자기파의 파형, 방위 및/또는 회전을 측정하기 위한 종래의 이중 채널 위상 및 이득 정합 수신기 편광계(10)에 대한 블럭도가 도시되었다. 2개의 선형 탐침(probes)(1,4 16)에 의해 개략적으로 표시된 직각으로 편광된 안테나는 상기 입사파(12)의 RF력(RF power)을 측정한다. 한 쌍의 위상 및 이득 정합 수신기(18, 20)는 직각 탐침(14, 16)에 각기 결합된다. 공유형 국부 발진기(shared local oscillator; 22)는 각각 정합 수신기(18, 20)에 결합되어, 탐침(14, 16)에 의해 측정된 상기 RF 신호를 IF 신호로 다운 변환시킨다. 위상 검출기(24) 및 비율 계측기(26)는 상기 정합 수신기(18, 20)로부터 출력된 IF 신호를 비교해서 상기 입사파(12)의 편광 특징(signature)을 결정한다.
제2도를 참조하면, 입사 편광 전자기파(12)의 파형, 방위 및/또는 회전을 측정하기 위한 본 발명의 단일의 채널 수신기 주파수 영역 편광계(30)에 대한 블럭도가 도시되었다. 상기 편광계(30)는 RF 픽업(RF pickup; 32)을 이용해서 상기 입사파(12)의 RF력을 측정한다. RF 픽업(32)은 한 쌍의 직각 선형 전자기 탐침(34, 36)으로 구성된다. 물론, 임의의 다른 적당한 수단이 상기 입사파(12)의 직각으로 편광된 RF력 성분을 측정하기 위해 제공될 수도 있다는 것을 알 수 있을 것이다.
예를들어 동축 케이블인 한쌍의 RF 도체(RF conductor; 38, 40)는 탐침(34, 36)에 의해 측정된 RF력을 단일-극 이중-발사 RF 샘플링 스위치(single-pole, double-throw RF sampling switch; 42)에 결합한다. RF 스위치(42)는 상기 RF 도체(38, 40)에 각기 결합된 한 쌍의 접점(contact points; 44, 46)으로 구성된다. 스위치(42)는 탐침(34, 36)으로부터의 상기 RF 전력을 샘플화하기 위해 접점(44, 46)간에 스위치되는 제어식 게이트(controlled gate; 48)를 더 포함한다. 상기 샘플화된 RF력은 게이트(48)로부터 RF 출력 도체(RF output conductor; 50)에 결합된다. 게이트(48)의 샘플링 이동은 고정 주파수 방형파 발진기(52)에 의해 발생된 입력 방형파에 의해 제어되고 라인(54)을 통해 스위치(42)에 결합된다. 발진기(52)에 의해 출력되는 상기 방형파의 상기 고정된 발진 주파수는, 스위치(42)가 인입 신호의 대역폭의 적어도 2배의 주파수로 탐침(34, 36)에서의 상기 RF력을 샘플화하도록 선택적으로 선택된다.
스위치(42)의 상기 방형파 샘플링을 통한 상기 입사파(12)의 변조는 상기 주파수 영역의 2개의 측파대 주파수 성분과 하나의 반송 주파수 성분으로 구성된 출력 RF 신호를 도체(50) 상에서 발생한다. 상기 스위치(42)의 출력에서의 신호의 주파수 영역 스펙트럼은 입사 전자기 신호의 편광과 이하 도시된 바와 같은 스위칭 주파수의 함수이다.
널리 공지된 바와 같이, 미지의 편광을 갖는 입사 평면파(12)의 순간 전계벡터(instantaneous field vector; E)는 다음과 같이 쓰여질 수도 있다:
E = E1ejwti ＋ E2ejwt＋βk
여기서, E1은 x방향(i)에서의 전계의 피크 진폭이고 ; E2는 y방향(k)에서 상기 전계의 피크 진폭이며 ; β는 상기 전계의 y-성분이 x-성분보다 앞서는 위상이다.
E1, E2, 및 β 간의 상기 관계는 널리 공지된 방식으로 상기 입사 전자기 신호의 편광 형태, 방위, 및 회전을 규정한다. 표 1인 E1, E2및 β가 편광 특징(형태, 방위 및, 회전)에 영향을 미치는 방식의 몇 몇 선택된 예를 보여준다.
