JPWO2020090517A1 - Storage equipment and substrate processing equipment - Google Patents

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    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations

Abstract

複数の基板(W)が引き出し可能に積層して収容されたカセット(10、20)から基板(W)を引き出して処理工程に供するために、カセット(10、20)を収納する収納装置(100)であって、カセット(10、20)が着脱可能に載置される載置部(110)と、カセット(10、20)の着脱位置とカセット(10、20)の収納位置との間で載置部(110)を水平に移動させる移動部(120)と、載置部(110)に昇降可能に支持され、載置部(110)に載置されたカセット(10、20)の奥側の端面に対向する規制部(130)と、を備える。A storage device (100, 20) for storing cassettes (10, 20) in order to pull out the substrate (W) from a cassette (10, 20) in which a plurality of substrates (W) are laid out and accommodated so as to be drawn out and to be used in a processing process. ), And between the mounting portion (110) on which the cassette (10, 20) is detachably mounted, the detachable position of the cassette (10, 20), and the storage position of the cassette (10, 20). The back of the moving part (120) that moves the mounting part (110) horizontally and the cassette (10, 20) that is supported by the mounting part (110) and mounted on the mounting part (110). A regulating portion (130) facing the end face on the side is provided.

Description

本発明は、基板を収納する収納装置、および収納装置を備えた基板加工装置に関する。 The present invention relates to a storage device for storing a substrate and a substrate processing device including the storage device.

従来、電子機器等に広く利用される半導体デバイスは、複数の領域に区分された各領域に光デバイス等が組み込まれたウェーハから製造される。このようなウェーハには、たとえば、ウェーハの両面が研磨される工程、均一な厚さに整えられる工程等、種々の処理が施される。ウェーハが各工程に搬送される際、通常、複数のウェーハがまとめてカセットに収容され、各装置にセットされる。 Conventionally, semiconductor devices widely used in electronic devices and the like are manufactured from wafers in which optical devices and the like are incorporated in each region divided into a plurality of regions. Such a wafer is subjected to various processes such as a step of polishing both sides of the wafer and a step of adjusting the thickness to a uniform thickness. When the wafers are transferred to each process, a plurality of wafers are usually housed together in a cassette and set in each device.

以下の特許文献1には、基板が収容されているカセットを、トレイにより、装置内に搬入する半導体製造装置が開示されている。カセットは、装置外に引き出されたトレイに載置される。トレイが水平に引き込まれることにより、カセットが装置内部に搬入される。トレイの引込み位置の奥側には、シャッタが上下に移動可能に配置されている。トレイが引き出されると、トレイの動きに連動してシャッタが上方に移動して、引込み位置の奥側がシャッタで塞がれる。トレイが装置内に引き込まれると、トレイの動きに連動してシャッタが下方に移動して、引込み位置の奥が開放される。これにより、カセットと、引込み位置奥側の搬送領域との間が連通する。 The following Patent Document 1 discloses a semiconductor manufacturing apparatus in which a cassette containing a substrate is carried into the apparatus by a tray. The cassette is placed on a tray pulled out of the device. By pulling the tray horizontally, the cassette is carried into the apparatus. A shutter is arranged so as to be movable up and down behind the tray retracting position. When the tray is pulled out, the shutter moves upward in conjunction with the movement of the tray, and the back side of the retracted position is closed by the shutter. When the tray is pulled into the device, the shutter moves downward in conjunction with the movement of the tray, and the back of the retracted position is opened. As a result, the cassette and the transport area on the back side of the pull-in position communicate with each other.

この半導体制動装置では、トレイが引き出された状態において、引込み位置の奥側がシャッタで塞がれるため、カセットを装置に収納する場合に、オペレータが装置内部の搬送領域に手を入れてしまうことが防止される。 In this semiconductor braking device, when the tray is pulled out, the back side of the retracted position is closed by a shutter, so that when the cassette is stored in the device, the operator may put his hand in the transport area inside the device. Be prevented.

特開2000−216216号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2000-216216

特許文献1では、トレイが装置内に搬入されている間に、トレイに載置されたカセットから基板が搬入方向に飛び出して落下する虞がある。 In Patent Document 1, while the tray is being carried into the apparatus, there is a risk that the substrate may pop out and fall from the cassette placed on the tray in the carrying-in direction.

かかる課題に鑑み、本発明は、基板を安全かつ円滑に装置内の搬送領域に供給することが可能な収納装置、および収納装置を備えた基板加工装置を提供することを目的とする。 In view of such a problem, an object of the present invention is to provide a storage device capable of safely and smoothly supplying a substrate to a transport region in the device, and a substrate processing device including the storage device.

本発明の第1の態様は、複数の基板が引き出し可能に積層して収容されたカセットから基板を引き出して処理工程に供するために、カセットを収納する収納装置に関する。本態様に係る収納装置は、前記カセットが着脱可能に載置される載置部と、前記カセットの着脱位置と前記カセットの収納位置との間で前記載置部を水平に移動させる移動部と、前記載置部に昇降可能に支持され、前記載置部に載置された前記カセットの奥側の端面に対向する規制部と、を備える。 A first aspect of the present invention relates to a storage device that stores cassettes in order to pull out the substrates from the cassettes in which a plurality of substrates are laid out and accommodated so as to be subjected to a processing step. The storage device according to this embodiment includes a mounting portion on which the cassette is detachably mounted, and a moving portion that horizontally moves the previously described mounting portion between the mounting / detaching position of the cassette and the storage position of the cassette. It is provided with a regulating portion that is supported by the previously described mounting portion so as to be able to move up and down and that faces the end surface on the back side of the cassette mounted on the previously described mounting portion.

本態様に係る構成によれば、規制部が載置部に支持されているため、規制部は、載置部の移動に伴い一体的に水平方向に移動する。このため、着脱位置から収納位置にカセットおよび載置部を水平に移動させている間、規制部は、カセットの奥側の端面に対向し続ける。これにより、載置部の移動の間に、載置部の移動方向にカセットから基板が飛び出して落下することを確実に防ぐことができる。 According to the configuration according to this aspect, since the regulating portion is supported by the mounting portion, the regulating portion integrally moves in the horizontal direction as the mounting portion moves. Therefore, while the cassette and the mounting portion are horizontally moved from the attachment / detachment position to the storage position, the regulating portion continues to face the end face on the back side of the cassette. As a result, it is possible to reliably prevent the substrate from jumping out of the cassette and falling in the moving direction of the mounting portion during the movement of the mounting portion.

なお、収納装置に収納されたカセットは、基板が引き出される側が開放されており、この開放されている方を「カセットの奥側」と称する。以降、「カセットの奥側」は、同様の意味である。 In the cassette stored in the storage device, the side from which the substrate is pulled out is open, and this open side is referred to as "the back side of the cassette". Hereinafter, "the back side of the cassette" has the same meaning.

本態様に係る収納装置において、前記規制部は、昇降に伴い前記規制部を前記カセットの奥側の端面に接近および離間させるリンク機構を介して、支持部に支持されているよう構成され得る。 In the storage device according to the present embodiment, the restricting portion may be configured to be supported by the supporting portion via a link mechanism that brings the restricting portion closer to and away from the end surface on the inner side of the cassette as it moves up and down.

本態様に係る構成によれば、規制部を上昇または下降させてカセットの奥側の端面を開放する際に、規制部をカセットの奥側の端面から離れる方向に退避させることができる。よって、規制部が基板に擦れながら昇降することを回避でき、基板が損傷することを防ぐことができる。 According to the configuration according to this aspect, when the regulating portion is raised or lowered to open the end face on the back side of the cassette, the regulating portion can be retracted in a direction away from the end face on the back side of the cassette. Therefore, it is possible to prevent the regulating portion from moving up and down while rubbing against the substrate, and it is possible to prevent the substrate from being damaged.

本態様に係る収納装置において、前記規制部材の奥側において前記載置部に昇降可能に支持されたシャッタと、前記収納位置において、前記シャッタを昇降させる昇降機構と、を備え、前記規制部は、前記シャッタに一体的に支持されているよう構成され得る。 The storage device according to the present embodiment includes a shutter that is vertically supported by the above-described mounting portion on the back side of the restricting member, and an elevating mechanism that raises and lowers the shutter at the storage position. , It may be configured to be integrally supported by the shutter.

本態様に係る構成によれば、シャッタを昇降させる昇降機構が規制部の昇降に共用されるため、機構系および制御系を簡素化できる。また、載置部が着脱位置に位置付けられた状態において、載置部の出入り口がシャッタで塞がれるため、カセットの着脱の際に、オペレータが不意に収納装置の内部に手を挿入することを防ぐことができる。 According to the configuration according to this aspect, since the elevating mechanism for raising and lowering the shutter is shared for raising and lowering the regulation unit, the mechanical system and the control system can be simplified. Further, when the mounting portion is positioned at the attachment / detachment position, the entrance / exit of the mounting portion is blocked by the shutter, so that the operator may suddenly insert his / her hand inside the storage device when attaching / detaching the cassette. Can be prevented.

本態様に係る収納装置において、前記昇降機構は、上下方向に駆動される受け部材を備え、前記シャッタには、前記収納位置において前記受け部材に嵌まる連係部材が一体的に設置されているよう構成され得る。 In the storage device according to the present embodiment, the elevating mechanism includes a receiving member driven in the vertical direction, and the shutter is integrally equipped with a linking member that fits into the receiving member at the storage position. Can be configured.

本態様に係る構成によれば、載置部が収納位置に移動すると、シャッタ側の連係部材が昇降機構側の受け部材に嵌まって、昇降機構とシャッタとが連係される。これにより、収納位置において、シャッタを、昇降機構により円滑に昇降させることができる。 According to the configuration according to this aspect, when the mounting portion moves to the storage position, the linking member on the shutter side fits into the receiving member on the lifting mechanism side, and the lifting mechanism and the shutter are linked. As a result, the shutter can be smoothly moved up and down by the raising and lowering mechanism at the storage position.

本態様に係る収納装置において、前記シャッタに一体的に設けられ、前記載置部を前記着脱位置と前記収納位置との間で移送するための移送ローラを備え、前記移送ローラは、前記連係部材を構成し、前記載置部が前記収納位置に移動すると、前記移送ローラが前記受け部材に嵌まるよう構成され得る。 In the storage device according to the present embodiment, the storage device is provided integrally with the shutter, and includes a transfer roller for transferring the above-described mounting portion between the attachment / detachment position and the storage position, and the transfer roller is the linking member. The transfer roller may be configured to fit into the receiving member when the above-described resting portion moves to the storage position.

本態様に係る構成によれば、移送ローラが連係部材として兼用されるため、構成の簡素化を図ることができる。また、収納位置において、移送ローラが受け部材に嵌まって移動部材の移動が規制されるため、載置部を収納位置に適切に位置付けることができる。 According to the configuration according to this aspect, since the transfer roller is also used as the linking member, the configuration can be simplified. Further, at the storage position, the transfer roller is fitted into the receiving member to restrict the movement of the moving member, so that the mounting portion can be appropriately positioned at the storage position.

本態様に係る収納装置において、前記収納位置において、前記カセットから前記基板が飛び出しているか否かを検知する検知手段を備えるよう構成され得る。 The storage device according to this aspect may be configured to include a detecting means for detecting whether or not the substrate is protruding from the cassette at the storage position.

本態様に係る構成によれば、シャッタが開き、装置が動作している最中、カセットから基板がカセットの奥側に飛び出した状態であることを迅速に検知することができる。 According to the configuration according to this aspect, it is possible to quickly detect that the substrate is protruding from the cassette to the back side of the cassette while the shutter is opened and the device is operating.

本態様に係る収納装置において、第1のカセットを着脱可能に収納する第1の収納部と、第2のカセットを着脱可能に収納する第2の収納部と、を備え、前記第1のカセットから前記基板を引き出して処理工程に供している間、前記第2のカセットを前記第2の収納部から取り出すよう構成され得る。 The storage device according to this embodiment includes a first storage unit for detachably storing the first cassette and a second storage unit for detachably storing the second cassette, and the first cassette is provided. The second cassette may be configured to be removed from the second storage portion while the substrate is pulled out of the substrate and subjected to a processing step.

本態様に係る構成によれば、第2のカセットから基板を引き出して処理工程に供している間に、先に基板を供給し終えた第1のカセットを第1の収納部から取り出し、この第1のカセットに基板を収容して、再び第1の収納部に第1のカセットを収納することができる。これにより、第1のカセットから全ての基板が搬送路に供給された場合、供給動作を一旦停止させることなく、第1のカセットに基板を収容し、第1のカセットを第1の収納部に収納することができる。よって、第1のカセットおよび第2のカセットから連続的に基板を処理工程に供することができ、収納装置の稼働率を高めることができる。 According to the configuration according to this aspect, while the substrate is pulled out from the second cassette and subjected to the processing step, the first cassette for which the substrate has been supplied first is taken out from the first storage unit, and the first cassette is taken out. The substrate can be stored in one cassette, and the first cassette can be stored in the first storage unit again. As a result, when all the substrates are supplied from the first cassette to the transport path, the substrates are accommodated in the first cassette without temporarily stopping the supply operation, and the first cassette is accommodated in the first accommodating portion. Can be stored. Therefore, the substrate can be continuously applied to the processing process from the first cassette and the second cassette, and the operating rate of the storage device can be increased.

また、第2のカセットから処理工程に供された基板は、所定の装置で加工された後、第2のカセットに戻らせるようにしてもよい。この場合、第2のカセットから処理工程に供された基板の全てが第2のカセットに戻った後、第2の収納部から第2のカセットを取り出し、第2のカセットから加工後の基板を回収し、未加工の基板を第2のカセットに収容して、再び、第2の収納部に収納することができる。 Further, the substrate subjected to the processing step from the second cassette may be returned to the second cassette after being processed by a predetermined device. In this case, after all the substrates used in the processing step from the second cassette have returned to the second cassette, the second cassette is taken out from the second storage unit, and the processed substrate is removed from the second cassette. The collected and raw substrate can be stored in the second cassette and stored again in the second storage unit.

