JP4837520B2 - スペクトル波形パターンの領域分割方法およびプログラム - Google Patents

スペクトル波形パターンの領域分割方法およびプログラム Download PDF

Info

Publication number
JP4837520B2
JP4837520B2 JP2006280989A JP2006280989A JP4837520B2 JP 4837520 B2 JP4837520 B2 JP 4837520B2 JP 2006280989 A JP2006280989 A JP 2006280989A JP 2006280989 A JP2006280989 A JP 2006280989A JP 4837520 B2 JP4837520 B2 JP 4837520B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
value
waveform pattern
peak
moving average
difference value
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2006280989A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2008096369A (ja
Inventor
昌一 手島
Original Assignee
アングルトライ株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by アングルトライ株式会社 filed Critical アングルトライ株式会社
Priority to JP2006280989A priority Critical patent/JP4837520B2/ja
Publication of JP2008096369A publication Critical patent/JP2008096369A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4837520B2 publication Critical patent/JP4837520B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

本発明は、スペクトル波形パターンから製品などの良品・不良品の検査を行うための前処理である、スペクトル波形パターンの領域分割方法およびプログラムに関する。
スペクトル波形により、良品・不良品の検査を実施可能な製品や材料は数多く存在する。たとえば、蛍光管は、図12に示すように、波長ごとにエネルギに大小があり、スペクトル波形により発光特性を表すことができる。また、図13は、赤外分光計を用いた対象物質の特性計測データである。そのほか、石油化学製品や漢方薬素材、あるいは農産品などの特性も、クロマトグラフなど、スペクトル波形として表すことができる。
このように、工業分野においても薬品・農業分野などにおいても、製品や素材・材料特性の検査にスペクトル波形が広く利用されているが、いずれの分野でも、検査対象となるスペクトル波形を、過去に良品と判定されたスペクトル波形群と比較対照して、同一とみなすことができるか否かを判定する。たとえば、図12(イ)に示される波形が従来良品と判定された代表的なスペクトルとすると、図12(ロ)ではほぼ全ての箇所で同じ波形パターンとみなすことができるが、矢印(a)部の山の形状が図12(イ)と相違しており、スペクトル波形の同一性に疑義が生ずることとなる。
このようなスペクトル波形の同一性の判定は、従来は主に目視によって行われていた。その理由は、たとえ良品と判定されたスペクトル波形同士であっても、全く同一の波形は存在せず、代表的ピーク部などの形状の比較という高度な認識処理を必要とするからである。全く同一のスペクトル波形が存在しない理由の一つとして、スペクトル波形の計測誤差が不可避であることなどが挙げられる。たとえば、同じ検体であっても計測する度に波形が微妙に異なる。
しかし、目視検査には、習熟が必要なことや、検査員による判断結果の相違などの問題、多数のスペクトル波形の検査を実施する場合のコストの問題などがあるため、スペクトル波形の同一性の判定をコンピュータに実施させようとする開発も進められている。
本発明者は、このような同一性の判定のコンピュータによる実施を目的として、スペクトル波形からの特徴量抽出に関する新規な方法を提案している(特許文献1参照)が、当該方法において、特徴量を抽出する方法は、スペクトル波形パターンを複数の領域に分割することが基本になっている。
また、本発明者は、スペクトル波形パターンのピーク位置補正に関する新規な方法を提案している(特許文献2参照)が、当該方法においても、スペクトル波形パターンを横軸方向に複数の領域に分割し、基準となるピーク位置を設定するという処理が行われる。
