JPWO2020116459A1 - 液晶配向剤、液晶配向膜及び液晶表示素子 - Google Patents
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Abstract
下記の(A)成分及び(B)成分を含有することを特徴とする液晶配向剤。
(A)成分:下記式(1)で表される繰り返し単位を有する重合体(A)。
(B)成分:下記式(3)で表される繰り返し単位を有する重合体(B)。
[化1]
(式(1)中、R1〜R4は、水素原子、ハロゲン原子、炭素数1〜6のアルキル基等であり、R1〜R4の少なくとも一つは上記定義中の水素原子以外の基である。Y1は下記式(H)で表される部分構造を有する2価の有機基である。式(3)中、X3は芳香族酸二無水物に由来する4価の有機基、Y3は式(m)で表される部分構造を有する2価の有機基である。R30は水素原子、又は炭素数1〜4のアルキル基である。Z31、Z32は水素原子等である。)
[化2]
(Q3は−(CH2)n−であり(nは2〜20である。)、任意の−CH2−は−O−に置き換えられてもよい。但し、酸素原子同士が直接結合することはない。ベンゼン環上の任意の水素原子は1価の有機基で置き換えられてもよい。*は結合手を表す。)
Description
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、AC残像又は残留DC由来の残像に対して良好な耐性を発現し、シール剤との密着性が良好な液晶配向膜並びに黒表示の際の面内での明るさのバラツキを抑制した、コントラスト特性に優れた液晶表示素子を得ることができる液晶配向剤を提供することを一つの目的とする。
(A)成分:下記式(1)で表される繰り返し単位を有する重合体(A)。
(B)成分:下記式(3)で表される繰り返し単位を含む重合体(B)。
本発明の液晶配向剤は、上記式(1)で表される繰り返し単位を有する重合体(A)を含有する。このような構成とすることで、AC残像の発生が少ない液晶配向膜が得られ、またコントラストに優れた液晶表示素子を得ることができる。上記式(1)において、X2、Y1、Y2、R1、R2、R3、R4は、上記に定義したとおりである。
Q6、Q7はそれぞれ独立して−H、−NHD、−N(D)2、−NHDを有する基、−N(D)2を有する基を表す。Q8は−NHD、−N(D)2、−NHDを有する基、−N(D)2を有する基を表す。Dはカルバメート系保護基を表し、カルバメート系保護基としては、tert−ブトキシカルボニル基、又は9−フルオレニルメトキシカルボニル基が挙げられる。但し、Q5、Q6及びQ7の少なくとも一つは基中にカルバメート系保護基を有する。*1は結合手を表す。Y6、Y7の好ましい具体例としては、AC残像が少ない観点から、下記式(J−1−a)〜(J−1−d)、(J−2−1)のいずれかで表される2価の有機基が挙げられる。「Boc」は、tert−ブトキシカルボニル基を表す。
本発明の液晶配向剤は、上記式(3)で表される繰り返し単位を有する重合体(B)を含有する。このような構成とすることで、得られる液晶配向膜の耐熱性を高めることができるため、AC残像が少ない液晶配向膜が得られると共に、製造時に発生する面内でのツイスト角度のバラツキが抑えられ、コントラストに優れた液晶表示素子が得られる。上記式(3)において、X3、Y3、R30、Z31、Z32は、上記に定義したとおりである。
YA2の具体例としては、前記式(m)で表される部分構造を有する2価の有機基又は前記式(n−1)若しくは(n−2)で表される部分構造を有する2価の有機基の他、国際公開公報WO2017/126627に記載のピロール構造を有2価の有機基、好ましくは下式(pr)で表される2価の有機基,国際公開公報WO2018/092759号に記載のチオフェン又はフラン構造を有する2価の有機基、2,4−ジアミノフェノール、3,5−ジアミノフェノール、3,5−ジアミノベンジルアルコール、2,4−ジアミノベンジルアルコール、4,6−ジアミノレゾルシノール、2,4−ジアミノ安息香酸、2,5−ジアミノ安息香酸又は3,5−ジアミノ安息香酸、下記の式[3b−1]〜式[3b−4]で示されるジアミン化合物などのカルボキシル基を有するジアミンから2つのアミノ基を除いた2価の有機基、下記式(U−1)〜(U−9)などの分子内に−NH−CO−NH−を有する2価の有機基、国際公開公報WO2018−181566号の段落[0013]〜[0030]に記載の2価の有機基等が挙げられる。