本発明の第2の態様は、基板を加工する基板加工装置に関する。本態様に係る基板加工装置は、複数の基板が引き出し可能に積層して収容されたカセットから基板を引き出して処理工程に供するために、カセットを収納する収納装置に関する。本態様の収納装置は、前記カセットが着脱可能に載置される載置部と、前記カセットの着脱位置と前記カセットの収納位置との間で前記載置部を水平に移動させる移動部と、前記載置部に昇降可能に支持され、前記載置部に載置された前記カセットの奥側の端面に対向する規制部と、を備える収納装置を備える。また、本態様の基板加工装置は、基板の表面にスクライブラインを形成するスクライブユニットと、前記スクライブラインが形成された前記基板の表面にフィルムを貼付するフィルムラミネートユニットと、前記フィルムが貼付された面が下側となるように前記基板を反転させる反転ユニットと、前記フィルムが貼付されていない面に所定の力を付与して前記スクライブラインに沿って前記基板を分断するブレイクユニットと、前記基板を所定の位置に搬送する搬送部と、を備える。 A second aspect of the present invention relates to a substrate processing apparatus for processing a substrate. The substrate processing apparatus according to this aspect relates to a storage apparatus for accommodating a cassette in order to pull out a substrate from a cassette in which a plurality of substrates are laid out and accommodated so as to be subjected to a processing step. The storage device of this embodiment includes a mounting portion on which the cassette is detachably mounted, a moving portion that horizontally moves the previously described mounting portion between the mounting / detaching position of the cassette and the storage position of the cassette. It is provided with a storage device that is supported by the above-mentioned resting portion so as to be able to move up and down, and is provided with a regulating portion that faces the end face on the back side of the cassette mounted on the previously described resting portion. Further, in the substrate processing apparatus of this embodiment, a scribe unit that forms a scribe line on the surface of the substrate, a film laminating unit that attaches a film to the surface of the substrate on which the scribe line is formed, and the film are attached. An inversion unit that inverts the substrate so that the surface is on the lower side, a break unit that applies a predetermined force to the surface to which the film is not attached to divide the substrate along the scribe line, and the substrate. The film is provided with a transport unit for transporting the film to a predetermined position.

本態様に係る構成によれば、第1の態様と同様の効果を奏する。 According to the configuration according to this aspect, the same effect as that of the first aspect is obtained.

以上のとおり、本発明によれば、基板を安全かつ円滑に装置内の搬送領域に供給することが可能な収納装置、および収納装置を備えた基板加工装置を提供することができる。 As described above, according to the present invention, it is possible to provide a storage device capable of safely and smoothly supplying a substrate to a transport region in the device, and a substrate processing device including the storage device.

本発明の効果ないし意義は、以下に示す実施の形態の説明により更に明らかとなろう。ただし、以下に示す実施の形態は、あくまでも、本発明を実施化する際の一つの例示であって、本発明は、以下の実施の形態に記載されたものに何ら制限されるものではない。 The effects or significance of the present invention will be further clarified by the description of the embodiments shown below. However, the embodiments shown below are merely examples when the present invention is put into practice, and the present invention is not limited to those described in the following embodiments.

図1(a)は、実施形態に係る基板供給システムの構成を示す斜視図である。図1(b)は、基板供給システムに収納されるカセットを示す斜視図である。図1(c)は、基板供給システムの収納装置を示す斜視図であり、図1(a)に対応する。FIG. 1A is a perspective view showing a configuration of a substrate supply system according to an embodiment. FIG. 1B is a perspective view showing a cassette housed in the substrate supply system. FIG. 1 (c) is a perspective view showing a storage device of the substrate supply system, and corresponds to FIG. 1 (a). 図2(a)〜(c)は、実施形態に係る基板供給システムの収納装置の構成を示す斜視図である。2 (a) to 2 (c) are perspective views showing the configuration of the storage device of the substrate supply system according to the embodiment. 図3は、実施形態に係る基板供給システムの収納装置の構成を示す斜視図である。FIG. 3 is a perspective view showing a configuration of a storage device of the substrate supply system according to the embodiment. 図4は、実施形態に係る基板供給システムの収納装置の構成を示す斜視図である。FIG. 4 is a perspective view showing a configuration of a storage device of the substrate supply system according to the embodiment. 図5は、実施形態に係る基板供給システムの収納装置の構成を示す斜視図である。FIG. 5 is a perspective view showing a configuration of a storage device of the substrate supply system according to the embodiment. 図6(a)〜(c)は、実施形態に係る基板供給システムの収納装置の構成を示す斜視図である。図6(a)、(b)は、リンク機構周辺の拡大図である。図6(c)は、図5に対応する斜視図である。6 (a) to 6 (c) are perspective views showing the configuration of the storage device of the substrate supply system according to the embodiment. 6 (a) and 6 (b) are enlarged views around the link mechanism. FIG. 6C is a perspective view corresponding to FIG. 図7は、実施形態に係る基板供給システムの収納装置の構成を示す斜視図である。FIG. 7 is a perspective view showing a configuration of a storage device of the substrate supply system according to the embodiment. 図8(a)〜(c)は、実施形態に係る基板供給システムの収納装置の構成を示す斜視図である。図8(a)、(b)は、リンク機構周辺の拡大図である。図8(c)は、図7に対応する斜視図である。8 (a) to 8 (c) are perspective views showing the configuration of the storage device of the substrate supply system according to the embodiment. 8 (a) and 8 (b) are enlarged views around the link mechanism. FIG. 8C is a perspective view corresponding to FIG. 7. 図9は、実施形態に係る基板供給システムの収納装置の構成を示す斜視図である。FIG. 9 is a perspective view showing a configuration of a storage device of the substrate supply system according to the embodiment. 図10(a)、(b)は、実施形態に係る基板供給システムの収納装置の構成を示す斜視図である。図10(a)は、リンク機構周辺の拡大図である。図10(b)は、図9に対応する斜視図である。10 (a) and 10 (b) are perspective views showing the configuration of the storage device of the substrate supply system according to the embodiment. FIG. 10A is an enlarged view of the periphery of the link mechanism. FIG. 10B is a perspective view corresponding to FIG. 図11(a)、(b)は、実施形態に係る基板供給システムの引き出し機構および移動機構の構成を示す斜視図である。11 (a) and 11 (b) are perspective views showing the configurations of a pull-out mechanism and a moving mechanism of the substrate supply system according to the embodiment. 図12(a)、(b)は、実施形態に係る基板供給システムと搬送路とを示す斜視図である。12 (a) and 12 (b) are perspective views showing the substrate supply system and the transport path according to the embodiment. 図13(a)、(b)は、実施形態に係る基板供給システムと搬送路とを示す斜視図である。13 (a) and 13 (b) are perspective views showing the substrate supply system and the transport path according to the embodiment. 図14(a)は、実施形態に係る基板供給システムの構成を示すブロック図である。図14(b)は、実施形態に係る基板供給システムの動作を示すフローチャートである。FIG. 14A is a block diagram showing the configuration of the substrate supply system according to the embodiment. FIG. 14B is a flowchart showing the operation of the substrate supply system according to the embodiment. 図15は、実施形態に係る基板供給システムを備えた基板加工装置の構成を示す斜視図である。FIG. 15 is a perspective view showing a configuration of a substrate processing apparatus including the substrate supply system according to the embodiment.

以下、本発明の実施形態について、図面を参照して説明する。なお、各図には、便宜上、互いに直交するX軸、Y軸およびZ軸が付記されている。X−Y平面は水平面に平行で、Z軸方向は鉛直方向である。Z軸正側が上方であり、Z軸負側が下方である。また、本実施の形態において、Z軸方向が特許請求の範囲に記載の「積層方向」である。この積層方向は、本実施の形態において、「上下方向」と表記される場合がある。また、Y軸方向が特許請求の範囲に記載の「積層方向に垂直な方向」である。このY軸方向は、本実施の形態において、「水平方向」と表記される場合がある。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. For convenience, the X-axis, Y-axis, and Z-axis that are orthogonal to each other are added to each figure. The XY plane is parallel to the horizontal plane, and the Z-axis direction is the vertical direction. The positive side of the Z-axis is upward, and the negative side of the Z-axis is downward. Further, in the present embodiment, the Z-axis direction is the "stacking direction" described in the claims. This stacking direction may be described as "vertical direction" in the present embodiment. Further, the Y-axis direction is the "direction perpendicular to the stacking direction" described in the claims. This Y-axis direction may be described as "horizontal direction" in the present embodiment.

<実施形態>
本実施の形態の収納装置100は、電子機器等に広く利用される半導体デバイスの材料である半導体ウェーハの製造の際、ウェーハを所定の装置に搬送する搬送路に供給するために用いられる。本実施の形態において、収納装置100が収納する基板は、環状のフレームにダイシングテープで貼付された半導体ウェーハである。以降、「環状のフレームにダイシングテープで貼付された半導体ウェーハ」は、単に、「ウェーハW」と表記される。
<Embodiment>
The storage device 100 of the present embodiment is used to supply a wafer to a transport path for transporting the wafer to a predetermined device when manufacturing a semiconductor wafer, which is a material for a semiconductor device widely used in electronic devices and the like. In the present embodiment, the substrate to be stored in the storage device 100 is a semiconductor wafer attached to an annular frame with a dicing tape. Hereinafter, the "semiconductor wafer attached to the annular frame with a dicing tape" is simply referred to as "wafer W".

本実施の形態では、収納装置100は、収納装置100からウェーハWを引き出す引き出し機構200と、ウェーハWを所定の位置に移動させる移動機構300と、を備える基板供給システム1に組み込まれている収納装置として説明する。また、本実施の形態の説明では、ウェーハWが基板供給システム1から完全に引き出された位置を「引き出し位置」と称し、この引き出し位置から搬送路に受け渡される位置を「受渡位置」と称する。 In the present embodiment, the storage device 100 is built in the substrate supply system 1 including a pull-out mechanism 200 for pulling out the wafer W from the storage device 100 and a moving mechanism 300 for moving the wafer W to a predetermined position. It will be described as a device. Further, in the description of the present embodiment, the position where the wafer W is completely pulled out from the substrate supply system 1 is referred to as a “drawing position”, and the position where the wafer W is delivered from this drawing position to the transport path is referred to as a “delivery position”. ..

ウェーハWの材質として、たとえば、単結晶シリコン(Si)、炭化ケイ素(SiC)、窒化ガリウム(GaN)、およびヒ化ガリウム(GaSa)等が挙げられる。半導体ウェーハの上記のような材質、厚み、およびサイズは、製造目的の半導体デバイスの種類、機能等によって適切に選択され、設計される。 Examples of the material of the wafer W include single crystal silicon (Si), silicon carbide (SiC), gallium nitride (GaN), gallium arsenide (GaSa), and the like. The material, thickness, and size of the semiconductor wafer as described above are appropriately selected and designed according to the type, function, and the like of the semiconductor device for manufacturing purposes.

図1(a)〜(c)は、基板供給システム1の構成を示す斜視図である。図1(a)は、基板供給システム1の斜視図であり、図1(b)は、ウェーハWが収容されたカセットを示す斜視図であり、図1(c)は、収納装置100の斜視図である。 1A to 1C are perspective views showing the configuration of the substrate supply system 1. 1 (a) is a perspective view of the substrate supply system 1, FIG. 1 (b) is a perspective view showing a cassette in which a wafer W is housed, and FIG. 1 (c) is a perspective view of a storage device 100. It is a figure.

図1(a)に示すように、基板供給システム1は、収納装置100と、引き出し機構200と、移動機構300と、を備えている。なお、収納装置100全体は筐体で覆われているが、説明の便宜上、この筐体は省略されている。以降、全ての図において、収納装置100全体を覆う筐体は省略されている。 As shown in FIG. 1A, the substrate supply system 1 includes a storage device 100, a pull-out mechanism 200, and a moving mechanism 300. Although the entire storage device 100 is covered with a housing, this housing is omitted for convenience of explanation. Hereinafter, in all the drawings, the housing covering the entire storage device 100 is omitted.

収納装置100は、搬送路に供給されるウェーハWが収納される。具体的には、図1(b)に示すように、複数のウェーハWが積層された状態でカセットに収容され、このカセットが収納装置100に収納される。本実施の形態では、第1のカセット10および第2のカセット20の2つが用意される。第1のカセット10の側壁11a、11bの内側面に、所定の間隔で溝12が設けられている。ウェーハWは、この溝12に挿入されることにより、第1のカセット10の内部で支持された状態で収容される。 The storage device 100 stores the wafer W supplied to the transport path. Specifically, as shown in FIG. 1B, a plurality of wafers W are housed in a cassette in a laminated state, and the cassette is housed in the storage device 100. In this embodiment, two cassettes, a first cassette 10 and a second cassette 20, are prepared. Grooves 12 are provided at predetermined intervals on the inner side surfaces of the side walls 11a and 11b of the first cassette 10. By inserting the wafer W into the groove 12, the wafer W is accommodated in a state of being supported inside the first cassette 10.

第1のカセット10の上部には、オペレータが第1のカセット10を持ち運びする際に使用される取っ手13が設けられている。第2のカセット20は、第1のカセット10と同様の構成であるため、説明を省略する。なお、上記では、第1のカセット10および第2のカセット20は、共通のカセットとして説明したが、第1のカセット10と第2のカセット20とで、側壁11a、11bの内側面に設けられる溝12の間隔を異ならせてもよく、また、収容するウェーハWの数を異ならせてもよい。 A handle 13 used by an operator to carry the first cassette 10 is provided on the upper portion of the first cassette 10. Since the second cassette 20 has the same configuration as the first cassette 10, description thereof will be omitted. In the above description, the first cassette 10 and the second cassette 20 have been described as a common cassette, but the first cassette 10 and the second cassette 20 are provided on the inner side surfaces of the side walls 11a and 11b. The spacing between the grooves 12 may be different, and the number of wafers W to be accommodated may be different.