이중 직각 선형 탐침과 단일-극 이중 발사 스위치를 사용하여, 상기 전계의 x 성분 및 y 성분의 세기(power)를 택일적으로 측정하고 샘플화하는 것이 가능하다. 스위치(42)에서 도체(50) 상에 출력되는 수신된 전계 신호(Er(t))는 다음과 같이 쓰여질 수 있다:
E1(t) = E1ejwt＋ E2ejwt＋βs(t-T/2)
여기서 S(t) = 1 (0tT/2 일 때)
= 0 (T/2tT 일 때);
S(t-T/2) = 0 (0tT/2 일 때)
= 1 (T/2tT 일 때)
S(t) 및 S(t-T/2)는 스위치(42)의 샘플링 작용을 나타낸다.
주파수 영역(G)에서, Er(t)은 하나의 반송 주파수 성분과 2개의 측파대 주파수 성분으로 구성되고, β/2 위상 시프트 후에 다음과 같이 쓰여질 수도 있다:
GR(W) = F[E1ejwt-β/2]×F[S(t)]＋F[E2ejwt＋β/2]×F[S(t-T/2)]
여기서, F는 퓨리에 변환 동작을 표시한다. 상기 주파수 영역 표현은 설명되어질 방식으로 파형, 방위 및 회전을 식별하기 위해 본 발명의 주파수 영역 편광계(30)에 의해 처리되어질 편광 정보(E1, E2 및 β)를 포함한다.
단일 채널 RF 수신기(56)는 도체(50)상의 고주파수 RF 출력 신호를 IF 신호로 다운 변환시킨다. 상기 IF 신호는 계속해서 상기 주파수 영역에 있는 하나의 반송 주파수 성분과 2개의 측파대 주파수 성분으로 구성된다.
널리 공지된 바와 같이, 신호의 다운 변환은 신호의 주파수 영역 특성을 바꾸지 않으면서 단지 상기 주파수 영역의 신호를 시프트시킨다. 수신기(56)에 의해 출력되는 상기 IF 신호는 처리 유닛(58)에 접속되고, 상기 처리 유닛에서 반송 주파수 성분과 하나의 측파대 주파수 성분이 분리되고, 각각 2개의 처리 도체(processing conductors; 60, 62)에 결합된다.
그 후에 상기 편광 특징(파형, 방위, 및 회전)은 위상 검출기(64)와 비율 계측기(66)에 의해 E1, E2, 및 β를 측정함으로써 주파수 영역 특징으로부터 식별된다. 위상 검출기(64)는 상기 분리된 반송 주파수 성분 및 측파대 주파수 성분을 동일한 주파수로 일관성있게 시프트시키고 상기 성분 간의 위상차(β)를 측정한다. 상기 위상차(β)의 검출은 이 분야의 기술에서 널리 공지된 방식으로 입사파(12)의 회전 특성을 식별한다. 비율 계측기(66)는 상기 분리된 반송(E1) 및 측파대(E2) 주파수 성분 간의 상대적인 진폭을 측정한다. 상기 상대적인 진폭(E1/E2)의 검출은 이 분야의 기술에서 널리 공지된 방식으로 상기 입사파(12)의 파형 및 방위를 식별한다. 따라서, 상기 주파수 영역 편광계(30)는 단일 채널 수신기 및 주파수 영역 신호 처리기를 사용하여 인입 신호의 편광 특성을 유일하게 식별 및 규정한다.
동일한 참조부호가 동일하거나 유사한 부분과 관련되는 제3도를 참조하면, 주파수 영역 편광계(30)에 대한 양호한 실시예가 도시되었다. RF 픽업(32)은 혼 안테나(horn antenna; 68)와 한 쌍의 직각 선형 전자기 탐침(34, 36)에 의해 종결되는 장방형의 도파관(rectagular wave guide; 70)을 포함한다. 그러나, 센서가 직각으로 편광된 출력을 포함한다면, 임의의 다른 적당한 안테나 및/또는 도파관 구조를 상기 혼(68) 안테나 및 장방형의 도파관(70) 대신 사용해서 RF력의 측정을 가능하게 하는 것이 이해될 수 있을 것이다.
한 쌍의 RF 도체(38, 40)는 탐침(34, 38)에 의해 각기 측정된 RF력을 스위치(72)로 결합하는데, 상기 스위치(72)는 PIN 다이오드 스위치 및 구동장치(driver)를 포함할 수도 있다. RF 스위치(72)는 도체(38, 40) 상의 RF력을 교대로 샘플화하고 샘플화된 세기(power) 측정치를 RF 출력 도체(50)에 결합시킨다. 라인(54)상의 스위칭 발진기(52)에 의해 발생된 구동 신호(driver signal)는 RF 스위치(72)의 샘플링 기능을 제어한다. 발진기(52)에 의해 출력되는 상기 스위칭 신호는 되도록이면 입사 신호의 대역폭의 적어도 2배의 주파수를 가진 방형파를 포함한다.