本発明に用いられるポリイミド前駆体であるポリアミック酸エステル、ポリアミック酸及びポリイミドは、例えば、国際公開公報WO2013/157586に記載されるような公知の方法で合成出来る。
本発明の液晶配向剤は、重合体(A)及び重合体(B)を含有する。本発明の液晶配向剤は、重合体(A)及び重合体(B)に加えて、その他の重合体を含有していてもよい。その他の重合体の種類としては、ポリアミック酸、ポリイミド、ポリアミック酸エステル、ポリエステル、ポリアミド、ポリウレア、ポリオルガノシロキサン、セルロース誘導体、ポリアセタール、ポリスチレン又はその誘導体、ポリ(スチレン−フェニルマレイミド)誘導体、ポリ(メタ)アクリレートなどを挙げることができる。
例えば、ジイソプロピルエーテル、ジイソブチルエーテル、ジイソブチルカルビノール(2,6−ジメチル−4−ヘプタノール)、エチレングリコールジメチルエーテル、エチレングリコールジエチルエーテル、エチレングリコールジブチルエーテル、1,2−ブトキシエタン、ジエチレングリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコールジエチルエーテル、4−ヒドロキシ−4−メチル−2−ペンタノン、ジエチレングリコールメチルエチルエーテル、ジエチレングリコールジブチルエーテル、3−エトキシブチルアセタート、1−メチルペンチルアセタート、2−エチルブチルアセタート、2−エチルヘキシルアセタート、エチレングリコールモノアセタート、エチレングリコールジアセタート、プロピレンカーボネート、エチレンカーボネート、エチレングリコールモノブチルエーテル、エチレングリコールモノイソアミルエーテル、エチレングリコールモノヘキシルエーテル、プロピレングリコールモノブチルエーテル、1−(2−ブトキシエトキシ)−2−プロパノール、2−(2−ブトキシエトキシ)−1−プロパノール、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセタート、ジプロピレングリコールモノメチルエーテル、ジプロピレングリコールモノエチルエーテル、ジプロピレングリコールジメチルエーテル、エチレングリコールモノブチルエーテルアセタート、エチレングリコールモノアセタート、エチレングリコールジアセタート、ジエチレングリコールモノエチルエーテルアセタート、ジエチレングリコールモノブチルエーテルアセタート、2−(2−エトキシエトキシ)エチルアセタート、ジエチレングリコールアセタート、プロピレングリコールジアセテート、酢酸n−ブチル、酢酸プロピレングリコールモノエチルエーテル、3−メトキシプロピオン酸メチル、3−エトキシプロピオン酸エチル、3−メトキシプロピオン酸エチル、3−メトキシプロピオン酸プロピル、3−メトキシプロピオン酸ブチル、乳酸n−ブチルエステル、乳酸イソアミルエステル、ジエチレングリコールモノエチルエーテル、ジイソブチルケトン(2,6−ジメチル−4−ヘプタノン)などを挙げることができる。
シクロカーボネート基を有する化合物の具体例としては、例えば、国際公開公報WO2011/155577号に記載の化合物が挙げられる。
本発明の液晶配向剤における、架橋性化合物の含有量は、液晶配向剤に含まれる重合体成分100質量部に対して、0.5〜20質量部であることが好ましく、目的の効果を発現し、かつAC残像の発生が少ない観点から、より好ましくは1〜15質量部である。
本発明の液晶配向剤を用いた液晶配向膜の製造方法は、上記の液晶配向剤を塗布する工程(工程(A))、工程(A)で得られた液晶配向剤の塗膜を加熱して膜を得る工程(工程(B))、工程(B)で得られた膜に偏光された紫外線を照射する工程(工程(C))、更に、好ましくは工程(C)で得られた膜を、100℃以上で、且つ、工程(B)よりも高い温度で焼成する工程(工程(D)を有することを特徴とする。