収納装置100は、上記した第1のカセット10および第2のカセット20を収納する。図1(c)に示すように、収納装置100は、ウェーハWの積層方向、つまり、上下方向に並んで配置されている第1の収納部101と第2の収納部102とを備える。また、収納装置100は、第1の収納部101に、第1のカセット10が着脱可能に載置される載置部110と、第1の収納部101を覆う筐体103と、筐体103に取り付けられる扉104と、載置部110に設置される取っ手112と、を備える。 The storage device 100 stores the first cassette 10 and the second cassette 20 described above. As shown in FIG. 1 (c), the storage device 100 includes a first storage unit 101 and a second storage unit 102 arranged side by side in the stacking direction of the wafers W, that is, in the vertical direction. Further, the storage device 100 includes a mounting unit 110 on which the first cassette 10 is detachably mounted on the first storage unit 101, a housing 103 covering the first storage unit 101, and a housing 103. A door 104 attached to the mounting portion 110 and a handle 112 installed on the mounting portion 110 are provided.

上記のとおり、収納装置100は、第1の収納部101が筐体103で覆われ、また、水平方向に開閉する扉104が設けられている。扉104は、図1(a)、(c)において図示を省略した、収納装置100全体を覆う筐体に取付られており、扉104を開閉すると、第1の収納部101にアクセスすることができる。また、オペレータが基板供給システム1の稼働中、第1のカセット10および第2のカセット20を視認できるよう、扉104を透明な部材で構成することができる。図1(c)では、扉104が透明な場合を図示している。 As described above, in the storage device 100, the first storage portion 101 is covered with the housing 103, and the storage device 100 is provided with a door 104 that opens and closes in the horizontal direction. The door 104 is attached to a housing covering the entire storage device 100 (not shown in FIGS. 1A and 1C), and when the door 104 is opened and closed, the first storage unit 101 can be accessed. can. Further, the door 104 can be made of a transparent member so that the operator can visually recognize the first cassette 10 and the second cassette 20 while the board supply system 1 is in operation. FIG. 1C illustrates the case where the door 104 is transparent.

上記した筐体103、扉104、載置部110、および取っ手112は、第2の収納部102についても同様に設けられる。 The housing 103, the door 104, the mounting portion 110, and the handle 112 described above are similarly provided for the second storage portion 102.

このように、収納装置100が第1の収納部101と第2の収納部102とを備えており、第1の収納部101および第2の収納部102のそれぞれに扉104が設けられている。このため、たとえば、第1の収納部101に収納された第1のカセット10からウェーハWが搬送路に供給されている間、オペレータは、第2の収納部102の扉104を開けて、第2の収納部102の載置部110をY軸負方向に引き出すことができる。このとき、第2の収納部102に第2のカセット20が収納されていない、あるいは、第2のカセット20内にウェーハWが収容されていない場合(つまり、第2のカセット20から全てのウェーハWが搬送路に供給されていた場合)、オペレータは、第2のカセット20にウェーハWを収容し、第2の収納部102の載置部110に適切に第2のカセット20を載置した後、第2の収納部102の載置部110をY軸正方向に引き入れる。このように、第2の収納部102に第2のカセット20を収納することができる。 As described above, the storage device 100 includes the first storage unit 101 and the second storage unit 102, and the door 104 is provided in each of the first storage unit 101 and the second storage unit 102. .. Therefore, for example, while the wafer W is being supplied to the transport path from the first cassette 10 stored in the first storage unit 101, the operator opens the door 104 of the second storage unit 102 to obtain a second position. The mounting portion 110 of the storage portion 102 of 2 can be pulled out in the negative direction of the Y axis. At this time, when the second cassette 20 is not stored in the second storage portion 102, or the wafer W is not stored in the second cassette 20 (that is, all the wafers from the second cassette 20). When the W was supplied to the transport path), the operator accommodated the wafer W in the second cassette 20 and appropriately mounted the second cassette 20 in the mounting portion 110 of the second storage portion 102. After that, the mounting portion 110 of the second storage portion 102 is pulled in in the positive direction of the Y axis. In this way, the second cassette 20 can be stored in the second storage unit 102.

なお、図1(a)、(c)は、説明の便宜上、各収納部の内部が見えるように図示するために、第1の収納部101のシャッタ140および第2の収納部102のシャッタ140は開放された状態が図示されているが、実際の動作に対応するものではない。これは、図12(a)〜図13(b)も同様である。 Note that FIGS. 1 (a) and 1 (c) show the shutter 140 of the first storage unit 101 and the shutter 140 of the second storage unit 102 so that the inside of each storage unit can be seen for convenience of explanation. Is shown in the open state, but does not correspond to the actual operation. This also applies to FIGS. 12 (a) to 13 (b).

また、収納装置100は、図1(c)に示すように、移動部120と、規制部130と、昇降機構150と、支持部160と、リンク機構170と、検知手段180と、を備えている。なお、移動部120は、図1(c)では図示されず、図4にて図示される。 Further, as shown in FIG. 1C, the storage device 100 includes a moving unit 120, a regulating unit 130, an elevating mechanism 150, a support unit 160, a link mechanism 170, and a detecting means 180. There is. The moving portion 120 is not shown in FIG. 1 (c), but is shown in FIG.

図2(a)〜(c)は、収納装置100の異なる状態を示す斜視図であり、左側の図と右側の図とは対応している。 2 (a) to 2 (c) are perspective views showing different states of the storage device 100, and the left side view and the right side view correspond to each other.

図2(a)〜(c)に示すように、収納装置100には主に4つの状態がある。図2(a)は、載置部110が第2の収納部102から引き出された状態(第1の状態)を示す。このとき、第2の収納部102のシャッタ140は閉じているため、オペレータが収納装置100に手を入れることはできない。図2(b)は、載置部110が第2の収納部102に収まっている状態(第2の状態)を示す。図2(c)は、第2の収納部102のシャッタ140を開放するための準備状態(第3の状態)を示す。第2の収納部102のシャッタ140の開放が完了した状態(第4の状態)は、図1(a)および(c)が相当する。以降、これら4つの状態に分けて、収納装置100の構成を説明する。ここで、第1の収納部101のシャッタ140は、上方に開放し、第2の収納部102のシャッタ140は、下方に開放する。このように、開放する方向が上下で異なるものの、シャッタ140を開放するための構成は、同様の構成である。そのため、以降の説明では、上段に配置されている第2の収納部102に着目して説明する。 As shown in FIGS. 2A to 2C, the storage device 100 mainly has four states. FIG. 2A shows a state in which the mounting portion 110 is pulled out from the second storage portion 102 (first state). At this time, since the shutter 140 of the second storage unit 102 is closed, the operator cannot touch the storage device 100. FIG. 2B shows a state in which the mounting portion 110 is housed in the second storage portion 102 (second state). FIG. 2C shows a preparation state (third state) for opening the shutter 140 of the second storage unit 102. FIGS. 1 (a) and 1 (c) correspond to a state in which the shutter 140 of the second storage portion 102 is completely opened (fourth state). Hereinafter, the configuration of the storage device 100 will be described separately for these four states. Here, the shutter 140 of the first storage unit 101 is opened upward, and the shutter 140 of the second storage unit 102 is opened downward. As described above, although the opening direction is different between the upper and lower sides, the configuration for opening the shutter 140 is the same configuration. Therefore, in the following description, the second storage unit 102 arranged in the upper stage will be focused on.

また、収納装置100が第1の状態(図2(a)に示す状態)のとき、第2のカセット20は、第2の収納部102の載置部110に着脱可能に載置される。このとき、第2の収納部102の載置部110の位置が、特許請求の範囲に記載の「着脱位置」である。収納装置100が第2の状態(図2(b)に示す状態)のとき、第2のカセット20は第2の収納部102の載置部110に載置された状態で、第2の収納部102に収納される。このときの第2の収納部102の載置部110の位置が特許請求の範囲に記載の「収納位置」である。 Further, when the storage device 100 is in the first state (the state shown in FIG. 2A), the second cassette 20 is detachably mounted on the mounting portion 110 of the second storage portion 102. At this time, the position of the mounting portion 110 of the second storage portion 102 is the "detachable position" described in the claims. When the storage device 100 is in the second state (the state shown in FIG. 2B), the second cassette 20 is mounted on the mounting portion 110 of the second storage portion 102, and the second cassette 20 is stored in the second storage. It is stored in the unit 102. The position of the mounting portion 110 of the second storage portion 102 at this time is the "storage position" described in the claims.

まず、収納装置100が第1の状態、つまり、載置部110が着脱位置に位置している場合について説明する。 First, the case where the storage device 100 is in the first state, that is, the case where the mounting portion 110 is located at the attachment / detachment position will be described.

図3、図4は、収納装置100の構成を示す斜視図であり、収納装置100が第1の状態であるときを示している。図3、図4では、第2のカセット20、筐体103、および扉104が省略されており、図4では、さらに、検知手段180が省略されている。 3 and 4 are perspective views showing the configuration of the storage device 100, and show the case where the storage device 100 is in the first state. In FIGS. 3 and 4, the second cassette 20, the housing 103, and the door 104 are omitted, and in FIG. 4, the detection means 180 is further omitted.

図3、図4に示すように、収納装置100は、上記した載置部110と、移動部120と、規制部130と、シャッタ140と、昇降機構150と、支持部160と、リンク機構170と、検知手段180と、の他に、台座190を備える。また、図3の載置部110において、破線で囲まれた部分は、第2のカセット20が載置される領域である。 As shown in FIGS. 3 and 4, the storage device 100 includes the mounting portion 110, the moving portion 120, the regulating portion 130, the shutter 140, the elevating mechanism 150, the support portion 160, and the link mechanism 170. In addition to the detection means 180 and the pedestal 190. Further, in the mounting portion 110 of FIG. 3, the portion surrounded by the broken line is the area where the second cassette 20 is mounted.

載置部110の上面には、第2のカセット20を位置決めする位置決め部材111が4つ設けられている。第2のカセット20を載置部110に載置する際、第2のカセット20の側壁11a、11bの両端部を4つの位置決め部材111に嵌め合わせる(図1(c)参照。)。 Four positioning members 111 for positioning the second cassette 20 are provided on the upper surface of the mounting portion 110. When the second cassette 20 is mounted on the mounting portion 110, both ends of the side walls 11a and 11b of the second cassette 20 are fitted into the four positioning members 111 (see FIG. 1C).

移動部120は、載置部110を着脱位置と収納位置との間で水平方向に移動させる。移動部120は、連係部材121と、水平スライド部材122a、122bと、案内部材123と、突部材124と、を備えている。なお、連係部材121は、図3では図示されておらず、図4にて図示される。 The moving portion 120 moves the mounting portion 110 horizontally between the attachment / detachment position and the storage position. The moving portion 120 includes a linking member 121, horizontal slide members 122a and 122b, a guide member 123, and a protrusion member 124. The linking member 121 is not shown in FIG. 3, but is shown in FIG.

連係部材121は、X軸方向における断面が段状の部材121aと、移送ローラ121bとから構成される。部材121aの下部には、X軸方向に孔が形成されており、この孔に移送ローラ121bの回転軸が通される。部材121aの上部の立ち上がり部にシャッタ140が装着される(図5(c)参照。)。 The linking member 121 is composed of a member 121a having a stepped cross section in the X-axis direction and a transfer roller 121b. A hole is formed in the lower portion of the member 121a in the X-axis direction, and the rotation shaft of the transfer roller 121b is passed through the hole. The shutter 140 is attached to the rising portion of the upper portion of the member 121a (see FIG. 5C).

水平スライド部材122aは、載置部110側に設けられ、水平スライド部材122bは、台座190側に設けられる。載置部110が水平方向に移動する際、水平スライド部材122bに対して、水平スライド部材122aが移動する。これにより、載置部110は、水平方向に移動できる。 The horizontal slide member 122a is provided on the mounting portion 110 side, and the horizontal slide member 122b is provided on the pedestal 190 side. When the mounting portion 110 moves in the horizontal direction, the horizontal slide member 122a moves with respect to the horizontal slide member 122b. As a result, the mounting portion 110 can be moved in the horizontal direction.

案内部材123は、細長い矩形状の部材であり、台座190に設置される。案内部材123のY軸正側および負側は中央に向かって緩やかな傾斜面が形成されており、Y軸正側の端部には、V字状の凹部123aが形成されている。載置部110に設けられている突部材124の下端部は半球状に形成されている(不図示)。水平スライド部材122a、122bにより載置部110が収納位置まで水平方向に移動すると、突部材124の半球状の部分が案内部材123の傾斜面を滑る。これにより、載置部110には適切にブレーキが掛かり、台座190に減速しながら移動することができる。また、突部材124の半球状の部分が凹部123aに嵌まることにより、載置部110は第2の収納部102に位置決めされる。 The guide member 123 is an elongated rectangular member and is installed on the pedestal 190. A gently inclined surface is formed on the positive and negative sides of the guide member 123 toward the center, and a V-shaped recess 123a is formed at the end on the positive side of the Y-axis. The lower end of the protrusion 124 provided on the mounting portion 110 is formed in a hemispherical shape (not shown). When the mounting portion 110 is moved horizontally to the storage position by the horizontal slide members 122a and 122b, the hemispherical portion of the protrusion member 124 slides on the inclined surface of the guide member 123. As a result, the mounting portion 110 is appropriately braked and can move to the pedestal 190 while decelerating. Further, the hemispherical portion of the protrusion member 124 is fitted into the recess 123a, so that the mounting portion 110 is positioned in the second storage portion 102.

規制部130は、載置部110が着脱位置(第1の状態)と収納位置(第2の状態)との間で水平方向に移動している間、また、載置部110が収納位置に位置しているとき(第2の状態)、第2のカセット20から奥方(Y軸正側)にウェーハWが飛び出して落下することを防ぐ。規制部130は、第2のカセット20の奥方の端面に当接する。つまり、第2のカセット20に収容されているウェーハWに当接する。規制部130は、板状の部材であり、本実施の形態では、2つ設けられる。規制部130は、支持板131に支持されている。 In the regulating unit 130, the mounting unit 110 is in the storage position while the mounting unit 110 is moving horizontally between the attachment / detachment position (first state) and the storage position (second state). When it is positioned (second state), it prevents the wafer W from popping out and falling from the second cassette 20 to the back (the positive side of the Y axis). The regulating unit 130 comes into contact with the inner end surface of the second cassette 20. That is, it comes into contact with the wafer W housed in the second cassette 20. The regulation unit 130 is a plate-shaped member, and in the present embodiment, two regulation units 130 are provided. The regulation unit 130 is supported by the support plate 131.

