KR0113511Y1 - 투입측트랙의 디바이스 리드변형 방지장치 - Google Patents

투입측트랙의 디바이스 리드변형 방지장치 Download PDF

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KR0113511Y1
KR0113511Y1 KR2019900021307U KR900021307U KR0113511Y1 KR 0113511 Y1 KR0113511 Y1 KR 0113511Y1 KR 2019900021307 U KR2019900021307 U KR 2019900021307U KR 900021307 U KR900021307 U KR 900021307U KR 0113511 Y1 KR0113511 Y1 KR 0113511Y1
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권상병
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문정환
엘지반도체 주식회사
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    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
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    • H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/50—Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container

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Abstract

본 고안은 투입측트랙의 디바이스 리드변형 방지장치에 관한 것으로 핸들러에서 디바이스의 성능검사를 하기 위해 디바이스를 투입측트랙과 커버사이의 높이가 맞지않을 경우에도 디바이스가 상호엉켜 리드가 병형되는 것을 방지할 수 있도록 한 것으로서, 투입측트랙(2)의 하방에 솔레노이드에 의해 작동하는 제어핀을 설치하여 투입측트랙(2)을 따라 이송되어온 디바이스(1)가 차례로 쌓이도록 된것에 있어서, 커버(3)의 하방에 가이드돌기(4)를 투입측트랙(2)의 끝까지 연장형성하여 디바이스(1)가 상호엉키지 않도록 된것이다.

Description

투입측트랙의 디바이스 리드변형 방지장치
제1도는 본 고안장치가 설치된 투입측트랙의 종단면도.
제2도는 제1도의 A-A선 단면도.
제3도는 종래의 투입측트랙에 디바이스가 쌓인 상태의 종단면도.
제4도는 제3도의 B-B선 단면도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1 : 디바이스 2 : 투입측트랙
3 : 커버 4 : 가이드돌기
본 고안은 투입측트랙의 디바이스 리드변형 방지장치에 관한 것으로서, 특히 핸들러에서 디바이스의 성능검사를 디바이스를 투입측트랙에 투입할 때 투입측트랙과 커버사이의 높이가 맞지 않을 경우에도 디바이스가 서로 엉켜 리드가 변형되는 것을 방지할 수 있도록 한 것이다.
일반적으로 생산라인에서 제조된 디바이스는 핸들러에 의해 테스터를 실시하여 양품과 불량품으로 선별하게 된다.
종래에는 핸들러에 의해 디바이스의 성능검사를 하기위해 제3도 및 제4도에 도시한 바와 같이 디바이스(11)를 투입구(도시는 생략함)에 투입하면 디바이스(11)가 투입측트랙(12)을 따라 자중에 의해 이송되어 제어핀(도시는 생략함)에 제어되어 투입측트랙(12)상에서 차례로 쌓이게 된다.
그후 센서에 의해 솔레노이드가 작동하면 제어핀이 상승하게 되므로 디바이스(11)가 차례로 테스터부로 이송되어 성능검사를 실시하게 되고 검사가 완료되면 그 결과에 따라 양품과 불량품으로 구분된 디바이스(11)가 송출트랙(도시는 생략함)을 따라 이송되도록 되어있다.
그러나 이러한 종래의 장치는 투입측트랙(12)과 커버(13)사이의 높이가 팩케이지의 높이보다 클 결우에는 제3도와 같이 여유공간이 생겨 디바이스(11)가 서로 엉키게되어 리드가 변형되므로 테스터부에서 성능검사를 하기위해 디바이스(11)를 소켓에 결합시킬때 에러가 발생되는 결점이 있었다.
본 고안은 종래의 이와 같은 결점을 감안하여 안출한 것으로서, 커버의 저면에 가이드돌기를 형성, 디바이스가 투입측트랙으로 이송될때 가이드돌기에 안내되도록하여 디바이스가 서로 엉키는 것을 방지할 수 있도록 하는데 그 목적이 있다.
상기목적을 달성하기 위해, 본 고안은 투입측트랙의 하방에 솔레노이드에 의해 작동하는 제어핀을 설치하여 투입측트랙을 따라 이송되어온 디바이스가 차례로 쌓이도록 된 것에 있어서, 커버의 하방에 가이드돌기를 투입측트랙의 끝까지 형성하여 디바이스가 상호엉키는 것을 방지할 수 있도록 한 투입측 트랙의 디바이스리드변형 장치가 제공된다.
이하, 본 고안을 일실시예로 도시한 첨부된 도면 제1도 및 제2도를 참고로하여 더욱 상세히 설명하면 다음과 같다.
첨부도면 제1도는 본고안장치가 설치된 투입측트랙의 종단면도이고 제2도는 제1도의 A-A선 단면도로서, 핸들러의 투입구로 투입된 디바이스(1)가 자중에 의해 이송되는 투입측트랙(2)이 일정각도 경사지게 설치되어 있고 투입측트랙(2)의 상방에는 커버(3)가 디바이스의 팩케이지 높이에 따라 높이를 조절할 수 있도록 설치되어 있다.
그리고 커버(3)의 하방에는 디바이스(1)를 안내하기 위한 가이드돌기(4)가 투입측트랙(2)의 끝까지 길게 형성되어 있으며, 투입측트랙(2)의 끝단에는 솔레노이드에 의해 작동하는 제어핀이 설치되어 있어 센서가 디바이스(1)의 이송을 감지하여 디바이스(1)를 1개씩 테스터부로 이송시키게 된다.
이와 같이 구성된 본 고안은 먼저 생산라인에서 제조된 디바이스(1)를 투입구에 투입시키면 디바이스(1)가 차례로 자중에 의해 투입측트랙(2)을 따라 이송되어 제어핀에 제어되어 투입측트랙(2)상에 차례로 쌓이게 된다.
그후 센서에 의해 디바이스(1)가 1개씩 테스터부로 공급되어 성능검사를 하게되는데, 이때 투입측트랙(2)가 커버(3)의 높이가 팩케이지의 높이보다 크게되어 있더라도 디바이스(1)가 가이드돌기(4)에 안내되면서 투입측트랙(2)으로 이송되므로 디바이스(1)가 제어핀에 의해 제어되어 투입측트랙(2)상에 쌓일 때 제1도와 같이 상호 엉키지 않게되는 것이다.
이상에서와 같이 본 고안 장치는 커버(3)의 하방에 가이드돌기(4)를 투입측트랙(2)의 끝까지 연장되게 형성하는 간단한 구조에 의해 디바이스(1)가 투입측트랙(2)을 따라 제어핀에 제어되어 투입측트랙(2)에 쌓일 때 상호엉키지 않게되므로 리드가 변형되는 것을 미연에 방지할 수 있게되고, 이에 따라 디바이스(1)가 테스터부로 이송되어 테스트를 실시할 때 에러가 발생되지 않게되므로 생산성을 향상실킬 수 있게 되는 효과가 있다.

Claims (1)

  1. 투입측트랙(2)의 하방에 솔레노이드에 의해 작동하는 제어핀을 설치하여 투입측트랙(2)을 따라 이송되어 온 디바이스(1)가 차례로 쌓이도록 된 것에 있어서, 커버(3)의 저면에 디바이스(1)의 유동방지를 위한 가이드돌기(4)를 투입측트랙(2)의 끝까지 연장 형성하여서 됨을 특징으로 하는 투입측트랙의 디바이스 리드 변형 방지장치.
KR2019900021307U 1990-12-28 1990-12-28 투입측트랙의 디바이스 리드변형 방지장치 KR0113511Y1 (ko)

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