本発明に用いられる液晶配向剤を塗布する基板としては透明性の高い基板であれば特に限定されず、ガラス基板、窒化珪素基板とともに、アクリル基板やポリカーボネート基板などのプラスチック基板等を用いることもできる。その際、液晶を駆動させるためのITO電極などが形成された基板を用いると、プロセスの簡素化の点から好ましい。また、反射型の液晶表示素子では、片側の基板のみにならばシリコンウエハーなどの不透明な物でも使用でき、この場合の電極にはアルミニウムなどの光を反射する材料も使用できる。
液晶配向剤の塗布方法は、特に限定されないが、工業的には、スクリーン印刷、オフセット印刷、フレキソ印刷又はインクジェット法などで行う方法が一般的である。その他の塗布方法としては、ディップ法、ロールコータ法、スリットコータ法、スピンナー法又はスプレー法などがあり、目的に応じてこれらを用いてもよい。
工程(B)は、基板上に塗布した液晶配向剤を焼成し、膜を形成する工程である。液晶配向剤を基板上に塗布した後は、ホットプレート、熱循環型オーブン又はIR(赤外線)型オーブンなどの加熱手段により、溶媒を蒸発させたり、重合体中のアミック酸又はアミック酸エステルの熱イミド化を行ったりすることができる。本発明の液晶配向剤を塗布した後の乾燥、焼成工程は、任意の温度と時間を選択することができ、複数回行ってもよい。液晶配向剤の有機溶媒を除去する温度としては、例えば40〜150℃の温度範囲で行うことができる。プロセスを短縮する観点で、40〜120℃で行ってもよい。焼成時間としては特に限定されないが、1〜10分又は、1〜5分の焼成時間が挙げられる。重合体中のアミック酸又はアミック酸エステルの熱イミド化を行う場合には、上記有機溶媒を除去する工程の後、例えば190〜250℃、又は200〜240℃の温度範囲で焼成する工程ができる。焼成時間としては特に限定されないが、5〜40分、又は、5〜30分の焼成時間が挙げられる。
工程(C)は、工程(B)で得られた膜に偏光された紫外線を照射する工程である。紫外線としては、200〜400nmの波長を有する紫外線を用いることが好ましく、なかでも、好ましくは200〜300nmの波長を有する紫外線がより好ましい。液晶配向性を改善するために、液晶配向膜が塗膜された基板を50〜250℃で加熱しながら、紫外線を照射してもよい。また、前記放射線の照射量は、1〜10,000mJ/cm2が好ましい。なかでも、100〜5,000mJ/cm2が好ましい。このようにして作製した液晶配向膜は、液晶分子を一定の方向に安定して配向させることができる。
偏光された紫外線の消光比が高いほど、より高い異方性が付与できるため、好ましい。具体的には、直線に偏光された紫外線の消光比は、10:1以上が好ましく、20:1以上がより好ましい。
工程(D)は、工程(C)で得られた膜を、100℃以上、且つ、工程(B)よりも高い温度で焼成する工程である。焼成温度は、100℃以上、且つ、工程(B)での焼成温度よりも高ければ、特に限定されないが、150〜300℃が好ましく、150〜250℃がより好ましく、200〜250℃が更に好ましい。焼成時間は、5〜120分が好ましく、より好ましくは5〜60分、更に好ましくは、5〜30分である。
焼成後の液晶配向膜の厚みは、薄すぎると液晶表示素子の信頼性が低下する場合があるので、5〜300nmが好ましく、10〜200nmがより好ましい。
上記接触処理に使用する溶媒としては、紫外線の照射によって液晶配向膜から生成した分解物を溶解する溶媒であれば、特に限定されるものではない。具体例としては、水、メタノール、エタノール、2−プロパノール、アセトン、メチルエチルケトン、1−メトキシ−2−プロパノール、1−メトキシ−2−プロパノールアセテート、ブチルセロソルブ、乳酸エチル、乳酸メチル、ジアセトンアルコール、3−メトキシプロピオン酸メチル、3−エトキシプロピオン酸エチル、酢酸プロピル、酢酸ブチル又は酢酸シクロヘキシルなどが挙げられる。なかでも、汎用性や溶媒の安全性の点から、水、2−プロパノール、1−メトキシ−2−プロパノール又は乳酸エチルが好ましい。より好ましいのは、水、1−メトキシ−2−プロパノール又は乳酸エチルである。溶媒は、2種類以上組み合わせて用いてもよい。