シャッタ140は、第2の収納部102と引き出し位置との間を遮断する。第2の収納部102において、第2のカセット20からウェーハWが引き出されるとき、シャッタ140は開放され、載置部110が収納位置から着脱位置に移動するとき、シャッタ140は閉塞する。 The shutter 140 shuts off between the second storage portion 102 and the drawer position. In the second storage portion 102, when the wafer W is pulled out from the second cassette 20, the shutter 140 is opened, and when the mounting portion 110 moves from the storage position to the attachment / detachment position, the shutter 140 is closed.

昇降機構150は、シャッタ140を昇降させる。昇降機構150は、駆動部151と、受け部材152と、昇降スライド部材153a、153bと、を備えている。 The elevating mechanism 150 raises and lowers the shutter 140. The elevating mechanism 150 includes a driving unit 151, a receiving member 152, and elevating slide members 153a and 153b.

駆動部151は、シリンダである。駆動部151のロッド151aの下端部に、受け部材152が接続されている。受け部材152は、Y軸負側が開いた枠状の部材から構成されている。受け部材152の上下の隙間152aは、上記した移送ローラ121bに嵌まり込む。後で説明するが、収納装置100が第2〜第4の状態であるとき、移送ローラ121bは受け部材152の隙間152aに嵌められている(たとえば、図6(b)参照。)。受け部材152はロッド151aと接続されているため、駆動部151が駆動すると、受け部材152は駆動部151と一体となって昇降する。 The drive unit 151 is a cylinder. The receiving member 152 is connected to the lower end of the rod 151a of the drive unit 151. The receiving member 152 is composed of a frame-shaped member having an open Y-axis negative side. The upper and lower gaps 152a of the receiving member 152 fit into the transfer roller 121b described above. As will be described later, when the storage device 100 is in the second to fourth states, the transfer roller 121b is fitted in the gap 152a of the receiving member 152 (see, for example, FIG. 6B). Since the receiving member 152 is connected to the rod 151a, when the driving unit 151 is driven, the receiving member 152 moves up and down integrally with the driving unit 151.

昇降スライド部材153a、153bは、シャッタ140と支持部160との間に設けられており、シャッタ140を昇降移動させる。シャッタ140に昇降スライド部材153aが装着されており、支持部160に昇降スライド部材153bが装着される。シャッタ140が昇降するとき、昇降スライド部材153bに対して昇降スライド部材153aがスライド移動するため、シャッタ140が昇降する。 The elevating slide members 153a and 153b are provided between the shutter 140 and the support portion 160, and move the shutter 140 up and down. The elevating slide member 153a is attached to the shutter 140, and the elevating slide member 153b is attached to the support portion 160. When the shutter 140 moves up and down, the elevating slide member 153a slides and moves with respect to the elevating slide member 153b, so that the shutter 140 moves up and down.

支持部160は、Y軸方向の断面が段状の部材であり(図6(a)参照。)、載置部110に設置される。次に説明するリンク機構170を介して規制部130を支持する。 The support portion 160 is a member having a stepped cross section in the Y-axis direction (see FIG. 6A), and is installed on the mounting portion 110. The regulation unit 130 is supported via the link mechanism 170 described below.

リンク機構170は、リンクベース171と、リンクプレート172と、2つのリンクバー173と、リンクローラ174とから構成される。 The link mechanism 170 includes a link base 171, a link plate 172, two link bars 173, and a link roller 174.

リンクベース171およびリンクプレート172は、板状の部材であり、2つのリンクバー173によって連結される。リンクベース171は、シャッタ140に装着されており、リンクプレート172は、支持板131に装着される。リンクプレート172の下部にリンクローラ174が回転可能に設けられている。リンクローラ174は、支持部160の下部の水平面と当接する。なお、2つのリンクバー173は、図3では図示されず、図4にて図示される。 The link base 171 and the link plate 172 are plate-shaped members and are connected by two link bars 173. The link base 171 is attached to the shutter 140, and the link plate 172 is attached to the support plate 131. A link roller 174 is rotatably provided at the bottom of the link plate 172. The link roller 174 comes into contact with the horizontal surface below the support 160. The two link bars 173 are not shown in FIG. 3 and are shown in FIG.

上記のとおり、シャッタ140は、水平スライド部材122a、122bを介して支持部160に支持される。シャッタ140にリンクベース171が装着されており、リンクベース171とリンクバー173を介して連結されているリンクプレート172は支持板131に装着されている。このリンクベース171およびリンクプレート172は、2つのリンクバー173により四つ棒リンクを構成する。このリンク機構により、リンクプレート172は、垂直な状態を維持した状態で摺動する。そして、この支持板131は規制部130を支持する。したがって、規制部130は、リンク機構170を介してシャッタ140に支持され、また、規制部130は、リンク機構170を介して支持部160に支持される。 As described above, the shutter 140 is supported by the support portion 160 via the horizontal slide members 122a and 122b. The link base 171 is mounted on the shutter 140, and the link plate 172 connected to the link base 171 via the link bar 173 is mounted on the support plate 131. The link base 171 and the link plate 172 form a four-bar link by two link bars 173. By this link mechanism, the link plate 172 slides while maintaining a vertical state. Then, the support plate 131 supports the regulation unit 130. Therefore, the regulation unit 130 is supported by the shutter 140 via the link mechanism 170, and the regulation unit 130 is supported by the support unit 160 via the link mechanism 170.

図3、図4に示すように、第1の状態では、リンク機構170のリンクバー173は載置部110に対して水平である。そのため、リンクベース171とリンクプレート172とは僅かながら離間している。つまり、リンクベース171が装着されているシャッタ140と、リンクプレート172が装着されている支持板131とは離間している。支持板131には規制部130が装着されているため、シャッタ140と、規制部130とは、離間している。 As shown in FIGS. 3 and 4, in the first state, the link bar 173 of the link mechanism 170 is horizontal with respect to the mounting portion 110. Therefore, the link base 171 and the link plate 172 are slightly separated from each other. That is, the shutter 140 on which the link base 171 is mounted and the support plate 131 on which the link plate 172 is mounted are separated from each other. Since the regulating portion 130 is mounted on the support plate 131, the shutter 140 and the regulating portion 130 are separated from each other.

検知手段180は、台座190のY軸正側に設けられるセンサである。検知手段180は、第2のカセット20からウェーハWが搬送路に落下したことを検知する。 The detection means 180 is a sensor provided on the positive side of the Y-axis of the pedestal 190. The detection means 180 detects that the wafer W has fallen into the transport path from the second cassette 20.

図3、図4に示すように、第1の状態では、載置部110が引き出され、着脱位置に位置するとき、規制部130、支持板131、およびシャッタ140も載置部110とともに水平方向に移動する。これは、図2(a)、特に、図2(a)の右側の図に示すように、規制部130がウェーハWに当接した状態である。このため、載置部110から第2のカセット20を取り出すとき、および、第2のカセット20を載置部110に載置するとき、オペレータは載置部110の領域内のみしか手を入れることができず、搬送路にオペレータの手が入り込むことはない。よって、オペレータは安全に第2のカセット20の着脱を行うことができる。 As shown in FIGS. 3 and 4, in the first state, when the mounting portion 110 is pulled out and is positioned at the attachment / detachment position, the regulating portion 130, the support plate 131, and the shutter 140 are also in the horizontal direction together with the mounting portion 110. Move to. This is a state in which the regulating portion 130 is in contact with the wafer W as shown in FIG. 2A, particularly the right side view of FIG. 2A. Therefore, when the second cassette 20 is taken out from the mounting portion 110 and when the second cassette 20 is mounted on the mounting portion 110, the operator only touches the area of the mounting portion 110. The operator's hands do not get into the transport path. Therefore, the operator can safely attach / detach the second cassette 20.

次に、収納装置100が第2の状態、つまり、載置部110が収納位置に位置している場合について説明する。 Next, a case where the storage device 100 is in the second state, that is, the case where the mounting portion 110 is located at the storage position will be described.

図5、図6(a)〜(c)は、収納装置100の構成を示す斜視図であり、収納装置100が第2の状態のときを示している。図6(a)、(b)は、リンク機構周辺の拡大図であり、図6(b)は、シャッタ140が省略されている。図6(c)は、図5に対応する斜視図である。また、図5、図6(a)〜(c)では、第2のカセット20、筐体103、扉104、および検知手段180が省略されている。 5 and 6 (a) to 6 (c) are perspective views showing the configuration of the storage device 100, and show the state when the storage device 100 is in the second state. 6 (a) and 6 (b) are enlarged views around the link mechanism, and FIG. 6 (b) omits the shutter 140. FIG. 6C is a perspective view corresponding to FIG. Further, in FIGS. 5 and 6 (a) to 6 (c), the second cassette 20, the housing 103, the door 104, and the detecting means 180 are omitted.

図5に示すように、載置部110を収納位置に移動させると、連係部材121、規制部130、支持板131、シャッタ140、および支持部160は、図3、図4に示した状態を維持しながら載置部110とともに水平移動する。このとき、図10(b)に示すように、シャッタ140とともに水平移動した連係部材121の移送ローラ121bが、受け部材152の隙間152aに嵌まり込む。このとき、移送ローラ121bが台座190を転動すると、受け部材152に連続的に乗り移ることが可能なように、移送ローラ121bの幅は広めに設定されている。また、図10(a)、(b)に示すように、受け部材152の上部の枠とシャッタ140は干渉しない。 As shown in FIG. 5, when the mounting portion 110 is moved to the storage position, the linking member 121, the regulating portion 130, the support plate 131, the shutter 140, and the support portion 160 are in the states shown in FIGS. 3 and 4. While maintaining it, it moves horizontally together with the mounting portion 110. At this time, as shown in FIG. 10B, the transfer roller 121b of the linking member 121 that has moved horizontally together with the shutter 140 fits into the gap 152a of the receiving member 152. At this time, the width of the transfer roller 121b is set to be wide so that when the transfer roller 121b rolls on the pedestal 190, it can be continuously transferred to the receiving member 152. Further, as shown in FIGS. 10A and 10B, the upper frame of the receiving member 152 and the shutter 140 do not interfere with each other.

図6(a)、(b)に示すように、収納装置100が第2の状態のとき、リンク機構170は、第1の状態と同様であるから、未だ、規制部130とシャッタ140とは僅かに離間しており、規制部130はウェーハWに当接している。これは、規制部130がウェーハWに当接している様子は、図2(b)に示されている。 As shown in FIGS. 6A and 6B, when the storage device 100 is in the second state, the link mechanism 170 is the same as in the first state. The regulation unit 130 is in contact with the wafer W so as to be slightly separated from each other. It is shown in FIG. 2 (b) that the regulation unit 130 is in contact with the wafer W.

このように、第1の状態から第2の状態、つまり、載置部110が着脱位置から収納位置へ水平移動するとき、規制部130とシャッタ140とは互いの位置関係が変化することなく、載置部110とともに水平移動する。よって、載置部110が着脱位置から収納位置へ水平移動している間、規制部130はウェーハWに当接し続ける。よって、第2のカセット20からウェーハWが供給領域側に飛び出して落下する虞はない。また、シャッタ140が供給領域側を塞いでいるため、収納装置100内に作業者の手が入り込むことを確実に防ぐ。 In this way, when the mounting unit 110 moves horizontally from the first state to the second state, that is, from the attachment / detachment position to the storage position, the restricting unit 130 and the shutter 140 do not change their positional relationship with each other. It moves horizontally together with the mounting portion 110. Therefore, while the mounting portion 110 is horizontally moving from the attachment / detachment position to the storage position, the regulation portion 130 continues to abut on the wafer W. Therefore, there is no possibility that the wafer W jumps out from the second cassette 20 to the supply region side and falls. Further, since the shutter 140 blocks the supply area side, it surely prevents the operator's hand from getting into the storage device 100.

次に、収納装置100が第3の状態、つまり、載置部110が収納位置に位置し、シャッタ140が開放される直前について説明する。 Next, the third state of the storage device 100, that is, immediately before the mounting portion 110 is located at the storage position and the shutter 140 is released will be described.

図7、8(a)〜(c)は、収納装置100の構成を示す斜視図であり、収納装置100が第3の状態のときを示している。図8(a)、(b)は、リンク機構周辺の拡大図であり、図8(b)は、シャッタ140が省略されている。図8(c)は、図11に対応する斜視図である。また、図7、8(a)〜(c)では、第2のカセット20、筐体103、扉104、および検知手段180が省略されている。 7 and 8 (a) to 8 (c) are perspective views showing the configuration of the storage device 100, and show the case where the storage device 100 is in the third state. 8 (a) and 8 (b) are enlarged views around the link mechanism, and FIG. 8 (b) omits the shutter 140. FIG. 8C is a perspective view corresponding to FIG. Further, in FIGS. 7 and 8 (a) to 8 (c), the second cassette 20, the housing 103, the door 104, and the detecting means 180 are omitted.

載置部110が収納位置に位置付けられると、収納装置100は、第2のカセット20からウェーハWが供給可能となるように、シャッタ140を開放する準備を行う。ここで、シャッタ140をいっきに昇降移動させると、規制部130もシャッタ140と一体的に昇降移動する。規制部130はウェーハWに当接しているため、規制部130はウェーハWを擦りながら昇降移動する。ウェーハWは、これは、ウェーハWの品質の低下を招くため、ウェーハWと規制部130とを離間させてから、シャッタ140を上昇させる必要がある。そこで、図7、8(a)〜(c)に示すように、収納装置100において、シャッタ140を開放する準備として、ウェーハWと規制部130とを離間させる(第3の状態)。 When the mounting portion 110 is positioned at the storage position, the storage device 100 prepares to open the shutter 140 so that the wafer W can be supplied from the second cassette 20. Here, when the shutter 140 is moved up and down at once, the regulating unit 130 also moves up and down integrally with the shutter 140. Since the regulating unit 130 is in contact with the wafer W, the regulating unit 130 moves up and down while rubbing the wafer W. In the wafer W, since this causes a deterioration in the quality of the wafer W, it is necessary to separate the wafer W from the regulation unit 130 and then raise the shutter 140. Therefore, as shown in FIGS. 7 and 8 (a) to 8 (c), in the storage device 100, the wafer W and the regulating portion 130 are separated from each other in preparation for opening the shutter 140 (third state).

