JPWO2021199797A5 - - Google Patents
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Description
さらに、撮像装置3において、レーザ光2Lがその照射範囲内において強度の分布を有することを考慮し、補正を加えても良い。例えば、定数Cを撮像した画像内の位置(つまりx,y座標値)の関数として仮定して、式4’に基づいて、基準粒子の積算光強度から定数C(x,y)を求めておく。
そして、計測対象粒子の輝点のxy座標値に対応する定数Cの値から計測対象粒子の屈折率を求めるようにしてもよい。より具体的には、式4’において、xy座標値に対応する定数Cを代入し、Lcに代えてL
0
を、dcに代えてd
0
を、Q
c
に代えてQ
0
を、n
c
に代えてn
0
をそれぞれ代入し、計測対象の粒子の輝点のxy座標値に対応する定数Cの値から、計測対象の粒子の屈折率n
o
を屈折率n
s
及びn
c
に対して算出してもよい。C(x,y)は、例えば、一次関数(C=px+qy+r;p,q,rはフィッティングパラメータ)で仮定し、最小二乗フィッティング等でp,q,rの値を算出する。
Claims (5)
- 屈折率nsの分散媒中をブラウン運動するような微小な粒子の屈折率計測方法であって、
粒子径dc及び屈折率ncを既知とする基準粒子を前記分散媒に分散させて出力Qcでレーザ光を照射し散乱光の輝点の移動を撮像し第1の連続画像を得る第1撮像ステップと、
計測対象の粒子を前記分散媒に分散させて前記第1撮像ステップと同一の光学系で出力Qoのレーザ光を照射し散乱光の輝点の移動を撮像し第2の連続画像を得る第2撮像ステップと、
前記第2の連続画像における前記散乱光による前記輝点の移動から、前記計測対象の粒子の粒子径d0とともに対応する前記輝点についてのxy座標値に対応する散乱光強度を撮像時間τoだけ時間積分した積算光強度Loを計測するとともに、
前記第1の連続画像の前記xy座標値に対応する前記基準粒子の前記輝点についての散乱光強度を撮像時間τcだけ時間積分した積算光強度Lcを求め、
式4’に基づいて、前記xy座標値に対応する定数Cを求めるステップと、
前記計測対象の粒子の前記輝点の前記xy座標値に対応する定数Cの値から、前記計測対象の粒子の屈折率noを屈折率ns及びncに対して算出する画像解析ステップと、
を含むことを特徴とする粒子の屈折率計測方法。 - 前記定数Cは、一次関数
(C(x,y)=px+qy+r
で仮定し、最小二乗フィッティングでp,q,rの値が算出される、
ことを特徴とする請求項1に記載の粒子の屈折率計測方法。 - 前記粒子径doは、前記第2の連続画像の撮像間隔をΔtとして、平面内の平均二乗変位ΔMSを求めた上で、絶対温度Tと前記分散媒の粘度ηの関係から算出されることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の粒子の屈折率計測方法。
- ΔMSは、自己拡散係数をDとすると、4DΔtで求められることを特徴とする請求項3記載の粒子の屈折率計測方法。
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