液晶セルの作製方法の一例として、パッシブマトリクス構造の液晶表示素子を例にとり説明する。なお、画像表示を構成する各画素部分にTFT(Thin Film Transistor)などのスイッチング素子が設けられたアクティブマトリクス構造の液晶表示素子であってもよい。
次に、各基板の上に液晶配向膜を形成し、一方の基板に他方の基板を互いの液晶配向膜面が対向するようにして重ね合わせ、周辺をシール剤で接着する。シール剤には、基板間隙を制御するために、通常、スペーサーを混入しておき、また、シール剤を設けない面内部分にも、基板間隙制御用のスペーサーを散布しておくことが好ましい。シール剤の一部には、外部から液晶を充填可能な開口部を設けておく。次いで、シール剤に設けた開口部を通じて、2枚の基板とシール剤で包囲された空間内に液晶材料を注入し、その後、この開口部を接着剤で封止する。注入には、真空注入法を用いてもよいし、大気中で毛細管現象を利用した方法を用いてもよい。液晶材料は、ポジ型液晶材料やネガ型液晶材料のいずれを用いてもよい。次に、偏光板の設置を行う。具体的には、2枚の基板の液晶層とは反対側の面に一対の偏光板を貼り付ける。
(溶媒)
NMP:N−メチル−2−ピロリドン、 GBL:γ―ブチロラクトン、
BCS:ブチルセロソルブ、
(ジアミン)
DA−1〜DA−8:下記式(DA−1)〜(DA−8)で表される化合物、
(テトラカルボン酸二無水物)
CA−1〜CA−4:下記式(CA−1)〜(CA−4)で表される化合物
(添加剤)
C−1:下記式(C−1)で表される化合物
C−2:2,2’−ビス(4−ヒドロキシ−3,5-ジヒドロキシメチルフェニル)プロパン
S−1:下記式(S−1)で表される化合物、
E型粘度計TVE−22H(東機産業社製)を用い、サンプル量1.1mL、コーンロータTE−1(1°34’、R24)、温度25℃で測定した。
ポリイミド粉末20mgをNMRサンプル管(NMRサンプリングチューブスタンダード,φ5(草野科学社製))に入れ、重水素化ジメチルスルホキシド(DMSO−d6,0.05%TMS(テトラメチルシラン)混合品)(0.53ml)を添加し、超音波をかけて完全に溶解させた。この溶液をNMR測定機(JNW−ECA500、日本電子データム社製)にて500MHzのプロトンNMRを測定した。イミド化率は、イミド化前後で変化しない構造に由来するプロトンを基準プロトンとして決め、このプロトンのピーク積算値と、9.5ppm〜10.0ppm付近に現れるアミド酸のNH基に由来するプロトンピーク積算値とを用い以下の式によって求めた。
イミド化率(%)=(1−α・x/y)×100
上記式において、xはアミド酸のNH基由来のプロトンピーク積算値、yは基準プロトンのピーク積算値、αはポリアミド酸(イミド化率が0%)の場合におけるアミド酸のNH基プロトン1個に対する基準プロトンの個数割合である。
以下、ポリアミック酸及びポリイミドの合成例を示す。なお、それらの命名において、Aは(A)成分であること、Bは(B)成分であること、及びPIはポリイミドであることを表す。
撹拌装置付き及び窒素導入管付きの300mL四つ口フラスコに、DA−1を4.89g(20.0mmol)、DA−2を2.59g(24.0mmol)、DA−3を4.61g(20.0mmol)及びDA−5を5.46g(16.0mmol)量り取り、NMPを197g加えて、窒素を送りながら撹拌し溶解させた。このジアミン溶液を撹拌しながらCA−1を14.2g(63.2mmol)、CA−2を3.00g(12.0mmol)添加し、40℃で24時間撹拌してポリアミック酸溶液(A−1、)(粘度:425mPa・s)を得た。