図7、8(a)〜(c)に示すように、駆動部151に所定の圧力が付与されると、ロッド151aが所定ストローク上昇する。これにより、ロッド151aに接続されている受け部材152は、連係部材121の移送ローラ121bが嵌まった状態で、所定ストローク上昇する。連係部材121の部材121aは、シャッタ140に装着されているため、受け部材152の上昇に伴い、連係部材121とシャッタ140とが一体的に所定ストローク上昇する。このとき、シャッタ140は、昇降スライド部材153a、153bにより上下移動可能なようにガイドされる。 As shown in FIGS. 7 and 8 (a) to 8 (c), when a predetermined pressure is applied to the drive unit 151, the rod 151a rises by a predetermined stroke. As a result, the receiving member 152 connected to the rod 151a rises by a predetermined stroke with the transfer roller 121b of the linking member 121 fitted. Since the member 121a of the linking member 121 is attached to the shutter 140, the linking member 121 and the shutter 140 are integrally raised by a predetermined stroke as the receiving member 152 is raised. At this time, the shutter 140 is guided by the elevating slide members 153a and 153b so as to be movable up and down.

図8(a)、(b)に示すように、シャッタ140には、リンクベース171が装着されている。このため、シャッタ140が上昇するとリンクベース171も上昇し、水平方向に維持されていた2つのリンクバー173(図10(b)参照。)が回動する。このとき、リンクプレート172に回動可能に設けられているリンクローラ174が支持部160の下部の水平面をY軸正側へ転がり、リンクプレート172をY軸正側へ移動させる。リンクプレート172は支持板131に装着されているため、支持板131もY軸正側へ移動する。これにより、支持板131に支持されている規制部130が図5、6(a)〜(c)に示されていた状態から、Y軸正側へ僅かに移動する。リンクプレート172は、四つ棒リンクにより、垂直な状態を維持しながら水平方向に移動する。そして、規制部130も水平方向に移動し、規制部130はウェーハWから離間する。これにより、規制部130はウェーハWに当接することなく、すなわち、ウェーハWの位置をずらすことなく、ウェーハWから離間してから上昇することができる。 As shown in FIGS. 8A and 8B, a link base 171 is attached to the shutter 140. Therefore, when the shutter 140 is raised, the link base 171 is also raised, and the two link bars 173 (see FIG. 10B) that are maintained in the horizontal direction rotate. At this time, the link roller 174 rotatably provided on the link plate 172 rolls the horizontal plane below the support portion 160 to the positive side of the Y-axis, and moves the link plate 172 to the positive side of the Y-axis. Since the link plate 172 is mounted on the support plate 131, the support plate 131 also moves to the positive side of the Y-axis. As a result, the regulating portion 130 supported by the support plate 131 moves slightly to the positive side of the Y-axis from the state shown in FIGS. 5 and 6 (a) to 6 (c). The link plate 172 is moved horizontally by the four-bar link while maintaining a vertical state. Then, the regulation unit 130 also moves in the horizontal direction, and the regulation unit 130 is separated from the wafer W. As a result, the regulating unit 130 can move up after being separated from the wafer W without abutting on the wafer W, that is, without shifting the position of the wafer W.

次に、収納装置100が第4の状態、つまり、載置部110が収納位置に位置し、シャッタ140が開放される場合について説明する。 Next, a case where the storage device 100 is in the fourth state, that is, the mounting portion 110 is located at the storage position and the shutter 140 is released will be described.

図9、10(a)、(b)は、収納装置100の構成を示す斜視図であり、収納装置100が第4の状態のときを示している。図10(a)は、リンク機構周辺の拡大図であり、図10(b)は、図13に対応する斜視図である。また、図9、10(a)、(b)では、第2のカセット20、筐体103、扉104、および検知手段180が省略されている。 9 and 10 (a) and 10 (b) are perspective views showing the configuration of the storage device 100, and show the state when the storage device 100 is in the fourth state. 10 (a) is an enlarged view of the periphery of the link mechanism, and FIG. 10 (b) is a perspective view corresponding to FIG. Further, in FIGS. 9, 10 (a) and 9 (b), the second cassette 20, the housing 103, the door 104, and the detecting means 180 are omitted.

図9、10(a)、(b)に示すように、第3の状態から続けて駆動部151に所定の圧力が付与されると、ロッド151aがさらに所定ストローク上昇する。これにより、ロッド151aに接続されている受け部材152に連係部材121の移送ローラ121bが嵌まり込んだまま、所定ストローク上昇する。これにより、シャッタ140は、規制部130と一体的に上昇し、第2の収納部102を供給領域に対して開放することができる。 As shown in FIGS. 9, 10 (a) and 10 (b), when a predetermined pressure is continuously applied to the drive unit 151 from the third state, the rod 151a further rises by a predetermined stroke. As a result, the transfer roller 121b of the linking member 121 is fitted into the receiving member 152 connected to the rod 151a, and the predetermined stroke is raised. As a result, the shutter 140 rises integrally with the regulating portion 130, and the second accommodating portion 102 can be opened with respect to the supply region.

なお、第1の収納部101のシャッタ140は、下方に移動する。第1の収納部101は、第2の収納部102と同様の部材および機構により構成される。第1の収納部101では、支持部160およびリンク機構170が第2の収納部102の支持部160およびリンク機構170とは上下逆向きに設けられる。その他の構成は、第2の収納部102と同様に設けられる。 The shutter 140 of the first storage unit 101 moves downward. The first storage unit 101 is composed of the same members and mechanisms as the second storage unit 102. In the first storage portion 101, the support portion 160 and the link mechanism 170 are provided upside down from the support portion 160 and the link mechanism 170 of the second storage portion 102. Other configurations are provided in the same manner as the second storage unit 102.

上記のとおり、第1の収納部101では、リンク機構170が第2の収納部102に設けられていた状態とは上下逆向きの状態で設けられている。第2の収納部102のリンクローラ174は、自重により、リンク機構170に付勢部材を設けなくても、支持部160の段部の水平面上に安定的に位置付けられる。 As described above, in the first storage unit 101, the link mechanism 170 is provided in a state in which the link mechanism 170 is upside down from the state in which the second storage unit 102 is provided. The link roller 174 of the second storage portion 102 is stably positioned on the horizontal plane of the step portion of the support portion 160 due to its own weight, even if the link mechanism 170 is not provided with an urging member.

これに対し、第1の収納部101では、支持部160の段部の水平面よりもリンクローラ174は下方に位置する。これにより、リンクローラ174は自重により移動可能となる。リンクローラ174が移動すると、リンクプレート172も移動するため、リンク機構170が不安定化する。そこで、第2の収納部102のリンク機構170には、リンクローラ174を上方に付勢するための付勢部材(不図示)が設けられる。これにより、第1の収納部101のリンク機構170は、安定化する。 On the other hand, in the first storage portion 101, the link roller 174 is located below the horizontal plane of the step portion of the support portion 160. As a result, the link roller 174 can be moved by its own weight. When the link roller 174 moves, the link plate 172 also moves, so that the link mechanism 170 becomes unstable. Therefore, the link mechanism 170 of the second storage portion 102 is provided with an urging member (not shown) for urging the link roller 174 upward. As a result, the link mechanism 170 of the first storage unit 101 is stabilized.

上記のような構成の収納装置100であれば各収納部から載置部110を着脱位置側に引き出すと、規制部130およびシャッタ140も引き出される。載置部110を収納位置に戻す場合も同様である。このため、載置部110の移動中、規制部130がウェーハWに対向し続けることとなり、カセットからウェーハWが落下することを確実に防ぐことができる。また、載置部110が着脱位置に位置付けられたとき、シャッタ140により各収納部の奥方が塞がれているため、オペレータが収納装置100内に手を挿入することを防ぐことができる。 With the storage device 100 having the above configuration, when the mounting unit 110 is pulled out from each storage unit to the attachment / detachment position side, the regulation unit 130 and the shutter 140 are also pulled out. The same applies when the mounting portion 110 is returned to the storage position. Therefore, while the mounting unit 110 is moving, the regulating unit 130 continues to face the wafer W, and it is possible to reliably prevent the wafer W from falling from the cassette. Further, when the mounting portion 110 is positioned at the attachment / detachment position, the shutter 140 closes the inner part of each storage portion, so that it is possible to prevent the operator from inserting his / her hand into the storage device 100.

次に、引き出し機構200について説明する。 Next, the drawer mechanism 200 will be described.

図11(a)、(b)は、引き出し機構200および移動機構300の構成を示す斜視図である。 11 (a) and 11 (b) are perspective views showing the configurations of the pull-out mechanism 200 and the moving mechanism 300.

引き出し機構200は、搬送路にウェーハWを供給するため、第1のカセット10および第2のカセット20からウェーハWを引き出す。引き出し機構200は、ハンド210と、駆動機構220と、ガイド部230と、退避機構240と、センサ250と、を備えている。 The drawing mechanism 200 draws the wafer W from the first cassette 10 and the second cassette 20 in order to supply the wafer W to the transport path. The pull-out mechanism 200 includes a hand 210, a drive mechanism 220, a guide portion 230, a retracting mechanism 240, and a sensor 250.

ハンド210は、ウェーハWの周縁部を把持する。駆動機構220は、ハンド210を水平方向に移動させる。 The hand 210 grips the peripheral edge of the wafer W. The drive mechanism 220 moves the hand 210 in the horizontal direction.

ガイド部230は、カセットから引き出されたウェーハWを支持しながら、搬送路へ案内する。ガイド部230は、レール231a、231bと、レール231a、231bを支持するガイド支持部材232a〜232cと、を備えている。レール231a、231bは、X軸正側および負側に配置されている。レール231a、231bのそれぞれの下部に、ガイド支持部材232a、232bが当接する。ガイド支持部材232a、232bのそれぞれの下部に、ガイド支持部材232cが連結される。 The guide unit 230 guides the wafer W drawn out of the cassette to the transport path while supporting the wafer W. The guide portion 230 includes rails 231a and 231b, and guide support members 232a to 232c that support the rails 231a and 231b. The rails 231a and 231b are arranged on the positive side and the negative side of the X-axis. The guide support members 232a and 232b abut on the lower portions of the rails 231a and 231b. A guide support member 232c is connected to each lower portion of the guide support members 232a and 232b.

また、ガイド支持部材232a〜232cは、矩形状の板部材である。図2(a)、(b)では、ガイド支持部材232aは2体に分けられているが、一体であっても構わない
退避機構240は、収納装置100から引き出されたウェーハWが搬送路に受け渡される際、受渡位置でウェーハWを受け取る部材(たとえば、搬送路側の把持部材)とハンド210との干渉を回避させる。
Further, the guide support members 232a to 232c are rectangular plate members. In FIGS. 2A and 2B, the guide support member 232a is divided into two bodies, but the retracting mechanism 240, which may be integrated, has the wafer W drawn out from the storage device 100 in the transport path. At the time of delivery, interference between the hand 210 and the member that receives the wafer W at the delivery position (for example, the gripping member on the transport path side) is avoided.

センサ250は、ハンド210がカセットからウェーハWを引き出す際、供給対象のウェーハWを検知する。ハンド210、センサ250、および退避機構240は、Y軸負側からこの順に、連結部材を介して連結される。また、退避機構240は、ハンド210およびセンサ250よりも下方に配置される。 The sensor 250 detects the wafer W to be supplied when the hand 210 pulls out the wafer W from the cassette. The hand 210, the sensor 250, and the retracting mechanism 240 are connected via a connecting member in this order from the negative side of the Y-axis. Further, the retracting mechanism 240 is arranged below the hand 210 and the sensor 250.

また、退避機構240は、具体的には、エアシリンダである。退避機構240にエアシリンダ駆動部405から所定の圧力が付与されると、退避機構240と、連結部材を介して連結されているハンド210およびセンサ250とが一体的に下方に移動する。なお、エアシリンダ駆動部405は、図14(a)で図示される。 Further, the evacuation mechanism 240 is specifically an air cylinder. When a predetermined pressure is applied to the retracting mechanism 240 from the air cylinder driving unit 405, the retracting mechanism 240 and the hand 210 and the sensor 250 connected via the connecting member move downward integrally. The air cylinder drive unit 405 is shown in FIG. 14 (a).

駆動機構220は、ハンド210に把持されたウェーハWを水平方向に移動させる。駆動機構220は、ウェーハWを水平方向に移動させる引き出しガイド部221と、引き出しガイド部221を移動させる移動部材222と、を備えている。図2(a)、(b)に示すように、引き出しガイド部221は、ガイド支持部材232a〜232cにより囲まれる空間内配置されており、ガイド支持部材232cに装着される。また、移動部材222には、退避機構240が装着されている。 The drive mechanism 220 moves the wafer W gripped by the hand 210 in the horizontal direction. The drive mechanism 220 includes a pull-out guide portion 221 that moves the wafer W in the horizontal direction, and a moving member 222 that moves the pull-out guide portion 221. As shown in FIGS. 2A and 2B, the drawer guide portion 221 is arranged in the space surrounded by the guide support members 232a to 232c, and is mounted on the guide support member 232c. Further, the moving member 222 is equipped with a retracting mechanism 240.

引き出し機構200において、移動部材222が引き出しガイド部221を水平方向に移動すると、退避機構240、センサ250、ハンド210、ガイド部230、およびウェーハWが一体的に水平方向に移動する。 In the pull-out mechanism 200, when the moving member 222 moves the pull-out guide portion 221 in the horizontal direction, the retracting mechanism 240, the sensor 250, the hand 210, the guide portion 230, and the wafer W are integrally moved in the horizontal direction.