このように、これらの2つの方法において領域の分割を行う理由は、スペクトル波形パターンが振動波形などと異なり波形パターンの始点から終端までの全体形状について評価する必要があり、その処理を実行するためには波形のピーク毎に領域を分割することが適切であるからである。
特開2004−110602号公報 特開2005−327230号公報
しかしながら、これらの2つの方法においてスペクトル波形パターンを複数の領域に分割する方法は、人間が適切に選定する必要があるため、領域の分割を人間の判断によらずに実行することができる方法が望まれている。
ここで、図14に示されるスペクトル波形を例にとり、スペクトル波形パターンの領域分割に際して必要な事項について説明する。スペクトル波形パターンの領域分割においては以下の4つの条件を満たす必要がある。
(1)スペクトル波形には、大小複数のピークが存在するが、高いピークを中心に領域が定義され、領域が当該ピークの裾野の部分までを十分含んでいること。
(2)低いピークであっても独立したピークと見なすことができるピークは、当該ピークを中心に領域が定義されること。
(3)複数のピークが横軸方向に密に存在し、横軸方向の計測誤差を考慮した場合など、同一領域に含めた方がよい場合には、同一領域とすること。
(4)図14において点線で示したスペクトル波形の底部すなわちベースラインの上下変動によらず、ピークが確実に含まれるように分割すること。
本発明は、このような事情に鑑みて案出されたものであって、スペクトル波形パターンを横軸方向に自動的に分割する領域分割方法およびプログラムを提供することを目的としている。
本願請求項1に記載のスペクトル波形パターンの領域分割方法は、横軸方向に一定間でサンプリングされ、横軸の各座標位置における縦軸方向の高さ情報を有するスペクトル波形パターンデータについて、予め設定した移動平均値パラメータに基づき移動平均値を計算するステップと、前記スペクトル波形パターンデータと前記移動平均値との差分値又は差分値の絶対値を計算するステップと、前記差分値又は差分値の絶対値が、設定した閾値よりも大きな範囲を、ピーク存在範囲と定めるステップと、隣接する前記ピーク存在範囲の間隔が、予め設定した第2閾値よりも小さい場合、隣接する前記ピーク存在範囲同士を連結するステップと、前記ピーク存在範囲の各々について代表位置を規定するステップと、前記代表位置の各々の中間に領域の境界位置を定めるステップとを含むことを特徴とするものである。
本願請求項2に記載のスペクトル波形パターンの領域分割方法は、前記請求項1の方法において、前記ピーク存在範囲の長さに応じて、前記境界位置が定められることを特徴とするものである。
本願請求項3に記載のスペクトル波形パターンの領域分割プログラムは、横軸方向に一定間隔でサンプリングされ、横軸の各座標位置における縦軸方向の高さ情報を有するスペクトル波形パターンデータについて、予め設定した移動平均値パラメータに基づき移動平均値を計算して記憶装置に格納するステップと、前記スペクトル波形パターンデータと前記移動平均値との差分値又は差分値の絶対値を計算して記憶装置に格納するステップと、前記差分値又は差分値の絶対値が、設定した閾値よりも大きな範囲を、ピーク存在範囲と定めて記憶装置に格納するステップとをコンピュータに実行させ、隣接する前記ピーク存在範囲の間隔が、予め設定した第2閾値よりも小さい場合、隣接する前記ピーク存在範囲同士が連結され、前記ピーク存在範囲の各々について代表位置を規定して記憶装置に格納するステップと、前記代表位置の各々の中間に領域の境界位置を定めて記憶装置に格納するステップとをさらにコンピュータに実行させることを特徴とするものである。
本願請求項4に記載のスペクトル波形パターンの領域分割プログラムは、前記請求項3のプログラムにおいて、前記ピーク存在範囲の長さに応じて、前記境界位置が定められることを特徴とするものである。
本発明の方法およびプログラムによれば、スペクトル波形パターンを横軸方向において自動的に領域分割することができるので、製品や素材・材料の良品・不良品の検査を一層効率的に行うことが可能になる。
次に図面を参照して、本発明の好ましい実施の形態に係るスペクトル波形パターンの領域分割方法について詳細に説明する。図1は、本発明の好ましい実施の形態に係る領域分割方法の概略的な構成を示したフロー図、図2は、図1の※部分を示したフロー図である。本実施の形態では、図3に示すスペクトル波形パターンを例として説明する。
まず、対象とするスペクトル波形データ(横軸座標x=1〜Xr )について、移動平均値パラメータPを設定し、この移動平均値パラメータPに基づいて移動平均値を計算する(ステップ1)。ここで、移動平均値とは一般に、注目する横軸座標xについて、xを中心として横軸方向の左右に隣接する複数の座標〔x−P,x−(P−1),・・・・,x−1,x,x+1,・・・・,x+(P−1),x+P〕におけるY軸方向の高さ位置の平均値であり、xを順次増加すなわち移動させながら求めるものである。座標xにおける縦軸方向の高さをY(x)とすると、移動平均値Ya (x)は、以下の式で表される。