撹拌装置付き及び窒素導入管付きの1Lセパラブルフラスコに、DA−7を52.6g(0.264mol)、及びDA−8を13.1g(0.066mol)量り取り、NMPを481.7g加えて、窒素を送りながら撹拌し溶解させた。このジアミン溶液を撹拌しながらCA−2を41.3g(0.165mol)とNMPを124.5g添加し、50℃で4時間反応させた。その後、CA−4を45.1g(0.153mol)とNMPを255.8g添加し、70℃で24時間撹拌して15wt%のポリアミック酸溶液(B−1)(粘度:895mPa・s)を得た。
撹拌装置付き及び窒素導入管付きの100mL四つ口フラスコに、DA−1を3.42g(0.014mol)量り取り、NMPを30.8g加えて、窒素を送りながら撹拌し溶解させた。このジアミン溶液を撹拌しながら、CA−4を3.62g(0.012mol)、NMPを20.0g添加し、50℃で12時間撹拌して12wt%のポリアミック酸溶液(B−2)(粘度:129mPa・s)を得た。
撹拌装置付き及び窒素導入管付きの500mLセパラブルフラスコに、DA−6を16.4g(0.035mol)、及びDA−1を22.2g(0.091mol)量り取り、NMPを283.6g加えて、窒素を送りながら撹拌し溶解させた。このジアミン溶液を撹拌しながらCA−2を6.51g(0.026mol)とNMPを47.7g添加し、50℃で2時間反応させた。その後、CA−4を28.8g(0.098mol)とNMPを87.9g添加し、引き続き12時間撹拌して15wt%のポリアミック酸溶液(B−3)(粘度:791mPa・s)を得た。
撹拌装置付き及び窒素導入管付きの300mL四つ口フラスコに得られたポリアミック酸溶液(A−1)を100g量り取り、NMPを50g加え、30分撹拌した。得られたポリアミック酸溶液に、無水酢酸を16.78g、ピリジンを5.20g加えて、50℃で3時間加熱し、化学イミド化を行った。得られた反応液を600mlのメタノールに撹拌しながら投入し、析出した沈殿物をろ取し、同様の操作を2回実施することで樹脂粉末を洗浄した後、60℃で12時間乾燥することで、ポリイミド樹脂粉末を得た。このポリイミド樹脂粉末のイミド化率は71%であった。得られたポリイミド樹脂粉末3.60gを100ml三角フラスコに取り、固形分濃度が12%になるようにNMPを26.4g加え、70℃で24時間撹拌し溶解させてポリイミド溶液(A−1−PI)を得た。
<比較例1>
撹拌子を入れた20mlサンプル管に、ポリイミド溶液(A−1−PI)を3.00g及びポリアミック酸溶液(B−1)を3.60g量り取り、更にNMPを0.63g、GBLを3.60g、BCSを3.0g、S−1を1重量%含むGBL溶液を0.90g、及びC−1を10重量%含むNMP溶液を0.27g加えてマグネチックスターラーで30分間撹拌し液晶配向剤(R1)を得た。
撹拌子を入れた20mlサンプル管に、ポリイミド溶液(A−1−PI)を3.67g及びポリアミック酸溶液(B−2)を5.50g量り取り、更にNMPを0.50g、GBLを4.90g、BCSを4.00g、S−1を1重量%含むGBL溶液を1.10g、及びC−1を10重量%含むNMP溶液を0.33g加えてマグネチックスターラーで30分間撹拌し液晶配向剤(1)を得た。
撹拌子を入れた20mlサンプル管に、ポリイミド溶液(A−1−PI)を3.00g及びポリアミック酸溶液(B−3)を3.60g量り取り、更にNMPを0.63g、GBLを3.60g、BCSを3.0g、S−1を1重量%含むGBL溶液を0.90g、及びC−1を10重量%含むNMP溶液を0.27g加えてマグネチックスターラーで30分間撹拌し液晶配向剤(2)を得た。
撹拌子を入れた20mlサンプル管に、ポリイミド溶液(A−1−PI)を3.00g及びポリアミック酸溶液(B−3)を3.60g量り取り、更にNMPを0.63g、GBLを3.60g、BCSを3.0g、S−1を1重量%含むGBL溶液を0.90g、C−2を0.027g、及びC−1を10重量%含むNMP溶液を0.27g加えてマグネチックスターラーで30分間撹拌し液晶配向剤(3)を得た。