移動機構300は、引き出し機構200を、第1の収納部101と第2の収納部102との間で昇降移動させる。移動機構300は、引き出し機構200を昇降させる昇降ガイド310と、昇降ガイド310を昇降する昇降部材320と、を備えている。 The moving mechanism 300 moves the drawer mechanism 200 up and down between the first storage unit 101 and the second storage unit 102. The moving mechanism 300 includes an elevating guide 310 for elevating and lowering the pull-out mechanism 200, and an elevating member 320 for elevating and lowering the elevating guide 310.

昇降部材320は、ガイド支持部材232bに装着されている。移動機構300において、昇降部材320が昇降ガイド310を移動することにより、昇降部材320を介して引き出し機構200が一体的に昇降する。 The elevating member 320 is attached to the guide support member 232b. In the moving mechanism 300, the elevating member 320 moves the elevating guide 310, so that the pulling mechanism 200 is integrally raised and lowered via the elevating member 320.

次に、基板供給システム1によるウェーハWの搬送路への供給について説明する。ここでは、基板供給システム1は、ウェーハWを搬送路500に供給する場合を想定して説明する。 Next, the supply of the wafer W to the transport path by the substrate supply system 1 will be described. Here, the substrate supply system 1 will be described assuming that the wafer W is supplied to the transport path 500.

また、本実施の形態では、第1の収納部101に収納された第1のカセット10の最下部に収容されているウェーハWから順に搬送路に供給する。 Further, in the present embodiment, the wafers W housed in the lowermost portion of the first cassette 10 housed in the first storage section 101 are supplied to the transport path in order.

図12(a)〜13(b)は、基板供給システム1と搬送路500との構成を示す斜視図である。図12(a)は、引き出し機構200によりウェーハWが引き出される場合であり、図12(b)は、引き出し機構200によるウェーハWの引き出しが完了した場合である。図13(a)は、引き出し機構200が搬送路500の受渡位置にウェーハWを受け渡す直前を示しており、図13(b)は、搬送路500の受渡位置にウェーハWの受け渡しが完了した場合を示している。 12 (a) to 13 (b) are perspective views showing the configuration of the substrate supply system 1 and the transport path 500. FIG. 12A shows a case where the wafer W is pulled out by the drawing mechanism 200, and FIG. 12B shows a case where the drawing of the wafer W by the drawing mechanism 200 is completed. FIG. 13 (a) shows immediately before the pull-out mechanism 200 delivers the wafer W to the delivery position of the transport path 500, and FIG. 13 (b) shows that the wafer W has been delivered to the delivery position of the transport path 500. Shows the case.

なお、図12(a)〜図13(b)では、第1の収納部101および第2の収納部102にそれぞれ設けられているシャッタ140は開放されている。 In FIGS. 12 (a) to 13 (b), the shutters 140 provided in the first storage unit 101 and the second storage unit 102 are open.

図12(a)〜図13(b)に示すように、搬送路500は、搬送機構510と、2つの搬送レール520と、案内部材530と、搬送ハンド540と、を備える。搬送ハンド540は、基板供給システム1から受け渡されたウェーハWを把持する。搬送レール520案内部材530に搬送ハンド540が装着されており、搬送機構510を駆動すると、案内部材530が搬送機構510のガイドに沿って移動する。これにより、搬送レール520に沿ってウェーハWが搬送される。 As shown in FIGS. 12A to 13B, the transport path 500 includes a transport mechanism 510, two transport rails 520, a guide member 530, and a transport hand 540. The transfer hand 540 grips the wafer W delivered from the substrate supply system 1. A transport hand 540 is attached to the transport rail 520 guide member 530, and when the transport mechanism 510 is driven, the guide member 530 moves along the guide of the transport mechanism 510. As a result, the wafer W is conveyed along the transfer rail 520.

図12(a)に示すように、移動機構300が引き出し機構200を一体的に下方に移動させ、所定の高さ位置に位置付ける。このとき、移動機構300は、ハンド210が第1のカセット10または第2のカセット20に収容されている供給対象のウェーハWと対向する位置に、引き出し機構200を一体的に移動させる。そして、供給対象のウェーハWの高さ位置に位置付けられたハンド210は、駆動機構220によりY軸負側に移動して、供給対象のウェーハWを把持する。このとき、センサ250が、供給対象のウェーハWを検知する。基板供給システム1のこの動作を、「引き出し動作」と称する。 As shown in FIG. 12A, the moving mechanism 300 integrally moves the pulling mechanism 200 downward and positions it at a predetermined height position. At this time, the moving mechanism 300 integrally moves the drawing mechanism 200 to a position where the hand 210 faces the wafer W to be supplied, which is housed in the first cassette 10 or the second cassette 20. Then, the hand 210 positioned at the height position of the wafer W to be supplied moves to the negative side of the Y-axis by the drive mechanism 220 to grip the wafer W to be supplied. At this time, the sensor 250 detects the wafer W to be supplied. This operation of the board supply system 1 is referred to as a "pull-out operation".

図12(b)に示すように、ウェーハWがハンド210に把持されると、駆動機構220は、Y軸正側にウェーハWを引き出す。引き出されたウェーハWは、レール231a、231bに支持され、案内されながら引き出し位置に位置付けられる。このとき、ハンド210はウェーハWを把持した状態である。基板供給システム1のこの動作を、「引き出し完了動作」と称する。 As shown in FIG. 12B, when the wafer W is gripped by the hand 210, the drive mechanism 220 pulls out the wafer W to the positive side of the Y-axis. The drawn wafer W is supported by the rails 231a and 231b and is positioned at the drawing position while being guided. At this time, the hand 210 is in a state of gripping the wafer W. This operation of the board supply system 1 is referred to as a "drawing completion operation".

図13(a)に示すように、ウェーハWが引き出し位置に位置付けられると、移動機構300は引き出し機構200を一体的に上方に移動させる。このとき、レール231a、231bの高さ位置と、搬送路500の搬送レール520の高さ位置とが一致するように、移動機構300は引き出し機構200を一体的に移動させる。また、ハンド210はウェーハWを把持した状態である。基板供給システム1のこの動作を、「受渡準備動作」と称する。 As shown in FIG. 13A, when the wafer W is positioned at the drawing position, the moving mechanism 300 integrally moves the drawing mechanism 200 upward. At this time, the moving mechanism 300 integrally moves the pull-out mechanism 200 so that the height position of the rails 231a and 231b coincides with the height position of the transport rail 520 of the transport path 500. Further, the hand 210 is in a state of gripping the wafer W. This operation of the board supply system 1 is referred to as a "delivery preparation operation".

図13(b)に示すように、引き出し機構200のレール231a、231bが搬送レール520の高さ位置、すなわち受渡位置に位置付けられると、ハンド210はウェーハWを離す。そして、退避機構240に所定の圧力が付与されて、ハンド210とセンサ250とが搬送レール520よりも下方に移動する。これにより、ハンド210とセンサ250とが、搬送ハンド540と干渉しない。なお、この状態では、ウェーハWは未だレール231a、231bに支持されている。基板供給システム1のこの動作を、「受渡完了動作」と称する。 As shown in FIG. 13B, when the rails 231a and 231b of the pull-out mechanism 200 are positioned at the height position of the transport rail 520, that is, the delivery position, the hand 210 releases the wafer W. Then, a predetermined pressure is applied to the retracting mechanism 240, and the hand 210 and the sensor 250 move below the transport rail 520. As a result, the hand 210 and the sensor 250 do not interfere with the transport hand 540. In this state, the wafer W is still supported by the rails 231a and 231b. This operation of the board supply system 1 is referred to as a "delivery completion operation".

ハンド210がウェーハWを離すと、搬送機構510を駆動により、搬送ハンド540が装着されている案内部材530が搬送機構のガイドに沿って移動し、搬送ハンド540は、ウェーハWを把持する。そして、搬送レール520に支持されながら所定の場所へウェーハWは搬送される。 When the hand 210 releases the wafer W, the guide member 530 on which the transfer hand 540 is mounted moves along the guide of the transfer mechanism by driving the transfer mechanism 510, and the transfer hand 540 grips the wafer W. Then, the wafer W is transported to a predetermined location while being supported by the transport rail 520.

以上のようにして、基板供給システム1はウェーハWを搬送路に供給する。基板供給システム1は、上記の引き出し動作、引き出し完了動作、受渡準備動作、および受渡完了動作を供給対象のウェーハWがある間、繰り返し実行する。 As described above, the substrate supply system 1 supplies the wafer W to the transport path. The substrate supply system 1 repeatedly executes the above-mentioned drawing operation, drawing completion operation, delivery preparation operation, and delivery completion operation while there is a wafer W to be supplied.

本実施の形態では、第1のカセット10に収容されていたウェーハWが全て搬送路に供給された場合、引き出し機構200および移動機構300は、第2の収納部102に収納されている第2のカセット20からウェーハWを引き出して、搬送路に供給する。このとき、第1のカセット10からウェーハWを引き出したときと同様に、引き出し機構200および移動機構300は、第2のカセット20の最下部に収容されているウェーハWから順に引き出す。 In the present embodiment, when all the wafers W housed in the first cassette 10 are supplied to the transport path, the pull-out mechanism 200 and the moving mechanism 300 are housed in the second storage section 102. The wafer W is pulled out from the cassette 20 of the above and supplied to the transport path. At this time, the drawing mechanism 200 and the moving mechanism 300 are sequentially pulled out from the wafer W housed in the lowermost portion of the second cassette 20, as in the case of pulling out the wafer W from the first cassette 10.

基板供給システム1が第2のカセット20からウェーハWを引き出して搬送路に供給している間、オペレータは、第1の収納部101の扉104を開け、第1の収納部101の載置部110をY軸負方向に引き出し、載置部110を着脱位置に位置付ける。そして、オペレータは、第1の収納部101の載置部110から第1のカセット10を取り出して、第1のカセット10に新たなウェーハWを収容して第1の収納部101の載置部110に載置した後、再び、第1の収納部101を収納位置に位置付けることができる。このように、第1の収納部101から第1のカセットを取り出してる間であっても、第2のカセット20からウェーハWが引き出され、搬送路への供給動作が継続されている。よって、基板供給システム1の稼働率を高めることができる。 While the substrate supply system 1 draws the wafer W from the second cassette 20 and supplies it to the transport path, the operator opens the door 104 of the first storage unit 101 and mounts the first storage unit 101. The 110 is pulled out in the negative direction of the Y axis, and the mounting portion 110 is positioned at the attachment / detachment position. Then, the operator takes out the first cassette 10 from the mounting unit 110 of the first storage unit 101, accommodates the new wafer W in the first cassette 10, and mounts the first storage unit 101. After being placed on the 110, the first storage unit 101 can be positioned again at the storage position. In this way, even while the first cassette is being taken out from the first storage unit 101, the wafer W is pulled out from the second cassette 20 and the supply operation to the transport path is continued. Therefore, the operating rate of the substrate supply system 1 can be increased.

なお、搬送路でのウェーハWの受け渡しは、上記のように、ハンドによってウェーハWを把持する他に、たとえば、吸着パッドを備えた部材により、ウェーハWを吸着し、保持してもよい。 In addition to gripping the wafer W by hand as described above, the wafer W may be sucked and held by, for example, a member provided with a suction pad for delivery of the wafer W in the transport path.

[基板供給システムの供給動作]
次に、基板供給システム1によるウェーハWの供給動作について説明する。図14(a)は、基板供給システム1の構成を示すブロック図である。図14(a)に示すように、基板供給システム1は、収納装置100と、引き出し機構200と、移動機構300と、を備え、さらに、制御部400と、入力部401と、検出部402と、を備える。また、引き出しガイド部221、昇降ガイド310、および退避機構240のそれぞれの駆動部である引き出しガイド駆動部403と、昇降ガイド駆動部404と、エアシリンダ駆動部405と、を備える。
[Supply operation of board supply system]
Next, the operation of supplying the wafer W by the substrate supply system 1 will be described. FIG. 14A is a block diagram showing the configuration of the substrate supply system 1. As shown in FIG. 14A, the board supply system 1 includes a storage device 100, a pull-out mechanism 200, and a movement mechanism 300, and further includes a control unit 400, an input unit 401, and a detection unit 402. , Equipped with. Further, a drawer guide drive unit 403, which is a drive unit for each of the drawer guide unit 221 and the evacuation guide 310, and the evacuation mechanism 240, an elevating guide drive unit 404, and an air cylinder drive unit 405 are provided.

制御部400は、CPU等の演算処理回路や、ROM、RAM、ハードディスク等のメモリを含んでいる。制御部は、メモリに記憶されたプログラムに従って各部を制御する。 The control unit 400 includes an arithmetic processing circuit such as a CPU and a memory such as a ROM, RAM, and a hard disk. The control unit controls each unit according to a program stored in the memory.

入力部401は、基板供給システム1がウェーハWを搬送路に供給する際の開始を受け付ける。検出部402は、基板供給システム1において、供給対象のウェーハWの位置を検出する。また、検出部402は、ウェーハWが搬送路に供給されたことを検出するよう構成してもよい。検出部402は、たとえば、センサや、撮像装置等を使用することができる。 The input unit 401 accepts the start when the substrate supply system 1 supplies the wafer W to the transport path. The detection unit 402 detects the position of the wafer W to be supplied in the substrate supply system 1. Further, the detection unit 402 may be configured to detect that the wafer W has been supplied to the transport path. For the detection unit 402, for example, a sensor, an image pickup device, or the like can be used.

図14(b)は、本実施の形態に係る基板供給システム1の動作を示すフローチャートである。この制御は、図14(a)に示した制御部400が実行する。ここで、上記と同様に、基板供給システム1から搬送路500にウェーハWを供給する場合の動作について説明する。 FIG. 14B is a flowchart showing the operation of the substrate supply system 1 according to the present embodiment. This control is executed by the control unit 400 shown in FIG. 14 (a). Here, the operation when the wafer W is supplied from the substrate supply system 1 to the transport path 500 will be described in the same manner as described above.