a (x)={Y(x−P)+Y(x−P+1)+・・・
+Y(x−1)+Y(x)+Y(x+1)+・・・
+Y(x+P−1)+Y(x+P)}÷(2P+1)
移動平均値パラメータPは、移動平均値を計算する際に、注目する横軸座標xを中心に左右に何個のデータを用いるかを決めるためのものであり、1以上の整数である。例えば移動平均値パラメータPを2とすると、移動平均値を計算するのに用いるデータの数が注目するx自身及びその左右両側の2個ずつとなるため、移動平均値は、5個(=2P+1)の縦軸方向すなわち高さ方向の値の平均値となる。なお、移動平均値パラメータPを2とすると、横軸方向に座標が開始して1番目と2番目についてはデータを求めることはできない。これは、横軸方向の最後から2番目と1番最後についても同様である。
なお、移動平均値パラメータPが大きすぎると、スペクトル波形パターンの両側端部において移動平均値が求められない空白領域が大きくなるので、移動平均値パラメータPは、適切な小さな値であることが必要である。スペクトル波形パターンにも依存するが、一般にパラメータPは、2〜5程度が適当である。
次いで、移動平均値を計算した横軸方向のXr 個のデータについて、x=0から順次、元データY(x)とYa (x)との差分値の絶対値、すなわち
|Y(x)−Ya (x)|
を計算する(ステップ2)。差分値Y(x)−Ya (x)は正負のいずれの値もとり得るが、ピークに注目するため、差分値の絶対値をとって正の値とするが、負の値を無視してもよい(0としてもよい)。
図4は、移動平均値パラメータPが2のときの|Y(x)−Ya (x)|の値を示したグラフである。また、図5および図6はそれぞれ、P=3、P=4のときの|Y(x)−Ya (x)|の値を示したグラフである。移動平均値パラメータPの値は、スペクトル波形の性質や計測時の条件により異なる。そのため、移動平均値パラメータPは適切な値を設定しなければならないが、図4、図5および図6から分かるように、移動平均値パラメータPによる差分値波形は大きく相違しないことが多いので、適切な値を困難なく定義することができる。
図4〜図6から、元のスペクトル波形パターンのベースラインの影響が取り除かれ、ピークのみが残っているのが分かる。これ以降の説明においては、差分値又は差分値の絶対値のスペクトル波形パターンを対象とする。
次いで、元データと移動平均値との差分値に関する「閾値」を設定し、差分値が閾値よりも大きいか否かを判定する(ステップ3)。差分値が閾値よりも大きい場合には、閾値よりY軸方向上側に波形が存在する(図7参照。図7において<a>が閾値を示す)。
ここで、説明のため、差分値の絶対値|Y(x)−Ya (x)|のグラフを横軸方向に拡大した例を図8に示す。図8のグラフは、差分値と閾値の関係を示したものである。図8において、(イ)と(ロ)は横軸方向の座標を示す。スペクトル波形パターンは、デジタルデータの集合であるので、枡目の1単位ごとに計測値が記録され、移動平均値や差分値の計算が行われる。
図8の(イ)では、差分値≧閾値である横軸方向の座標位置すなわち枡目が塗りつぶされている。すなわち、グラフと閾値を示す線との関係を対比してみると分かるように、黒い枡目の箇所のいずれかの箇所に、差分値波形のピークが存在する。ここで、塗りつぶされた範囲を「ピーク存在範囲」と呼ぶこととする。ピーク存在範囲は、閾値を高くすると少なくなり、閾値を低くすると多くなるので、閾値は適切な位置に設定する。一般に、閾値を差分値における最大ピークの3%程度〜5%程度に設定すると、安定したピーク存在範囲の検出が可能となる。
ここで、図8の(イ)の (a')及び (b')の箇所に着目する。これらの箇所の枡目は塗りつぶされていない(すなわち、ピーク存在範囲ではない)ので、これらの箇所の両側にピークが存在することになる。しかし、その間隔すなわち枡目の数が (a')では1、 (b')では2となっており、ピークが密に存在することを示している。ピークが密に存在する場合、計測誤差の問題のために、独立したピークとして扱うことが適切ではないことがあるので、そのような場合には、同じピーク存在範囲として連結するのが好ましい。これに対して、塗りつぶされていない間隔が一定以上の場合には、ピークは別の領域に存在するとして取り扱う。ピーク存在範囲を連結するか否かの判断基準として、第2閾値(ピーク間隔閾値)を設定し、上述の間隔が閾値よりも小さければピーク存在範囲を連結するものとする。図9の帯状の白黒パターン図は、図8(ロ)と同様に、第2閾値より間隔の小さなピーク存在範囲を連結した結果を示したものである。すなわち、図8において差分値の波形パターンの(a)と(b)の箇所にはそれぞれ複数のピークがあるが、各々一つの領域として定義される。