撹拌子を入れた20mlサンプル管に、ポリイミド溶液(A−1−PI)を3.00g及びポリアミック酸溶液(B−3)を3.60g量り取り、更にNMPを0.45g、GBLを3.60g、BCSを3.0g、S−1を1重量%含むGBL溶液を0.90g、C−2を0.027g、及びC−1を10重量%含むNMP溶液を0.45g加えてマグネチックスターラーで30分間撹拌し液晶配向剤(4)を得た。
電極付きの基板を準備した。基板は、30mm×35mmの大きさで、厚さが0.7mmのガラス基板である。基板上には第1層目として対向電極を構成する、ベタ状のパターンを備えたIZO電極が形成されている。第1層目の対向電極の上には第2層目として、CVD法により成膜されたSiN(窒化珪素)膜が形成されている。第2層目のSiN膜の膜厚は500nmであり、層間絶縁膜として機能する。第2層目のSiN膜の上には、第3層目としてIZO膜をパターニングして形成された櫛歯状の画素電極が配置され、第1画素及び第2画素の2つの画素を形成している。各画素のサイズは、縦10mmで横約5mmである。このとき、第1層目の対向電極と第3層目の画素電極とは、第2層目のSiN膜の作用により電気的に絶縁されている。
また、上記電極付きのガラス基板(以下、第1のガラス基板ともいう。)とは別に、表面に高さ3.5μmの柱状スペーサーを有し裏面に帯電防止の為のITO膜が形成されている第2のガラス基板とを準備し、一組の液晶セルを作製した。
次に、上記一組の液晶配向膜付きガラス基板の一方にシール剤を印刷し、もう一方の基板を液晶配向膜面が向き合うように貼り合わせ、シール剤を硬化させて空セルを作製した。この空セルに減圧注入法によって、液晶MLC−3019(メルク社製)を注入し、注入口を封止して、FFS駆動液晶セルを得た。その後、得られた液晶セルを120℃で1時間加熱し、一晩放置してから評価に使用した。
<コントラストの面内均一性>
シンテック社製OPTIPRO−microを用いて液晶表示素子のツイスト角の評価を行った。作製した液晶表示素子を測定ステージに設置し、電圧無印加の状態で、第1画素面内を20点測定して標準偏差を算出した。評価は、ツイスト角標準偏差が0.4以上の場合に「不良」とし、0.4未満の場合に「良好」とした。
上記評価に使用した液晶表示素子を用い、60℃の恒温環境下、周波数30Hzで10VPPの交流電圧を168時間印加した。その後、液晶表示素子の画素電極と対向電極との間を短絡させた状態にし、そのまま室温に一日放置した。
放置の後、液晶表示素子を偏光軸が直交するように配置された2枚の偏光板の間に設置し、電圧無印加の状態でバックライトを点灯させておき、透過光の輝度が最も小さくなるように液晶表示素子の配置角度を調整した。そして、第1画素の第2領域が最も暗くなる角度から第1領域が最も暗くなる角度まで液晶表示素子を回転させたときの回転角度を角度Δとして算出した。第2画素でも同様に、第2領域と第1領域とを比較し、同様の角度Δを算出した。そして、第1画素と第2画素の角度Δ値の平均値を液晶表示素子の角度Δとして算出した。この液晶表示素子の角度Δの値が0.1度を越える場合には、「不良」と評価した。この液晶セルの角度Δの値が0.1度を越えない場合には、「良好」と評価した。
以下の光学系等を用いて残像の評価を行った。作製した液晶表示素子を偏光軸が直交するように配置された2枚の偏光板の間に設置し、電圧無印加の状態でLEDバックライトを点灯させておき、透過光の輝度が最も小さくなるように、液晶表示素子の配置角度を調整した。
次に、この液晶表示素子に周波数30Hzの交流電圧を印加しながらV−Tカーブ(電圧−透過率曲線)を測定し、相対透過率が23%となる交流電圧を駆動電圧として算出した。
残像評価では、相対透過率が23%となる周波数30Hzの交流電圧を印加して液晶表示素子を駆動させながら、同時に1Vの直流電圧を印加し、40分間駆動させた。その後、印加直流電圧値を0Vにして直流電圧の印加のみを停止し、その状態で更に15分駆動した。
評価は、直流電圧の印加を開始した時点から45分間が経過するまでに、相対透過率が27%以下に低下した場合に、「良好」とした。相対透過率が27%以下に低下するまでに45分間以上を要した場合には、「不良」と評価した。