また、図14(b)のフローチャートにおいて、「スタート」は、入力部によりウェーハWの搬送路への供給の開始を受け付けた時点である。なお、収納装置100の第1の収納部101および第2の収納部102にはそれぞれ、ウェーハWが収容された第1のカセット10および第2のカセット20が収納されている。また、第1のカセット10の最下部に収容されているウェーハWから上方のウェーハWへ順に供給される。 Further, in the flowchart of FIG. 14B, “start” is a time when the input unit receives the start of supply of the wafer W to the transport path. The first storage unit 101 and the second storage unit 102 of the storage device 100 contain the first cassette 10 and the second cassette 20 in which the wafer W is housed, respectively. Further, the wafer W is sequentially supplied from the wafer W housed in the lowermost portion of the first cassette 10 to the upper wafer W.

ステップS11では、昇降ガイド駆動部404に昇降ガイド310を駆動させて、引き出し機構200を供給対象のウェーハWの高さ位置に移動させ、センサ250に供給対象のウェーハWを検知させる。これは、上記の引き出し動作であり、図12(a)に示した状態に相当する。 In step S11, the elevating guide driving unit 404 drives the elevating guide 310 to move the pull-out mechanism 200 to the height position of the wafer W to be supplied, and the sensor 250 detects the wafer W to be supplied. This is the above-mentioned pull-out operation, and corresponds to the state shown in FIG. 12 (a).

ステップS12では、センサ250が供給対象のウェーハWを検出すると、制御部400は、引き出しガイド駆動部403にハンド210を駆動させて、供給対象のウェーハWを把持させ、水平方向に引き出させ、引き出し位置に位置付ける。これは、上記の引き出し完了動作であり、図12(b)に示した状態に相当する。 In step S12, when the sensor 250 detects the wafer W to be supplied, the control unit 400 drives the pull-out guide drive unit 403 to drive the hand 210 to grip the wafer W to be supplied, pull it out in the horizontal direction, and pull it out. Position it in position. This is the above-mentioned drawer completion operation, and corresponds to the state shown in FIG. 12 (b).

ステップS13では、制御部400は、昇降ガイド駆動部404に昇降ガイド310を駆動させて、引き出し機構200を搬送路500の搬送レール520の高さ位置に位置付ける。これは、上記の受渡準備動作であり、図13(a)に示した状態に相当する。 In step S13, the control unit 400 drives the elevating guide 310 to the elevating guide driving unit 404 to position the pull-out mechanism 200 at the height position of the transport rail 520 of the transport path 500. This is the above-mentioned delivery preparation operation, and corresponds to the state shown in FIG. 13 (a).

ステップS14では、検出部402が、ウェーハWが搬送レール520の高さ位置に位置していることを検出すると、制御部400は、引き出しガイド駆動部403にハンド210を駆動させて、ハンド210によるウェーハWの把持を停止させる。そして、制御部400は、エアシリンダ駆動部405に退避機構240に対して所定の圧力を付与させて、ハンド210を下方に移動させる。これにより、ハンド210と搬送ハンド540との干渉が回避される。これは、上記の受渡完了動作であり、図13(b)に示した状態に相当する。 In step S14, when the detection unit 402 detects that the wafer W is located at the height position of the transfer rail 520, the control unit 400 drives the pull-out guide drive unit 403 to drive the hand 210, and the hand 210 drives the hand 210. Stops gripping the wafer W. Then, the control unit 400 causes the air cylinder drive unit 405 to apply a predetermined pressure to the retracting mechanism 240 to move the hand 210 downward. As a result, interference between the hand 210 and the transport hand 540 is avoided. This is the above-mentioned delivery completion operation, and corresponds to the state shown in FIG. 13 (b).

ステップS14の後、ウェーハWは搬送路500に受け渡され(図13(b)参照。)、所定の場所に搬送される。ステップS15では、検出部402が、ウェーハWの受け渡しが完了したことを検出すると、制御部400は、供給対象のウェーハWが第1のカセット10または第2のカセット20にあるか否か判定する。供給すべきウェーハWがある場合(S15;YES)、上記のステップS11〜S14の各動作を繰り返し実行する。供給対象のウェーハWがない場合(S15;NO)、基板供給システム1によるウェーハWの搬送路への供給が終了する。 After step S14, the wafer W is delivered to the transport path 500 (see FIG. 13B) and is transported to a predetermined location. In step S15, when the detection unit 402 detects that the transfer of the wafer W has been completed, the control unit 400 determines whether or not the wafer W to be supplied is in the first cassette 10 or the second cassette 20. .. When there is a wafer W to be supplied (S15; YES), each operation of the above steps S11 to S14 is repeatedly executed. When there is no wafer W to be supplied (S15; NO), the supply of the wafer W to the transport path by the substrate supply system 1 is completed.

なお、基板供給システム1は、第1のカセット10および第2のカセット20の状態を表示する表示部を備えるよう構成してもよい。たとえば、基板供給システム1に図示しない表示画面が接続されており、第1のカセット10および第2のカセット20のどちらにも未処理、すなわち、供給対象のウェーハWが残存している場合、表示画面に「処理中」と表示される。この表示により、オペレータは、第1のカセット10または第2のカセット20からウェーハWが搬送路に供給されていることを把握することができる。 The substrate supply system 1 may be configured to include a display unit that displays the status of the first cassette 10 and the second cassette 20. For example, when a display screen (not shown) is connected to the substrate supply system 1 and unprocessed, that is, the wafer W to be supplied remains in both the first cassette 10 and the second cassette 20, the display is displayed. "Processing" is displayed on the screen. From this display, the operator can grasp that the wafer W is supplied to the transport path from the first cassette 10 or the second cassette 20.

また、第1のカセット10が空になった場合、あるいは、予定数のウェーハWが搬送路に供給された場合であって、第2のカセット20には未処理のウェーハWが残存する場合、「第1のカセット10:処理完了」と表示される。この表示により、オペレータは、直ぐに第1のカセット10を第1の収納部101から取り出し、第1のカセット10に新たにウェーハWを収容し、再び、第1のカセット10を第1の収納部101に収納することができる。 Further, when the first cassette 10 is emptied, or when a planned number of wafers W are supplied to the transport path and unprocessed wafers W remain in the second cassette 20. "First cassette 10: Processing completed" is displayed. With this display, the operator immediately takes out the first cassette 10 from the first storage unit 101, newly accommodates the wafer W in the first cassette 10, and again stores the first cassette 10 in the first storage unit. It can be stored in 101.

また、第1のカセット10および第2のカセット20が空になった場合、あるいは、予定数のウェーハWが搬送路に供給された場合、「処理完了」と表示される。この表示により、オペレータは、ウェーハWの供給が完了したことを把握することができる。 Further, when the first cassette 10 and the second cassette 20 are emptied, or when the planned number of wafers W are supplied to the transport path, "processing completed" is displayed. From this display, the operator can grasp that the supply of the wafer W has been completed.

このように、表示部を設けた場合、オペレータは、収納装置100に収納されている第1のカセット10および第2のカセット20の状態を迅速に把握することができるため、円滑に作業を行うことができる。 When the display unit is provided in this way, the operator can quickly grasp the states of the first cassette 10 and the second cassette 20 stored in the storage device 100, so that the work can be performed smoothly. be able to.

上記のように基板供給システム1を構成すれば、図12(a)〜図13(b)に示すように、引き出し機構200が第2の収納部102に収納されている第2のカセットからウェーハWを引き出して搬送路に供給している間、第1のカセット10内が空の場合、オペレータは、第1の収納部101から載置部110を引き出し、第1のカセット10を載置部110から取り出して、第1のカセット10に供給対象のウェーハWを収容する。そして、再び第1の収納部101に第1のカセット10を収納することができる。これにより、第1のカセット10から全てのウェーハWが搬送路に供給された場合、引き出し機構200による供給動作を一旦停止することなく、第1のカセット10にウェーハWを収容し、第1の収納部101に収納することができる。よって、第1のカセット10および第2のカセット20から連続的にウェーハWを搬送路に供給でき、基板供給システム1の稼働率を高めることができる。 When the substrate supply system 1 is configured as described above, as shown in FIGS. 12 (a) to 13 (b), the drawing mechanism 200 is housed in the second storage unit 102 from the second cassette to the wafer. If the inside of the first cassette 10 is empty while W is pulled out and supplied to the transport path, the operator pulls out the mounting portion 110 from the first storage portion 101 and puts the first cassette 10 in the mounting portion. It is taken out from 110, and the wafer W to be supplied is housed in the first cassette 10. Then, the first cassette 10 can be stored in the first storage unit 101 again. As a result, when all the wafers W are supplied to the transport path from the first cassette 10, the wafers W are accommodated in the first cassette 10 without temporarily stopping the supply operation by the drawing mechanism 200, and the first cassette W is accommodated. It can be stored in the storage unit 101. Therefore, the wafer W can be continuously supplied to the transport path from the first cassette 10 and the second cassette 20, and the operating rate of the substrate supply system 1 can be increased.

また、第2のカセット20から搬送路に供給されたウェーハWは、所定の装置で加工された後、同じ搬送路を通って、第2のカセット20に戻らせるようにしてもよい。この場合、第2のカセット20から搬送路に供給されたウェーハWの全てが第2のカセット20に戻った後、第2の収納部102から第2のカセット20を取り出し、第2のカセット20から加工後のウェーハWを回収し、未加工のウェーハWを第2のカセット20に収容して、再び、第2の収納部102に収納することができる。 Further, the wafer W supplied from the second cassette 20 to the transport path may be processed by a predetermined device and then returned to the second cassette 20 through the same transport path. In this case, after all the wafers W supplied from the second cassette 20 to the transport path have returned to the second cassette 20, the second cassette 20 is taken out from the second storage portion 102, and the second cassette 20 is taken out. The processed wafer W can be recovered from the wafer W, the unprocessed wafer W can be stored in the second cassette 20, and the wafer W can be stored in the second storage unit 102 again.

また、基板供給システム1は、収納装置100を上下、左右方向に移動させることがない。一般に、半導体ウェーハは、薄膜で脆く、衝撃に弱い。このため、収納装置100が移動すると、揺れや振動により、供給対象のウェーハWが破損する虞がある。この点、基板供給システム1では、ウェーハWの引き出しは、引き出し機構200と移動機構300とによって行われている。よって、ウェーハWが収納装置100内で破損することを確実に防ぐことができる。 Further, the substrate supply system 1 does not move the storage device 100 in the vertical and horizontal directions. Generally, semiconductor wafers are thin films, brittle, and vulnerable to impact. Therefore, when the storage device 100 moves, the wafer W to be supplied may be damaged due to shaking or vibration. In this respect, in the substrate supply system 1, the wafer W is pulled out by the pull-out mechanism 200 and the moving mechanism 300. Therefore, it is possible to reliably prevent the wafer W from being damaged in the storage device 100.

また、引き出し機構200は、レール231a、231bを備える。これにより、ハンド210がウェーハWを引き出すとき、ウェーハWは、レール231a、231bにより支持されながら引き出される。よって、ウェーハWの引き出しを円滑に行うことができる。 Further, the pull-out mechanism 200 includes rails 231a and 231b. As a result, when the hand 210 pulls out the wafer W, the wafer W is pulled out while being supported by the rails 231a and 231b. Therefore, the wafer W can be smoothly pulled out.

また、収納装置100において、第1の収納部101と第2の収納部102とは、ウェーハWの積層方向に並んで配置されている。これにより、引き出し機構200を積層方向のみに移動させ、第1のカセット10および第2のカセット20のウェーハWにハンド210を位置付けることができる。よって、移動機構300の構成および制御を簡素にできる。 Further, in the storage device 100, the first storage unit 101 and the second storage unit 102 are arranged side by side in the stacking direction of the wafer W. As a result, the pull-out mechanism 200 can be moved only in the stacking direction, and the hand 210 can be positioned on the wafer W of the first cassette 10 and the second cassette 20. Therefore, the configuration and control of the moving mechanism 300 can be simplified.

また、基板供給システム1において、積層方向は、上下方向である。これにより、ウェーハWを安定した状態で第1のカセット10および第2のカセット20に収容できる。また、ウェーハWを第1のカセット10および第2のカセット20から安定的に、水平方向に引き出すことができる。 Further, in the substrate supply system 1, the stacking direction is the vertical direction. As a result, the wafer W can be accommodated in the first cassette 10 and the second cassette 20 in a stable state. Further, the wafer W can be stably and horizontally pulled out from the first cassette 10 and the second cassette 20.

また、基板供給システム1では、第1の収納部101の第1のカセット10からウェーハWを供給する。つまり、引き出し機構200は積層方向に行き来することなく、下方から上方の一方向に移動する。よって、第1のカセット10が空になった場合、速やかに収納装置100から第1のカセット10を取り出して、新たなウェーハWをその第1のカセット10に収容し、再び、第1の収納部101に収納することができる。よって、ウェーハWの供給が円滑に、また、効率よく行われる。 Further, in the substrate supply system 1, the wafer W is supplied from the first cassette 10 of the first storage unit 101. That is, the pull-out mechanism 200 moves in one direction from the lower side to the upper side without going back and forth in the stacking direction. Therefore, when the first cassette 10 becomes empty, the first cassette 10 is promptly taken out from the storage device 100, a new wafer W is stored in the first cassette 10, and the first storage is performed again. It can be stored in the unit 101. Therefore, the wafer W is smoothly and efficiently supplied.

なお、ウェーハWの供給を、第2のカセット20から行ってもよい。この場合、引き出し機構200が積層方向に一方向に移動するよう、第2のカセット20の最上部に収容されているウェーハWから順に供給すればよい。 The wafer W may be supplied from the second cassette 20. In this case, the wafer W housed in the uppermost portion of the second cassette 20 may be supplied in order so that the drawing mechanism 200 moves in one direction in the stacking direction.

また、基板供給システム1では、第1の収納部101の第1のカセット10からウェーハWを供給する場合、第1のカセット10の最下部に収容されているウェーハWから順にウェーハWを供給する。これにより、効率よく1つのカセットからウェーハWを搬送路に供給することができる。よって、空になった、あるいは、加工後のウェーハWが収容されたカセットを、収納装置100から取り出して未加工のウェーハWをカセットに収容し、再び、収納装置100に収納するという作業のサイクルを早めることができる。 Further, in the substrate supply system 1, when the wafer W is supplied from the first cassette 10 of the first storage unit 101, the wafer W is supplied in order from the wafer W housed in the lowermost portion of the first cassette 10. .. As a result, the wafer W can be efficiently supplied to the transport path from one cassette. Therefore, a work cycle in which the cassette containing the empty or processed wafer W is taken out from the storage device 100, the unprocessed wafer W is stored in the cassette, and the cassette is stored in the storage device 100 again. Can be accelerated.

