JPWO2021199291A5 - 検出装置、判定方法、及びプログラム - Google Patents
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- 測定装置から対象物までの距離を示す点群データと、前記点群データを測定する際に照射するビームの反射光から得られる輝度情報とを取得する取得部と、
前記輝度情報に基づいてエッジ検出を行うエッジ検出部と、
前記点群データが示す複数の点のうち、エッジとして検出された点の輝度との差が所定範囲内の輝度を示す点が分布する領域の形状を用いて、前記領域がひびを示すか否かを判定するひび判定部と、を備える検出装置。 - 前記ひび判定部は、
前記エッジとして検出された点の輝度との差が所定範囲内の輝度を示す点の分布に基づいて特定される前記点の分散を用いて、前記領域がひびを示すか否かを判定する、請求項１に記載の検出装置。 - 前記ひび判定部は、
前記エッジとして検出された点の輝度との差が所定範囲内の輝度を示す点の分布に対して主成分分析を行い、前記分散を算出する、請求項２に記載の検出装置。 - 前記ひび判定部は、
前記エッジとして検出された点の輝度との差が所定範囲内の輝度を示す点の分布に対して主成分分析を行い、前記分散の値に応じて定まるエッジの幅を用いて、前記領域がひびを示すか否かを判定する、請求項３に記載の検出装置。 - 前記ひび判定部は、
前記エッジとして検出された点の輝度との差が所定範囲内の輝度を示す点の分布に対して主成分分析を行い、算出された前記点の分布の方向及び分散の値に応じて定められた複数の軸のうち、分散の値が最大となる軸を除いたいずれかの軸が示す前記エッジの幅を用いて、前記領域がひびを示すか否かを判定する、請求項３又は４に記載の検出装置。 - 前記ひび判定部は、
前記エッジとして検出された点の輝度との差が所定範囲内の輝度を示す点が分布する領域の形状に含まれる点の点密度を用いて、前記領域がひびを示すか否かを判定する、請求項１に記載の検出装置。 - 前記エッジ検出部は、
前記エッジとして検出された点の輝度との差が所定範囲内の輝度を示す点が分布する領域を分割し、少なくとも２以上の分割領域を生成し、
前記ひび判定部は、
前記分割領域に含まれる点の集合の形状を用いて、前記分割領域に含まれる点が分布する領域がひびを示すか否かを判定する、請求項１に記載の検出装置。 - 前記ひび判定部は、
前記分割領域内の点の分布に基づいて特定される前記点の分散を用いて、前記分割領域に含まれる点が分布する領域がひびを示すか否かを判定する、請求項７に記載の検出装置。 - 測定装置から対象物までの距離を示す点群データと、前記点群データを測定する際に照射するビームの反射光から得られる輝度情報とを取得し、
前記輝度情報に基づいてエッジ検出を行い、
前記点群データが示す複数の点のうち、エッジとして検出された点の輝度との差が所定範囲内の輝度を示す点が分布する領域の形状を用いて、前記領域がひびを示すか否かを判定する、判定方法。 - 測定装置から対象物までの距離を示す点群データと、前記点群データを測定する際に照射するビームの反射光から得られる輝度情報とを取得し、
前記輝度情報に基づいてエッジ検出を行い、
前記点群データが示す複数の点のうち、エッジとして検出された点の輝度との差が所定範囲内の輝度を示す点が分布する領域の形状を用いて、前記領域がひびを示すか否かを判定することをコンピュータに実行させるプログラム。
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| PCT/JP2020/014844 WO2021199291A1 (ja) | 2020-03-31 | 2020-03-31 | 検出装置、判定方法、及び非一時的なコンピュータ可読媒体 |
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