そして、上述した方法に従う残像評価は、液晶表示素子の温度が23℃の状態の温度条件下で行った。
[サンプル作製]
30mm×40mmのITO基板に、上記で作製した液晶配向剤をスピンコートにて塗布した。80℃のホットプレート上で2分間乾燥させた後、塗膜面に偏光板を介して254nmの紫外線を照射し、次いで230℃の熱風循環式オーブンで20分間焼成を行い、膜厚100nmの塗膜を形成させた。このようにして得られた2枚の基板を用意し、一方の基板の液晶配向膜面上に直径が4μmのビーズスペーサーを塗布した後、シール剤(協立化学製XN−1500T)を滴下した。次いで、他方の基板の液晶配向膜面を内側にし、基板の重なり幅が1cmになるように、貼り合わせを行った。その際、貼り合わせ後のシール剤の直径が3mmとなるようにシール剤滴下量を調整した。貼り合わせた2枚の基板をクリップにて固定した後、150℃1時間熱硬化させて、密着性評価用のサンプルを作製した。
上記で作製したサンプル基板を卓上形精密万能試験機(島津製作所社製、AGS−X 500N)にて、上下基板の端の部分を固定した後、基板中央部の上部から押し込みを行い、剥離する際の強度(N)を測定した。この剥離強度(N)を接着面積(mm2)で規格した値を各サンプルにおけるシール密着性(N/mm2)とし、5N/mm2よりも大きい場合に、「良好」と評価を行った。5N/mm2未満の場合には、「不良」と評価した。
なお、2018年12月4日に出願された日本特許出願2018−227376号の明細書、特許請求の範囲、図面、及び要約書の全内容をここに引用し、本発明の明細書の開示として、取り入れるものである。
Claims (19)
- 下記の(A)成分及び(B)成分を含有することを特徴とする液晶配向剤。
(A)成分:下記式(1)で表される繰り返し単位を有する重合体(A)。
(B)成分:下記式(3)で表される繰り返し単位を有する重合体(B)。
- 前記重合体(A)が、更に下記式(6)で表される繰り返し単位及び下記式(7)で表される繰り返し単位からなる群から選ばれる少なくとも1種類の繰り返し単位を有する、請求項1〜7のいずれか一項に記載の液晶配向剤。
Q6、Q7はそれぞれ独立して−H、−NHD、−N(D)2、−NHDを有する基、−N(D)2を有する基を表す。Q8は−NHD、−N(D)2、−NHDを有する基、−N(D)2を有する基を表す。Dはカルバメート系保護基を表す。但し、Q5、Q6及びQ7の少なくとも一つは基中にカルバメート系保護基を有する。*1は結合手を表す。)、 - 前記重合体(B)が、下記式(8)で表される繰り返し単位及び下記式(9)で表される繰り返し単位からなる群から選ばれる少なくとも1種の繰り返し単位を有する、請求項1〜11のいずれか一項に記載の液晶配向剤。
- 前記重合体(A)と前記重合体(B)との含有割合が、重合体(A)/重合体(B)の重量比で5/95〜95/5である、請求項1〜12のいずれか1項に記載の液晶配向剤。
- 請求項1〜13のいずれか1項に記載の液晶配向剤から得られる液晶配向膜。
- 請求項14に記載の液晶配向膜を具備する液晶表示素子。
- 下記の工程(A)〜(C)を有する液晶配向膜の製造方法。
工程(A):請求項1〜13のいずれか一項に記載の液晶配向剤を基板上に塗布する工程。
工程(B):工程(A)で得られた液晶配向剤の塗膜を加熱して膜を得る工程。
工程(C):工程(B)で得られた膜に偏光された紫外線を照射する工程。 - 下記の工程(D)を更に含む、請求項16に記載の液晶配向膜の製造方法。
工程(D):工程(C)で得られた膜を、100℃以上で、且つ工程(B)よりも高い温度で焼成する工程。 - 前記工程(B)において塗膜を40〜180℃の温度範囲で加熱する、請求項16〜17のいずれか一項に記載の液晶配向膜の製造方法。
- 請求項16〜18のいずれか一項に記載の液晶配向膜の製造方法により得られる液晶配向膜を具備する液晶表示素子。
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