次いで、ピーク存在範囲の代表位置(例えば、中心位置)を求める(ステップ4)。たとえば、図9のピーク存在範囲(塗りつぶした箇所)の中央部(A)、(B)、(C)、(D)を中心位置とする。この中心位置は、ピーク存在範囲の中央の位置としてもよく、或いはピーク存在範囲の任意の位置としてもよい。
次いで、ピーク存在範囲の各中心位置のほぼ中央部に、図9に示すように、スペクトル波形パターンの領域分割の境界線となる位置α、β、γを定める(ステップ5)。
なお、領域分割の境界線となる位置は、(A)、(B)、(C)、(D)の各々の中央の位置であってもよいが、ピーク存在範囲の大きさを考慮することが好ましい場合がある。これは、ピーク存在範囲の大小は一般にピークの裾野の大きさが反映されるため、境界線となる位置がピーク存在範囲の大きい側より小さい側に移動するのが適切である場合があるからである。図10を参照してより詳細に説明する。いま、ピーク存在範囲の中心点(C)および(D)を規定するピーク存在範囲の大きさをそれぞれMc およびMd とすると、ピーク存在範囲の長さに応じて重みを考慮して、Ld /Lc =Md /Mc となるように、新たな境界線γ’を定めてもよい(ここで、Lc :中心点(C)から境界線γ’までの横軸方向の長さ、Ld :中心点(D)から境界線γ’までの横軸方向の長さ)。或いは、他の適当な方法でピーク存在範囲の大きさを考慮してもよい。
図11は、スペクトル波形パターンを領域分割した一例を示した図である。図11において、垂直方向に延びた点線が領域を分割する線となる。
次に、コンピュータに上述のステップ(すなわち、ステップ1〜ステップ5)を実行させるためのプログラムについて説明する。本プログラムが実行されるコンピュータは、バスによって相互に接続されたCPU(中央処理装置)、メモリ、ハードディスク等の記憶装置、キーボード等の入力装置、表示装置、及び出力装置(いずれも図示せず)を有するものでもよいし、或いはマイクロチップ型式の処理装置等でもよい。
まず、入力装置によって入力されたスペクトル波形パターンがメモリに格納される。次いで、予め設定した移動平均値パラメータに基づき移動平均値が計算されメモリに格納される。次いで、スペクトル波形パターンと移動平均値との差分値又は差分値の絶対値が計算されメモリに格納される。次いで、差分値又は差分値の絶対値が、予め設定した閾値よりも大きな範囲をピーク存在範囲と定めてメモリに格納される。次いで、各ピーク存在範囲について代表位置(例えば、中心位置)が規定されメモリに格納される。次いで、各代表位置の中間に領域の境界位置が定められメモリに格納される。
好ましくは、隣接するピーク存在範囲の間隔が、予め設定した第2閾値よりも小さい場合には、隣接するピーク存在範囲が連結される。また、好ましくは、ピーク存在範囲の長さに応じて重みを考慮して、領域分割の境界線が定められる。
なお、上述の例では、データがメモリに格納されるものとして説明したが、データ量が多い場合には、ハードディスク等の大容量記憶装置に格納される。
本発明は、以上の発明の実施の形態に限定されることなく、特許請求の範囲に記載された発明の範囲内で、種々の変更が可能であり、それらも本発明の範囲内に包含されるものであることはいうまでもない。
本発明の好ましい実施の形態に係る領域分割方法の構成を概略的に示したフロー図である。 図1の※部分に関するフロー図である。 本発明の領域分割方法を説明するためのスペクトル波形パターンを示した図である。 移動平均値パラメータが2の時の差分値の絶対値を示した図である。 移動平均値パラメータが3の時の差分値の絶対値を示した図である。 移動平均値パラメータが4の時の差分値の絶対値を示した図である。 図4において閾値を示した図である。 差分値の絶対値を示したグラフを横軸方向に拡大した図である。 領域分割の境界線を示した図である。 領域分割の境界線を示した別の図である。 スペクトル波形パターンを領域分割した一例を示した図である。 蛍光管のスペクトル波形の一例を示した図である。 漢方薬素材等をクロマトグラフを用いて計測したスペクトル波形の一例を示した図である。 スペクトル波形パターンの領域分割に必要な事項を説明するための図である。