스위치(72)의 방형파 샘플링으로 입사파(12)를 변조하는 것은 상기 주파수 영역에 있는 하나의 반송 주파수 성분과 2개의 측파대 주파수 성분으로 구성된 RF 출력 신호를 도체(50) 상에 발생시킨다. 스위치(72)로부터의 상기 RF 신호 출력의 주파수 영역 표현의 특성은 상기 입사파(12)의 미지의 편광과 상기 스위치 변조에 의해 결정된다. 파형, 방위, 및 회전을 포함하는 편광 정보는 상기 발생된 반송 및 측파대 주파수 성분의 상대적인 진폭 및 위상을 비교함으로써 샘플화된 입사파의 주파수 영역 표현으로부터 추출된다.
RF 증폭기(74), 조정가능한 주파수 국부 발진기(76) 및, 혼합기(mixer; 78)로 구성된 단일 채널 수신기(56)는 상기 RF 신호를 또 다른 주파수 영역 처리를 위한 IF 신호로 다운 변환시키기 위해 사용된다. 도체(50) 상의 RF 출력 신호를 국부 발진기와 혼합하는 것은 입사파의 편광 특징의 다른 주파수 처리 및 식별을 가능하게 하기 위해서 단지 RF 주파수 스펙트럼을 IF 스펙트럼으로 시프트하는 것이기 때문에, 믹서(78)로부터 출력되는 IF 신호는 여전히 반송 주파수 성분 및 2개의 측파대 주파수 성분으로 이루어진다.
그 후에 IF 신호는 한 쌍의 동조된 대역통과 필터(80, 82)에 의해 처리되어 반송 주파수 성분 및 한 개의 주파수 성분을 2개의 도체(60, 62) 상으로 각각 분리한다. 비록, 필터(82)가 낮은 측파대 주파수 성분을 분리하기 위해 동조되는 것으로 도시되었다 하더라도, 동등한 편광 특징 정보가 높거나 또는 낮은 측파대 주파수 성분 중 한 성분의 분리를 통하여 추출될 수도 있음을 이해할 수 있을 것이다. 라인(60) 상의 상기 분리된 반송 주파수 성분은 상기 스위칭 발진기(52)에 의해 발생된 방형파 신호와 혼합하는 것에 의해 상기 측파대 주파수 성분과 동일한 주파수로 일관성있게 시프트된다. 비록 혼합기(84)가 반송 주파수 성분과 스위칭 발진기 주파수를 혼합하는 것으로 도시되어 있지만, 두 성분을 동일한 주파수로 일관성 있게 시프트하기 위해서는 분리된 측파대 또는 반송 주파수 성분의 어느 것을 스위칭 발진기 주파수와 혼합해도 좋은 것을 이해할 수 있을 것이다.
낮은 측파대 주파수 성분에 동조된 필터(86)는 상기 처리 유닛(58) 외부로 상기 시프트된 반송 주파수 성분을 통과시킨다.
그 다음, 상기 처리 유닛(58)으로부터 출력되는 상기 분리되고 일관성있게 시프트된 반송 주파수 성분 및 측파대 주파수 성분의 진폭은 한 쌍의 대수 증폭기(logarithmic amplifiers; 88, 90)에 의해 각각 측정된다. 상기 분리된 반송 주파수 성분 및 측파대 주파수 성분에 대한 진폭 정보는 널리 공지된 방식으로 상기 입사파의 파형 및 방위의 식별을 위해 라인(92, 94)을 통해 각각 출력된다. 제2의 세트의 출력 라인(96, 98)은 상기 분리된 반송 주파수 성분 및 측파대 주파수 성분을 상기 편광계의 위상 검출부(64)로 통과시킨다. 상기 위상 검출부(64)의 위상 비교기(100)는 일관성있게 시프트된 주파수 성분 간의 상대적인 위상을 측정 및 비교한다. 이 정보는 라인(102, 104)을 통해 출력되고 이 분야의 기술에서 널리 공지된 방식으로 처리되어 상기 입사파의 회전을 식별하게 된다.
시스템 인터페이스(106)는 표 1에 도시된 방식으로 상기 입사파(12)의 편광을 식별하도록 처리하기 위해 라인(92, 94, 102, 104)을 통해 진폭 및 위상 정보를 수신한다. 라인(92, 94)을 통해 출력되는 신호는 수직(E1) 및 수평(E2) 전계 진폭에 관한 것이다. 라인(102, 104)을 통해 출력되는 신호는 전계 성분 사이의 위상(β)에 관련한다.