<実施形態の効果>
図3に示すように、規制部130は、支持部160およびリンク機構170を介して載置部110に支持されている。このため、規制部130は、載置部110の移動に伴い一体的に水平方向に移動する。このため、着脱位置から収納位置にカセットおよび載置部110を水平に移動させている間、規制部130は、カセットに収容されたウェーハWの供給領域側の部分と当接する。これにより、載置部110の移動の間に、カセットからウェーハWが供給領域側に飛び出して落下することを確実に防ぐことができる。
<Effect of embodiment>
As shown in FIG. 3, the regulating portion 130 is supported by the mounting portion 110 via the supporting portion 160 and the link mechanism 170. Therefore, the regulating unit 130 moves integrally in the horizontal direction as the mounting unit 110 moves. Therefore, while the cassette and the mounting portion 110 are horizontally moved from the attachment / detachment position to the storage position, the regulation portion 130 comes into contact with the portion of the wafer W housed in the cassette on the supply region side. As a result, it is possible to reliably prevent the wafer W from jumping out from the cassette toward the supply region side and falling while the mounting portion 110 is moving.

図3、図4に示すように、載置部110が着脱位置に位置付けられた状態において、載置部110の出入り口がシャッタ140で塞がれるため、カセットの着脱の際に、オペレータが不意に収納装置100の内部に手を挿入することを防ぐことができる。 As shown in FIGS. 3 and 4, when the mounting portion 110 is positioned at the attachment / detachment position, the entrance / exit of the mounting portion 110 is blocked by the shutter 140, so that the operator unexpectedly attaches / detaches the cassette. It is possible to prevent the hand from being inserted into the storage device 100.

図7、図8(a)〜(c)に示すように、規制部130を上昇または下降させて、第2の収納部102の供給領域側を開放する際に、規制部130をウェーハWから供給領域側に退避させることができる。よって、規制部130がウェーハWに擦れながら昇降することを回避でき、ウェーハWが損傷することを防ぐことができる。 As shown in FIGS. 7 and 8 (a) to 8 (c), when the regulating unit 130 is raised or lowered to open the supply region side of the second storage unit 102, the regulating unit 130 is moved from the wafer W. It can be retracted to the supply area side. Therefore, it is possible to prevent the regulating unit 130 from moving up and down while rubbing against the wafer W, and it is possible to prevent the wafer W from being damaged.

また、シャッタ140を昇降させる昇降機構150が規制部130の昇降に共用されるため、機構系および制御系を簡素化できる。 Further, since the elevating mechanism 150 for raising and lowering the shutter 140 is shared for raising and lowering the regulation unit 130, the mechanical system and the control system can be simplified.

図5、図6(a)〜(c)に示すように、載置部110が収納位置に移動すると、シャッタ140に装着されている連係部材121が昇降機構150側の受け部材152に嵌まって、昇降機構150とシャッタ140とが連係される。これにより、収納位置において、シャッタ140を、昇降機構150により円滑に昇降させることができる。 As shown in FIGS. 5 and 6 (a) to 6 (c), when the mounting portion 110 moves to the storage position, the linking member 121 mounted on the shutter 140 fits into the receiving member 152 on the elevating mechanism 150 side. Therefore, the elevating mechanism 150 and the shutter 140 are linked. As a result, the shutter 140 can be smoothly moved up and down by the elevating mechanism 150 at the storage position.

また、移送ローラ121bが連係部材121として兼用されるため、構成の簡素化を図ることができる。また、収納位置において、移送ローラ121bが受け部材152に嵌まって連係部材121の移動が規制されるため、載置部110を収納位置に適切に位置付けることができる。 Further, since the transfer roller 121b is also used as the linking member 121, the configuration can be simplified. Further, at the storage position, the transfer roller 121b is fitted into the receiving member 152 to restrict the movement of the linking member 121, so that the mounting portion 110 can be appropriately positioned at the storage position.

なお、本実施の形態では、収納装置100に2つの収納部を設ける構成としたが、3つ以上設けてもよい。 In the present embodiment, the storage device 100 is provided with two storage portions, but three or more storage portions may be provided.

また、搬送路に供給されたウェーハWが、供給前に収容されていたカセットに戻るように構成しても構わない。この場合、受渡位置にて搬送路から引き出し機構200のハンド210にウェーハWが受け渡される。移動機構300は、引き出し機構200をウェーハWの供給前の位置に位置付ける。そして、引き出し機構200によりウェーハWがカセットに挿入される。 Further, the wafer W supplied to the transport path may be configured to return to the cassette housed before the supply. In this case, the wafer W is delivered from the transport path to the hand 210 of the pull-out mechanism 200 at the delivery position. The moving mechanism 300 positions the drawing mechanism 200 at a position before the wafer W is supplied. Then, the wafer W is inserted into the cassette by the pull-out mechanism 200.

このように構成した場合、所定の処理がなされたウェーハWを纏めて回収し、別の工程へと移ることができる。 With this configuration, the wafers W that have been subjected to the predetermined processing can be collectively collected and moved to another process.

また、上記の収納装置100は、ウェーハを加工する複数のユニットと組み合わせて、基板加工装置30を構成することができる。 Further, the storage device 100 can be combined with a plurality of units for processing wafers to form a substrate processing device 30.

図15は、基板供給システム1を備える基板加工装置30の構成を示す斜視図である。図15に示すように、基板加工装置30は、ウェーハWの表面にスクライブラインを形成するスクライブユニット40と、スクライブラインが形成されたウェーハWの表面にフィルムを貼付するフィルムラミネートユニット50と、フィルムが貼付された面が下側となるようにウェーハWを反転させる反転ユニット60と、フィルムが貼付されていない面に所定の力を付与してスクライブラインに沿ってウェーハWを分断するブレイクユニット70と、ウェーハWを所定の位置に搬送する搬送部80と、を備える。なお、図15では、基板供給システム1は、筐体で覆われている
上記の構成の基板加工装置30は、基板供給システム1により、円滑にウェーハWが供給されるため、装置の稼働率を高めることができる。
FIG. 15 is a perspective view showing the configuration of the substrate processing apparatus 30 including the substrate supply system 1. As shown in FIG. 15, the substrate processing apparatus 30 includes a scribing unit 40 that forms a scribing line on the surface of the wafer W, a film laminating unit 50 that attaches a film to the surface of the wafer W on which the scribing line is formed, and a film. A reversing unit 60 that inverts the wafer W so that the surface to which the film is attached is on the lower side, and a break unit 70 that applies a predetermined force to the surface to which the film is not attached to divide the wafer W along the scribe line. And a transport unit 80 that transports the wafer W to a predetermined position. In FIG. 15, the substrate supply system 1 is covered with a housing. In the substrate processing apparatus 30 having the above configuration, the wafer W is smoothly supplied by the substrate supply system 1, so that the operating rate of the apparatus is increased. Can be enhanced.

本発明の実施の形態は、特許請求の範囲に示された技術的思想の範囲内において、適宜、種々の変更が可能である。 The embodiments of the present invention can be appropriately modified in various ways within the scope of the technical idea shown in the claims.

1…基板供給システム
10…第1のカセット
20…第2のカセット
30…基板加工装置
40…スクライブユニット
50…フィルムラミネートユニット
60…反転ユニット
70…ブレイクユニット
80…搬送部
110…載置部
120…移動部
121…連係部材
121b…移送ローラ
130…規制部
140…シャッタ
150…昇降機構
152…受け部材
170…リンク機構
180…検知手段
W…基板(ウェーハ)
1 ... Substrate supply system 10 ... First cassette 20 ... Second cassette 30 ... Substrate processing device 40 ... Scribe unit 50 ... Film laminating unit 60 ... Inversion unit 70 ... Break unit 80 ... Conveying unit 110 ... Mounting unit 120 ... Moving part 121 ... Linking member 121b ... Transfer roller 130 ... Regulatory part 140 ... Shutter 150 ... Elevating mechanism 152 ... Receiving member 170 ... Link mechanism 180 ... Detection means W ... Substrate (wafer)

Claims (8)

複数の基板が引き出し可能に積層して収容されたカセットから前記基板を引き出して処理工程に供するために、前記カセットを収納する収納装置であって、
前記カセットが着脱可能に載置される載置部と、
前記カセットの着脱位置と前記カセットの収納位置との間で前記載置部を水平に移動させる移動部と、
前記載置部に昇降可能に支持され、前記載置部に載置された前記カセットの奥側の端面に対向する規制部と、を備える、ことを特徴とする収納装置。
A storage device for storing the cassette in order to pull out the substrate from a cassette in which a plurality of substrates are laid out and accommodated so as to be used in a processing process.
A mounting portion on which the cassette is detachably mounted and
A moving portion that horizontally moves the above-described mounting portion between the cassette attachment / detachment position and the cassette storage position, and a moving portion.
A storage device that is supported by the above-mentioned resting portion so as to be able to move up and down, and is provided with a regulating portion that faces the end face on the back side of the cassette mounted on the previously described resting portion.
請求項1に記載の収納装置において、
前記規制部は、昇降に伴い前記規制部を前記カセットの奥側の端面に接近および離間させるリンク機構を介して、支持部に支持されている、
ことを特徴とする収納装置。
In the storage device according to claim 1,
The regulating portion is supported by the supporting portion via a link mechanism that brings the regulating portion closer to and away from the end surface on the inner side of the cassette as it moves up and down.
A storage device characterized by that.
請求項1または2に記載の収納装置において、
前記規制部材の奥側において前記載置部に昇降可能に支持されたシャッタと、
前記収納位置において、前記シャッタを昇降させる昇降機構と、を備え、
前記規制部は、前記シャッタに一体的に支持されている、
ことを特徴とする収納装置。
In the storage device according to claim 1 or 2.
A shutter supported on the back side of the regulation member so as to be able to move up and down to the above-mentioned mounting portion,
A lifting mechanism for raising and lowering the shutter at the storage position is provided.
The regulating portion is integrally supported by the shutter.
A storage device characterized by that.
請求項3に記載の収納装置において、
前記昇降機構は、上下方向に駆動される受け部材を備え、
前記シャッタには、前記収納位置において前記受け部材に嵌まる連係部材が一体的に設置されている、ことを特徴とする収納装置。
In the storage device according to claim 3,
The elevating mechanism includes a receiving member that is driven in the vertical direction.
A storage device characterized in that a linking member that fits into the receiving member is integrally installed in the shutter at the storage position.
請求項4に記載の収納装置において、
前記シャッタに一体的に設けられ、前記載置部を前記着脱位置と前記収納位置との間で移送するための移送ローラを備え、
前記移送ローラは、前記連係部材を構成し、
前記載置部が前記収納位置に移動すると、前記移送ローラが前記受け部材に嵌まる、ことを特徴とする収納装置。
In the storage device according to claim 4,
Provided integrally with the shutter, a transfer roller for transferring the above-described mounting portion between the attachment / detachment position and the storage position is provided.
The transfer roller constitutes the linking member and constitutes the linking member.
A storage device characterized in that when the above-mentioned resting portion moves to the storage position, the transfer roller is fitted into the receiving member.
請求項1ないし5の何れか一項に記載の収納装置において、
前記カセットから前記基板が飛び出しているか否かを検知する検知手段を備える、ことを特徴とする収納装置。
In the storage device according to any one of claims 1 to 5,
A storage device including a detection means for detecting whether or not the substrate is protruding from the cassette.
請求項1ないし6の何れか一項に記載の収納装置において、
第1のカセットを着脱可能に収納する第1の収納部と、
第2のカセットを着脱可能に収納する第2の収納部と、を備え、
前記第1のカセットから前記基板を引き出して処理工程に供している間、前記第2のカセットを前記第2の収納部から取り出す、ことを特徴とする収納装置。
In the storage device according to any one of claims 1 to 6.
A first storage unit that detachably stores the first cassette, and
It is equipped with a second storage unit that detachably stores the second cassette.
A storage device characterized in that the second cassette is taken out from the second storage portion while the substrate is pulled out from the first cassette and subjected to a processing step.
複数の基板が引き出し可能に積層して収容されたカセットから基板を引き出して処理工程に供するために、カセットを収納する収納装置であって、
前記カセットが着脱可能に載置される載置部と、
前記カセットの着脱位置と前記カセットの収納位置との間で前記載置部を水平に移動させる移動部と、
前記載置部に昇降可能に支持され、前記載置部に載置された前記カセットの奥側の端面に対向する規制部と、を備える収納装置と、
基板の表面にスクライブラインを形成するスクライブユニットと、
前記スクライブラインが形成された前記基板の表面にフィルムを貼付するフィルムラミネートユニットと、
前記フィルムが貼付された面が下側となるように前記基板を反転させる反転ユニットと、
前記フィルムが貼付されていない面に所定の力を付与して前記スクライブラインに沿って前記基板を分断するブレイクユニットと、
前記基板を所定の位置に搬送する搬送部と、を備えることを特徴とする、基板加工装置。
It is a storage device that stores cassettes in order to pull out the substrates from the cassettes in which a plurality of substrates are laid out and accommodated so as to be used in a processing process.
A mounting portion on which the cassette is detachably mounted and
A moving portion that horizontally moves the above-described mounting portion between the cassette attachment / detachment position and the cassette storage position, and a moving portion.
A storage device provided with a restricting portion that is supported by the above-described mounting portion so as to be able to move up and down and that faces the end face on the back side of the cassette mounted on the previously described mounting portion.
A scribe unit that forms a scribe line on the surface of the substrate,
A film laminating unit that attaches a film to the surface of the substrate on which the scribe line is formed, and
An inversion unit that inverts the substrate so that the surface to which the film is attached is on the lower side.
A break unit that applies a predetermined force to the surface to which the film is not attached to divide the substrate along the scribe line, and
A substrate processing apparatus comprising a transport portion for transporting the substrate to a predetermined position.
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