Claims (4)

  1. スペクトル波形パターンから製品、素材特性の良品・不良品の検査を行うための前処理であるスペクトル波形パターンの領域分割方法であって、
    横軸方向に一定間隔でサンプリングされ、横軸の各座標位置における縦軸方向の高さ情報を有するスペクトル波形パターンデータについて、予め設定した移動平均値パラメータに基づき移動平均値を計算するステップと、
    前記スペクトル波形パターンデータと前記移動平均値との差分値又は差分値の絶対値を計算するステップと、
    前記差分値又は差分値の絶対値が、設定した閾値よりも大きな範囲を、ピーク存在範囲と定めるステップと、
    隣接する前記ピーク存在範囲の間隔が、予め設定した第2閾値よりも小さい場合、隣接する前記ピーク存在範囲同士を連結するステップと
    前記ピーク存在範囲の各々について代表位置を規定するステップと、
    前記代表位置の各々の中間に領域の境界位置を定めるステップと、
    を含むことを特徴とする方法。
  2. 前記ピーク存在範囲の長さに応じて、前記境界位置が定められることを特徴とする請求項1に記載の方法。
  3. スペクトル波形パターンから製品、素材特性の良品・不良品の検査を行うための前処理であるスペクトル波形パターンの領域分割プログラムであって、
    横軸方向に一定間隔でサンプリングされ、横軸の各座標位置における縦軸方向の高さ情報を有するスペクトル波形パターンデータについて、予め設定した移動平均値パラメータに基づき移動平均値を計算して記憶装置に格納するステップと、
    前記スペクトル波形パターンデータと前記移動平均値との差分値又は差分値の絶対値を計算して記憶装置に格納するステップと、
    前記差分値又は差分値の絶対値が、設定した閾値よりも大きな範囲を、ピーク存在範囲と定めて記憶装置に格納するステップとをコンピュータに実行させ
    隣接する前記ピーク存在範囲の間隔が、予め設定した第2閾値よりも小さい場合、隣接する前記ピーク存在範囲同士が連結され
    前記ピーク存在範囲の各々について代表位置を規定して記憶装置に格納するステップと、
    前記代表位置の各々の中間に領域の境界位置を定めて記憶装置に格納するステップと、
    さらにコンピュータに実行させるためのプログラム。
  4. 前記ピーク存在範囲の長さに応じて、前記境界位置が定められることを特徴とする請求項3に記載のプログラム。
JP2006280989A 2006-10-16 2006-10-16 スペクトル波形パターンの領域分割方法およびプログラム Active JP4837520B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006280989A JP4837520B2 (ja) 2006-10-16 2006-10-16 スペクトル波形パターンの領域分割方法およびプログラム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006280989A JP4837520B2 (ja) 2006-10-16 2006-10-16 スペクトル波形パターンの領域分割方法およびプログラム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008096369A JP2008096369A (ja) 2008-04-24
JP4837520B2 true JP4837520B2 (ja) 2011-12-14