비록, 본 발명의 양호한 실시예가 첨부한 도면과 전술한 상세한 설명에서 기술되었지만, 본 발명은 상기 기술된 실시예에 제한되지 않고, 본 발명의 범위를 벗어나지 않으면서도 일부 및 요소의 다양한 재배열 및 변경이 가능하다는 것을 알수 있을 것이다.
[발명의 효과]

Claims (5)

  1. 입사하는 편광된 전자기 신호(12)의 편광 특성을 결정하기 위한 주파수 영역 편광계(30)에 있어서, 상기 입사 전자기 신호의 전달 축(axis of propagation)에 수직한 단일 평면 내에서 전자기력의 직교 성분을 측정하기 위한 수단(34, 36)과 ; 주파수 영역에 있는 하나의 반송 주파수 성분과 두 개의 측파대 주파수 성분으로 구성된 샘플화된 신호를 단일의 채널(50)상에 출력하기 위해 상기 직교 전자기력 성분을 샘플링하기 위한 수단(72)과 ; 상기 측파대 주파구 성분으로부터 상기 반송 주파수 성분을 분리하기 위한수단(58) ; 및 상기 입사 전자기 신호의 편광 특성을 식별하기 위해서 상기 분리된 반송 주파수 성분 및 측파대 주파수 성분의 상대적인 진폭 및 위상을 비교하기 위한 수단(64, 66, 106)을 포함하는 것을 특징으로 하는 주파수 영역 편광계.
  2. 제 1항에 있어서, 상기 비교 수단(64, 66, 106)은 상기 반송 주파수 성분 및 측파대 주파수 성분의 상대적인 진폭을 수신하고 비교하기 위한 진폭 측정 수단(66, 106) ; 및 상기 반송 주파수 성분 및 측파대 주파수 성분 사이의 상대적인 위상 차이를 수신하고 비교하기 위한 위상 측정 수단(64, 106)을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 주파수 영역 편광계.
  3. 제 1항에 있어서, 상기 분리 수단(58)은 샘플화된 신호를 수신하기 위한, 반송 주파수 성분을 분리하도록 대역 통과 동조된(bandpass tuned)제 1의 필터(80)와 ; 샘플화된 신호를 수신하기 위한, 하나의 측파대 주파수 성분을 분리하도록 대역 통과 동조된 제 2의 필터(82)를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 주파수 영역 편광계.
  4. 제 3항에 있어서, 상기 분리 수단(58)및 상기 비교 수단(64, 66, 106)은 상기 반송 주파구 성분을 상기 분리된 측파대 주파수 성분과 동일한 주파수로 일관성 있게 시프트하기 위해 발진기 신호를 상기 분리된 반송 주파수 성분과 혼합하기 위한 수단(84)과 ; 일관성있게 시프트된 반송 주파수 성분을 여파(filter)하기 위해 상기 선택된 분리된 측파대 주파수 성분의 주파수에 동조되는 대역 통과 필터(86) ; 및 상기 분리되고 일관성 있게 시프트된 반송 주파수 성분과 상기 선택된 분리된 측파대 주파수 성분 사이의 상대적인 위상 차이를 비교하기 위한 수단(64, 106)을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 주파수 영역 편광계.
  5. 편광된 전자기 신호(12)의 전달 축에 수직한 평면에서 상기 전자기 신호의 전자기력의 직각으로 편광된 성분을 측정하는 단계와 ; 주파수 영역에 있는 하나의 반송 주파수 성분과 두 개의 측파대 주파수 성분으로 구성된 샘플화된 신호를 발생하기 위해서 각각의 직교 성분으로부터의 측정된 세기(power)를 단일 채널(50)로 스위칭(switching)하는 단계와 ; 상기 샘플화된 신호를 하나의 반송 주파수 성분과 상기 측파대 주파수 성분의 선택된 하나로 분리하는 단계와 ; 상기 편광된 전자기 신호(12)의 파형 및 방향을 결정하기 위해서 상기 분리된 반송 주파수 성분 및 선택된 측파대 주파수 성분 사이의 상대적인 진폭을 측정 및 비교하는 단계 ; 및 상기 편광된 전자기 신호 (12)의 방향을 결정하기 위해서 상기 분리된 반송 주파수 성분 및 선택된 측파대 주파수 성분 사이의 상대적인 위상 차이를 측정 및 비교하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 편광된 전자기 신호(12)의 파형, 방향 및 회전을 측정하기 위한 방법.
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