Family

ID=39379352

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006280989A Active JP4837520B2 (ja) 2006-10-16 2006-10-16 スペクトル波形パターンの領域分割方法およびプログラム

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4837520B2 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012164956A1 (ja) * 2011-06-01 2012-12-06 株式会社ツムラ パターン又はfpの特徴量作成方法、作成プログラム、及び作成装置
DE102011079086A1 (de) * 2011-06-14 2012-12-20 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Verfahren und Messgerät zur Unterdrückung von Störsignalen
WO2017073968A1 (ko) * 2015-10-26 2017-05-04 주식회사 아스타 스펙트럼 분석 장치, 방법 및 컴퓨터 프로그램

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09297090A (ja) * 1996-05-07 1997-11-18 Advantest Corp マルチチャンネル信号のピーク波長および雑音指数測定方法、これによるスペクトラムアナライザ
JPH10221594A (ja) * 1997-02-05 1998-08-21 Sony Corp オートフォーカス装置
JP3995569B2 (ja) * 2002-09-20 2007-10-24 昌一 手島 波形パターンデータから設備の診断・監視のための特徴を抽出する方法及びプログラム

Also Published As

Publication number Publication date
JP2008096369A (ja) 2008-04-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4784555B2 (ja) 形状評価方法、形状評価装置および三次元検査装置
US10311559B2 (en) Information processing apparatus, information processing method, and storage medium
JP4951752B2 (ja) 易動度の正規化装置、正規化方法、正規化プログラムおよび自己組織化マップ、並びに、物質の検出方法、検出プログラム、検出ルール生成方法およびデータ構造
Moezi et al. A generally modified cuckoo optimization algorithm for crack detection in cantilever Euler-Bernoulli beams
EP3591612A1 (en) Defect detection system for aircraft component and defect detection method for aircraft component
JP2006098152A (ja) 欠陥検出装置および欠陥検出方法
JP2009122939A (ja) タイヤ検査用特徴抽出プログラム作成装置及びタイヤ検査装置
KR101733026B1 (ko) 행정구역별 온실가스 분포 데이터 생성 장치 및 방법
US20150066443A1 (en) Computing device and method for analyzing assembly clearance between two components of product
JP4837520B2 (ja) スペクトル波形パターンの領域分割方法およびプログラム
JP2008164482A (ja) 溶接品質の評価方法
Szymanik et al. Detection and identification of defects in 3D-printed dielectric structures via thermographic inspection and deep neural networks
JP6244260B2 (ja) 欠陥分析装置及び欠陥分析方法
US9652836B2 (en) Defect cell clustering method and apparatus thereof
JP2016156817A (ja) パターン計測装置、自己組織化リソグラフィに用いられる高分子化合物の評価方法、及びコンピュータープログラム
WO2020191896A1 (zh) 一种树木纵截面内部缺陷成像方法
JP2004110602A (ja) 波形パターンデータから設備の診断・監視又は製品の良品・不良品検査のための特徴を抽出する方法及びプログラム
CN113256608B (zh) 工件缺陷检测方法和装置
CN114358091A (zh) 一种基于卷积神经网络的桩损伤识别方法、设备及介质
CN108062821B (zh) 边缘检测方法及验钞设备
Cinal et al. The quality control system of planks using machine vision
Gasso-Tortajada et al. A novel acoustic sensor approach to classify seeds based on sound absorption spectra
JP2016110626A5 (ja)
CN116007504A (zh) 基于图像技术的裂缝检测模块、装置和计算机设备
US20140297224A1 (en) Data processing method of tire shape inspecting device

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090925

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110720

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110722

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110908

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110927

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110928

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141007

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4837520

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250